專(zhuān)利名稱(chēng)：聚焦位置調(diào)整裝置及光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及對(duì)可記錄和再生光盤(pán)的聚焦位置進(jìn)行調(diào)整的聚焦位置調(diào)整裝置及光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置。
背景技術(shù)：
伴隨著近年來(lái)的多媒體技術(shù)的普及，作為個(gè)人計(jì)算機(jī)或圖象音響系統(tǒng)中的大容量輔助存儲(chǔ)裝置，廣泛使用著光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置。光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置，以壓縮光盤(pán)(CD)或數(shù)字視盤(pán)(DVD)等光盤(pán)作為記錄媒體，并對(duì)該光盤(pán)所記錄的計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)或圖象音響數(shù)據(jù)等信息進(jìn)行再生，或?qū)⑦@樣的信息記錄在光盤(pán)上。
在這種光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置中，為正確地進(jìn)行信息的記錄和再生，迄今為止，一直進(jìn)行著聚焦伺服和跟蹤伺服。其中，所謂聚焦伺服，是進(jìn)行控制使照射在光盤(pán)上的光束始終為規(guī)定會(huì)聚狀態(tài)，根據(jù)表示光束相對(duì)于光盤(pán)的位置(以下，稱(chēng)「聚焦位置」)的偏差的聚焦誤差信號(hào)(由光束光點(diǎn)在光盤(pán)上的反射光生成的信號(hào))進(jìn)行。而所謂跟蹤伺服，是進(jìn)行控制使光束跟蹤在光盤(pán)上按螺旋狀形成的光道。
安放在光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置內(nèi)的光盤(pán)，由主軸電機(jī)帶動(dòng)旋轉(zhuǎn)，并當(dāng)達(dá)到一定轉(zhuǎn)速時(shí)對(duì)其照射光束。并且，在進(jìn)行著聚焦伺服和跟蹤伺服動(dòng)作的狀態(tài)下，對(duì)記錄在光盤(pán)上的信息進(jìn)行再生或?qū)獗P(pán)進(jìn)行信息的記錄。
但是，進(jìn)行這種聚焦伺服或跟蹤伺服的現(xiàn)有的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置，存在以下問(wèn)題。
首先，現(xiàn)有的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置，對(duì)單螺旋凸紋溝紋格式(SS-L/GFMT)的光盤(pán)，在進(jìn)行聚焦伺服時(shí)并不區(qū)分溝紋光道(按螺旋狀形成的光道導(dǎo)向槽的溝槽部)及凸紋光道(其槽間部)，所以，特別是對(duì)于高密度光盤(pán)，存在著不能以足夠高的精度進(jìn)行聚焦伺服的問(wèn)題。這里，所謂SS-L/GFMT光盤(pán)，指的是結(jié)構(gòu)為可記錄和再生的溝紋光道及凸紋光道在光盤(pán)上每隔一周交替形成并可以從內(nèi)周到外周連續(xù)地對(duì)溝紋光道及凸紋光道進(jìn)行記錄和再生的光盤(pán)。
在這種類(lèi)型的光盤(pán)上，從光盤(pán)反射的光在通過(guò)物鏡而發(fā)生衍射時(shí)會(huì)受到物鏡上的像差等的影響，因此其衍射光的分布在溝紋光道及凸紋光道上是不同的。其結(jié)果是，在溝紋光道及凸紋光道上，聚焦誤差信號(hào)的零電平(對(duì)聚焦位置的控制目標(biāo)位置)與聚焦位置間的關(guān)系不同。就是說(shuō)，以往，在聚焦伺服中所進(jìn)行的控制是使聚焦位置會(huì)聚在同一個(gè)控制目標(biāo)位置上，但在溝紋光道及凸紋光道上就會(huì)得到不同的聚焦位置，所以，即使能將聚焦位置調(diào)整到使溝紋光道及凸紋光道中的任何一個(gè)為最佳的再生(對(duì)于可記錄光盤(pán)還包括記錄)狀態(tài)，但在另一個(gè)上卻不能得到最佳再生(對(duì)于可記錄光盤(pán)還包括記錄)狀態(tài)。
另外，現(xiàn)有的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置，由于沒(méi)有考慮到聚焦誤差信號(hào)的零電平不一定是最佳聚焦位置，所以存在著再生誤差大的問(wèn)題。就是說(shuō)，與聚焦誤差信號(hào)的零電平對(duì)應(yīng)的控制目標(biāo)位置與由光學(xué)頭檢出的再生信號(hào)振幅為最佳(最大)的聚焦位置或再生信號(hào)的抖動(dòng)變?yōu)樽罴?最小)的聚焦位置(以下，稱(chēng)「聚焦最佳位置」)有時(shí)不一定一致。在這種情況下，即使以該控制目標(biāo)位置為基準(zhǔn)進(jìn)行聚焦伺服，也會(huì)使所得到的再生信號(hào)的振幅小，或使再生抖動(dòng)大，因而使再生誤差增加。因此，不能確保滿(mǎn)意的記錄和再生性能。
另外，在SS-L/GFMT光盤(pán)的情況下，即使想要調(diào)整到再生信號(hào)的振幅最大或再生抖動(dòng)最小的聚焦位置，但由于在地址區(qū)和數(shù)據(jù)區(qū)中再生信號(hào)的振幅及再生抖動(dòng)的大小不同，所以存在著在聚焦位置的調(diào)整中將會(huì)產(chǎn)生誤差的問(wèn)題。在SS-L/GFMT光盤(pán)上，在記錄數(shù)據(jù)的區(qū)域即扇區(qū)與扇區(qū)之間，預(yù)先形成以我們的坑點(diǎn)記錄了用于識(shí)別這些扇區(qū)的光道編號(hào)和扇區(qū)編號(hào)的地址區(qū)，該地址區(qū)，以與數(shù)據(jù)區(qū)不同的形態(tài)形成坑點(diǎn)。因此，在以再生信號(hào)的振幅及再生抖動(dòng)的大小作為聚焦位置信息(表示當(dāng)前聚焦位置的信息，即表示光束相對(duì)于光盤(pán)的位置偏差狀態(tài)的信息)進(jìn)行聚焦位置調(diào)整的現(xiàn)有方法中，由于在地址區(qū)和數(shù)據(jù)區(qū)中表示聚焦位置信息的值不同，所以將產(chǎn)生調(diào)整誤差。
另外，在光盤(pán)旋轉(zhuǎn)著的狀態(tài)下，在該光盤(pán)上將產(chǎn)生一定頻率的振擺，在該振擺的位移大的情況下，將使聚焦位置信息受其影響而產(chǎn)生誤差，其結(jié)果是，存在著妨礙高精度聚焦位置調(diào)整的問(wèn)題。
在SS-L/GFMT光盤(pán)上，還應(yīng)考慮到，(1)當(dāng)聚焦位置與聚焦最佳位置發(fā)生較大偏離時(shí)，用作實(shí)施聚焦位置調(diào)整的前提的地址信息的獲得本身不能正常進(jìn)行；(2)光盤(pán)的數(shù)據(jù)區(qū)在出廠時(shí)是未記錄的，在未記錄光盤(pán)上，不能從起始的數(shù)據(jù)區(qū)得到聚焦位置信息；(3)因此，即使想要預(yù)先在未記錄光盤(pán)上記錄測(cè)試模式，但在聚焦位置與聚焦最佳位置發(fā)生較大偏離的狀態(tài)下，也已經(jīng)不可能正常進(jìn)行記錄等。因此，在SS-L/GFMT光盤(pán)上，存在著已不能實(shí)施對(duì)聚焦最佳位置進(jìn)行探測(cè)的問(wèn)題。
另外，在SS-L/GFMT光盤(pán)上，當(dāng)數(shù)據(jù)區(qū)為未記錄時(shí)，即使想要預(yù)先在未記錄光盤(pán)上記錄臨時(shí)性的測(cè)試模式，但對(duì)設(shè)置了寫(xiě)保護(hù)的光盤(pán)也存在著已不能采用這種方法的問(wèn)題。
進(jìn)一步，在SS-L/GFMT光盤(pán)上，即使是在正常進(jìn)行記錄再生動(dòng)作的情況下，光學(xué)頭的特性也會(huì)受溫度影響而發(fā)生變化，因而由光學(xué)頭檢出的聚焦誤差信號(hào)的零電平、即聚焦伺服的控制目標(biāo)位置將隨溫度而變化。其結(jié)果是，即使在光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置起動(dòng)時(shí)能夠探測(cè)最佳聚焦位置并正常地進(jìn)行記錄再生動(dòng)作，也存在著因隨后的光學(xué)頭等的特性變化或老化等而使記錄和再生時(shí)的誤碼率超過(guò)容許值、或在記錄時(shí)的光束功率已達(dá)到上限值的情況下已經(jīng)不可能開(kāi)始聚焦位置的探測(cè)的問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容
因此，鑒于所述問(wèn)題，本發(fā)明的第一目的是提供一種使溝紋光道及凸紋光道都能得到良好的記錄和再生特性的聚焦位置調(diào)整裝置及光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置。
另外，本發(fā)明的第二目的是提供一種即使是在聚焦誤差信號(hào)的零電平不一定是記錄和再生中的最佳聚焦位置的情況下也能進(jìn)行考慮到該偏差的高精度聚焦位置調(diào)整的聚焦位置調(diào)整裝置等。具體地說(shuō)，可以避免因未能控制再生信號(hào)的振幅和抖動(dòng)而產(chǎn)生再生誤差的異常狀況。
另外，本發(fā)明的第三目的是提供一種即使是對(duì)具有以與數(shù)據(jù)區(qū)不同的形態(tài)形成坑點(diǎn)的地址區(qū)的光盤(pán)也能消除由這種地址區(qū)引起的聚焦位置信息的紊亂從而能進(jìn)行高精度聚焦位置調(diào)整的聚焦位置調(diào)整裝置等。
另外，本發(fā)明的第四目的是提供一種能夠進(jìn)行使光盤(pán)的振擺難于產(chǎn)生調(diào)整誤差的聚焦位置調(diào)整的聚焦位置調(diào)整裝置等。
另外，本發(fā)明的第五目的是提供一種即使是在聚焦位置發(fā)生了幾乎不能讀出地址信息的較大偏差的情況下也能再次執(zhí)行最佳聚焦位置探測(cè)的聚焦位置調(diào)整裝置等。
另外，本發(fā)明的第六目的是提供一種即使是未記錄且設(shè)置了寫(xiě)保護(hù)的光盤(pán)也能執(zhí)行最佳聚焦位置探測(cè)的聚焦位置調(diào)整裝置等。
另外，本發(fā)明的第七目的是提供一種即使是在因光學(xué)元件的溫度特性等的變化而使記錄和再生時(shí)的誤碼率超過(guò)容許范圍或在記錄時(shí)的光束功率已達(dá)到上限值的情況下也能再次開(kāi)始最佳聚焦位置探測(cè)的聚焦位置調(diào)整裝置等。
為達(dá)到所述目的，根據(jù)本發(fā)明的一種聚焦位置調(diào)整裝置，以具有在其上形成的溝狀光道和在該溝狀光道之間形成的光道的其中之一的第一形狀光道和其中另一的第二形狀光道的光盤(pán)為對(duì)象，該聚焦位置調(diào)整裝置包括聚焦誤差檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)照射在所述光盤(pán)上的光束的會(huì)聚狀態(tài)，并輸出表示該會(huì)聚狀態(tài)的聚焦誤差信號(hào)；聚焦控制裝置，根據(jù)所述聚焦誤差信號(hào)改變所述光束的聚焦位置，使所述會(huì)聚狀態(tài)為規(guī)定狀態(tài)；再生狀態(tài)檢測(cè)裝置，根據(jù)讀出所述光盤(pán)所記錄的信息時(shí)的再生信號(hào)檢測(cè)所述光盤(pán)的再生狀態(tài)；光道檢測(cè)裝置，檢測(cè)光束光點(diǎn)位于所述光盤(pán)的第一和第二形狀光道中的哪一個(gè)上，并輸出指示該光道的光道識(shí)別信號(hào)；及聚焦位置探測(cè)裝置，具有聚焦位置更新部，根據(jù)所述光道識(shí)別信號(hào)指示第一形狀光道時(shí)的所述再生狀態(tài)，決定使該再生狀態(tài)變得更為良好的第一更新聚焦位置，并根據(jù)所述光道識(shí)別信號(hào)指示第二形狀光道時(shí)的所述再生狀態(tài)，決定使該再生狀態(tài)變得更為良好的第二更新聚焦位置；及聚焦誤差信號(hào)變更部，當(dāng)所述光道識(shí)別信號(hào)指示第一形狀光道時(shí)，對(duì)所述聚焦誤差信號(hào)加以變更，使聚焦位置為所述第一更新聚焦位置，當(dāng)所述光道識(shí)別信號(hào)指示第二形狀光道時(shí)，對(duì)所述聚焦誤差信號(hào)加以變更，使聚焦位置為所述第二更新聚焦位置，其中，所述聚焦控制裝置根據(jù)被加以變更后的聚焦誤差信號(hào)改變所述光束的聚焦位置，并且，所述聚焦位置更新部判斷使聚焦位置僅偏移規(guī)定的移動(dòng)量時(shí)所述再生狀態(tài)是否變得更為良好，從而決定所述第一更新聚焦位置和第二更新聚焦位置，其特征在于還包含探測(cè)準(zhǔn)備裝置，在由所述聚焦位置更新部決定所述第一和第二更新聚焦位置時(shí)，在進(jìn)行該決定之前，先判斷在所述光盤(pán)上是否記錄著信息，當(dāng)記錄著時(shí)，移動(dòng)所述光束的位置，以便檢測(cè)與該信息有關(guān)的所述再生狀態(tài)，當(dāng)未記錄時(shí)，將光束移動(dòng)到規(guī)定區(qū)域，記錄測(cè)試數(shù)據(jù)，并進(jìn)行控制，以便檢測(cè)與該測(cè)試數(shù)據(jù)有關(guān)的所述再生狀態(tài)。


從以下參照示出本發(fā)明特定實(shí)施例的附圖所進(jìn)行的說(shuō)明可以清楚地看出本發(fā)明的所述及其他目的、優(yōu)點(diǎn)及特征。
圖1是表示本發(fā)明的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置100的總體結(jié)構(gòu)的框圖。
圖2A是從上面俯視SS-L/GFMT光盤(pán)1時(shí)的簡(jiǎn)圖，圖2B是該光盤(pán)1的L/G切換點(diǎn)附近的俯視放大圖，圖2C是當(dāng)光束照射在該光盤(pán)1的凸紋上時(shí)的光盤(pán)1及物鏡3的斷面圖，圖2D是當(dāng)光束照射在該光盤(pán)1的溝紋上時(shí)的光盤(pán)1及物鏡3的斷面圖。
圖3是表示聚焦位置調(diào)整部30的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的框圖。
圖4A示出光盤(pán)1上的光道的簡(jiǎn)略結(jié)構(gòu)，圖4B示出寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE，圖4C示出L/G切換信號(hào)LGS。
圖5是表示地址信號(hào)檢測(cè)部31的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的框圖。
圖6A示出輸入到地址信號(hào)檢測(cè)部31的寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE，圖6B示出雙值化電路3103的輸出信號(hào)，圖6C示出雙值化電路3104的輸出信號(hào)，圖6D示出從地址信號(hào)檢測(cè)部31輸出的選通信號(hào)IDGATE。
圖7是表示誤碼率計(jì)測(cè)部33的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的框圖。
圖8是表示聚焦誤差檢測(cè)部36的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的框圖。
圖9是表示聚焦位置粗探測(cè)部50的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的框圖。
圖10示出讀出門(mén)檢測(cè)部32的輸入信號(hào)RFTE、指示地址區(qū)的選通信號(hào)IDGATE及從讀出門(mén)檢測(cè)部32輸出的信號(hào)RDGT。
圖11是表示與聚焦位置的變化對(duì)應(yīng)的RF脈沖信號(hào)PRF的位誤碼率BER的曲線圖。
圖12是表示聚焦位置粗探測(cè)部50的詳細(xì)動(dòng)作的流程圖。
圖13示出本實(shí)施例的聚焦位置粗探測(cè)的變形例。
圖14示出SS-L/GFMT光盤(pán)1的信息區(qū)配置格式。
圖15是表示聚焦位置與再生信號(hào)RF的包絡(luò)RFENV及再生抖動(dòng)的大小間的關(guān)系的曲線圖。
圖16是表示聚焦位置精密探測(cè)部60的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的框圖。
圖17是表示平均化處理部71的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的框圖。
圖18示出在讀出門(mén)檢測(cè)部32不動(dòng)作的情況下的擾動(dòng)信號(hào)、選通信號(hào)IDGATE及定時(shí)器信號(hào)TMS。
圖19A是在讀出門(mén)檢測(cè)部32不動(dòng)作的情況下當(dāng)進(jìn)行聚焦位置精密探測(cè)時(shí)溝紋的選通信號(hào)IDGATE、數(shù)據(jù)取得定時(shí)信號(hào)DGTS、及L/G切換信號(hào)LGS的時(shí)間圖，圖19B是凸紋的同樣的圖。
圖20是表示抖動(dòng)檢測(cè)部62的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的框圖。
圖21示出抖動(dòng)檢測(cè)部62的RF脈沖信號(hào)PRF時(shí)鐘信號(hào)CLK、相位比較電路輸出的脈沖信號(hào)UP及DN。
圖22是表示相位比較電路6202的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的框圖。
圖23A是每當(dāng)光盤(pán)旋轉(zhuǎn)1周時(shí)在聚焦誤差信號(hào)FES中作為聚焦伺服殘余偏差出現(xiàn)的振擺分量的波形，圖23B是從擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生部25輸出的擾動(dòng)信號(hào)的波形，圖23C簡(jiǎn)略示出光盤(pán)旋轉(zhuǎn)1周(1條光道)的數(shù)據(jù)扇區(qū)。
圖24示出聚焦位置與由包絡(luò)檢測(cè)部61檢測(cè)的再生信號(hào)RF的包絡(luò)間的關(guān)系及各聚焦位置的擾動(dòng)信號(hào)與再生信號(hào)RF的包絡(luò)間的關(guān)系。
圖25A示出擾動(dòng)信號(hào)，圖25B分別示出圖24中各A點(diǎn)、B點(diǎn)、C點(diǎn)的再生信號(hào)RF的包絡(luò)，圖25C示出將擾動(dòng)信號(hào)與圖24中各A點(diǎn)、B點(diǎn)、C點(diǎn)的再生信號(hào)RF的包絡(luò)相乘后的波形。
圖26是表示聚焦位置與由抖動(dòng)檢測(cè)部62檢測(cè)的再生信號(hào)RF的抖動(dòng)間的關(guān)系及各聚焦位置的擾動(dòng)信號(hào)與再生信號(hào)RF的抖動(dòng)間的關(guān)系的圖。
圖27是表示聚焦位置和與聚焦最佳位置的偏差檢測(cè)值間的關(guān)系的圖。
圖28A示出光盤(pán)1的振擺分量的波形，圖28B示出由讀出門(mén)檢測(cè)部32設(shè)定的讀出數(shù)據(jù)扇區(qū)，圖28C示出從讀出門(mén)檢測(cè)部32輸出的選通信號(hào)RDGT，圖28D示出從平均化處理部71的時(shí)間計(jì)測(cè)器7101輸出的定時(shí)器信號(hào)TMS，圖28E示出從平均化處理部71的的AND電路7109輸出的數(shù)據(jù)取得定時(shí)信號(hào)DGTS。
圖29是表示振擺分量除去部35的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的框圖。
圖30是表示記錄時(shí)聚焦位置的重新探測(cè)的具體程序的流程圖。
圖31是表示再生時(shí)聚焦位置的重新探測(cè)的具體程序的流程圖。
圖32是表示僅執(zhí)行聚焦位置粗探測(cè)的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置110的結(jié)構(gòu)的框圖。
圖33是表示僅執(zhí)行聚焦位置精密探測(cè)的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置120的結(jié)構(gòu)的框圖。
圖34是表示圖33所示光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置120的聚焦位置精密探測(cè)部600的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的框圖。
圖35是表示圖34所示平均化處理部710的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的框圖。
圖36是表示僅執(zhí)行備有第一任選功能(讀出門(mén)檢測(cè)部32)的聚焦位置精密探測(cè)的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置130的結(jié)構(gòu)的框圖。
圖37是表示僅執(zhí)行備有第二任選功能(振擺分量除去部35)的聚焦位置精密探測(cè)的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置140的結(jié)構(gòu)的框圖。
具體實(shí)施例方式
以下，參照附圖具體說(shuō)明本發(fā)明的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置100。
圖1是表示本發(fā)明的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置100的總體結(jié)構(gòu)的框圖。從大體上劃分，該光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置100，由機(jī)構(gòu)和光學(xué)系統(tǒng)部件1～13、信號(hào)處理部40、光學(xué)頭控制部20及驅(qū)動(dòng)控制器14構(gòu)成。
機(jī)構(gòu)和光學(xué)系統(tǒng)部件，包括光盤(pán)1、光學(xué)頭7(致動(dòng)器2、物鏡3、再生信號(hào)檢測(cè)器4、光檢測(cè)器5、片簧6、光學(xué)頭7、半導(dǎo)體激光器8)、光學(xué)頭支承構(gòu)件9、粗調(diào)電機(jī)10、搜索控制部11、主軸電機(jī)12及旋轉(zhuǎn)控制部13。
信號(hào)處理部40，是進(jìn)行對(duì)光盤(pán)1的寫(xiě)入信號(hào)或從光盤(pán)1讀出的信號(hào)的處理的電路，由激光器功率驅(qū)動(dòng)部41、調(diào)制部42、加法放大器43、加法放大器44、差分放大器45、加法放大器46及解調(diào)部47構(gòu)成。
光學(xué)頭控制部20，是利用來(lái)自信號(hào)處理部40的各種控制信號(hào)對(duì)光學(xué)頭7進(jìn)行聚焦伺服和跟蹤伺服控制的電路，由聚焦驅(qū)動(dòng)部21、跟蹤驅(qū)動(dòng)部22、跟蹤控制部23、加法部24、擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生部25、聚焦控制部26及聚焦位置調(diào)整部30構(gòu)成。
