專利名稱：光盤機(jī)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一邊校正光盤和光盤驅(qū)動(dòng)器所具有的偏心，一邊記錄/再生信息的光盤機(jī)裝置。
背景技術(shù)：
光盤有一定程度的偏心，對(duì)于有偏心的光盤，若僅依靠跟蹤控制來進(jìn)行伺服控制，則對(duì)跟蹤控制的負(fù)擔(dān)增大，對(duì)錄放信號(hào)產(chǎn)生不良影響，或者可能超過跟蹤能力，無法跟蹤。
過去，關(guān)于進(jìn)行偏心校正的光盤機(jī)，已知的專利有特開昭63-271734號(hào)公報(bào)。
圖11是表示該過去的光盤機(jī)的構(gòu)成的方框圖。
在圖11中，光盤機(jī)具有光學(xué)頭2、移動(dòng)裝置3、對(duì)控制信號(hào)、數(shù)據(jù)等再生信號(hào)進(jìn)行放大的放大裝置4、存儲(chǔ)裝置5、控制放大裝置6、對(duì)相當(dāng)于光盤1旋轉(zhuǎn)一圈的跟蹤(軌跡)地址、扇區(qū)地址等信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)所用的讀出裝置8、加法裝置9，對(duì)加法裝置9輸出的偏移量的總量是否超過了設(shè)定水平11進(jìn)行判斷所用的比較器10、以及主軸馬達(dá)21。該光盤機(jī)用于在光盤1上記錄信息，或者從光盤1中再生信息。
以下說明上述結(jié)構(gòu)的過去的光盤機(jī)的動(dòng)作。
首先，從光學(xué)頭2射出的光束在光盤1上反射，然后由光學(xué)頭2接受該光束，將其輸入到放大裝置4中。接著，放大裝置4在檢測(cè)出跟蹤誤差信號(hào)(以下簡(jiǎn)稱TE信號(hào))后，使該TE信號(hào)通過低通濾波器，把相當(dāng)于光盤1的偏心量的TE信號(hào)的低頻成分抽出來。然后，把光盤1的旋轉(zhuǎn)1圈的低頻成分量作為偏心量存儲(chǔ)在存儲(chǔ)裝置5內(nèi)。并且，根據(jù)光盤1的旋轉(zhuǎn)位置從存儲(chǔ)裝置5中讀出偏心量，把該偏心量加到控制放大電路6內(nèi)后，輸入到移動(dòng)裝置3內(nèi)，向抑制偏心量的方向上控制移動(dòng)裝置3。
再者，光盤機(jī)在因光盤1在旋轉(zhuǎn)方向滑動(dòng)而使加在移動(dòng)裝置3上的信號(hào)和實(shí)際偏心量的相位產(chǎn)生偏差的情況下，求出從光盤1中讀出的地址信息等和標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)的偏移量，由加法裝置9對(duì)該偏移量進(jìn)行累計(jì)，由比較器10來對(duì)該結(jié)果和設(shè)定水平11進(jìn)行比較。并且，在超過設(shè)定水平11的情況下，再次重新測(cè)量偏心量，將其存儲(chǔ)到存儲(chǔ)裝置5內(nèi)，以便對(duì)光盤1的滑動(dòng)采取措施。
在上述過去的光盤機(jī)中，為了檢測(cè)光盤旋轉(zhuǎn)方向的滑動(dòng)，采用從光盤中讀出的地址信息等。但是，存在的問題是在產(chǎn)生滑動(dòng)，進(jìn)行偏心校正而不影響跟蹤控制的情況下，地址信息等的讀出率下降，得不到進(jìn)行滑動(dòng)檢測(cè)的正確定時(shí)。
再者，地址信息只能在進(jìn)行跟蹤伺服正確讀出數(shù)據(jù)之后才能利用，所以，也還存在這樣的問題，即在剛查找之后等，尚不能正確讀出數(shù)據(jù)的狀態(tài)下，不能確認(rèn)已存儲(chǔ)的偏心量和實(shí)際的光盤偏心量之間是否產(chǎn)生了偏差。
因此，要求利用不是基于地址信息等光盤上所記錄的信息的光盤滑動(dòng)檢測(cè)方法來進(jìn)行偏心校正和重新測(cè)量校正。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明正是為了解決上述問題而提出的，其目的在于提供一種根據(jù)跟蹤誤差信號(hào)等信息來檢測(cè)光盤的滑動(dòng)，進(jìn)行偏心量的重新測(cè)量，對(duì)偏心進(jìn)行校正的光盤機(jī)。
為了解決上述問題，本發(fā)明第一方面所述的光盤機(jī)，是利用光學(xué)傳感器把光點(diǎn)照射到光盤上，以便把信息記錄到光盤上，或者從光盤上再生信息，其特征在于具有誤差信號(hào)生成裝置，其生成誤差信號(hào)，用于使上述光學(xué)傳感器跟蹤上述光盤上的軌跡；偏心量檢測(cè)裝置，其檢測(cè)上述光盤的偏心量；存儲(chǔ)裝置，其存儲(chǔ)上述偏心量檢測(cè)裝置所檢測(cè)出的偏心量；以及控制裝置，其進(jìn)行控制，使得在上述誤差信號(hào)生成裝置的輸出值達(dá)到規(guī)定的設(shè)定值以上時(shí)，對(duì)上述存儲(chǔ)裝置內(nèi)所存儲(chǔ)的偏心量進(jìn)行校正。
本發(fā)明第二方面所述的光盤機(jī)，是利用光學(xué)傳感器把光點(diǎn)照射到光盤上，以便把信息記錄到光盤上，或者從光盤上再生信息，其特征在于具有誤差信號(hào)生成裝置，其生成誤差信號(hào)，用于使上述光學(xué)傳感器跟蹤上述光盤上的軌跡；偏心量檢測(cè)裝置，其檢測(cè)上述光盤的偏心量；存儲(chǔ)裝置，其存儲(chǔ)上述偏心量檢測(cè)裝置所檢測(cè)出的偏心量；比較電路，用于把上述存儲(chǔ)裝置所輸出的上述偏心量與規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較；以及控制裝置，其進(jìn)行控制，在上述比較電路中檢測(cè)出了上述偏心量超過上述規(guī)定值的標(biāo)準(zhǔn)值的情況下，對(duì)存儲(chǔ)在上述存儲(chǔ)裝置內(nèi)的偏心量進(jìn)行校正。
本發(fā)明第三方面所述的光盤機(jī)，是利用光學(xué)傳感器把光點(diǎn)照射到光盤上，以便把信息記錄到光盤上，或者從光盤上再生信息，其特征在于具有誤差信號(hào)生成裝置，其生成誤差信號(hào)，用于使上述光學(xué)傳感器跟蹤上述光盤上的軌跡；偏心量檢測(cè)裝置，其檢測(cè)上述光盤的偏心量；存儲(chǔ)裝置，其存儲(chǔ)上述偏心量檢測(cè)裝置所檢測(cè)出的偏心量；相位差檢測(cè)裝置，其檢測(cè)上述偏心量檢測(cè)裝置所輸出的偏心量和上述存儲(chǔ)裝置所輸出的偏心量的相位差；以及控制裝置，其進(jìn)行控制，當(dāng)上述相位差檢測(cè)裝置的輸出值超過規(guī)定的設(shè)定值時(shí)，對(duì)存儲(chǔ)在上述存儲(chǔ)裝置內(nèi)的偏心量進(jìn)行校正。
本發(fā)明第四方面所述的光盤機(jī)，是利用光學(xué)傳感器把光點(diǎn)照射到光盤上，以便把信息記錄到光盤上，或者從光盤上再生信息，其特征在于具有誤差信號(hào)生成裝置，其生成誤差信號(hào)，用于使上述光學(xué)傳感器跟蹤上述光盤上的軌跡；
旋轉(zhuǎn)位置檢測(cè)裝置，其根據(jù)使上述光盤旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)裝置的旋轉(zhuǎn)位置來輸出信號(hào)；偏心量檢測(cè)裝置，其檢測(cè)上述光盤的偏心量；存儲(chǔ)裝置，其存儲(chǔ)上述偏心量檢測(cè)裝置所檢測(cè)出的偏心量；以及控制裝置，其進(jìn)行控制，使得在上述誤差信號(hào)生成裝置的輸出值達(dá)到一定的設(shè)定值以上時(shí)，對(duì)上述存儲(chǔ)裝置內(nèi)所存儲(chǔ)的偏心量進(jìn)行校正。
