專利名稱：磁盤控制裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用以控制磁頭對磁盤存取的磁盤控制裝置，此磁盤是多磁道的，每個(gè)磁道有多扇形區(qū)，特別涉及到一種用處理機(jī)控制把磁頭放置到磁盤上的磁盤控制裝置。
在PUPA No.58-33，786(專利申請No.56-130，208)中披露了一種信息處理系統(tǒng)，用以在即使被讀或?qū)懙纳刃螀^(qū)的數(shù)量變得比在一個(gè)磁通中扇形區(qū)的數(shù)量大時(shí)仍能成功地進(jìn)行讀和寫，該系統(tǒng)包括一寄存器，其中在一個(gè)磁通中所容納的扇形區(qū)的數(shù)量用處理機(jī)來調(diào)整。該系統(tǒng)還包括一計(jì)算器，其中用以啟動(dòng)信息處理(即讀或?qū)?的第一扇形區(qū)地址用處理機(jī)來調(diào)整并統(tǒng)計(jì)處理的扇形區(qū)。此處理機(jī)將所說的計(jì)算器的計(jì)算值與所說的電阻器(應(yīng)為寄存器-譯者)的值進(jìn)行比較，并且當(dāng)數(shù)值相等時(shí)導(dǎo)致磁通地址分步。
在所說的PUPA No.58-33，786所披露的信息處理系統(tǒng)中，如果在一個(gè)磁道中所容納的扇形區(qū)的數(shù)量對所有磁道來說都是相同的，處理機(jī)僅在開始時(shí)可以調(diào)整一個(gè)磁道中所容納的扇形區(qū)的數(shù)量。然而，由于磁盤中總是有某些有缺陷的區(qū)域，處理機(jī)必須對每個(gè)磁通調(diào)節(jié)所容納的扇形區(qū)的數(shù)量，因此將使轉(zhuǎn)換磁道所需要的時(shí)間增加，處理機(jī)的荷載也將增加。
鑒于上述現(xiàn)有工藝裝置中存在的問題，本發(fā)明的任閉是提供一種磁盤控制裝置及其所用的磁盤，當(dāng)擴(kuò)展至多磁道的讀或?qū)懕煌瓿蓵r(shí)，轉(zhuǎn)換磁道所需要的時(shí)間能夠縮短，處理機(jī)的負(fù)荷能夠降低。
按照本發(fā)明，在磁盤中每個(gè)磁道的最后的扇形區(qū)中提供一種最后扇形區(qū)的指示裝置。此最后扇形區(qū)指示裝置，例如，通過在最后扇形區(qū)“1”的ID(一種標(biāo)志的縮寫)區(qū)域中用特殊二進(jìn)位組的位數(shù)O來表示。
使用一信號(hào)檢測此最后扇形區(qū)指示裝置以轉(zhuǎn)換磁道時(shí)，處理機(jī)不需要調(diào)整每個(gè)磁道所容納的扇形區(qū)的數(shù)量。
在用處理機(jī)，例如微處理機(jī)控制實(shí)現(xiàn)磁頭在磁盤上的位置的裝置中，用最后扇形區(qū)指示裝置檢測出的信號(hào)作為一種阻斷信號(hào)加到處理機(jī)。從而使處理機(jī)能夠令磁頭對磁盤的存取終止。在此磁道中，最后扇形區(qū)被檢測，并能使磁頭向隨后的特定磁道移動(dòng)。
在讀或?qū)?這些操作在下文中稱作“存取”)擴(kuò)展到多個(gè)磁道的情況下，必須使處理機(jī)接到最后扇形區(qū)的指令，此最后扇形區(qū)包括在第一磁道和最后磁道扇的磁道之間的每一個(gè)磁道中，并且與被存取的扇形區(qū)有關(guān)，最終在最后磁道中完成提取。
如上所述，此最后扇形區(qū)能夠通過檢測與此有關(guān)的最后扇形區(qū)識(shí)別手段來識(shí)別。而且，每次第一個(gè)或隨后每個(gè)被存取的扇形區(qū)用磁頭存取時(shí)，就產(chǎn)生一扇形區(qū)檢測信號(hào)，在用包括在被磁頭存取的所有磁道中的扇形區(qū)數(shù)來計(jì)算所說的扇形區(qū)檢測信號(hào)時(shí)，就產(chǎn)生指示存取完成的阻斷信號(hào)，因此，在最后磁道中的最終被存取的扇形區(qū)的存取完成就能夠被檢測。