光盤(pán)1是可重寫(xiě)的信息記錄媒體，安放在主軸電機(jī)12上。旋轉(zhuǎn)控制部13在驅(qū)動(dòng)控制器14的控制下對(duì)主軸電機(jī)12進(jìn)行驅(qū)動(dòng)控制。光學(xué)頭支承構(gòu)件9是支承光學(xué)頭7的構(gòu)件，在粗調(diào)電機(jī)10的帶動(dòng)下沿光盤(pán)1的半徑方向滑動(dòng)移動(dòng)。搜索控制部11，在驅(qū)動(dòng)控制器14的控制下對(duì)粗調(diào)電機(jī)10進(jìn)行驅(qū)動(dòng)控制，從而控制光學(xué)頭7的搜索動(dòng)作。
調(diào)制部42，對(duì)由驅(qū)動(dòng)控制器14發(fā)送來(lái)的信號(hào)模式進(jìn)行一定的變換，然后將所得到的信號(hào)輸出到激光器功率驅(qū)動(dòng)部41。激光器功率驅(qū)動(dòng)部41，根據(jù)來(lái)自調(diào)制部42的信號(hào)對(duì)半導(dǎo)體激光器8的輸出功率進(jìn)行調(diào)制。由此，將來(lái)自驅(qū)動(dòng)控制器14的信號(hào)模式記錄在光盤(pán)1上。
光學(xué)頭7，是半導(dǎo)體激光器8、物鏡3、光檢測(cè)器5、再生信號(hào)檢測(cè)器4、致動(dòng)器2、及片簧等支承構(gòu)件6的集合。從半導(dǎo)體激光器8射出的光束，通過(guò)光學(xué)頭7內(nèi)的光學(xué)系統(tǒng)后，由物鏡3聚光并照射在光盤(pán)1上。從光盤(pán)1上反射的光束，通過(guò)物鏡3及光學(xué)頭7內(nèi)的光學(xué)系統(tǒng)后，入射到光檢測(cè)器5及再生信號(hào)檢測(cè)器4等。
光檢測(cè)器5，是指示照射在光盤(pán)上的光束焦位置的4分段光電二極管。加法放大器43、44分別將來(lái)自光檢測(cè)器5的4個(gè)光信號(hào)中的2個(gè)相加并進(jìn)行放大，從而輸出聚焦信號(hào)VFS1、VFS2。該聚焦信號(hào)VFS1、VFS2，用于生成表示與光束的規(guī)定會(huì)聚狀態(tài)的偏差的聚焦誤差信號(hào)FES。就是說(shuō)，這里，采用的是基于象散法的聚焦誤差檢測(cè)方式。
再生信號(hào)檢測(cè)器4，是檢測(cè)從光盤(pán)1的反射光量并輸出2個(gè)反射光量信號(hào)的寬頻帶的2分段光電二極管。由于在光盤(pán)1上按反射率的變化記錄著信息(信號(hào)模式)，所以，可以根據(jù)這2個(gè)反射光量信號(hào)讀出記錄在光盤(pán)1上的信息。
差分放大器45，計(jì)算來(lái)自再生信號(hào)檢測(cè)器4的2個(gè)反射光量信號(hào)的差分，并將其作為寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE輸出到跟蹤控制部23及聚焦位置調(diào)整部30。該寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE，是含有在光盤(pán)1上以凹凸坑點(diǎn)形成的地址部的再生信號(hào)(以下，簡(jiǎn)稱(chēng)「地址信號(hào)」)的信號(hào)。在光盤(pán)1上形成的地址坑點(diǎn)，在分別從溝紋光道的中心及凸紋光道的中心錯(cuò)開(kāi)1/4光道間距的位置形成。表示這些坑點(diǎn)的狀態(tài)的寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE，用于光盤(pán)1的地址區(qū)檢測(cè)、凸紋光道和溝紋光道的檢測(cè)、跟蹤伺服等。
加法放大器46，將來(lái)自再生信號(hào)檢測(cè)器4的2個(gè)光量信號(hào)相加，并作為再生信號(hào)RF輸出到解調(diào)部47。該再生信號(hào)RF，是表示記錄在光盤(pán)1上的全部信息的寬頻帶信號(hào)。解調(diào)部47，根據(jù)規(guī)定的閾值將來(lái)自加法放大器46的再生信號(hào)RF雙值化，通過(guò)進(jìn)行與調(diào)制部42中的變換對(duì)應(yīng)的反變換，生成表示記錄在光盤(pán)1上的信息的RF脈沖信號(hào)PRF，并傳送到聚焦位置調(diào)整部30及驅(qū)動(dòng)控制器14。
聚焦位置調(diào)整部30，雖然其基本功能是根據(jù)2個(gè)聚焦信號(hào)VFS1、VFS2生成聚焦誤差信號(hào)FES，但這時(shí)也可以通過(guò)使用各種控制信號(hào)RFTE、RF、PRF執(zhí)行依賴(lài)于光束光點(diǎn)位置(位于光盤(pán)1的凸紋光道和溝紋光道的哪一個(gè)上)的最佳聚焦位置的探測(cè)，并將其結(jié)果反映在聚焦誤差信號(hào)FES內(nèi)。此外，還可以根據(jù)寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE生成表示當(dāng)前的光束光點(diǎn)是位于凸紋光道上還是位于溝紋光道上的凸紋(L)/溝紋(G)切換信號(hào)LGS、及指示光束光點(diǎn)位于地址區(qū)的時(shí)序的選通信號(hào)IDGATE。
另外，在聚焦位置調(diào)整部30的聚焦位置探測(cè)中，從大體上劃分可以有2種方式，即，在光盤(pán)1達(dá)到一定轉(zhuǎn)速后實(shí)施的粗探測(cè)、及在該粗探測(cè)結(jié)束后緊接著實(shí)施的精密探測(cè)。并且，在精密探測(cè)中，可以進(jìn)行用于使精度進(jìn)一步提高的2種功能(任選功能)的動(dòng)作，即，將振擺分量從聚焦誤差信號(hào)FES中除去、或僅以特定的數(shù)據(jù)區(qū)為對(duì)象進(jìn)行探測(cè)的功能。這2種探測(cè)方式及2種任選功能，可以在驅(qū)動(dòng)控制器14的控制下進(jìn)行選擇或追加。
聚焦驅(qū)動(dòng)部21及跟蹤驅(qū)動(dòng)部22，分別根據(jù)來(lái)自加法部24及跟蹤控制部23的信號(hào)將用于改變物鏡3的位置的驅(qū)動(dòng)電流供給致動(dòng)器2。致動(dòng)器2，由磁鐵和線圈等構(gòu)成，通過(guò)克服片簧6的反作用力而使物鏡3移動(dòng)，從而改變照射在光盤(pán)1上的光束的會(huì)聚狀態(tài)(光束與光盤(pán)1表面的相對(duì)位置偏差)、及光束光點(diǎn)與光道的位置偏差。
跟蹤控制部23，是進(jìn)行用于跟蹤伺服的控制的電路，根據(jù)來(lái)自差分放大器4 5的寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE進(jìn)行反饋控制，使光束跟蹤光盤(pán)1上的光道。此外，跟蹤控制部23，還按照來(lái)自驅(qū)動(dòng)控制器14的指示根據(jù)由聚焦位置調(diào)整部30所發(fā)送的L/G切換信號(hào)LGS進(jìn)行控制，使光束始終只跟蹤凸紋光道或溝紋光道，即，還進(jìn)行每當(dāng)光盤(pán)1旋轉(zhuǎn)1周時(shí)用于使光束向光盤(pán)1的內(nèi)周側(cè)跳回(平穩(wěn)跳轉(zhuǎn))的控制。
聚焦控制部26，由相位補(bǔ)償用的環(huán)路濾波器等構(gòu)成，根據(jù)來(lái)自聚焦位置調(diào)整部30的聚焦誤差信號(hào)FES，生成使該信號(hào)FES表示的聚焦位置與聚焦伺服的控制目標(biāo)位置的誤差為零的信號(hào)，并輸出到加法部24。
另外，該聚焦控制部26和跟蹤控制部23，根據(jù)由聚焦位置調(diào)整部30所發(fā)送的選通信號(hào)IDGATE，僅在會(huì)聚照射在光盤(pán)1上的光束位于地址區(qū)的時(shí)間內(nèi)使進(jìn)入該區(qū)域之前的輸出信號(hào)為保持狀態(tài)。這是因?yàn)?，如上所述，在光盤(pán)1上形成的地址坑點(diǎn)，在分別從溝紋光道的中心及凸紋光道的中心僅錯(cuò)開(kāi)1/4光道間距的位置形成，所以，應(yīng)將這種不需要的區(qū)域從聚焦伺服和跟蹤伺服的對(duì)象中排除。
擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生部25，將為使聚焦位置調(diào)整部30進(jìn)行聚焦位置精密探測(cè)所需的信號(hào)、具體地說(shuō)就是使聚焦位置改變±0.4μm的1kHz正弦波信號(hào)等輸出到加法部24。加法部24，在由驅(qū)動(dòng)控制器14進(jìn)行的控制(粗探測(cè)或精密探測(cè)指示)下，將來(lái)自聚焦控制部26的信號(hào)和來(lái)自擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生部25的信號(hào)相加，并輸出到聚焦驅(qū)動(dòng)部21，或者使來(lái)自聚焦控制部26的信號(hào)直接通過(guò)并輸出到聚焦驅(qū)動(dòng)部21。
驅(qū)動(dòng)控制器14，由微處理器、記錄控制程序的ROM及作為工作區(qū)的RAM等構(gòu)成，將旋轉(zhuǎn)控制部13、搜索控制部11、信號(hào)處理部40及光學(xué)頭控制部20總括在一起進(jìn)行控制。例如，當(dāng)檢測(cè)出一定條件時(shí)，對(duì)聚焦位置調(diào)整部30等設(shè)定用于特定種類(lèi)的聚焦位置探測(cè)的各項(xiàng)條件，并執(zhí)行該探測(cè)。
圖2A和圖2B是表示光盤(pán)1的物理結(jié)構(gòu)的圖，圖2A是從上面俯視光盤(pán)1時(shí)的簡(jiǎn)圖，圖2B是L/G切換點(diǎn)附近的放大圖。該光盤(pán)1是SS-L/GFMT光盤(pán)。就是說(shuō)，按螺旋狀形成的光道的溝紋(G)及凸紋(L)，都能進(jìn)行記錄再生，在光盤(pán)1上每隔一周交替形成。因此，可以從內(nèi)周到外周連續(xù)地對(duì)凸紋和溝紋進(jìn)行再生或記錄。
如圖2A所示，在該光盤(pán)1上，凸紋光道(圖中用白線表示)與溝紋光道(圖中用黑線表示)每轉(zhuǎn)一周聯(lián)結(jié)在一起，構(gòu)成1條螺旋線。
如圖2B所示，該光盤(pán)1，在數(shù)據(jù)區(qū)與數(shù)據(jù)區(qū)之間，有由用于識(shí)別扇區(qū)的凹凸坑點(diǎn)結(jié)構(gòu)形成的地址區(qū)。此外，L/G切換點(diǎn)存在于光盤(pán)的每一周上，并且，在結(jié)構(gòu)上使凸紋與溝紋正好在地址區(qū)切換。地址區(qū)，在光盤(pán)的內(nèi)周側(cè)每一周有17個(gè)，其中一個(gè)是L/G切換點(diǎn)。并且，由一組地址區(qū)和數(shù)據(jù)區(qū)構(gòu)成數(shù)據(jù)扇區(qū)。因此，例如光盤(pán)內(nèi)周側(cè)的一周(＝1條光道)，被分成17個(gè)扇區(qū)。
另外，如圖2B所示，光盤(pán)1的地址區(qū)，在扇區(qū)的開(kāi)頭，由在從光道的中心沿光盤(pán)1的半徑方向錯(cuò)開(kāi)1/2光道間距的位置上以互補(bǔ)的形式配置的坑點(diǎn)(以下簡(jiǎn)稱(chēng)為「CAPA(互補(bǔ)配置的坑點(diǎn)地址)」)構(gòu)成。更詳細(xì)地說(shuō)，在包含L/G切換點(diǎn)的第一數(shù)據(jù)扇區(qū)以外的數(shù)據(jù)區(qū)終端，在相對(duì)于溝紋光道向光盤(pán)1的外周側(cè)錯(cuò)開(kāi)1/2光道間距的位置上配置第一地址，在第一地址后面，在向內(nèi)周側(cè)錯(cuò)開(kāi)1/2光道間距的位置上配置第二地址。另一方面，在包含L/G切換點(diǎn)的第一數(shù)據(jù)扇區(qū)，在位于第一數(shù)據(jù)扇區(qū)前面的數(shù)據(jù)扇區(qū)的終端，在相對(duì)于溝紋光道向光盤(pán)1的內(nèi)周側(cè)錯(cuò)開(kāi)1/2光道間距的位置上配置第一地址，在第1地址后面，在向外周側(cè)錯(cuò)開(kāi)1/2光道間距的位置上配置第二地址。
圖2C是當(dāng)光束照射在SS-L/GFMT光盤(pán)1的凸紋上時(shí)的光盤(pán)1及物鏡3的斷面圖，圖2D是當(dāng)光束照射在SS-L/GFMT光盤(pán)1的溝紋上時(shí)的光盤(pán)1及物鏡3的斷面圖。從該圖2C、D可以看出，由于在光盤(pán)1的凸紋和溝紋上形狀不同，所以當(dāng)從光盤(pán)1反射的光通過(guò)物鏡3并在光學(xué)頭7內(nèi)衍射時(shí)，其衍射光的分布在凸紋光道和溝紋光道上是不同的。其結(jié)果是，在凸紋光道和溝紋光道上，聚焦誤差信號(hào)的零電平(對(duì)聚焦位置的控制目標(biāo)位置)與實(shí)際聚焦位置的關(guān)系不同。因此，本光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置100，根據(jù)光束是位于凸紋光道上還是位于溝紋光道上而進(jìn)行不同的聚焦位置調(diào)整。就是說(shuō)，光束位于凸紋光道時(shí)的控制目標(biāo)位置與位于溝紋光道時(shí)的控制目標(biāo)位置是獨(dú)立存在的。
圖3是表示圖1所示聚焦位置調(diào)整部30的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的框圖。該聚焦位置調(diào)整部30，從大體上劃分，由用于聚焦位置粗探測(cè)的構(gòu)成要素(誤碼率計(jì)測(cè)部33、聚焦位置粗探測(cè)部50)、用于精密探測(cè)的構(gòu)成要素(讀出門(mén)檢測(cè)部32、振擺分量除去部35、切換器39、聚焦位置精密探測(cè)部60)、所述各構(gòu)成要素公用的構(gòu)成要素(地址信號(hào)檢測(cè)部31、凸紋溝紋檢測(cè)部34、2個(gè)切換器37、38、聚焦誤差檢測(cè)部36)構(gòu)成。
凸紋溝紋檢測(cè)部34，根據(jù)從信號(hào)處理部40的差分放大器45輸出的寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE，生成指示當(dāng)前的光束光點(diǎn)是位于凸紋光道上還是位于溝紋光道上的L/G切換信號(hào)LGS。具體地說(shuō)，凸紋溝紋檢測(cè)部34，生成將寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE的波峰包絡(luò)雙值化后的信號(hào)(以下稱(chēng)「波峰包絡(luò)信號(hào)PEPS」)及將寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE的波底包絡(luò)雙值化后的信號(hào)(以下稱(chēng)「波底包絡(luò)信號(hào)BEPS」)，當(dāng)光束跟蹤光盤(pán)1上的光道并通過(guò)地址區(qū)時(shí)，如果在波峰包絡(luò)信號(hào)PEPS的邏輯電平改變后波底包絡(luò)信號(hào)BEPS的邏輯電平發(fā)生變化，則判定為溝紋，相反，如果在波底包絡(luò)信號(hào)BEPS的邏輯電平改變后波峰包絡(luò)信號(hào)PEPS的邏輯電平發(fā)生變化，則判定為凸紋，并將表示所述判定結(jié)果的信號(hào)作為L(zhǎng)/G切換信號(hào)LGS輸出。該L/G切換信號(hào)LGS，在聚焦位置探測(cè)中用于區(qū)分凸紋和溝紋，或由跟蹤控制部23用于進(jìn)行平穩(wěn)跳轉(zhuǎn)。
圖4A～C是表示凸紋溝紋檢測(cè)部34的輸入輸出信號(hào)RFTE、LGS的時(shí)序的圖。圖4A示出光盤(pán)1上的光道的簡(jiǎn)略結(jié)構(gòu)及光束光點(diǎn)從溝紋光道通過(guò)L/G切換點(diǎn)向凸紋光道移動(dòng)的軌跡，圖4B示出光束光點(diǎn)按圖4A所示軌跡跟蹤光道時(shí)的寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE的波形，圖4C示出L/G切換信號(hào)LGS的波形。
如圖4A所示，光盤(pán)1的地址區(qū)，在扇區(qū)的開(kāi)頭，由在從光道的中心沿光盤(pán)1的半徑方向錯(cuò)開(kāi)1/2光道間距的位置上以互補(bǔ)的形式配置的坑點(diǎn)(CAPA)構(gòu)成。通過(guò)形成所述CAPA，可以根據(jù)光束通過(guò)地址區(qū)時(shí)的寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE對(duì)以坑點(diǎn)形成的地址信息進(jìn)行再生。
現(xiàn)假定光束光點(diǎn)一面跟蹤溝紋光道一面通過(guò)如圖4A所示的地址區(qū)。于是，如圖4B時(shí)間圖的左側(cè)所示，寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE，變?yōu)橄鄬?duì)于零電平先在正側(cè)出現(xiàn)地址信號(hào)、然后在負(fù)側(cè)出現(xiàn)的波形。接著，當(dāng)光束光點(diǎn)通過(guò)L/G切換點(diǎn)時(shí)，如圖4B的時(shí)間圖的右側(cè)所示，寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE，變?yōu)橄鄬?duì)于零電平先在負(fù)側(cè)出現(xiàn)地址信號(hào)、然后在正側(cè)出現(xiàn)的波形。凸紋溝紋檢測(cè)部34，根據(jù)圖4B所示的極性反轉(zhuǎn)順序檢測(cè)L/G切換點(diǎn)，所以，輸出如圖4C所示的L/G切換信號(hào)LGS(當(dāng)光束光點(diǎn)位于溝紋時(shí)為“高”電平，當(dāng)位于凸紋時(shí)為“低”電平信號(hào))。
地址信號(hào)檢測(cè)部31，接受從信號(hào)處理部40的差分放大器45輸出的寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE，并輸出根據(jù)規(guī)定的閾值將該信號(hào)RFTE雙值化后的地址脈沖信號(hào)PADR，同時(shí)輸出指示光束光點(diǎn)位于地址區(qū)的時(shí)序的選通信號(hào)IDGATE(在數(shù)據(jù)區(qū)變“低”、在地址區(qū)變“高”的選通信號(hào))。具體地說(shuō)，生成將寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE的波峰包絡(luò)雙值化后的信號(hào)及將寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE的波底包絡(luò)雙值化后的信號(hào)，并根據(jù)這2個(gè)信號(hào)的邏輯和生成選通信號(hào)IDGATE。
圖5是表示地址信號(hào)檢測(cè)部31的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的框圖。該地址信號(hào)檢測(cè)部31，從大體上劃分，由用于生成選通信號(hào)IDGATE的構(gòu)成要素3101～3106、及用于生成地址脈沖信號(hào)PADR的構(gòu)成要素3107構(gòu)成。
波峰包絡(luò)檢測(cè)部3101，檢測(cè)來(lái)自再生信號(hào)檢測(cè)器4的寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE的波峰側(cè)包絡(luò)。波底包絡(luò)檢測(cè)部3102，用于檢測(cè)寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE的波底側(cè)包絡(luò)。雙值化電路3103，根據(jù)規(guī)定的閾值將來(lái)自波峰包絡(luò)檢測(cè)部3101的信號(hào)(表示寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE的波峰包絡(luò)的信號(hào))雙值化。雙值化電路3104，根據(jù)規(guī)定的閾值將來(lái)自波底包絡(luò)檢測(cè)部3102的信號(hào)(表示寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE的波底包絡(luò)的信號(hào))雙值化。NOT電路3105，用于將雙值化電路3104的輸出信號(hào)反相后輸出。OR電路3106，用于求取雙值化電路3103的輸出信號(hào)及NOT電路3105的輸出信號(hào)的邏輯和，并輸出所求得的選通信號(hào)IDGATE。雙值化電路3107，對(duì)相對(duì)于寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE的零電平出現(xiàn)在正側(cè)的地址再生信號(hào)根據(jù)相當(dāng)于其振幅中心的正閾值、對(duì)出現(xiàn)在負(fù)側(cè)的地址再生信號(hào)根據(jù)相當(dāng)于其振幅中心的負(fù)閾值分別雙值化，并輸出所求得的地址脈沖信號(hào)PADR。
圖6A～D是用于表示在地址信號(hào)檢測(cè)部31中生成選通信號(hào)IDGATE的過(guò)程的時(shí)間圖，圖6A示出輸入到地址信號(hào)檢測(cè)部31的寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE，圖6B示出雙值化電路3103的輸出信號(hào)，圖6C示出雙值化電路3104的輸出信號(hào)，圖6D示出從地址信號(hào)檢測(cè)部31輸出的選通信號(hào)IDGATE。
當(dāng)如圖6A所示的寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE輸入地址信號(hào)檢測(cè)部31時(shí)，雙值化電路3103的輸出，如圖6B所示，是當(dāng)相對(duì)于寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE的零電平在正側(cè)出現(xiàn)地址信號(hào)時(shí)變“高”、除此以外的情況時(shí)變“低”的波形。另一方面，雙值化電路3104的輸出，如圖6C所示，是當(dāng)相對(duì)于寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE的零電平在負(fù)側(cè)出現(xiàn)地址信號(hào)時(shí)變“低”、除此以外的情況時(shí)變“高”的波形。OR電路3106的輸出、即選通信號(hào)IDGATE，如圖6D所示，是當(dāng)寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE中出現(xiàn)地址信號(hào)時(shí)變“高”、除此以外的情況時(shí)變“低”的波形。
誤碼率計(jì)測(cè)部33，用于生成在聚焦位置粗探測(cè)中使用的評(píng)價(jià)信息、即表示記錄在光盤(pán)1的地址區(qū)內(nèi)的信息的差錯(cuò)發(fā)生率或記錄在數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)的信息的差錯(cuò)發(fā)生率的信號(hào)(位誤碼率BER)。具體地說(shuō)，誤碼率計(jì)測(cè)部33，根據(jù)來(lái)自地址信號(hào)檢測(cè)部31的選通信號(hào)IDGATE，對(duì)來(lái)自解調(diào)部47的RF脈沖信號(hào)PRF的誤碼率(例如，每單位時(shí)間的RF脈沖信號(hào)PRF的奇偶校驗(yàn)位差錯(cuò)數(shù))、及來(lái)自地址信號(hào)檢測(cè)部31的地址脈沖信號(hào)PADR的誤碼率(例如，每單位時(shí)間的地址脈沖信號(hào)PADR的奇偶校驗(yàn)位差錯(cuò)數(shù))中的任何一個(gè)進(jìn)行選擇和計(jì)測(cè)，并將其結(jié)果作為位誤碼率BER輸出到聚焦位置粗探測(cè)部50。
