一種usb檢測方法和檢測系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明實施例提供一種USB檢測方法和檢測系統(tǒng)，該USB檢測方法用于檢測連接于第一設(shè)備的第二設(shè)備的設(shè)備類型，所述檢測方法包括：檢測所述第一設(shè)備的VBUS接腳是否與所述第二設(shè)備的VBUS接腳接觸；在檢測到所述第一設(shè)備的VBUS接腳與所述第二設(shè)備的VBUS接腳接觸后，啟動延時；在所述延時完成之后，啟動對所述第二設(shè)備的D+接腳和D-接腳的上下拉操作；以及根據(jù)所述上下拉操作的結(jié)果，判斷所述第二設(shè)備的設(shè)備類型。本發(fā)明提供了一種全新的USB檢測方案和檢測系統(tǒng)，完善電子設(shè)備USB插入檢測功能，避免因插入慢，D+/D-接觸延時太大，導致檢測類型判斷出錯，充電電流小，無法進行數(shù)據(jù)傳輸?shù)葐栴}。
【專利說明】
一種USB檢測方法和檢測系統(tǒng)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及USB閃存領(lǐng)域，具體涉及一種USB檢測方法和檢測系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]USB快充協(xié)議BCl.2補充了 USB充電部分的內(nèi)容，同時建立了一套充電類型檢測的標準，目前其用在了所有使用USB2.0/USB3.0的電子設(shè)備上。
[0003]以micro USB為例說明，圖1所示為現(xiàn)有的micro USB數(shù)據(jù)線的USB端和micro-B端接線的示意圖。如圖1所示，USB端共有黑線、綠線、白線、紅線四個接腳，micro USB端具有對應的黑線(GND)、綠線(D+)、白線(D-)、紅線(VBUS)接腳，以及一個空端(ID)0
[0004]圖2所示為現(xiàn)有的BCl.2檢測啟動順序的示意圖，如圖2所示，BCl.2檢測啟動順序為:首先檢測USB VBUS插入，在經(jīng)過準備響應之后對D+/D-進行上下拉操作，檢測D+/D-上電平狀態(tài)，判斷設(shè)備類型(標準充電、非標準充電、數(shù)據(jù)傳輸設(shè)備等)，最后配置充電電流或者建立數(shù)據(jù)傳輸。具體地，D+D-短路時為標準充電，D+D-開路時為非標準充電，D+D-對地有一定阻抗(例如15k)時建立數(shù)據(jù)傳輸。
[0005]圖3所示為USB的插頭端和設(shè)備的插座端的接腳的示意圖。如圖3所示，由于USB的結(jié)構(gòu)設(shè)計方式，Micro-B插頭端VBUS和GND比D_、D+、ID接腳稍長。當USB設(shè)備插入時候，會出現(xiàn)以下情況:插頭端的VBUS和GND先與插座端的VBUS和GND接觸，處理器(例如手機的CPU等)進行檢測USB VBUS插入后，對D+/D-進行上下拉操作和檢測其電平狀態(tài)時，D+、D-還沒有接觸上，導致設(shè)備識別成非標準充電狀態(tài)。進入非標準充電狀態(tài)后，會出現(xiàn)無法進行數(shù)據(jù)傳輸，而且充電電流會限制在例如500mA左右，導致充電速度慢。
[0006]現(xiàn)有技術(shù)在檢測USB VBUS插入之后，D+、D-接腳很可能未接觸上就開啟了檢測，因此設(shè)備會一直識別為非標準充電狀態(tài)，進而產(chǎn)生無法傳輸數(shù)據(jù)、充電慢等問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明實施例提供一種USB檢測方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)存在的因插入慢，D+/D-接觸延時太大，導致檢測類型判斷出錯，充電電流小，無法進行數(shù)據(jù)傳輸?shù)葐栴}。
[0008]為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明一實施例提出一種USB檢測方法，用于檢測連接于第一設(shè)備的第二設(shè)備的設(shè)備類型，所述檢測方法包括:
[0009]檢測所述第一設(shè)備的VBUS接腳是否與所述第二設(shè)備的VBUS接腳接觸；
[0010]在檢測到所述第一設(shè)備的VBUS接腳與所述第二設(shè)備的VBUS接腳接觸后，啟動延時；
[0011]在所述延時完成之后，啟動對所述第二設(shè)備的D+接腳和D-接腳的上下拉操作；以及
