專(zhuān)利名稱(chēng)：確定光盤(pán)記錄功率的最佳方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種確定光盤(pán)記錄功率的最佳方法，最大限度地利用光盤(pán)目視檢查領(lǐng)域以決定更正確的光記錄功率，并由此找最佳狀態(tài)的目視檢查記錄的方法。
(2)背景技術(shù)一般來(lái)說(shuō)，記錄光功率因?yàn)槭歉鶕?jù)記錄媒體的狀態(tài)或種類(lèi)，記錄裝置的狀態(tài)(激光的質(zhì)、記錄方法，激光類(lèi)型及溫度特性等)和記錄速度的不同而不同，所以各記錄裝置利用記錄在光盤(pán)中的目標(biāo)記錄光功率值，先求出最佳記錄光功率值，然后再進(jìn)行記錄操作。
下面簡(jiǎn)單地說(shuō)明最佳記錄光功率檢測(cè)過(guò)程。
圖1所示是一般光盤(pán)的驅(qū)動(dòng)裝置的構(gòu)成，將校正錯(cuò)碼附加于被輸入的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)，以記錄格式變換的數(shù)字記錄信號(hào)處理器30a使以記錄格式變換的光盤(pán)以比特流再變化的CB(Channel Bit)編碼器40隨著被輸入的信號(hào)，輸出光量驅(qū)動(dòng)信號(hào)的光驅(qū)動(dòng)器41。
隨著上述光量驅(qū)動(dòng)信號(hào)，使信號(hào)記錄在光盤(pán)10，又為從記錄面檢出記錄信號(hào)的光拾取器20。
將從上述光拾取器20被檢出的信號(hào)進(jìn)行濾波整形化，且以二進(jìn)制信號(hào)輸出的R/F(射頻)器50；使上述的光拾取器20及上述光盤(pán)10旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)的驅(qū)動(dòng)旋轉(zhuǎn)電機(jī)的驅(qū)動(dòng)器70。
根據(jù)上述光拾取器20中的跟蹤錯(cuò)誤(T.E)及焦點(diǎn)錯(cuò)誤(F.E)信號(hào)和光盤(pán)10的旋轉(zhuǎn)速度來(lái)控制驅(qū)動(dòng)器70的伺服器60；以相位同步于上述二進(jìn)制信號(hào)的自同步信號(hào)，將上述二進(jìn)制信號(hào)復(fù)原成原來(lái)數(shù)據(jù)的數(shù)字再現(xiàn)信號(hào)處理器30b；驅(qū)動(dòng)光盤(pán)10轉(zhuǎn)動(dòng)的旋轉(zhuǎn)電機(jī)11及由對(duì)上述光盤(pán)10的OPC操作，和包含控制數(shù)據(jù)記錄/再現(xiàn)過(guò)程的微處理器80所構(gòu)成。
如果在上述的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置中，通過(guò)上述微處理器80從外部輸入記錄申請(qǐng)信號(hào)，則這時(shí)將進(jìn)行最佳光功率檢測(cè)的過(guò)程，其過(guò)程如下首先，上述微處理器80將設(shè)置記錄配置程序，通過(guò)上述伺服器60和驅(qū)動(dòng)器70驅(qū)動(dòng)旋轉(zhuǎn)電機(jī)11，使上述光盤(pán)10旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)。
接著上述微處理器80將在數(shù)據(jù)記錄被輸入以前如圖2所示，它將讀出并確認(rèn)在光盤(pán)10中的以3比特(Bit)W1、W2、W3數(shù)據(jù)記錄為目標(biāo)的記錄光功率值。以上述讀出確認(rèn)的目標(biāo)記錄光功率(如8mw)值為準(zhǔn)，使光功率值與如圖3所示的，以按指定的步進(jìn)大小(Δρ)的大小進(jìn)行變化的調(diào)節(jié)信號(hào)，可變性地引入光驅(qū)動(dòng)器41。