圖1示出按照本發(fā)明的磁性硬磁盤控制裝置的優(yōu)選實(shí)施例。此磁性硬磁盤控制裝置包括用以旋轉(zhuǎn)磁性硬磁盤2的主軸馬達(dá)4，用以向磁性硬磁盤2中存入或從磁性硬磁盤2中取出數(shù)據(jù)的磁頭6;用以支承磁頭6并完成探尋和跟蹤兩項(xiàng)工作的磁頭驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)8;和用以控制主軸馬達(dá)4和磁頭驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)8的微處理器10。
主計(jì)算機(jī)12輸出一表達(dá)第一邏輯扇形區(qū)和此邏輯扇形區(qū)數(shù)的控制指令到微處理器10，邏輯扇形區(qū)對相對于磁性硬磁盤2的讀或?qū)?這些操作在下文中叫做“存取”)來說是必須的。響應(yīng)此控制指令，微處理器10輸出首先被存取的扇形區(qū)數(shù)到扇形區(qū)檢測裝置20，并且輸出所有被存取的扇形區(qū)數(shù)到存取完成檢測裝置30。
此扇形區(qū)檢測裝置20包括一ID預(yù)置計(jì)算器22;一ID寄存器24;一比較器26和一“與”門電路49。ID預(yù)置計(jì)算器22預(yù)置有從微處理器10輸出的，首先被存取的扇形區(qū)數(shù)，并且每當(dāng)扇形區(qū)檢測信號(hào)從“與”門電路49輸出時(shí)，其讀數(shù)值就增加1。此ID寄存器24存儲(chǔ)指示扇形區(qū)數(shù)，此數(shù)用磁頭從磁盤中的相關(guān)的ID區(qū)域讀出，也就是說從相關(guān)的ID區(qū)域的1到3位組讀出。比較器26使ID預(yù)置計(jì)算器22的計(jì)算值與ID寄存器24中的佐存值相比較，當(dāng)數(shù)值相等時(shí)，輸出一重合信號(hào)。換言之，當(dāng)重合信號(hào)從比較器26輸出時(shí)，“與”門電路49輸出一扇形區(qū)檢測信號(hào)48到ID預(yù)置計(jì)算器22，存取完成檢測裝置30和最后扇形區(qū)檢測裝置40，如隨后將討論的，表征一扇形區(qū)有缺陷的信號(hào)不從標(biāo)記檢測器42輸出?？傊?，每當(dāng)首先被存取的扇形區(qū)或隨后被存取的扇形區(qū)用磁頭6存取時(shí)，扇形區(qū)檢測裝置20就產(chǎn)生扇形區(qū)檢測信號(hào)。
存取完成檢測裝置30包括一扇形區(qū)預(yù)置計(jì)算器32和一“或非”門電路34。扇形區(qū)預(yù)置計(jì)算器32預(yù)置有由微處理器10輸出的所有被存取的扇形區(qū)的數(shù)，并且每次接收來自扇形區(qū)檢測裝置20的扇形區(qū)檢測信號(hào)時(shí)，它的計(jì)算器值都增加1?！盎蚍恰遍T電路34接收扇形區(qū)預(yù)置計(jì)算器32的輸出值。在這方面，當(dāng)扇形區(qū)檢測信號(hào)借助所有用磁頭存取的扇形區(qū)數(shù)接收時(shí)，扇形區(qū)預(yù)置計(jì)算器32的全部輸出位都調(diào)整到0。響應(yīng)這些輸出，“或非”門電路34輸出一表示存取完成的信號(hào)“1”。然后將此信號(hào)“1”作為阻斷信號(hào)加到微處理器10。