[0012]根據(jù)所述上下拉操作的結(jié)果，判斷所述第二設(shè)備的設(shè)備類型。
[0013]本發(fā)明一實施例提出一種USB檢測方法，用于檢測連接于第一設(shè)備的第二設(shè)備的設(shè)備類型，所述檢測方法包括:
[0014]檢測所述第一設(shè)備的VBUS接腳是否與所述第二設(shè)備的VBUS接腳接觸；
[0015]在檢測到所述第一設(shè)備的VBUS接腳與所述第二設(shè)備的VBUS接腳接觸后，檢測所述第一設(shè)備的D+接腳和D-接腳是否分別與所述第二設(shè)備的D+接腳和D-接腳接觸；
[0016]在檢測到所述第一設(shè)備的D+接腳和D-接腳分別與所述第二設(shè)備的D+接腳和D-接腳接觸之后，啟動對所述第二設(shè)備的D+接腳和D-接腳的上下拉操作；以及
[0017]根據(jù)所述上下拉操作的結(jié)果，判斷所述第二設(shè)備的設(shè)備類型。
[0018]本發(fā)明一實施例提出一種USB檢測方法，用于檢測連接于第一設(shè)備的第二設(shè)備的設(shè)備類型，所述檢測方法包括:
[0019]檢測所述第一設(shè)備的VBUS接腳是否與所述第二設(shè)備的VBUS接腳接觸；
[0020]在檢測到所述第一設(shè)備的VBUS接腳與所述第二設(shè)備的VBUS接腳接觸后，對所述第二設(shè)備的D+接腳和D-接腳進行N次上下拉操作，并記錄檢測結(jié)果；
[0021]在所述N次上下拉操作完成之后，判斷所述N次操作中最后M次操作的檢測結(jié)果是否一致；
[0022]當最后M次檢測結(jié)果為一致時，根據(jù)所述最后M次檢測結(jié)果，判斷所述第二設(shè)備的設(shè)備類型，其中M和N為正整數(shù)，且M < N。
[0023]本發(fā)明一實施例提出一種USB檢測系統(tǒng)，用于檢測連接于第一設(shè)備的第二設(shè)備的設(shè)備類型，其特征在于，所述檢測系統(tǒng)包括檢測模塊、處理模塊、操作模塊和判斷模塊，其中:
[0024]所述檢測模塊用于檢測所述第一設(shè)備的VBUS接腳是否與所述第二設(shè)備的VBUS接腳接觸；
[0025]所述處理模塊用于在所述檢測模塊檢測到所述第一設(shè)備的VBUS接腳與所述第二設(shè)備的VBUS接腳接觸之后，啟動延時；
[0026]所述操作模塊用于在所述延時完成之后啟動對所述第二設(shè)備的D+接腳和D-接腳的上下拉操作；
[0027]所述判斷模塊根據(jù)所述上下拉操作的結(jié)果判斷所述第二設(shè)備的設(shè)備類型。
[0028]本發(fā)明一實施例提出一種USB檢測系統(tǒng)，用于檢測連接于第一設(shè)備的第二設(shè)備的設(shè)備類型，，所述檢測系統(tǒng)包括第一檢測模塊、第二檢測模塊、操作模塊和判斷模塊，其中:
[0029]所述第一檢測模塊用于檢測所述第一設(shè)備的VBUS接腳是否與所述第二設(shè)備的VBUS接腳接觸；
[0030]所述第二檢測模塊在所述第一檢測模塊檢測出所述第一設(shè)備的VBUS接腳與所述第二設(shè)備的VBUS接腳接觸之后；檢測所述第一設(shè)備的D+接腳和D-接腳是否分別與所述第二設(shè)備的D+接腳和D-接腳接觸；
[0031 ] 所述操作模塊用于在所述第二檢測模塊判斷所述第一設(shè)備的D+接腳和D-接腳分別與所述第二設(shè)備的D+接腳和D-接腳接觸之后，對所述第二設(shè)備的D+接腳和D-接腳的上下拉操作；
[0032]所述判斷模塊根據(jù)所述上下拉操作的結(jié)果判斷所述第二設(shè)備的設(shè)備類型。
[0033]本發(fā)明一實施例提出一種USB檢測系統(tǒng)，用于檢測連接于第一設(shè)備的第二設(shè)備的設(shè)備類型，所述檢測系統(tǒng)包括檢測模塊、操作模塊、第一判斷模塊和第二判斷模塊，其中:
[0034]所述檢測模塊用于檢測所述第一設(shè)備的VBUS接腳是否與所述第二設(shè)備的VBUS接腳接觸；
[0035]所述操作模塊用于在所述檢測模塊檢測到所述第一設(shè)備的VBUS接腳與所述第二設(shè)備的VBUS接腳接觸之后，對所述第二設(shè)備的D+接腳和D-接腳進行N次上下拉操作，并記錄檢測結(jié)果；
[0036]所述第一判斷模塊判斷所述N次上下拉操作獲得的檢測結(jié)果中的最后M次檢測結(jié)果是否一致；
[0037]所述第二判斷模塊在所述第一判斷模塊判斷為一致時根據(jù)所述一致的檢測結(jié)果判斷所述第二設(shè)備的設(shè)備類型；其中M和N為正整數(shù)，且M < N。