上述Δρ的值，是以上述被確認(rèn)了的光盤(pán)目標(biāo)記錄光功率值為基準(zhǔn)，使光功率變化范圍為(如5mw～10mw)，同時(shí)考慮測(cè)試數(shù)據(jù)記錄次數(shù)(15次)之后決定其值的。
上述光驅(qū)動(dòng)器41對(duì)應(yīng)于上述被認(rèn)可的信號(hào)調(diào)節(jié)數(shù)據(jù)的光驅(qū)動(dòng)功率，并輸出對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)的記錄信號(hào)，讓15ATIP的測(cè)試數(shù)據(jù)用上述中的光信號(hào)拾取器20記錄在圖4所示的測(cè)試區(qū)A。
如上所述光10的測(cè)試區(qū)A中測(cè)試數(shù)據(jù)，按所定大小變化的光驅(qū)動(dòng)功率及以在固定的記錄脈沖的記錄狀態(tài)下，上述微處理器80是控制上述光拾取器20使上述中的數(shù)字測(cè)試區(qū)A中記錄的15ATIP測(cè)試信號(hào)按順序的讀出。這時(shí)，如果上述光盤(pán)10是一次性的允許寫(xiě)入光盤(pán)(CD-R)，上述微處理器80將按順序讀出，并計(jì)算出從上述R/F(50)中被濾波整形的如圖5所示的測(cè)試數(shù)據(jù)的再現(xiàn)信號(hào)的非對(duì)稱(chēng)值{β＝[(A1-A2)/(A1+A2)]×100.Slice-level＝0時(shí)}。這時(shí)利用被算出的β值來(lái)決定最佳的記錄光功率值。
使用最佳的記錄光功率值被確定，上述微處理器80為了記錄輸入數(shù)據(jù)，將根據(jù)上述確定的最佳光功率值，利用適合于光驅(qū)動(dòng)的功率，為使輸入數(shù)據(jù)信號(hào)通過(guò)，控制光驅(qū)動(dòng)器41。上述光驅(qū)動(dòng)器41是根據(jù)光驅(qū)動(dòng)電流的信號(hào)，被上述光拾取器20認(rèn)可后，隨著對(duì)上述脈沖幅信號(hào)的調(diào)制，將信號(hào)記錄在光盤(pán)10的程序記憶區(qū)。完成記錄操作。
但，有關(guān)上述所完成的以光盤(pán)驅(qū)動(dòng)裝置記錄方法，當(dāng)光盤(pán)的目視檢測(cè)區(qū)的大小為CD-R時(shí)，盡管能以記錄的1500ATP的測(cè)試數(shù)據(jù)的大小來(lái)分配，但每當(dāng)進(jìn)行一次OPC時(shí)，將測(cè)試數(shù)據(jù)的區(qū)間限定在15ATIP，求最佳記錄光功率值受限制，尤其在CD-R時(shí)，更需要光盤(pán)記錄的精確度，卻在以往方法上存在滿(mǎn)足不了此要求的問(wèn)題。
又當(dāng)類(lèi)似復(fù)制光盤(pán)時(shí)，大部分情況是一次性記錄來(lái)完成，在這樣的情況下，由于光功率檢查的大部分未被使用相反記錄的精密度大大降低，從而提出根據(jù)記錄方式的目視檢查區(qū)的有效使用方法。
(3)發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明是為了解決上述的問(wèn)題而創(chuàng)作的最大程度地利用光盤(pán)的測(cè)試數(shù)據(jù)記錄區(qū)以此完成精密的OPC，由此確定更正確的記錄光功率值。以提供數(shù)據(jù)記錄形成最佳狀態(tài)的最佳記錄功率的確定方法為其目的。
為了達(dá)到上述目的，確定光盤(pán)的最佳記錄功率的方法是，第一階段為申請(qǐng)記錄數(shù)據(jù)時(shí)，判別被申請(qǐng)的記錄模式；第二階段為根據(jù)上述判別結(jié)果，被裝入的光盤(pán)的測(cè)試區(qū)中，附以一次OPC區(qū)間被分配的異常區(qū)間，調(diào)整測(cè)試功率掃描電平，將任一的數(shù)據(jù)進(jìn)行試驗(yàn)；及第三階段為再現(xiàn)上述所記錄的試驗(yàn)記錄，從再現(xiàn)信號(hào)的特性確定最佳記錄光功率值。
