專(zhuān)利名稱(chēng)：存儲(chǔ)器測(cè)試的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于測(cè)試和/或運(yùn)行具有存儲(chǔ)器單元的半導(dǎo)體存儲(chǔ)器的方法及裝置。
本發(fā)明涉及一種用于測(cè)試和/或運(yùn)行具有存儲(chǔ)器單元的半導(dǎo)體存儲(chǔ)器的方法及裝置，尤其是長(zhǎng)時(shí)間不間斷工作的防錯(cuò)保護(hù)系統(tǒng)中的存儲(chǔ)器。在這種防錯(cuò)保護(hù)系統(tǒng)中，通常必須在運(yùn)行中識(shí)別出硬件故障。
背景技術(shù)：
用于二進(jìn)制信號(hào)的存儲(chǔ)器屬于數(shù)字信息處理系統(tǒng)中最重要的功能單元。除其它之外，它們還作為數(shù)字計(jì)算機(jī)、測(cè)量?jī)x器中的程序和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器、作為代碼轉(zhuǎn)換器，并一般用于實(shí)現(xiàn)組合邏輯電路。數(shù)字存儲(chǔ)器是多個(gè)存儲(chǔ)器單元的結(jié)構(gòu)，這些單元這樣組織，使得可以從外部訪問(wèn)每個(gè)存儲(chǔ)器單元。在所謂的字組織的存儲(chǔ)器中，可以同時(shí)尋址并平行讀出或?qū)懭胍粋€(gè)字的所有位。由此，對(duì)于一個(gè)k位的字，將一個(gè)字的全部k位視為一個(gè)存儲(chǔ)器單元。除非另作說(shuō)明，以下將始終把一個(gè)存儲(chǔ)器單元理解為一個(gè)k位寬的字。只尋址一位的情況為位組織。
以前的申請(qǐng)DE 10037992描述了一種在線測(cè)試概念，其中，在運(yùn)行期間每隔一定的時(shí)間對(duì)硬件成塊地進(jìn)行測(cè)試。為此預(yù)先定義時(shí)間間隔，其中，周期性地測(cè)試硬件，然后在運(yùn)行繼續(xù)之前，重新產(chǎn)生初始狀態(tài)。該描述的概念允許對(duì)狀態(tài)機(jī)(FSM，有限狀態(tài)機(jī))以及所謂的隨機(jī)邏輯進(jìn)行在線測(cè)試。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題在于，在運(yùn)行期間可以對(duì)半導(dǎo)體存儲(chǔ)器進(jìn)行省時(shí)的測(cè)試。
該技術(shù)問(wèn)題是通過(guò)一種用于測(cè)試和/或運(yùn)行具有存儲(chǔ)器單元的存儲(chǔ)器的方法解決的，其中，根據(jù)為各存儲(chǔ)器單元配置的可變參數(shù)和各存儲(chǔ)器單元的內(nèi)容，為各存儲(chǔ)器單元分別形成第一檢查信息。
該技術(shù)問(wèn)題還通過(guò)一種具有帶存儲(chǔ)單元的存儲(chǔ)器的裝置解決，其中，根據(jù)為各存儲(chǔ)器單元配置的可變參數(shù)和各存儲(chǔ)單元的內(nèi)容，為各存儲(chǔ)器單元配置第一檢查信息。
本發(fā)明基于這樣的認(rèn)識(shí)，通過(guò)相對(duì)簡(jiǎn)單的電路技術(shù)措施，可以使用為存儲(chǔ)器單元形成檢查信息的可變參數(shù)顯著提高存儲(chǔ)器測(cè)試的效率。根據(jù)本發(fā)明的方法和根據(jù)本發(fā)明的裝置可以識(shí)別在尋址、寫(xiě)入和讀出過(guò)程中的錯(cuò)誤。與目前公知的存儲(chǔ)器測(cè)試不同，本發(fā)明的測(cè)試時(shí)間耗費(fèi)與存儲(chǔ)器單元的數(shù)目n乘以m＝log2n成正比，而不是與地址空間n的平方成正比。隨著存儲(chǔ)器規(guī)模的增長(zhǎng)，采用本發(fā)明的算法可以帶來(lái)極大的效益，因?yàn)榕c目前的方法相比，其測(cè)試時(shí)間耗費(fèi)隨著存儲(chǔ)器增長(zhǎng)而急劇下降，但盡管如此也可以識(shí)別尋址錯(cuò)誤。
在本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式中，在一個(gè)或多個(gè)測(cè)試循環(huán)中進(jìn)行存儲(chǔ)器測(cè)試。為了有效識(shí)別錯(cuò)誤，尤其是為了識(shí)別尋址錯(cuò)誤，建議在各測(cè)試循環(huán)的第一階段對(duì)所有存儲(chǔ)器單元進(jìn)行基本測(cè)試。在該基本測(cè)試中，讀出各存儲(chǔ)器單元的內(nèi)容，并將該內(nèi)容擴(kuò)展第一檢查信息后再寫(xiě)入各存儲(chǔ)器單元，其中該第一檢查信息根據(jù)一個(gè)為各存儲(chǔ)器單元配置的可變參數(shù)以及先前讀出的各存儲(chǔ)器單元的內(nèi)容形成。在測(cè)試循環(huán)的第二階段，在對(duì)應(yīng)于第一階段讀取所有存儲(chǔ)器單元并再寫(xiě)入之后，重新讀取存儲(chǔ)器單元的內(nèi)容，從該第二階段讀取的內(nèi)容中確定第二檢查信息，并將該第二檢查信息與存儲(chǔ)的第一檢查信息比較。
根據(jù)本發(fā)明的存儲(chǔ)器測(cè)試的第一階段也可以?xún)?yōu)選地用于，寫(xiě)入和讀取存儲(chǔ)器單元來(lái)識(shí)別在寫(xiě)入、讀取和存儲(chǔ)過(guò)程中的錯(cuò)誤，尤其是用于識(shí)別在存儲(chǔ)器單元內(nèi)的耦合錯(cuò)誤(所謂的水平耦合錯(cuò)誤)。如果根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施方式，在基本測(cè)試的基本測(cè)試循環(huán)結(jié)束時(shí)將第一階段讀出的內(nèi)容寫(xiě)入各存儲(chǔ)器單元，則存儲(chǔ)器被重新設(shè)置到其在存儲(chǔ)器測(cè)試之前相同的狀態(tài)。