[0038]根據(jù)上述描述可知，本發(fā)明提供了一種全新的USB檢測方案和檢測系統(tǒng)，完善電子設(shè)備USB插入檢測功能，避免因插入慢，D+/D-接觸延時太大，導致檢測類型判斷出錯，充電電流小，無法進行數(shù)據(jù)傳輸?shù)葐栴}。
【附圖說明】
[0039]圖1所示為現(xiàn)有的micro USB數(shù)據(jù)線的USB端和micro-B端接線的示意圖。
[0040]圖2所不為現(xiàn)有的BCl.2檢測啟動順序的不意圖。
[0041]圖3所不為USB的插頭端和設(shè)備的插座端的接腳的不意圖。
[0042]圖4A所示為本發(fā)明USB檢測方法的第一實施例的實施順序示意圖。
[0043]圖4B為對應的USB設(shè)備連接的示意圖。
[0044]圖4C所示為本發(fā)明第一實施例中的USB檢測方法的流程圖。
[0045]圖4D所示為本發(fā)明第一實施例中的USB檢測系統(tǒng)的方框圖。
[0046]圖5A所示為本發(fā)明USB檢測方法的第二實施例的實施順序示意圖。
[0047]圖5B所示為本發(fā)明第二實施例中的USB檢測方法的流程圖。
[0048]圖5C所示為本發(fā)明第二實施例中的USB檢測系統(tǒng)的方框圖。
[0049]圖6A所示為本發(fā)明USB檢測方法的第三實施例的實施順序圖。
[0050]圖6B所示為本發(fā)明第三實施例中的USB設(shè)備連接的示意圖。
[0051]圖6C所示為本發(fā)明第三實施例中的USB檢測方法的流程圖。
[0052]圖6D所示為本發(fā)明第三實施例中的USB檢測系統(tǒng)的方框圖。
【具體實施方式】
[0053]為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點能夠更加明顯易懂，下面結(jié)合附圖和【具體實施方式】對本發(fā)明作進一步詳細的說明。
[0054]需要說明的是，對USB設(shè)備來說，每個USB端具有黑線(GND)、綠線(D+)、白線(D-)、紅線(VBUS)接腳，micro USB端還具有一個空端(ID)。以下描述的“上下拉操作”是指在D+或D-端施加電壓和電流，當D+和D-之間為短路狀態(tài)時為標準充電，當D+和D-之間為開路狀態(tài)時為非標準充電，當D+和D-之間對地有一定阻抗(例如15k Ω )時建立數(shù)據(jù)傳輸。這是本領(lǐng)域技術(shù)人員公知的，在此不再展開說明。
[0055]實施例1
[0056]圖4A所示為本發(fā)明USB檢測方法的第一實施例的實施順序示意圖，圖4B為對應的USB設(shè)備連接的示意圖。如圖4A和圖4B所示，本發(fā)明第一實施例中在插座端增加延時電路，再通過軟件延時讀取操作，以在插頭端完全插入之后才對D+/D-進行上下拉操作。
[0057]如圖4B所示，第一設(shè)備10的VBUS是帶電的，通常為5V ;第二設(shè)備20的VBUS是不帶電的，為0V。第一設(shè)備10例如為電腦端，或稱插頭端，第二設(shè)備20例如為手機端，或稱插座端。延時電路30設(shè)置在第一設(shè)備10的VBUS端。當?shù)谝辉O(shè)備10和第二設(shè)備20連接后，第二設(shè)備20的VBUS也具有例如5V的電壓，由該電壓開啟觸發(fā)檢測。軟件讀取延時操作可以為檢測協(xié)議，當檢測到第二設(shè)備20的VBUS具有5V電壓時，自動經(jīng)過一定時間，再對D+/D-進彳丁檢測。
[0058]本實施例提出的USB檢測方法可以通過固化在第二設(shè)備20內(nèi)部的固件來實現(xiàn)。具體來說，圖4C所示為本發(fā)明第一實施例中的USB檢測方法的流程圖，該檢測流程通過燒制在第二設(shè)備20中的固件實現(xiàn)。
[0059]本發(fā)明還提出一種對應于實施例1的USB檢測系統(tǒng)，可以通過固件實現(xiàn)。圖4D所示為該實施例的USB檢測系統(tǒng)的方框圖。如圖4D所示，該USB檢測系統(tǒng)包括一檢測模塊40、一處理模塊50、一判斷模塊60及一操作模塊70和上述的延時電路3。
[0060]本實施例提出的檢測流程如下:
[0061 ] 步驟101，檢測第一設(shè)備10的VBUS接腳是否與第二設(shè)備20的VBUS接腳接觸；在步驟101中，檢測模塊40用于檢測第一設(shè)備10的VBUS接腳是否與第二設(shè)備的VBUS接腳接觸；例如，檢測模塊40會采集第二設(shè)備20的VBUS的電壓，當?shù)谝辉O(shè)備10的VBUS與第二設(shè)備20的VBUS接觸，檢測模塊40會根據(jù)BCl.2協(xié)議發(fā)送所采集到的高電平的電壓信號至處理模塊50。