圖2示出圖1中所示的磁性硬磁盤2的扇形區(qū)組成的例子。雖然磁盤2的每個(gè)磁道實(shí)際有27個(gè)物理扇形區(qū)，如敘述方便，圖2所示的扇形區(qū)組成，每個(gè)磁道只給出8個(gè)物理扇形區(qū)。通常從第一磁道到最后磁道的物理扇形區(qū)用序列號(hào)表示，即用邏輯扇形區(qū)序數(shù)表示。然而，如果某個(gè)物理扇形區(qū)是有缺陷的，則有缺陷的扇形區(qū)的序號(hào)作為邏輯扇形區(qū)序號(hào)就要分配給下一個(gè)物理扇形區(qū)。也就是說，在圖2所示的扇形區(qū)組成的例子中，由于在0磁道沒有有缺陷的扇形區(qū)，所以從0到7順序邏輯扇形區(qū)數(shù)字，按用數(shù)字表示的次序分配給包括在0磁道的7個(gè)(此處似有誤，應(yīng)為8個(gè)-譯者)扇形區(qū)。從另一方面來說，對于磁道1，由于緊靠著最后的扇形區(qū)是有缺陷的，同樣的邏輯扇形區(qū)號(hào)數(shù)，即相同的邏輯扇區(qū)號(hào)數(shù)14分配給最后的扇形區(qū)和緊靠最后扇形區(qū)的有缺陷的扇形區(qū)這兩者。
圖3示出圖2所示磁性硬磁盤中一個(gè)扇形區(qū)的格式。雖然在圖3中作為例子僅展示出0磁道中最后扇形區(qū)7的格式，而磁盤中所有扇形區(qū)都有和此扇形區(qū)相同的格式。一個(gè)扇形區(qū)由ID區(qū)域60和數(shù)據(jù)區(qū)域70組成。相關(guān)扇形區(qū)的標(biāo)識(shí)數(shù)據(jù)存入ID區(qū)域60。標(biāo)識(shí)數(shù)據(jù)包括有一邏輯扇形區(qū)號(hào)數(shù);一指示扇形區(qū)是否是最后扇形區(qū)的標(biāo)記，和指示扇形區(qū)是否有缺陷的扇形區(qū)的標(biāo)記。從另一方面來說，由用戶輸入的數(shù)據(jù)，向用戶輸出的數(shù)據(jù)，被主計(jì)算機(jī)12處理的數(shù)據(jù)，已被主計(jì)算機(jī)處理過和已輸出了的數(shù)據(jù)，和類似的數(shù)據(jù)都記錄在數(shù)據(jù)區(qū)域70中。
圖4示出ID區(qū)域60的組成結(jié)構(gòu)。ID區(qū)域60由4個(gè)位組組成，即位組0、位組1、位組2和位組3。在這方面，邏輯扇形區(qū)數(shù)碼部分由位組1、2和3組成，而位組0構(gòu)成標(biāo)記部分。
圖5示出ID區(qū)域60中位組0的組成結(jié)構(gòu)。位組0由8位組成。位0指示扇形區(qū)是否是最后扇形區(qū)，位1指示扇形區(qū)是否是有缺陷的扇形區(qū)。當(dāng)扇形區(qū)是最后的扇形區(qū)時(shí)，位0被調(diào)整到“1”，而當(dāng)扇形區(qū)是有缺陷的扇形區(qū)時(shí)，位1被調(diào)整到“1”。由于分配給最后扇形區(qū)的扇形區(qū)是一無缺陷扇形區(qū)，所以在最后扇形區(qū)中位組0的位0是“1”，其位1是“0”。
最后扇形區(qū)檢測裝置40包括有標(biāo)記檢測器42和D觸發(fā)器44。標(biāo)記檢測器42接收ID區(qū)域中由磁頭讀出的位組0，并輸出一“1”信號(hào)到對應(yīng)于構(gòu)成位組0的位中的“1”位的輸出線，由于位組0由8位組成，通常標(biāo)記檢測器42有8個(gè)輸出線。然而，僅位組0的位0，此位指示這扇形區(qū)是否是最后扇形區(qū)，和位組0的位1，此位指示這扇形區(qū)是否是一有缺陷的扇形區(qū)，涉及到本發(fā)明，因此，僅這些位0和1及分別與其相應(yīng)的輸出線46和48在本文中將被討論。也就是說，當(dāng)IV區(qū)域中的位組0的位0是“1”時(shí)，標(biāo)記檢測器42輸出一“1”信號(hào)到輸出線46，即檢測器42檢測出此扇形區(qū)是最后扇形區(qū)。另一方面，當(dāng)ID區(qū)域中的位組0的位1是“1”時(shí)，標(biāo)記檢測器42輸出一“1”信號(hào)到線8，即扇形區(qū)是一有缺陷的扇形區(qū)。
