本申請涉及檢測，尤其涉及到一種產(chǎn)品缺陷檢測方法、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、在產(chǎn)品制造領(lǐng)域，為了確保產(chǎn)品的質(zhì)量及生產(chǎn)效率，往往需要對產(chǎn)品進(jìn)行缺陷檢測。以筆記本電腦上的鍵盤為例，鍵盤作為用戶與設(shè)備交互的主要界面，其質(zhì)量直接關(guān)聯(lián)到用戶體驗(yàn)和產(chǎn)品形象。如果鍵盤上存在重復(fù)按鍵或污漬等方面的缺陷，將會直接影響用戶體驗(yàn)，對產(chǎn)品形象造成負(fù)面影響，因此，對筆記本上的鍵盤進(jìn)行高效且準(zhǔn)確的缺陷檢測尤為重要。

2、相關(guān)技術(shù)中，往往依賴人工進(jìn)行缺陷檢測，這種人工檢測的方式容易主觀因素受到影響，比如檢測人員的疲勞程度、注意力的波動等，導(dǎo)致產(chǎn)品的缺陷檢測效率不佳。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種產(chǎn)品缺陷檢測方法、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)，能夠解決產(chǎn)品的缺陷檢測效率不佳的技術(shù)問題。

2、一方面，本申請?zhí)峁┮环N產(chǎn)品缺陷檢測方法，所述方法包括：獲取待測產(chǎn)品的圖像，根據(jù)檢測位置，在所述圖像中確定對應(yīng)的檢測區(qū)域，所述檢測位置基于所述待測產(chǎn)品的設(shè)計(jì)圖確定，基于所述檢測區(qū)域與所述檢測位置對應(yīng)的參考區(qū)域的比較，確定所述待測產(chǎn)品的檢測結(jié)果。

3、在本申請的一些實(shí)施例中，所述待測產(chǎn)品包括鍵盤或印章。

4、在本申請的一些實(shí)施例中，若所述待測產(chǎn)品為鍵盤，所述方法還包括：獲取多類鍵盤的設(shè)計(jì)圖，根據(jù)每類鍵盤的設(shè)計(jì)圖對應(yīng)的預(yù)處理圖像，確定所述每類鍵盤中每個(gè)按鍵的位置，建立所述每類鍵盤對應(yīng)的標(biāo)識信息與所述每類鍵盤中所有按鍵的位置之間的對應(yīng)關(guān)系。

5、在本申請的一些實(shí)施例中，所述根據(jù)每類鍵盤的設(shè)計(jì)圖對應(yīng)的預(yù)處理圖像，確定所述每類鍵盤中每個(gè)按鍵的位置包括：檢測所述預(yù)處理圖像中所述每個(gè)按鍵的輪廓，根據(jù)所述輪廓中的內(nèi)接矩形的頂點(diǎn)，確定所述每個(gè)按鍵的位置。

6、在本申請的一些實(shí)施例中，所述檢測位置的確定包括：根據(jù)所述待測產(chǎn)品對應(yīng)的標(biāo)識信息，將所述待測產(chǎn)品對應(yīng)的所有按鍵的位置作為所述檢測位置。

7、在本申請的一些實(shí)施例中，對所述參考區(qū)域的確定包括：獲取與所述待測產(chǎn)品屬于相同類別且按鍵安裝正確的鍵盤的圖像作為參考圖，對所述參考圖進(jìn)行校正處理，使得校正后的參考圖與對應(yīng)的設(shè)計(jì)圖對齊，根據(jù)所述檢測位置，從所述校正后的參考圖中確定所述參考區(qū)域。

8、在本申請的一些實(shí)施例中，所述基于所述檢測區(qū)域與所述檢測位置對應(yīng)的參考區(qū)域的比較，確定所述待測產(chǎn)品的檢測結(jié)果包括：基于所述參考區(qū)域，利用預(yù)設(shè)算法計(jì)算所述檢測區(qū)域中每個(gè)像素點(diǎn)對應(yīng)的相似度，根據(jù)所述每個(gè)像素點(diǎn)的相似度對應(yīng)的預(yù)處理值，確定所述檢測區(qū)域是否包括缺陷區(qū)域，若所述檢測區(qū)域中包括至少一個(gè)缺陷區(qū)域，確定所述待測產(chǎn)品存在缺陷，若所述檢測區(qū)域未包括任何缺陷區(qū)域，確定所述待測產(chǎn)品不存在缺陷。