相位差檢測(cè)裝置，其檢測(cè)上述旋轉(zhuǎn)位置檢測(cè)裝置所輸出的位置信息和上述存儲(chǔ)裝置所輸出的偏心量的相位差；以及控制裝置，其進(jìn)行控制，當(dāng)相位差檢測(cè)裝置的輸出值超過規(guī)定的設(shè)定值時(shí)，對(duì)存儲(chǔ)在上述存儲(chǔ)裝置內(nèi)的偏心量進(jìn)行校正。
本發(fā)明第五方面所述的光盤機(jī)，其特征在于在第三或第四方面所述的光盤機(jī)中，由上述控制裝置進(jìn)行控制，在上述相位差檢測(cè)裝置的輸出值，超過規(guī)定的設(shè)定值的情況下，根據(jù)上述相位差檢測(cè)裝置所檢測(cè)出的相位差來更改上述存儲(chǔ)裝置輸出偏心校正量的定時(shí)。
本發(fā)明第六方面所述的光盤機(jī)，其特征在于在第三或第四方面所述的光盤機(jī)中，由上述控制裝置進(jìn)行控制，在上述相位差檢測(cè)裝置的輸出值超過規(guī)定的設(shè)定值的情況下，由上述存儲(chǔ)裝置重新存儲(chǔ)上述光盤偏心量。
本發(fā)明第七方面所述的光盤機(jī)，其特征在于在第二～第四方面中的任一所述的光盤機(jī)中，由上述控制裝置進(jìn)行控制，僅在上述誤差信號(hào)生成裝置的輸出值也超過規(guī)定的設(shè)定值的情況下，才對(duì)存儲(chǔ)在上述存儲(chǔ)裝置內(nèi)的偏心量進(jìn)行校正控制。
本發(fā)明第八方面所述的光盤機(jī)，其特征在于在第一～第四方面中的任一所述的光盤機(jī)中，具有一種最小值檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)上述誤差信號(hào)生成裝置的輸出的最小值是否超過了規(guī)定值并且其時(shí)間也已超過一定值，上述控制裝置僅在上述最小值檢測(cè)裝置檢測(cè)出了上述誤差信號(hào)生成裝置的輸出最小值超過了規(guī)定值并且持續(xù)一定時(shí)間以上的情況下，對(duì)存儲(chǔ)在上述存儲(chǔ)裝置內(nèi)的偏心量進(jìn)行校正控制。
本發(fā)明第九方面所述的光盤機(jī)，其特征在于在第一～第四方面中的任一所述的光盤機(jī)中，還具有一種檢測(cè)上述光盤上的傷痕的傷痕檢測(cè)電路，由上述控制裝置進(jìn)行控制，在上述傷痕檢測(cè)電路檢測(cè)出了傷痕時(shí)，不對(duì)存儲(chǔ)在上述存儲(chǔ)裝置內(nèi)的偏心量進(jìn)行校正。


圖1是表示與本發(fā)明第1實(shí)施例有關(guān)的光盤機(jī)的構(gòu)成的方框圖。
圖2是為說明與本發(fā)明第1實(shí)施例有關(guān)的光盤機(jī)的動(dòng)作的定時(shí)圖。
圖3是表示與本發(fā)明第2實(shí)施例有關(guān)的光盤機(jī)的構(gòu)成的方框圖。
圖4是說明與本發(fā)明第2實(shí)施例有關(guān)的光盤機(jī)的動(dòng)作的定時(shí)圖。
圖5是表示與本發(fā)明第3實(shí)施例有關(guān)的光盤機(jī)的構(gòu)成的方框圖。
圖6是說明與本發(fā)明第3實(shí)施例、第4實(shí)施例有關(guān)的光盤機(jī)的動(dòng)作的定時(shí)圖。
圖7是表示與本發(fā)明第4實(shí)施例有關(guān)的光盤機(jī)的構(gòu)成的方框圖。
圖8是表示與本發(fā)明第5實(shí)施例有關(guān)的光盤機(jī)的構(gòu)成方框圖。
圖9是說明與本發(fā)明第5實(shí)施例、第6實(shí)施例有關(guān)的光盤機(jī)的動(dòng)作的定時(shí)圖。
圖10是表示與本發(fā)明第6實(shí)施例有關(guān)的光盤機(jī)的構(gòu)成的方框圖。
圖11是表示過去的光盤機(jī)的構(gòu)成的方框圖。
具體實(shí)施例方式以下參照?qǐng)D1和圖2，詳細(xì)說明本發(fā)明的第1實(shí)施例。
圖1是表示本發(fā)明第1實(shí)施例的光盤機(jī)的構(gòu)成的方框圖。
在圖1中，光盤機(jī)具有光學(xué)頭2、移動(dòng)裝置3、對(duì)控制信號(hào)、數(shù)據(jù)等再生信號(hào)進(jìn)行放大的放大裝置(誤差信號(hào)生成裝置)4、存儲(chǔ)裝置5，控制放大電路6、對(duì)相當(dāng)于光盤旋轉(zhuǎn)一圈的軌跡地址、扇區(qū)地址等信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)的讀出裝置8、用于檢測(cè)TE信號(hào)最小值超過設(shè)定值已達(dá)一定時(shí)間以上的最小值檢測(cè)裝置20，對(duì)最小值檢測(cè)裝置20的輸出是否超過了設(shè)定電平11進(jìn)行判斷的比較器10、以及主軸馬達(dá)21，在光盤1上記錄信息，或者從光盤1中再生信息。
以下說明由上述方法構(gòu)成的第1實(shí)施例的光盤機(jī)的動(dòng)作。
光盤機(jī)，首先利用主軸馬達(dá)21使光盤1旋轉(zhuǎn)后，從光學(xué)頭2把激光照射到光盤1上，然后，根據(jù)從光盤1來的反射光，利用無圖示的聚焦伺服控制系統(tǒng)進(jìn)行聚焦控制，使光學(xué)頭2到光盤面的距離保持一定。開始聚焦控制后，為了使光學(xué)頭2跟蹤光盤1上的軌跡，在進(jìn)行聚焦控制的同時(shí)根據(jù)從光盤1來的反射光進(jìn)行跟蹤控制。跟蹤控制的方法是根據(jù)光學(xué)頭2取得的被檢測(cè)信號(hào)在放大裝置4中生成TE信號(hào)，根據(jù)TE信號(hào)來控制光學(xué)頭2的位置。放大裝置4把檢測(cè)出的TE信號(hào)輸出到讀出裝置8和最小值檢測(cè)裝置20內(nèi)。
光盤機(jī)在開始跟蹤控制之后進(jìn)行偏心校正。接照以下順序偏心量的測(cè)量，按照測(cè)量值的偏心校正的執(zhí)行、光盤的旋轉(zhuǎn)方向的滑動(dòng)檢測(cè)、偏心量的重新測(cè)量、重新測(cè)量后的偏心校正的重新開始的順序，依次說明偏心校正的動(dòng)作。
首先，作為進(jìn)行偏心校正的準(zhǔn)備，對(duì)偏心量進(jìn)行一次測(cè)量。最初的偏心量的測(cè)量是在使主軸馬達(dá)21按一定速度旋轉(zhuǎn)的狀態(tài)下，利用放大裝置4抽出TE信號(hào)的低頻成份，取得與偏心量相對(duì)應(yīng)的偏差。放大裝置4把檢測(cè)出的偏心量輸出到存儲(chǔ)裝置5內(nèi)。
由放大裝置4檢測(cè)出并被輸入到存儲(chǔ)裝置5內(nèi)的上述偏心量，根據(jù)無圖示的控制裝置所輸出的控制指令7，在存儲(chǔ)裝置5中按照對(duì)主軸馬達(dá)21旋轉(zhuǎn)一圈的時(shí)間進(jìn)行N等分后的每個(gè)時(shí)間進(jìn)行存儲(chǔ)。把偏心量送入該存儲(chǔ)裝置5內(nèi)的方法是使主軸馬達(dá)21按一定速度旋轉(zhuǎn)，因?yàn)樾D(zhuǎn)一圈的時(shí)間是已知的，所以，按照把旋轉(zhuǎn)一圈所需的時(shí)間進(jìn)行N等分后的每個(gè)時(shí)間，根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)時(shí)鐘把偏心量送入。
然后，進(jìn)行偏心校正。偏心校正是在進(jìn)行測(cè)量之后，為了進(jìn)行偏心校正，根據(jù)存儲(chǔ)在存儲(chǔ)裝置5內(nèi)的偏心成分，在抵消偏心成分的方向上驅(qū)動(dòng)移動(dòng)裝置3，抑制偏心成分對(duì)光學(xué)頭2的影響。而且，從存儲(chǔ)裝置5中讀出偏心量，和測(cè)量時(shí)一樣，按照對(duì)主軸馬達(dá)21旋轉(zhuǎn)一圈所需要的時(shí)間進(jìn)行N等分后的每個(gè)時(shí)間，根據(jù)與測(cè)量時(shí)相同的標(biāo)準(zhǔn)時(shí)鐘，進(jìn)行讀出。