對于D觸發(fā)器44，D輸入端聯(lián)接到線46，時(shí)鐘輸入端C聯(lián)接到扇形區(qū)檢測裝置20中的“與”門電路49的輸出端，和Q輸出端聯(lián)接到微處理器10的阻斷輸入端。在這方面，當(dāng)D觸發(fā)器44在它在D輸入端收到“1”信號(hào)之后，在時(shí)鐘輸入端C收到“1”信號(hào)時(shí)，它在Q輸出端產(chǎn)生一“1”信號(hào)。也就是說，在標(biāo)記檢測器42檢測出本扇形區(qū)是最后扇形區(qū)之后，扇形區(qū)檢測裝置20識(shí)別扇形區(qū)數(shù)符合時(shí)，D觸發(fā)器輸出一最后扇形區(qū)檢測信號(hào)到微處理器10作為一阻斷信號(hào)。
其次，按照本發(fā)明磁性硬磁盤控制裝置的在圖1中所示的實(shí)施例中的工作，將以一特例為基礎(chǔ)來討論。如簡化敘述，假定每個(gè)磁道的物理扇形區(qū)數(shù)為8，在磁道1中物理扇形區(qū)14是有缺陷的扇形區(qū)，因此，表示物理扇形區(qū)14為有缺陷的扇形區(qū)的位(在ID區(qū)域中位組0的位1)被調(diào)整到“1”，與有缺陷的扇形區(qū)14的數(shù)相同的邏輯扇形區(qū)數(shù)14記入物理扇形區(qū)15的ID區(qū)域，由從隨后的物理扇形區(qū)的數(shù)中減去1得到的邏輯扇形區(qū)數(shù)按用數(shù)字表示的順序記入后來的物理扇形區(qū)的ID區(qū)域中。
微處理器12(應(yīng)為10-譯者)預(yù)置一數(shù)值0到邏輯扇形區(qū)檢測裝置20的ID預(yù)置計(jì)算器22中。換言之，微處理器12(應(yīng)為10-譯者)把數(shù)值“16”加到存取完成檢測裝置30的扇形區(qū)數(shù)預(yù)置計(jì)算器32中。
物理扇形區(qū)0不是最后扇形區(qū)，相應(yīng)地，在其ID區(qū)域中的位組0的位0被調(diào)整到“0”。因此，當(dāng)用磁頭6讀出位0時(shí)，最后扇形區(qū)檢測裝置40的標(biāo)記檢測器42輸出一“0”信號(hào)到輸出線46以指示此扇形區(qū)不是最后扇形區(qū)。換言之，該物理扇形區(qū)不是有缺陷的扇形區(qū)，相應(yīng)地，其ID區(qū)域中的位組0的位1調(diào)整到“0”。因此，當(dāng)此位1用磁頭6讀出時(shí)，標(biāo)記檢測器42輸一“0”信號(hào)到輸出線48，它使物理扇形區(qū)0中數(shù)據(jù)區(qū)域的數(shù)據(jù)是有效的。當(dāng)磁頭6讀出物理扇形區(qū)0中ID區(qū)域的從1到3的位組時(shí)，ID寄存器24被用“0”數(shù)值加載。響應(yīng)此ID寄存器24的輸出，比較器26輸出一重合信號(hào)。通過接收此重合信號(hào)ID計(jì)算器22的讀數(shù)增加1是“1”，而扇形區(qū)數(shù)值預(yù)置計(jì)算器32的讀數(shù)減少1是“15”。此此重合信號(hào)也增加到最后扇形區(qū)檢測裝置40中的D觸發(fā)器44的鐘表輸入端。然而，指示最后扇形區(qū)的一“1”信號(hào)沒有加到D觸發(fā)器44的D輸入端，因此D觸發(fā)器44的Q輸出成為“0”。
當(dāng)磁頭6讀出下面的物理扇形區(qū)1中ID區(qū)域的從1到3位組時(shí)，ID電阻器(應(yīng)為寄存器-譯者)24用數(shù)值“1”加載，響應(yīng)此ID寄存器的輸出，比較26輸出一重合信號(hào)。此重合信號(hào)作為扇形區(qū)檢測信號(hào)經(jīng)由“與”門電路49加到ID計(jì)算器22和扇形區(qū)數(shù)預(yù)置計(jì)算器32等。結(jié)果，ID計(jì)算器22的讀數(shù)增加1是“2”，而扇形區(qū)數(shù)預(yù)置計(jì)算器32的讀數(shù)減少1是“14”。