[0062]步驟102，當檢測到第一設(shè)備10的VBUS接腳與第二設(shè)備20的VBUS接腳接觸時，啟動延時；在一實施例中，該延時可以通過第二設(shè)備20中的延時電路30實現(xiàn)；在步驟102中，當處理模塊50收到檢測模塊40發(fā)送的電壓信號之后，啟動延時；例如，處理模塊50接收檢測模塊40發(fā)送的電壓信號，根據(jù)該電壓信號發(fā)送第一信號至該固件的延時電路30，啟動該延時電路30。延時電路30也可以為硬件延時電路。
[0063]步驟103，在該延時完成之后，啟動對第二設(shè)備的D+/D-接腳的上下拉操作。在步驟103中，操作模塊70用于在延時完成之后啟動對第二設(shè)備20的D+接腳和D-接腳的上下拉操作；例如，該延時電路30完成延時之后，發(fā)送第二信號至處理模塊50，延時電路30延時的長度例如為5s，經(jīng)過5s之后，延時電路30發(fā)送第二信號S2至處理模塊50，啟動對D+/D-的上下拉操作。
[0064]步驟104，根據(jù)所述上下拉操作的結(jié)果，判斷所述第二設(shè)備的設(shè)備類型。在步驟104中，判斷模塊60用于根據(jù)對D+/D-的上下拉操作的結(jié)果判斷對應的第二設(shè)備20的設(shè)備類型。
[0065]具體地，步驟104可以包括以下子步驟:
[0066]步驟104a，檢測上下拉操作之后D+接腳和D-接腳的電平狀態(tài)，獲得檢測結(jié)果；該檢測結(jié)果例如為:D+/D-之間短路、D+/D-之間開路、D+/D-之間對地有一定阻抗(例如15kΩ)三者之一。
[0067]步驟104b，根據(jù)該檢測結(jié)果獲得對應于檢測結(jié)果的第二設(shè)備的設(shè)備類型，該設(shè)備類型例如可以為:標準充電類型、非標準充電類型、建立數(shù)據(jù)傳輸類型三者之一。
[0068]在一實施例中，判斷模塊60進一步包括:
[0069]第三檢測模塊，用于檢測上下拉操作后D+/D-接腳的電平狀態(tài)，獲得的檢測結(jié)果；
[0070]結(jié)果獲取模塊，用于根據(jù)檢測結(jié)果，獲得對應于所述檢測結(jié)果的第二設(shè)備的設(shè)備類型。
[0071 ] 優(yōu)選地，步驟104還可以包括:
[0072]步驟104c，根據(jù)第二設(shè)備的類型為該第二設(shè)備20配置資源。本實施例中的USB檢測系統(tǒng)還可以包括資源配置模塊，用于根據(jù)設(shè)備類型為第二設(shè)備配置資源。
[0073]當所述檢測結(jié)果為所述D+接腳和所述D-接腳之間短路，所述第二設(shè)備的設(shè)備類型為標準充電類型；則配置資源的步驟包括對第二設(shè)備20進行標準充電；
[0074]當所述檢測結(jié)果為所述D+接腳和所述D-接腳之間開路，所述第二設(shè)備的設(shè)備類型為非標準充電類型；則配置資源的步驟包括對第二設(shè)備20進行非標準充電；
[0075]當所述檢測結(jié)果為所述D+接腳和所述D-接腳之間對地有阻抗，所述第二設(shè)備的設(shè)備類型為數(shù)據(jù)傳輸類型；則配置資源的步驟包括與第二設(shè)備20之間進行數(shù)據(jù)傳輸。
[0076]值得一提的是，延時電路30的實現(xiàn)方式有多種，例如為RC電路、開關(guān)定時器等，延時電路30可以為本領(lǐng)域普通技術(shù)人員輕易實現(xiàn)，本發(fā)明并不以此為限。
[0077]通過本實施例提出的USB檢測方法和檢測系統(tǒng)，在一定時間內(nèi)，通過延時電路、軟件延時讀取操作等，能夠解決插入慢導致檢測類型判斷出錯的問題。
[0078]實施例2
[0079]圖5A所示為本發(fā)明USB檢測方法的第二實施例的實施順序示意圖，如圖5A所示，本實施例中通過多次對D+/D-進行上下拉操作和檢測D+/D-上電平狀態(tài)，可以設(shè)置檢測的次數(shù)，以最后幾次檢測做有效判定。舉例來說，可以每隔Is檢測一次，在30s之內(nèi)完成檢測。與上一實施例類似，本實施例對D+/D-的多次檢測也可以通過固化在第二設(shè)備20內(nèi)部的固件實現(xiàn)。具體來說，圖5B所示為本發(fā)明第二實施例中的USB檢測方法的流程圖。