上述為存儲(chǔ)器單元配置的可變參數(shù)可以構(gòu)成為可變奇偶校驗(yàn)。奇偶校驗(yàn)表示最簡(jiǎn)單的、涉及信息率的最有效的編碼。利用奇偶校驗(yàn)可以百分之百地識(shí)別出一位的錯(cuò)誤。如果將可變參數(shù)構(gòu)成為可變奇偶校驗(yàn)，則根據(jù)為各存儲(chǔ)器單元配置的可變奇偶校驗(yàn)和根據(jù)各存儲(chǔ)器單元的內(nèi)容形成一個(gè)附加位(所謂的奇偶校驗(yàn)位)作為第一檢查信息。該奇偶校驗(yàn)位這樣形成，將該奇偶校驗(yàn)位補(bǔ)充到各存儲(chǔ)器內(nèi)容為1的位的總數(shù)上使之成為偶數(shù)(可變奇偶校驗(yàn)為偶數(shù)時(shí))或奇數(shù)(可變奇偶校驗(yàn)為奇數(shù)時(shí))。在第一階段，將擴(kuò)展了奇偶校驗(yàn)位的內(nèi)容寫(xiě)入存儲(chǔ)器單元。在第二階段，從重新讀出的存儲(chǔ)器單元的內(nèi)容中確定第二檢查信息，其在應(yīng)用可變奇偶校驗(yàn)時(shí)構(gòu)造為可變奇偶校驗(yàn)位，即作為關(guān)于在第二階段所讀出內(nèi)容中為1的位的總數(shù)是偶數(shù)還是奇數(shù)的信息。
根據(jù)本發(fā)明的方法尤其用于識(shí)別耦合錯(cuò)誤，其中，耦合錯(cuò)誤通過(guò)一個(gè)或多個(gè)存儲(chǔ)器單元與一個(gè)存儲(chǔ)器地址的錯(cuò)誤對(duì)應(yīng)來(lái)標(biāo)識(shí)出。如果測(cè)試循環(huán)數(shù)與二進(jìn)制表示的存儲(chǔ)器地址的地址位數(shù)對(duì)應(yīng)，且在每個(gè)測(cè)試循環(huán)中用另一地址位形成可變檢查信息或可變奇偶校驗(yàn)，則耦合錯(cuò)誤可以特別簡(jiǎn)單地識(shí)別出來(lái)。為了也能識(shí)別已耦合的存儲(chǔ)器單元具有高于耦合單元的地址的錯(cuò)誤，建議在測(cè)試循環(huán)的第一階段，以存儲(chǔ)器地址的升序測(cè)試對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)器單元，在該測(cè)試循環(huán)的第二階段，以存儲(chǔ)器地址的降序測(cè)試對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)器單元。
如果在功能運(yùn)行時(shí)也利用可變奇偶校驗(yàn)工作，則訪問(wèn)存儲(chǔ)器的軟件必須始終具有確定奇偶校驗(yàn)的地址位，并從中獲得當(dāng)前的奇偶校驗(yàn)。這個(gè)問(wèn)題可以繞開(kāi)，如果在用存儲(chǔ)器地址讀訪問(wèn)存儲(chǔ)器單元時(shí)，通過(guò)將各存儲(chǔ)器地址的一個(gè)確定奇偶校驗(yàn)的地址位與各存儲(chǔ)器單元的第一檢查信息進(jìn)行異或邏輯運(yùn)算來(lái)形成一個(gè)固定奇偶校驗(yàn)，并且在寫(xiě)訪問(wèn)該存儲(chǔ)器單元時(shí)，通過(guò)將該固定奇偶校驗(yàn)與該確定奇偶校驗(yàn)的地址位進(jìn)行異或邏輯運(yùn)算來(lái)形成第一檢查信息的話。即，在內(nèi)部以可變奇偶校驗(yàn)位工作，但是在讀訪問(wèn)時(shí)則向外界提供固定奇偶校驗(yàn)，或在寫(xiě)訪問(wèn)時(shí)將軟件提供的固定奇偶校驗(yàn)在內(nèi)部轉(zhuǎn)換為可變奇偶校驗(yàn)。
對(duì)于具有兩個(gè)通道結(jié)構(gòu)的硬件，當(dāng)為測(cè)試具有存儲(chǔ)器單元的存儲(chǔ)器時(shí)，在至少兩個(gè)不同的組件單元上分別形成訪問(wèn)數(shù)據(jù)的簽名，并將該形成的簽名相互比較以識(shí)別錯(cuò)誤，則可以提高錯(cuò)誤識(shí)別率。
本發(fā)明的方法還可以?xún)?yōu)選地由用于在生產(chǎn)存儲(chǔ)器和/或存儲(chǔ)器的開(kāi)電測(cè)試時(shí)的內(nèi)置自測(cè)試(Build-In Self Test，縮寫(xiě)為BIST)。


下面借助附圖所示實(shí)施方式詳細(xì)描述和解釋本發(fā)明。其中示出了
圖1示出了用于測(cè)試存儲(chǔ)器單元的基本測(cè)試循環(huán)，圖2示出了以3*k位FIFO為例的基本測(cè)試循環(huán)，圖3示出了用于實(shí)現(xiàn)基本測(cè)試循環(huán)的硬件結(jié)構(gòu)，圖4示出了在兩個(gè)信道的結(jié)構(gòu)中訪問(wèn)數(shù)據(jù)的簽名形成，圖5示出了所謂的耦合錯(cuò)誤的情景，圖6示出了讀取過(guò)程中利用固定奇偶校驗(yàn)的內(nèi)部數(shù)據(jù)處理，圖7示出了寫(xiě)入過(guò)程中利用固定奇偶校驗(yàn)的內(nèi)部數(shù)據(jù)處理。
具體實(shí)施例方式
下面借助附圖詳細(xì)解釋用于測(cè)試存儲(chǔ)器的方法的各步驟以及具有存儲(chǔ)器的裝置的部件。除非另作說(shuō)明，存儲(chǔ)器的概念就理解為具有自由選擇訪問(wèn)的靜態(tài)半導(dǎo)體存儲(chǔ)器，也稱(chēng)為讀寫(xiě)存儲(chǔ)器(RAM，隨機(jī)存取存儲(chǔ)器)和/或只讀存儲(chǔ)器(ROM)。
將存儲(chǔ)器測(cè)試與在線測(cè)試相聯(lián)系需要一定的時(shí)間和組織耗費(fèi)。有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)(DIN19250/19251，DIN0801，DIN0801/A1以及IEC61508)定義了要求類(lèi)或要求在以下過(guò)程中識(shí)別錯(cuò)誤·尋址·寫(xiě)入·存儲(chǔ)·讀取與尋址錯(cuò)誤相反，其它三類(lèi)錯(cuò)誤(寫(xiě)入、存儲(chǔ)和讀取)可以利用相對(duì)簡(jiǎn)單的硬件結(jié)構(gòu)和算法來(lái)識(shí)別。而對(duì)于尋址錯(cuò)誤，尤其是識(shí)別多重尋址以及耦合錯(cuò)誤要耗費(fèi)相對(duì)較多的時(shí)間。因此，首先應(yīng)當(dāng)觀察其余三類(lèi)錯(cuò)誤，并借助圖1和圖2將基本測(cè)試的概念用于識(shí)別該錯(cuò)誤。然后必須根據(jù)所期望的可靠級(jí)別的要求(Ak或SIL)采取其它附加措施。