同樣地，當(dāng)磁頭6相應(yīng)地逐一讀出扇形區(qū)2、3、4、5和6中的ID區(qū)域時(shí)，ID寄存器24依次用數(shù)值“2”、“3”、“4”、“5”和“6”加載。而且，每次ID寄存器24被加載時(shí)，比較器26就輸出一重合信號(hào)。扇形區(qū)檢測信號(hào)一產(chǎn)生，ID預(yù)置計(jì)算器的讀數(shù)值就逐一增加，依次是“3”、“4”、“5”和“6”，而扇形區(qū)數(shù)預(yù)置計(jì)算器32逐一減少1，依次是“13”“12”、“11”、“10”和“9”。
現(xiàn)在，由于扇形區(qū)1，2，3，4，5和6既不是最后扇形區(qū)，也不是有缺陷的扇形區(qū)，其每個(gè)ID區(qū)域中位組0的位0和1這兩者都被調(diào)整到“0”，而且每當(dāng)這些扇形區(qū)的每一個(gè)依次用磁頭6存取時(shí)，標(biāo)記檢測器42分別輸出一“0”信號(hào)到輸出線46和48。物理扇形區(qū)7是0磁道中的最后扇形區(qū)，相應(yīng)地，其ID區(qū)域中位組0的位0調(diào)整到“1”。因此，當(dāng)用磁頭6讀出此位0時(shí)，標(biāo)記檢測器向輸出線46輸出一表示此物理扇形區(qū)7是最后扇形區(qū)的信號(hào)“1”。然后此信號(hào)“1”經(jīng)由線46加到D觸發(fā)器44的D輸入端。此外，此物理扇形區(qū)7不是有缺陷的扇形區(qū)，而且其ID區(qū)域中位組0的位1被調(diào)整到“0”。因此，當(dāng)此位1用磁頭6讀出時(shí)，標(biāo)記檢測器42輸出一“0”信號(hào)到輸出線48，這就使物理扇形區(qū)7中數(shù)據(jù)區(qū)域的數(shù)據(jù)有效。
當(dāng)磁頭6讀出物理扇形區(qū)7中ID區(qū)域的從1到3位組時(shí)，ID寄存器24用數(shù)值“7”加載。如上所述，由于ID預(yù)置計(jì)算器22的讀數(shù)數(shù)值被調(diào)整到“7”，比較器26輸出一重合信號(hào)。此重合信號(hào)作為扇形區(qū)檢測信號(hào)經(jīng)由“與”門電路49加到最后扇形區(qū)檢測裝置40中的D觸發(fā)器44的時(shí)鐘輸入端。結(jié)果，D觸發(fā)器44的Q輸出變?yōu)椤?”。然后，此Q輸出“1”作為最后扇形區(qū)檢測阻斷信號(hào)加到微處理器10。響應(yīng)此最后扇形區(qū)檢測阻斷信號(hào)，在對扇形區(qū)7的存取完成后，一指示磁頭6應(yīng)移到下一磁道的標(biāo)記信號(hào)置于微處理器10中。
通過接收此扇形區(qū)檢測信號(hào)，ID預(yù)置計(jì)算器22的讀數(shù)增加1是“8”;而扇形區(qū)數(shù)預(yù)置計(jì)算器32的讀數(shù)減少1是“8”。當(dāng)磁頭6完成對物理扇形區(qū)7中的數(shù)據(jù)區(qū)域的存取時(shí)，微處理器10施加一為使磁頭6移動(dòng)到下一磁通即磁道1的電信號(hào)到傳動(dòng)機(jī)構(gòu)8。結(jié)果，磁頭6在傳動(dòng)機(jī)構(gòu)8的操縱下移動(dòng)到磁道1。
