Cis芯片yuv格式輸出的ate測試方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種CIS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法，包括以下步驟：ATE用抓取RGB格式圖像數(shù)據(jù)的方法抓取CIS芯片輸出的YUV格式圖像數(shù)據(jù)；將抓取到的YUV格式圖像數(shù)據(jù)存儲到一離線文件上；將存儲在所述離線文件上的YUV格式圖像數(shù)據(jù)與CIS芯片的預期圖像處理結(jié)果進行比對；輸出比對結(jié)果。ATE只需用抓取RGB格式圖像數(shù)據(jù)的方法抓取CIS芯片輸出的YUV格式圖像數(shù)據(jù)，并與所述CIS芯片設計方提供的預期處理結(jié)果進行比對，以此來判斷所述CIS芯片的ISP測試是否通過。即利用現(xiàn)有的支持RGB格式的ATE機臺即可實現(xiàn)對YUV格式的測試，降低測試成本和風險，提高測試效率。
【專利說明】CIS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法

【技術領域】
[0001 ] 本發(fā)明涉及集成電路制造設備【技術領域】，尤其是一種CIS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法。

【背景技術】
[0002]CIS (CMOS Image Sensor，CMOS圖像傳感器)芯片的輸出為圖像，常用的圖像格式有RGB格式、YUV格式兩種。在CIS芯片量產(chǎn)測試中，對圖像的測試即用專用的ATE (Automatic Test Equipment，自動測試設備)機臺抓取CIS芯片輸出的圖像并對其進行像素分析。目前，為了提高圖像質(zhì)量，越來越多的CIS芯片自帶了 ISP(Image SignalProcess,圖像信號處理)功能，很多芯片輸出在經(jīng)過ISP處理后會由原始的RGB格式變?yōu)閅UV格式。但很多ATE機臺只支持RGB格式，不支持YUV格式。
[0003]ISP是對圖像進行分析、加工、處理的技術，可實現(xiàn)對圖像進行壞點修正、白平衡校正、色彩補償?shù)忍幚?，為確保圖像質(zhì)量，高像素的CIS芯片一般都具有ISP功能。這些CIS芯片的ATE量產(chǎn)測試也需要對ISP功能進行驗證。
[0004]目前測試ISP—般有兩種方案，一種是用FPGA搭建系統(tǒng)版的方式。但是這種方法速度慢、效率低，測試成本高。一種是升級ATE機臺，換成支持YUV格式輸出的資源。但ATE機臺價格昂貴，成本高，而且若芯片出貨量不大，成本無法收回，風險大。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明的目的在于提供一種CIS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法，以解決無法利用現(xiàn)有的支持RGB格式輸出的ATE機臺對YUV格式的圖像信號處理輸出進行測試的問題。
[0006]為了達到上述目的，本發(fā)明提供了一種CIS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法，包括以下步驟:
[0007]ATE用抓取RGB格式圖像數(shù)據(jù)的方法抓取CIS芯片輸出的YUV格式圖像數(shù)據(jù)；
[0008]將抓取到的YUV格式圖像數(shù)據(jù)存儲到一離線文件上；
[0009]將存儲在所述離線文件上的YUV格式圖像數(shù)據(jù)與CIS芯片的預期圖像處理結(jié)果進行比對；
[0010]輸出比對結(jié)果。
[0011]優(yōu)選的，在上述的CIS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法中，所述ATE在抓取所述CIS芯片輸出的YUV格式圖像數(shù)據(jù)時，抓取的是所述YUV格式圖像上的每一個像元的數(shù)字輸出。
[0012]優(yōu)選的，在上述的CIS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法中，所述YUV格式圖像上的每一個像元對應兩個數(shù)字輸出。
[0013]優(yōu)選的，在上述的CIS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法中，將所述YUV格式圖像上的每一個像元對應的兩個數(shù)字輸出存儲到所述離線文件上。
[0014]優(yōu)選的，在上述的CIS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法中，所述離線文件位于與所述ATE連接的主機上。
[0015]優(yōu)選的，在上述的CIS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法中，所述CIS芯片的預期圖像處理結(jié)果為所述CIS芯片經(jīng)過圖像信號處理后圖像的每一個像元的數(shù)字輸出。