圖7是表示誤碼率計(jì)測(cè)部33的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的框圖。選擇電路3301，是2輸入1輸出的選擇器，當(dāng)來(lái)自地址信號(hào)檢測(cè)部31的選通信號(hào)IDGATE為“高”時(shí)，選擇并輸出來(lái)自解調(diào)部47的RF脈沖信號(hào)PRF，當(dāng)選通信號(hào)IDGATE為“低”時(shí)，選擇并輸出來(lái)自地址信號(hào)檢測(cè)部31的地址脈沖信號(hào)PADR。
奇偶校驗(yàn)差錯(cuò)檢測(cè)器3302，檢測(cè)在由選擇電路3301輸出的RF脈沖信號(hào)PRF或地址脈沖信號(hào)PADR中發(fā)生的每1個(gè)符號(hào)數(shù)據(jù)的奇偶校驗(yàn)差錯(cuò)，并每當(dāng)檢測(cè)到差錯(cuò)時(shí)輸出1個(gè)“高”電平的脈沖信號(hào)(奇偶校驗(yàn)差錯(cuò)信號(hào)PE)。而由于在光盤(pán)1所記錄的數(shù)據(jù)中對(duì)每1個(gè)符號(hào)數(shù)據(jù)都附加有奇偶校驗(yàn)位，所以，奇偶校驗(yàn)差錯(cuò)檢測(cè)器3302，對(duì)每1個(gè)符號(hào)數(shù)據(jù)，從其所含數(shù)據(jù)位和奇偶校驗(yàn)位檢測(cè)奇偶校驗(yàn)差錯(cuò)。
周期計(jì)數(shù)器3303，向位差錯(cuò)檢測(cè)部3304輸出一定周期的時(shí)鐘信號(hào)。位差錯(cuò)檢測(cè)部3304，對(duì)在來(lái)自周期計(jì)數(shù)器3303的時(shí)鐘信號(hào)的一個(gè)周期內(nèi)輸入的奇偶校驗(yàn)差錯(cuò)信號(hào)PE的個(gè)數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并將其結(jié)果作為位誤碼率BER輸出。
聚焦誤差檢測(cè)部36，對(duì)從光檢測(cè)器5經(jīng)加法放大器43、44輸入的2個(gè)聚焦信號(hào)VFS1、VFS2，按下列的式(1)所示，計(jì)算與其差分相當(dāng)?shù)男畔ⅲ⒆鳛榫劢拐`差信號(hào)FES輸出到聚焦控制部26、振擺分量除去部35及切換器39。
FES＝k1×VFS1-k2×VFS2+OFFSET …(式1)就是說(shuō)，分別對(duì)各聚焦信號(hào)VFS1、VFS2進(jìn)行規(guī)定的加權(quán)，然后計(jì)算其差分，并將加上一定偏移值后的值作為聚焦誤差信號(hào)FES輸出。這時(shí)，根據(jù)從切換器39輸入的平衡控制信號(hào)FBAL決定所述權(quán)重(k1和k2)之比(聚焦平衡)，并根據(jù)從切換器38輸入的偏移控制信號(hào)FOFF決定所述的偏移值OFFSET(聚焦偏移)。從將該聚焦誤差信號(hào)FES輸入到聚焦控制部26可知，該聚焦誤差檢測(cè)部36，根據(jù)2個(gè)控制信號(hào)FBAL、FOFF變更聚焦平衡和聚焦偏移，從而改變(設(shè)定)聚焦誤差(VFS1與VFS2之差)的零電平、即聚焦伺服的控制目標(biāo)位置。
圖8是表示聚焦誤差檢測(cè)部36的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的框圖。該聚焦誤差檢測(cè)部36的前級(jí)部，是由差動(dòng)放大器3613、反饋電阻器3612、聚焦平衡電路3611及D/A轉(zhuǎn)換器3618構(gòu)成的差動(dòng)放大電路。聚焦平衡電路3611，由電壓控制的可變電阻器件(2個(gè)晶體管互補(bǔ)連接)等構(gòu)成。該差動(dòng)放大電路，根據(jù)從切換器37發(fā)送來(lái)的平衡控制信號(hào)FBAL(的模擬值)，改變計(jì)算二個(gè)輸入信號(hào)VFS1、VFS2的差分時(shí)的增益比(聚焦平衡)。后級(jí)部，是由3個(gè)電阻器3614～3616、差動(dòng)放大器3617及A/D轉(zhuǎn)換器3619構(gòu)成的偏移調(diào)整電路。根據(jù)從切換器38發(fā)送來(lái)的偏移控制信號(hào)FOFF(模擬值)，將一定的偏移值(聚焦偏移)與來(lái)自前級(jí)部的差分信號(hào)相加。
切換器37、38，是分別由驅(qū)動(dòng)控制器14控制的2輸入1輸出的選擇器，當(dāng)從驅(qū)動(dòng)控制器14接收到進(jìn)行聚焦位置粗探測(cè)的指示時(shí)，選擇并輸出來(lái)自聚焦位置粗探測(cè)部50的控制信號(hào)FBAL1、FOFF1，當(dāng)接收到進(jìn)行精密探測(cè)的指示時(shí)，選擇并輸出來(lái)自聚焦位置精密探測(cè)部60的控制信號(hào)FBAL2、FOFF2。
聚焦位置粗探測(cè)部50，是在進(jìn)入聚焦?fàn)顟B(tài)的初期進(jìn)行聚焦位置探測(cè)、即粗探測(cè)的控制電路，為了強(qiáng)制性地將聚焦位置僅移動(dòng)一定距離從而使來(lái)自誤碼率計(jì)測(cè)部33的位誤碼率BER變?yōu)橐欢ㄖ狄韵?，?個(gè)控制信號(hào)FBAL、FOFF輸出到切換器37、38。這時(shí)，聚焦位置粗探測(cè)部50，按照預(yù)先編制的程序，一面參照來(lái)自凸紋溝紋檢測(cè)部34的L/G切換信號(hào)LGS，一面在光束光點(diǎn)位于凸紋光道時(shí)及位于溝紋光道上時(shí)進(jìn)行不同的控制。這是因?yàn)榭紤]到避免發(fā)生以下的情況，即只將凸紋光道及溝紋光道中的任何一個(gè)光道作為對(duì)象調(diào)整聚焦位置使其再生狀態(tài)為最佳狀態(tài)、而另一個(gè)光道上不一定是最佳再生狀態(tài)。就是說(shuō)，區(qū)分凸紋光道和溝紋光道并分別探測(cè)聚焦控制的目標(biāo)值，從而能從總體上(對(duì)凸紋光道和溝紋光道雙方都)獲得良好的再生特性。
圖9是表示聚焦位置粗探測(cè)部50的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的框圖。第一存儲(chǔ)部52，是具有用于記錄多個(gè)聚焦平衡值(與平衡控制信號(hào)FBAL1的大小相當(dāng)?shù)臄?shù)值)的區(qū)域的可重寫(xiě)非易失性存儲(chǔ)器，預(yù)先存儲(chǔ)著表示在組裝和調(diào)整本光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置100時(shí)得到的光盤(pán)1的溝紋光道聚焦位置調(diào)整值的1個(gè)聚焦平衡值。同樣，第二存儲(chǔ)部53，是具有用于記錄多個(gè)聚焦偏移值(與偏移控制信號(hào)FOFF1的大小相當(dāng)?shù)臄?shù)值)的區(qū)域的可重寫(xiě)非易失性存儲(chǔ)器，預(yù)先存儲(chǔ)著表示在組裝和調(diào)整本光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置100時(shí)得到的光盤(pán)1的凸紋光道聚焦位置調(diào)整值的1個(gè)聚焦偏移值。
DSP51，是在內(nèi)部裝有控制程序的數(shù)字信號(hào)處理器，用于對(duì)聚焦位置探測(cè)進(jìn)行軟處理。具體地說(shuō)，當(dāng)光束光點(diǎn)位于光盤(pán)1上的溝紋光道時(shí)，一面參照存儲(chǔ)在第一存儲(chǔ)部52內(nèi)的聚焦平衡值一面輸出平衡控制信號(hào)FBAL1，從而探測(cè)使來(lái)自誤碼率計(jì)測(cè)部33的位誤碼率BER變?yōu)橐欢ㄖ狄韵碌淖罴丫劢蛊胶庵?。接著，在保持該平衡控制信?hào)FBAL1的輸出的狀態(tài)下，當(dāng)光束光點(diǎn)位于光盤(pán)1上的凸紋光道時(shí)，一面參照存儲(chǔ)在第2存儲(chǔ)部53內(nèi)的聚焦偏移值一面輸出偏移控制信號(hào)FOFF1，從而探測(cè)使來(lái)自誤碼率計(jì)測(cè)部33的位誤碼率BER變?yōu)橐欢ㄖ狄韵碌淖罴丫劢蛊浦怠?br> 然后，當(dāng)通過(guò)這種探測(cè)得到了最佳聚焦平衡值及最佳聚焦偏移值時(shí)，DSP51，在將其區(qū)分為凸紋光道用及溝紋光道用之后存儲(chǔ)在第一和第二存儲(chǔ)部52、53內(nèi)，同時(shí)，作為該探測(cè)后的聚焦位置的新控制基準(zhǔn)位置，一面區(qū)分凸紋光道和溝紋光道，一面將與該聚焦平衡值及聚焦偏移值相當(dāng)?shù)目刂菩盘?hào)FBAL1、FOFF1輸出到切換器37、38。
讀出門(mén)檢測(cè)部32，是在進(jìn)行聚焦位置精密探測(cè)的情況下進(jìn)一步提高精度時(shí)作為任選功能使用的電路，用于向聚焦位置精密探測(cè)部60輸出在光盤(pán)1的地址區(qū)及預(yù)先由驅(qū)動(dòng)控制器14指定的數(shù)據(jù)區(qū)變“高”的選通信號(hào)RDGT。
具體地說(shuō)，預(yù)先由驅(qū)動(dòng)控制器14通過(guò)取入聚焦誤差信號(hào)FES并進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換對(duì)光盤(pán)1旋轉(zhuǎn)時(shí)產(chǎn)生的振擺(交流信號(hào))進(jìn)行檢測(cè)，并將與該交流信號(hào)變化小的位置相當(dāng)?shù)臄?shù)據(jù)區(qū)中使選通信號(hào)RDGT變“高”的那些數(shù)據(jù)區(qū)的扇區(qū)通知讀出門(mén)檢測(cè)部32。然后，讀出門(mén)檢測(cè)部32，根據(jù)來(lái)自信號(hào)處理部40的寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE判別地址區(qū)和數(shù)據(jù)區(qū)(扇區(qū))，并生成在地址區(qū)和預(yù)先由驅(qū)動(dòng)控制器14指定的數(shù)據(jù)區(qū)(扇區(qū))中變“高”的選通信號(hào)RDGT。該選通信號(hào)RDGT，用于消除在聚焦位置精密探測(cè)中因受振擺的影響而使聚焦控制精度惡化的異常狀況。
圖10是讀出門(mén)檢測(cè)部32的輸入信號(hào)RFTE、指示地址區(qū)的選通信號(hào)IDGATE及從讀出門(mén)檢測(cè)部32輸出的信號(hào)RDGT的時(shí)間圖。選通信號(hào)RDGT，用于指示地址區(qū)及預(yù)先指定的數(shù)據(jù)扇區(qū)(讀出數(shù)據(jù)扇區(qū))。在精密的聚焦位置探測(cè)中，當(dāng)不要求高精度時(shí)，驅(qū)動(dòng)控制器14，可以指示讀出門(mén)檢測(cè)部32，使其功能停止。這時(shí)，讀出門(mén)檢測(cè)部32使選通信號(hào)RDGT總是為“高”電平。
振擺分量除去部35，是在進(jìn)行聚焦位置精密探測(cè)時(shí)作為任選功能使用的電路，是將來(lái)自聚焦誤差檢測(cè)部36的聚焦誤差信號(hào)FES中所包含的光盤(pán)1的振擺分量除去并使該分量以外的頻率分量(由擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生部25施加的1kHz信號(hào)等)通過(guò)的濾波器，并將所通過(guò)的信號(hào)經(jīng)由切換器39輸出到聚焦位置精密探測(cè)部60。這是因?yàn)?，其作用與讀出門(mén)檢測(cè)部32相同，在將聚焦位置精密探測(cè)中的振擺影響排除的情況下，可以進(jìn)行精度更高的聚焦位置探測(cè)。
切換器39，是由驅(qū)動(dòng)控制器14控制的2輸入1輸出的選擇器，根據(jù)來(lái)自驅(qū)動(dòng)控制器14的指示對(duì)振擺分量除去部35的輸入輸出進(jìn)行旁路。具體地說(shuō)，當(dāng)進(jìn)行聚焦位置的精密探測(cè)時(shí)，根據(jù)來(lái)自驅(qū)動(dòng)控制器14的指示，選擇振擺分量除去部35的輸出信號(hào)及聚焦誤差檢測(cè)部36的輸出信號(hào)FES中的任何一個(gè)，并作為選擇后的聚焦誤差信號(hào)FESS輸出到聚焦位置精密探測(cè)部60。該切換器39，具有在聚焦位置的精密探測(cè)中決定是否使振擺分量除去部35起作用、即是否以更高的精度進(jìn)行聚焦位置精密探測(cè)的功能。
聚焦位置精密探測(cè)部60，是用于對(duì)在聚焦位置粗探測(cè)部50的聚焦位置粗探測(cè)結(jié)束后接著進(jìn)行的細(xì)密聚焦位置探測(cè)進(jìn)行控制的電路。具體地說(shuō)，根據(jù)從切換器39發(fā)送來(lái)的聚焦誤差信號(hào)FESS中所包含的擾動(dòng)信號(hào)分量(從擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生部25輸出的擾動(dòng)信號(hào))及從信號(hào)處理部40發(fā)送來(lái)的再生信號(hào)RF，探測(cè)使該再生信號(hào)的包絡(luò)變大、且使該再生信號(hào)的抖動(dòng)變小的最佳聚焦位置，并向切換器37、38輸出2個(gè)控制信號(hào)FBAL2、FOFF2，以便通過(guò)聚焦控制部26的聚焦伺服保持該最佳聚焦位置。這是因?yàn)椋ㄟ^(guò)進(jìn)行考慮到再生信號(hào)RF的包絡(luò)和抖動(dòng)兩個(gè)方面的聚焦控制，可以從總體上獲得良好的再生狀態(tài)。
另外，與聚焦位置粗探測(cè)部50一樣，聚焦位置精密探測(cè)部60，還可以根據(jù)來(lái)自凸紋溝紋檢測(cè)部34的L/G切換信號(hào)LGS，在光束光點(diǎn)位于凸紋光道時(shí)及位于溝紋光道時(shí)進(jìn)行不同的控制。這是為了能區(qū)分凸紋光道和溝紋光道并分別探測(cè)聚焦控制的目標(biāo)值，從而可以綜合性地(對(duì)凸紋光道和溝紋光道雙方都)獲得良好的再生特性。
其次，說(shuō)明結(jié)構(gòu)如上所述的本光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置100在記錄和再生過(guò)程中進(jìn)行聚焦位置粗探測(cè)時(shí)的動(dòng)作。
首先，參照?qǐng)D1和圖3說(shuō)明本光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置100的總體動(dòng)作。在該聚焦位置的粗探測(cè)中，切換器37、38，根據(jù)從驅(qū)動(dòng)控制器14來(lái)的指示，選擇來(lái)自聚焦位置粗探測(cè)部50的控制信號(hào)FBAL1、FOFF1并使其通過(guò)，由于加法器24僅使來(lái)自聚焦控制部26的信號(hào)通過(guò)，所以與只在精密的聚焦探測(cè)中使用的構(gòu)成要素(擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生部25、讀出門(mén)檢測(cè)部32、振擺分量除去部35、聚焦位置精密探測(cè)部60)不進(jìn)行動(dòng)作(沒(méi)有直接聯(lián)系)。
驅(qū)動(dòng)控制器14，先向旋轉(zhuǎn)控制部13發(fā)出指示，使主軸電機(jī)12以一定轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(dòng)，然后，通過(guò)向探測(cè)控制部11發(fā)出指示，由粗調(diào)電機(jī)10進(jìn)行粗搜索動(dòng)作。接著，控制調(diào)制部42和激光器功率驅(qū)動(dòng)部41，從而由半導(dǎo)體激光器8向光盤(pán)1照射光束。
光檢測(cè)器5，在以4分段光電二極管檢測(cè)到由光束光點(diǎn)在光盤(pán)1上反射的光束后變換為電信號(hào)，并由加法放大器43、44將該4個(gè)信號(hào)中的2個(gè)相加，從而生成在聚焦誤差信號(hào)FES的生成中使用的2個(gè)聚焦信號(hào)VFS1、VFS2。
聚焦誤差檢測(cè)部36，根據(jù)從聚焦位置粗探測(cè)部50經(jīng)切換器37、38輸入的2個(gè)控制信號(hào)FBAL1、FOFF1，對(duì)2個(gè)聚焦信號(hào)VFS1、VFS2進(jìn)行上列式1的運(yùn)算，從而生成聚焦誤差信號(hào)FES。也就是說(shuō)，改變聚焦誤差的零電平、即聚焦伺服的控制目標(biāo)位置。
聚焦控制部26，根據(jù)來(lái)自聚焦誤差檢測(cè)部36的聚焦誤差信號(hào)FES，通過(guò)加法器24、聚焦驅(qū)動(dòng)部21使致動(dòng)器2動(dòng)作，從而進(jìn)行使聚焦誤差信號(hào)FES與聚焦伺服的控制目標(biāo)位置之差變?yōu)榱愕木劢顾欧?br> 在這種聚焦伺服進(jìn)行動(dòng)作的狀態(tài)下，開(kāi)始下一步的跟蹤伺服。就是說(shuō)，差分放大器45，通過(guò)求取來(lái)自再生信號(hào)檢測(cè)器4的2個(gè)信號(hào)的差分，生成表示光盤(pán)1的光道中心與光束光點(diǎn)間的位置偏差的寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE。跟蹤控制部23，根據(jù)該寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE，通過(guò)跟蹤驅(qū)動(dòng)部22使致動(dòng)器2動(dòng)作進(jìn)行反饋控制，以便使光束跟蹤光盤(pán)1上的光道。
在該聚焦控制和跟蹤控制進(jìn)行動(dòng)作的狀態(tài)下，接著，使從再生信號(hào)檢測(cè)器4經(jīng)加法放大器46得到的再生信號(hào)RF在雖然不是最大但接近最大的振幅上保持恒定振幅。因此，可以穩(wěn)定地進(jìn)行良好的再生。
以下，說(shuō)明聚焦位置與再生特性的關(guān)系。圖11是表示與聚焦位置的變化對(duì)應(yīng)的RF脈沖信號(hào)PRF的位誤碼率BER的一般曲線圖。橫軸表示聚焦位置，縱軸表示位誤碼率BER?，F(xiàn)假定聚焦最佳位置為0.μm。在該聚焦最佳位置上的位誤碼率BER為1e-4左右。隨著聚焦位置從聚焦最佳位置偏移，位誤碼率BER按2次函數(shù)增加。在聚焦位置從最佳位置偏移±0.6μm的情況下，位誤碼率BER為1e-3左右。
聚焦位置粗探測(cè)部50，改變聚焦誤差檢測(cè)部36中的聚焦平衡或聚焦偏移而有意圖地改變光束在光盤(pán)1上的會(huì)聚狀態(tài)。就是說(shuō)，聚焦位置粗探測(cè)部50，依次地反復(fù)改變聚焦平衡或聚焦偏移，直到使由誤碼率計(jì)測(cè)部33計(jì)測(cè)到的RF脈沖信號(hào)PRF的誤碼率變?yōu)橐?guī)定值以下、例如位誤碼率為5e-4以下為止，從而探測(cè)最佳的聚焦位置。從圖11還可以看出，如將位誤碼率BER在5e-4以下的再生狀態(tài)換算為聚焦位置的偏差，則相當(dāng)于對(duì)聚焦最佳位置的±0.3μm的范圍。就是說(shuō)，聚焦位置粗探測(cè)部50，根據(jù)位誤碼率修正輸入到聚焦誤差檢測(cè)部36的2個(gè)控制信號(hào)FBAL1、FOFF1，以使來(lái)自最佳聚焦位置的偏差在規(guī)定值以下。
下面，對(duì)聚焦位置的粗探測(cè)進(jìn)行更為詳細(xì)的說(shuō)明。圖12是表示聚焦位置粗探測(cè)部50的詳細(xì)動(dòng)作的流程圖。
如圖9所示，聚焦位置粗探測(cè)部50是用內(nèi)裝控制程序的DSP51等以軟件方式實(shí)現(xiàn)的。此外，該聚焦位置粗探測(cè)，在由驅(qū)動(dòng)控制器14向跟蹤控制部23發(fā)出指示從而使光束跟蹤特定凸紋光道或溝紋光道的跟蹤控制已進(jìn)行動(dòng)作的狀態(tài)下進(jìn)行。就是說(shuō)，在使光束跟蹤光盤(pán)1上的特定凸紋光道或特定溝紋光道并每當(dāng)光盤(pán)旋轉(zhuǎn)一周時(shí)進(jìn)行向光盤(pán)1的內(nèi)周側(cè)光束跳回的平穩(wěn)跳轉(zhuǎn)的狀態(tài)下，執(zhí)行以下程序。
現(xiàn)假定由于發(fā)生了一定值以上的再生誤差而必須進(jìn)行聚焦位置的粗探測(cè)。就是說(shuō)，聚焦位置粗探測(cè)部50的DSP51，將預(yù)先存儲(chǔ)在第-存儲(chǔ)部52和第二存儲(chǔ)部53內(nèi)的聚焦平衡值及聚焦偏移值作為控制信號(hào)FBAL1、FOFF1向聚焦誤差檢測(cè)部36輸出，但在這種狀態(tài)下，假定由誤碼率計(jì)測(cè)部33計(jì)測(cè)的位誤碼率BER超過(guò)一定值(5e-4)。
首先，聚焦位置粗探測(cè)部50，根據(jù)來(lái)自凸紋溝紋檢測(cè)部34的L/G切換信號(hào)LGS的邏輯電平，判斷光束位于凸紋光道還是位于溝紋光道(步驟S10)。具體地說(shuō)，觀察L/G切換信號(hào)LGS，并在一定時(shí)間以后，根據(jù)是“低”電平還是“高”電平進(jìn)行所述判斷。
當(dāng)判斷的結(jié)果是位于溝紋光道時(shí)，讀出存儲(chǔ)在第一存儲(chǔ)部52內(nèi)的聚焦平衡值(當(dāng)前的FBAL值)，并設(shè)該值為A(A＝當(dāng)前FBAL值)(步驟S11)。然后，計(jì)算新的聚焦平衡值(更新FBAL值)(步驟S12)。具體地說(shuō)，設(shè)FBAL值的變更量為B(換算為聚焦位置，例如相當(dāng)于0.6μm的聚焦平衡值)并設(shè)更新FBAL值為X，進(jìn)行式2所示的運(yùn)算。
X＝A+B …(式2)將所求得的更新FBAL值(X)作為平衡控制信號(hào)FBAL1通過(guò)切換器37輸出到聚焦誤差檢測(cè)部36(步驟S13)。這意味著變更了聚焦誤差檢測(cè)部36中的聚焦平衡，使聚焦位置相對(duì)于變更前的聚焦位置只改變+0.6μm。
在按所述方式變更了聚焦平衡的狀態(tài)下，接收來(lái)自誤碼率計(jì)測(cè)部33的位誤碼率BER(步驟S14)，并判斷位誤碼率BER是否在5e-4以下(步驟S15)。如判斷結(jié)果為位誤碼率BER在5e-4以下，則如在前面用圖11說(shuō)明過(guò)的那樣，可判定聚焦平衡變更后的聚焦位置與聚焦最佳位置的偏差在0.3μm以?xún)?nèi)，并將該更新FBAL值(X)存儲(chǔ)在第一存儲(chǔ)部52內(nèi)，然后使聚焦位置探測(cè)正常結(jié)束(步驟S28)。
另一方面，當(dāng)位誤碼率BER大于5e-4時(shí)，判斷已對(duì)FBAL值進(jìn)行了幾次變更處理(步驟S16)。當(dāng)判斷結(jié)果表明該次數(shù)為第一次時(shí)，進(jìn)行第二次的更新FBAL值的計(jì)算(步驟S17)。具體地說(shuō)，進(jìn)行式3所示的運(yùn)算。
X＝A-B …(式3)然后，將所求得的FBAL值(X)作為平衡控制信號(hào)FBAL1通過(guò)切換器37輸出到聚焦誤差檢測(cè)部36。這意味著變更了聚焦誤差檢測(cè)部36中的聚焦平衡，使聚焦位置相對(duì)于變更前的聚焦位置只改變-0.6μm。
接著，在按所述方式變更了聚焦平衡的狀態(tài)下，反復(fù)進(jìn)行所述步驟S14、S15。就是說(shuō)，接收來(lái)自誤碼率計(jì)測(cè)部33的位誤碼率BER(步驟S14)，并判斷位誤碼率BBR是否在5e-4以下(步驟S15)。如判斷結(jié)果為位誤碼率BER在5e-4以下，則將該更新FBAL值(X)存儲(chǔ)在第一存儲(chǔ)部52內(nèi)，然后使聚焦位置探測(cè)正常結(jié)束(步驟S28)。