在磁道1中，每次磁頭6依次讀出物理扇形區(qū)8、9、10、11、12和13的ID區(qū)域時(shí)，因?yàn)檫@些物理扇形區(qū)不是最后扇形區(qū)，標(biāo)記檢測器42就輸出一信號(hào)“0”到輸出線46，并且因?yàn)樾┪锢砩刃螀^(qū)不是有缺陷的扇形區(qū)，標(biāo)記檢測器42也輸出一“0”信號(hào)到輸出線48。而且，ID寄存器24被依次用數(shù)值“8”、“9”、“10”、“11”、“12”和“13”加載，每次ID寄存器24加載時(shí)，比較器26輸出一重合信號(hào)，響應(yīng)此重合信號(hào)，“與”門電路49產(chǎn)生一扇形區(qū)檢測信號(hào)。每當(dāng)此扇形區(qū)檢測信號(hào)產(chǎn)生時(shí)，ID預(yù)置計(jì)算器22的讀數(shù)數(shù)值逐一增加，依次是“9”、“10”、“11”、“12”、“13”和“14”，而扇形區(qū)數(shù)預(yù)置計(jì)算器32的讀數(shù)逐一減少依次是“7”、“6”、“5”“4”、“3”和“2”。
由于隨后的物理扇形區(qū)14是一有缺陷的扇形區(qū)，“1”被記入指示其ID區(qū)域的位(位組0的位1)的有缺陷的扇形區(qū)，并且信號(hào)48成為“1”。結(jié)果，一種導(dǎo)致ID預(yù)置計(jì)算器22和扇形區(qū)數(shù)預(yù)置計(jì)算器32的讀數(shù)分別增加和下降的信號(hào)不從“與”門電路49輸出，因此ID預(yù)置計(jì)算器22的讀數(shù)保持在“14”，而扇形區(qū)數(shù)預(yù)置計(jì)算器的讀數(shù)保持在“2”。
由于物理扇形區(qū)14如上所述是有缺陷的，一邏輯扇形區(qū)數(shù)14被記入物理扇形區(qū)15的ID區(qū)域。同時(shí)，由于物理扇形區(qū)15是磁道1中的最后扇形區(qū)，“1”被記錄在其ID區(qū)域中位組0的位0中。當(dāng)此位0被用磁頭6讀出時(shí)，最后扇形區(qū)檢測裝置40中的標(biāo)記檢測器42輸出一指示最后扇形區(qū)的信號(hào)“1”到輸出線46。然后，此“1”信號(hào)經(jīng)由線46加到D觸發(fā)器44的D輸入端。在位組0之后。當(dāng)此扇形區(qū)15中ID區(qū)域的從1到3位組被依次用磁頭6讀出時(shí)，此ID寄存器24被用數(shù)值“14”加載。如上所述，由于ID預(yù)置計(jì)算器22的讀數(shù)數(shù)值被調(diào)整到“14”，比較器26輸出一重合信號(hào)。此重合信號(hào)作為扇形區(qū)檢測信號(hào)，經(jīng)由“與”門電路49加到最后扇形區(qū)檢測裝置中的D觸發(fā)器44的時(shí)鐘輸入端。結(jié)果，D觸發(fā)器44的Q輸出變?yōu)椤?”。然后，將此Q輸出“1”作為一最后扇形區(qū)檢測阻斷信號(hào)加到微處理器10。
通過接收扇形區(qū)檢測信號(hào)，ID預(yù)置計(jì)算器22的讀數(shù)增加1是“15”，而扇形區(qū)數(shù)預(yù)置計(jì)算器32的讀數(shù)減少1。
當(dāng)磁頭6完成對物理扇形區(qū)15(即第二邏輯扇形區(qū)14)中數(shù)據(jù)區(qū)域的存取時(shí)，微處理器10施加一使磁頭移動(dòng)到下一磁道即磁道2的電信號(hào)到驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)8。響應(yīng)此信號(hào)，驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)8移動(dòng)磁頭到磁道2。
由于磁道2中第一物理扇形的邏輯扇形區(qū)15不是最后物理扇形區(qū)，在其ID區(qū)域中位組0的位0被調(diào)整到“0”。因此，當(dāng)此位0被用磁頭6讀出時(shí)，最后扇形區(qū)檢測裝置40中的標(biāo)記檢測器42輸出一指示此扇形區(qū)不是最后扇形區(qū)的“0”信號(hào)到線46。而且，由于此邏輯扇形區(qū)15，即物理扇形區(qū)16，不是有缺陷的扇形區(qū)，在其ID區(qū)域中的位組0的位1被調(diào)整到“0”。從而，當(dāng)此位1被用磁頭6讀出時(shí)，標(biāo)記檢測器42輸出一“0”信號(hào)到輸出線48。結(jié)果，該物理扇形區(qū)16沒有顯示是有缺陷的扇形區(qū)，這就使物理扇形區(qū)16中的數(shù)據(jù)是可利用的。
