專利名稱：用差動相位檢測法產(chǎn)生標(biāo)題標(biāo)記的方法及光盤裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種利用差動相位檢測方法產(chǎn)生標(biāo)題標(biāo)記的方法以及使用該方法的光盤裝置。
如該圖所示，每個凹紋/凸紋軌跡被劃分成數(shù)個區(qū)段(sectors)，使用者的數(shù)據(jù)以錯誤碼糾正塊(error code correction block，ECC block)單元(unit)連續(xù)地被記錄在凹紋/凸紋軌跡上。錯誤碼修正塊由16個區(qū)段構(gòu)成。每個區(qū)段具有預(yù)刻的標(biāo)題字段(header field)，包含第一/第二標(biāo)題字段11、第三/第四標(biāo)題字段12，且分別在輻射方向形成一半軌跡間距(track pitch)的偏移(offset)。每個區(qū)段的標(biāo)題字段具有與DVD-ROM相同的預(yù)刻凹凸的凹坑/凸點(pit/land)結(jié)構(gòu)，且包含互補定位凹坑地址(complementary allocated pit address，CAPA)。而且，如圖1所示，在每一圈凹紋與凸紋交接時(如圖中15的位置)，凹紋(凸紋)的最后一個區(qū)段連接至凸紋(凹紋)的第一個區(qū)段，同時第一/第二標(biāo)題字段11與第三/第四標(biāo)題字段12的極性被改變。
為了讀取DVD-RAM的數(shù)據(jù)，讀取系統(tǒng)必須利用標(biāo)題標(biāo)記與凹紋/凸紋轉(zhuǎn)換標(biāo)記(transition flag)來控制讀取動作。目前，所謂的高頻推挽式循軌方法(high frequency push-pull tracking method)被用來根據(jù)預(yù)刻凹凸的標(biāo)題字段產(chǎn)生標(biāo)題標(biāo)記信號與凹紋/凸紋轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號。圖2顯示循著凹紋與凸紋軌跡下所產(chǎn)生的推挽式CAPA信號，其中圖2(A)與圖2(B)的極性相反。如圖2所示，在不是標(biāo)題字段的位置，推挽式CAPA信號的電平很低，而在標(biāo)題字段的位置時，推挽式CAPA信號的電平會提升，且根據(jù)標(biāo)題字段的極性改變正負(fù)值。
所以，只要利用低通濾波器過濾推挽式CAPA信號，即可產(chǎn)生如圖3(A)與圖3(D)的信號21。并設(shè)定兩個高、低電壓門限值(threshold levels)22、23，即可輕易地獲得標(biāo)題標(biāo)記信號26、31以及凹紋/凸紋轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號24、25。若系統(tǒng)產(chǎn)生凹紋/凸紋轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號的順序為24→25，代表目前是讀取凹紋數(shù)據(jù)，必須對凹紋進行鎖軌。而當(dāng)系統(tǒng)產(chǎn)生凹紋/凸紋轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號的順序為25→24，代表目前是讀取凸紋數(shù)據(jù)，必須對凸紋進行鎖軌。
但是，高頻推挽式循軌信號對于鏡頭偏移(lens shift)相當(dāng)敏感，使得圖3所述的標(biāo)題標(biāo)記信號與凹紋/凸紋轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號的產(chǎn)生方法受到嚴(yán)重影響。圖4顯示因為鏡頭偏移造成低通濾波器過濾的推挽式CAPA信號的變形波形。如該圖所示，由于推挽式CAPA信號的變形，所以無法根據(jù)所設(shè)定的兩個高、低電壓門限值產(chǎn)生凹紋/凸紋轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號24、25。且由于缺少轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號24或轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號25，故無法產(chǎn)生完整的標(biāo)題標(biāo)記信號26、31。此種結(jié)果將造成控制系統(tǒng)無法正確動作。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述問題，本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是，提供一種利用差動相位檢測方法產(chǎn)生標(biāo)題標(biāo)記的方法和使用該方法的裝置。不受鏡頭偏移影響，且正確產(chǎn)生凹紋/凸紋轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號。