本發(fā)明的效果根據(jù)本發(fā)明光盤(pán)的最佳記錄功率確定方法是最大限度地利用測(cè)試區(qū)，進(jìn)行精密的OPC操作，而獲得正確的記錄光功率值，由此以最佳的記錄光功率值完成光盤(pán)記錄，記錄光盤(pán)的再現(xiàn)特性具有改善效果，而且根據(jù)記錄模式測(cè)試區(qū)的使用效率起著很重要的作用。
為進(jìn)一步說(shuō)明本發(fā)明的上述目的、結(jié)構(gòu)特點(diǎn)和效果，以下將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)的描述。
(4)


圖1為一般光盤(pán)的驅(qū)動(dòng)裝置圖2是在允許記錄的光盤(pán)上記錄著的目標(biāo)記錄光功率值的數(shù)據(jù)形態(tài)。
圖3為記錄測(cè)試數(shù)據(jù)時(shí)，以目標(biāo)記錄光功率值為基準(zhǔn)的，對(duì)光功率進(jìn)行變化形態(tài)的一個(gè)例子。
圖4為記錄光盤(pán)的記錄信號(hào)測(cè)試檢查區(qū)(A)和測(cè)試次數(shù)的計(jì)數(shù)區(qū)(B)。
圖5為記錄在光盤(pán)上的被測(cè)試數(shù)據(jù)的再現(xiàn)信號(hào)。
圖6為由光盤(pán)再現(xiàn)裝置和光盤(pán)記錄裝置所構(gòu)成的ACDR(A光功率CDRecorder)概略圖。
圖7是圖6所示的記錄裝置中，執(zhí)行的OPC概略操作圖。
圖8a和圖8b是根據(jù)本發(fā)明具有可行性的最佳光盤(pán)記錄功率的流程圖。
圖9所示為光盤(pán)記錄的β范圍值和最佳記錄方法的數(shù)據(jù)形態(tài)。
圖10所示的例子是根據(jù)本發(fā)明在對(duì)光盤(pán)目視檢查區(qū)進(jìn)行一次及二次OPC操作時(shí)，使光功率發(fā)生變更的形態(tài)。
圖11是為了檢測(cè)出一次性允許寫(xiě)入光盤(pán)(CD-R)的最佳記錄光功率值的β曲線形態(tài)圖。
圖12a及圖12b是根據(jù)本發(fā)明的“決定光盤(pán)最佳記錄功率的方法”的另一個(gè)實(shí)施例流程圖。
圖13所示為根據(jù)本發(fā)明在光盤(pán)的目視檢查區(qū)進(jìn)行OPC操作時(shí)，變更光功率形態(tài)的范例。
(5)具體實(shí)施方式
以下，根據(jù)本發(fā)明對(duì)確定光盤(pán)的最佳寫(xiě)入功率方法的可行性實(shí)施例，根據(jù)附圖進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。
圖6所示的是光盤(pán)再現(xiàn)裝置(CD-Player)和光盤(pán)寫(xiě)入裝置(CD-Recoder)所構(gòu)成的ACDR的簡(jiǎn)圖，在這里根據(jù)本發(fā)明最佳寫(xiě)入方法所實(shí)現(xiàn)的光盤(pán)寫(xiě)入裝置的詳細(xì)構(gòu)成與上述的圖1構(gòu)成相同。
圖7所示的是在圖6的光盤(pán)寫(xiě)入裝置所完成的OPC操作大致圖。
圖8a及圖8b所示的是根據(jù)本發(fā)明的最佳寫(xiě)入功率確定方法的可行性實(shí)施例的流程度，以下參照?qǐng)D1的寫(xiě)入裝置的構(gòu)成及圖7。根據(jù)本發(fā)明對(duì)圖8的最佳寫(xiě)入功率確定方法，進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。
首先，在上述光盤(pán)再現(xiàn)裝置(CD-P)和光盤(pán)寫(xiě)入裝置(CD-R)內(nèi)部各存微處理器。
上述CD-P里的微處理器作主微處理器操作。上述CD-R里的微處理器作子微處理操作。
在這樣的狀態(tài)下，光盤(pán)被裝入于上述CD-P及CD-R，接著，隨著使用者的寫(xiě)入申請(qǐng)S10，光盤(pán)轉(zhuǎn)錄關(guān)鍵字輸入于上述CD-P里的微處理器的話(huà)，上述微處理器將這光盤(pán)的復(fù)制申請(qǐng)轉(zhuǎn)達(dá)給上述光盤(pán)寫(xiě)入裝置里的微處理器。將上述光盤(pán)寫(xiě)入裝置輸入的數(shù)據(jù)能夠記錄在被插入的光盤(pán)。