當(dāng)磁頭6依次讀出物理扇形區(qū)16中ID區(qū)域的從1到3位組時(shí)，ID寄存器24用數(shù)值“15”加載。如上所述，ID預(yù)置計(jì)算器22的讀數(shù)被調(diào)整到“15”，因此，比較器26輸出一重合信號(hào)。此重合信號(hào)作為一扇形區(qū)檢測信號(hào)，經(jīng)由“與”門電路44加到預(yù)置計(jì)算器22、扇形區(qū)數(shù)預(yù)置計(jì)算器32等。通過接收重合信號(hào)，ID預(yù)置計(jì)算器22的讀數(shù)增加1是“17”，而扇形區(qū)數(shù)預(yù)置計(jì)算器32的讀數(shù)減少1是“0”。
當(dāng)扇形區(qū)數(shù)預(yù)置計(jì)算器的讀數(shù)變?yōu)椤?”時(shí)，“0”信號(hào)被輸出到計(jì)算器32的所有輸出位線。一接收到這些“0”信號(hào)，“或非”門電路34就輸出一“1”信號(hào)作為“或非”信號(hào)。然后將此“1”信號(hào)作為一存取完成檢測阻斷信號(hào)加到微處理器10。結(jié)果，微處理器10被告知，按照主計(jì)算機(jī)12給出的指合，處理已經(jīng)完成。
如上文所說，當(dāng)磁性硬磁盤控制裝置必須對多磁道存取時(shí)，微處理器10不需要對電阻器(應(yīng)為寄存器-譯者)逐一調(diào)整能存取每個(gè)磁道的扇形區(qū)數(shù)。因此，微處理器的負(fù)荷能減少，對這樣扇形區(qū)存取所需要的存取時(shí)間能被有效地縮短。因而，微處理器10不需計(jì)算能存取每個(gè)磁道的扇形區(qū)數(shù)，這就使微處理器10的負(fù)荷減少。
所以，在按照本發(fā)明的上述磁性硬磁盤控制裝置的實(shí)施例中，包括在磁道的每個(gè)最后扇形區(qū)的ID區(qū)域中的位組0的位0分配給指顯位的最后扇形區(qū)。然而，ID區(qū)域中的任何位都可以分配給指示位的最后扇形區(qū)。
進(jìn)而在上述實(shí)施例中，標(biāo)記檢測器42和D觸發(fā)器44被結(jié)合以形成最后扇形區(qū)檢測裝置40。然而，請注意，本發(fā)明不限于這樣的實(shí)施例，在最后扇形區(qū)指示位讀出信號(hào)蔑輸入到其中之后，任何產(chǎn)生一固定周期預(yù)定信號(hào)的裝置都可作為最后扇形區(qū)檢測裝置40。
并且，在上述實(shí)施例中，存取完成檢測裝置30由扇形區(qū)數(shù)預(yù)置裝置32和“或非”門電路34組成。但本發(fā)明不限于這種結(jié)構(gòu)。例如，存取完成檢測裝置30可以由所被存取的物理扇形區(qū)數(shù)都預(yù)置其中的電阻器(應(yīng)為寄存器-譯者)、每次每個(gè)物理扇形區(qū)被檢測其讀數(shù)數(shù)值增加1的計(jì)算器、和用以使所說的計(jì)算器讀數(shù)同所說的電阻器(應(yīng)為寄存器-譯者)數(shù)值比較的比較器組成?？傊?，任何能檢測對所有被存取的扇形區(qū)完成存取的裝置都可以取代存取完成檢測裝置30。
此外，上述實(shí)施例涉及一磁性硬磁盤，但本發(fā)明不限于這樣一種應(yīng)用，也可以應(yīng)用任何扇形區(qū)方式磁盤，例如磁性軟磁盤、磁光磁盤、光學(xué)磁盤或其類似物。
按照本發(fā)明，當(dāng)擴(kuò)展到多磁道的讀或?qū)懕煌瓿蓵r(shí)，轉(zhuǎn)換磁道所需要的時(shí)間能被縮短，處理機(jī)的荷載能有效地減少。