本發(fā)明的方法的技術(shù)問題是通過一種利用差動相位檢測方法產(chǎn)生標(biāo)題標(biāo)記的方法解決的。其中，所述方法包含下列步驟設(shè)定第一與第二電壓門限值，其中，所述第一電壓門限值高于該第二電壓門限值；產(chǎn)生相位差信號，即啟動相位檢測功能產(chǎn)生相位差信號；產(chǎn)生轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號，包括第一轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號與第二轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號，即比較所述相位差信號與高、低電壓門限值，當(dāng)該相位差信號大于第一電壓門限值時，第一轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號為H，而當(dāng)該相位差信號小于第二電壓門限值時，第二轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號為H；以及產(chǎn)生標(biāo)題標(biāo)記信號，即根據(jù)所述轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號產(chǎn)生標(biāo)題標(biāo)記信號，當(dāng)所述第一轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號比所述第二轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號較早變?yōu)镠時，則產(chǎn)生第一標(biāo)題標(biāo)記信號，而當(dāng)所述第二轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號比所述第一轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號較早變?yōu)镠時，則產(chǎn)生第二標(biāo)題標(biāo)記信號。
本發(fā)明的裝置的技術(shù)問題是通過一種利用差動相位檢測方法產(chǎn)生標(biāo)題標(biāo)記的光盤裝置解決的，該裝置包含一相位差信號產(chǎn)生單元，用來產(chǎn)生光盤盤循軌方向的相位差信號；一轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號產(chǎn)生單元，當(dāng)所述相位差信號大于第一電壓門限值時，第一轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號為H，而當(dāng)所述相位差信號小于第二電壓門限值時，第二轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號為H，其中，第一電壓門限值高于所述第二電壓門限值；一標(biāo)題標(biāo)記信號產(chǎn)生單元，是根據(jù)所述轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號產(chǎn)生標(biāo)題標(biāo)記信號，當(dāng)所述第一轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號比所述第二轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號較早變?yōu)镠時，則產(chǎn)生第一標(biāo)題標(biāo)記信號，而當(dāng)所述第二轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號比所述第一轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號較早變?yōu)镠時，則產(chǎn)生第二標(biāo)題標(biāo)記信號；以及一伺服控制單元，即根據(jù)所述轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號與標(biāo)題標(biāo)記信號產(chǎn)生控制信號，用以控制該光盤裝置的動作。
使用差動相位檢測方法的優(yōu)點如下一、由于差動相位檢測方法只對預(yù)刻的凹坑/凸點結(jié)構(gòu)產(chǎn)生正確的相位差信號，而對相變化的結(jié)構(gòu)所產(chǎn)生的相位差信號很小，且在DVD-RAM的格式中包含記錄使用者數(shù)據(jù)的相變化區(qū)域以及記錄CAPA的預(yù)刻凹坑/凸點區(qū)域，所以相位差信號可以很清楚地區(qū)分出預(yù)刻凹坑/凸點區(qū)域。
二、由于差動相位檢測方法對鏡頭偏移所產(chǎn)生的影響不大(lesssensitive)，所以不會因為鏡頭偏移而造成相位差信號錯誤。


圖1為DVD-RAM波浪狀的凹紋與凸紋的軌跡結(jié)構(gòu)。
圖2為循著凹紋與凸紋軌跡下所產(chǎn)生的推挽式CAPA信號。
圖3為利用低通濾波器過濾推挽式CAPA信號所產(chǎn)生的相關(guān)信號波形，其中圖(A)、(D)為過濾的CAPA信號、圖(B)、(E)為凹紋/凸紋轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號、以及圖(C)、(F)為標(biāo)題標(biāo)記信號。
圖4為由于鏡頭偏移造成低通濾波器過濾的推挽式CAPA信號的變形波形，其中圖(A)、(D)為過濾的CAPA信號、圖(B)、(E)為凹紋/凸紋轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號、以及圖(C)、(F)為標(biāo)題標(biāo)記信號。