[0080]本發(fā)明還提出一種對應于實施例2的USB檢測系統(tǒng)，可以通過固件實現(xiàn)。圖5C所示為該實施例的USB檢測系統(tǒng)的方框圖。如圖5C所示，該USB檢測系統(tǒng)包括一檢測模塊40、一操作模塊70、第一判斷模塊60a和第二判斷模塊60b。
[0081]本發(fā)明實施例提供的檢測流程如下:
[0082]步驟201，檢測第一設(shè)備10的VBUS接腳是否與第二設(shè)備20的VBUS接腳接觸；在步驟201中，檢測模塊40用于檢測第一設(shè)備10的VBUS接腳是否與第二設(shè)備20的VBUS接腳接觸；例如，檢測模塊40會采集第二設(shè)備20的VBUS的電壓，當?shù)谝辉O(shè)備10的VBUS與第二設(shè)備20的VBUS接觸，檢測模塊40會根據(jù)BCl.2協(xié)議發(fā)送所采集到的高電平的電壓信號至固件中的操作模塊70。
[0083]步驟202，在檢測到第一設(shè)備10的VBUS與第二設(shè)備20的VBUS接觸后，對D+/D-進行N次上下拉操作，并記錄檢測結(jié)果；該檢測結(jié)果例如為:D+/D-之間短路、D+/D-之間開路、D+/D-之間對地有一定阻抗(例如15k Ω)三者之一。在步驟202中，操作模塊70在判斷出接觸之后，對第二設(shè)備20的D+接腳和D-接腳進行N次上下拉操作，并記錄檢測結(jié)果；例如，操作模塊70接收檢測模塊40發(fā)送的電壓信號，根據(jù)該電壓信號對D+/D-進行N次上下拉操作，所述操作模塊70記錄N次上下拉操作每次的檢測結(jié)果；該檢測結(jié)果例如為:D+/D-之間短路、D+/D-之間開路、D+/D-之間對地有一定阻抗(例如15k Ω )三者之一。
[0084]步驟203，在檢測到對D+/D-的N次上下拉操作完成之后，判斷N次上下拉操作中最后M次檢測結(jié)果是否一致；在步驟203中，當N次上下拉操作完成之后，第一判斷模塊60a判斷N次上下拉操作獲得的檢測結(jié)果中的最后M次檢測結(jié)果是否一致。
[0085]步驟204，當最后M次檢測結(jié)果為一致，通過該最后M次檢測結(jié)果判斷該第二設(shè)備20的類型。其中M和N為正整數(shù)，且M彡N。該檢測結(jié)果可以是:D+/D-之間短路、D+/D-之間開路、D+/D-之間對地有一定阻抗(例如15kQ)三者之一。該第二設(shè)備的設(shè)備類型可以為:標準充電類型、非標準充電類型、建立數(shù)據(jù)傳輸類型三者之一。在步驟204中，第二判斷模塊60b在第一判斷模塊60a判斷為一致時根據(jù)所述一致的檢測結(jié)果判斷所述第二設(shè)備20的設(shè)備類型。與上一實施例相同，在此不再贅述。
[0086]優(yōu)選地，本發(fā)明USB檢測方法的實施例中，判斷所述第二設(shè)備的設(shè)備類型的步驟之后，所述USB檢測方法還包括:
[0087]根據(jù)所述設(shè)備類型為所述第二設(shè)備配置資源。
[0088]對應地，所述USB檢測系統(tǒng)的實施例中還包括:
[0089]資源配置模塊，根據(jù)所述設(shè)備類型為所述第二設(shè)備配置資源。
[0090]本實施例中M和N均為正整數(shù)，同時M彡N，N為例如30次時，M可以為5次。通過本實施例提供的檢測裝置和系統(tǒng)，在D+/D-在最后幾次檢測前接觸上的情況下，處理器不會誤判，因此能夠解決插入慢導致檢測類型判斷出錯的問題。
[0091]實施例3
[0092]圖6A所示為本發(fā)明USB檢測方法的第三實施例的實施順序圖。圖6B所示為對應的USB設(shè)備連接的示意圖。如圖6A和圖6B所示，在USB第二設(shè)備20 (插座端)的D+/D-上增加接觸檢測電路，當接觸檢測電路檢測到第一設(shè)備10的D+/D-與第二設(shè)備20的D+/D-接觸到之后，產(chǎn)生中斷給處理器，由處理器控制啟動對D+/D-進行上下拉操作及后續(xù)流程。
[0093]與上一實施例類似，本實施例對D+/D-的多次檢測也可以通過固化在第二設(shè)備20內(nèi)部的固件實現(xiàn)。具體來說，圖6C所示為本發(fā)明第三實施例中的USB檢測方法的流程圖。
[0094]本發(fā)明還提出一種對應于實施例3的USB檢測系統(tǒng)，可以通過固件實現(xiàn)。圖6D所示為該實施例的USB檢測系統(tǒng)的方框圖。如圖6D所示，該USB檢測系統(tǒng)包括一第一檢測模塊40a、一第二檢測模塊40b、一操作模塊70和一判斷模塊60。在該USB檢測系統(tǒng)的一實施例中:
[0095]本發(fā)明實施例提供的檢測流程如下:
[0096]步驟301，檢測第一設(shè)備10的VBUS是否與第二設(shè)備20的VBUS接觸；在步驟301中，第一檢測模塊40a用于檢測第一設(shè)備10的VBUS接腳是否與第二設(shè)備20的VBUS接腳接觸；例如，固件中的第一檢測模塊40a會采集第二設(shè)備20的VBUS的電壓，當?shù)谝辉O(shè)備10的VBUS與第二設(shè)備20的VBUS接觸，第一檢測模塊40a會根據(jù)BCl.2協(xié)議發(fā)送所采集到的高電平的電壓信號至固件中的第二檢測模塊40b ;
[0097]步驟302，當檢測到第一設(shè)備10的VBUS與第二設(shè)備20的VBUS接觸時，檢測第一設(shè)備10的D+和D-是否與第二設(shè)備20的D+和D-接觸；在步驟302中，第二檢測模塊40b在接收到電壓信號之后；檢測第一設(shè)備20的D+接腳和D-接腳是否分別與第二設(shè)備20的D+接腳和D-接腳接觸；例如，第二檢測模塊40b在檢測到接觸后，將第二信號發(fā)送給操作模塊70。
[0098]步驟303，當檢測到第一設(shè)備10的D+和D-與第二設(shè)備20的D+和D-接觸時，啟動對D+/D-的上下拉操作；在步驟303中，操作模塊70用于在第二檢測模塊判斷第一設(shè)備的D+接腳和D-接腳分別與第二設(shè)備的D+接腳和D-接腳接觸之后，對第二設(shè)備的D+接腳和D-接腳的上下拉操作；
[0099]步驟304，根據(jù)所述上下拉操作的結(jié)果，判斷所述第二設(shè)備的設(shè)備類型。在步驟304中，判斷模塊60用于根據(jù)對D+/D-的上下拉操作的結(jié)果判斷對應的第二設(shè)備20的設(shè)備類型。
[0100]檢測所述第一設(shè)備的D+接腳和D-接腳是否分別與所述第二設(shè)備的D+接腳和D-接腳接觸可以通過在所述第一設(shè)備的D+接腳和D-接腳與所述第二設(shè)備的D+接腳和D-接腳之間設(shè)置檢測電路實現(xiàn)。
[0101]具體地，步驟304可以包括以下子步驟:
[0102]步驟304a，檢測上下拉操作后D+/D-接腳的電平狀態(tài)，獲得檢測結(jié)果；該檢測結(jié)果例如為:D+/D-之間短路、D+/D-之間開路、D+/D-之間對地有一定阻抗(例如15k Ω)三者之一O
[0103]步驟304b，根據(jù)該檢測結(jié)果獲得對應于該檢測結(jié)果的第二設(shè)備的設(shè)備類型，該設(shè)備類型例如可以為:標準充電類型、非標準充電類型、建立數(shù)據(jù)傳輸類型三者之一。
[0104]優(yōu)選地，步驟304還可以包括:
[0105]步驟304c，根據(jù)所述設(shè)備類型為所述第二設(shè)備20配置資源。
[0106]對應地，在USB檢測系統(tǒng)的一實施例中，該檢測系統(tǒng)還包括:
[0107]第三檢測模塊，用于檢測所述上下拉操作后所述D+接腳和所述D-接腳的電平狀態(tài)，獲得檢測結(jié)果；
[0108]結(jié)果獲取模塊，根據(jù)所述檢測結(jié)果，獲得對應于所述檢測結(jié)果的第二設(shè)備的設(shè)備類型；以及
[0109]資源配置模塊，根據(jù)所述設(shè)備類型為所述第二設(shè)備配置資源。
[0110]通過本實施例提出的USB檢測方法和檢測系統(tǒng)，一旦第二設(shè)備20的D+/D-與第一設(shè)備10的D+/D-連接上，便對D+/D-進行上下拉操作，能夠修正原根據(jù)BCl.2協(xié)議判斷的錯誤，解決插入慢導致檢測類型判斷出錯的問題。
[0111]根據(jù)上述描述可知，本發(fā)明提供了一種全新的USB檢測方案和檢測系統(tǒng)，完善電子設(shè)備USB插入檢測功能，避免因插入慢，D+/D-接觸延時太大，導致檢測類型判斷出錯，充電電流小，無法進行數(shù)據(jù)傳輸?shù)葐栴}。
[0112]以上對本發(fā)明所提供的一種USB檢測方法和檢測系統(tǒng)進行了詳細介紹，本文中應用了具體個例對本發(fā)明的原理及實施方式進行了闡述，以上具體實施例的說明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其核心思想；同時，對于本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員，依據(jù)本發(fā)明的思想，在【具體實施方式】及應用范圍上均會有改變之處，并且各實施例可以相互結(jié)合以獲得更完善的技術(shù)方案，均屬于本發(fā)明的范圍之內(nèi)。綜上所述，本說明書內(nèi)容不應理解為對本發(fā)明的限制。
