電腦檢測(cè)系統(tǒng)及方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及檢測(cè)領(lǐng)域，特別是關(guān)于一種電腦檢測(cè)系統(tǒng)及方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 當(dāng)前電腦應(yīng)用廣泛，長(zhǎng)時(shí)間的使用，電腦也會(huì)出現(xiàn)一些故障，電腦如何檢修，則為 現(xiàn)在面臨的一大問題。
[0003] 業(yè)界出現(xiàn)許多用以偵測(cè)電腦工作狀態(tài)的調(diào)試系統(tǒng)，其中有一種調(diào)試卡，該卡插接 于主板的PCI(PeripheralComponentInterconnection)插槽上，其包括一顯示裝置，該顯 示裝置為若干發(fā)光二極管構(gòu)成，該顯示裝置可顯示測(cè)試過程的數(shù)字符號(hào)，比如數(shù)據(jù)（Data)、 地址（Address)、指令（Command)及位組使能〇E#)等。然而，該調(diào)試卡無法檢測(cè)出哪些元 件是否上電，這樣對(duì)電腦檢測(cè)不夠完整。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種能檢測(cè)元件是否上電的電腦檢測(cè)系統(tǒng)及方法。
[0005] -種電腦檢測(cè)系統(tǒng)，包括一主板及一顯不裝置，所述主板包括一第一電子兀件、一 第二電子元件及一控制處理芯片，所述第一電子元件及一第二電子元件連接所述控制處理 芯片，所述控制處理芯片包括一檢測(cè)模塊、一分析模塊、一存儲(chǔ)模塊及一上電模塊，所述存 儲(chǔ)模塊存儲(chǔ)有對(duì)應(yīng)不同上電狀態(tài)的代碼數(shù)據(jù)，所述上電模塊在所述主板接收到一開機(jī)信號(hào) 后對(duì)所述第一電子元件及所述第二電子元件上電，所述檢測(cè)模塊檢測(cè)所述第一電子元件及 所述第二電子元件的上電狀態(tài)并將所述上電狀態(tài)發(fā)送給所述份分析模塊，所述分析模塊在 根據(jù)所述存儲(chǔ)模塊存儲(chǔ)的代碼數(shù)據(jù)判斷所述上電狀態(tài)異常后將對(duì)應(yīng)所述上電狀態(tài)的代碼 數(shù)據(jù)發(fā)送給所述顯示裝置進(jìn)行顯示。
[0006] 優(yōu)選地，所述電腦檢測(cè)系統(tǒng)還包括一存儲(chǔ)有開機(jī)自檢程序的BIOS芯片，在所述主 板接收到所述開機(jī)信號(hào)后進(jìn)行開機(jī)自檢，所述分析模塊在所述主板檢查出問題時(shí)從所述 BIOS芯片獲取自檢錯(cuò)誤代碼并將所述自檢錯(cuò)誤代碼顯示于所述顯示裝置上。
[0007] 優(yōu)選地，所述顯示裝置包括一數(shù)碼管組合。
[0008] 優(yōu)選地，所述主板包括一主板本體，所述第一電子元件、所述第二電子元件及所述 控制處理芯片均電性連接所述主板本體。
[0009] -種電腦檢測(cè)方法，應(yīng)用于一電腦中，所述電腦包括一主板及一顯示裝置，所述主 板包括一第一電子元件、一第二電子元件及一控制處理芯片，所述電腦檢測(cè)方法包括如下 步驟： 所述控制處理芯片在所述主板接收到一開機(jī)信號(hào)后對(duì)所述第一電子元件及所述第二 電子元件上電； 所述控制處理芯片檢測(cè)所述第一電子元件及所述第二電子元件的上電狀態(tài)； 所述控制處理芯片根據(jù)存儲(chǔ)的對(duì)應(yīng)不同上電狀態(tài)的代碼數(shù)據(jù)判斷所述上電狀態(tài)異常 后將對(duì)應(yīng)所述上電狀態(tài)的代碼數(shù)據(jù)發(fā)送給所述顯示裝置進(jìn)行顯示。
[0010] 優(yōu)選地，所述主板接收到所述開機(jī)信號(hào)后進(jìn)行開機(jī)自檢，所述控制處理芯片在所 述主板檢查出問題時(shí)從所述主板的BIOS芯片獲取自檢錯(cuò)誤代碼并將所述自檢錯(cuò)誤代碼顯 示于所述顯示裝置上。
[0011] 優(yōu)選地，所述顯示裝置包括一數(shù)碼管組合。
[0012] 與現(xiàn)有技術(shù)相比，在上述電腦檢測(cè)系統(tǒng)中，所述控制處理芯片對(duì)所述電子元件上 電，并檢測(cè)電子元件的上電狀態(tài)，當(dāng)電子元件上電異常時(shí)，將對(duì)應(yīng)上電異常的代碼數(shù)據(jù)顯示 于顯示裝置上。所述電腦檢測(cè)系統(tǒng)能顯示電子元件的上電狀態(tài)，從而給檢測(cè)者更多的檢測(cè) 信息。
【附圖說明】
[0013] 圖1是本發(fā)明電腦檢測(cè)系統(tǒng)較佳實(shí)施方式的原理框圖。
[0014] 圖2是本發(fā)明電腦檢測(cè)方法較佳實(shí)施方式的流程圖。
[0015] 主要元件符號(hào)說明