另一方面，當(dāng)位誤碼率BER大于5e-4時(shí)，判斷已對(duì)FBAL值進(jìn)行了幾次變更處理(步驟S16)。如判斷結(jié)果表明該次數(shù)為第二次時(shí)，則視為聚焦位置探測(cè)不能正常完成而結(jié)束聚焦位置探測(cè)(步驟S29)。
在所述步驟S10的判斷中，當(dāng)聚焦位置粗探測(cè)部50判定光束位于凸紋光道時(shí)，讀出存儲(chǔ)在第二存儲(chǔ)部53內(nèi)的聚焦諞移值(當(dāng)前的FOFF值)，并設(shè)該值為C(C＝當(dāng)前FOFF值)(步驟S21)。然后，計(jì)算新的聚焦諞移值(更新FOFF值)(步驟S22)。具體地說(shuō)，設(shè)FOFF值的變更量為D(換算為聚焦位置，例如相當(dāng)于0.6μm的聚焦諞移值)并設(shè)更新FOFF值為Y，進(jìn)行式4所示的運(yùn)算。
Y＝C+D …(式4)然后，將所求得的FOFF值(Y)作為偏移控制信號(hào)FOFF1通過(guò)切換器38輸出到聚焦誤差檢測(cè)部36(步驟S23)。這意味變更了聚焦誤差檢測(cè)部36中的聚焦諞移，使聚焦位置相對(duì)于變更前的聚焦位置只改變+0.6μm。
在按所述方式變更了聚焦諞移的狀態(tài)下，接收來(lái)自誤碼率計(jì)測(cè)部33的位誤碼率BER(步驟S24)，并判斷位誤碼率BER是否在5e-4以下(步驟S25)。如判斷結(jié)果為位誤碼率BER在5e-4以下，則判斷聚焦諞移變更后的聚焦位置與聚焦最佳位置的偏差在0.3μm以?xún)?nèi)，并將該FOFF值(Y)存儲(chǔ)在第二存儲(chǔ)部53內(nèi)，然后使聚焦位置探測(cè)正常結(jié)束(步驟S28)。
另一方面，當(dāng)位誤碼率BER大于5e-4時(shí)，判斷已對(duì)FOFF值進(jìn)行了幾次變更處理(步驟S26)。當(dāng)判斷結(jié)果表明該次數(shù)為第一次時(shí)，進(jìn)行第二次的更新FOFF值的計(jì)算(步驟S27)。具體地說(shuō)，進(jìn)行式5所示的運(yùn)算。
Y＝C-D …(式5)然后，將所求得的FOFF值(Y)作為偏移控制信號(hào)FOFF1通過(guò)切換器38輸出到聚焦誤差檢測(cè)部36。這意味著變更了聚焦誤差檢測(cè)部36中的聚焦偏移，使聚焦位置相對(duì)于變更前的聚焦位置只改變-0.6μm。
接著，在按所述方式變更了聚焦偏移的狀態(tài)下，反復(fù)進(jìn)行所述步驟S24、S25。就是說(shuō)，接收來(lái)自誤碼率計(jì)測(cè)部33的位誤碼率BER(步驟S24)，并判斷位誤碼率BER是否在5e-4以下(步驟S25)。如判斷結(jié)果為位誤碼率BER在5e-4以下，則將該FOFF值(Y)存儲(chǔ)在第二存儲(chǔ)部53內(nèi)，然后使聚焦位置探測(cè)正常結(jié)束(步驟S28)。
另一方面，當(dāng)位誤碼率BER大于5e-4時(shí)，判斷已對(duì)FOFF值進(jìn)行了幾次變更處理(步驟S26)。如判斷結(jié)果表明該次數(shù)為第二次時(shí)，則視為聚焦位置探測(cè)不能正常完成而結(jié)束聚焦位置探測(cè)(步驟S29)。
另外，在所述步驟S15和步驟S25中，當(dāng)探測(cè)到新的聚焦平衡值和(或)聚焦偏移值時(shí)，聚焦位置粗探測(cè)部50，在執(zhí)行再一次的探測(cè)之前，將該新的聚焦平衡值和(或)聚焦偏移值作為控制信號(hào)FBAL1、FOFF1繼續(xù)輸出到聚焦誤差檢測(cè)部36。就是說(shuō)，當(dāng)光束光點(diǎn)位于溝紋光道時(shí)，聚焦位置粗探測(cè)部50，用存儲(chǔ)在第一存錯(cuò)部52內(nèi)的最新聚焦平衡值輸出平衡控制信號(hào)FBAL1(偏移控制信號(hào)FOFF1以零輸出)，另一方面，當(dāng)光束光點(diǎn)位于凸紋光道時(shí)，用存儲(chǔ)在第一存儲(chǔ)部52內(nèi)的最新聚焦平衡值輸出平衡控制信號(hào)FBAL1。同時(shí)用存儲(chǔ)在第二存儲(chǔ)部53中的最新聚焦偏移值輸出偏移控制信號(hào)FOFF1。因此，聚焦位置粗探測(cè)部50進(jìn)行的聚焦位置探測(cè)，反映為在其后的記錄和再生中的位誤碼率BER的減小。
將本實(shí)施例的聚焦位置變更量設(shè)定為0.6μm的理由如下。就是說(shuō)，光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置的初始聚焦位置，在組裝和調(diào)整時(shí)，調(diào)整為使地址或記錄在光盤(pán)上的數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)的信號(hào)能夠良好地再生。但是，由于聚焦誤差信號(hào)表示的聚焦位置隨著光學(xué)頭的溫度特性的變化或老化等而發(fā)生變化等原因，有時(shí)將使再生誤差增加或使記錄特性惡化。關(guān)于光學(xué)頭的溫度特性，按照光學(xué)頭的結(jié)構(gòu)，顯示出0.0114μm/℃的變化特性。即，光學(xué)頭周?chē)鷾囟葟钠饎?dòng)時(shí)的25℃上升到60℃，相當(dāng)于聚焦位置發(fā)生0.4μm的變化。除該光學(xué)頭的溫度特性外，如進(jìn)一步還存在著光學(xué)頭特性的老化等，則地址或記錄在光盤(pán)上的數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)的信號(hào)，在某些情況下不能再生。
特別是，在地址區(qū)中，如聚焦位置從地址脈沖的位誤碼率BER最小的聚焦位置偏離±0.6μm以上，則地址讀出將會(huì)惡化。因此，例如，當(dāng)聚焦位置從位誤碼率BER最小的聚焦位置偏離+0.6μm～+1.0μm的范圍時(shí)，如強(qiáng)制性地使聚焦位置移動(dòng)-0.6μm，則由于聚焦位置進(jìn)入0μm～+0.4μm的范圍，所以能夠正常地讀出地址。另外，例如，當(dāng)聚焦位置從位誤碼率BER最小的聚焦位置偏離-0.6μm～-1.0μm的范圍時(shí)，如強(qiáng)制性地使聚焦位置移動(dòng)+0.6μm，則由于聚焦位置進(jìn)入0μm～-0.4μm的范圍，所以能夠正常地讀出地址。
根據(jù)以上的理由，在本實(shí)施例中，將聚焦位置變更量設(shè)定為0.6μm，并對(duì)位誤碼率BER在5e-4以下的聚焦位置進(jìn)行探測(cè)。
如上所述，聚焦位置粗探測(cè)部50，僅以溝紋光道為對(duì)象調(diào)整聚焦誤差檢測(cè)部36中的聚焦平衡，使位誤碼率BER在一定值以下，另一方面，僅以凸紋光道為對(duì)象調(diào)整聚焦誤差檢測(cè)部36中的聚焦偏移，使位誤碼率BER在一定值以下，從而決定出聚焦誤差的零電平、即聚焦伺服的控制目標(biāo)。這樣，在本實(shí)施例中的聚焦位置粗探測(cè)，由于采用溝紋光道及凸紋光道兩種光道探測(cè)聚焦位置，所以，與僅用其中一種光道進(jìn)行探測(cè)的現(xiàn)有方式不同，可以避免任何一種光道的再生特性嚴(yán)重惡化的異常狀況。就是說(shuō)，可以實(shí)現(xiàn)在兩種光道上都能獲得良好再生特性的聚焦控制、即從總體上使再生誤差降低的聚焦控制。
另外，在本實(shí)施例中，聚焦位置粗探測(cè)部50，僅以溝紋光道為對(duì)象調(diào)整聚焦平衡，接著僅以凸紋光道為對(duì)象調(diào)整聚焦偏移，從而探測(cè)到對(duì)兩種光道都是最佳的聚焦位置，但本發(fā)明并不限定于所述光道的種類(lèi)和探測(cè)順序。
圖13示出本實(shí)施例的聚焦位置粗探測(cè)的變形例。在本圖中，示出總計(jì)8個(gè)不同的探測(cè)方法NO.1～8，并示出在各探測(cè)方法中采用的控制參數(shù)(從聚焦位置粗探測(cè)部50輸出到聚焦誤差檢測(cè)部36的控制信號(hào)FBAL1、FOFF1)。在圖中，圍有方框的控制參數(shù)，意味著通過(guò)根據(jù)圖12所示的程序進(jìn)行的探測(cè)求得的對(duì)象，虛線箭頭，意味著將按如上方式求得的控制參數(shù)直接用作另一方的控制參數(shù)。
這8個(gè)方法，在考慮到溝紋光道及凸紋光道兩個(gè)方面并分別進(jìn)行聚焦位置探測(cè)、及其探測(cè)程序與圖12所示流程圖基本相同(判斷位誤碼率是否在一定值以下)這兩點(diǎn)上，都是共同的。
在圖13中，探測(cè)例NO.1，是本實(shí)施例的情況(圖12所示的程序)。就是說(shuō)，聚焦位置粗探測(cè)部50，當(dāng)光束光點(diǎn)位于溝紋光道時(shí)，僅輸出與存儲(chǔ)在第一存儲(chǔ)部52內(nèi)的最新FBAL值對(duì)應(yīng)的平衡控制信號(hào)FBAL1，當(dāng)光束光點(diǎn)位于凸紋光道時(shí)，將該平衡控制信號(hào)FBAL1與對(duì)應(yīng)于存儲(chǔ)在第二存儲(chǔ)部53內(nèi)的最新FOFF值的偏移控制信號(hào)FOFF1一起輸出，在該情況下以溝紋光道為對(duì)象調(diào)整了FBAL后，將該FBAL值保持原狀態(tài)，接著以凸紋為對(duì)象調(diào)整FOFF值。
探測(cè)例No.2，相當(dāng)于將本實(shí)施例(探測(cè)例No1)中的光道種類(lèi)交換后的情況。
探測(cè)例No.3，是對(duì)溝紋光道及凸紋光道分別采用不同的FBAL值(第一和第二FBAL值)的方法，是對(duì)聚焦偏移不進(jìn)行調(diào)整的方法。就是說(shuō)，聚焦位置粗探測(cè)部50，當(dāng)光束光點(diǎn)位于溝紋光道時(shí)，僅輸出與存儲(chǔ)在第一存儲(chǔ)部52內(nèi)的最新第一FBAL值對(duì)應(yīng)的平衡控制信號(hào)FBAL1，當(dāng)光束光點(diǎn)位于凸紋光道時(shí)，僅輸出與存儲(chǔ)在第一存儲(chǔ)部52內(nèi)的最新第二FBAL值對(duì)應(yīng)的平衡控制信號(hào)FBAL1，在該情況下以溝紋光道為對(duì)象調(diào)整了第一FBAL值后，接著以凸紋為對(duì)象調(diào)整第二FBAL值。
這樣，在結(jié)構(gòu)上使溝紋光道及凸紋光道都通過(guò)聚焦平衡變更聚焦控制目標(biāo)位置，所以無(wú)需對(duì)聚焦控制部的目標(biāo)值施加偏移就可以設(shè)定聚焦位置。因此，可以避免發(fā)生因偏移而導(dǎo)致的聚焦控制系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍變窄的異常狀況。例如，在記錄再生動(dòng)作中，在對(duì)裝置施加干擾振動(dòng)的情況下，將會(huì)發(fā)生根據(jù)偏移調(diào)整聚焦位置時(shí)的異常狀況(聚焦控制系統(tǒng)易于飽和、對(duì)聚焦控制目標(biāo)位置跟蹤性能不良等)，但按照本方法，則可以避免這種異常，從而使裝置的播放能力提高。
探測(cè)例No.4，是對(duì)溝紋光道及凸紋光道分別采用不同的FOFF值(第一和第二FOFF值)的方法，不進(jìn)行聚焦平衡的調(diào)整就是說(shuō)，聚焦位置粗探測(cè)部50，當(dāng)光束光點(diǎn)位于溝紋光道時(shí)，僅輸出與存儲(chǔ)在第二存儲(chǔ)部53內(nèi)的最新的第一FOFF值對(duì)應(yīng)的偏移控制信號(hào)FOFF1，當(dāng)光束光點(diǎn)位于凸紋光道時(shí)，僅輸出與存儲(chǔ)在第二存儲(chǔ)部53內(nèi)的最新第二FOFF值對(duì)應(yīng)的偏移控制信號(hào)FOFF1，在該情況下以溝紋光道為對(duì)象調(diào)整了第一FOFF后，接著以凸紋為對(duì)象調(diào)整第二FOFF值。
一般說(shuō)來(lái)，聚焦偏移的調(diào)整電路，能以比聚焦平衡調(diào)整電路簡(jiǎn)單的結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)，另外，變更聚焦平衡時(shí)引起的聚焦伺服響應(yīng)，其響應(yīng)特性比變更聚焦偏移時(shí)差，所以，按照本探測(cè)例，能以簡(jiǎn)單的結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)高速的聚焦伺服控制電路。
探測(cè)例No.5，其基本控制方式與所述探測(cè)例No.1相同。就是說(shuō)，聚焦位置粗探測(cè)部50，當(dāng)光束光點(diǎn)位于溝紋光道時(shí)，僅輸出與存儲(chǔ)在第一存儲(chǔ)部52內(nèi)的最新FBAL值對(duì)應(yīng)的平衡控制信號(hào)FBAL1，當(dāng)光束光點(diǎn)位于凸紋光道時(shí)，將該平衡控制信號(hào)FBAL1與對(duì)應(yīng)于存儲(chǔ)在第二存儲(chǔ)部53內(nèi)的最新FOFF值的偏移控制信號(hào)FOFF1一起輸出。
但是，在本探測(cè)例No.5中，首先，聚焦位置粗探測(cè)部50，通過(guò)執(zhí)行所述探測(cè)例No.1的程序等，求出與對(duì)應(yīng)于溝紋光道的最佳聚焦位置和對(duì)應(yīng)于凸紋光道的最佳聚焦位置之差相當(dāng)?shù)腇OFF值、即求出可得到對(duì)溝紋光道及凸紋光道雙方大致相同的(也可以不是最佳的)聚焦?fàn)顟B(tài)的FOFF值，并預(yù)先將其存儲(chǔ)在第二存儲(chǔ)部53內(nèi)。然后，聚焦位置粗探測(cè)部50，以溝紋光道為對(duì)象調(diào)整FBAL值。
探測(cè)例No.6，相當(dāng)于將所述探測(cè)例No.5中的光道種類(lèi)交換后的情況。按照該探測(cè)例No.5和6，盡管僅以一種光道為對(duì)象進(jìn)行聚焦平衡調(diào)整，但對(duì)另一種光道也還是能自動(dòng)地得到最佳聚焦位置。就是說(shuō)，只要對(duì)溝紋光道及凸紋光道中的任何一種光道進(jìn)行聚焦位置探測(cè)，也能使另一種光道上的聚焦位置最佳化，所以能縮短聚焦位置調(diào)整時(shí)間。
探測(cè)例No.7，是對(duì)溝紋光道及凸紋光道分別采用不同F(xiàn)BAL值(第一和第二FBAL值)及公用FOFF值的方法，不進(jìn)行聚焦平衡調(diào)整。就是說(shuō)，聚焦位置粗探測(cè)部50，當(dāng)光束光點(diǎn)位于溝紋光道時(shí)，輸出分別與存儲(chǔ)在第一和第二存儲(chǔ)部52、53內(nèi)的最新的第一FBAL值和FOFF值對(duì)應(yīng)的控制信號(hào)FBAL1、FOFF1，當(dāng)光束光點(diǎn)位于凸紋光道時(shí)，將該偏移控制信號(hào)FOFF1與對(duì)應(yīng)于存儲(chǔ)在第一存儲(chǔ)部52內(nèi)的最新的第2FBAL值的平衡控制信號(hào)FBAL1一起輸出。在該情況下，首先，聚焦位置粗探測(cè)部50，通過(guò)執(zhí)行所述探測(cè)例No.3的程序等，求出可得到對(duì)溝紋光道及凸紋光道雙方大致相同的(也可以不是最佳的)聚焦?fàn)顟B(tài)的第一FBAL值和第二FBAL值，并預(yù)先將其存儲(chǔ)在第一存儲(chǔ)部52內(nèi)。然后，聚焦位置粗探測(cè)部50，只以溝紋光道為對(duì)象調(diào)整FOFF值。
探測(cè)例No.8，相當(dāng)于將所述探測(cè)例No.7中的光道種類(lèi)交換后的情況。按照該探測(cè)例No.7和8，也是只要對(duì)溝紋光道及凸紋光道中的任何一種光道進(jìn)行聚焦位置探測(cè)，也能使另一種光道上的聚焦位置最佳化，所以能縮短聚焦位置調(diào)整時(shí)間。
另外，在本實(shí)施例中，由于再生時(shí)和記錄時(shí)光學(xué)頭的輸出功率不同，所以，即使再生時(shí)的聚焦位置已最佳化，但記錄時(shí)的聚焦位置有時(shí)會(huì)偏離聚焦最佳位置。在這種情況下，可以相對(duì)于溝紋光道及凸紋光道都進(jìn)行再生時(shí)的聚焦位置，以同一聚焦偏移對(duì)記錄時(shí)的聚焦位置進(jìn)行校正，從而能以簡(jiǎn)單的方式對(duì)再生時(shí)和記錄時(shí)的聚焦位置偏差進(jìn)行校正處理。
另外，在本實(shí)施例中，由誤碼率計(jì)測(cè)部33檢測(cè)奇偶校驗(yàn)差錯(cuò)，但除此以外，也可以采用例如用被稱(chēng)作CRCC(循環(huán)冗余校驗(yàn)碼)的糾錯(cuò)碼檢測(cè)再生差錯(cuò)的方法。為求得CRCC，可將在光盤(pán)1上記錄的數(shù)據(jù)分割為數(shù)據(jù)塊，并以多項(xiàng)式表示數(shù)據(jù)位，將該式除以稱(chēng)作生成多項(xiàng)式的預(yù)定值。將該除法運(yùn)算后的結(jié)果作為檢查位附加在數(shù)據(jù)位的末尾并進(jìn)行記錄。為了在再生時(shí)進(jìn)行差錯(cuò)檢測(cè)，將包含數(shù)據(jù)位和檢查位的數(shù)據(jù)用生成多項(xiàng)式再除一次，如這時(shí)沒(méi)有代碼錯(cuò)誤，則能整除，且除法運(yùn)算的結(jié)果變?yōu)榱?，如存在代碼錯(cuò)誤，則不能整除，且除法運(yùn)算的結(jié)果不是零，因而可以判定有無(wú)代碼錯(cuò)誤。因此，可以用CRCC的差錯(cuò)檢測(cè)器代替奇偶校驗(yàn)差錯(cuò)檢測(cè)器3302構(gòu)成誤碼率計(jì)測(cè)部33。
另外，在本實(shí)施例中，如圖12所示，聚焦位置粗探測(cè)部50，只在相對(duì)于預(yù)先存儲(chǔ)在內(nèi)部的調(diào)整值偏移+0.6μm和-0.6μm的2個(gè)部位上嘗試著進(jìn)行聚焦位置探測(cè)，但在進(jìn)行聚焦位置探測(cè)時(shí)，也可以使聚焦位置的變更量比0.6μm更加細(xì)微(例如，變更量＝0.1μm)。因此，能以更高的精度探測(cè)位誤碼率BER最小的聚焦位置。
此外，本實(shí)施例的聚焦位置粗探測(cè)部50，當(dāng)根據(jù)RF脈沖信號(hào)PRF進(jìn)行聚焦位置探測(cè)時(shí)，探測(cè)RF脈沖信號(hào)PRF的誤碼率在規(guī)定值以下的聚焦位置，當(dāng)根據(jù)地址脈沖信號(hào)PADR進(jìn)行聚焦位置探測(cè)時(shí)，探測(cè)地址脈沖信號(hào)PADR的誤碼率在規(guī)定值以下的聚焦位置，但也可以相應(yīng)于地址區(qū)和數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)的各個(gè)位置探測(cè)再生信號(hào)最大的聚焦位置、或再生信號(hào)抖動(dòng)最小的聚焦位置、或再生信號(hào)振幅最大的聚焦位置與再生信號(hào)抖動(dòng)最小的聚焦位置的中間聚焦位置、或再生信號(hào)的誤碼率最小的聚焦位置。
例如，通過(guò)只將地址脈沖信號(hào)PADR直接輸入誤碼率計(jì)測(cè)部33的奇偶校驗(yàn)差錯(cuò)檢測(cè)器3302，可以使從誤碼率計(jì)測(cè)部33輸出的位誤碼率BER表示僅在光盤(pán)1的地址區(qū)發(fā)生的位誤碼率。因此，可以根據(jù)僅在地址區(qū)發(fā)生的誤碼率進(jìn)行聚焦位置探測(cè)，因而可以實(shí)現(xiàn)對(duì)例如象格式化后可重寫(xiě)的光盤(pán)那樣的數(shù)據(jù)區(qū)雖未記錄但可以在地址區(qū)記錄信息的光盤(pán)也可以進(jìn)行聚焦位置探測(cè)的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置。
下面，對(duì)本光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置100在記錄和再生時(shí)進(jìn)行聚焦位置精密探測(cè)的情況下的相關(guān)構(gòu)成要素進(jìn)行更詳細(xì)的說(shuō)明。另外，為便于說(shuō)明，先說(shuō)明讀出門(mén)檢測(cè)部32和振擺分量除去部35不動(dòng)作的情況。
為了進(jìn)行聚焦位置精密探測(cè)，首先，驅(qū)動(dòng)控制器14，為將聚焦位置探測(cè)用測(cè)試信號(hào)記錄于光盤(pán)1上的驅(qū)動(dòng)測(cè)試區(qū)而將控制其記錄位置、記錄的開(kāi)始或停止的測(cè)試記錄控制信號(hào)TWCNT輸出到調(diào)制部42。接著，在該記錄結(jié)束后，將用于控制聚焦位置精密探測(cè)的開(kāi)始或停止的聚焦位置精密探測(cè)控制信號(hào)FPSON輸出到聚焦位置精密探測(cè)部60。
另外，驅(qū)動(dòng)控制器14，接收來(lái)自地址信號(hào)檢測(cè)部31的雙值化后的地址脈沖信號(hào)PADR，因而可以識(shí)別從光學(xué)頭7會(huì)聚照射在光盤(pán)1的光道上的光束當(dāng)前位置，還可以根據(jù)該地址脈沖信號(hào)PADR指示跟蹤控制部23將光束移動(dòng)到光盤(pán)1上的任意光道。
在開(kāi)始進(jìn)行聚焦位置精密探測(cè)之前預(yù)先將聚焦位置探測(cè)用測(cè)試信號(hào)記錄在光盤(pán)1上的原因如下。就是說(shuō)，本實(shí)施例的光盤(pán)1是可記錄光盤(pán)，當(dāng)未記錄時(shí)，在預(yù)先記錄著地址信號(hào)的地址區(qū)等預(yù)格式化區(qū)域以外的數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)沒(méi)有記錄任何數(shù)據(jù)。在將這樣的光盤(pán)1安放在本光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置100內(nèi)時(shí)，根據(jù)數(shù)據(jù)區(qū)的再生信號(hào)RF進(jìn)行聚焦位置精密探測(cè)的聚焦位置精密探測(cè)部60就不能開(kāi)始聚焦位置探測(cè)。因此，在進(jìn)行聚焦位置探測(cè)之前，應(yīng)預(yù)先將聚焦位置探測(cè)用測(cè)試信號(hào)記錄于光盤(pán)1上的驅(qū)動(dòng)測(cè)試區(qū)。
也就是說(shuō)，驅(qū)動(dòng)控制器14，在進(jìn)行聚焦位置探測(cè)之前，先判斷安放在本光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置100內(nèi)光盤(pán)1是否是未記錄的，并當(dāng)判定為未記錄時(shí)，將聚焦位置探測(cè)用測(cè)試信號(hào)預(yù)先記錄于驅(qū)動(dòng)測(cè)試區(qū)，為了在以后再次利用，存儲(chǔ)用于特定該驅(qū)動(dòng)測(cè)試區(qū)(的光道)的信息。而當(dāng)判定所安放的光盤(pán)1已完成記錄時(shí)，使光學(xué)頭7對(duì)該記錄部位(光道)進(jìn)行移動(dòng)搜索，從而開(kāi)始聚焦位置探測(cè)。