這樣，若是在上述微處理器80有記錄申請(qǐng)的話(huà)，則上述微處理器80將記錄配置設(shè)置在驅(qū)動(dòng)器，使光盤(pán)10以CLV或者CAV方式進(jìn)行旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)。接著上述微處理器80如上述那樣從上述光盤(pán)10確認(rèn)目標(biāo)記錄光功率值(S11)，同時(shí)，將記錄信號(hào)的狀態(tài)記錄在上述光盤(pán)10的記錄方法，即以記錄脈沖為基準(zhǔn)所確定。上述記錄方法是制造記錄媒體時(shí)，以固定值記錄著的一次允許寫(xiě)入光盤(pán)(CD-R)時(shí)，如圖9所示按記錄媒體類(lèi)型而固定其值。
一般而言，上述測(cè)試區(qū)(A)為CD-R光盤(pán)時(shí)，由于記錄15ATIP的測(cè)試數(shù)據(jù)的OPC操作能進(jìn)行100次，所以在上述測(cè)試區(qū)間內(nèi)能記錄約1500ATIP程度的測(cè)試數(shù)據(jù)。
接著，上述微處理器(80)隨著被申請(qǐng)記錄模式確定，操作OPC所使用的區(qū)間，即上述被申請(qǐng)的記錄模式為光盤(pán)復(fù)制模式情況下(S20)；由于記錄光盤(pán)靠一次性記錄來(lái)完成記錄的情況是大部分的，所以在上述測(cè)試區(qū)(A)一般OPC操作所使用的區(qū)間(15ATIP＝15BLOCK)以外的區(qū)間是以后再不被利用，上述微處理器80是以上陳述那樣并不是以(15ATIP)的記錄測(cè)試數(shù)據(jù)來(lái)確定最佳記錄光功率值，而是按15ATIP以上，即對(duì)測(cè)試區(qū)(A)的80％區(qū)間(約1200ATIP)內(nèi)記錄測(cè)試數(shù)據(jù)的OPC精密操作，如果上述被申請(qǐng)的記錄模式是一般記錄模式，即以后對(duì)上述測(cè)試區(qū)(A)再執(zhí)行OPC操作時(shí)，上述那樣，對(duì)上述測(cè)試區(qū)(A)進(jìn)行將測(cè)試數(shù)據(jù)按15ATIP記錄且確定最佳記錄光功率值的一般OPC操作(S30～S32)。
接著上述微處理器80是因?yàn)楝F(xiàn)在的記錄模式為光盤(pán)復(fù)制模式，所以利用上述測(cè)試區(qū)(A)的約80％程度的區(qū)間完成精密OPC操作。
為了這個(gè)，上述微處理器80如圖10所示，首先在上述測(cè)試區(qū)A進(jìn)行記錄15ATIP的測(cè)試數(shù)據(jù)的一次性O(shè)PC操作，即上述的那樣，以被上述讀出確認(rèn)的光功率(如，8mw)值為基準(zhǔn)，使光功率值用指定的步幅度大小(ΔP)程度進(jìn)行變化，將測(cè)試數(shù)據(jù)按15ATP來(lái)記錄著(S21)。這時(shí)上述微處理器80讓上述光拾取器20將記錄脈沖的信號(hào)電平或持續(xù)時(shí)間根據(jù)上述被確認(rèn)的記錄方法來(lái)維持且記錄測(cè)試數(shù)據(jù)。這樣測(cè)試數(shù)據(jù)是依靠可變的記錄脈沖及記錄光功率完成其記錄，上述微處理器80控制上述光拾取器20且將被記錄的測(cè)試數(shù)據(jù)按次序進(jìn)行讀出。
如此地讀出來(lái)后，從在上述R/F器50被濾波整形化的再現(xiàn)信號(hào)產(chǎn)生出再現(xiàn)信號(hào)的不對(duì)稱(chēng)值(β＝[(A1-A2)/(A1+A2)]×100，時(shí)間片電平＝0時(shí))。
接著上述微處理器80讓在上述光盤(pán)10上記錄著的目標(biāo)β范圍值讀出如圖11所示那樣，從上述所得的曲線和上述讀出的目標(biāo)β范圍值一次性地確定最佳的記錄光功率值S22。上述目標(biāo)β范圍值是如圖2所示那樣，記錄在光盤(pán)10的時(shí)間信息字段的ATIP內(nèi)的秒字節(jié)(M1S1F18＝001時(shí))按3比特(P1·P2·P3)數(shù)據(jù)記錄著的。
