1.一種診斷系統(tǒng)，包括：
位置提取器，被設(shè)置成根據(jù)標(biāo)注設(shè)計(jì)布局中的至少一個(gè)部件的至少一個(gè)標(biāo)記文本，提取集成電路(IC)設(shè)計(jì)布局的所述設(shè)計(jì)布局中的至少一個(gè)部件的至少坐標(biāo)；
文件生成器，被設(shè)置成根據(jù)所述至少坐標(biāo)生成所述集成電路設(shè)計(jì)布局的格式文件；以及
芯片診斷工具，被設(shè)置成掃描物理集成電路中的物理電路，以根據(jù)所述格式文件確定所述物理電路中的缺陷部件；
其中，所述物理電路對(duì)應(yīng)于所述設(shè)置布局，并且所述物理集成電路對(duì)應(yīng)于所述集成電路設(shè)計(jì)布局。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的診斷系統(tǒng)，其中，所述格式文件為設(shè)計(jì)交換格式(DEF)文件。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的診斷系統(tǒng)，其中，所述芯片診斷工具進(jìn)一步檢測(cè)所述物理集成電路，以確定所述物理電路是否具有預(yù)定功能，如果所述物理電路的所述預(yù)定功能失效，則所述芯片診斷工具掃描所述物理電路，以根據(jù)所述格式文件確定所述物理電路中的缺陷部件。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的診斷系統(tǒng)，其中，所述芯片診斷工具進(jìn)一步根據(jù)所述格式文件確定所述物理電路中的所述缺陷部件的坐標(biāo)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的診斷系統(tǒng)，其中，所述至少一個(gè)部件為至少一個(gè)被設(shè)計(jì)用于所述物理電路的檢測(cè)的掃描部件。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的診斷系統(tǒng)，其中，所述至少一個(gè)掃描部件包括多個(gè)掃描部件，并且所述芯片診斷工具按預(yù)定掃描順序掃描所述物理電路中的所述多個(gè)掃描部件，以根據(jù)所述格式文件確定所述物理電路中的所述缺陷部件。
7.一種基于集成電路(IC)設(shè)計(jì)布局實(shí)施的方法，所述方法包括：
將設(shè)計(jì)布局放置到所述集成電路設(shè)計(jì)布局的預(yù)定位置上，其中，所述設(shè)計(jì)布局包括標(biāo)注所述設(shè)計(jì)布局的至少一個(gè)部件的至少一個(gè)標(biāo)記文件；
根據(jù)所述至少一個(gè)標(biāo)記文本確定所述至少一個(gè)部件的至少一個(gè)坐標(biāo)；以及
根據(jù)所述至少一個(gè)部件坐標(biāo)生成對(duì)應(yīng)于所述集成電路設(shè)計(jì)布局的格式文件。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其中，所述格式文件為由芯片診斷工具識(shí)別的設(shè)計(jì)交換格式(DEF)文件。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其中，所述至少一個(gè)部件為至少一個(gè)被設(shè)計(jì)用于所述設(shè)計(jì)布局的檢測(cè)的掃描部件。
10.一種基于物理集成電路(IC)實(shí)施的方法，所述方法包括：
提供包括物理電路的所述物理集成電路；
提供對(duì)應(yīng)于所述物理集成電路的格式文件；
檢測(cè)所述物理集成電路以確定所述物理電路是否具有預(yù)定功能；
如果所述物理電路的所述預(yù)定功能失效，則掃描所述物理電路，以根據(jù)所述格式文件確定所述物理電路中的缺陷部件。