圖1示出了基本測(cè)試概念的一個(gè)基本測(cè)試循環(huán)的各步驟21至30。在該基本測(cè)試循環(huán)內(nèi)，在寫(xiě)入、存儲(chǔ)和讀取過(guò)程中測(cè)試存儲(chǔ)器單元1的錯(cuò)誤。該基本測(cè)試循環(huán)以初始化一個(gè)FIFO(先進(jìn)先出存儲(chǔ)器)21開(kāi)始。在下個(gè)步驟22，讀出待測(cè)試存儲(chǔ)器單元1的內(nèi)容，并在下個(gè)步驟23存儲(chǔ)在鎖存器8(鎖存器＝寄存器)中。在數(shù)字技術(shù)中，將鎖存器理解為雙穩(wěn)態(tài)開(kāi)關(guān)元件(觸發(fā)器)，借助其可以采集、臨時(shí)存儲(chǔ)和再輸出信息。與單個(gè)R-S觸發(fā)器不同，該信息不僅由一位組成，還由具有多個(gè)位的數(shù)據(jù)字組成。在步驟24，將鎖存器8的內(nèi)容、即讀取數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在FIFO中，并在步驟25將FIFO的輸出寫(xiě)入存儲(chǔ)器單元1。在下個(gè)步驟26，再讀出存儲(chǔ)器單元1，并在步驟27將讀取數(shù)據(jù)再寫(xiě)入鎖存器8。在步驟28，將鎖存器8中的讀取數(shù)據(jù)與FIFO的輸出數(shù)據(jù)比較。在步驟29，根據(jù)是否重新產(chǎn)生了存儲(chǔ)器單元1的原始內(nèi)容(與所采用的FIFO深度有關(guān))，將直接執(zhí)行步驟30或重復(fù)從步驟24開(kāi)始的過(guò)程。在步驟30，增量地址計(jì)數(shù)器。地址計(jì)數(shù)器在增量之后指向下一個(gè)將在下個(gè)基本測(cè)試循環(huán)中測(cè)試的存儲(chǔ)器單元，該基本測(cè)試循環(huán)又由相應(yīng)的步驟22至30組成。在重復(fù)執(zhí)行基本測(cè)試循環(huán)時(shí)沒(méi)有必要執(zhí)行第一步驟21，因?yàn)镕IFO已經(jīng)通過(guò)實(shí)施在前的基本測(cè)試循環(huán)而被正確地初始化。
圖2中以3*k位的FIFO 9為例示出了對(duì)應(yīng)于圖1的過(guò)程。為簡(jiǎn)單起見(jiàn)，首先觀察一個(gè)同步的、靜態(tài)的和單向的存儲(chǔ)器，其為按字節(jié)(即k＝8)形式組織的。為此，在圖2中示出了完整的基本測(cè)試循環(huán)40，其在8個(gè)脈沖31至38內(nèi)運(yùn)行?？梢岳?次存儲(chǔ)器訪問(wèn)，3次寫(xiě)入3次讀出，來(lái)檢查每個(gè)存儲(chǔ)器單元1的寫(xiě)入、存儲(chǔ)和讀取的全過(guò)程。對(duì)于一個(gè)k位字，該字的全部k位被視為一個(gè)存儲(chǔ)器單元。在該測(cè)試結(jié)束時(shí)，重新產(chǎn)生原始的單元內(nèi)容(即功能數(shù)據(jù))。原則上寫(xiě)數(shù)據(jù)從FIFO 9中取出，而讀數(shù)據(jù)則傳送到FIFO9中。在開(kāi)始實(shí)際測(cè)試之前，初始化FIFO 9，即最上兩級(jí)FIFO用內(nèi)容AA’X以及55’X預(yù)先占用。如果k≠8，則相應(yīng)地用位模式“1010...”以及“0101...”占用最上面的兩級(jí)。
最底級(jí)的內(nèi)容是隨機(jī)數(shù)據(jù)##’X。存儲(chǔ)器單元1在開(kāi)始包含內(nèi)容SP’X。這里應(yīng)當(dāng)利用后綴’X表示一個(gè)十六進(jìn)制數(shù)。整個(gè)基本測(cè)試循環(huán)40總共需要8個(gè)脈沖31至38來(lái)測(cè)試存儲(chǔ)器單元1。下面將在各脈沖31至38期間描述該過(guò)程。在第一脈沖31，讀出存儲(chǔ)器單元1的原始內(nèi)容SP’X，并放入位于存儲(chǔ)器2輸出端的鎖存器8中。FIFO 9的內(nèi)容對(duì)應(yīng)于初始化。在第二脈沖32，將讀取的內(nèi)容SP’X從鎖存器8中放入FIFO 9中。在同一脈沖32，F(xiàn)IFO9的輸出數(shù)據(jù)55’X寫(xiě)入存儲(chǔ)器單元1中。在接下來(lái)的第三脈沖33，又從存儲(chǔ)器單元中讀出最后寫(xiě)入的數(shù)據(jù)55’X并存儲(chǔ)到鎖存器8中。讀出的數(shù)據(jù)55’X與FIFO 9的輸出數(shù)據(jù)比較，兩者應(yīng)具有相同的值。該比較過(guò)程在圖2中分別用附圖標(biāo)記42表示。在第四脈沖34，將讀取數(shù)據(jù)55’X從鎖存器8存入FIFO 9中?，F(xiàn)在FIFO 9的當(dāng)前輸出數(shù)據(jù)AA’X同樣在第四脈沖34寫(xiě)入存儲(chǔ)器單元1中。在第五脈沖35，又從存儲(chǔ)器單元1中讀出最后寫(xiě)入的數(shù)據(jù)AA’X并存儲(chǔ)在鎖存器8中。將鎖存器8中的該值與FIFO 9的輸出數(shù)據(jù)AA’X比較，兩者在理想情況下具有相同的值。在第六脈沖36，將讀取數(shù)據(jù)AA’X從鎖存器放入FIFO 9。FIFO 9的輸出數(shù)據(jù)，現(xiàn)在表示在第一脈沖31從存儲(chǔ)器單元1讀出的原始存儲(chǔ)器內(nèi)容SP’X，將被寫(xiě)回到存儲(chǔ)器單元1中。在第七脈沖37，又從存儲(chǔ)器單元讀出最后寫(xiě)入的數(shù)據(jù)SP’X并存儲(chǔ)在鎖存器8中。將鎖存器8的內(nèi)容與FIFO 9的輸出數(shù)據(jù)SP’X比較，兩者都包含從存儲(chǔ)器單元1讀出的原始數(shù)據(jù)SP’X。最后在第八脈沖38，將尋址存儲(chǔ)器單元1的地址計(jì)數(shù)器增加1(用附圖標(biāo)記43標(biāo)示)。測(cè)試硬件現(xiàn)在已準(zhǔn)備好測(cè)試下個(gè)存儲(chǔ)器單元(脈沖39)。這里實(shí)施的步驟可以相對(duì)容易地利用狀態(tài)機(jī)(FSM，有限狀態(tài)機(jī))來(lái)實(shí)現(xiàn)。實(shí)際上，在第六脈沖36結(jié)束了對(duì)存儲(chǔ)器單元1的檢查，并重新產(chǎn)生了原始的存儲(chǔ)器狀態(tài)。在第七脈沖37，第二次讀出原始的存儲(chǔ)器內(nèi)容，并與在第一脈沖31讀出的存儲(chǔ)器內(nèi)容SP’X比較。利用該方式，可以在8*n個(gè)脈沖內(nèi)檢查n個(gè)存儲(chǔ)器單元。n在這里表示整個(gè)地址空間。對(duì)m個(gè)地址位n＝2m。