光盤1的旋轉(zhuǎn)方向的滑動(dòng)檢測(cè)在偏心校正過程中進(jìn)行。首先，由最小值檢測(cè)裝置20輸入由放大裝置4輸出的TE信號(hào)，檢測(cè)TE信號(hào)的最小值是否已持續(xù)了一定時(shí)間以上。即檢測(cè)一定時(shí)間內(nèi)的TE信號(hào)的最小值。被檢測(cè)出的最小值被輸出到比較器10內(nèi)。比較器10對(duì)該被檢測(cè)出的最小值和預(yù)先設(shè)定的電平11進(jìn)行比較，在被檢測(cè)出的最小值大于設(shè)定電平11的情況下，判斷為光盤1在旋轉(zhuǎn)方向上不能正確地進(jìn)行偏心校正。并且，比較器10通過無圖示的控制裝置而輸出控制指令7，以便根據(jù)上述判斷重新在存儲(chǔ)裝置5內(nèi)進(jìn)行存儲(chǔ)。
光盤1的滑動(dòng)檢測(cè)后的偏心量的重新測(cè)量是在檢測(cè)出了光盤1的滑動(dòng)時(shí)，根據(jù)無圖示的控制裝置所輸出的控制指令7來進(jìn)行。并且，存儲(chǔ)裝置5根據(jù)控制指令7來存儲(chǔ)重新測(cè)量的偏心量。重新測(cè)量偏心量時(shí)，要中斷移動(dòng)裝置3根據(jù)存儲(chǔ)在存儲(chǔ)裝置5內(nèi)的偏心量而進(jìn)行驅(qū)動(dòng)。這是為了防止由于進(jìn)行偏心校正而不能檢測(cè)出實(shí)際的偏心量。
把光盤1旋轉(zhuǎn)一圈的偏心量重新存儲(chǔ)到存儲(chǔ)裝置5內(nèi)的方法和加快旋轉(zhuǎn)時(shí)的方法相同。在把新的偏心量存儲(chǔ)到存儲(chǔ)裝置5內(nèi)之后，根據(jù)存儲(chǔ)在存儲(chǔ)裝置5內(nèi)的新的偏心量，重新開始移動(dòng)裝置3的驅(qū)動(dòng)。
而且，在光盤機(jī)中，由于光盤1上的傷痕，例如指紋或劃傷等而使TE信號(hào)增大的情況下，無圖示的傷痕檢測(cè)電路檢測(cè)出這些傷痕，并輸出傷痕檢測(cè)信號(hào)22。所以，在該傷痕檢測(cè)電路輸出傷痕檢測(cè)信號(hào)22的情況下，判斷出TE信號(hào)的失真是由傷痕造成的，進(jìn)行掩蔽，使其不能輸出旨在重新向存儲(chǔ)裝置5內(nèi)存儲(chǔ)的控制指令，限制向存儲(chǔ)裝置5內(nèi)重新進(jìn)行不必要的存儲(chǔ)。
圖2是表示該第1實(shí)施例的光盤機(jī)進(jìn)行偏心量重新測(cè)量的定時(shí)的定時(shí)圖。
圖2中所示的例子是光盤機(jī)檢測(cè)出每一定時(shí)間的TE信號(hào)的最小值，在最小值超過設(shè)定電平11的情況下，輸出控制指令7，以便為重新測(cè)量而進(jìn)行重新存儲(chǔ)。
這樣，在涉及第1實(shí)施例的光盤機(jī)中，利用檢測(cè)跟蹤誤差信號(hào)最小值的最小值檢測(cè)裝置來檢測(cè)光盤的滑動(dòng)，因此，不依賴讀出的地址信息，即可檢測(cè)出光盤的滑動(dòng)，即不讀取光盤上的地址和數(shù)據(jù)，即可進(jìn)行偏心校正，所以，能避免在進(jìn)行偏心校正時(shí)出現(xiàn)跟蹤控制的異常狀態(tài)。并且，通過采用傷痕檢測(cè)電路，能夠?qū)獗P旋轉(zhuǎn)方向的滑動(dòng)和傷痕所造成的影響區(qū)別開來，能限制進(jìn)行不必要的偏心量重新測(cè)量。
而且，上述偏心量的測(cè)量也可以這樣進(jìn)行，即在開始聚焦控制，開始跟蹤控制之前，或者在開始跟蹤控制之后，使光學(xué)頭2移動(dòng)到目的軌跡上之后，使跟蹤控制中斷一次，解除跟蹤伺服，在光盤旋轉(zhuǎn)一圈期間對(duì)光盤各區(qū)間進(jìn)行橫切的軌跡的條數(shù)進(jìn)行測(cè)量。
以下利用圖3和圖4，詳細(xì)說明本發(fā)明的第2實(shí)施例。
圖3是表示涉及第2實(shí)施例的光盤機(jī)的構(gòu)成的方框圖。
如圖3所示，光盤機(jī)具有一種比較器23，其把存儲(chǔ)裝置5所輸出的偏心校正信息的值與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較。涉及第2實(shí)施例的光盤機(jī)的構(gòu)成僅在具有比較器23這一點(diǎn)上不同于第1實(shí)施例的光盤機(jī)的構(gòu)成。所以，有關(guān)其他構(gòu)成部分的說明從略。
以下說明上述構(gòu)成的第2實(shí)施例的光盤機(jī)的動(dòng)作。
主軸馬達(dá)21旋轉(zhuǎn)后，進(jìn)行聚焦控制、跟蹤控制之前的動(dòng)作按照與第1實(shí)施例相同的方法來進(jìn)行。
在開始跟蹤控制之后，進(jìn)行偏心校正。以下說明偏心校正的動(dòng)作，其內(nèi)容依次為偏心量的測(cè)量、根據(jù)測(cè)量值來進(jìn)行偏心校正、光盤1的旋轉(zhuǎn)方向的滑動(dòng)檢測(cè)、偏心量的重新測(cè)量、重新測(cè)量后的偏心校正的重新開始。
最初的偏心量的測(cè)量和偏心校正的進(jìn)行方法的程序與第1實(shí)施例的情況相同，所以，其說明從略。
光盤1的旋轉(zhuǎn)方向的滑動(dòng)檢測(cè)按以下程序進(jìn)行。首先，由最小值檢測(cè)裝置20來檢測(cè)由放大裝置4檢測(cè)出的TE信號(hào)的最小值。然后，由比較器10使其最小值與設(shè)定電平11進(jìn)行比較，在超過設(shè)定電平11的情況下，判斷為光盤1有可能滑動(dòng)。
然后，比較器23輸入一種從存儲(chǔ)裝置5輸出到控制放大電路6內(nèi)的偏心校正量，使其與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較，在輸入的偏心校正量大于標(biāo)準(zhǔn)值的情況下，判斷為光盤1實(shí)際上很可能已滑動(dòng)。
并且，在被輸入到比較器23內(nèi)的偏心校正量大于標(biāo)準(zhǔn)值，而且最小值檢測(cè)裝置20所輸出的TE信號(hào)的最小值大于設(shè)定電平11的情況下，判斷為光盤1滑動(dòng)，不能正確地進(jìn)行偏心校正。
再者，在被輸入到比較器23內(nèi)的偏心校正量小于標(biāo)準(zhǔn)值，即偏心校正量小的區(qū)間內(nèi)，TE信號(hào)的最小值大于設(shè)定電平11的情況下，判斷為由于光盤1滑動(dòng)以外的原因使TE信號(hào)增大，在此情況下，例如判斷為伺服的增益不足，為了采取提高跟蹤伺服增益等其他措施，對(duì)光盤1的滑動(dòng)不進(jìn)行檢測(cè)。
在檢測(cè)出光盤1的滑動(dòng)之后的偏心量的重新測(cè)量根據(jù)旨在重新存儲(chǔ)偏心量的控制指令7來進(jìn)行，該控制指令7是由控制裝置(圖中未示出)根據(jù)上述判斷而輸出的。并且存儲(chǔ)裝置5根據(jù)控制指令7來存儲(chǔ)重新測(cè)量的偏心量。
而且，當(dāng)重新測(cè)量偏心量時(shí)，根據(jù)存儲(chǔ)在存儲(chǔ)裝置5內(nèi)的偏心量而進(jìn)行的移動(dòng)裝置3的驅(qū)動(dòng)被中斷。這是為了防止由于進(jìn)行偏心校正而不能檢測(cè)出實(shí)際的偏心量。光盤1旋轉(zhuǎn)1圈的偏心量重新存入到存儲(chǔ)裝置5內(nèi)的程序與加快速度時(shí)的程序相同。新的偏心量向存儲(chǔ)裝置5內(nèi)的存儲(chǔ)結(jié)束后，根據(jù)存儲(chǔ)在存儲(chǔ)裝置5內(nèi)的偏心量重新開始移動(dòng)裝置3的驅(qū)動(dòng)。