上述微處理器80是上述被讀出的3比特(P1·P2·P3)數(shù)據(jù)為(000)時(shí)的β的范圍值是-4～+8％。
當(dāng)“001”時(shí)的β的范圍值為0～+12％來(lái)確定。如此這般地靠一次性O(shè)PC操作確定記錄光功率值的話(huà)，上述微處理器80是在上述測(cè)試區(qū)A的一次性O(shè)PC操作區(qū)間內(nèi)，接著以上述記錄光功率值為基準(zhǔn)進(jìn)行2次性O(shè)PC操作，上述2次性O(shè)PC操作是在一次性O(shè)PC操作區(qū)間內(nèi)。接著將1185ATIP的測(cè)試數(shù)字記錄在上述測(cè)試區(qū)A，這時(shí)上述微處理器80以上述被確定的記錄光功率值(如9mw)為基準(zhǔn)，這光功率值如圖10所示將以指定的步幅度大小(ΔP′)程度進(jìn)行大小變化的校正信號(hào)強(qiáng)變性地引進(jìn)在上述光驅(qū)動(dòng)區(qū)41，靠上述一次OPC操作所確定的記錄光功率值在確定的步內(nèi)，以更加細(xì)分割的步大小(ΔP′)變化光功率，以此完成精密OPC操作(S23)。
根據(jù)這樣的二次OPC，測(cè)試數(shù)據(jù)對(duì)上述測(cè)試區(qū)(A)的約80％區(qū)間(約1200ATIP)完成記錄，則上述微處理器(80)如已經(jīng)陳述的那樣確定最佳地記錄光功率值(S24)。
這樣，如果最佳記錄光功率值最后被確定，上述微處理器80利用上述被獲得的最佳記錄光功率值，便可進(jìn)行被申請(qǐng)的記錄操作，被申請(qǐng)的記錄模型為復(fù)制模式時(shí)，插入安裝于上述CD-P光盤(pán)的所有內(nèi)容照樣記錄在被CD-R的插入安裝的光盤(pán)上，為了這個(gè)附加在CD-P的主微處理器將被裝入的光盤(pán)的內(nèi)容轉(zhuǎn)達(dá)給上述附加于CD-R上的子微處理器80。
接著，上述微處理器80通過(guò)上述伺服器60和驅(qū)動(dòng)器70將光盤(pán)10旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)，上述數(shù)字信號(hào)處理器30a是附加為符號(hào)化了的數(shù)據(jù)的記錄/再現(xiàn)的具有可靠性的編碼及錯(cuò)誤修正寄偶性生成錯(cuò)誤修正碼等(ELL BLOCK)，上述CB編碼(40)是將從上述數(shù)字記錄信號(hào)處理器(30a)輸出的，數(shù)字位(比特)流以為記錄在上述光盤(pán)(10)的脈沖幅度調(diào)制著的信號(hào)形態(tài)變化且引入于上述驅(qū)動(dòng)器41。上述微處理器80，根據(jù)與上述一次及二次OPC操作所確定的最佳記錄光功率值互為相應(yīng)的光驅(qū)動(dòng)電流。為了讓記錄信號(hào)輸出而控制上述光驅(qū)動(dòng)器41，上述光驅(qū)動(dòng)器41將有關(guān)光驅(qū)動(dòng)功率的信號(hào)引入于光盤(pán)20，讓上述脈沖幅度調(diào)制的信號(hào)記錄在光盤(pán)10的程序區(qū)，如此的記錄操作裝入在CD-P的光盤(pán)的所有內(nèi)容，在裝入于CD-R的光盤(pán)10上完成其記錄為止繼續(xù)進(jìn)行操作S25。
圖12a和圖12b是根據(jù)本發(fā)明光盤(pán)的最佳記錄功率確定方法的另一實(shí)施例的流程圖。