圖3示出用于檢查存儲(chǔ)器單元所需的硬件結(jié)構(gòu)。其中示出了存儲(chǔ)器2，其包括分別具有k位的n個(gè)存儲(chǔ)器單元。存儲(chǔ)器2具有數(shù)據(jù)輸入DI、尋址輸入Ad，觸發(fā)或時(shí)鐘輸入Clk以及用于控制信號(hào)芯片選擇(CS)、寫(xiě)訪問(wèn)(Wr)或讀訪問(wèn)(Rd)的輸入端Cs、Rd/Wr。存儲(chǔ)器可以通過(guò)數(shù)據(jù)輸出端DO向k位鎖存器8輸出數(shù)據(jù)。狀態(tài)機(jī)FSM控制對(duì)存儲(chǔ)器的檢查。對(duì)各存儲(chǔ)器單元的尋址通過(guò)地址計(jì)數(shù)器50進(jìn)行。一個(gè)3*k位FIFO 9用于臨時(shí)存儲(chǔ)讀出和待寫(xiě)入的數(shù)據(jù)。用比較器51對(duì)來(lái)自鎖存器8和FIFO 9的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較。
圖4示出一個(gè)兩通道結(jié)構(gòu)的存儲(chǔ)器系統(tǒng)的實(shí)施方式。在兩通道結(jié)構(gòu)下，還可以很小的代價(jià)形成訪問(wèn)數(shù)據(jù)的簽名5。將簽名5與伙伴ASIC(圖4中未示出)中訪問(wèn)數(shù)據(jù)的簽名比較，額外提高了錯(cuò)誤識(shí)別率(參見(jiàn)DE10037992)。為此，除已經(jīng)借助圖3描述的元件之外，還需要兩個(gè)線性反饋移位寄存器60(LFSR)。一個(gè)LFSR 60用于構(gòu)成寫(xiě)數(shù)據(jù)的簽名5，另一LFSR 60用于構(gòu)成存儲(chǔ)器讀數(shù)據(jù)的簽名5。對(duì)于線性反饋移位寄存器，通過(guò)異或門(mén)將該移位寄存器的特定位反饋到輸入端。
這里建議的用于檢測(cè)存儲(chǔ)器的方法特別適用于識(shí)別尋址過(guò)程中的錯(cuò)誤，尤其是識(shí)別所謂的耦合錯(cuò)誤。耦合錯(cuò)誤是在兩個(gè)或多個(gè)存儲(chǔ)器單元之間不期望的耦合。識(shí)別耦合錯(cuò)誤一般非常耗費(fèi)時(shí)間，在目前的公知方法中測(cè)試代價(jià)與存儲(chǔ)器單元數(shù)n成平方地增長(zhǎng)。這里提出的測(cè)試結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單，可以毫無(wú)問(wèn)題地與先前描述的在線測(cè)試概念相聯(lián)系。由此可以達(dá)到AK 4(根據(jù)DIN 19250/19251)或SIL 2至3(根據(jù)IEC 61508)的可靠性要求。該概念可以用于一通道和兩通道的結(jié)構(gòu)。
在存儲(chǔ)器單元之間的耦合錯(cuò)誤(所謂的垂直耦合錯(cuò)誤)非常復(fù)雜。公知的測(cè)試方法首先局限于對(duì)簡(jiǎn)單耦合錯(cuò)誤的識(shí)別。圖5示出了耦合錯(cuò)誤的典型情景。所示出的是具有存儲(chǔ)器單元1和61的存儲(chǔ)器2，可以通過(guò)連接62訪問(wèn)這些存儲(chǔ)器單元。在發(fā)生耦合錯(cuò)誤時(shí)，被尋址和被選擇的存儲(chǔ)器單元不同。下面，也將被尋址的存儲(chǔ)器單元稱(chēng)為耦合單元，而將被選擇的存儲(chǔ)器單元稱(chēng)為已耦合的單元。如果尋址第一存儲(chǔ)器單元1而訪問(wèn)第二存儲(chǔ)器單元61，則在沒(méi)有其它錯(cuò)誤源存在的情況下第一存儲(chǔ)器單元1保持為不能被訪問(wèn)。對(duì)第一存儲(chǔ)器單元1的讀、寫(xiě)訪問(wèn)在形式上正確進(jìn)行，但卻沒(méi)有觸及其內(nèi)容。為了定位這樣的錯(cuò)誤，通常用已知的模式預(yù)先覆蓋整個(gè)存儲(chǔ)器(例如55’X或AA’X)。然后，逐個(gè)地址地翻轉(zhuǎn)存儲(chǔ)器的內(nèi)容，并檢查整個(gè)存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)內(nèi)容的正確性。根據(jù)該方法的公知測(cè)試是Walkpat和Galpat。在這些方法中，測(cè)試代價(jià)與存儲(chǔ)器單元數(shù)n的平方成正比。這類(lèi)方法不適于在線測(cè)試，因?yàn)橐环矫嫱ㄟ^(guò)這些測(cè)試會(huì)破壞存儲(chǔ)器內(nèi)容，另一方面，測(cè)試時(shí)間隨著存儲(chǔ)器的規(guī)模急劇增長(zhǎng)，從而不能在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)實(shí)施完整的測(cè)試。這里，通過(guò)對(duì)數(shù)據(jù)(存儲(chǔ)器內(nèi)容)編碼可以進(jìn)行補(bǔ)救。在上述錯(cuò)誤情況下，實(shí)際上沒(méi)有偽造數(shù)據(jù)而只是錯(cuò)誤地配置了數(shù)據(jù)。這種錯(cuò)誤只有在形成代碼時(shí)引入地址才能被識(shí)別。奇偶校驗(yàn)是最簡(jiǎn)單而對(duì)于信息率最有效的編碼。利用奇偶校驗(yàn)可以百分之百地識(shí)別出一位的錯(cuò)誤。將奇偶校驗(yàn)作為一種編碼方法引入用于識(shí)別耦合錯(cuò)誤改善了總體情況，但仍不盡滿(mǎn)意。然而，如果周可變奇偶校驗(yàn)VP、例如與地址相關(guān)的奇偶校驗(yàn)工作，則可以大大提高奇偶校驗(yàn)的效率。由此，所有上述類(lèi)型的耦合錯(cuò)誤都能被識(shí)別。引入可變奇偶校驗(yàn)VP具有決定性的優(yōu)點(diǎn)，即，不必在構(gòu)成奇偶校驗(yàn)時(shí)引入地址。與地址無(wú)關(guān)的錯(cuò)誤分析甚至更簡(jiǎn)單和透明。在按字節(jié)組織的存儲(chǔ)器中，還需要附加1位(即存儲(chǔ)器總開(kāi)銷(xiāo)的12.5％)或?qū)?shù)據(jù)減少1位，即從8位變?yōu)?位。如果耦合單元和已耦合的單元的奇偶校驗(yàn)不同，則原則上可以識(shí)別耦合錯(cuò)誤。
表1