再者，在光盤機(jī)中，由光盤1上的傷痕等而使TE信號(hào)增大時(shí)，無圖示的傷痕檢測(cè)電路檢測(cè)出這些傷痕，輸出傷痕檢測(cè)信號(hào)22。所以，在傷痕檢測(cè)電路輸出傷痕檢測(cè)信號(hào)22的情況下，判斷為TE信號(hào)的失真是由傷痕造成的，對(duì)其進(jìn)行掩蔽，即使在滿足上述條件的情況下也不輸出旨在重新向存儲(chǔ)裝置5內(nèi)存儲(chǔ)的控制指令7，限制不需要的向存儲(chǔ)裝置5內(nèi)的重新存儲(chǔ)。
圖4是表示第2實(shí)施例的光盤機(jī)重新測(cè)量偏心量的定時(shí)的定時(shí)圖。
圖4的區(qū)間A和B表示由放大裝置4檢測(cè)出的TE信號(hào)的最小值超過設(shè)定電平11的情況。區(qū)間A表示，由比較器23進(jìn)行比較的偏心校正量小于標(biāo)準(zhǔn)值，因此，不重新測(cè)量偏心量。另一方面，區(qū)間B表示，由比較器23進(jìn)行比較的偏心校正量大于標(biāo)準(zhǔn)值，因此，判斷為已檢測(cè)出光盤1的滑動(dòng)，對(duì)偏心量重新測(cè)量。
這樣，在本第2實(shí)施例的光盤機(jī)中，因?yàn)榫哂凶钚≈禉z測(cè)裝置以及用于對(duì)由存儲(chǔ)裝置輸出的偏心校正量和標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較的比較電路，所以，除了上述第1實(shí)施例的光盤機(jī)所產(chǎn)生的效果外，還能對(duì)光盤機(jī)的旋轉(zhuǎn)方向的滑動(dòng)以及傷痕和其他因素的影響進(jìn)行區(qū)別，不讀出光盤上的地址和數(shù)據(jù)的信息，即可正確校正偏心量。
以下利用圖5，詳細(xì)說明本發(fā)明的第3實(shí)施例。
圖5是表示本第3實(shí)施例的光盤機(jī)的構(gòu)成的方框圖。
如圖5所示，光盤機(jī)具有相位差檢測(cè)裝置31，用于檢測(cè)由偏心量檢測(cè)裝置(放大裝置4)檢測(cè)出的偏心量，以及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)裝置5內(nèi)的偏心量33這二者的相位差。該第3實(shí)施例的光盤機(jī)的構(gòu)成僅在設(shè)有相位差檢測(cè)裝置31這一點(diǎn)上不同于上述第1實(shí)施例的光盤機(jī)。所以，其他部分的說明從略。
以下說明上述構(gòu)成的第3實(shí)施例的光盤機(jī)的動(dòng)作。
主軸馬達(dá)21旋轉(zhuǎn)后，進(jìn)行聚焦控制、跟蹤控制前的動(dòng)作按照與與第1實(shí)施例相同的過程進(jìn)行。
在開始跟蹤控制之后，進(jìn)行偏心校正。現(xiàn)依次說明偏心校正的以下動(dòng)作偏心量測(cè)量、根據(jù)測(cè)量值進(jìn)行的偏心校正、光盤1在旋轉(zhuǎn)方向上的滑動(dòng)檢測(cè)，偏心量的校正，重新開始偏心校正。
最初的偏心量測(cè)量和偏心校正的方法的過程與第1實(shí)施例的情況相同。
光盤1的旋轉(zhuǎn)方向的滑動(dòng)檢測(cè)按以下過程進(jìn)行。首先，按照一定的周期或隨機(jī)的時(shí)間間隔進(jìn)行控制，對(duì)來自存儲(chǔ)裝置5的偏心校正量32的輸出進(jìn)行中斷。然后，在使從存儲(chǔ)裝置5來的偏心校正量32的輸出被中斷的狀態(tài)下，由相位差檢測(cè)裝置31對(duì)存儲(chǔ)裝置5輸出的偏心量33、以及放大裝置4輸出的偏心量進(jìn)行相位比較。并且，進(jìn)行相位比較的結(jié)果，在檢測(cè)出比標(biāo)準(zhǔn)值大的相位差的情況下，判斷為光盤1產(chǎn)生滑動(dòng)。
再者，也可以采用圖中未示出的構(gòu)成，即檢測(cè)出從光盤1讀出的數(shù)據(jù)錯(cuò)誤率(Error Rate)變壞時(shí)，使從存儲(chǔ)裝置5來的偏心校正量32的輸出中斷。
偏心量的校正按以下過程進(jìn)行。首先，相位差檢測(cè)裝置31向存儲(chǔ)裝置5內(nèi)輸出2個(gè)信號(hào)的相位差。然后，為消除該相位差，對(duì)存儲(chǔ)裝置5輸出偏心校正量32的定時(shí)進(jìn)行調(diào)整，以此來對(duì)偏心校正量進(jìn)行校正。也就是說，在相位差增大的情況下，即相位延遲的情況下，使偏心校正量32的輸出定時(shí)提前，以減小相位差；在相位差減小的情況下，相反，使偏心校正量32的輸出定時(shí)延遲。然后，重新開始已中斷的偏心校正。這樣，對(duì)偏心校正量32的輸出定時(shí)進(jìn)行調(diào)整，即可使由于光盤1滑動(dòng)而產(chǎn)生的光盤1偏心和偏心校正的關(guān)系返回到光盤1產(chǎn)生滑動(dòng)之前的狀態(tài)。
圖6是表示第3實(shí)施例的光盤機(jī)重新測(cè)量偏心量的定時(shí)的定時(shí)圖。
圖6的區(qū)間A表示根據(jù)從存儲(chǔ)裝置5中讀出的偏心量來進(jìn)行偏心校正的區(qū)間。在該區(qū)間內(nèi)，放大裝置4的輸出是根據(jù)從存儲(chǔ)裝置5輸出的偏心校正量而進(jìn)行的偏心校正的結(jié)果，以及由于光盤1偏移而使光盤本身所具有的偏心量進(jìn)行合成的結(jié)果的輸出。圖6的區(qū)間B表示停止偏心校正的特定期間。在該停止偏心校正的期間內(nèi)，從放大裝置4中輸出實(shí)際的偏心信息。(圖6的放大裝置4)。相位差檢測(cè)裝置31輸入由該放大裝置4輸出的偏心信息，以及由存儲(chǔ)裝置5按照與區(qū)間A相同的定時(shí)而輸出的偏心量33，對(duì)這兩個(gè)信號(hào)的相位差C進(jìn)行測(cè)量。存儲(chǔ)裝置5輸入由相位差檢測(cè)裝置31輸出的相位差C，按照相位差C的大小進(jìn)行時(shí)間調(diào)整，重新開始偏心校正量32的輸出。這時(shí)，偏心量33也按相同的時(shí)間量來調(diào)整輸出的定時(shí)。
這樣，在第3實(shí)施例體的光盤機(jī)中，設(shè)置一種相位差檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)從偏心量檢測(cè)裝置中檢測(cè)的實(shí)際偏心量、以及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)裝置內(nèi)的偏心量二者的相位差，通過檢測(cè)出光盤的滑動(dòng)，即可根據(jù)上述相位差來調(diào)整從存儲(chǔ)裝置中來的偏心校正量的輸出定時(shí)，不依靠從光盤中讀出的地址和數(shù)據(jù)等信息，而且不重新測(cè)量偏心量，也可進(jìn)行光盤的偏心校正。
而且，在以上的說明中，說明了這樣的例子，即根據(jù)在相位差檢測(cè)裝置31中檢測(cè)出的相位差來調(diào)整從存儲(chǔ)裝置5中來的偏心校正量32的輸出定時(shí)，以此進(jìn)行光盤的偏心校正。在相位差檢測(cè)裝置31所檢測(cè)出的相位差大于標(biāo)準(zhǔn)值的情況下，判斷為光盤1產(chǎn)生滑動(dòng)，由控制裝置(無圖示)向存儲(chǔ)裝置5輸出控制指令7，由存儲(chǔ)裝置5根據(jù)該控制指令7來重新存儲(chǔ)偏心量，這樣，也同樣地可以不依賴從光盤1中讀出的地址和數(shù)據(jù)等信息，而進(jìn)行光盤1的偏心校正。