圖14是用于說(shuō)明光盤(pán)1的驅(qū)動(dòng)測(cè)試區(qū)的圖，示出SS-L/GFMT光盤(pán)1的信息區(qū)配置格式。指示光盤(pán)1的物理地址的扇區(qū)編號(hào)，按光盤(pán)1的位置進(jìn)行分配，光盤(pán)內(nèi)周的導(dǎo)入?yún)^(qū)(扇區(qū)編號(hào)27AB0hex～30FFFhex)，由蝕刻數(shù)據(jù)區(qū)(扇區(qū)編號(hào)27AB0hex～2FFFhex)、鏡像區(qū)(在蝕刻數(shù)據(jù)區(qū)與可重寫(xiě)數(shù)據(jù)區(qū)中間的未分配地址區(qū))、及可重寫(xiě)數(shù)據(jù)區(qū)(扇區(qū)編號(hào)30000hex～30FFFhex)構(gòu)成，驅(qū)動(dòng)測(cè)試區(qū)存在于可重寫(xiě)數(shù)據(jù)區(qū)中。另外，光盤(pán)外周的導(dǎo)出區(qū)(扇區(qū)編號(hào)16B480hex～17966hex)，是可重寫(xiě)數(shù)據(jù)區(qū)，其中有驅(qū)動(dòng)測(cè)試區(qū)。在光盤(pán)1的導(dǎo)入?yún)^(qū)及導(dǎo)出區(qū)中，作為測(cè)試區(qū)，有光盤(pán)測(cè)試區(qū)和驅(qū)動(dòng)測(cè)試區(qū)，在聚焦位置探測(cè)中使用的是驅(qū)動(dòng)測(cè)試區(qū)(以下，將驅(qū)動(dòng)測(cè)試區(qū)簡(jiǎn)稱(chēng)為「測(cè)試區(qū)」)。這樣，在SS-L/GFMT型的光盤(pán)1上，在光盤(pán)內(nèi)周的導(dǎo)入?yún)^(qū)及光盤(pán)外周的導(dǎo)出區(qū)中分別設(shè)有測(cè)試區(qū)。
另外，驅(qū)動(dòng)控制器14，在進(jìn)行聚焦位置精密探測(cè)動(dòng)作之前，特別是每當(dāng)起動(dòng)本光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置100時(shí)，指示調(diào)制部42將聚焦位置探測(cè)用測(cè)試信號(hào)記錄于測(cè)試區(qū)。此外，如果總是只在同一地址的光道上反復(fù)進(jìn)行記錄，將會(huì)使該光道的記錄再生特性顯著惡化，所以當(dāng)每次在測(cè)試區(qū)內(nèi)進(jìn)行探測(cè)練習(xí)時(shí)應(yīng)隨機(jī)地變更進(jìn)行記錄的光道。在聚焦位置精密探測(cè)中所需要的來(lái)自光盤(pán)1的再生信號(hào)RF，必須旋轉(zhuǎn)1周以上分別對(duì)光盤(pán)1的凸紋光道及溝紋光道連續(xù)進(jìn)行記錄，所以，驅(qū)動(dòng)控制器14指示調(diào)制部42，從光盤(pán)內(nèi)周的測(cè)試區(qū)及光盤(pán)外周的測(cè)試區(qū)中隨機(jī)確定一條溝紋光道，并從所確定的溝紋光道的起始地址起連續(xù)記錄1條光道(＝旋轉(zhuǎn)1周)，并以同樣方式對(duì)凸紋光道連續(xù)記錄1條光道(＝旋轉(zhuǎn)1周)。
由驅(qū)動(dòng)控制器14確定測(cè)試區(qū)的具體步驟如下?，F(xiàn)假定導(dǎo)入?yún)^(qū)的測(cè)試區(qū)起始光道地址為T(mén)Nih、導(dǎo)入?yún)^(qū)的測(cè)試區(qū)最末尾的光道地址為T(mén)Nie、導(dǎo)出區(qū)的測(cè)試區(qū)起始光道地址為T(mén)Noh、導(dǎo)出區(qū)的測(cè)試區(qū)最末尾的光道地址為T(mén)Noe，并對(duì)從溝紋光道的開(kāi)頭到接著的凸紋光道的最末尾的2條光道(＝旋轉(zhuǎn)2周)進(jìn)行對(duì)測(cè)試區(qū)的記錄。即，對(duì)稱(chēng)記錄光道為從TNih到TNie-1及從TNoh到TNoe-1的光道。如將其用實(shí)際的扇區(qū)編號(hào)表示，則為T(mén)Nih＝30600h、TNie-1＝30CDDh、TNoh＝16BE80h、TNoe-1＝16C52Fh。關(guān)于在扇區(qū)編號(hào)30600h～30CDDh及16BE80h～16C52Fh中包含的零扇區(qū)的扇區(qū)編號(hào)，可隨機(jī)確定。
以下，參照?qǐng)D1和圖3說(shuō)明本光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置100進(jìn)行聚焦位置精密探測(cè)時(shí)的總體動(dòng)作。
在驅(qū)動(dòng)控制器14的控制下，使光盤(pán)1按規(guī)定的轉(zhuǎn)速旋轉(zhuǎn)，然后，使由半導(dǎo)體激光器8向光盤(pán)1射出的光束照射在光盤(pán)1上。聚焦誤差檢測(cè)部36，根據(jù)從光盤(pán)1反射的光束，從2個(gè)聚焦信號(hào)VFS1、VFS2生成并輸出聚焦誤差信號(hào)FES。這時(shí)，聚焦誤差檢測(cè)部36，根據(jù)來(lái)自聚焦位置精密探測(cè)部60的控制信號(hào)FBAL2、FOFF2，變更聚焦平衡及聚焦偏移，從而改變聚焦誤差的零電平、即聚焦伺服的控制目標(biāo)位置。
聚焦控制部26，根據(jù)來(lái)自聚焦誤差檢測(cè)部36的聚焦誤差信號(hào)FES，通過(guò)加法器24及聚焦驅(qū)動(dòng)部21使致動(dòng)器2動(dòng)作，從而進(jìn)行使與來(lái)自聚焦誤差檢測(cè)部36的聚焦誤差信號(hào)FES對(duì)應(yīng)的聚焦位置與聚焦控制的目標(biāo)位置之差變?yōu)榱愕木劢顾欧?。加法?4，根據(jù)來(lái)自驅(qū)動(dòng)控制器14的指示，僅在實(shí)施聚焦位置的精密探測(cè)時(shí)，將來(lái)自擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生部25的擾動(dòng)信號(hào)和來(lái)自聚焦控制部26的信號(hào)相加，并將該相加信號(hào)輸出到聚焦驅(qū)動(dòng)部21，但如不實(shí)施聚焦位置精密探測(cè)，則將來(lái)自聚焦控制部26的信號(hào)直接輸出到聚焦驅(qū)動(dòng)部21。
在由聚焦控制部26進(jìn)行聚焦伺服動(dòng)作的狀態(tài)下，由再生信號(hào)檢測(cè)器4和差分放大器45求得表示光盤(pán)1上的光道中心與光束的位置偏差的寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE。跟蹤控制部23，根據(jù)寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE進(jìn)行反饋控制，使光束跟蹤光盤(pán)1上的光道。在該聚焦控制和跟蹤控制進(jìn)行動(dòng)作的狀態(tài)下，可從再生信號(hào)檢測(cè)器4得到在雖然不是最大但接近最大的振幅上保持恒定振幅的再生信號(hào)。
驅(qū)動(dòng)控制器14，在所述的聚焦控制和跟蹤控制進(jìn)行著動(dòng)作的狀態(tài)下，可以通過(guò)解調(diào)部47讀取光束在光盤(pán)1上的當(dāng)前位置的地址。然后，驅(qū)動(dòng)控制器14，對(duì)光盤(pán)1上的測(cè)試區(qū)的溝紋光道進(jìn)行隨機(jī)檢索。在驅(qū)動(dòng)控制器14檢索測(cè)試區(qū)內(nèi)的目的溝紋光道時(shí)，最好是檢索自該目的溝紋光道起1條光道的內(nèi)周側(cè)光道，并當(dāng)光束到達(dá)作為目的的溝紋光道的起始扇區(qū)(零扇區(qū))時(shí)，立即向調(diào)制部42發(fā)送用于產(chǎn)生記錄信號(hào)的命令(以下稱(chēng)「測(cè)試記錄命令」)及聚焦位置精密探測(cè)用的測(cè)試信號(hào)。
調(diào)制部42，根據(jù)來(lái)自驅(qū)動(dòng)控制器14的測(cè)試記錄命令，向激光器功率驅(qū)動(dòng)部41輸出聚焦位置精密探測(cè)用的測(cè)試信號(hào)。激光器功率驅(qū)動(dòng)部41，接收來(lái)自調(diào)制部42的測(cè)試信號(hào)并以該測(cè)試信號(hào)對(duì)激光器的功率進(jìn)行調(diào)制。
驅(qū)動(dòng)控制器14，從隨機(jī)確定出的溝紋光道起連續(xù)地在2條光道、從光盤(pán)1的內(nèi)周側(cè)起按溝紋光道和凸紋光道的順序聯(lián)結(jié)的2條光道上記錄測(cè)試信號(hào)，并結(jié)束記錄動(dòng)作。
接著，驅(qū)動(dòng)控制器14，將光學(xué)頭7移動(dòng)到已按如上所述方式進(jìn)行了記錄的測(cè)試區(qū)域內(nèi)的溝紋光道。在這種情況下，最好也是先移動(dòng)到目的溝紋光道的1條光道的內(nèi)周側(cè)，并當(dāng)光束位于目的溝紋光道時(shí)，將用于使光束始終跟蹤該溝紋光道的平穩(wěn)跳轉(zhuǎn)命令發(fā)送到跟蹤控制部23。跟蹤控制部23，每當(dāng)光盤(pán)1旋轉(zhuǎn)1周時(shí)進(jìn)行平穩(wěn)跳轉(zhuǎn)，并控制跟蹤驅(qū)動(dòng)部22，使光束始終僅跟蹤隨機(jī)檢索到的測(cè)試區(qū)的一個(gè)溝紋光道。
在按所述方式使聚焦控制和跟蹤控制進(jìn)行動(dòng)作且每當(dāng)光盤(pán)1旋轉(zhuǎn)1周時(shí)進(jìn)行平穩(wěn)跳轉(zhuǎn)從而使光束始終跟蹤測(cè)試區(qū)內(nèi)的溝紋光道后，驅(qū)動(dòng)控制器14，由擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生部25產(chǎn)生干擾信號(hào)，并將擾動(dòng)施加于聚焦控制系統(tǒng)。通過(guò)這種施加，可強(qiáng)制性地使聚焦位置改變，并使聚焦誤差信號(hào)FES內(nèi)包含擾動(dòng)信號(hào)的頻率分量(擾動(dòng)分量)。然后，聚焦位置精密探測(cè)部60，根據(jù)從切換器39發(fā)送來(lái)的聚焦誤差信號(hào)FESS所包含的擾動(dòng)分量及從信號(hào)處理部40傳送來(lái)的再生信號(hào)RF的包絡(luò)和抖動(dòng)求出表示光束相對(duì)于光盤(pán)1的位置偏差的信息、即聚焦位置信息FPIS，并根據(jù)所求得的聚焦位置信息FPIS探測(cè)對(duì)再生信號(hào)RF的振幅和抖動(dòng)兩個(gè)方面都是最佳的聚焦位置、即聚焦最佳位置。此外，聚焦位置精密探測(cè)部60，還根據(jù)來(lái)自地址信號(hào)檢測(cè)部31的選通信號(hào)IDGATE及來(lái)自讀出門(mén)檢測(cè)部32的選通信號(hào)KEDT，僅以數(shù)據(jù)區(qū)、或由驅(qū)動(dòng)控制器14指定的特定數(shù)據(jù)區(qū)為對(duì)象求出聚焦位置信息FPIS，從而以更高的精度進(jìn)行聚焦最佳位置的探測(cè)。
圖15是用于說(shuō)明聚焦位置精密探測(cè)中的聚焦最佳位置的圖，示出與聚焦位置對(duì)應(yīng)的再生信號(hào)RF的包絡(luò)RFENV及再生抖動(dòng)的大小。如本圖所示，相對(duì)于聚焦位置(橫軸)，包絡(luò)為在某個(gè)聚焦位置(在本圖中為-0.5μm)上顯示最大值的凸型曲線，抖動(dòng)為在與包絡(luò)最大的位置不同的聚焦位置(在本圖中為0μm)上變?yōu)樽钚〉陌夹颓€。就是說(shuō)，再生信號(hào)RF的包絡(luò)為最大的聚焦位置(包絡(luò)最大位置)與再生信號(hào)RF的抖動(dòng)最小的聚焦位置(抖動(dòng)最小位置)相互錯(cuò)開(kāi)。在本實(shí)施例中，根據(jù)將再生信號(hào)的包絡(luò)和再生抖動(dòng)分別乘以系數(shù)后相加所得到的值(聚焦位置信息FPIS)探測(cè)聚焦最佳位置。具體地說(shuō)，聚焦位置精密探測(cè)部60，分別調(diào)整對(duì)包絡(luò)所乘的系數(shù)和對(duì)抖動(dòng)所乘的系數(shù)，從而將聚焦最佳位置調(diào)整到位于包絡(luò)最大位置與抖動(dòng)最小位置之間的規(guī)定位置(例如，-0.25μm)。
圖16是表示聚焦位置精密探測(cè)部60的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的框圖。包絡(luò)檢測(cè)部61，用于檢測(cè)來(lái)自信號(hào)處理部40的再生信號(hào)RF的包絡(luò)。第一高通濾波器63，是將從包絡(luò)檢測(cè)部61輸出的再生信號(hào)包絡(luò)的低于光盤(pán)1旋轉(zhuǎn)頻率(例如，39.78Hz)的頻率分量切斷、而僅使規(guī)定頻率以上的頻率、即擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生部25輸出的擾動(dòng)信號(hào)頻率(1kHz)以上的信號(hào)分量通過(guò)的濾波器。第一增益調(diào)整部66，用于將第一高通濾波器63輸出信號(hào)的增益調(diào)整為規(guī)定值。
抖動(dòng)檢測(cè)部62，按規(guī)定的閾值將再生信號(hào)RF雙值化以生成RF脈沖PRF，并根據(jù)RF脈沖信號(hào)PRF及在內(nèi)部生成的基準(zhǔn)時(shí)鐘信號(hào)檢測(cè)抖動(dòng)。第二高通濾波器64，具有與第一高通濾波器63相同的特性，可使由抖動(dòng)檢測(cè)部62檢測(cè)到的再生信號(hào)的擾動(dòng)信號(hào)頻率(1kHz)分量通過(guò)，而將低于光盤(pán)1旋轉(zhuǎn)頻率(例如，39.78Hz)的分量切斷。第二增益調(diào)整部67，用于將第二高通濾波器64輸出信號(hào)的增益調(diào)整為規(guī)定值。
減法器69，用于從第一增益調(diào)整部66的輸出信號(hào)減去第二增益調(diào)整部67的輸出信號(hào)。之所以進(jìn)行這種減法運(yùn)算，是由于考慮到當(dāng)聚焦位置偏離聚焦最佳位置時(shí)從包絡(luò)檢測(cè)部61輸出的包絡(luò)信號(hào)變小而從抖動(dòng)檢測(cè)部62輸出的抖動(dòng)信號(hào)變大、即包絡(luò)信號(hào)與抖動(dòng)信號(hào)各自的變化極性不同。
第三高通濾波器65，具有與第一高通濾波器63相同的特性，用于使從切換器39輸出的聚焦誤差信號(hào)FESS中的擾動(dòng)信號(hào)的頻率(1kHz)分量通過(guò)，而將低于光盤(pán)1旋轉(zhuǎn)頻率(例如，39.78Hz)的分量切斷。第三增益調(diào)整部68，用于將第三高通濾波器65的輸出信號(hào)的增益調(diào)整為規(guī)定值。乘法器70，用于將來(lái)自減法器69的輸出信號(hào)與第三增益調(diào)整部68的輸出信號(hào)相乘，并將其結(jié)果作為聚焦位置信息FPIS輸出到平均化處理部71。
第三存儲(chǔ)部72，是在聚焦位置精密探測(cè)中用于存儲(chǔ)以溝紋光道為對(duì)象求得的最新聚焦平衡值的可重寫(xiě)的非易失性存儲(chǔ)器。第四存儲(chǔ)部73，是在聚焦位置精密探測(cè)中用于存儲(chǔ)以凸紋光道為對(duì)象求得的最新聚焦偏移值的可重寫(xiě)的非易失性存儲(chǔ)器。
平均化處理部71，僅以由來(lái)自地址信號(hào)檢測(cè)部31的選通信號(hào)IDGATE和來(lái)自讀出門(mén)檢測(cè)部32的選通信號(hào)RDGT指定的期間為對(duì)象，將來(lái)自乘法器70的聚焦位置信息FPIS平均化，并存儲(chǔ)所求得的平均值，同時(shí)將與該平均值對(duì)應(yīng)的控制信號(hào)FBAL2、FOFF2通過(guò)切換器37、38輸出到聚焦誤差檢測(cè)部36。這時(shí)，與所述粗探測(cè)時(shí)一樣，根據(jù)來(lái)自凸紋溝紋檢測(cè)部34的L/G切換信號(hào)LGS，區(qū)分溝紋光道和凸紋光道，從而改變控制信號(hào)FBAL2、FOFF2。具體地說(shuō)，當(dāng)L/G切換信號(hào)LGS指示溝紋光道時(shí)，平均化處理部71，根據(jù)所求得的平均值，決定用于得到最佳聚焦位置的控制信號(hào)(聚焦平衡值)并存儲(chǔ)在第三存儲(chǔ)部72內(nèi)，同時(shí)將該聚焦平衡值作為控制信號(hào)FBAL2輸出，另一方面，當(dāng)L/G切換信號(hào)LGS指示凸紋光道時(shí)，平均化處理部71，在保持該控制信號(hào)FBAL2的輸出的狀態(tài)下，根據(jù)所求得的平均值，決定用于得到最佳聚焦位置的控制信號(hào)(聚焦偏移值)并存儲(chǔ)在第四存儲(chǔ)部73內(nèi)，同時(shí)將該聚焦偏移值作為控制信號(hào)FOFF2輸出。
圖17是表示平均化處理部71的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的框圖。時(shí)間計(jì)測(cè)部7101，從來(lái)自地址信號(hào)檢測(cè)部31的選通信號(hào)IDGATE的上升沿起在規(guī)定的等待時(shí)間(200μS)后開(kāi)始時(shí)間計(jì)測(cè)，計(jì)測(cè)1個(gè)擾動(dòng)周期的時(shí)間(1mS)，并將指示該計(jì)測(cè)中的時(shí)間的定時(shí)器信號(hào)TMS輸出到AND電路7109。AND電路7109，求取來(lái)自時(shí)間計(jì)測(cè)部7101的定時(shí)器信號(hào)TMS與來(lái)自讀出門(mén)檢測(cè)部32的選通信號(hào)RDGT的邏輯積，并將其結(jié)果作為數(shù)據(jù)取得定時(shí)信號(hào)DGTS輸出到第一平均化電路7102及第三平均化電路7104。就是說(shuō)，僅當(dāng)選通信號(hào)RDGT為“高”、且來(lái)自時(shí)間計(jì)測(cè)部7101的定時(shí)器信號(hào)TMS為“高”時(shí)，允許由第一平均化電路7102及第三平均化電路7104進(jìn)行平均化。
第一選擇電路7106，是當(dāng)L/G切換信號(hào)LGS為“高”(溝紋光道)時(shí)將來(lái)自乘法器70的聚焦位置信息FPIS輸出到第一平均化電路7102、而當(dāng)為“低”(凸紋光道)時(shí)輸出到第三平均化電路7104的選擇器。
第一平均化電路7102，僅在來(lái)自AND電路7109的定時(shí)信號(hào)DGTS為“高”的期間內(nèi)，對(duì)來(lái)自第一選擇電路7106的聚焦位置信息FPIS進(jìn)行平均化處理。這樣，如讀出門(mén)檢測(cè)部32不動(dòng)作時(shí)(選通信號(hào)RDGT始終為“高”時(shí))，可以計(jì)算在擾動(dòng)信號(hào)的1個(gè)周期中的聚焦位置信息FPIS平均值。第二平均化電路7103，由內(nèi)裝控制程序的DSP等構(gòu)成，用于對(duì)由第一平均化電路7102求得的平均值按規(guī)定次數(shù)(例如，擾動(dòng)信號(hào)的24個(gè)周期)進(jìn)一步進(jìn)行平均化處理，并輸出與根據(jù)該平均值確定的溝紋光道有關(guān)的新的聚焦目標(biāo)位置M11(聚焦平衡值)。而這里提到的聚焦位置信息與新的聚焦位置目標(biāo)位置之間的關(guān)系(精密探測(cè)的具體程序)，將在后文中說(shuō)明。
第三平均化電路7104及第四平均化電路7105，具有分別與第一平均化電路7102及第二平均化電路7103相同的功能。其不同之處僅在于，這兩個(gè)電路在L/G切換信號(hào)LGS為“低”(凸紋光道)時(shí)起作用。因此，第四平均化電路7105，輸出與凸紋光道有關(guān)的聚焦目標(biāo)位置M12(聚焦偏移值)。
第二選擇電路7107，是當(dāng)L/G切換信號(hào)LGS為“高”(溝紋光道)時(shí)選擇第二平均化電路7103、而當(dāng)為“低”(凸紋光道)時(shí)選擇第四平均化電路7105、并將其各自的輸出信號(hào)輸出到第三選擇電路7108的選擇器。
第三選擇電路7108，當(dāng)L/G切換信號(hào)LGS為“高”時(shí)，將溝紋光道的聚焦目標(biāo)位置M11(聚焦平衡值)輸出到第三存儲(chǔ)部72，當(dāng)L/G切換信號(hào)LGS為“低”時(shí)，將凸紋光道的聚焦目標(biāo)位置M12(聚焦偏移值)輸出到第四存儲(chǔ)部73。另外，該第三選擇電路7108，當(dāng)對(duì)來(lái)自溝紋光道的信號(hào)進(jìn)行再生時(shí)，讀出存儲(chǔ)在第三存儲(chǔ)部72內(nèi)的最新聚焦目標(biāo)位置M11(聚焦平衡值)，當(dāng)對(duì)來(lái)自凸紋光道的信號(hào)進(jìn)行再生時(shí)，讀出存儲(chǔ)在第四存儲(chǔ)部73內(nèi)的最新的凸紋光道的聚焦目標(biāo)位置M12(聚焦偏移值)，并通過(guò)切換器37、38輸出到聚焦誤差檢測(cè)部36。
圖18示出在讀出門(mén)檢測(cè)部32不動(dòng)作的情況下的擾動(dòng)信號(hào)、選通信號(hào)IDGATE及定時(shí)器信號(hào)TMS的時(shí)間圖。這里，由于讀出門(mén)檢測(cè)部32不動(dòng)作(選通信號(hào)RDGT始終為“高”)，所以定時(shí)器信號(hào)TMS與定時(shí)信號(hào)DGTS相等。在該圖中，示出從來(lái)自地址信號(hào)檢測(cè)部31的選通信號(hào)IDGATE的下降沿起經(jīng)規(guī)定的等待時(shí)間(200μS)后時(shí)間計(jì)測(cè)器7101開(kāi)始計(jì)測(cè)并當(dāng)經(jīng)過(guò)了擾動(dòng)信號(hào)的1個(gè)周期的時(shí)間時(shí)停止的情況。按照這種方式，可以得到用于在數(shù)據(jù)區(qū)對(duì)1個(gè)擾動(dòng)周期的聚焦位置信息FPIS進(jìn)行平均化處理的數(shù)據(jù)取得定時(shí)信號(hào)DGTS。
圖19A和B是在讀出門(mén)檢測(cè)部32不動(dòng)作的情況下當(dāng)進(jìn)行聚焦位置精密探測(cè)時(shí)溝紋和凸紋的選通信號(hào)IDGATE、數(shù)據(jù)取得定時(shí)信號(hào)DGTS、及L/G切換信號(hào)LGS的時(shí)間圖，圖19A是溝紋的時(shí)間圖，圖19B是凸紋的時(shí)間圖。
驅(qū)動(dòng)控制器14，在進(jìn)行聚焦位置精密探測(cè)時(shí)，通過(guò)控制跟蹤控制部23，每當(dāng)光盤(pán)1旋轉(zhuǎn)一周時(shí)進(jìn)行控制使其平穩(wěn)跳轉(zhuǎn)，從而使光盤(pán)1上的光束始終跟蹤溝紋光道或凸紋光道。因此在光盤(pán)1上的光束跟蹤溝紋光道時(shí)，L/G切換信號(hào)LGS的波形，如圖19A所示，在L/G切換點(diǎn)從表示溝紋的“高”電平變?yōu)楸硎就辜y的“低”電平，并在數(shù)據(jù)扇區(qū)1通過(guò)平穩(wěn)跳轉(zhuǎn)再次變?yōu)楸硎緶霞y的“高”電平。即，在光盤(pán)1上的光束從跟蹤著溝紋光道的狀態(tài)變?yōu)楦櫷辜y光道的狀態(tài)后，在數(shù)據(jù)扇區(qū)1進(jìn)行平穩(wěn)跳轉(zhuǎn)，從而返回到原先跟蹤的溝紋光道。
在該L/G切換點(diǎn)，數(shù)據(jù)取得定時(shí)信號(hào)DGTS的波形，如圖19A所示，在選通信號(hào)IDGATE為“高”電平期間及其前后以及數(shù)據(jù)扇區(qū)0和數(shù)據(jù)扇區(qū)1中顯示“低”電平。當(dāng)數(shù)據(jù)取得定時(shí)信號(hào)DGTS顯示“低”電平時(shí)，第一平均化電路7102不從第一選擇電路7106取得聚焦位置信息FPIS(使平均化中斷)。
另一方面，當(dāng)光盤(pán)1上的光束跟蹤著凸紋光道時(shí)，L/G切換信號(hào)LGS的波形，如圖19B所示，在L/G切換點(diǎn)，從表示凸紋的“低”電平變?yōu)楸硎緶霞y的“高”電平，并在數(shù)據(jù)扇區(qū)1通過(guò)平穩(wěn)跳轉(zhuǎn)再次變?yōu)楸硎就辜y的“低”電平。即，在光盤(pán)1上的光束從跟蹤著凸紋光道的狀態(tài)變?yōu)楦櫆霞y光道的狀態(tài)后，在數(shù)據(jù)扇區(qū)1進(jìn)行平穩(wěn)跳轉(zhuǎn)，從而返回到原先跟蹤的凸紋光道。