為了更好地理解，將這里建議的方法以一16字節(jié)的存儲(chǔ)器來(lái)說(shuō)明。為了顯示該存儲(chǔ)器的整個(gè)地址空間需要4個(gè)地址位。每個(gè)任意的存儲(chǔ)器單元可以用一個(gè)4位計(jì)數(shù)器尋址(例如圖3和圖4中的地址計(jì)數(shù)器50)。該計(jì)數(shù)器的16個(gè)狀態(tài)在表1中一起示出。為了完全識(shí)別耦合錯(cuò)誤，必須對(duì)每個(gè)地址對(duì)加入至少一次一個(gè)不同的奇偶性。
借助狀態(tài)機(jī)(FSM)控制存儲(chǔ)器測(cè)試。該狀態(tài)機(jī)漫游從0到15的全部地址。在這里描述的測(cè)試中，將地址位中的1位用于可變奇偶校驗(yàn)VP。然后，在所觀察的情況中，最多進(jìn)行4次具有與循環(huán)相關(guān)的可變奇偶性VP的測(cè)試循環(huán)。在第一測(cè)試循環(huán)中，可變奇偶校驗(yàn)VP由MSB(＝最高有效位)、即地址的A3位導(dǎo)出。在本例中，設(shè)置A3＝‘0’作為偶數(shù)奇偶性，A3＝‘1’作為奇數(shù)奇偶校驗(yàn)。從表1中可以看出，在循環(huán)中對(duì)一半存儲(chǔ)器單元是偶數(shù)奇偶校驗(yàn)，而對(duì)另一半是奇數(shù)奇偶校驗(yàn)，這對(duì)所有測(cè)試循環(huán)都是如此。在第一測(cè)試循環(huán)中，對(duì)存儲(chǔ)器上半部的存儲(chǔ)器單元(地址0至7)加入偶數(shù)奇偶校驗(yàn)，對(duì)存儲(chǔ)器下半部的存儲(chǔ)器單元(地址8至15)加入奇數(shù)奇偶校驗(yàn)。在一個(gè)上半組的任意地址和一個(gè)下半組的任意地址之間，可以始終識(shí)別出所有被成對(duì)觀察的耦合錯(cuò)誤。不能識(shí)別的是，在上半部(A3＝0)或下半部(A3＝1)內(nèi)相互之間的耦合錯(cuò)誤。在兩個(gè)區(qū)域中不能識(shí)別耦合錯(cuò)誤的一半將在第二測(cè)試循環(huán)中識(shí)別，其中，可變奇偶校驗(yàn)VP由地址位A2表示。然后，在每個(gè)隨后的測(cè)試循環(huán)內(nèi)識(shí)別到那時(shí)為止還未識(shí)別出耦合錯(cuò)誤的一半。最后，在最后一個(gè)用地址位A0(LSB＝最低有效位)表示的可變奇偶性VP的測(cè)試循環(huán)內(nèi)來(lái)識(shí)別到那時(shí)為止還未識(shí)別的所有耦合錯(cuò)誤。通過(guò)這種方式，上述類(lèi)型的所有耦合錯(cuò)誤可在較少的脈沖內(nèi)(所需的脈沖數(shù)不是與存儲(chǔ)器單元數(shù)乘上地址位數(shù)的平方成正比，而只是簡(jiǎn)單地成正比)，并以較少的附加硬件被識(shí)別出。
由此，所建議的存儲(chǔ)器測(cè)試由兩個(gè)階段組成在第一階段進(jìn)行上述基本測(cè)試。其中，在寫(xiě)入、讀取和存儲(chǔ)過(guò)程中檢查存儲(chǔ)器單元。對(duì)該基本測(cè)試這樣補(bǔ)充，即現(xiàn)在用根據(jù)表1的當(dāng)前測(cè)試循環(huán)的可變奇偶校驗(yàn)回寫(xiě)在第六脈沖36回寫(xiě)的原始存儲(chǔ)器內(nèi)容。在第二階段，在利用可變奇偶校驗(yàn)回寫(xiě)整個(gè)存儲(chǔ)器之后，利用存儲(chǔ)器的功能數(shù)據(jù)再次完全讀出該存儲(chǔ)器，并將這些數(shù)據(jù)的奇偶校驗(yàn)與可變奇偶校驗(yàn)VP(在第i個(gè)循環(huán)內(nèi)通過(guò)地址位A4-i確定奇偶性)比較。第二階段對(duì)每個(gè)存儲(chǔ)器單元只需要兩個(gè)脈沖，一個(gè)用于讀取數(shù)據(jù)，一個(gè)用于比較數(shù)據(jù)以及將地址計(jì)數(shù)器加1(可能的話可將兩個(gè)任務(wù)在一個(gè)脈沖周期內(nèi)完成)。在至此描述的存儲(chǔ)器測(cè)試過(guò)程中，對(duì)存儲(chǔ)器是向上處理的(從地址0開(kāi)始)。但是如果已耦合的存儲(chǔ)器單元具有比耦合單元更高的地址(參見(jiàn)圖5)，則其數(shù)據(jù)在階段處理過(guò)程中在較晚時(shí)刻再次由可變奇偶校驗(yàn)VP覆蓋。為了識(shí)別該耦合錯(cuò)誤，必須將第一和第二階段重復(fù)一次，其中，這一次向下處理存儲(chǔ)器(從地址n開(kāi)始)。在此，第二階段的運(yùn)行不改變。第一階段總共需要8*n個(gè)脈沖。第二階段還需要2*n個(gè)脈沖，從而兩個(gè)階段總共需要10*n個(gè)脈沖。為了以地址降序處理存儲(chǔ)器，可以放棄用數(shù)據(jù)55’X和AA’X寫(xiě)入和讀取存儲(chǔ)器。在這種情況下，第一階段限制為3個(gè)脈沖·讀取當(dāng)前數(shù)據(jù)SP’X(功能數(shù)據(jù)(Funktionsdatum))·寫(xiě)入具有可變奇偶校驗(yàn)的數(shù)據(jù)·將地址計(jì)數(shù)器減1(下個(gè)地址)為了向下處理存儲(chǔ)器，最大需要(3+2)*n＝5*n個(gè)脈沖。因此，對(duì)具有可變奇偶校驗(yàn)?zāi)Ｊ降臏y(cè)試循環(huán)最大總共需要15*n個(gè)脈沖，通過(guò)地址位Ai中的一個(gè)確定。一個(gè)測(cè)試循環(huán)原則上由兩個(gè)測(cè)試過(guò)程組成，即由兩段組成，一段按照地址升序，一段按照地址降序。由此，對(duì)于具有m個(gè)地址位的地址空間，有m＝log2n總共需要最大(15*n*m)個(gè)脈沖。對(duì)于時(shí)間要求苛刻的應(yīng)用，甚至可以在測(cè)試循環(huán)2至m中完全放棄第一階段。在這種情況下，一次完整的存儲(chǔ)器測(cè)試需要最大(10*n*m+5*n)個(gè)脈沖。如果一直用根據(jù)上述方法的可變奇偶校驗(yàn)VP工作，則該最大脈沖數(shù)(10*n*m+5*n)還可以顯著降低。即，在功能運(yùn)行中也通過(guò)取決于測(cè)試循環(huán)的各地址位Ai確定奇偶校驗(yàn)。在這種情況下，地址降序的循環(huán)過(guò)程少用了3個(gè)脈沖(讀取、寫(xiě)入可變奇偶校驗(yàn)和將地址計(jì)數(shù)器減1)。