以下利用圖7和圖6，詳細(xì)說明本發(fā)明的第4實(shí)施例。
圖7是表示第4實(shí)施例的光盤機(jī)的構(gòu)成的方框圖。
在圖7中，第4實(shí)施例的光盤機(jī)的各構(gòu)成部分已在上述第1實(shí)施例和第3實(shí)施例中進(jìn)行了說明，故在此該說明從略。
以下說明上述構(gòu)成的第4實(shí)施例的光盤機(jī)的動(dòng)作。
主軸馬達(dá)21旋轉(zhuǎn)后，進(jìn)行聚焦控制、跟蹤控制之前的動(dòng)作按照和第1實(shí)施例相同的過程來進(jìn)行。
在開始跟蹤控制之后，進(jìn)行偏心校正?，F(xiàn)依次說明偏心校正的以下動(dòng)作偏心量測(cè)量、根據(jù)測(cè)量值進(jìn)行的偏心校正、光盤1在旋轉(zhuǎn)方向上的滑動(dòng)檢測(cè)，偏心量的校正，重新開始偏心校正。
最初的偏心量測(cè)量和偏心校正的方法的過程與第1實(shí)施例的情況相同。
光盤1的旋轉(zhuǎn)方向的滑動(dòng)檢測(cè)按以下過程進(jìn)行。首先，由最小值檢測(cè)裝置20檢測(cè)放大裝置4所檢測(cè)出的TE信號(hào)的最小值。然后，由比較器10來對(duì)該最小值和設(shè)定電平11進(jìn)行比較。在上述最小值超過設(shè)定電平11的情況下，對(duì)來自存儲(chǔ)裝置5的偏心校正量32的輸出進(jìn)行中斷。然后，在使從存儲(chǔ)裝置5來的偏心校正量32的輸出被中斷的狀態(tài)下，由相位差檢測(cè)裝置31對(duì)存儲(chǔ)裝置5輸出的偏心量33、以及放大裝置4輸出的偏心量進(jìn)行相位比較。并且，進(jìn)行相位比較的結(jié)果，在檢測(cè)出比標(biāo)準(zhǔn)值大的相位差的情況下，判斷為光盤1產(chǎn)生滑動(dòng)。
偏心量的校正按下過程進(jìn)行。首先，相位差檢測(cè)裝置31向存儲(chǔ)裝置5內(nèi)輸出2個(gè)信號(hào)的相位差。然后，為消除該相位差對(duì)存儲(chǔ)裝置5輸出偏心校正量32的定時(shí)進(jìn)行調(diào)整，以此來對(duì)偏心校正量進(jìn)行校正。也就是說，在相位差增大的情況下，即相位延遲的情況下，使偏心校正量32的輸出定時(shí)提前，以減小相位差；在相位差減小的情況下，相反，使偏心校正量32的輸出定時(shí)延遲。然后，重新開始已中斷的偏心校正。這樣，對(duì)偏心校正量32的輸出定時(shí)進(jìn)行調(diào)整，即可使由于光盤1滑動(dòng)而產(chǎn)生的光盤1偏心和偏心校正的關(guān)系返回到光盤1產(chǎn)生滑動(dòng)之前的狀態(tài)。
圖6是表示第4實(shí)施例的光盤機(jī)重新測(cè)量偏心量的定時(shí)的定時(shí)圖。
圖6的區(qū)間A表示根據(jù)從存儲(chǔ)裝置5中讀出的偏心量來進(jìn)行偏心校正的區(qū)間。在該區(qū)間內(nèi)，放大裝置4的輸出是根據(jù)從存儲(chǔ)裝置5輸出在控制放大電路6中放大的偏心校正量而進(jìn)行的偏心校正的結(jié)果，以及由于光盤1偏移而使光盤本身所具有的偏心量進(jìn)行合成的結(jié)果的輸出。圖6的區(qū)間B表示TE信號(hào)振幅增大，或者根據(jù)比較器10的指示而停止偏心校正的期間。在該停止偏心校正的期間內(nèi)，從放大裝置4中輸出實(shí)際的偏心信息。(圖6的放大裝置4)。相位差檢測(cè)裝置31輸入由該放大裝置4輸出的偏心信息，以及由存儲(chǔ)裝置5按照與區(qū)間A相同的定時(shí)而輸出的偏心量33，對(duì)這兩個(gè)信號(hào)的相位差C進(jìn)行測(cè)量。存儲(chǔ)裝置5輸入由相位差檢測(cè)裝置31輸出的相位差C，按照相位差C的大小進(jìn)行時(shí)間調(diào)整，重新開始偏心校正量32的輸出。這時(shí)，偏心量33也按相同的時(shí)間量來調(diào)整輸出的定時(shí)。
而且，在光盤機(jī)中，由于光盤1上的傷痕，例如指紋或劃傷等而使TE信號(hào)增大的情況下，無圖示的傷痕檢測(cè)電路檢測(cè)出這些傷痕，并輸出傷痕檢測(cè)信號(hào)22。所以，在該傷痕檢測(cè)電路輸出傷痕檢測(cè)信號(hào)22的情況下，判斷出由于TE信號(hào)的失真而檢測(cè)出的大的相位差是由于傷痕造成的，進(jìn)行掩蔽，使其即使在滿足上述條件的情況下，也不能輸出旨在重新向存儲(chǔ)裝置5內(nèi)存儲(chǔ)的控制指令7，限制向存儲(chǔ)裝置5內(nèi)重新進(jìn)行不必要的存儲(chǔ)。
這樣，在第4實(shí)施例體的光盤機(jī)中，設(shè)置一種用于檢測(cè)TE信號(hào)的最小值的最小值檢測(cè)裝置，并且還設(shè)置一種相位差檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)從偏心量檢測(cè)裝置中檢測(cè)的實(shí)際偏心量、以及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)裝置內(nèi)的偏心量的相位差，能夠更準(zhǔn)確地檢測(cè)出由于光盤安裝不良或灰塵等的影響而造成在主軸馬達(dá)旋轉(zhuǎn)速度改變時(shí)產(chǎn)生的光盤滑動(dòng)，不從光盤中讀出地址和數(shù)據(jù)等，即可進(jìn)行光盤的偏心校正。并且，存儲(chǔ)裝置可根據(jù)上述已檢測(cè)出的相位差來調(diào)整偏心校正量的輸出定時(shí)，不重新測(cè)量偏心量，也可進(jìn)行光盤1的偏心校正。
而且，在以上的說明中，說明了這樣的例子，即根據(jù)在相位差檢測(cè)裝置31中檢測(cè)出的相位差來調(diào)整從存儲(chǔ)裝置5中來的偏心校正量32的輸出定時(shí)，以此進(jìn)行光盤1的偏心校正。在相位差檢測(cè)裝置31所檢測(cè)出的相位差大于標(biāo)準(zhǔn)值的情況下，判斷為光盤1產(chǎn)生滑動(dòng)，由控制裝置(無圖示)向存儲(chǔ)裝置5輸出控制指令7，由存儲(chǔ)裝置5根據(jù)該控制指令7來重新存儲(chǔ)偏心量，這樣，也同樣地可以不依賴從光盤1中讀出的地址和數(shù)據(jù)等信息，能進(jìn)行光盤1的偏心校正。
以下利用圖8和圖9，詳細(xì)說明本發(fā)明的第5實(shí)施例。
圖8是表示本第5實(shí)施例的光盤機(jī)的構(gòu)成的方框圖。
如圖8所示，光盤機(jī)具有根據(jù)主軸馬達(dá)21的旋轉(zhuǎn)位置而輸出脈沖信號(hào)的FG生成裝置40，還具有一種相位差檢測(cè)裝置31，用于檢測(cè)存儲(chǔ)在存儲(chǔ)裝置5內(nèi)的偏心量，以及由FG生成裝置生成的位置信息，這二者的相位差。其他構(gòu)成部分與上述第1實(shí)施例相同，所以，其他部分的說明從略。
以下說明上述構(gòu)成的第5實(shí)施例的光盤機(jī)的動(dòng)作。
主軸馬達(dá)21旋轉(zhuǎn)后，進(jìn)行聚焦控制、跟蹤控制前的動(dòng)作按照與與第1實(shí)施例相同的過程進(jìn)行。
在開始跟蹤控制之后，進(jìn)行偏心校正。現(xiàn)依次說明偏心校正的以下動(dòng)作偏心量測(cè)量、根據(jù)測(cè)量值進(jìn)行的偏心校正、光盤1在旋轉(zhuǎn)方向上的滑動(dòng)檢測(cè)，偏心量的校正，重新開始偏心校正。
最初的偏心量測(cè)量之前的動(dòng)作，按照和第1實(shí)施例一樣的過程進(jìn)行。
