一種vga信號的測試治具的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種VGA信號的測試治具，所述治具包括D-Sub公頭接口電路，阻抗匹配電路以及分辨率存儲電路，其中所述D-Sub公頭接口電路包括一具有十五個(gè)連接引腳的D-Sub公頭接口，所述D-Sub公頭接口中的R、G、B、H、V引腳連接至所述阻抗匹配電路，所述D-Sub公頭接口中的I2C總線引腳以及電源引腳連接至所述分辨率存儲電路，所述D-Sub公頭接口中的其余引腳接地。本實(shí)用新型所涉及的VGA信號的測試治具成本較低，穩(wěn)定性好，信號的失真度較低，測試效率較高，并且E2PROM的使用使得本測試治具適用于各廠商生產(chǎn)的計(jì)算機(jī)的測試。
【專利說明】—種VGA信號的測試治具
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及信號測試領(lǐng)域，尤其涉及一種VGA信號的測試治具。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著計(jì)算機(jī)的發(fā)展越來越先進(jìn)，對計(jì)算機(jī)的顯示輸出信號VGA信號(R、G、B、H、V信號，其中R、G、B為三原色信號，H、V為行、場信號)的測試也越來越重要?，F(xiàn)有技術(shù)中針對VGA信號的測試方案有兩種:
[0003]現(xiàn)有解決方案一:通過計(jì)算機(jī)外接顯示器的方式獲取VGA信號，并且在計(jì)算機(jī)的VGA接口處點(diǎn)測該VGA信號。
[0004]上述方案的缺點(diǎn)在于:
[0005](I)為了測試VGA信號，需要外接一臺顯示器，造成測試不便；
[0006](2)由于測試對外接顯示器的分辨率要求較高，造成測試成本過高；
[0007]( 3 )信號的可靠性較差；
[0008](4)測試效率較低。
[0009]現(xiàn)有解決方案二:通過對VGA接口的R、G、B、H、V信號源焊接電阻，引出VGA信號。
[0010]上述方案的缺點(diǎn)在于:
[0011](I)信號的可靠性差；
[0012](2)測試效率較低；
[0013](3)測試穩(wěn)定性較低。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0014]本實(shí)用新型的目的在于提供一種VGA信號的測試治具，所述治具能夠穩(wěn)定可靠的測試VGA信號，又能夠降低測試成本，并且還可以提高測試的效率。
[0015]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提出了一種VGA信號的測試治具，所述治具包括D-Sub公頭接口電路，阻抗匹配電路以及分辨率存儲電路，其中所述D-Sub公頭接口電路包括一具有十五個(gè)連接引腳的D-Sub公頭接口，所述D-Sub公頭接口中的R、G、B、H、V引腳連接至所述阻抗匹配電路，所述D-Sub公頭接口中的I2C總線引腳以及電源引腳連接至所述分辨率存儲電路，所述D-Sub公頭接口中的其余引腳接地。
[0016]優(yōu)選的是，所述阻抗匹配電路包括五個(gè)匹配電阻，其中連接于所述D-Sub公頭接口中的R引腳的電阻被配置為75ohm，連接于所述D-Sub公頭接口中的G引腳的電阻被配置為75ohm，連接于所述D-Sub公頭接口中的B引腳的電阻被配置為75ohm，連接于所述D-Sub公頭接口中的H引腳的電阻被配置為2.2Kohm,連接于所述D-Sub公頭接口中的V引腳的電阻被配置為2.2Kohm。
[0017]優(yōu)選的是，所述分辨率存儲電路包括一 E2PROM,所述E2PROM的I2C總線引腳分別連接至所述D-Sub公頭接口中的I2C總線引腳；并且從所述E2PROM的I2C總線引腳分別引出第七電阻，第八電阻連接至所述D-Sub公頭接口中的電源引腳；所述E2PROM的WP引腳經(jīng)第九電阻連接至所述D-Sub公頭接口中的電源引腳；所述E2PROM的電源引腳連接至所述D-Sub公頭接口中的電源引腳，并且經(jīng)并聯(lián)的第二電容，第三電容接地；所述E2PROM的其余引腳接地。
[0018]優(yōu)選的是，所述E2PROM中預(yù)先存儲了分辨率控制信息以及測試用的分辨率信息。
[0019]優(yōu)選的是，所述測試治具還包括一防靜電電路，所述防靜電電路包括五個(gè)ESD 二極管，所述五個(gè)ESD 二極管的一端分別與所述D-Sub公頭接口中的R、G、B、H、V引腳相連接，