因此，對(duì)于第一測(cè)試循環(huán)不是需要15*n個(gè)脈沖而是12*n個(gè)脈沖。然后對(duì)于隨后的循環(huán)，每個(gè)循環(huán)需要4*n個(gè)脈沖(2*n個(gè)用于地址升序，2*n個(gè)用于地址降序，分別用于第二階段，第一階段取消)。由此，一次完整的存儲(chǔ)器測(cè)試總共需要最大(4*n*m+8*n)個(gè)脈沖。這種較快測(cè)試過(guò)程(加快約60％)的優(yōu)點(diǎn)須以較高的軟件開(kāi)銷(xiāo)為代價(jià)。在這種情況下，軟件必須始終具有確定奇偶校驗(yàn)的地址位Ai，并從中獲得當(dāng)前的奇偶校驗(yàn)。然而，如果在內(nèi)部用如上所述的可變奇偶校驗(yàn)位來(lái)操作，則這個(gè)問(wèn)題可以相對(duì)簡(jiǎn)單地繞過(guò)。而在讀訪問(wèn)時(shí)向外界提供了一個(gè)可被操作的奇偶校驗(yàn)位，其通過(guò)對(duì)Ai和可變奇偶校驗(yàn)位的異或邏輯運(yùn)算形成，并再現(xiàn)一個(gè)固定的奇偶校驗(yàn)FP(在本觀察情況中為偶數(shù)奇偶校驗(yàn))。在寫(xiě)訪問(wèn)時(shí)，由軟件提供的具有固定奇偶校驗(yàn)FP(在本觀察情況中為偶數(shù)奇偶性)的奇偶位在內(nèi)部通過(guò)與確定奇偶校驗(yàn)的地址位Ai進(jìn)行異或邏輯運(yùn)算被變換為可變奇偶校驗(yàn)VP。然后，將這樣獲得的奇偶校驗(yàn)位傳送到存儲(chǔ)器。為此需要兩個(gè)附加的異或門(mén)，如可以從表2中引用的那樣。
表2

如果始終用可變奇偶校驗(yàn)VP(也在功能模式下)工作，則必須在上述基本測(cè)試概念下在讀訪問(wèn)時(shí)將讀出的奇偶校驗(yàn)與當(dāng)前的可變奇偶校驗(yàn)比較，該當(dāng)前的可變奇偶校驗(yàn)是通過(guò)引入確定奇偶校驗(yàn)的地址位Ai獲得的。對(duì)于所有的讀訪問(wèn)都進(jìn)行該比較，除了在基本測(cè)試的第一脈沖周期中，因?yàn)樵诮油娫春蟠鎯?chǔ)器中存放的是隨機(jī)數(shù)據(jù)，并且奇偶校驗(yàn)無(wú)效。在寫(xiě)訪問(wèn)時(shí)，在引入確定奇偶校驗(yàn)的地址位Ai的情況下構(gòu)成可變奇偶校驗(yàn)VP，并與數(shù)據(jù)一起傳送到存儲(chǔ)器中。
圖6和圖7示出了當(dāng)在內(nèi)部始終用可變奇偶校驗(yàn)工作時(shí)，在功能運(yùn)行中訪問(wèn)存儲(chǔ)器所需的硬件。圖6示出了在讀過(guò)程中的內(nèi)部數(shù)據(jù)處理。在一個(gè)存儲(chǔ)器單元中，存儲(chǔ)了加入可變奇偶校驗(yàn)VP的數(shù)據(jù)68。但是，在例如通過(guò)外部軟件對(duì)該存儲(chǔ)器單元進(jìn)行讀訪問(wèn)時(shí)，再現(xiàn)的并不是具有可變奇偶校驗(yàn)VP的數(shù)據(jù)68，而是具有固定奇偶校驗(yàn)FP的數(shù)據(jù)65。為此，在內(nèi)部、即在硬件電路內(nèi)，從各存儲(chǔ)器單元的存儲(chǔ)器地址的地址位7中用多路復(fù)用器MUX選擇一個(gè)確定奇偶校驗(yàn)的地址位10。該地址位10在異或門(mén)66中與數(shù)據(jù)68的可變奇偶校驗(yàn)位63進(jìn)行異或邏輯運(yùn)算。該異或邏輯運(yùn)算的結(jié)果是一個(gè)固定奇偶校驗(yàn)位69，其用于形成外部數(shù)據(jù)65。由此，讀取軟件忽略可變奇偶校驗(yàn)VP，而是用具有固定奇偶校驗(yàn)FP的數(shù)據(jù)工作。
在寫(xiě)過(guò)程的情況下，存在加入了固定奇偶校驗(yàn)FP的外部數(shù)據(jù)65，其應(yīng)被存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器的一個(gè)存儲(chǔ)器單元中。從各存儲(chǔ)器單元的存儲(chǔ)器地址的地址位7中，用多路復(fù)用器MUX選擇一個(gè)確定奇偶校驗(yàn)的地址位10。該地址位10在異或門(mén)67中與數(shù)據(jù)65的固定奇偶校驗(yàn)位64進(jìn)行異或邏輯運(yùn)算。該異或邏輯運(yùn)算的結(jié)果是可變奇偶校驗(yàn)位70，其用于形成內(nèi)部數(shù)據(jù)68。加入了可變奇偶校驗(yàn)VP的內(nèi)部數(shù)據(jù)68被存儲(chǔ)在一個(gè)存儲(chǔ)器單元中。借助圖6和圖7說(shuō)明的硬件反映了上述借助表2描述的過(guò)程。在此，確定奇偶校驗(yàn)的地址位10對(duì)應(yīng)于上面提到的地址位Ai。
下面再次總結(jié)這里描述的測(cè)試方法的優(yōu)點(diǎn)。測(cè)試的時(shí)間耗費(fèi)與存儲(chǔ)器單元數(shù)n乘以m＝log2n成正比地增長(zhǎng)，而不是象目前公知的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試中那樣與地址空間n的平方成正比地增長(zhǎng)。在一個(gè)1kB的存儲(chǔ)器中，這就已經(jīng)意味著脈沖數(shù)減少的系數(shù)為百。在這里建議的方法中，所使用的乘數(shù)是log21024＝10，而不是目前公知方法中使用的1024。隨著存儲(chǔ)器規(guī)模的增長(zhǎng)，這里描述的算法可以帶來(lái)巨大的效益，因?yàn)闇y(cè)試的時(shí)間耗費(fèi)與公知方法的相比隨著存儲(chǔ)器的增大成指數(shù)下降。所有基本類(lèi)型的簡(jiǎn)單耦合錯(cuò)誤都能被識(shí)別。本方法還可以識(shí)別多重耦合錯(cuò)誤。本方法實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單，操作容易，還可以用于產(chǎn)品測(cè)試而帶來(lái)效益。這里建議的算法可以毫無(wú)問(wèn)題地在任意位置中斷，并由此特別優(yōu)選地應(yīng)用于上述在線測(cè)試概念領(lǐng)域，其中，利用本方法可以在任意位置在測(cè)試運(yùn)行和功能運(yùn)行之間進(jìn)行轉(zhuǎn)換。唯一的缺點(diǎn)是，需要有一個(gè)附加位用于奇偶校驗(yàn)。