圖5為激光光束在循軌方向經(jīng)過區(qū)段邊界的示意圖。
圖6為激光光束在輻射方向經(jīng)過標(biāo)題字段時相位差信號的變化。
圖7為利用差動相位檢測方法在區(qū)段交接處所產(chǎn)生的相位差信號。
圖8為利用差動相位檢測方法產(chǎn)生數(shù)據(jù)標(biāo)題與變換標(biāo)記的流程圖。
圖9為利用差動相位檢測方法產(chǎn)生數(shù)據(jù)標(biāo)題與變換標(biāo)記的方框圖。
標(biāo)號說明11第一/第二標(biāo)題字段12第三/第四標(biāo)題字段13凹紋軌跡14凸紋軌跡21過濾的CAPA信號24、25凹紋/凸紋轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號26、31標(biāo)題標(biāo)記信號51、511、512、521、522激光光束61、71、72相位差信號具體實施方式
以下參考附圖詳細(xì)說明本發(fā)明利用差動相位檢測方法產(chǎn)生凹紋/凸紋轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號的方法以及使用該方法的裝置。
差動相位檢測方法一般是應(yīng)用在DVD-ROM系統(tǒng)中，用來在光盤盤的循軌方向檢測光學(xué)頭是否對準(zhǔn)軌跡，并用以產(chǎn)生跨軌時的相位差信號。本發(fā)明將差動相位檢測方法應(yīng)用于產(chǎn)生DVD-RAM循軌時的標(biāo)題標(biāo)記信號與產(chǎn)生變換標(biāo)記信號。
以下接著說明本發(fā)明的差動相位檢測方法應(yīng)用于產(chǎn)生DVD-RAM循軌時的標(biāo)題標(biāo)記信號與凹紋/凸紋變換標(biāo)記信號的原理與方法。圖5顯示激光光束在循軌方向經(jīng)過區(qū)段邊界的示意圖，而圖6顯示激光光束在輻射方向經(jīng)過標(biāo)題字段時相位差信號的變化。如圖5所示，當(dāng)激光光束521對準(zhǔn)第一/第二標(biāo)題字段11時，相位差信號61的電平為0(參考圖6)。而當(dāng)激光光束朝著圖5的左邊移動時，相位差信號61的電平則慢慢增加。且當(dāng)激光光束移動到511的位置時，相位差信號61的電平為P1的值，亦即P1為ξ*ΔTp，其中ξ參數(shù)的定義為偏軌量反映到相位差信號的正比系數(shù)，而ΔTp為激光光束521/522與軌跡中心的偏移距離。而激光光束在511的位置剛好為DVD-RAM的軌跡中心。其次，當(dāng)激光光束522對準(zhǔn)第三/第四標(biāo)題字段12時，相位差信號61的電平為0(參考圖6)。而當(dāng)激光光束朝著圖5的右邊移動時，相位差信號61的電平則慢慢降低。且當(dāng)激光光束移動到512的位置時，則相位差信號61的電平為P2的值，亦即P2為-ξ*ΔTp。而激光光束在512的位置剛好為DVD-RAM的軌跡中心。
因此，當(dāng)激光光束51朝著循軌方向D循軌時從相變化區(qū)域13/14進入第一/第二標(biāo)題字段11、第三/第四標(biāo)題字段12、以及進入另一區(qū)段的相變化區(qū)域13/14時，由差動相位檢測方法所產(chǎn)生的相位差信號如圖7所示，其中橫軸為時間，而縱軸為相位差信號的大小。圖7中，信號71為激光光束51經(jīng)過第一/第二標(biāo)題字段11所產(chǎn)生的變換標(biāo)記信號，而信號72為激光光束51經(jīng)過第三/第四標(biāo)題字段12所產(chǎn)生的變換標(biāo)記信號。由于差動相位檢測方法對于相變化區(qū)域的結(jié)構(gòu)所產(chǎn)生的相位差信號很小，所以在圖7的信號中可以很清楚地區(qū)分出標(biāo)題字段。而且，因為鏡頭偏移對相位差信號的影響很小，所以可明確地定義出兩個高、低電壓門限值Vth1與Vth2。
由于可以產(chǎn)生如圖7的信號，系統(tǒng)就可輕易地獲得如圖3所示的凹紋/凸紋轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號24、25以及標(biāo)題標(biāo)記信號26、31。若系統(tǒng)產(chǎn)生凹紋/凸紋轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號的順序為24→25，代表目前是讀取凹紋數(shù)據(jù)，必須對凹紋進行鎖軌。而當(dāng)系統(tǒng)產(chǎn)生凹紋/凸紋轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號的順序為25→24，代表目前是讀取凸紋數(shù)據(jù)，必須對凸紋進行鎖軌。系統(tǒng)取得凹紋/凸紋轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號24、25以及標(biāo)題標(biāo)記信號26、31后，后續(xù)的控制方法與一般的DVD-RAM相同，不再重復(fù)說明。
下面以圖8的流程圖說明本發(fā)明利用差動相位檢測方法產(chǎn)生數(shù)據(jù)標(biāo)題與變換標(biāo)記的方法。
步驟802開始步驟804設(shè)定高、低電壓門限值Vth1與Vth2。
步驟806讀取相位差信號VDP。利用差動相位檢測方法產(chǎn)生在循軌方向的相位差信號VDP。