[0016]優(yōu)選的，在上述的CIS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法中，所述CIS芯片的預期圖像處理結(jié)果的每一個像元對應兩個數(shù)字輸出。
[0017]優(yōu)選的，在上述的CIS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法中，所述CIS芯片的預期圖像處理結(jié)果存儲于與所述ATE相連接的主機上的一預期輸出文件上。
[0018]優(yōu)選的，在上述的CIS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法中，將所述離線文件上的數(shù)字輸出與所述預期輸出文件上的數(shù)字輸出進行比對。
[0019]優(yōu)選的，在上述的CIS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法中，所述離線文件上的數(shù)字輸出與所述預期輸出文件上的數(shù)字輸出完全相同，則測試通過。
[0020]優(yōu)選的，在上述的CIS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法中，所述離線文件上的數(shù)字輸出與所述預期輸出文件上的數(shù)字輸出有差異，則測試失敗，并將所有出錯的像元位置寫入到分析結(jié)果文件，用做失效分析依據(jù)。
[0021 ] 在本發(fā)明提供的ClS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法中，ATE只需用抓取RGB格式圖像數(shù)據(jù)的方法抓取CIS芯片輸出的YUV格式圖像數(shù)據(jù)，將抓取到的結(jié)果存儲在一離線文件上，并將所述存儲結(jié)果與所述Cis芯片設計方提供的預期處理結(jié)果進行比對，若存儲于所述離線文件上的數(shù)據(jù)與所述預期處理結(jié)果完全相同，則所述CIS芯片的ISP測試通過；若存儲于所述離線文件上的數(shù)據(jù)與所述預期處理結(jié)果有差異，則所述CIS芯片的ISP測試沒有通過。同時，所述ATE所抓取的結(jié)果存儲在一離線文件上，在進行圖像測試的同時還可以同時進行其他測試項，節(jié)省了資源。即利用現(xiàn)有的支持RGB格式的ATE機臺即可實現(xiàn)對YUV格式的測試，降低測試成本和風險，且提高了測試效率。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0022]圖1為本發(fā)明實施例中CIS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法的流程圖。

【具體實施方式】
[0023]下面將結(jié)合示意圖對本發(fā)明的【具體實施方式】進行更詳細的描述。根據(jù)下列描述和權利要求書，本發(fā)明的優(yōu)點和特征將更清楚。需說明的是，附圖均采用非常簡化的形式且均使用非精準的比例，僅用以方便、明晰地輔助說明本發(fā)明實施例的目的。
[0024]發(fā)明人發(fā)現(xiàn)，在將CIS芯片的寄存器設置一定后，所述CIS芯片的輸出圖像是唯一的。CIS芯片的設計方會提供所述CIS芯片的一種配置以及與所述配置相對應的預期輸出圖像，所述配置能夠使所述輸出圖像盡量覆蓋ISP的處理功能。在對所述CIS芯片進行圖像信號處理測試時，只要將所述CIS芯片按照設計方提供的配置來配置所述CIS的寄存器，就可以根據(jù)獲得的圖像與設計方所述提供的所述預期輸出圖像進行比對，就可判斷所述CIS芯片的圖像信號處理功能是否正確。
[0025]進一步的，發(fā)明人還發(fā)現(xiàn)，所述CIS芯片設計方提供的所述預期輸出圖像是一個文本文件，是用數(shù)字輸出描述的預期輸出圖像。用RGB格式的ATE抓取CIS芯片YUV格式的圖像輸出也是一個文本文件，因為所述ATE抓取的方法所對應的數(shù)據(jù)格式為RGB格式，與被抓取的圖像數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)格式(YUV格式)不匹配，所抓取的數(shù)據(jù)無法重建成一張正確的圖像，從而無法實現(xiàn)直接對圖像進行測試。而當所述CIS芯片的寄存器配置一定時，所述CIS芯片輸出圖像的數(shù)字輸出是一定的，也就是說，可以根據(jù)比對所述CIS芯片設計方提供的文本文件與所述RGB格式的ATE抓取的CIS芯片YUV格式的圖像輸出進行比對，即可實現(xiàn)對所述CIS芯片圖像信號處理功能的判斷。
[0026]具體的，如圖1所示，本發(fā)明提供了一種CIS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法，包括以下步驟:
[0027]SI:ATE用抓取RGB格式圖像數(shù)據(jù)的方法抓取CIS芯片輸出的YUV格式的圖像數(shù)據(jù)。
[0028]具體的，所述ATE為現(xiàn)有技術中的僅支持RGB格式圖像數(shù)據(jù)的ATE，在抓取所述CIS芯片輸出的YUV格式圖像數(shù)據(jù)時，將所述YUV格式圖像數(shù)據(jù)假設為RGB格式的圖像數(shù)據(jù)，按照所述ATE抓取RGB格式圖像數(shù)據(jù)的方法來抓取所述YUV格式圖像數(shù)據(jù)。
[0029]具體的，所述ATE在抓取所述YUV格式圖像數(shù)據(jù)時，抓取的是所述YUV格式圖像上的每一個像元的數(shù)字輸出，而所述每一個像元對應兩個數(shù)字輸出。也就是說，例如:對于一個5M像元的圖像來說，就需要有1M個數(shù)字輸出。
[0030]因為所述ATE抓取的方法所對應的數(shù)據(jù)格式與被抓取的圖像數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)格式不匹配，所抓取的數(shù)據(jù)無法重建成一張正確的圖像。具體的，所述ATE在抓取RGB格式的圖像時，所述RGB格式的圖像的每個像元只對應一個數(shù)字輸出，而所述YUV格式的圖像的每個像元對應兩個數(shù)字輸出，對于上述的一個5M像元的圖像來說，所述YUV格式的圖像有1M個數(shù)字輸出，而所述RGB格式的圖像就只有5M個數(shù)字輸出，那么根據(jù)所述1M個數(shù)字輸出無法重建成原來的圖像。
[0031]S2:將抓取到的YUV格式圖像數(shù)據(jù)存儲到一離線文件上。
[0032]將上述步驟SI中抓取到的不能重建成一張正確圖像的數(shù)據(jù)存儲到一離線文件中。所述離線文件位于與所述ATE連接的主機上。
[0033]具體的，對于上述步驟SI中的5M像元的圖像來說，就需要將所述1M個數(shù)字輸出存儲到所述主機上的所述離線文件上。在進行所述CIS芯片的圖像測試的同時，還可以同時運行其他測試項，節(jié)省了資源和芯片測試時間，提高了測試效率。
[0034]S3:將存儲在所述離線文件上的YUV格式圖像數(shù)據(jù)與CIS芯片的預期圖像處理結(jié)果進行比對。
[0035]對于每一片CIS芯片，所述CIS芯片的設計方在提供所述CIS芯片時，會提供所述CIS芯片的一種配置與所述配置相對應的預期輸出圖像的文本文件，所述配置能夠使所述輸出圖像提供盡量多的信息。所述預期輸出圖像的文本文件為所述CIS芯片經(jīng)過ISP處理后每個像元的預期的數(shù)字輸出，所述預期輸出圖像的每個像元對應兩個預期數(shù)字輸出，并將所述預期輸出圖像經(jīng)過ISP處理后每個像元的兩個預期數(shù)字輸出存儲在與所述ATE連接的主機上的一預期輸出文件上。
[0036]然后將存儲于所述離線文件上的數(shù)字輸出與所述預期輸出文件上的數(shù)字輸出進行比對。
[0037]也就是說，對于上述步驟I中提到的5M像元的圖像，所述CIS芯片的設計方會提供其經(jīng)過ISP處理后預期的1M個數(shù)字輸出，并將其存儲在與所述ATE連接的主機上的一預期輸出文件上。
[0038]進一步的，將所述離線文件中存儲的1M個數(shù)字輸出和所述CIS芯片設計方提供的預期的1M個數(shù)字輸出進行一一比對。
[0039]S4:輸出比對結(jié)果。
[0040]具體的，在上述步驟S3中，將離線文件中每個像元的數(shù)字輸出與預期輸出文件中的每個像素的預期數(shù)字輸出進行比對，如果每個像素的數(shù)字輸出都相同，即所述離線文件和所述預期輸出文件中的數(shù)據(jù)完全相同，則說明所述CIS芯片的ISP功能完全正確，表示測試通過。如果所述離線文件和所述預期輸出文件不完全相同，將數(shù)字輸出不相等的像元的位置寫入到一分析結(jié)果文件中。也就是說，即使所述離線文件和所述預期輸出文件中只有2個數(shù)字輸出不相同，即只有一個像元的數(shù)字輸出不相同，就需要找到所述不相同的數(shù)字輸出所對應的像元的位置，并將所述像元的所述位置寫入到所述分析結(jié)果文件中。如果所述離線文件和所述預期輸出文件中有多個數(shù)字輸出不相同，就需要一一找出不相同的數(shù)字輸出，與其對應的像元以及所述像元的對應位置，將所述對應位置寫入所述分析結(jié)果文件中，給失效分析提供參考。
[0041]更具體的，對于上述步驟SI中提到的所述5M像元的圖像來說，將所述離線文件中存儲的1M個數(shù)字輸出和所述CIS芯片設計方提供的預期的1M個數(shù)字輸出，如果兩個文件中的1M個數(shù)字輸出均相同，表明所述CIS芯片的圖像信號處理功能正確，如果兩個文件中的1M個數(shù)字輸出有不相同的，就需要找出具體不同的數(shù)字輸出所對應的像元的位置，并將所述像元的位置寫入所述分析結(jié)果文件中，給失效分析提供參考。