在功能模式中，用戶(hù)可以自由地利用固定奇偶校驗(yàn)工作或者不引入奇偶校驗(yàn)工作。在這兩種情況下，在內(nèi)部都用可變奇偶校驗(yàn)工作。為了進(jìn)行一次完整的存儲(chǔ)器測(cè)試，對(duì)于一個(gè)具有n個(gè)存儲(chǔ)器單元的存儲(chǔ)器最多需要(4*n*m+8*n)個(gè)脈沖。由于在這兩種情況下一次完整測(cè)試所需的脈沖數(shù)相同，因此，建議使用固定奇偶校驗(yàn)工作。在這種情況下，對(duì)于在功能運(yùn)行期間出現(xiàn)的隨機(jī)錯(cuò)誤也可以在讀存儲(chǔ)器時(shí)立即識(shí)別出。
為了更好的理解，在說(shuō)明書(shū)中考察了一個(gè)同步靜態(tài)的、單向存儲(chǔ)器。但是，原則上這里描述的方法也可以用于進(jìn)行了相應(yīng)修改的任意存儲(chǔ)器類(lèi)型。這樣，通過(guò)在輸入、輸出端的、脈沖控制的、向存儲(chǔ)器提供數(shù)據(jù)(地址、數(shù)據(jù)和控制信號(hào))的小的附加邏輯電路，可使異步存儲(chǔ)器象同步存儲(chǔ)器一樣運(yùn)行。在動(dòng)態(tài)存儲(chǔ)器中必須注意，要考慮在存儲(chǔ)器測(cè)試期間的刷新周期。通過(guò)在數(shù)據(jù)端口添加輸入端或輸出端鎖存器可使雙向存儲(chǔ)器象單向存儲(chǔ)器一樣運(yùn)行。對(duì)多端口存儲(chǔ)器也可以用同一方法測(cè)試，其中，存儲(chǔ)器測(cè)試只對(duì)各存儲(chǔ)器端口或逐個(gè)地對(duì)每個(gè)存儲(chǔ)器端口進(jìn)行。所有提到的存儲(chǔ)器都可以實(shí)現(xiàn)為ASIC(＝特定用途集成電路)或者作為這樣的電路的一部分。
總之，本發(fā)明涉及一種用于測(cè)試和/或運(yùn)行存儲(chǔ)器的方法和裝置，其在運(yùn)行期間可以對(duì)半導(dǎo)體存儲(chǔ)器進(jìn)行省時(shí)的測(cè)試。在用于測(cè)試具有存儲(chǔ)器單元1的存儲(chǔ)器2的方法中，根據(jù)為存儲(chǔ)器單元1配置的可變參數(shù)和各存儲(chǔ)器單元1的內(nèi)容，為各存儲(chǔ)器單元1形成第一檢查信息。
權(quán)利要求
1.一種用于運(yùn)行和/或測(cè)試具有存儲(chǔ)器單元(1)的存儲(chǔ)器(2)的方法，其中，根據(jù)為各存儲(chǔ)器單元(1)配置的可變參數(shù)和各存儲(chǔ)器單元(1)的內(nèi)容，為該存儲(chǔ)器單元(1)分別形成第一檢查信息。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在一個(gè)或多個(gè)測(cè)試循環(huán)中，-在第一階段中-分別讀出存儲(chǔ)器單元(1)的內(nèi)容，-根據(jù)為各存儲(chǔ)器單元(1)配置的可變參數(shù)和各存儲(chǔ)器單元(1)在第一階段讀出的內(nèi)容，為所述存儲(chǔ)器單元(1)分別形成第一檢查信息，-將該在第一階段讀出的內(nèi)容分別擴(kuò)展該第一檢查信息后再寫(xiě)入存儲(chǔ)器單元(1)，以及-在第二階段中，識(shí)別尋址過(guò)程中的錯(cuò)誤，其中，讀取存儲(chǔ)器單元(1)的內(nèi)容，從該第二階段讀取的內(nèi)容中在引入所述可變參數(shù)的條件下形成第二檢查信息，并將該第二檢查信息與在第一階段為各存儲(chǔ)器單元(1)形成的第一檢查信息進(jìn)行比較。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，在一基本測(cè)試的基本測(cè)試循環(huán)結(jié)束時(shí)，分別用所述第一階段讀出的內(nèi)容寫(xiě)所述存儲(chǔ)器單元(1)。
4.如權(quán)利要求2或3所述的方法，其特征在于，在所述第一階段，為識(shí)別寫(xiě)入、讀取和存儲(chǔ)過(guò)程中的錯(cuò)誤而寫(xiě)入和讀取存儲(chǔ)器單元(1)。
5.如上述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，為了測(cè)試具有存儲(chǔ)器單元(1)的存儲(chǔ)器(2)，在至少兩個(gè)不同的組件單元上分別形成訪問(wèn)數(shù)據(jù)的簽名(5)，并將所形成的簽名(5)相互比較以識(shí)別錯(cuò)誤。
6.如上述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述方法用于識(shí)別耦合錯(cuò)誤，其中，通過(guò)一個(gè)或多個(gè)存儲(chǔ)器單元(1)與一個(gè)存儲(chǔ)器地址的錯(cuò)誤對(duì)應(yīng)來(lái)標(biāo)識(shí)一個(gè)耦合錯(cuò)誤。
7.如上述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述為一個(gè)存儲(chǔ)器單元(1)配置的可變參數(shù)構(gòu)成可變奇偶校驗(yàn)(VP)。
8.如上述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，測(cè)試循環(huán)數(shù)與二進(jìn)制表示的存儲(chǔ)器地址的地址位(7)數(shù)相對(duì)應(yīng)，且在每個(gè)測(cè)試循環(huán)中用另一地址位(7)改變所述可變參數(shù)。
9.如權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，在每個(gè)測(cè)試循環(huán)內(nèi)，分別采用另一地址位(7)作為可變奇偶校驗(yàn)(VP)來(lái)形成所述第一檢查信息。
