一種改善過長via stub影響的設(shè)計方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及服務(wù)器主板研發(fā)設(shè)計領(lǐng)域，具體地說是一種改善過長VIA STUB影響的設(shè)計方法。
【背景技術(shù)】
[0002]伴隨著云計算的到來，服務(wù)器的發(fā)展迅速崛起，在服務(wù)器的設(shè)計中，為滿足客戶的不同需求，服務(wù)器應(yīng)用功能越來越強大，隨著功能的增加，主板的空間設(shè)計需求及成本也在不斷提升。
[0003]在主板設(shè)計中，在高速信號布線和高速時鐘信號布線時，都要求走線時少過孔、少分枝，以免造成樹粧(stub)。由于分枝或樹粧(Stub)會產(chǎn)生寄生電容，不僅會產(chǎn)生信號的反射和串繞，而且會造成高頻信號線走在表層，產(chǎn)生較大的電磁輻射。過孔和樹粧(Stub)在高速PCB中的影響，不僅反映在對信號的影響，同時，也導(dǎo)致導(dǎo)線的阻抗發(fā)生變化。樹粧越長，影響越是嚴重。
[0004]而對于過孔樹粧(via stub)對信號的影響，往往是設(shè)計者容易忽略的問題。通常設(shè)計中研發(fā)人員只會要求過孔樹粧(via stub)盡量短或者不出現(xiàn)樹粧，但是對于高速線密集的板卡不可能做到過孔樹粧(via stub)太短，甚至會出現(xiàn)過孔樹粧(via stub)達到80mil的現(xiàn)象。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足，提供一種改善過長VIA STUB影響的設(shè)計方法。
[0006]本發(fā)明的技術(shù)方案是按以下方式實現(xiàn)的，其結(jié)構(gòu)中將鏈路設(shè)計中連接via stub后面走線長度加長，使得長鏈路的信號損耗將過孔樹粧產(chǎn)生的諧振點往高頻移動，使得信號三倍基頻內(nèi)無諧振點。
[0007]本文采用HFSS軟件仿真沒有過孔樹粧(via stub)和過孔樹粧80mil的過孔，得到過孔樹粧(via stub)為零和80mil時的損耗曲線，對比發(fā)現(xiàn)，過孔會造成諧振點，但沒有過孔樹粧(via stub)的損耗曲線中諧振處損耗較小，而過孔樹粧(via stub)為80mil時的損耗曲線上的諧振點處的損耗非常大。因此，過長過孔樹粧(via stub)對信號的影響不容忽略。
[0008]本發(fā)明的優(yōu)點是:
本發(fā)明的一種改善過長VIA STUB影響的設(shè)計方法和現(xiàn)有技術(shù)相比，對于過長via stub產(chǎn)生的較大諧振，可以將鏈路設(shè)計中連接via stub后面走線長度加長，使得長鏈路的信號損耗將過孔樹粧產(chǎn)生的諧振點往高頻移動，使得信號三倍基頻內(nèi)無諧振點；該方法簡單易用，消除阻抗不連續(xù)點的同時達到信號完整性的目的。
[0009]實施方式
下面對本發(fā)明的一種改善過長VIA STUB影響的設(shè)計方法作以下詳細說明。
[0010]本發(fā)明的一種改善過長VIA STUB影響的設(shè)計方法，過長via stub產(chǎn)生的較大諧振，將鏈路設(shè)計中連接via stub后面走線長度加長，使得長鏈路的信號損耗將過孔樹粧產(chǎn)生的諧振點往高頻移動，使得信號三倍基頻內(nèi)無諧振點。
[0011]采用HFSS仿真軟件仿真得到存在過孔樹粧(via stub)時的損耗曲線，得到發(fā)生較大諧振點的諧振頻率。較大諧振點處的諧振頻率為13.7GHZ左右，而信號線的速率為12Gbs,基頻為6GHZ。計算高頻能量為基頻的三倍頻范圍內(nèi)的話(也就是18GHZ)，也就是諧振點處的諧振頻率要出現(xiàn)在18GHZ以上才不會對信號有影響。
[0012]采用Hspice軟件仿真分析，在包含有過孔樹粧(via stub)的鏈路設(shè)計中，將連接過孔后面的走線加長，(根據(jù)諧振產(chǎn)生的原因，即信號阻抗不匹配，引起信號差模轉(zhuǎn)共模，同時差模分量比共模分量傳輸快，即產(chǎn)生諧振點，而增長走線長度可以使得差模分量損耗增大，諧振點也會隨著往高頻移動)使得長鏈路損耗將過孔樹粧(via stub)產(chǎn)生的諧振點往高頻移動，即信號在三倍基頻內(nèi)無諧振點，達到信號完整性的目的。
[0013]加長鏈路設(shè)計中連接過孔樹粧(via stub)后面的走線長度，鏈路加長到20inch時可發(fā)現(xiàn)諧振點在18GHZ頻率范圍內(nèi)已經(jīng)消失。
[0014]將仿真得到的鏈路長度加入系統(tǒng)設(shè)計中，在layout設(shè)計中，將過孔樹粧(viastub)后面走線長度繞線為仿真得到的長度。
[0015]本發(fā)明的一種改善過長VIA STUB影響的設(shè)計方法其加工制作非常簡單方便，按照說明書所示即可加工。
[0016]除說明書所述的技術(shù)特征外，均為本專業(yè)技術(shù)人員的已知技術(shù)。
【主權(quán)項】
1.一種改善過長VIA STUB影響的設(shè)計方法，其特征在于將鏈路設(shè)計中連接via stub后面走線長度加長，使長鏈路的信號損耗將過孔樹粧產(chǎn)生的諧振點往高頻移動，使得信號三倍基頻內(nèi)無諧振點。
【專利摘要】本發(fā)明提供一種改善過長VIA？STUB影響的設(shè)計方法,將鏈路設(shè)計中連接via？stub后面走線長度加長，使得長鏈路的信號損耗將過孔樹樁產(chǎn)生的諧振點往高頻移動，使得信號三倍基頻內(nèi)無諧振點。本發(fā)明的一種改善過長VIA？STUB影響的設(shè)計方法和現(xiàn)有技術(shù)相比，對于過長via？stub產(chǎn)生的較大諧振，可以將鏈路設(shè)計中連接via？stub后面走線長度加長，使得長鏈路的信號損耗將過孔樹樁產(chǎn)生的諧振點往高頻移動，使得信號三倍基頻內(nèi)無諧振點；該方法簡單易用，消除阻抗不連續(xù)點的同時達到信號完整性的目的。
【IPC分類】G06F17/50
【公開號】CN105183962
【申請?zhí)枴緾N201510529390
【發(fā)明人】李永翠, 武寧
【申請人】浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司
【公開日】2015年12月23日
【申請日】2015年8月26日