其另一端接地。
[0020]本實(shí)用新型的有益效果在于，本實(shí)用新型所涉及的VGA信號的測試治具成本較低，穩(wěn)定性好，信號的失真度較低，測試效率較高，并且E2PROM的使用使得本測試治具適用于各廠商生產(chǎn)的計(jì)算機(jī)的測試。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0021]圖1示出了本實(shí)用新型所涉及的測試治具的框圖。
[0022]圖2示出了本實(shí)用新型所涉及的D-Sub公頭接口電路圖。
[0023]圖3示出了本實(shí)用新型所涉及的阻抗匹配電路圖。
[0024]圖4示出了本實(shí)用新型所涉及的分辨率存儲電路圖。
[0025]圖5示出了本實(shí)用新型所涉及的防靜電電路圖。
【具體實(shí)施方式】
[0026]下面結(jié)合附圖對本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】做進(jìn)一步說明。
[0027]如圖1所示，依照本實(shí)用新型所涉及的VGA信號的測試治具包括D-Sub公頭接口電路10，阻抗匹配電路20，分辨率存儲電路30以及防靜電電路40。其中所述阻抗匹配電路20，分辨率存儲電路30以及防靜電電路40分別通過與所述D-Sub公頭接口電路10中的引腳相對應(yīng)的引腳連接至所述D-Sub公頭接口電路10。
[0028]具體的D-Sub公頭接口電路10如圖2所示，所述D-Sub公頭接口電路10包括一個(gè)D-Sub公頭接口 JPl，第一電阻Rl和第一電容Cl。所述D-Sub公頭接口 JPl包括十五個(gè)與對應(yīng)的D-Sub母頭接口相連接的引腳以及第一接地引腳和第二接地引腳，上述兩個(gè)接地引腳相互連接后通過第一電阻Rl和第一電容Cl形成的并聯(lián)電路接地。所述十五個(gè)引腳中的第一引腳為CRT_M|f號的引入引腳，第二引腳為0^_6信號的引入引腳，第三引腳為CRT_B信號的引入引腳，第四、五、六、七、八、十、十一引腳接地，第九引腳為電源CRT_VCC引腳，第十二引腳為I2C總線中的CRT_DAT引腳，第十三引腳為HSYNC信號的引入引腳，第十四引腳為VSYNC信號引入引腳，第十五引腳為I2C總線中的CRT_CLK引腳。
[0029]具體的阻抗匹配電路20如圖3所示，所述阻抗匹配電路20包括第二電阻R2，第三電阻R3，第四電阻R4，第五電阻R5以及第六電阻R6，所述五個(gè)電阻的一端分別與所述D-Sub公頭接口 JPl的第一引腳，第二引腳，第三引腳，第十三引腳和第十四引腳相連接，另一端接地。 [0030]具體的分辨率存儲電路30如圖4所示，所述分辨率存儲電路30包括一存儲芯片U1，第七電阻R7，第八電阻R8，第九電阻R9，第二電容C2以及第三電容C3。所述存儲芯片Ul可以采用型號為AT24C02BN-SH-T的E2PROM,其NC_1、NC_2、P0RT#以及GND引腳接地，所述存儲芯片Ul的SCL引腳以及SDA引腳分別連接至所述D-Sub公頭接口 JPl的第十五引腳和第十二引腳，作為I2C總線接口，并且從該存儲芯片Ul的SCL引腳以及SDA引腳分別引出第七電阻R7，第八電阻R8連接至所述D-Sub公頭接口 JPl的第九引腳；所述存儲芯片Ul的WP引腳經(jīng)第九電阻R9連接至所述D-Sub公頭接口 JPl的第九引腳；所述存儲芯片Ul的VCC引腳連接至所述D-Sub公頭接口 JPl的第九引腳，并且經(jīng)并聯(lián)的第二電容C2，第三電容C3接地。
[0031]具體的防靜電電路40如圖5所示，所述防靜電電路40包括第一 ESD (靜電放電)二極管D1，第二 ESD 二極管D2，第三ESD 二極管D3，第四ESD 二極管D4以及第五ESD 二極管D5，所述五個(gè)二極管的一端分別與所述D-Sub公頭接口 JPl的第一引腳，第二引腳，第三引腳，第十三引腳和第十四引腳相連接，另一端接地。所述防靜電電路40用于防止靜電電壓過高，損壞治具。
[0032]由于計(jì)算機(jī)輸出的R、G、B信號的輸出阻抗為75ohm,其輸出的H、V信號的輸出阻抗為2.2Kohm，為了使測試治具能夠被計(jì)算機(jī)識別，需要對阻抗匹配電路20中的電阻阻值進(jìn)行設(shè)置，具體第二電阻R2的阻值為75ohm，第三電阻R3的阻值為75ohm，第四電阻R4的阻值為75ohm，第五電阻R5的阻值為2.2Kohm，第六電阻R6的阻值為2.2Kohm。