【主權(quán)項】
1.一種USB檢測方法，用于檢測連接于第一設(shè)備的第二設(shè)備的設(shè)備類型，其特征在于，所述檢測方法包括: 檢測所述第一設(shè)備的VBUS接腳是否與所述第二設(shè)備的VBUS接腳接觸； 在檢測到所述第一設(shè)備的VBUS接腳與所述第二設(shè)備的VBUS接腳接觸后，啟動延時； 在所述延時完成之后，啟動對所述第二設(shè)備的D+接腳和D-接腳的上下拉操作；以及 根據(jù)所述上下拉操作的結(jié)果，判斷所述第二設(shè)備的設(shè)備類型。2.如權(quán)利要求1所述的USB檢測方法，其特征在于，所述啟動延時為啟動設(shè)置于所述第二設(shè)備內(nèi)的延時電路。3.—種USB檢測方法，用于檢測連接于第一設(shè)備的第二設(shè)備的設(shè)備類型，其特征在于，所述檢測方法包括: 檢測所述第一設(shè)備的VBUS接腳是否與所述第二設(shè)備的VBUS接腳接觸； 在檢測到所述第一設(shè)備的VBUS接腳與所述第二設(shè)備的VBUS接腳接觸后，檢測所述第一設(shè)備的D+接腳和D-接腳是否分別與所述第二設(shè)備的D+接腳和D-接腳接觸； 在檢測到所述第一設(shè)備的D+接腳和D-接腳分別與所述第二設(shè)備的D+接腳和D-接腳接觸之后，啟動對所述第二設(shè)備的D+接腳和D-接腳的上下拉操作；以及根據(jù)所述上下拉操作的結(jié)果，判斷所述第二設(shè)備的設(shè)備類型。4.如權(quán)利要求3所述的USB檢測方法，其特征在于，所述檢測所述第一設(shè)備的D+接腳和D-接腳是否分別與所述第二設(shè)備的D+接腳和D-接腳接觸是通過在所述第一設(shè)備的D+接腳和D-接腳與所述第二設(shè)備的D+接腳和D-接腳之間設(shè)置檢測電路實現(xiàn)。5.如權(quán)利要求1或3所述的USB檢測方法，其特征在于，所述根據(jù)所述上下拉操作的結(jié)果，判斷所述第二設(shè)備的設(shè)備類型的步驟包括如下子步驟: 檢測所述上下拉操作后所述D+接腳和D-接腳的電平狀態(tài)，獲得檢測結(jié)果； 根據(jù)所述檢測結(jié)果，獲得對應于所述檢測結(jié)果的所述第二設(shè)備的設(shè)備類型。6.如權(quán)利要求5所述的USB檢測方法，其特征在于， 當所述檢測結(jié)果為所述D+接腳和所述D-接腳之間短路，所述第二設(shè)備的設(shè)備類型為標準充電類型； 當所述檢測結(jié)果為所述D+接腳和所述D-接腳之間開路，所述第二設(shè)備的設(shè)備類型為非標準充電類型； 當所述檢測結(jié)果為所述D+接腳和所述D-接腳之間對地有阻抗，所述第二設(shè)備的設(shè)備類型為數(shù)據(jù)傳輸類型； 判斷所述第二設(shè)備的設(shè)備類型的步驟之后，所述USB檢測方法還包括: 根據(jù)所述設(shè)備類型為所述第二設(shè)備配置資源。7.—種USB檢測方法，用于檢測連接于第一設(shè)備的第二設(shè)備的設(shè)備類型，其特征在于，所述檢測方法包括: 檢測所述第一設(shè)備的VBUS接腳是否與所述第二設(shè)備的VBUS接腳接觸； 在檢測到所述第一設(shè)備的VBUS接腳與所述第二設(shè)備的VBUS接腳接觸后，對所述第二設(shè)備的D+接腳和D-接腳進行N次上下拉操作，并記錄檢測結(jié)果； 在所述N次上下拉操作完成之后，判斷所述N次操作中最后M次操作的檢測結(jié)果是否一致； 當最后M次檢測結(jié)果為一致時，根據(jù)所述最后M次檢測結(jié)果，判斷所述第二設(shè)備的設(shè)備類型，其中M和N為正整數(shù)，且M < No8.如權(quán)利要求7所述的USB檢測方法，其特征在于，判斷所述第二設(shè)備的設(shè)備類型的步驟之后，所述USB檢測方法還包括: 根據(jù)所述設(shè)備類型為所述第二設(shè)備配置資源。9.一種USB檢測系統(tǒng)，用于檢測連接于第一設(shè)備的第二設(shè)備的設(shè)備類型，其特征在于，所述檢測系統(tǒng)包括檢測模塊、處理模塊、操作模塊和判斷模塊，其中: 所述檢測模塊用于檢測所述第一設(shè)備的VBUS接腳是否與所述第二設(shè)備的VBUS接腳接觸； 所述處理模塊用于在所述檢測模塊檢測到所述第一設(shè)備的VBUS接腳與所述第二設(shè)備的VBUS接腳接觸之后，啟動延時； 所述操作模塊用于在所述延時完成之后啟動對所述第二設(shè)備的D+接腳和D-接腳的上下拉操作； 所述判斷模塊根據(jù)所述上下拉操作的結(jié)果判斷所述第二設(shè)備的設(shè)備類型。