光盤1的旋轉(zhuǎn)方向的滑動(dòng)檢測(cè)，按以下過程進(jìn)行。首先，由相位差檢測(cè)裝置31對(duì)存儲(chǔ)裝置5輸出的偏心量33和FG生成裝置40輸出的主軸馬達(dá)21的旋轉(zhuǎn)位置信息進(jìn)行相位比較。該相位比較的方法是利用FG生成裝置40在光盤1每旋轉(zhuǎn)一圈就輸出M次脈沖(FG信號(hào))，光盤1每旋轉(zhuǎn)一圈就測(cè)量一次偏心量33超過設(shè)定值的時(shí)間。并且，在相位差檢測(cè)裝置31中檢測(cè)的相位差超過了規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)值的情況下，判斷為光盤1滑動(dòng)。
偏心量的校正按下過程進(jìn)行。首先，相位差檢測(cè)裝置31向存儲(chǔ)裝置5內(nèi)輸出2個(gè)信號(hào)的相位差。然后，為消除該相位差對(duì)存儲(chǔ)裝置5輸出偏心校正量32的定時(shí)進(jìn)行調(diào)整，也就是說，在相位差增大的情況下，即相位延遲的情況下，使偏心校正量32的輸出定時(shí)提前，以減小相位差；在相位差減小的情況下，相反，使偏心校正量32的輸出定時(shí)延遲。
這樣，對(duì)偏心校正量32的輸出定時(shí)進(jìn)行調(diào)整，即可使由于光盤1滑動(dòng)而產(chǎn)生的光盤1偏心和偏心校正的關(guān)系返回到光盤1產(chǎn)生滑動(dòng)之前的狀態(tài)。
圖9是表示第5實(shí)施例的光盤機(jī)進(jìn)行相位差檢測(cè)的定時(shí)的定時(shí)圖。在圖9中表示的定時(shí)用于對(duì)FG生成裝置40所輸出的FG信號(hào)和存儲(chǔ)裝置5所輸出的偏心量3進(jìn)行相位差檢測(cè)。
這樣，在第5實(shí)施例的光盤機(jī)中，為了檢測(cè)光盤滑動(dòng)，設(shè)置了用于生成FG信號(hào)的FG生成裝置、以及相位差檢測(cè)裝置，后者用于檢測(cè)上述FG信號(hào)和存儲(chǔ)裝置輸出的偏心量的相位差，把FG信號(hào)用作相位比較時(shí)的標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)，因此，能夠在不中斷偏心校正的情況下對(duì)實(shí)際的偏心量和偏心校正量進(jìn)行相位差檢測(cè)。而且，像過去的光盤那樣，不需要讀出地址和數(shù)據(jù)，即可進(jìn)行偏心校正。
而且，在以上的說明中，說明了這樣的例子，即根據(jù)在相位差檢測(cè)裝置31中檢測(cè)出的相位差來調(diào)整從存儲(chǔ)裝置5中來的偏心校正量32的輸出定時(shí)，以此進(jìn)行光盤1的偏心校正。在相位差檢測(cè)裝置31所輸出的相位差大于標(biāo)準(zhǔn)值的情況下，判斷為光盤1產(chǎn)生滑動(dòng)，由控制裝置(無圖示)向存儲(chǔ)裝置5輸出控制指令7，由存儲(chǔ)裝置5根據(jù)該控制指令7來重新存儲(chǔ)偏心量，這樣，也同樣地可以更準(zhǔn)確地檢測(cè)出光盤1的滑動(dòng)。不依賴從光盤1中讀出地址和數(shù)據(jù)等信息，能進(jìn)行光盤1的偏心校正。
以下利用圖10和圖9，詳細(xì)說明本發(fā)明的第6實(shí)施例。
圖10是表示本第6實(shí)施例的光盤機(jī)的構(gòu)成的方框圖。
如圖10所示，光盤機(jī)具有根據(jù)主軸馬達(dá)21的旋轉(zhuǎn)位置而輸出脈沖信號(hào)的FG生成裝置40，還具有一種，相位差檢測(cè)裝置31，用于檢測(cè)存儲(chǔ)在存儲(chǔ)裝置5內(nèi)的偏心量，以及由FG生成裝置生成的位置信息，這二者的相位差。其他構(gòu)成部分與上述第1實(shí)施例相同，所以，其他部分的說明從略。
以下說明上述構(gòu)成的第5實(shí)施例的光盤機(jī)的動(dòng)作。
主軸馬達(dá)21旋轉(zhuǎn)后，進(jìn)行聚焦控制、跟蹤控制前的動(dòng)作按照與第1實(shí)施例相同的過程進(jìn)行。
在開始跟蹤控制之后，進(jìn)行偏心校正。現(xiàn)依次說明偏心校正的以下動(dòng)作偏心量測(cè)量、根據(jù)測(cè)量值進(jìn)行的偏心校正、光盤在旋轉(zhuǎn)方向上的滑動(dòng)檢測(cè)，偏心量的校正，重新開始偏心校正。
測(cè)量最初的偏心量之前的動(dòng)作與第1實(shí)施例的過程相同。
光盤1的旋轉(zhuǎn)方向的滑動(dòng)檢測(cè)按以下過程進(jìn)行。首先，由最小值檢測(cè)裝置20檢測(cè)放大裝置4所檢測(cè)出的TE信號(hào)的一定時(shí)間內(nèi)的最小值。然后，由比較器10來對(duì)該最小值和設(shè)定電平11進(jìn)行比較。在上述最小值超過設(shè)定電平11的情況下，判斷為光盤1可能產(chǎn)生滑動(dòng)。
然后，由相位差檢測(cè)裝置31對(duì)存儲(chǔ)裝置5輸出的偏心量33和FG生成裝置40輸出的主軸馬達(dá)21的旋轉(zhuǎn)位置信息進(jìn)行相位比較。該相位比較的方法是利用FG生成裝置40在光盤1每旋轉(zhuǎn)一圈就輸出M次脈沖(FG信號(hào))，光盤1每旋轉(zhuǎn)一圈就測(cè)量一次偏心量33超過設(shè)定值的時(shí)間。在上述檢測(cè)的相位差超過了規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)值的情況下，判斷為光盤1有可能滑動(dòng)。并且，在比較器10和相位差檢測(cè)裝置31兩者均判斷為光盤1有可能滑動(dòng)時(shí)，可判斷為光盤1已滑動(dòng)。
偏心量的校正按以下過程進(jìn)行。首先，相位差檢測(cè)裝置31向存儲(chǔ)裝置5內(nèi)輸出已檢測(cè)出的相位差。然后，為消除該相位差，對(duì)存儲(chǔ)裝置5輸出偏心校正量32的定時(shí)進(jìn)行調(diào)整，也就是說，在相位差增大的情況下，即相位延遲的情況下，為了減小相位差，使偏心校正量32的輸出定時(shí)提前，以減小相位差；在相位差減小的情況下，相反，使偏心校正量32的輸出定時(shí)延遲。
這樣，對(duì)偏心校正量32的輸出定時(shí)進(jìn)行調(diào)整，即可使由于光盤1滑動(dòng)而產(chǎn)生的光盤1偏心和偏心校正的關(guān)系返回到光盤1產(chǎn)生滑動(dòng)之前的狀態(tài)。
而且，由光盤1上的傷痕例如，指紋和劃傷等而使TE信號(hào)增大時(shí)，無圖示的傷痕檢測(cè)電路檢測(cè)出這些傷痕，輸出的傷痕檢測(cè)信號(hào)22。所以，在傷痕檢測(cè)電路輸出傷痕檢測(cè)信號(hào)22的情況下，判斷為TE信號(hào)的失真是由傷痕造成的，對(duì)其進(jìn)行掩蔽，不輸出旨在重新向存儲(chǔ)裝置5內(nèi)存儲(chǔ)的控制指令7，限制不需要的向存儲(chǔ)裝置5內(nèi)的重新存儲(chǔ)。
圖9是表示與第6實(shí)施例有關(guān)的光盤機(jī)進(jìn)行相位差檢測(cè)定時(shí)的定時(shí)圖。在圖9中，表示對(duì)FG生成裝置40輸出的FG信號(hào)，以及存儲(chǔ)裝置5輸出的偏心量33進(jìn)行相位差檢測(cè)。
這樣，與第6實(shí)施例有關(guān)的光盤機(jī)，由于設(shè)置了用于檢測(cè)TE信號(hào)的最小值的最小值檢測(cè)裝置、用于生成FG信號(hào)的FG生成裝置、以及用于檢測(cè)上述FG信號(hào)和存儲(chǔ)裝置輸出的偏心量的相位差的相位差檢測(cè)裝置，所以，能更準(zhǔn)確地檢測(cè)出光盤的滑動(dòng)，能更準(zhǔn)確地進(jìn)行偏心校正。而且，利用FG信號(hào)作為相位比較時(shí)的標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)，所以，也能在不中斷偏心校正的情況下進(jìn)行實(shí)際偏心量和偏心校正量的相位差檢測(cè)。