9、在本申請的一些實(shí)施例中，所述根據(jù)所述每個(gè)像素點(diǎn)的相似度對應(yīng)的預(yù)處理值，確定所述檢測區(qū)域是否包括缺陷區(qū)域包括：根據(jù)所述每個(gè)像素點(diǎn)的相似度對應(yīng)的預(yù)處理值，確定所述檢測區(qū)域是否包括異常像素點(diǎn)，若所述檢測區(qū)域包括所述異常像素點(diǎn)，確定所述異常像素點(diǎn)構(gòu)成的候選區(qū)域的面積，若所述異常像素點(diǎn)構(gòu)成的候選區(qū)域的面積大于或等于預(yù)設(shè)閾值，確定所述候選區(qū)域?yàn)槿毕輩^(qū)域，若所述面積小于所述預(yù)設(shè)閾值，確定所述候選區(qū)域并非缺陷區(qū)域。

10、另一方面，本申請?zhí)峁┮环N電子設(shè)備，所述電子設(shè)備包括：存儲器，存儲至少一個(gè)指令；及處理器，執(zhí)行所述至少一個(gè)指令以實(shí)現(xiàn)所述的產(chǎn)品缺陷檢測方法。

11、另一方面，本申請?zhí)峁┮环N計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)中存儲有至少一個(gè)指令，所述至少一個(gè)指令被電子設(shè)備中的處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)所述的產(chǎn)品缺陷檢測方法。

12、在本實(shí)施例的產(chǎn)品缺陷檢測方法中，由于設(shè)計(jì)圖能夠準(zhǔn)確地反映待測產(chǎn)品的布局、形狀、尺寸等特征，因此基于待測產(chǎn)品的設(shè)計(jì)圖確定檢測位置，能夠確保檢測位置的準(zhǔn)確性。由于檢測位置具有對應(yīng)的參考區(qū)域，因此能夠快速地將檢測區(qū)域與對應(yīng)的參考區(qū)域進(jìn)行比較，從而快速地識別檢測區(qū)域中是否存在與參考區(qū)域不符的偏差、異?；蛉毕?。由于參考區(qū)域具有標(biāo)準(zhǔn)性，能夠反映待測產(chǎn)品的期望狀態(tài)，因此通過比較，能夠快速及準(zhǔn)確地確定待測產(chǎn)品的檢測結(jié)果，從而提高產(chǎn)品的缺陷檢測效率。

技術(shù)特征：

1.一種產(chǎn)品缺陷檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

2.如權(quán)利要求1所述的產(chǎn)品缺陷檢測方法，其特征在于，所述待測產(chǎn)品包括鍵盤或印章。

3.如權(quán)利要求2所述的產(chǎn)品缺陷檢測方法，其特征在于，若所述待測產(chǎn)品為鍵盤，所述方法還包括：

4.如權(quán)利要求3所述的產(chǎn)品缺陷檢測方法，其特征在于，所述根據(jù)每類鍵盤的設(shè)計(jì)圖對應(yīng)的預(yù)處理圖像，確定所述每類鍵盤中每個(gè)按鍵的位置包括：

5.如權(quán)利要求3或4所述的產(chǎn)品缺陷檢測方法，其特征在于，所述檢測位置的確定包括：

6.如權(quán)利要求3所述的產(chǎn)品缺陷檢測方法，其特征在于，對所述參考區(qū)域的確定包括：

7.如權(quán)利要求1所述的產(chǎn)品缺陷檢測方法，其特征在于，所述基于所述檢測區(qū)域與所述檢測位置對應(yīng)的參考區(qū)域的比較，確定所述待測產(chǎn)品的檢測結(jié)果包括：

8.如權(quán)利要求7所述的產(chǎn)品缺陷檢測方法，其特征在于，所述根據(jù)所述每個(gè)像素點(diǎn)的相似度對應(yīng)的預(yù)處理值，確定所述檢測區(qū)域是否包括缺陷區(qū)域包括：

9.一種電子設(shè)備，其特征在于，所述電子設(shè)備包括：存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的產(chǎn)品缺陷檢測方法。

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)上存儲有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的產(chǎn)品缺陷檢測方法。

技術(shù)總結(jié)
本申請?zhí)峁┮环N產(chǎn)品缺陷檢測方法、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)。所述方法包括：獲取待測產(chǎn)品的圖像；根據(jù)檢測位置，在所述圖像中確定對應(yīng)的檢測區(qū)域，所述檢測位置基于所述待測產(chǎn)品的設(shè)計(jì)圖確定；基于所述檢測區(qū)域與所述檢測位置對應(yīng)的參考區(qū)域的比較，確定所述待測產(chǎn)品的檢測結(jié)果。利用上述方法，能夠提高產(chǎn)品的缺陷檢測效率。

技術(shù)研發(fā)人員：劉建烽,秦偉,陳燁,金昆,彭慶
受保護(hù)的技術(shù)使用者：玳能信息服務(wù)（杭州）有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/26