[0033]在分辨率存儲電路30中，所述存儲芯片Ul的WP引腳接至所述D-Sub公頭接口 JPl的第九引腳CRT_VCC端，因此所述存儲芯片Ul啟動了寫保護(hù)功能，只能對所述存儲芯片Ul中的內(nèi)容進(jìn)行讀取操作。
[0034]在該測試治具的制作過程中，在所述存儲芯片Ul中預(yù)先燒錄了分辨率的控制信息DDC (顯示器數(shù)據(jù)通道VEDID (擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù))，并且燒錄了測試所需的各組分辨率。
[0035]具體的測試原理是:將測試治具的D-Sub公頭接口 JPl插入計(jì)算機(jī)的D-Sub母頭接口，計(jì)算機(jī)主板通過將R、G、B、H、V五路信號的輸出阻抗與測試治具的阻抗進(jìn)行匹配以識別所述測試治具，當(dāng)阻抗完全匹配后，計(jì)算機(jī)則識別了所述測試治具。通過I2C總線，計(jì)算機(jī)讀取所述測試治具中存儲芯片Ul中的與計(jì)算機(jī)當(dāng)前的分辨率一致的分辨率，使計(jì)算機(jī)與所述測試治具的分辨率保持一致，通過所述D-Sub公頭接口 JPl便可以將計(jì)算機(jī)輸出的R、G、B、H、V五路信號引入到測試治具中。之后可以在所述測試治具中焊接探棒點(diǎn)測排針對所述R、G、B、H、V五路信號進(jìn)行探測，并將探測結(jié)果在示波器上進(jìn)行顯示。
[0036]本實(shí)用新型所涉及的VGA信號的測試治具成本較低，平均每套測試治具不超過100元人民幣；采用機(jī)械打板，焊接，使得測試治具的穩(wěn)定性好，信號的失真度降低；采用本實(shí)用新型所涉及的測試治具能夠節(jié)省測試時(shí)間，提高了測試效率；e2prom的使用使得本測試治具適用于各廠商生產(chǎn)的計(jì)算機(jī)的測試。
【權(quán)利要求】
1.一種VGA信號的測試治具，其特征在于:所述治具包括D-Sub公頭接口電路，阻抗匹配電路以及分辨率存儲電路，其中所述D-Sub公頭接口電路包括一具有十五個(gè)連接引腳的D-Sub公頭接口，所述D-Sub公頭接口中的R、G、B、H、V引腳連接至所述阻抗匹配電路，所述D-Sub公頭接口中的I2C總線引腳以及電源引腳連接至所述分辨率存儲電路，所述D-Sub公頭接口中的其余引腳接地。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的VGA信號的測試治具，其特征在于:所述阻抗匹配電路包括五個(gè)匹配電阻，其中連接于所述D-Sub公頭接口中的R引腳的電阻被配置為75ohm，連接于所述D-Sub公頭接口中的G引腳的電阻被配置為75ohm，連接于所述D-Sub公頭接口中的B引腳的電阻被配置為75ohm，連接于所述D-Sub公頭接口中的H引腳的電阻被配置為2.2Kohm，連接于所述D-Sub公頭接口中的V引腳的電阻被配置為2.2Kohm。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的VGA信號的測試治具，其特征在于:所述分辨率存儲電路包括一 E2PROM,所述E2PROM的I2C總線引腳分別連接至所述D-Sub公頭接口中的I2C總線引腳；并且從所述E2PROM的I2C總線引腳分別引出第七電阻，第八電阻連接至所述D-Sub公頭接口中的電源引腳；所述E2PROM的WP引腳經(jīng)第九電阻連接至所述D-Sub公頭接口中的電源引腳；所述E2PROM的電源引腳連接至所述D-Sub公頭接口中的電源引腳，并且經(jīng)并聯(lián)的第二電容，第三電容接地；所述E2PROM的其余引腳接地。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的VGA信號的測試治具，其特征在于:所述E2PROM中預(yù)先存儲了分辨率控制信息以及測試用的分辨率信息。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的VGA信號的測試治具，其特征在于:所述測試治具還包括一防靜電電路，所述防靜電電路包括五個(gè)ESD 二極管，所述五個(gè)ESD 二極管的一端分別與所述D-Sub公頭接口中的R、G、B、H、V引腳相連接，其另一端接地。
【文檔編號】G06F11/267GK203733109SQ201420007401
【公開日】2014年7月23日 申請日期:2014年1月6日 優(yōu)先權(quán)日:2014年1月6日
【發(fā)明者】陳娜 申請人:合肥聯(lián)寶信息技術(shù)有限公司