而且，在以上的說明中，說明了這樣的例子，即根據(jù)在相位差檢測(cè)裝置31中檢測(cè)出的相位差來調(diào)整從存儲(chǔ)裝置5中來的偏心校正量32的輸出定時(shí)，以此進(jìn)行光盤1的偏心校正。在相位差檢測(cè)裝置31進(jìn)行相位比較的結(jié)果，相位差大于標(biāo)準(zhǔn)值的情況下，判斷為光盤1產(chǎn)生偏移，由控制裝置(無圖示)向存儲(chǔ)裝置5輸出控制指令7，由存儲(chǔ)裝置5根據(jù)該控制指令7來重新存儲(chǔ)偏心量，這樣，也同樣地可以更準(zhǔn)確地檢測(cè)出光盤1的滑動(dòng)，不依賴從光盤1中讀出的地址和數(shù)據(jù)等，能進(jìn)行光盤1的偏心校正。
如上所述，本發(fā)明第一方面所述的光盤機(jī)，是利用光學(xué)傳感器把光點(diǎn)照射到光盤上，以便把信息記錄到光盤上，或者從光盤上再生信息，其特征在于具有誤差信號(hào)生成裝置，其生成誤差信號(hào)，用于使上述光學(xué)傳感器跟蹤上述光盤上的軌跡；偏心量檢測(cè)裝置，其檢測(cè)上述光盤的偏心量；存儲(chǔ)裝置，其存儲(chǔ)上述偏心量檢測(cè)裝置所檢測(cè)出的偏心量；以及控制裝置，其進(jìn)行控制，使得在上述誤差信號(hào)生成裝置的輸出值達(dá)到規(guī)定的設(shè)定值以上時(shí)，對(duì)上述存儲(chǔ)裝置內(nèi)所存儲(chǔ)的偏心量進(jìn)行校正。
所以，其效果如下利用跟蹤誤差信號(hào)來檢測(cè)由于光盤安裝不良或灰塵等的影響而在主軸馬達(dá)旋轉(zhuǎn)速度變更時(shí)產(chǎn)生的光盤在旋轉(zhuǎn)方向上的滑動(dòng)，所以不讀出光盤上的地址和數(shù)據(jù)，即可進(jìn)行偏心校正，因此能避免在進(jìn)行偏心校正時(shí)出現(xiàn)跟蹤控制的異常狀態(tài)。
再者，本發(fā)明第二方面所述的光盤機(jī)，是利用光學(xué)傳感器把光點(diǎn)照射到光盤上，以便把信息記錄到光盤上，或者從光盤上再生信息，其特征在于具有誤差信號(hào)生成裝置，用于使上述光學(xué)傳感器跟蹤上述光盤上的軌跡；偏心量檢測(cè)裝置，其檢測(cè)上述光盤的偏心量；存儲(chǔ)裝置，其存儲(chǔ)上述偏心量檢測(cè)裝置所檢測(cè)出的偏心量；
比較電路，用于把上述存儲(chǔ)裝置所輸出的上述偏心量與規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較；以及控制裝置，其進(jìn)行控制，在上述比較電路中檢測(cè)出了上述偏心量超過上述規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)的情況下，對(duì)存儲(chǔ)在上述存儲(chǔ)裝置內(nèi)的偏心量進(jìn)行校正。
所以，能獲得以下效果能區(qū)別出因光盤旋轉(zhuǎn)方向的滑動(dòng)和傷痕而造成的影響，能限制傷痕的影響，減小偏心量重心測(cè)量所占的比例。
本發(fā)明第三方面所述的光盤機(jī)，是利用光學(xué)傳感器把光點(diǎn)照射到光盤上，以便把信息記錄到光盤上，或者從光盤上再生信息，其特征在于具有誤差信號(hào)生成裝置，用于使上述光學(xué)傳感器跟蹤上述光盤上的軌跡；偏心量檢測(cè)裝置，其檢測(cè)上述光盤的偏心量；存儲(chǔ)裝置，其存儲(chǔ)上述偏心量檢測(cè)裝置所檢測(cè)出的偏心量；相位差檢測(cè)裝置，其檢測(cè)上述偏心量檢測(cè)裝置所輸出的偏心量和上述存儲(chǔ)裝置所輸出的偏心量的相位差；以及控制裝置，其進(jìn)行控制，當(dāng)相位差檢測(cè)裝置的輸出值超過規(guī)定的設(shè)定值時(shí)，對(duì)存儲(chǔ)在上述存儲(chǔ)裝置內(nèi)的偏心量進(jìn)行校正。
所以，能獲得以下效果當(dāng)檢測(cè)出光盤向旋轉(zhuǎn)方向滑動(dòng)時(shí)，暫時(shí)中斷偏心校正，檢測(cè)出最新實(shí)測(cè)偏心量以及已測(cè)量的偏心校正量的相位差，因此能更準(zhǔn)確地檢測(cè)出光盤的滑動(dòng)。
本發(fā)明第四方面所述的光盤機(jī)，是利用光學(xué)傳感器把光點(diǎn)照射到光盤上，以便把信息記錄到光盤上，或者從光盤上再生信息，其特征在于具有誤差信號(hào)生成裝置，用于使上述光學(xué)傳感器跟蹤上述光盤上的軌跡；旋轉(zhuǎn)位置檢測(cè)裝置，其根據(jù)使上述光盤旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)裝置的旋轉(zhuǎn)位置來輸出信號(hào)；偏心量檢測(cè)裝置，其檢測(cè)上述光盤的偏心量；
存儲(chǔ)裝置，其存儲(chǔ)上述偏心量檢測(cè)裝置所檢測(cè)出的偏心量；以及相位差檢測(cè)裝置，其檢測(cè)上述旋轉(zhuǎn)位置檢測(cè)裝置所輸出的位置信息和上述存儲(chǔ)裝置所輸出的偏心量的相位差；以及控制裝置，其進(jìn)行控制，當(dāng)相位差檢測(cè)裝置的輸出值超過規(guī)定的設(shè)定值時(shí)，對(duì)存儲(chǔ)在上述存儲(chǔ)裝置內(nèi)的偏心量進(jìn)行校正。
所以，能獲得以下有利的效果當(dāng)檢測(cè)出光盤向旋轉(zhuǎn)方向滑動(dòng)時(shí)，利用FG信號(hào)作為比較時(shí)的標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)，不使偏心校正中斷，即可進(jìn)行實(shí)際的偏心量和偏心校正量的相位差檢測(cè)。并且，還能獲得不停止偏心校正也能校正偏心量的效果。
本發(fā)明第五方面所述的光盤機(jī)，其特征在于在第三或第四方面所述的光盤機(jī)中，由上述控制裝置進(jìn)行控制，在上述相位差檢測(cè)裝置的輸出值，超過規(guī)定的設(shè)定值的情況下，根據(jù)上述相位差檢測(cè)裝置所檢測(cè)出的相位差來更改上述存儲(chǔ)裝置輸出偏心校正量的定時(shí)。
所以，能獲得以下效果能使由于光盤滑動(dòng)而產(chǎn)生的光盤的偏心和偏心校正的關(guān)系返回到光盤產(chǎn)生滑動(dòng)之前的狀態(tài)。
本發(fā)明第六方面所述的光盤機(jī)，其特征在于在第三或第四方面所述的光盤機(jī)中，由上述控制裝置進(jìn)行控制，在上述相位差檢測(cè)裝置的輸出值超過規(guī)定的設(shè)定值的情況下，由上述存儲(chǔ)裝置重新存儲(chǔ)上述光盤的偏心量。
所以，能獲得以下效果不依賴從光盤中讀出的地址和數(shù)據(jù)等信息，即可校正光盤的偏心。
本發(fā)明第七方面所述的光盤機(jī)，其特征在于在第二～第四方面中的任一所述的光盤機(jī)中，由上述控制裝置進(jìn)行控制，僅在上述誤差信號(hào)生成裝置的輸出值超過規(guī)定的設(shè)定值的情況下，才對(duì)存儲(chǔ)在上述存儲(chǔ)裝置內(nèi)的偏心量進(jìn)行校正控制。
所以，能獲得以下效果能更準(zhǔn)確地檢測(cè)出光盤向旋轉(zhuǎn)方向的滑動(dòng)。