附圖的簡要說明圖1是一展示按照本發(fā)明的磁性硬磁盤控制裝置的一種實(shí)施例的方框圖;
圖2是說明圖1中磁性硬磁盤格式的一種例子的平面圖;
圖3是說明圖2所示磁性硬磁盤的一個(gè)扇形區(qū)中ID區(qū)域和數(shù)據(jù)區(qū)域這兩者的部分放大的平面圖;
圖4是一展示ID區(qū)域結(jié)構(gòu)例子的圖表;和圖5是一展示ID區(qū)域中位組0結(jié)構(gòu)的圖表。
10-微處理器，20-物理扇形區(qū)檢測裝置，30-存取完成檢測裝置，40-最后扇形區(qū)檢測裝置，60-ID區(qū)域，70-數(shù)據(jù)區(qū)域。
權(quán)利要求
1.一種用以控制磁頭對磁盤存取的磁盤控制裝置，該磁盤有多個(gè)磁道，每個(gè)磁道有多個(gè)扇形區(qū)，其特征在于在所說的磁盤中每個(gè)磁道的最后扇形區(qū)中提供一最后扇形區(qū)指示裝置；一種用以檢測所說的最后扇形區(qū)指示裝置以產(chǎn)生一最后扇形區(qū)檢測信號(hào)的裝置；一種磁頭位置控制裝置，用以響應(yīng)所說的最后扇形區(qū)檢測信號(hào)，終止磁頭對磁道的存取，該磁道中所說的扇形區(qū)指示裝置已被檢測。
2.一種用以定位磁頭在磁盤上位置的供助處理器操縱的磁盤控制裝置，磁盤有多個(gè)磁道，每個(gè)磁道有多個(gè)扇形區(qū)，其特征在于在所說的磁盤中每個(gè)磁道的最后扇形區(qū)中提供有最后扇形區(qū)指示裝置;和一種最后扇形區(qū)檢測裝置，該裝置用以檢測所說的最后扇形區(qū)指示裝置以產(chǎn)生最后扇形區(qū)檢測信號(hào)并將此最后扇形區(qū)檢測信號(hào)作為一種阻斷信號(hào)加至處理器。
3.按照權(quán)利要求2所說的磁盤控制裝置，其特征在于它包括有一種扇形區(qū)檢測裝置，用以在每次被首先存取的扇形區(qū)或每個(gè)隨后被存取的扇形區(qū)已用所說的磁頭存取時(shí)，產(chǎn)生一扇形區(qū)檢測信號(hào)，和一種存取完成檢測裝置，用以輸出一阻斷信號(hào)，在接收所說的扇形區(qū)檢測信號(hào)時(shí)，借助被所說的磁頭存取的扇形區(qū)數(shù)指示存取完成。
4.一種有多個(gè)磁道，每個(gè)磁道有多個(gè)磁形區(qū)的磁盤，其特征在于，在所說的磁盤中每個(gè)磁道的最后扇形區(qū)提供有最后扇形區(qū)指示裝置。
5.按照權(quán)利要求4所說的磁盤，其特征在于所說的最后扇形區(qū)是一無缺陷扇形區(qū)。
6.按照權(quán)利要求1，2，3，4或5所說的磁盤控制裝置，其特征在于，所說的最后扇形區(qū)指示裝置是一記在最后扇形區(qū)的ID區(qū)域中的位信號(hào)。
全文摘要
當(dāng)在多磁道上進(jìn)行讀和寫時(shí)，磁道轉(zhuǎn)移時(shí)間能被縮短，用以控制磁頭位置的微處理器的工作荷載能減少。把最后扇形區(qū)識(shí)別裝置的檢測信號(hào)作為第一阻斷信號(hào)提供給微處理器，微處理器響應(yīng)此第一阻斷信號(hào)，能終止磁頭對其最后扇形區(qū)已被檢測的磁道的存取，并移動(dòng)磁頭到下一個(gè)磁道。提供一扇形區(qū)檢測電路以產(chǎn)生扇形區(qū)檢測信號(hào)。提供一存取完成檢測電路，該電路輸出指示存取完成的第二阻斷信號(hào)。此第二阻斷信號(hào)表示被存取的最后磁道的最后扇形區(qū)的存取已完成。
文檔編號(hào)G06F3/06GK1049739SQ9010717
公開日1991年3月6日 申請日期1990年8月23日 優(yōu)先權(quán)日1989年8月24日
發(fā)明者中川羲弘, 沼田勉, 大垣一隆 申請人:國際商業(yè)機(jī)器公司