步驟808產(chǎn)生凹紋/凸紋轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號CP1與CP2。根據(jù)相位差信號VDP與高、低電壓門限值Vth1與Vth2產(chǎn)生凹紋/凸紋轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號，亦即當(dāng)相位差信號VDP大于高電壓門限值Vth1時，第一轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號CP1為H，而當(dāng)相位差信號VDP小于低電壓門限值Vth2時，則第二轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號CP2為H。
步驟810產(chǎn)生標(biāo)題標(biāo)記信號。根據(jù)凹紋/凸紋轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號CP1與CP2產(chǎn)生標(biāo)題標(biāo)記信號，亦即當(dāng)凹紋/凸紋轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號CP1與CP2出現(xiàn)的順序為CP1、CP2時，則產(chǎn)生標(biāo)題標(biāo)記信號26，當(dāng)凹紋/凸紋轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號CP1與CP2出現(xiàn)的順序為CP2、CP1時，則產(chǎn)生標(biāo)題標(biāo)記信號31。
步驟812產(chǎn)生控制信號。根據(jù)凹絞/凸紋轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號CP1與CP2以及標(biāo)題標(biāo)記信號來控制讀取以及鎖軌動作。亦即，當(dāng)轉(zhuǎn)換標(biāo)記CP1先為H，之后轉(zhuǎn)換標(biāo)記CP2再為H時，則表示目前是讀取凹紋數(shù)據(jù)，故控制系統(tǒng)對凹紋進行鎖軌動作；反之則控制系統(tǒng)對凸紋進行鎖軌動作。
本發(fā)明是利用差動相位檢測方法產(chǎn)生在循軌方向的相位差信號，并與高、低電壓門限值比較后，產(chǎn)生凹紋/凸紋轉(zhuǎn)換標(biāo)記。產(chǎn)生這些凹紋/凸紋轉(zhuǎn)換標(biāo)記后，后續(xù)的動作方式與公知的控制系統(tǒng)相同，故不再重復(fù)說明。
另外，圖9顯示本發(fā)明利用差動相位檢測方法產(chǎn)生數(shù)據(jù)標(biāo)題與變換標(biāo)記的光盤控制裝置的方塊圖。如該圖所示，光盤控制裝置90利用相位差信號產(chǎn)生單元93接收光學(xué)頭92的信號后，產(chǎn)生相位差信號VDP。轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號產(chǎn)生單元94即比較相位差信號VDP與高、低電壓門限值Vth1與Vth2，并產(chǎn)生凹絞/凸紋轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號。亦即當(dāng)相位差信號VDP大于高電壓門限值Vth1時，則第一轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號CP1為H，而當(dāng)相位差信號VDP小于低電壓門限值Vth2時，第二轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號CP2為H。之后，標(biāo)題標(biāo)記信號產(chǎn)生單元95根據(jù)凹紋/凸紋轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號CP1與CP2產(chǎn)生標(biāo)題標(biāo)記信號。亦即當(dāng)凹紋/凸紋轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號CP1與CP2出現(xiàn)的順序為CP1、CP2時，則產(chǎn)生標(biāo)題標(biāo)記信號26，當(dāng)凹紋/凸紋轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號CP1與CP2出現(xiàn)的順序為CP2、CP1時，則產(chǎn)生標(biāo)題標(biāo)記信號31。伺服控制單元96即根據(jù)凹紋/凸紋轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號CP1與CP2及標(biāo)題標(biāo)記信號26、31產(chǎn)生適當(dāng)?shù)目刂菩盘柨刂奇i軌動作以及其他相關(guān)動作。
以上雖以實施方式說明本發(fā)明，但并不因此限定本發(fā)明的范圍，只要不脫離本發(fā)明的要旨，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可進行各種變形或變更。
權(quán)利要求