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種電腦檢測(cè)系統(tǒng)，包括一主板及一顯不裝置，其特征在于：所述主板包括一第一 電子元件、一第二電子元件及一控制處理芯片，所述第一電子元件及一第二電子元件連接 所述控制處理芯片，所述控制處理芯片包括一檢測(cè)模塊、一分析模塊、一存儲(chǔ)模塊及一上電 模塊，所述存儲(chǔ)模塊存儲(chǔ)有對(duì)應(yīng)不同上電狀態(tài)的代碼數(shù)據(jù)，所述上電模塊在所述主板接收 到一開機(jī)信號(hào)后對(duì)所述第一電子元件及所述第二電子元件上電，所述檢測(cè)模塊檢測(cè)所述第 一電子元件及所述第二電子元件的上電狀態(tài)并將所述上電狀態(tài)發(fā)送給所述份分析模塊，所 述分析模塊在根據(jù)所述存儲(chǔ)模塊存儲(chǔ)的代碼數(shù)據(jù)判斷所述上電狀態(tài)異常后將對(duì)應(yīng)所述上 電狀態(tài)的代碼數(shù)據(jù)發(fā)送給所述顯示裝置進(jìn)行顯示。
2. 如權(quán)利要求1所述的電腦檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：所述電腦檢測(cè)系統(tǒng)還包括一存儲(chǔ) 有開機(jī)自檢程序的BIOS芯片，在所述主板接收到所述開機(jī)信號(hào)后進(jìn)行開機(jī)自檢，所述分析 模塊在所述主板檢查出問題時(shí)從所述BIOS芯片獲取自檢錯(cuò)誤代碼并將所述自檢錯(cuò)誤代碼 顯示于所述顯示裝置上。
3. 如權(quán)利要求1所述的電腦檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：所述顯示裝置包括一數(shù)碼管組合。
4. 如權(quán)利要求1所述的電腦檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：所述主板包括一主板本體，所述第 一電子元件、所述第二電子元件及所述控制處理芯片均電性連接所述主板本體。
5. -種電腦檢測(cè)方法，應(yīng)用于一電腦中，所述電腦包括一主板及一顯示裝置，所述主板 包括一第一電子元件、一第二電子元件及一控制處理芯片，其特征在于：所述電腦檢測(cè)方法 包括如下步驟： 所述控制處理芯片在所述主板接收到一開機(jī)信號(hào)后對(duì)所述第一電子元件及所述第二 電子元件上電； 所述控制處理芯片檢測(cè)所述第一電子元件及所述第二電子元件的上電狀態(tài)； 所述控制處理芯片根據(jù)存儲(chǔ)的對(duì)應(yīng)不同上電狀態(tài)的代碼數(shù)據(jù)判斷所述上電狀態(tài)異常 后將對(duì)應(yīng)所述上電狀態(tài)的代碼數(shù)據(jù)發(fā)送給所述顯示裝置進(jìn)行顯示。
6. 如權(quán)利要求5所述的電腦檢測(cè)方法，其特征在于：所述主板接收到所述開機(jī)信號(hào)后 進(jìn)行開機(jī)自檢，所述控制處理芯片在所述主板檢查出問題時(shí)從所述主板的BIOS芯片獲取 自檢錯(cuò)誤代碼并將所述自檢錯(cuò)誤代碼顯示于所述顯示裝置上。
7. 如權(quán)利要求5所述的電腦檢測(cè)方法，其特征在于：所述顯示裝置包括一數(shù)碼管組合。
【專利摘要】本發(fā)明提供一種電腦檢測(cè)系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括一主板及一顯示裝置，主板包括第一電子元件、第二電子元件及控制處理芯片，控制處理芯片包括一檢測(cè)模塊、一分析模塊、一存儲(chǔ)模塊及一上電模塊，存儲(chǔ)模塊存儲(chǔ)有對(duì)應(yīng)不同上電狀態(tài)的代碼數(shù)據(jù)，上電模塊在主板接收到一開機(jī)信號(hào)后對(duì)第一電子元件及第二電子元件上電，檢測(cè)模塊檢測(cè)第一電子元件及第二電子元件的上電狀態(tài)并將上電狀態(tài)發(fā)送給份分析模塊，分析模塊在根據(jù)存儲(chǔ)模塊存儲(chǔ)的代碼數(shù)據(jù)判斷上電狀態(tài)異常后將對(duì)應(yīng)上電狀態(tài)的代碼數(shù)據(jù)發(fā)送給顯示裝置進(jìn)行顯示。另外，本發(fā)明還提供一種電腦檢測(cè)方法。
【IPC分類】G06F11-32
【公開號(hào)】CN104794042
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201410029276
【發(fā)明人】楊敏, 王信書, 洪建宏
【申請(qǐng)人】鴻富錦精密工業(yè)(武漢)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司
【公開日】2015年7月22日
【申請(qǐng)日】2014年1月22日