[0042]綜上，在本發(fā)明實施例提供的CIS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法中，ATE只需用抓取RGB格式圖像數(shù)據(jù)的方法抓取CIS芯片輸出的YUV格式圖像數(shù)據(jù)，將抓取到的結(jié)果存儲在一離線文件上，并將所述存儲結(jié)果與所述CIS芯片設計方提供的預期處理結(jié)果進行比對，若存儲于所述離線文件上的數(shù)據(jù)與所述預期處理結(jié)果完全相同，則所述CIS芯片的ISP測試通過；若存儲于所述離線文件上的數(shù)據(jù)與所述預期處理結(jié)果有差異，則所述CIS芯片的ISP測試沒有通過。同時，所述ATE所抓取的結(jié)果存儲在一離線文件上，在進行圖像測試的同時還可以同時進行其他測試項，節(jié)省了資源。即利用現(xiàn)有的支持RGB格式的ATE機臺即可實現(xiàn)對YUV格式的測試，降低測試成本和風險，且提高了測試效率。
[0043]上述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例而已，并不對本發(fā)明起到任何限制作用。任何所屬【技術領域】的技術人員，在不脫離本發(fā)明的技術方案的范圍內(nèi)，對本發(fā)明揭露的技術方案和技術內(nèi)容做任何形式的等同替換或修改等變動，均屬未脫離本發(fā)明的技術方案的內(nèi)容，仍屬于本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
【權利要求】
1.一種CIS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法，其特征在于，包括以下步驟: ATE用抓取RGB格式圖像數(shù)據(jù)的方法抓取CIS芯片輸出的YUV格式圖像數(shù)據(jù)； 將抓取到的YUV格式圖像數(shù)據(jù)存儲到一離線文件上； 將存儲在所述離線文件上的YUV格式圖像數(shù)據(jù)與CIS芯片的預期圖像處理結(jié)果進行比對； 輸出比對結(jié)果。
2.如權利要求1所述的CIS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法，其特征在于，所述ATE在抓取所述CIS芯片輸出的YUV格式圖像數(shù)據(jù)時，抓取的是所述YUV格式圖像上的每一個像元的數(shù)字輸出。
3.如權利要求2所述的CIS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法，其特征在于，所述YUV格式圖像上的每一個像元對應兩個數(shù)字輸出。
4.如權利要求3所述的CIS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法，其特征在于，將所述YUV格式圖像上的每一個像元對應的兩個數(shù)字輸出存儲到所述離線文件上。
5.如權利要求4所述的CIS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法，其特征在于，所述離線文件位于與所述ATE連接的主機上。
6.如權利要求1所述的CIS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法，其特征在于，所述CIS芯片的預期圖像處理結(jié)果為所述CIS芯片經(jīng)過圖像信號處理后圖像的每一個像元的數(shù)字輸出。
7.如權利要求6所述的CIS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法，其特征在于，所述CIS芯片的預期圖像處理結(jié)果的每一個像元對應兩個數(shù)字輸出。
8.如權利要求7所述的CIS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法，其特征在于，所述CIS芯片的預期圖像處理結(jié)果存儲于與所述ATE相連接的主機上的一預期輸出文件上。
9.如權利要求5或8所述的CIS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法，其特征在于，將所述離線文件上的數(shù)字輸出與所述預期輸出文件上的數(shù)字輸出進行比對。
10.如權利要求9所述的CIS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法，其特征在于，所述離線文件上的數(shù)字輸出與所述預期輸出文件上的數(shù)字輸出完全相同，則測試通過。
11.如權利要求9所述的CIS芯片YUV格式輸出的ATE測試方法，其特征在于，所述離線文件上的數(shù)字輸出與所述預期輸出文件上的數(shù)字輸出有差異，則測試失敗，并將所有出錯的像元位置寫入到分析結(jié)果文件，用做失效分析依據(jù)。
【文檔編號】G06T7/00GK104484885SQ201410844154
【公開日】2015年4月1日 申請日期:2014年12月25日 優(yōu)先權日:2014年12月25日
【發(fā)明者】張文情, 劉遠華, 余琨, 邵嘉陽, 湯雪飛, 郝丹丹 申請人:上海華嶺集成電路技術股份有限公司