1.一種利用差動相位檢測方法產(chǎn)生標(biāo)題標(biāo)記的方法，其包含下列步驟設(shè)定第一與第二電壓門限值，其中，所述第一電壓門限值高于該第二電壓門限值；產(chǎn)生相位差信號，即啟動相位檢測功能產(chǎn)生相位差信號；產(chǎn)生轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號，包括第一轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號與第二轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號，即比較所述相位差信號與高、低電壓門限值，當(dāng)該相位差信號大于第一電壓門限值時，第一轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號為H，而當(dāng)該相位差信號小于第二電壓門限值時，第二轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號為H；以及產(chǎn)生標(biāo)題標(biāo)記信號，即根據(jù)所述轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號產(chǎn)生標(biāo)題標(biāo)記信號，當(dāng)所述第一轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號比所述第二轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號較早變?yōu)镠時，則產(chǎn)生第一標(biāo)題標(biāo)記信號，而當(dāng)所述第二轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號比所述第一轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號較早變?yōu)镠時，則產(chǎn)生第二標(biāo)題標(biāo)記信號。
2.一種利用差動相位檢測方法產(chǎn)生標(biāo)題標(biāo)記的光盤裝置，其包含一相位差信號產(chǎn)生單元，用來產(chǎn)生光盤盤循軌方向的相位差信號；一轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號產(chǎn)生單元，當(dāng)所述相位差信號大于第一電壓門限值時，第一轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號為H，而當(dāng)所述相位差信號小于第二電壓門限值時，第二轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號為H，其中，第一電壓門限值高于所述第二電壓門限值；一標(biāo)題標(biāo)記信號產(chǎn)生單元，是根據(jù)所述轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號產(chǎn)生標(biāo)題標(biāo)記信號，當(dāng)所述第一轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號比所述第二轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號較早變?yōu)镠時，則產(chǎn)生第一標(biāo)題標(biāo)記信號，而當(dāng)所述第二轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號比所述第一轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號較早變?yōu)镠時，則產(chǎn)生第二標(biāo)題標(biāo)記信號；以及一伺服控制單元，即根據(jù)所述轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號與標(biāo)題標(biāo)記信號產(chǎn)生控制信號，用以控制該光盤裝置的動作。
全文摘要
公開了一種利用差動相位檢測方法產(chǎn)生標(biāo)題標(biāo)記的方法與使用該方法的光盤裝置。該方法包含下列步驟設(shè)定第一與第二電壓門限值；產(chǎn)生相位差信號，即啟動相位檢測功能產(chǎn)生相位差信號；產(chǎn)生轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號，包括第一轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號和第二轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號，即比較相位差信號與高、低電壓門限值，當(dāng)相位差信號大于第一電壓門限值時，第一轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號為H，而當(dāng)相位差信號小于第二電壓門限值時，第二轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號為H；以及產(chǎn)生標(biāo)題標(biāo)記信號，即根據(jù)轉(zhuǎn)換標(biāo)記信號產(chǎn)生標(biāo)題標(biāo)記信號。
文檔編號G11B21/10GK1479282SQ0214187
公開日2004年3月3日 申請日期2002年8月27日 優(yōu)先權(quán)日2002年8月27日
發(fā)明者汪盈宗, 陳建銘 申請人:聯(lián)發(fā)科技股份有限公司