在該L/G切換點(diǎn)，數(shù)據(jù)取得定時(shí)信號(hào)DGTS的波形，如圖19B所示，在選通信號(hào)IDGATE為“高”電平期間及其前后以及數(shù)據(jù)扇區(qū)0和數(shù)據(jù)扇區(qū)1中顯示“低”電平。當(dāng)數(shù)據(jù)取得定時(shí)信號(hào)DGTS顯示“低”電平時(shí)，第三平均化電路7104不從第一選擇電路7106取得聚焦位置信息FPIS(使平均化中斷)。
從所述時(shí)間圖可以看出，平均化處理部71，根據(jù)來(lái)自地址信號(hào)檢測(cè)部31的選通信號(hào)IDGATE，一面將地址區(qū)的聚焦位置信息FPIS廢棄，一面區(qū)分溝紋光道和凸紋光道并對(duì)聚焦位置信息FPIS進(jìn)行平均化處理。就是說(shuō)，對(duì)僅在溝紋光道的數(shù)據(jù)區(qū)取得的聚焦位置信息FPIS及僅在凸紋光道的數(shù)據(jù)區(qū)取得的聚焦位置信息FPIS分別獨(dú)立地進(jìn)行平均化處理。
下面，參照?qǐng)D16說(shuō)明聚焦位置精密探測(cè)部60的聚焦位置精密探測(cè)的會(huì)聚動(dòng)作。
聚焦位置精密探測(cè)部60，將由平均化處理部71對(duì)來(lái)自乘法器70的聚焦位置信息FPIS進(jìn)行平均化處理后求得的與聚焦控制的目標(biāo)位置相當(dāng)?shù)目刂菩盘?hào)FBAL2、FOFF2輸出到聚焦誤差檢測(cè)部36。這時(shí)，在理想情況下，最好是這樣的探測(cè)，即，如根據(jù)通過(guò)1次聚焦位置精密探測(cè)求得的使再生狀態(tài)變?yōu)樽罴训木劢刮恢眯畔PIS變更聚焦控制的目標(biāo)位置，則必定可以得到最佳的聚焦位置。這種狀態(tài)如用公式表示，則如式6所示。
聚焦位置信息FPIS×K＝目標(biāo)位置變更量 …(式6)式中，K是確定與聚焦最佳位置的偏差值和控制目標(biāo)位置變更量的關(guān)系的常數(shù)(以下稱(chēng)「校正增益常數(shù)」)。如根據(jù)式6變更聚焦控制的目標(biāo)位置，則當(dāng)校正增益常數(shù)K＝I時(shí)，在理想的情況下，通過(guò)1次變更即可設(shè)定為使聚焦位置變?yōu)樽罴训木劢箍刂颇繕?biāo)位置。
但是，在進(jìn)行聚焦位置精密探測(cè)時(shí)，由于響應(yīng)來(lái)自擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生部25的擾動(dòng)信號(hào)而變化的包絡(luò)信號(hào)或抖動(dòng)信號(hào)的檢測(cè)靈敏度不穩(wěn)定，所以，在本實(shí)施例中，將確定聚焦位置信息FPIS與聚焦控制目標(biāo)值的關(guān)系的校正增益常數(shù)K設(shè)定為小于1，因而必須按規(guī)定次數(shù)反復(fù)進(jìn)行聚焦位置的探測(cè)和聚焦控制目標(biāo)值的更新才能完成對(duì)使聚焦位置變?yōu)樽罴训木劢箍刂颇繕?biāo)位置的會(huì)聚動(dòng)作。這里，在本實(shí)施例中，最好將使聚焦位置精密探測(cè)進(jìn)行會(huì)聚動(dòng)作時(shí)的校正增益常數(shù)K設(shè)定為0.7，這時(shí)，如果使聚焦位置精密探測(cè)進(jìn)行4次會(huì)聚，則即使例如開(kāi)始時(shí)與聚焦最佳位置的偏差值為1μm，也能以±0.05μm以?xún)?nèi)的精度探測(cè)聚焦最佳位置。
這樣，聚焦位置精密探測(cè)部60，對(duì)溝紋光道和凸紋光道分別只取得將地址區(qū)的聚焦位置信息FPIS廢棄后的數(shù)據(jù)區(qū)的聚焦位置信息FPIS，并求得使與溝紋光道和凸紋光道的各光道位置對(duì)應(yīng)的聚焦位置變?yōu)樽罴训木劢鼓繕?biāo)位置。
以下，參照?qǐng)D20、圖21、圖22說(shuō)明抖動(dòng)檢測(cè)部62。圖20是表示抖動(dòng)檢測(cè)部62的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的框圖。雙值化電路6201，接收來(lái)自信息處理部40的再生信號(hào)RF，并按規(guī)定的閾值輸出雙值化后的RF脈沖信號(hào)PRF。相位比較電路6202，檢測(cè)RF脈沖信號(hào)PRF與從VCO(電壓控制振蕩器)6205輸出的時(shí)鐘信號(hào)CLK的相位差。具體地說(shuō)，根據(jù)RF脈沖信號(hào)PRF的相位超前或滯后于時(shí)鐘信號(hào)CLK的相位，從輸出端子UP和DN輸出具有與相位差對(duì)應(yīng)的脈沖寬度的脈沖。差動(dòng)電路6203，計(jì)算從相位比較電路6202輸出的脈沖信號(hào)UP與DN之差，并輸出到積分電路6204。積分電路6204，對(duì)差動(dòng)電路6203的輸出信號(hào)進(jìn)行積分，并輸出到VCO6205。VCO6205，將具有與積分電路6204的輸出對(duì)應(yīng)的頻率的時(shí)鐘信號(hào)CLK輸出到相位比較電路6202。加法電路6206，計(jì)算從相位比較電路6202輸出的脈沖信號(hào)UP與DN之和，并輸出到后文所述的LPF(低通濾波器)6207。LPF6207，將來(lái)自加法電路6206的輸出信號(hào)中的低頻分量作為脈寬變化信號(hào)PD輸出。按如上方式生成的脈寬變化信號(hào)PD就表示RF脈沖信號(hào)PRF和時(shí)鐘信號(hào)CLK的抖動(dòng)。
圖21是表示出該抖動(dòng)檢測(cè)部62的RF脈沖信號(hào)PRF、時(shí)鐘信號(hào)CLK、相位比較電路輸出的脈沖信號(hào)UP及DN的時(shí)序的圖。從VCO6205輸出的時(shí)鐘信號(hào)CLK與RF脈沖信號(hào)PRF的關(guān)系，例如在EFM(8到14調(diào)制編碼)等情況下，實(shí)際上一般為對(duì)脈寬最短的RF脈沖信號(hào)PRF的脈沖加入3個(gè)從VCO6205輸出的時(shí)鐘信號(hào)CLK的脈沖。在本圖中，為簡(jiǎn)單起見(jiàn)假定RF脈沖信號(hào)PRF與時(shí)鐘信號(hào)CLK的脈沖寬度相等。
相位比較電路6202、差動(dòng)電路6203、積分電路6204、VCO6205，構(gòu)成PLL(鎖相環(huán)路)。首先，相位比較電路6202，如圖21所示輸出與RF脈沖信號(hào)PRF和時(shí)鐘信號(hào)CLK的相位差對(duì)應(yīng)的脈沖信號(hào)UP和DN。即，在上升沿和下降沿，當(dāng)RF脈沖信號(hào)PRF超前于時(shí)鐘信號(hào)CLK時(shí)，輸出具有與該超前對(duì)應(yīng)的寬度的脈沖信號(hào)UP(參照?qǐng)D21中的A)。另一方面，當(dāng)滯后時(shí)，輸出具有與該滯后對(duì)應(yīng)的寬度的脈沖信號(hào)DN(參照?qǐng)D21中的B)。相位的超前滯后，通過(guò)差動(dòng)電路6203變成正負(fù)的脈沖信號(hào)，進(jìn)一步由積分電路6204變成積算后的信號(hào)。VCO6205，產(chǎn)生頻率與該積算后信號(hào)的電壓對(duì)應(yīng)的時(shí)鐘信號(hào)CLK，并將其反饋到相位比較電路6202。其結(jié)果是，可以將時(shí)鐘信號(hào)CLK控制為相對(duì)于RF脈沖信號(hào)PRF的相位差的平均值為零。
如果脈沖寬度不發(fā)生變化，則反饋的結(jié)果是脈沖信號(hào)UP和DN都不具有與相位差對(duì)應(yīng)的脈沖(即，保持零電平狀態(tài))。這里，假定RF脈沖信號(hào)PRF比時(shí)鐘信號(hào)CLK脈沖寬度窄(參照?qǐng)D21中的C)。這時(shí)，在時(shí)鐘信號(hào)CLK的上升沿產(chǎn)生脈沖信號(hào)DN，在RF脈沖信號(hào)PRF的下降沿產(chǎn)生脈沖信號(hào)UP。反之，假定RF脈沖信號(hào)PRF比時(shí)鐘信號(hào)CLK脈沖寬度寬(參照?qǐng)D21中的D)。這時(shí)，在RF脈沖信號(hào)PRF的上升沿產(chǎn)生脈沖信號(hào)UP，在時(shí)鐘信號(hào)CLK的下降沿產(chǎn)生脈沖信號(hào)DN。
如上所述，由PLL控制時(shí)鐘信號(hào)CLK的頻率和相位，使相位比較電路6202的輸入U(xiǎn)和V的相位差平均值為零。因此，當(dāng)RF脈沖信號(hào)PRF的脈沖寬度變化時(shí)，作為脈沖信號(hào)UP和DN，分別輸出脈寬相同的脈沖。其結(jié)果是，加法電路6206只輸出脈寬變化分量。LPF6207，對(duì)該脈寬變化分量進(jìn)行平滑濾波，從而將變成直流電壓的信號(hào)作為脈寬變化信號(hào)PD輸出。按照如上方式，抖動(dòng)檢測(cè)部62即可將脈寬變化檢測(cè)信號(hào)PD作為數(shù)據(jù)區(qū)的再生信號(hào)RF的抖動(dòng)輸出。
圖22是表示圖20所示相位比較電路6202的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的框圖。如本圖所示，RF脈沖信號(hào)PRF的上升沿，由單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器6202A檢測(cè)。RF脈沖信號(hào)PRF的下降沿，通過(guò)反相電路6202C變?yōu)樯仙?，該上升沿由單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器6202B檢測(cè)。各單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器6202A、6202B的輸出，輸入到OR電路6202D。OR電路6202D將其輸出傳送到雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器6202E的CK輸入端。來(lái)自VCO6205的時(shí)鐘信號(hào)CLK輸入到雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器6202F的CK輸入端。從雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器6202E輸出的脈沖信號(hào)UP及從雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器6202F輸出的脈沖信號(hào)DN，輸入到NAND電路6202G。NAND電路6202G的輸出信號(hào)，輸入到雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器6202E的復(fù)位(R)端子及雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器6202F的復(fù)位(R)端子。雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器6202E的D輸入端及雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器6202F的D輸入端，連接于電源電壓(例如，+5V)。按如上方式構(gòu)成的相位比較電路6202的動(dòng)作，是使雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器由來(lái)自O(shè)R電路6202D的邊沿信號(hào)與時(shí)鐘信號(hào)CLK的邊沿中的時(shí)間在前的邊沿置位，而由時(shí)間在后的邊沿復(fù)位。
另外，相位比較電路6202的結(jié)構(gòu)，除本圖所示結(jié)構(gòu)外，也可以是作為結(jié)果具有脈沖信號(hào)UP和DN的差動(dòng)輸出及相加輸出的電路、即作為輸出端子備有(UP-DN)及(UP+DN)的電路。如果只有(UP+DN)，則例如可以直接由“異”(exclusive-OR)運(yùn)算實(shí)現(xiàn)。但是，為用比較簡(jiǎn)單的結(jié)構(gòu)獲得(UP-DN)及(UP+DN)，最好是能獨(dú)立輸出脈沖信號(hào)UP和DN的電路形式。此外，相位比較電路6202的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，也可以采用其他電路結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)，只要具有所述功能即可。
結(jié)構(gòu)如上所述的聚焦位置精密探測(cè)部60，根據(jù)將來(lái)自擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生部25的擾動(dòng)信號(hào)通過(guò)加法部24施加于聚焦控制系統(tǒng)時(shí)的再生信號(hào)RF的抖動(dòng)和包絡(luò)以及聚焦誤差信號(hào)FES，求取聚焦目標(biāo)位置。將用于根據(jù)所求得的聚焦目標(biāo)位置變更聚焦伺服的控制目標(biāo)位置的控制信號(hào)FBAL2、FOFF2輸出到聚焦誤差檢測(cè)部36。聚焦誤差檢測(cè)部36，在根據(jù)來(lái)自聚焦位置精密探測(cè)部60的控制信號(hào)FBAL2、FOFF2改變聚焦平衡及聚焦偏移的情況下生成聚焦誤差信號(hào)FES，從而根據(jù)從信息處理部40輸出的聚焦信號(hào)VFS1、VFS2，設(shè)定聚焦誤差的零電平、即聚焦伺服的控制目標(biāo)位置。
關(guān)于控制目標(biāo)位置的設(shè)定，如以上在聚焦位置精密探測(cè)的會(huì)聚動(dòng)作的說(shuō)明中所述，用于確定與聚焦最佳位置的偏差值和控制目標(biāo)位置變更量的關(guān)系的校正增益常數(shù)，假如設(shè)定為使通過(guò)1次校正動(dòng)作即可將完全校正聚焦最佳位置的偏差的增益為1，那么，考慮到響應(yīng)來(lái)自擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生部25的擾動(dòng)信號(hào)而變化的再生信號(hào)的包絡(luò)信號(hào)或抖動(dòng)信號(hào)的檢測(cè)靈敏度不穩(wěn)定，可將其設(shè)定為小于1的值(0.7)。并且，如果是根據(jù)與按擾動(dòng)信號(hào)的24個(gè)周期對(duì)聚焦位置信息FPIS進(jìn)行平均化處理后所得到的平均值對(duì)應(yīng)的控制信號(hào)FBAL2、FOFF2進(jìn)行1次聚焦位置的校正，則最好是將這種校正動(dòng)作反復(fù)進(jìn)行4次，即可將與再生信號(hào)的振幅或抖動(dòng)變?yōu)樽罴训木劢刮恢?、即聚焦最佳位置的偏差校正到?guī)定值(例如，換算成聚焦位置后為±0.05μm)以下。即，通過(guò)4次會(huì)聚動(dòng)作，就能以會(huì)聚誤差在±0.05μm以?xún)?nèi)的精度會(huì)聚到聚焦最佳位置。
以下，說(shuō)明聚焦位置精密探測(cè)部60和聚焦控制部26根據(jù)來(lái)自地址信號(hào)檢測(cè)部31的選通信號(hào)IDGATE進(jìn)行處理的意義。
SS-GFMT光盤(pán)1，在數(shù)據(jù)扇區(qū)和數(shù)據(jù)扇區(qū)之間設(shè)有地址區(qū)(參照?qǐng)D4)，此外，如該圖所示，在光盤(pán)1的每1周，在地址區(qū)后面設(shè)有凸紋和溝紋的切換點(diǎn)。并且，如該圖所示，數(shù)據(jù)區(qū)的物理結(jié)構(gòu)與地址區(qū)的物理結(jié)構(gòu)不同。因此，入射到用于檢測(cè)聚焦誤差信號(hào)FES及寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE的檢測(cè)器4、5的從光盤(pán)1反射的光束的狀態(tài)，在數(shù)據(jù)區(qū)和地址區(qū)是不同的，在數(shù)據(jù)區(qū)和地址區(qū)中聚焦誤差信號(hào)FES及寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE都產(chǎn)生偏移。就是說(shuō)，在地址區(qū)內(nèi)，在對(duì)聚焦誤差信號(hào)FES及寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE都進(jìn)行檢測(cè)的聚焦位置、跟蹤位置上存在誤差。
因此，在使照射在光盤(pán)1上的光束始終為規(guī)定會(huì)聚狀態(tài)的聚焦伺服控制及使光束跟蹤光盤(pán)1上的光道的跟蹤伺服控制已進(jìn)行動(dòng)作的情況下，當(dāng)光束光點(diǎn)從數(shù)據(jù)區(qū)進(jìn)入地址區(qū)時(shí)，聚焦伺服和跟蹤伺服都將發(fā)生紊亂。為了不發(fā)生這種紊亂，在光束通過(guò)地址區(qū)時(shí)必須使聚焦伺服和跟蹤伺服不進(jìn)行跟蹤。因此，在地址區(qū)內(nèi)各伺服都應(yīng)根據(jù)(由地址信號(hào)檢測(cè)部31檢出的如圖6(d)所示的)選通信號(hào)IDGATE使伺服處于保持狀態(tài)。
如上所述，在SS-L/GFMT光盤(pán)1中，一面在光盤(pán)1每旋轉(zhuǎn)1周時(shí)使跟蹤的光道從凸紋光道到溝紋光道、或從溝紋光道到凸紋光道交替地切換，一面實(shí)現(xiàn)單螺旋的記錄再生動(dòng)作。在凸紋光道和溝紋光道上，因跟蹤極性相反，所以必須對(duì)極性進(jìn)行切換。用于切換跟蹤極性并跟蹤光道的信號(hào)，是如圖4(C)所示的L/G切換信號(hào)LGS。
本實(shí)施例的聚焦位置精密探測(cè)，進(jìn)行聚焦控制和跟蹤控制動(dòng)作，并在光盤(pán)1每旋轉(zhuǎn)1周時(shí)進(jìn)行平穩(wěn)跳轉(zhuǎn)，在光束光點(diǎn)始終跟蹤溝紋光道的狀態(tài)下進(jìn)行溝紋光道的聚焦位置精密探測(cè)，在溝紋光道的聚焦位置精密探測(cè)結(jié)束后，移動(dòng)到接著的凸紋光道，并在光束光點(diǎn)始終跟蹤凸紋光道的狀態(tài)下，進(jìn)行凸紋光道的聚焦位置精密探測(cè)。此外，由于采用再生信號(hào)的包絡(luò)和抖動(dòng)作為用于計(jì)算當(dāng)前聚焦位置與聚焦最佳位置的偏差的聚焦位置信息FPIS，所以，聚焦位置精密探測(cè)部60的聚焦位置探測(cè)必須在光盤(pán)1的已完成記錄的區(qū)域進(jìn)行。
下面，參照?qǐng)D23A～C說(shuō)明在聚焦誤差信號(hào)FES中作為聚焦伺服殘余偏差出現(xiàn)的振擺分量與從擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生部25輸出的擾動(dòng)信號(hào)及數(shù)據(jù)扇區(qū)的關(guān)系。圖23A是在聚焦誤差信號(hào)FES中作為聚焦伺服殘余偏差出現(xiàn)的振擺分量每當(dāng)光盤(pán)旋轉(zhuǎn)1周時(shí)的波形圖。圖23B是從擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生部25輸出的擾動(dòng)信號(hào)的波形圖。圖23C是光盤(pán)旋轉(zhuǎn)1周、即1條光道的數(shù)據(jù)扇區(qū)的簡(jiǎn)圖(例如，光盤(pán)1的內(nèi)周側(cè))。
如圖23A所示，振擺分量與光盤(pán)1的旋轉(zhuǎn)同步并作為聚焦伺服殘余偏差、 圖中是作為光盤(pán)旋轉(zhuǎn)1周時(shí)變化2個(gè)周期的正弦波信號(hào)出現(xiàn)在聚焦誤差信號(hào)FES中。并且，如圖23(C)所示，光盤(pán)旋轉(zhuǎn)1周、即1條光道的扇區(qū)數(shù)，例如，在最內(nèi)周為從數(shù)據(jù)扇區(qū)0(DS0)到數(shù)據(jù)扇區(qū)16(DS16)共17個(gè)扇區(qū)。這里，光盤(pán)1的旋轉(zhuǎn)頻率，在光盤(pán)1的最內(nèi)周為39.78Hz，因光盤(pán)旋轉(zhuǎn)1周存在著17個(gè)數(shù)據(jù)扇區(qū)，所以包含地址區(qū)的1個(gè)數(shù)據(jù)扇區(qū)的頻率為676Hz。
在本實(shí)施例的聚焦位置精密探測(cè)中，根據(jù)地址區(qū)的選通信號(hào)(選通信號(hào)IDGATE)將地址區(qū)的聚焦位置信息FPIS廢棄，并僅取得數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)的聚焦位置信息FPIS。如僅取得數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)的聚焦位置信息FPIS，則將按間斷的方式取得聚焦位置信息FPIS。因此，當(dāng)由聚焦位置精密探測(cè)部60進(jìn)行聚焦位置精密探測(cè)時(shí)，作為從擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生部25施加于聚焦控制系統(tǒng)的擾動(dòng)信號(hào)，在1個(gè)數(shù)據(jù)扇區(qū)的數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)最好包含1個(gè)周期以上。就是說(shuō)，在1個(gè)數(shù)據(jù)扇區(qū)的數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)必須包含1個(gè)周期的擾動(dòng)信號(hào)，從而能以1個(gè)數(shù)據(jù)扇區(qū)為單位取得與擾動(dòng)對(duì)應(yīng)的聚焦位置信息FPIS。因此，考慮到光盤(pán)1的轉(zhuǎn)速、每旋轉(zhuǎn)1周的扇區(qū)數(shù)及在1個(gè)數(shù)據(jù)扇區(qū)的數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)包含1個(gè)周期以上的擾動(dòng)信號(hào)等條件，在本實(shí)施例中，將進(jìn)行聚焦位置精密探測(cè)時(shí)施加于聚焦控制系統(tǒng)的擾動(dòng)信號(hào)的頻率設(shè)定為1kHz。
以下，參照?qǐng)D24、圖25、圖26、及圖27說(shuō)明聚焦最佳位置的探測(cè)原理。圖24是表示聚焦位置與由包絡(luò)檢測(cè)部61檢測(cè)的再生信號(hào)RF的包絡(luò)間的關(guān)系及各聚焦位置的擾動(dòng)信號(hào)與再生信號(hào)RF的包絡(luò)間的關(guān)系的圖。
在使聚焦控制動(dòng)作的狀態(tài)下，當(dāng)以A點(diǎn)為基準(zhǔn)從擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生部25向聚焦控制系統(tǒng)施加擾動(dòng)信號(hào)時(shí)，如假定物鏡3趨近光盤(pán)1的方向?yàn)檎较颉⑽镧R3離開(kāi)光盤(pán)1的方向?yàn)樨?fù)方向，則當(dāng)使聚焦位置向正的方向變化時(shí)，再生信號(hào)RF的包絡(luò)變小，當(dāng)使聚焦位置向負(fù)的方向變化時(shí)，再生信號(hào)RF的包絡(luò)變大。另一方面，當(dāng)以B點(diǎn)為基準(zhǔn)施加擾動(dòng)信號(hào)、并使聚焦位置向正的方向變化時(shí)，再生信號(hào)RF的包絡(luò)變大，當(dāng)使聚焦位置向負(fù)的方向變化時(shí)，再生信號(hào)RF的包絡(luò)變小。進(jìn)一步，當(dāng)以C點(diǎn)、即再生信號(hào)RF的包絡(luò)的最大點(diǎn)為基準(zhǔn)施加擾動(dòng)信號(hào)時(shí)，無(wú)論使聚焦位置向正負(fù)哪個(gè)方向變化，再生信號(hào)RF的包絡(luò)，都是響應(yīng)擾動(dòng)信號(hào)而變小。