本發(fā)明第八方面所述的光盤機(jī)，其特征在于在第一～第四方面中的任一所述的光盤機(jī)中，具有一種最小值檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)上述誤差信號(hào)生成裝置的輸出的最小值是否超過了規(guī)定值并且其時(shí)間是否也已超過一定值，上述控制裝置僅在上述最小值檢測(cè)裝置檢測(cè)出了上述誤差信號(hào)生成裝置的輸出最小值超過了規(guī)定值并且持續(xù)一定時(shí)間以上的情況下，對(duì)存儲(chǔ)在上述存儲(chǔ)裝置內(nèi)的偏心量進(jìn)行校正控制。
所以，能獲得以下效果能更準(zhǔn)確地檢測(cè)出光盤向旋轉(zhuǎn)方向的滑動(dòng)。
本發(fā)明第九方面所述的光盤機(jī)，其特征在于在第一～第四方面中的任一所述的光盤機(jī)中，還具有一種檢測(cè)上述光盤上的傷痕的傷痕檢測(cè)電路，由上述控制裝置進(jìn)行控制，在上述傷痕檢測(cè)電路檢測(cè)出了傷痕時(shí)，不對(duì)存儲(chǔ)在上述存儲(chǔ)裝置內(nèi)的偏心量進(jìn)行校正。
所以，能獲得以下效果能區(qū)別出由光盤的旋轉(zhuǎn)方向滑動(dòng)和傷痕所造成的影響，能限制不必要的偏心量的重新測(cè)量。
權(quán)利要求
1.一種光盤機(jī)，是利用光學(xué)傳感器把光點(diǎn)照射到光盤上，以便把信息記錄到光盤上，或者從光盤上再生信息，其特征在于包括誤差信號(hào)生成裝置，生成誤差信號(hào)，用于使上述光學(xué)傳感器跟蹤上述光盤上的軌跡；偏心量檢測(cè)裝置，檢測(cè)上述光盤的偏心量；存儲(chǔ)裝置，存儲(chǔ)上述偏心量檢測(cè)裝置所檢測(cè)出的偏心量；以及控制裝置，進(jìn)行控制，使得在上述誤差信號(hào)生成裝置的輸出值達(dá)到規(guī)定的設(shè)定值以上時(shí)，對(duì)上述存儲(chǔ)裝置內(nèi)所存儲(chǔ)的偏心量進(jìn)行校正。
2.一種光盤機(jī)，是利用光學(xué)傳感器把光點(diǎn)照射到光盤上，以便把信息記錄到光盤上，或者從光盤上再生信息，其特征在于包括誤差信號(hào)生成裝置，生成誤差信號(hào)，用于使上述光學(xué)傳感器跟蹤上述光盤上的軌跡；偏心量檢測(cè)裝置，檢測(cè)上述光盤的偏心量；存儲(chǔ)裝置，存儲(chǔ)上述偏心量檢測(cè)裝置所檢測(cè)出的偏心量；比較電路，用于把上述存儲(chǔ)裝置所輸出的上述偏心量與規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較；以及控制裝置，進(jìn)行控制，在上述比較電路中檢測(cè)出了上述偏心量超過上述規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)值的情況下，對(duì)存儲(chǔ)在上述存儲(chǔ)裝置內(nèi)的偏心量進(jìn)行校正。
3.一種光盤機(jī)，是利用光學(xué)傳感器把光點(diǎn)照射到光盤上，以便把信息記錄到光盤上，或者從光盤上再生信息，其特征在于包括誤差信號(hào)生成裝置，生成誤差信號(hào)，用于使上述光學(xué)傳感器跟蹤上述光盤上的軌跡；偏心量檢測(cè)裝置，檢測(cè)上述光盤的偏心量；存儲(chǔ)裝置，存儲(chǔ)上述偏心量檢測(cè)裝置所檢測(cè)出的偏心量；相位差檢測(cè)裝置，檢測(cè)上述偏心量檢測(cè)裝置所輸出的偏心量和上述存儲(chǔ)裝置所輸出的偏心量的相位差；以及控制裝置，進(jìn)行控制，當(dāng)相位差檢測(cè)裝置的輸出值超過規(guī)定的設(shè)定值時(shí)，對(duì)存儲(chǔ)在上述存儲(chǔ)裝置內(nèi)的偏心量進(jìn)行校正。
4.一種光盤機(jī)，是利用光學(xué)傳感器把光點(diǎn)照射到光盤上，以便把信息記錄到光盤上，或者從光盤上再生信息，其特征在于包括誤差信號(hào)生成裝置，生成誤差信號(hào)，用于使上述光學(xué)傳感器跟蹤上述光盤上的軌跡；旋轉(zhuǎn)位置檢測(cè)裝置，根據(jù)使上述光盤旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)裝置的旋轉(zhuǎn)位置來輸出信號(hào)；偏心量檢測(cè)裝置，檢測(cè)上述光盤的偏心量；存儲(chǔ)裝置，存儲(chǔ)上述偏心量檢測(cè)裝置所檢測(cè)出的偏心量；以及相位差檢測(cè)裝置，檢測(cè)上述旋轉(zhuǎn)位置檢測(cè)裝置所輸出的位置信息和上述存儲(chǔ)裝置所輸出的偏心量的相位差；以及控制裝置，進(jìn)行控制，當(dāng)相位差檢測(cè)裝置的輸出值超過規(guī)定的設(shè)定值時(shí)，對(duì)存儲(chǔ)在上述存儲(chǔ)裝置內(nèi)的偏心量進(jìn)行校正。
5.一種光盤機(jī)，其特征在于在權(quán)利要求3或4所述的光盤機(jī)中，由上述控制裝置進(jìn)行控制，在上述相位差檢測(cè)裝置的輸出值，超過規(guī)定的設(shè)定值的情況下，根據(jù)上述相位差檢測(cè)裝置所檢測(cè)出的相位差來更改上述存儲(chǔ)裝置輸出的偏心校正量的定時(shí)。
6.一種光盤機(jī)，其特征在于在權(quán)利要求3或4所述的光盤機(jī)中，由上述控制裝置進(jìn)行控制，在上述相位差檢測(cè)裝置的輸出值超過規(guī)定的設(shè)定值的情況下，由上述存儲(chǔ)裝置重新存儲(chǔ)上述光盤的偏心量。
7.一種光盤機(jī)，其特征在于在權(quán)利要求2～4中的任一項(xiàng)所述的光盤機(jī)中，由上述控制裝置進(jìn)行控制，僅在上述誤差信號(hào)生成裝置的輸出值也超過規(guī)定的設(shè)定值的情況下，才對(duì)存儲(chǔ)在上述存儲(chǔ)裝置內(nèi)的偏心量進(jìn)行校正控制。
8.一種光盤機(jī)，其特征在于在權(quán)利要求1～4中的任一項(xiàng)所述的光盤機(jī)中，具有一種最小值檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)上述誤差信號(hào)生成裝置的輸出的最小值是否在一定時(shí)間以上超過了規(guī)定值，上述控制裝置僅在上述最小值檢測(cè)裝置檢測(cè)出了上述誤差信號(hào)生成裝置的輸出最小值超過了規(guī)定值并且持續(xù)一定時(shí)間以上的情況下，對(duì)存儲(chǔ)在上述存儲(chǔ)裝置內(nèi)的偏心量進(jìn)行校正控制。
9.一種光盤機(jī)，其特征在于在權(quán)利要求1～4中的任一項(xiàng)所述的光盤機(jī)中，還具有一種檢測(cè)上述光盤上的傷痕的傷痕檢測(cè)電路，由上述控制裝置進(jìn)行控制，在上述傷痕檢測(cè)電路檢測(cè)出了傷痕時(shí)，不對(duì)存儲(chǔ)在上述存儲(chǔ)裝置內(nèi)的偏心量進(jìn)行校正。
全文摘要
本發(fā)明提供一種即使光盤在旋轉(zhuǎn)方向上滑動(dòng)，也能正確地進(jìn)行偏心校正的光盤機(jī)。其構(gòu)成是利用最小值檢測(cè)裝置20來檢測(cè)TE信號(hào)的振幅，在比較器10中通過與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較而檢測(cè)出光盤的滑動(dòng)，在不輸出傷痕檢測(cè)信號(hào)22的情況下，重新測(cè)量存儲(chǔ)裝置5內(nèi)所保存的偏心量。
文檔編號(hào)G11B7/09GK1397943SQ0214109
公開日2003年2月19日 申請(qǐng)日期2002年7月16日 優(yōu)先權(quán)日2001年7月17日
發(fā)明者渡部隆弘 申請(qǐng)人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會(huì)社