10.如權(quán)利要求9所述的USB檢測系統(tǒng)，其特征在于，在所述檢測模塊檢測到所述第一設(shè)備的VBUS接腳與所述第二設(shè)備的VBUS接腳接觸之后，所述處理模塊用于啟動延時電路。11.一種USB檢測系統(tǒng)，用于檢測連接于第一設(shè)備的第二設(shè)備的設(shè)備類型，其特征在于，所述檢測系統(tǒng)包括第一檢測模塊、第二檢測模塊、操作模塊和判斷模塊，其中: 所述第一檢測模塊用于檢測所述第一設(shè)備的VBUS接腳是否與所述第二設(shè)備的VBUS接腳接觸； 所述第二檢測模塊在所述第一檢測模塊檢測出所述第一設(shè)備的VBUS接腳與所述第二設(shè)備的VBUS接腳接觸之后；檢測所述第一設(shè)備的D+接腳和D-接腳是否分別與所述第二設(shè)備的D+接腳和D-接腳接觸； 所述操作模塊用于在所述第二檢測模塊檢測到所述第一設(shè)備的D+接腳和D-接腳分別與所述第二設(shè)備的D+接腳和D-接腳接觸之后，對所述第二設(shè)備的D+接腳和D-接腳的上下拉操作； 所述判斷模塊根據(jù)所述上下拉操作的結(jié)果判斷所述第二設(shè)備的設(shè)備類型。12.如權(quán)利要求11所述的USB檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述檢測所述第一設(shè)備的D+接腳和D-接腳是否分別與所述第二設(shè)備的D+接腳和D-接腳接觸是通過在所述第一設(shè)備的D+接腳和D-接腳是否分別與所述第二設(shè)備的D+接腳和D-接腳之間設(shè)置檢測電路實現(xiàn)。13.如權(quán)利要求9或11所述的USB檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述判斷模塊包括: 第三檢測模塊，用于檢測所述上下拉操作后所述D+接腳和D-接腳的電平狀態(tài)，獲得檢測結(jié)果；以及 結(jié)果獲取模塊，根據(jù)所述檢測結(jié)果，獲得對應于所述檢測結(jié)果的所述第二設(shè)備的設(shè)備類型。14.如權(quán)利要求13所述的USB檢測系統(tǒng)，其特征在于， 當所述檢測結(jié)果為所述D+接腳和所述D-接腳之間短路，所述第二設(shè)備的設(shè)備類型為標準充電類型； 當所述檢測結(jié)果為所述D+接腳和所述D-接腳之間開路，所述第二設(shè)備的設(shè)備類型為非標準充電類型； 當所述檢測結(jié)果為所述D+接腳和所述D-接腳之間對地有阻抗，所述第二設(shè)備的設(shè)備類型為數(shù)據(jù)傳輸類型； 所述USB檢測系統(tǒng)還包括: 資源配置模塊，根據(jù)所述設(shè)備類型為所述第二設(shè)備配置資源。15.一種USB檢測系統(tǒng)，用于檢測連接于第一設(shè)備的第二設(shè)備的設(shè)備類型，其特征在于，所述檢測系統(tǒng)包括檢測模塊、操作模塊、第一判斷模塊和第二判斷模塊，其中: 所述檢測模塊用于檢測所述第一設(shè)備的VBUS接腳是否與所述第二設(shè)備的VBUS接腳接觸； 所述操作模塊用于在所述檢測模塊檢測到所述第一設(shè)備的VBUS接腳與所述第二設(shè)備的VBUS接腳接觸之后，對所述第二設(shè)備的D+接腳和D-接腳進行N次上下拉操作，并記錄檢測結(jié)果； 所述第一判斷模塊判斷所述N次上下拉操作獲得的檢測結(jié)果中的最后M次檢測結(jié)果是否一致； 所述第二判斷模塊在所述第一判斷模塊判斷為一致時根據(jù)所述一致的檢測結(jié)果判斷所述第二設(shè)備的設(shè)備類型；其中M和N為正整數(shù)，且M < N。16.如權(quán)利要求15所述的USB檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述USB檢測系統(tǒng)還包括: 資源配置模塊，根據(jù)所述設(shè)備類型為所述第二設(shè)備配置資源。
【文檔編號】G06F11/30GK105824732SQ201510598131
【公開日】2016年8月3日
【申請日】2015年9月18日
【發(fā)明人】尹全喜
【申請人】維沃移動通信有限公司