這樣，當(dāng)從擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生部25向聚焦控制系統(tǒng)施加擾動(dòng)信號(hào)時(shí)，聚焦伺服響應(yīng)所施加的擾動(dòng)信號(hào)而改變聚焦位置，所以也使再生信號(hào)RF的包絡(luò)發(fā)生變化。因此，如果將通過(guò)加法部24對(duì)聚焦控制系統(tǒng)施加來(lái)自擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生部25的擾動(dòng)信號(hào)時(shí)的聚焦誤差信號(hào)FES的擾動(dòng)分量與再生信號(hào)RF的包絡(luò)相乘，則可以求得表示與聚焦位置對(duì)應(yīng)的散焦量和極性、即聚焦位置與聚焦最佳位置的偏差的聚焦位置信息FPIS。
這里，參照?qǐng)D24、圖25A～C說(shuō)明根據(jù)聚焦誤差信號(hào)FES的擾動(dòng)分量與再生信號(hào)RF的包絡(luò)求得與聚焦最佳位置的偏差的原理。圖25A～C分別示出擾動(dòng)信號(hào)、圖24中各A點(diǎn)、B點(diǎn)、C點(diǎn)的再生信號(hào)RF的包絡(luò)線、及將擾動(dòng)信號(hào)與圖24中各A點(diǎn)、B點(diǎn)、C點(diǎn)的再生信號(hào)RF的包絡(luò)相乘后的波形。另外，為便于說(shuō)明，假定擾動(dòng)信號(hào)及再生信號(hào)RF的包絡(luò)與擾動(dòng)信號(hào)相乘后的波形連續(xù)獲得。當(dāng)在圖24的A點(diǎn)對(duì)聚焦控制系統(tǒng)施加圖25A所示的連續(xù)正弦波狀的擾動(dòng)信號(hào)時(shí)，再生信號(hào)RF的包絡(luò)波形，如圖25B的A點(diǎn)波形所示，成為與擾動(dòng)信號(hào)相位相差180度的正弦波狀的波形。并且，將再生信號(hào)RF的包絡(luò)與擾動(dòng)信號(hào)相乘后的波形，如圖25C的A點(diǎn)波形所示，成為在零電平的負(fù)側(cè)變化的波形。即，將再生信號(hào)RF的包絡(luò)與擾動(dòng)信號(hào)相乘后所得到的聚焦位置信息FPIS(以下稱(chēng)「包絡(luò)的聚焦位置信息FPIS」)，是始終相對(duì)于擾動(dòng)信號(hào)在負(fù)側(cè)變化的波形。如果用低通濾波器等對(duì)該圖25C所示的A點(diǎn)波形進(jìn)行平滑濾波處理，則可以求得圖24中A點(diǎn)的與聚焦最佳位置的偏差值和極性。
當(dāng)在圖24的B點(diǎn)對(duì)聚焦控制系統(tǒng)施加同樣的的正弦波狀的擾動(dòng)信號(hào)時(shí)，再生信號(hào)RF的包絡(luò)波形，如圖25B的B點(diǎn)波形所示，為與擾動(dòng)信號(hào)同相的正弦波狀的波形。并且，將再生信號(hào)RF的包絡(luò)與擾動(dòng)信號(hào)相乘后的波形，如圖25C的B點(diǎn)波形所示，成為在零電平的正側(cè)變化的波形。即，包絡(luò)的聚焦位置信息FPIS，是始終相對(duì)于擾動(dòng)信號(hào)在正側(cè)變化的波形。如果用低通濾波器等對(duì)該圖25C所示的B點(diǎn)波形進(jìn)行平滑濾波處理，則可以求得圖24中B點(diǎn)的與聚焦最佳位置的偏差值和極性。
當(dāng)在圖24的C點(diǎn)對(duì)聚焦控制系統(tǒng)施加同樣的的正弦波狀的擾動(dòng)信號(hào)時(shí)，再生信號(hào)RF的包絡(luò)波形，如圖25B的C點(diǎn)波形所示，為相對(duì)于零電平在負(fù)側(cè)反復(fù)變化的波形。并且，將再生信號(hào)RF的包絡(luò)與擾動(dòng)信號(hào)相乘后的波形，如圖25C的C點(diǎn)波形所示，為與擾動(dòng)信號(hào)相位相差180度的正弦波狀的波形。即，包絡(luò)的聚焦位置信息FPIS，是相對(duì)于擾動(dòng)信號(hào)正負(fù)反相的波形。如果用低通濾波器等對(duì)該圖25C所示的C點(diǎn)波形進(jìn)行平滑濾波處理，則可以求得圖24中C點(diǎn)的與聚焦最佳位置的偏差值和極性。
以下，參照?qǐng)D26說(shuō)明聚焦位置與再生信號(hào)RF的抖動(dòng)的關(guān)系。圖26是表示聚焦位置與由抖動(dòng)檢測(cè)部62檢測(cè)的再生信號(hào)RF的抖動(dòng)間的關(guān)系及各聚焦位置的擾動(dòng)信號(hào)與再生信號(hào)RF的抖動(dòng)間的關(guān)系的圖。在使聚焦控制動(dòng)作的狀態(tài)下，當(dāng)以A點(diǎn)為基準(zhǔn)從擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生部25向聚焦控制系統(tǒng)施加擾動(dòng)信號(hào)時(shí)，如假定物鏡3趨近光盤(pán)1的方向?yàn)檎较?、物鏡3離開(kāi)光盤(pán)1的方向?yàn)樨?fù)方向，則當(dāng)使聚焦位置向正的方向變化時(shí)，再生信號(hào)RF的抖動(dòng)變大，當(dāng)使聚焦位置向負(fù)的方向變化時(shí)，再生信號(hào)RF的抖動(dòng)變小。另一方面，當(dāng)以B點(diǎn)為基準(zhǔn)施加擾動(dòng)信號(hào)、并使聚焦位置向正的方向變化時(shí)，再生信號(hào)RF的抖動(dòng)變小，當(dāng)使聚焦位置向負(fù)的方向變化時(shí)，再生信號(hào)RF的抖動(dòng)變大。當(dāng)以C點(diǎn)、即再生信號(hào)RF抖動(dòng)的最小點(diǎn)為基準(zhǔn)施加擾動(dòng)信號(hào)時(shí)，無(wú)論使聚焦位置向正負(fù)哪個(gè)方向變化，再生信號(hào)RF的抖動(dòng)都是變大。
這樣，當(dāng)從擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生部25向聚焦控制系統(tǒng)施加擾動(dòng)信號(hào)時(shí)，聚焦伺服響應(yīng)所施加的擾動(dòng)信號(hào)而改變聚焦位置，所以也使再生信號(hào)RF的抖動(dòng)發(fā)生變化。因此，如果將通過(guò)加法部24對(duì)聚焦控制系統(tǒng)施加來(lái)自擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生部25的擾動(dòng)信號(hào)時(shí)的聚焦誤差信號(hào)FES的擾動(dòng)分量與再生信號(hào)RF的抖動(dòng)相乘，則可以求得表示與聚焦位置對(duì)應(yīng)的散焦量和極性、即聚焦位置與聚焦最佳位置的偏差的聚焦位置信息FPIS。
但是，與擾動(dòng)信號(hào)對(duì)應(yīng)的來(lái)自包絡(luò)檢測(cè)部61的再生信號(hào)RF的包絡(luò)響應(yīng)特性及來(lái)自抖動(dòng)檢測(cè)部62的再生信號(hào)的抖動(dòng)響應(yīng)特性，從圖24所示的包絡(luò)波形及圖26所示的抖動(dòng)波形可以看出，其響應(yīng)特性是相反的。因此，當(dāng)根據(jù)來(lái)自包絡(luò)檢測(cè)部61的再生信號(hào)RF的包絡(luò)的聚焦位置信息FPIS及根據(jù)來(lái)自抖動(dòng)檢測(cè)部62的再生信號(hào)RF的抖動(dòng)的聚焦位置信息FPIS進(jìn)行聚焦位置精密探測(cè)時(shí)，必須以例如使抖動(dòng)的極性符合包絡(luò)的極性等方式使包絡(luò)與抖動(dòng)的極性一致。在本實(shí)施例中，如圖16所示，由減法器69進(jìn)行從來(lái)自第一增益調(diào)整部66的包絡(luò)信號(hào)減去來(lái)自第二增益調(diào)整部67的抖動(dòng)信號(hào)的運(yùn)算，從而使二者的極性一致。另外，根據(jù)聚焦誤差信號(hào)的擾動(dòng)分量與再生信號(hào)RF的抖動(dòng)計(jì)算與聚焦最佳位置的偏差的程序，可按照與包絡(luò)的對(duì)聚焦最佳位置的偏差檢測(cè)原理相同的原理求得，所以將基于抖動(dòng)的與聚焦最佳位置的偏差檢測(cè)原理的說(shuō)明省略。下面，參照?qǐng)D27說(shuō)明由聚焦位置精密探測(cè)部60得到的與聚焦最佳位置的偏差的檢測(cè)特性。圖27是表示聚焦位置和與聚焦最佳位置的偏差檢測(cè)值間的關(guān)系的圖。
當(dāng)由聚焦位置精密探測(cè)部60探測(cè)聚焦位置時(shí)，例如，如設(shè)第二增益調(diào)整部67的增益為零并適當(dāng)調(diào)整第一增益調(diào)整部66從而僅根據(jù)再生信號(hào)RF的包絡(luò)檢測(cè)與聚焦最佳位置的偏差，則如圖27中的曲線7120所示，與聚焦最佳位置的偏差為零，意味著再生信號(hào)RF的包絡(luò)變?yōu)樽畲蟮木劢刮恢?例如，-0.50μm)。并且，其檢測(cè)特性為，當(dāng)以包絡(luò)變?yōu)樽畲蟮木劢刮恢脼橹行氖咕劢刮恢孟蛘姆较蚱茣r(shí)，與聚焦最佳位置的偏差沿正的方向增加，使聚焦位置向負(fù)的方向偏移時(shí)，與聚焦最佳位置的偏差沿負(fù)的方向增加。
另一方面，如設(shè)第一增益調(diào)整部66的增益為零并適當(dāng)調(diào)整第二增益調(diào)整部67從而僅根據(jù)再生信號(hào)RF的抖動(dòng)檢測(cè)與聚焦最佳位置的偏差，則如圖27中的曲線7122所示，與聚焦最佳位置的偏差為零，意味著再生信號(hào)RF的抖動(dòng)變?yōu)樽钚〉木劢刮恢?例如，0μm)。并且，其檢測(cè)特性為，當(dāng)以抖動(dòng)變?yōu)樽钚〉木劢刮恢脼橹行氖咕劢刮恢孟蛘姆较蚱茣r(shí)，與聚焦最佳位置的偏差沿正的方向增加，使聚焦位置向負(fù)的方向偏移時(shí)，與聚焦最佳位置的偏差沿負(fù)的方向增加。
進(jìn)一步，如將第一增益調(diào)整部66的增益設(shè)定為適當(dāng)?shù)南禂?shù)、例如設(shè)定為α，將第二增益調(diào)整部67的增益設(shè)定為適當(dāng)?shù)南禂?shù)、例如設(shè)定為β，并將包絡(luò)的對(duì)聚焦最佳位置的偏差檢測(cè)靈敏度及抖動(dòng)的對(duì)聚焦最佳位置的偏差檢測(cè)靈敏度調(diào)整得相等，則對(duì)聚焦最佳位置的偏差檢測(cè)特性，如圖27中的曲線7121所示，與聚焦最佳位置的偏差為零，意味著在包絡(luò)變?yōu)樽畲蟮木劢刮恢门c抖動(dòng)變?yōu)樽钚〉木劢刮恢弥虚g的位置(例如，0.25μm)。并且，這時(shí)的對(duì)聚焦最佳位置的偏差檢測(cè)特性，是基于包絡(luò)的對(duì)聚焦最佳位置的偏差檢測(cè)特性與基于抖動(dòng)的對(duì)聚焦最佳位置的偏差檢測(cè)特性的中間的特性。即其檢測(cè)特性為，當(dāng)以包絡(luò)變?yōu)樽畲蟮木劢刮恢门c抖動(dòng)變?yōu)樽钚〉木劢刮恢玫闹虚g位置為中心使聚焦位置向正的方向偏移時(shí)，與聚焦最佳位置的偏差沿正的方向增加，使聚焦位置向負(fù)的方向偏移時(shí)，與聚焦最佳位置的偏差沿負(fù)的方向增加。
根據(jù)如上所述的理由，在本實(shí)施例中，采用考慮到再生信號(hào)RF的包絡(luò)及抖動(dòng)兩個(gè)方面的曲線7121。具體地說(shuō)，聚焦位置精密探測(cè)部60的平均化處理部71，從圖27所示的曲線7121求出與通過(guò)平均化求得的聚焦位置信息對(duì)應(yīng)的偏差值，并將當(dāng)前的聚焦位置(M11、M12)僅挪動(dòng)按所述式6對(duì)該偏差值進(jìn)行校正后所得到的值，從而求得新的聚焦目標(biāo)位置M11、M12。
以下，說(shuō)明由聚焦位置精密探測(cè)部60探測(cè)聚焦最佳位置時(shí)的會(huì)聚位置誤差與地址區(qū)的影響之間的關(guān)系。在本實(shí)施例的SS-L/GFMT光盤(pán)1中，在扇區(qū)間設(shè)有地址區(qū)。聚焦位置精密探測(cè)，在使聚焦控制和跟蹤控制動(dòng)作的狀態(tài)下進(jìn)行，但如上所述，在地址區(qū)中，不能得到正確的聚焦誤差信號(hào)FES及寬頻帶跟蹤誤差信號(hào)RFTE。因此，當(dāng)聚焦伺服、跟蹤伺服都使光束光點(diǎn)通過(guò)地址區(qū)時(shí)，根據(jù)來(lái)自地址信號(hào)檢測(cè)部31的選通信號(hào)IDGATE，聚焦控制部26和跟蹤控制部23使會(huì)聚照射在光盤(pán)1上的光束進(jìn)入地址區(qū)前的各自的輸出信號(hào)為保持狀態(tài)。然后，當(dāng)會(huì)聚照射在光盤(pán)1上的光束通過(guò)地址區(qū)后進(jìn)入數(shù)據(jù)區(qū)時(shí)，根據(jù)來(lái)自地址信號(hào)檢測(cè)部31的選通信號(hào)IDGATE將保持狀態(tài)解除，并使聚焦伺服和跟蹤伺服的動(dòng)作重新開(kāi)始。
在聚焦位置探測(cè)中，當(dāng)以含有在地址區(qū)取得的再生信號(hào)的包絡(luò)或抖動(dòng)的聚焦位置信息FPIS進(jìn)行聚焦最佳位置的探測(cè)時(shí)，在探測(cè)結(jié)果中也將包含與最佳位置的誤差。就是說(shuō)，對(duì)聚焦最佳位置的會(huì)聚誤差因受地址區(qū)的影響而增加。因此，在本實(shí)施例中，對(duì)聚焦控制系統(tǒng)施加頻率為在1個(gè)數(shù)據(jù)扇區(qū)的數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)包含1個(gè)以上擾動(dòng)周期的擾動(dòng)信號(hào)，并根據(jù)來(lái)自地址信號(hào)檢測(cè)部31的選通信號(hào)IDGATE僅在除地址區(qū)以外的數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)檢測(cè)聚焦位置信息FPIS。因此，即使對(duì)具有在聚焦位置信息FPIS中產(chǎn)生檢測(cè)誤差的地址區(qū)的光盤(pán)1，也能實(shí)現(xiàn)不受地址區(qū)影響的高精度聚焦最佳位置探測(cè)。
如上所述，由于聚焦位置精密探測(cè)部60將聚焦位置最佳位置控制在再生信號(hào)RF的包絡(luò)最大與抖動(dòng)最小的中間，所以，在調(diào)整聚焦位置后，即使聚焦位置因聚焦伺服對(duì)光盤(pán)1振擺的跟蹤殘余偏差等而發(fā)生變化，也能使與散焦對(duì)應(yīng)的容限最佳化，因而能獲得良好的再生特性。換句話說(shuō)，如圖15所示，在將聚焦位置調(diào)整到抖動(dòng)最小位置的情況下，如聚焦位置向正方向偏移，則與散焦對(duì)應(yīng)的抖動(dòng)容許界限減小。在將聚焦位置調(diào)整到再生信號(hào)RF的包絡(luò)最大位置的情況下，如聚焦位置向負(fù)方向偏移，則其特性為相對(duì)于散焦的再生信號(hào)RF的包絡(luò)將減小到極低的程度，其結(jié)果是，抖動(dòng)也變得惡化。因此，由于將聚焦最佳位置調(diào)整在再生信號(hào)RF的振幅最大的聚焦位置與抖動(dòng)最小的聚焦位置的中間點(diǎn)，所以，在再生信號(hào)RF的包絡(luò)最大的聚焦位置與再生信號(hào)RF的抖動(dòng)最小的聚焦位置不同的情況下，即使當(dāng)聚焦位置因聚焦伺服對(duì)光盤(pán)1振擺的跟蹤殘余偏差等而發(fā)生變化時(shí)，也能得到良好的再生特性。
另外，本實(shí)施例的聚焦位置精密探測(cè)部60，對(duì)在再生信號(hào)RF的振幅最大的聚焦位置與再生信號(hào)RF的抖動(dòng)最小的聚焦位置中間的聚焦位置進(jìn)行了探測(cè)，但也可以探測(cè)再生信號(hào)RF的誤碼率在規(guī)定值以下的聚焦位置、或再生信號(hào)RF的振幅最大的聚焦位置、或再生信號(hào)RF的抖動(dòng)最小的聚焦位置、或再生信號(hào)RF的誤碼率最小的聚焦位置。
另外，在本實(shí)施例的聚焦位置精密探測(cè)中，首先在使光束光點(diǎn)跟蹤溝紋光道的平穩(wěn)跳轉(zhuǎn)的狀態(tài)下進(jìn)行聚焦位置精密探測(cè)，然后移動(dòng)到接著的外周1條光道的凸紋光道并在平穩(wěn)跳轉(zhuǎn)狀態(tài)下進(jìn)行聚焦位置精密探測(cè)，但作為聚焦位置精密探測(cè)的順序，并不限定于此，也可以與聚焦位置粗探測(cè)的變形例一樣，按相反的順序進(jìn)行。
就是說(shuō)，對(duì)于本實(shí)施例的聚焦位置精密探測(cè)的聚焦控制目標(biāo)位置(聚焦平衡值及聚焦偏移值)的變更，可以采用聚焦位置粗探測(cè)的變形例(圖13所示的8種探測(cè)方法)。
以下，說(shuō)明聚焦位置精密探測(cè)的2種任選功能。首先，僅著眼于光盤(pán)1的特定數(shù)據(jù)區(qū)說(shuō)明實(shí)施聚焦位置精密探測(cè)的第一任選功能、即讀出門(mén)檢測(cè)部32的功能。
讀出門(mén)檢測(cè)部32，如上所述，將在光盤(pán)1的地址區(qū)及預(yù)先由驅(qū)動(dòng)控制器14指定的數(shù)據(jù)扇區(qū)(讀出數(shù)據(jù)扇區(qū))中變“高”的選通信號(hào)RDGT輸出到聚焦位置精密探測(cè)部60。在本實(shí)施例中，驅(qū)動(dòng)控制器14，預(yù)先通過(guò)取入聚焦誤差信號(hào)FES并進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換，檢測(cè)光盤(pán)1旋轉(zhuǎn)時(shí)產(chǎn)生的振擺(交流信號(hào))，并將與該交流信號(hào)的變化小的位置相當(dāng)?shù)臄?shù)據(jù)區(qū)中選通信號(hào)RDGT變“高”的那些數(shù)據(jù)扇區(qū)指定為讀出數(shù)據(jù)扇區(qū)。
然后，聚焦位置精密探測(cè)部60，根據(jù)所述的選通信號(hào)RDGT，僅對(duì)預(yù)先指定的數(shù)據(jù)區(qū)取得聚焦位置信息FPIS，并實(shí)施聚焦位置精密探測(cè)。使這種第一任選功能動(dòng)作的意義如下。
當(dāng)進(jìn)行聚焦位置精密探測(cè)時(shí)，聚焦控制部26，根據(jù)來(lái)自聚焦誤差檢測(cè)部36的信號(hào)，通過(guò)加法器24及聚焦驅(qū)動(dòng)部21使致動(dòng)器2動(dòng)作，從而進(jìn)行使照射在光盤(pán)1上的光束始終為規(guī)定的會(huì)聚狀態(tài)的控制。但是，當(dāng)光盤(pán)1的振擺變大時(shí)，在聚焦誤差信號(hào)FES中出現(xiàn)光盤(pán)1的振擺分量的控制殘余偏差。因此，在光盤(pán)1的振擺大的情況下，如不連續(xù)檢測(cè)聚焦位置信息FPIS從而對(duì)振擺的影響進(jìn)行平均化等處理，則聚焦位置的檢測(cè)誤差將會(huì)增加。可是，在SS-L/GFMT光盤(pán)1中，數(shù)據(jù)區(qū)是不連續(xù)的，所以對(duì)聚焦位置信息FPIS也只能進(jìn)行不連續(xù)的檢測(cè)，因而很容易受到振擺分量的影響。因此，在該第一任選功能中，可在使光盤(pán)1的振擺影響減低的狀態(tài)下檢測(cè)聚焦位置信息FPIS，因而能進(jìn)一步提高聚焦位置探測(cè)精度。
圖28A～E是用于說(shuō)明讀出門(mén)檢測(cè)部32的功能的時(shí)間圖，圖28A示出光盤(pán)1的振擺分量的波形，圖28B示出由讀出門(mén)檢測(cè)部32設(shè)定的讀出數(shù)據(jù)扇區(qū)(有陰影的數(shù)據(jù)扇區(qū))，圖28C示出從讀出門(mén)檢測(cè)部32輸出的選通信號(hào)RDGT，圖28D示出從平均化處理部71的時(shí)間計(jì)測(cè)器7101輸出的定時(shí)器信號(hào)TMS，圖28E示出從平均化處理部71的AND電路7109輸出的數(shù)據(jù)取得定時(shí)信號(hào)DGTS。另外，這里為便于說(shuō)明，假定來(lái)自擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生器25的擾動(dòng)信號(hào)，對(duì)1個(gè)數(shù)據(jù)扇區(qū)的數(shù)據(jù)區(qū)同步地施加1個(gè)周期的交流信號(hào)。
在聚焦位置信息FPIS的檢測(cè)中，最容易受光盤(pán)1的振擺分量影響的是圖28A所示的t(0)、t(1)、t(2)、t(3)、t(4)、即振擺分量的控制殘余偏差變化最大的時(shí)刻附近。并且，如圖28(B)所示，讀出門(mén)檢測(cè)部32，僅將位于振擺分量變化小的位置的數(shù)據(jù)扇區(qū)、即位于振擺分量的極性反轉(zhuǎn)時(shí)刻的數(shù)據(jù)扇區(qū)以外的數(shù)據(jù)扇區(qū)指定為讀出數(shù)據(jù)扇區(qū)。在所述的指定中，讀出門(mén)檢測(cè)部32，根據(jù)來(lái)自驅(qū)動(dòng)控制器14的指示，輸出如圖28(C)所示的選通信號(hào)RDGT、即僅在地址區(qū)和讀出數(shù)據(jù)扇區(qū)變“高”的信號(hào)。
這樣的選通信號(hào)RDGT，輸入到聚焦位置精密探測(cè)部60的平均化處理部71，更詳細(xì)地說(shuō)，是輸入到圖17所示的AND電路7109。在AND電路7109的另一個(gè)輸入端子上輸入著來(lái)自時(shí)間計(jì)測(cè)器7101的定時(shí)器信號(hào)TMS。該定時(shí)器信號(hào)TMS，如圖18所示，從來(lái)自地址信號(hào)檢測(cè)部31的選通信號(hào)IDGATE的上升沿起在規(guī)定的等待時(shí)間(200μS)后開(kāi)始時(shí)間計(jì)測(cè)，計(jì)測(cè)1個(gè)擾動(dòng)周期的時(shí)間(這里，是與1個(gè)數(shù)據(jù)扇區(qū)相當(dāng)?shù)臅r(shí)間)，并輸出指示該計(jì)測(cè)中的時(shí)間的定時(shí)器信號(hào)TMS。該定時(shí)器信號(hào)TMS，如圖28(D)所示。
然后，由AND電路7109求取該選通信號(hào)RDGT與定時(shí)器信號(hào)TMS的邏輯積，并將其結(jié)果作為數(shù)據(jù)取得定時(shí)信號(hào)DGTS輸出到第一平均化電路7102及第三平均化電路7104。該數(shù)據(jù)取得定時(shí)信號(hào)DGTS，如圖28(E)所示，是僅對(duì)振擺分量變化小的時(shí)刻的數(shù)據(jù)區(qū)只在1個(gè)擾動(dòng)周期內(nèi)變“高”的脈沖串。第一平均化電路7102及第三平均化電路7104，在所述數(shù)據(jù)取得定時(shí)信號(hào)DGTS變“高”的期間，將來(lái)自乘法器70的聚焦位置信息FPIS平均化。因此，僅在地址區(qū)以外且作為讀出數(shù)據(jù)扇區(qū)指定的區(qū)域中、即僅將除在聚焦位置信息FPIS中產(chǎn)生誤差的地址區(qū)及振擺分量變化大的區(qū)域以外的穩(wěn)定的數(shù)據(jù)區(qū)作為對(duì)象，取得聚焦位置信息FPIS并進(jìn)行平均化后，將其用于聚焦位置精密探測(cè)。
這樣，利用第一任選功能，可實(shí)現(xiàn)避免發(fā)生振擺分量造成控制的紊亂的高精度聚焦位置精密探測(cè)。