10.如上述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，在所述測(cè)試循環(huán)的第一階段，對(duì)于所述存儲(chǔ)器(2)的每個(gè)存儲(chǔ)器單元(1)，分別-讀出存儲(chǔ)器單元(1)的原始內(nèi)容，并放入存儲(chǔ)器(2)輸出端的寄存器(8)中，-將讀出的原始內(nèi)容從該寄存器(8)中放入一個(gè)FIFO(9)中，并將該FIFO(9)的第一輸出數(shù)據(jù)寫(xiě)入存儲(chǔ)器單元(1)中，-再次讀取存儲(chǔ)器單元(1)的內(nèi)容，放入存儲(chǔ)器(2)輸出端的寄存器(8)中，并與該FIFO(9)的第一輸出數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，-將讀出的內(nèi)容從該寄存器(8)放入FIFO(9)中，并將該FIFO(9)的第二輸出數(shù)據(jù)寫(xiě)入該存儲(chǔ)器單元(1)中，-再次讀取該存儲(chǔ)器單元(1)的內(nèi)容，放入存儲(chǔ)器(2)輸出端的寄存器(8)中，并與該第二輸出數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，-將讀出的內(nèi)容從該寄存器(8)放入FIFO(9)中，并將原始內(nèi)容從該FIFO(9)寫(xiě)入該存儲(chǔ)器單元(1)中。
11.如上述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，在一個(gè)測(cè)試循環(huán)的第一階段，以存儲(chǔ)器地址的升序測(cè)試存儲(chǔ)器單元，在該測(cè)試循環(huán)的第二階段，以存儲(chǔ)器地址的降序測(cè)試存儲(chǔ)器單元。
12.如上述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，在功能運(yùn)行中，在用一存儲(chǔ)器地址讀訪問(wèn)一存儲(chǔ)器單元(1)時(shí)，通過(guò)將各存儲(chǔ)器地址的一個(gè)確定奇偶校驗(yàn)的地址位(10)與各存儲(chǔ)器單元(1)的所述第一檢查信息(63)進(jìn)行異或邏輯運(yùn)算來(lái)形成一個(gè)固定奇偶校驗(yàn)位(69)，在寫(xiě)訪問(wèn)該存儲(chǔ)器單元(1)時(shí)，通過(guò)將該固定奇偶校驗(yàn)位(64)與該確定奇偶校驗(yàn)的地址位(10)進(jìn)行異或邏輯運(yùn)算形成所述第一檢查信息(70)。
13.如上述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述用于測(cè)試存儲(chǔ)器的方法可被設(shè)置在功能運(yùn)行的任意時(shí)間段內(nèi)。
14.如上述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述方法在生產(chǎn)存儲(chǔ)器時(shí)用作內(nèi)置自測(cè)試。
15.一種具有帶存儲(chǔ)單元(1)的存儲(chǔ)器(2)的裝置，其中，根據(jù)為各存儲(chǔ)器單元(1)配置的可變參數(shù)和各存儲(chǔ)單元(1)的內(nèi)容，為各存儲(chǔ)器單元(1)分別配置第一檢查信息。
16.如權(quán)利要求15所述的裝置，其特征在于，所述裝置具有用于讀取存儲(chǔ)器單元(1)內(nèi)容的部件，和用于寫(xiě)入該存儲(chǔ)器單元(1)的部件，其中，還具有根據(jù)為各存儲(chǔ)器單元(1)配置的可變參數(shù)和在一測(cè)試循環(huán)的第一階段讀出的各存儲(chǔ)器單元(1)的內(nèi)容形成第一檢查信息的部件；用于從該測(cè)試循環(huán)的第二階段讀出的內(nèi)容形成第二檢查信息的部件，以及用于比較該第二檢查信息與在第一階段中為各存儲(chǔ)器單元(1)形成的第一檢查信息的部件。
17.如權(quán)利要求15或16所述的裝置，其特征在于，為了測(cè)試具有存儲(chǔ)器單元(1)的存儲(chǔ)器(2)，在至少兩個(gè)不同的組件單元中具有用于形成和比較訪問(wèn)數(shù)據(jù)的簽名(5)的部件。
18.如權(quán)利要求15至17中任一項(xiàng)所述的裝置，其特征在于，所述為存儲(chǔ)器單元(1)配置的可變參數(shù)構(gòu)成可變奇偶校驗(yàn)(VP)。
19.如權(quán)利要求15至18中任一項(xiàng)所述的裝置，其特征在于，所述為存儲(chǔ)器單元(1)配置的可變參數(shù)構(gòu)造為相應(yīng)于二進(jìn)制表示的存儲(chǔ)器地址的一個(gè)地址位(7)。
20.如權(quán)利要求15至19中任一項(xiàng)所述的裝置，其特征在于，為了形成所述第一檢查信息，在每個(gè)測(cè)試循環(huán)內(nèi)分別設(shè)置另一地址位(7)作為可變奇偶校驗(yàn)(VP)。
21.如權(quán)利要求15至20中任一項(xiàng)所述的裝置，其特征在于，所述在存儲(chǔ)器(2)輸出端的寄存器(8)和FIFO(9)用于臨時(shí)存儲(chǔ)所述存儲(chǔ)器單元(1)的內(nèi)容和輸出數(shù)據(jù)。
22.如權(quán)利要求15至21中任一項(xiàng)所述的裝置，其特征在于，其具有第一異或門(mén)(66)，用于在用存儲(chǔ)器地址讀訪問(wèn)存儲(chǔ)器單元(1)時(shí)，通過(guò)將各存儲(chǔ)器地址的一個(gè)確定奇偶校驗(yàn)的地址位(10)與所述各存儲(chǔ)器單元(1)的第一檢查信息(63)進(jìn)行異或邏輯運(yùn)算來(lái)形成一個(gè)固定奇偶校驗(yàn)位(69)；第二異或門(mén)(67)，用于在寫(xiě)訪問(wèn)存儲(chǔ)器單元(1)時(shí)，通過(guò)將該固定奇偶校驗(yàn)位(64)與該確定奇偶校驗(yàn)的地址位(10)進(jìn)行異或邏輯運(yùn)算來(lái)形成所述第一檢查信息(70)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于運(yùn)行和/或測(cè)試存儲(chǔ)器的方法和裝置，其可以在運(yùn)行期間省時(shí)地測(cè)試半導(dǎo)體存儲(chǔ)器。在該用于測(cè)試具有存儲(chǔ)器單元(1)的存儲(chǔ)器(2)的方法中，根據(jù)為各存儲(chǔ)器單元(1)配置的可變參數(shù)和各存儲(chǔ)器單元(1)的內(nèi)容，分別為各存儲(chǔ)器單元(1)形成第一檢查信息。
文檔編號(hào)G11C29/00GK1585987SQ02822437
公開(kāi)日2005年2月23日 申請(qǐng)日期2002年10月30日 優(yōu)先權(quán)日2001年11月12日
發(fā)明者卡馬爾·麥錢(qián)特, 弗蘭克·邁耶 申請(qǐng)人:西門(mén)子公司