巖石ct掃描圖像的配準(zhǔn)校正方法及裝置制造方法
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種巖石CT掃描圖像的配準(zhǔn)校正方法，該方法包括：在巖石端面上做標(biāo)記；對(duì)巖石進(jìn)行CT掃描，在掃描圖像上查找?guī)r石端面上的標(biāo)記點(diǎn)并記錄標(biāo)記點(diǎn)的位置；再次對(duì)巖石進(jìn)行CT掃描，在掃描圖像上查找?guī)r石端面上的標(biāo)記點(diǎn)并記錄標(biāo)記點(diǎn)的位置；利用坐標(biāo)變換將后一次掃描圖像上標(biāo)記點(diǎn)的位置變換為前一次掃描圖像上標(biāo)記點(diǎn)的位置，并對(duì)應(yīng)的將后一次掃描圖像上的全部矩陣點(diǎn)位置進(jìn)行坐標(biāo)旋轉(zhuǎn)平移變換。采用本發(fā)明可以使多次掃描過(guò)程中巖石圖像“對(duì)準(zhǔn)”，有利于提高后續(xù)分析結(jié)果的精度和可靠性。
【專(zhuān)利說(shuō)明】巖石CT掃描圖像的配準(zhǔn)校正方法及裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及巖心分析測(cè)試【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及巖石CT掃描圖像的配準(zhǔn)校正方法 及裝置。

【背景技術(shù)】
[0002] 近年來(lái)，CT (電子計(jì)算機(jī)X射線(xiàn)斷層掃描）技術(shù)已作為巖心分析中常規(guī)的測(cè)試技 術(shù)，廣泛應(yīng)用于巖心描述、巖心的非均質(zhì)性測(cè)定、巖心樣品選擇、裂縫定量分析、在線(xiàn)飽和度 的測(cè)量、流動(dòng)實(shí)驗(yàn)研究等多個(gè)方面。
[0003] 利用CT技術(shù)對(duì)巖石及內(nèi)部流體的一些物性參數(shù)進(jìn)行定性及定量表征，常涉及同 一巖樣前后多種狀態(tài)下圖像的對(duì)比；例如計(jì)算巖石的孔隙度，通常需要雙次掃描法，即干巖 石掃描后再將巖石100%飽和液體后掃描，同時(shí)通過(guò)下式進(jìn)行計(jì)算：

【權(quán)利要求】
1. 一種巖石CT掃描圖像的配準(zhǔn)校正方法，其特征在于，包括： 在巖石端面上做標(biāo)記； 對(duì)巖石進(jìn)行CT掃描，在掃描圖像上查找?guī)r石端面上的標(biāo)記點(diǎn)并記錄標(biāo)記點(diǎn)的位置； 再次對(duì)巖石進(jìn)行CT掃描，在掃描圖像上查找?guī)r石端面上的標(biāo)記點(diǎn)并記錄標(biāo)記點(diǎn)的位 置； 利用坐標(biāo)變換將后一次掃描圖像上標(biāo)記點(diǎn)的位置變換為前一次掃描圖像上標(biāo)記點(diǎn)的 位置，并對(duì)應(yīng)的將后一次掃描圖像上的全部矩陣點(diǎn)位置進(jìn)行坐標(biāo)旋轉(zhuǎn)平移變換。
2. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在巖石端面上做標(biāo)記，包括： 在巖石端面上選取至少三個(gè)點(diǎn)，分別用摻雜不同濃度增強(qiáng)劑的固化樹(shù)脂或膠進(jìn)行標(biāo) 記。
3. 如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述至少三個(gè)點(diǎn)不在一條直線(xiàn)上，且每個(gè)點(diǎn) 到巖石邊緣的距離小于第一設(shè)定值，各點(diǎn)之間的距離大于第二設(shè)定值。
4. 一種巖石CT掃描圖像的配準(zhǔn)校正方法，其特征在于，包括： 在巖石CT掃描的圖像上查找?guī)r石端面上的標(biāo)記點(diǎn)并記錄標(biāo)記點(diǎn)的位置； 在巖石再次CT掃描的圖像上查找?guī)r石端面上的標(biāo)記點(diǎn)并記錄標(biāo)記點(diǎn)的位置； 利用坐標(biāo)變換將后一次掃描圖像上標(biāo)記點(diǎn)的位置變換為前一次掃描圖像上標(biāo)記點(diǎn)的 位置，并對(duì)應(yīng)的將后一次掃描圖像上的全部矩陣點(diǎn)位置進(jìn)行坐標(biāo)旋轉(zhuǎn)平移變換。
5. 如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，巖石端面上的標(biāo)記點(diǎn)包括至少三個(gè)點(diǎn)，各點(diǎn) 分別用摻雜不同濃度增強(qiáng)劑的固化樹(shù)脂或膠進(jìn)行標(biāo)記。
6. 如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述至少三個(gè)點(diǎn)不在一條直線(xiàn)上，且每個(gè)點(diǎn) 到巖石邊緣的距離小于第一設(shè)定值，各點(diǎn)之間的距離大于第二設(shè)定值。
7. -種巖石CT掃描圖像的配準(zhǔn)校正裝置，其特征在于，包括： 第一標(biāo)記處理模塊，用于在巖石CT掃描的圖像上查找?guī)r石端面上的標(biāo)記點(diǎn)并記錄標(biāo) 記點(diǎn)的位置； 第二標(biāo)記處理模塊，用于在巖石再次CT掃描的圖像上查找?guī)r石端面上的標(biāo)記點(diǎn)并記 錄標(biāo)記點(diǎn)的位置； 配準(zhǔn)校正模塊，用于利用坐標(biāo)變換將后一次掃描圖像上標(biāo)記點(diǎn)的位置變換為前一次掃 描圖像上標(biāo)記點(diǎn)的位置，并對(duì)應(yīng)的將后一次掃描圖像上的全部矩陣點(diǎn)位置進(jìn)行坐標(biāo)旋轉(zhuǎn)平 移變換。
8. 如權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，巖石端面上的標(biāo)記點(diǎn)包括至少三個(gè)點(diǎn)，各點(diǎn) 分別用摻雜不同濃度增強(qiáng)劑的固化樹(shù)脂或膠進(jìn)行標(biāo)記。
9. 如權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，所述至少三個(gè)點(diǎn)不在一條直線(xiàn)上，且每個(gè)點(diǎn) 到巖石邊緣的距離小于第一設(shè)定值，各點(diǎn)之間的距離大于第二設(shè)定值。
【文檔編號(hào)】G06T7/00GK104112276SQ201410341912
【公開(kāi)日】2014年10月22日 申請(qǐng)日期:2014年7月17日 優(yōu)先權(quán)日:2014年7月17日
【發(fā)明者】吳康云, 呂偉峰, 劉慶杰, 馬德勝, 楊思玉, 李彤, 冷振鵬, 張祖波, 王家祿 申請(qǐng)人:中國(guó)石油天然氣股份有限公司