以下，說(shuō)明根據(jù)將振擺分量直接從聚焦誤差信號(hào)FES中除去所得到的聚焦誤差信號(hào)FESS實(shí)施聚焦位置精密探測(cè)的第二任選功能、即振擺分量除去部35的功能。
振擺分量除去部35，如上所述，是將來(lái)自聚焦誤差檢測(cè)部36的聚焦誤差信號(hào)FES中所包含的光盤(pán)1的振擺分量除去并使該分量以外的頻率分量(由擾動(dòng)信號(hào)發(fā)生部25施加的1kHz信號(hào)等)通過(guò)的濾波器，所通過(guò)的信號(hào)輸出到切換器39。
圖29是表示振擺分量除去部35的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的框圖。振擺分量除去部35，由僅使預(yù)先已知的振擺分量頻帶通過(guò)的帶通濾波器3501及減法器3502構(gòu)成。在減法器3502的正端子上輸入聚焦誤差信號(hào)FES，在負(fù)端子上輸入通過(guò)帶通濾波器3501后的振擺分量信號(hào)。因此，從減法器3502輸出的信號(hào)，是僅將振擺分量從聚焦誤差信號(hào)FES中除去后的信號(hào)。
當(dāng)使該第二任選功能進(jìn)行動(dòng)作時(shí)，切換器39，按照來(lái)自驅(qū)動(dòng)控制器14的指示，將來(lái)自振擺分量除去部35的信號(hào)切換輸入到聚焦位置精密探測(cè)部60。因此，聚焦位置精密探測(cè)部60，根據(jù)從振擺分量除去部35輸出的信號(hào)，進(jìn)行聚焦位置精密探測(cè)。
因此，能減少由光盤(pán)1的振擺等有害擾動(dòng)引起的聚焦位置信息FPIS的檢測(cè)誤差的發(fā)生。就是說(shuō)，在聚焦位置精密探測(cè)部60中，可根據(jù)已由振擺分量除去部35將光盤(pán)1的振擺分量從聚焦誤差信號(hào)FES中除去的聚焦誤差信號(hào)FESS與再生信號(hào)RF的包絡(luò)、以及根據(jù)所述聚焦誤差信號(hào)FESS與再生信號(hào)RF的抖動(dòng)求取聚焦位置信息FPIS，并根據(jù)所求得的聚焦位置信息FPIS進(jìn)行聚焦位置精密探測(cè)，所以，能實(shí)現(xiàn)高精度的聚焦位置精密探測(cè)。
另外，本實(shí)施例的振擺分量除去部35，是將旋轉(zhuǎn)的光盤(pán)1上產(chǎn)生的振擺分量除去的濾波器，但也可以是將電源頻率等不需要的低頻信號(hào)分量除去的特性。
以下，按記錄時(shí)和再生時(shí)兩種情況說(shuō)明光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置100重新開(kāi)始聚焦位置探測(cè)(粗探測(cè)和精密探測(cè))的時(shí)序。就是說(shuō)，在本光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置100中，按照標(biāo)準(zhǔn)方式，是在起動(dòng)時(shí)、即光盤(pán)1開(kāi)始旋轉(zhuǎn)并達(dá)到一定的轉(zhuǎn)速后，執(zhí)行聚焦位置的粗探測(cè)及接在其后的精密探測(cè)。但是，這些探測(cè)不僅限于所述情況。就是說(shuō)，驅(qū)動(dòng)控制器14，根據(jù)內(nèi)裝的控制程序，如在記錄時(shí)和再生時(shí)檢測(cè)到滿(mǎn)足如下所述一定條件的狀態(tài)，則都要開(kāi)始聚焦位置粗探測(cè)部50和聚焦位置精密探測(cè)部60的聚焦位置探測(cè)(粗探測(cè)和精密探測(cè))。這里，說(shuō)明其條件和動(dòng)作。
首先，說(shuō)明記錄時(shí)的聚焦位置重新探測(cè)的開(kāi)始條件。
在對(duì)光盤(pán)1記錄信息時(shí)，驅(qū)動(dòng)控制器14，按照對(duì)光盤(pán)1進(jìn)行記錄的信號(hào)模式調(diào)制激光器功率，并對(duì)在光盤(pán)1上記錄信息的激光功率驅(qū)動(dòng)部41等進(jìn)行控制。并且，在記錄后，進(jìn)行驗(yàn)證所需要的記錄是否完成的檢驗(yàn)動(dòng)作。所謂檢驗(yàn)動(dòng)作，指的是在將信息記錄在光盤(pán)1上之后立即對(duì)其進(jìn)行再生并判定是否能正確地進(jìn)行了記錄。
當(dāng)檢驗(yàn)動(dòng)作的結(jié)果判定不能得到所需要的記錄特性(位誤碼率BER等)時(shí)，使記錄功率提高后再次進(jìn)行記錄和檢驗(yàn)動(dòng)作。這樣，在獲得所需記錄特性之前，驅(qū)動(dòng)控制器14進(jìn)行使記錄功率提高的控制?？墒?，存在著即使提高記錄功率也觀察不到再生特性改善的記錄功率上限值。該記錄功率上限值，是即使提高并超過(guò)記錄功率但在接著進(jìn)行刪除時(shí)也不能進(jìn)行完全刪除的功率值、即由記錄和刪除時(shí)的功率容限及半導(dǎo)體激光器的性能決定的值。
由所述的理由可知，在激光功率驅(qū)動(dòng)部41中設(shè)定著記錄功率的上限。此外，當(dāng)即使提高記錄功率也得不到所需要的記錄特性時(shí)，就必須考慮由記錄功率以外的原因引起的情況。因此，可以將記錄功率到達(dá)所述上限值時(shí)作為記錄時(shí)開(kāi)始聚焦位置重新探測(cè)的條件。由此可見(jiàn)，當(dāng)如上所述即使提高記錄功率也不能改善位誤碼率BER時(shí)，可以通過(guò)進(jìn)行聚焦位置的重新探測(cè)，得到使位誤碼率BER在規(guī)定值以下的記錄特性。
圖30是表示所述記錄時(shí)聚焦位置重新探測(cè)的具體程序的流程圖。在對(duì)光盤(pán)1記錄信息時(shí)，驅(qū)動(dòng)控制器14將用于記錄的功率設(shè)定值及記錄信號(hào)模式發(fā)送到調(diào)制部42(步驟S40)。
調(diào)制部42接收來(lái)自驅(qū)動(dòng)控制器14的記錄功率設(shè)定值及記錄信號(hào)模式，并將用于調(diào)制激光器功率的信號(hào)發(fā)送到激光功率驅(qū)動(dòng)部41，激光功率驅(qū)動(dòng)部41，根據(jù)來(lái)自調(diào)制部42的信號(hào)，調(diào)制激光器功率并在光盤(pán)1上記錄信息(步驟S41)。作為通常的記錄功率設(shè)定值，采用裝置組裝時(shí)求得的記錄功率(以下稱(chēng)「記錄功率的工程值」)。記錄功率的范圍為11mW～14mW，通常的記錄功率在12mW左右。因此，這里，在對(duì)光盤(pán)1記錄信息時(shí)，驅(qū)動(dòng)控制器14，通過(guò)設(shè)定記錄功率的工程值，對(duì)光盤(pán)1記錄信息。
記錄動(dòng)作結(jié)束后，驅(qū)動(dòng)控制器14進(jìn)行驗(yàn)證是否正確地進(jìn)行了記錄的檢驗(yàn)(步驟S42)。驅(qū)動(dòng)控制器14，判斷檢驗(yàn)是否正常結(jié)束(步驟S43)，當(dāng)不是正常結(jié)束時(shí)，按規(guī)定的單位(例如，0.5mW)提高記錄功率，并再次進(jìn)行記錄(步驟S44)。但是，在進(jìn)行記錄前，將記錄功率上限值與更新后的記錄功率進(jìn)行比較(步驟S45)，如記錄功率未超過(guò)記錄功率上限值，則進(jìn)行記錄動(dòng)作(步驟S41)，并進(jìn)行檢驗(yàn)(步驟S42)。
當(dāng)檢驗(yàn)不是正常結(jié)束時(shí)(步驟S43)，反復(fù)進(jìn)行以上的動(dòng)作(步驟S44、S45、S41～S43)。按所述方式，反復(fù)進(jìn)行記錄(步驟S41)、檢驗(yàn)(步驟S42)及記錄功率的提高(步驟S44、S45)，其結(jié)果是，如果超過(guò)記錄功率上限值(步驟S45)，則驅(qū)動(dòng)控制器14，向聚焦位置粗探測(cè)部50及聚焦位置精密探測(cè)部60發(fā)出指示，從而實(shí)施聚焦位置的重新探測(cè)(步驟S46。S47)。當(dāng)該重新探測(cè)結(jié)束時(shí)，驅(qū)動(dòng)控制器14，重新設(shè)定記錄功率的工程值(步驟S40)，并進(jìn)行所述的記錄動(dòng)作和檢驗(yàn)(步驟S41、S42)。然后，當(dāng)檢驗(yàn)正常結(jié)束時(shí)(步驟S43)，正常地結(jié)束記錄動(dòng)作(步驟S49)。另一方面，如檢驗(yàn)不是正常結(jié)束(步驟S43)，則反復(fù)進(jìn)行記錄功率的提高(步驟S44、S45)、記錄(步驟S41)及檢驗(yàn)(步驟S42)。
如果超過(guò)記錄功率上限值(步驟S45)，并當(dāng)連續(xù)2次以上超過(guò)記錄功率上限值時(shí)(步驟S46)，進(jìn)行記錄動(dòng)作不能正常結(jié)束時(shí)的處理(步驟S48)。作為記錄動(dòng)作不能正常結(jié)束時(shí)的處理，是進(jìn)行使裝置重新起動(dòng)等的處理。
另外，驅(qū)動(dòng)控制器14，在起動(dòng)時(shí)存儲(chǔ)用于探測(cè)聚焦位置的測(cè)試區(qū)的地址，當(dāng)進(jìn)行重新探測(cè)時(shí)，可通過(guò)參照該地址，利用與起動(dòng)時(shí)使用的測(cè)試區(qū)(的光道)相同的光道進(jìn)行聚焦位置的重新探測(cè)。
以下，說(shuō)明再生時(shí)的聚焦位置重新探測(cè)的開(kāi)始條件。
在將已記錄在光盤(pán)1上的信息再生的過(guò)程中，由于位誤碼率BER的增加，有時(shí)不能再生光盤(pán)1所記錄的信息。當(dāng)盡管進(jìn)行過(guò)一次聚焦位置探測(cè)但因光學(xué)頭的溫度特性等使聚焦位置偏移時(shí)，就會(huì)發(fā)生這種情況。當(dāng)位誤碼率BER增加時(shí)，光盤(pán)1再生裝置進(jìn)行再生的重試操作，以便對(duì)所需的記錄信息進(jìn)行再生。該再生的重試，以規(guī)定次數(shù)為限反復(fù)連續(xù)地進(jìn)行，直到能夠正確再生為止?？墒?，在位誤碼率BER顯著增加的情況下，有時(shí)只反復(fù)進(jìn)行該限定次數(shù)的再生重試操作也仍不能正確地再生。
因此，將連續(xù)進(jìn)行再生重試操作并超過(guò)了規(guī)定次數(shù)時(shí)作為再生時(shí)開(kāi)始聚焦位置重新探測(cè)的另一個(gè)條件。因此，即使當(dāng)發(fā)生了反復(fù)進(jìn)行規(guī)定次數(shù)的再生重試操作也不能再生的情況時(shí)，可以進(jìn)行聚焦位置的重新探測(cè)，從而在下一次再生時(shí)可以在規(guī)定次數(shù)內(nèi)進(jìn)行再生。
圖31是表示所述再生時(shí)聚焦位置的重新探測(cè)的具體程序的流程圖。當(dāng)從光盤(pán)1進(jìn)行信號(hào)的再生時(shí)，驅(qū)動(dòng)控制器14，從解調(diào)部47接收RF脈沖信號(hào)PRF(步驟S60)，并每隔16個(gè)扇區(qū)進(jìn)行再生差錯(cuò)檢查(步驟S61)。當(dāng)再生差錯(cuò)檢查的結(jié)果不是正常結(jié)束時(shí)(步驟S62)，反復(fù)進(jìn)行再生動(dòng)作的重試(步驟S63、S60、S61)。并且，當(dāng)再生動(dòng)作的重試超過(guò)50次時(shí)(步驟S63)，向聚焦位置粗探測(cè)部50及聚焦位置精密探測(cè)部60發(fā)出指示，從而實(shí)施聚焦位置的重新探測(cè)(步驟S64。S65)。
當(dāng)該重新探測(cè)結(jié)束時(shí)，驅(qū)動(dòng)控制器14進(jìn)行所述再生動(dòng)作(步驟S60。S61)。如再生差錯(cuò)檢查的結(jié)果是正常結(jié)束(步驟S62)，則使再生動(dòng)作正常結(jié)束(步驟S67)。而當(dāng)再生差錯(cuò)檢查不是正常結(jié)束時(shí)(步驟S62)，反復(fù)進(jìn)行再生重試(步驟S63、S60～S62)。
如重試次數(shù)超過(guò)50次(步驟S63)、且重試次數(shù)連續(xù)2次以上超過(guò)50次時(shí)(步驟S64)，進(jìn)行再生動(dòng)作不能正常結(jié)束時(shí)的處理(步驟S66)。作為再生動(dòng)作不能正常結(jié)束時(shí)的處理，是進(jìn)行使裝置重新起動(dòng)等的處理。
另外，驅(qū)動(dòng)控制器14，在起動(dòng)時(shí)存儲(chǔ)用于探測(cè)聚焦位置的測(cè)試區(qū)的地址，并移動(dòng)到起動(dòng)時(shí)使用的測(cè)試區(qū)的地址，以便進(jìn)行聚焦位置的重新探測(cè)。
通過(guò)所述聚焦位置的重新探測(cè)，當(dāng)盡管在起動(dòng)時(shí)進(jìn)行過(guò)一次聚焦位置探測(cè)但在光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置100動(dòng)作的過(guò)程中聚焦位置偏離最佳位置因而變成記錄動(dòng)作或再生動(dòng)作不能正常結(jié)束的狀態(tài)時(shí)，也仍然能夠恢復(fù)到可以重新進(jìn)行正常記錄動(dòng)作或再生動(dòng)作的狀態(tài)。
以上，根據(jù)實(shí)施例說(shuō)明了本發(fā)明的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置100，但本發(fā)明當(dāng)然不限于該實(shí)施例。
即，本實(shí)施例的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置100，作為聚焦位置探測(cè)方法，有兩種方式，(粗探測(cè)和精密探測(cè))，進(jìn)一步，在精密探測(cè)中，有兩種任選功能(讀出門(mén)檢測(cè)部32和振擺分量除去部35)，但本發(fā)明也可以不具備所述的所有方式和任選功能。
例如，可以采用不具備進(jìn)行聚焦位置精密探測(cè)的功能的簡(jiǎn)易光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置、即僅執(zhí)行聚焦位置粗探測(cè)的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置。圖32是只表示出僅執(zhí)行聚焦位置粗探測(cè)的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置110的與聚焦位置探測(cè)有關(guān)的構(gòu)成要素的框圖。從本圖可以看出，該光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置110，具有用于執(zhí)行聚焦位置粗探測(cè)的構(gòu)成要素50等，但不具備用于執(zhí)行聚焦位置精密探測(cè)的構(gòu)成要素60等。
另外，也可以采用不具備進(jìn)行聚焦位置粗探測(cè)的功能的簡(jiǎn)易光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置，即僅執(zhí)行聚焦位置精密探測(cè)的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置。圖33是只表示出僅執(zhí)行聚焦位置精密探測(cè)的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置120的與聚焦位置探測(cè)有關(guān)的構(gòu)成要素的框圖。從本圖可以看出，該光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置120，具有用于執(zhí)行聚焦位置精密探測(cè)的構(gòu)成要素25、600等，但不具備用于執(zhí)行聚焦位置粗探測(cè)的構(gòu)成要素50等、及與任選功能有關(guān)的構(gòu)成要素32、35等。圖34是表示圖33所示光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置120的聚焦位置精密探測(cè)部600的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的框圖，與圖16所示聚焦位置精密探測(cè)部60比較后可以看出，不對(duì)平均化電路710輸入選通信號(hào)RDGT。圖35是表示圖34所示平均化處理部710的詳細(xì)結(jié)構(gòu)的框圖，與圖17所示平均化電路71比較后可以看出，沒(méi)有與選通信號(hào)RDGT有關(guān)的結(jié)構(gòu)要素(圖17的AND電路7109)。
另外，也可以采用僅執(zhí)行備有所述第一任選功能(讀出門(mén)檢測(cè)部32)的聚焦位置精密探測(cè)的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置。圖36是表示僅執(zhí)行備有第一任選功能(讀出門(mén)檢測(cè)部32)的聚焦位置精密探測(cè)的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置130的與聚焦位置探測(cè)有關(guān)的構(gòu)成要素的框圖。從本圖可以看出，該光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置130，具有用于執(zhí)行聚焦位置精密探測(cè)的構(gòu)成要素25、600等及讀出門(mén)檢測(cè)部32，但不具備用于執(zhí)行聚焦位置粗探測(cè)的構(gòu)成要素50等、及與第二任選功能有關(guān)的構(gòu)成要素35等。
另外，也可以采用僅執(zhí)行備有所述第二任選功能(振擺分量除去部35)的聚焦位置精密探測(cè)的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置。圖37是表示僅執(zhí)行備有第二任選功能(振擺分量除去部35)的聚焦位置精密探測(cè)的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置140的與聚焦位置探測(cè)有關(guān)的構(gòu)成要素的框圖。從本圖可以看出，該光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置140，具有用于執(zhí)行聚焦位置精密探測(cè)的構(gòu)成要素25、60等及振擺分量除去部35，但不具備用于執(zhí)行聚焦位置粗探測(cè)的構(gòu)成要素50等、及與第一任選功能有關(guān)的構(gòu)成要素32等。
另外，在本發(fā)明的聚焦位置粗探測(cè)及精密探測(cè)中，通過(guò)使聚焦控制及跟蹤控制進(jìn)行動(dòng)作并當(dāng)光盤(pán)1每旋轉(zhuǎn)1周時(shí)進(jìn)行平穩(wěn)跳轉(zhuǎn)，從而在使光束光點(diǎn)始終跟蹤溝紋光道(或凸紋光道)的狀態(tài)下對(duì)溝紋光道(或凸紋光固進(jìn)行聚焦位置粗探測(cè)及精密探測(cè)，但本發(fā)明并不限定于采用這種平穩(wěn)跳轉(zhuǎn)的方法。例如，也可以在不進(jìn)行平穩(wěn)跳轉(zhuǎn)而是使光束光點(diǎn)只沿著螺旋線連續(xù)跟蹤光道的狀態(tài)下，由聚焦位置粗探測(cè)部50(或聚焦位置精密探測(cè)部60)一面根據(jù)L/G切換信號(hào)LGS在每旋轉(zhuǎn)1周時(shí)交替地切換凸紋光道和溝紋光道，一面對(duì)各光道上的位誤碼率BER(或聚焦位置信息FPIS)連續(xù)進(jìn)行計(jì)測(cè)，并隨時(shí)更新與各光道對(duì)應(yīng)的聚焦控制目標(biāo)位置(聚焦平衡值及聚焦偏移值)。因此，可以反復(fù)連續(xù)地進(jìn)行聚焦位置的粗探測(cè)(或精密探測(cè))，而無(wú)需進(jìn)行象平穩(wěn)跳轉(zhuǎn)那樣的復(fù)雜的跟蹤控制。
權(quán)利要求
1.一種聚焦位置調(diào)整裝置，以具有在其上形成的溝狀光道和在該溝狀光道之間形成的光道的其中之一的第一形狀光道和其中另一的第二形狀光道的光盤(pán)為對(duì)象，該聚焦位置調(diào)整裝置包括聚焦誤差檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)照射在所述光盤(pán)上的光束的會(huì)聚狀態(tài)，并輸出表示該會(huì)聚狀態(tài)的聚焦誤差信號(hào)；聚焦控制裝置，根據(jù)所述聚焦誤差信號(hào)改變所述光束的聚焦位置，使所述會(huì)聚狀態(tài)為規(guī)定狀態(tài)；再生狀態(tài)檢測(cè)裝置，根據(jù)讀出所述光盤(pán)所記錄的信息時(shí)的再生信號(hào)檢測(cè)所述光盤(pán)的再生狀態(tài)；光道檢測(cè)裝置，檢測(cè)光束光點(diǎn)位于所述光盤(pán)的第一和第二形狀光道中的哪一個(gè)上，并輸出指示該光道的光道識(shí)別信號(hào)；及聚焦位置探測(cè)裝置，具有聚焦位置更新部，根據(jù)所述光道識(shí)別信號(hào)指示第一形狀光道時(shí)的所述再生狀態(tài)，決定使該再生狀態(tài)變得更為良好的第一更新聚焦位置，并根據(jù)所述光道識(shí)別信號(hào)指示第二形狀光道時(shí)的所述再生狀態(tài)，決定使該再生狀態(tài)變得更為良好的第二更新聚焦位置；及聚焦誤差信號(hào)變更部，當(dāng)所述光道識(shí)別信號(hào)指示第一形狀光道時(shí)，對(duì)所述聚焦誤差信號(hào)加以變更，使聚焦位置為所述第一更新聚焦位置，當(dāng)所述光道識(shí)別信號(hào)指示第二形狀光道時(shí)，對(duì)所述聚焦誤差信號(hào)加以變更，使聚焦位置為所述第二更新聚焦位置，其中，所述聚焦控制裝置根據(jù)被加以變更后的聚焦誤差信號(hào)改變所述光束的聚焦位置，并且，所述聚焦位置更新部判斷使聚焦位置僅偏移規(guī)定的移動(dòng)量時(shí)所述再生狀態(tài)是否變得更為良好，從而決定所述第一更新聚焦位置和第二更新聚焦位置，其特征在于還包含探測(cè)準(zhǔn)備裝置，在由所述聚焦位置更新部決定所述第一和第二更新聚焦位置時(shí)，在進(jìn)行該決定之前，先判斷在所述光盤(pán)上是否記錄著信息，當(dāng)記錄著時(shí)，移動(dòng)所述光束的位置，以便檢測(cè)與該信息有關(guān)的所述再生狀態(tài)，當(dāng)未記錄時(shí)，將光束移動(dòng)到規(guī)定區(qū)域，記錄測(cè)試數(shù)據(jù)，并進(jìn)行控制，以便檢測(cè)與該測(cè)試數(shù)據(jù)有關(guān)的所述再生狀態(tài)。
全文摘要
聚焦位置粗探測(cè)部50和聚焦位置精密探測(cè)部60，根據(jù)來(lái)自凸紋溝紋檢測(cè)部34的L/G切換信號(hào)LGS，一面區(qū)分光束光點(diǎn)位于凸紋光道還是位于溝紋光道，一面探測(cè)使由誤碼率計(jì)測(cè)部33計(jì)測(cè)的位誤碼率BER以及再生信號(hào)RF的包絡(luò)和抖動(dòng)變得更為良好的兩個(gè)(凸紋用和溝紋用的)新的聚焦位置，并向聚焦誤差檢測(cè)部36輸出兩個(gè)用于將控制目標(biāo)變更為該新的聚焦位置的控制信號(hào)(FBAL、FOFF)。
文檔編號(hào)G11B7/007GK1495730SQ0314910
公開(kāi)日2004年5月12日 申請(qǐng)日期1998年11月25日 優(yōu)先權(quán)日1997年11月26日
發(fā)明者高峰浩一, 藤畝健司, 初瀨川明廣, 山口博之, 之, 司, 明廣 申請(qǐng)人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會(huì)社