1.一種磁卡裝置自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，該磁卡裝置包括本體及與所述本體信號(hào)連接的讀卡器，其特征在于，該測(cè)試系統(tǒng)包括：
采集單元，與所述讀卡器連接，該采集單元從所述讀卡器獲取讀卡信息；
數(shù)據(jù)庫，預(yù)存讀卡信息與測(cè)試結(jié)果的映射關(guān)系；
處理單元，與所述采集單元及所述數(shù)據(jù)庫連接，該處理單元依據(jù)所獲取的讀卡信息，從所述數(shù)據(jù)庫中的映射關(guān)系中，查找出對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果；
顯示單元，與所述處理單元連接，該顯示單元顯示測(cè)試結(jié)果。
2.如權(quán)利要求1所述的磁卡裝置自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，該測(cè)試系統(tǒng)還包括關(guān)閉單元，該關(guān)閉單元與所述處理單元連接，當(dāng)接收到的測(cè)試結(jié)果為通過后，該關(guān)閉單元經(jīng)過一段時(shí)間關(guān)閉所述測(cè)試系統(tǒng)。
3.如權(quán)利要求1所述的磁卡裝置自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述磁卡為銀行卡。
4.如權(quán)利要求1所述的磁卡裝置自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述顯示單元還顯示所述讀卡信息。
5.如權(quán)利要求1所述的磁卡裝置自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，該測(cè)試系統(tǒng)連接現(xiàn)場(chǎng)控制系統(tǒng)，所述處理單元將測(cè)試結(jié)果傳送給所述現(xiàn)場(chǎng)控制系統(tǒng)。
6.一種磁卡裝置自動(dòng)化測(cè)試方法，其特征在于，該測(cè)試方法包括步驟：
(1)在數(shù)據(jù)庫中建立預(yù)存讀卡信息與測(cè)試結(jié)果的映射關(guān)系；
(2)采集單元從讀卡器獲取讀卡信息；
(3)處理單元依據(jù)所獲取的讀卡信息，從所述數(shù)據(jù)庫的映射關(guān)系中，查找出對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果；
(4)顯示單元顯示所述測(cè)試結(jié)果。
7.如權(quán)利要求1所述的磁卡裝置自動(dòng)化測(cè)試方法，其特征在于，所述步驟(4)中顯示單元還顯示所述讀卡信息。
8.如權(quán)利要求1所述的磁卡裝置自動(dòng)化測(cè)試方法，其特征在于，所述(4)后還包括步驟(5)：關(guān)閉單元接收到測(cè)試結(jié)果為通過后，該關(guān)閉單元經(jīng)過一段時(shí)間關(guān)閉所述測(cè)試系統(tǒng)。
9.如權(quán)利要求8所述的磁卡裝置自動(dòng)化測(cè)試方法，其特征在于，所述步驟(5)中的一段時(shí)間為2秒。
10.所述步驟(3)后還包括步驟：將所述測(cè)試結(jié)果上傳至現(xiàn)場(chǎng)控制系統(tǒng)。