至于圖12的最佳記錄功率確定方法，其說(shuō)明如下圖12的記錄功率確定方法與圖8的方法幾乎相同，但圖8的方法是隨著被申請(qǐng)的記錄模式，在光盤(pán)10的測(cè)試區(qū)A將15ATIP的測(cè)試數(shù)據(jù)記錄著，且進(jìn)行確定記錄光功率值的一次OPC操作，然后以一次OPC操作區(qū)間接著進(jìn)行二次OPC，由此得最佳記錄光功率值。但圖12的方法是一次及二次OPC操作時(shí)所用的測(cè)試區(qū)(A)，即經(jīng)上述測(cè)試區(qū)(A)的大約80％區(qū)間將測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行一次性記錄，并確定最佳記錄光功率值(S40～S52)。為此，上述微處理器(80)將上述被讀出確認(rèn)的目標(biāo)記錄光功率(如8mw)以比在一次OPC操作時(shí)所用的調(diào)幅較小的幅度還少(ΔP″)進(jìn)行調(diào)節(jié)，且記錄測(cè)試數(shù)據(jù)，這時(shí)，如圖13所示，以上述目標(biāo)記錄光功率為基準(zhǔn)，使光功率以ΔP″的大小進(jìn)行變化，且記錄測(cè)試數(shù)據(jù)(1ATIP 1200ATIP)，以1200分解進(jìn)行細(xì)量化，且記錄數(shù)據(jù)，利用被記錄的測(cè)試數(shù)據(jù)，如上所述的那樣確定最佳記錄光功率值進(jìn)行被申請(qǐng)的記錄操作(S53)。
當(dāng)然，本技術(shù)領(lǐng)域中的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)認(rèn)識(shí)到，以上的實(shí)施例僅是用來(lái)說(shuō)明本發(fā)明，而并非用作為對(duì)本發(fā)明的限定，只要在本發(fā)明的實(shí)質(zhì)精神范圍內(nèi)，對(duì)以上所述實(shí)施例的變化、變型都將落在本發(fā)明權(quán)利要求書(shū)的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種確定光盤(pán)記錄功率的最佳方法，有關(guān)最佳記錄光功率檢測(cè)過(guò)程(OPC)操作方法；其特征在于所述的方法包括第一階段為申請(qǐng)記錄數(shù)據(jù)時(shí)，判別被申請(qǐng)的記錄模式；第二階段為根據(jù)上述判別結(jié)果，被裝入的光盤(pán)的測(cè)試區(qū)中，附以一次OPC區(qū)間被分配的異常區(qū)間，調(diào)整測(cè)試功率掃描電平，將任一的數(shù)據(jù)進(jìn)行試驗(yàn)；及第三階段為再現(xiàn)上述所記錄的試驗(yàn)記錄，從再現(xiàn)信號(hào)的特性確定最佳記錄光功率值。
2.如權(quán)利要求1所述的確定光盤(pán)記錄功率的最佳方法，其特征在于所述的第2階段及第3階段是所述的記錄模式在復(fù)制模式光盤(pán)的狀態(tài)下所進(jìn)行的。
3.如權(quán)利要求1所述的確定光盤(pán)記錄功率的最佳方法，其特征在于所述的第二階段的試驗(yàn)記錄是以經(jīng)過(guò)上述測(cè)試區(qū)的80％的區(qū)域完成的。
全文摘要
一種確定光盤(pán)記錄功率的最佳方法是第一階段為申請(qǐng)記錄數(shù)據(jù)時(shí)，判別被申請(qǐng)的記錄模式；第二階段為根據(jù)上述判別結(jié)果，被裝入的光盤(pán)的測(cè)試區(qū)中，附以一次OPC區(qū)間被分配的異常區(qū)間，調(diào)整測(cè)試功率掃描電平，將任一的數(shù)據(jù)進(jìn)行試驗(yàn)；及第三階段為再現(xiàn)上述所記錄的試驗(yàn)記錄，從再現(xiàn)信號(hào)的特性確定最佳記錄光功率值。本發(fā)明光盤(pán)的最佳記錄功率確定方法是最大限度地利用測(cè)試區(qū)，進(jìn)行精密的OPC操作，而獲得正確的記錄光功率值，由此以最佳的記錄光功率值完成光盤(pán)記錄，記錄光盤(pán)的再現(xiàn)特性具有改善效果，而且根據(jù)記錄模式測(cè)試區(qū)的使用效率起著很重要的作用。
文檔編號(hào)G11B7/00GK1466126SQ0211228
公開(kāi)日2004年1月7日 申請(qǐng)日期2002年6月28日 優(yōu)先權(quán)日2002年6月28日
發(fā)明者樸光植 申請(qǐng)人:上海樂(lè)金廣電電子有限公司