空間目標可見光散射特性分析模型校驗方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種空間目標可見光散射特性分析模型校驗方法，試驗?zāi)繕讼闰炐畔⑴c探測器參數(shù)獲??；進行試驗?zāi)繕私＃ò◣缀谓：捅砻娌牧辖＃?；空間目標可見光散射特性建模與分析；試驗?zāi)繕丝s比模型研制；試驗?zāi)繕丝s比模型可見光散射特性測試；試驗?zāi)繕丝梢姽馍⑸涮匦苑治雠c測試結(jié)果比對與分析；空間目標可見光散射特性分析模型校驗。本發(fā)明解決了由于單純理論分析導致的空間目標可見光散射特性分析結(jié)果偏差較大的問題，通過對多個多種模型的測試與校驗可以形成適用范圍較廣的空間目標可見光散射特性分析模型，從而為不同空間試驗任務(wù)規(guī)劃和可見光探測載荷的研制提供較為準確的可見光散射特性輸入?yún)?shù)。
【專利說明】空間目標可見光散射特性分析模型校驗方法
[0001]
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0002]本發(fā)明涉及空間【技術(shù)領(lǐng)域】，具體涉及一種空間目標可見光散射特性分析模型校驗方法。
[0003]
【背景技術(shù)】
[0004]利用可見光探測器實施對空間目標的探測與跟蹤是國內(nèi)外普遍使用的手段之一，只有獲得較為可靠的空間目標可見光散射特性數(shù)據(jù)，才能保證自主捕獲與跟蹤任務(wù)的順利完成。
[0005]照射空間目標的可見光源包括太陽直接輻射、地球反射太陽光兩種。二者經(jīng)目標表面散射、各表面之間的多次反射，其中一部分通過鏡像反射或漫反射傳向探測器。
[0006]一般來說，地球反射太陽光的影響可以忽略。鏡面反射一般也較少考慮，因工藝的影響，熱控噴涂或熱控包扎一般很少會出現(xiàn)面積較大的鏡面反射區(qū)域。因此，我們重點分析空間目標表面反射太陽光能量在探測器中的影響。
[0007]圖1所示為空間目標可見光散射特性分析模型
面元反射的太陽光能量在探測器入瞳處產(chǎn)生的光譜照度計算公式如下:
【權(quán)利要求】
1.一種空間目標可見光散射特性分析模型校驗方法，其特征在于，包括如下步驟: 步驟I，試驗?zāi)繕讼闰炐畔⑴c探測器參數(shù)獲??； 步驟2，根據(jù)試驗?zāi)繕说膸缀螀?shù)建立試驗?zāi)繕说膸缀谓?，根?jù)試驗?zāi)繕吮砻鏌峥夭牧蠀?shù)建立表面材料模型； 步驟3，空間目標可見光散射特性建模與分析； 步驟4，試驗?zāi)繕丝s比模型研制； 步驟5，試驗?zāi)繕丝s比模型可見光散射特性測試； 步驟6，試驗?zāi)繕丝梢姽馍⑸涮匦苑治雠c測試結(jié)果比對與分析； 步驟7，空間目標可見光散射特性分析模型校驗。
2.如權(quán)利要求1所述的空間目標可見光散射特性分析模型校驗方法，其特征在于，步驟I中先驗信息包括幾何參數(shù)和表面材料參數(shù)，獲取探測器的成像波段、成像視場、成像焦距等參數(shù)。
3.如權(quán)利要求1所述的空間目標可見光散射特性分析模型校驗方法，其特征在于，步驟3中根據(jù)試驗?zāi)繕塑壍绤?shù)、姿態(tài)參數(shù)和探測器的探測方位和探測波段，對空間目標可見光散射特性進行建模與分析，獲得關(guān)注位置和方位的光譜照度。
4.如權(quán)利要求1所述的空間目標可見光散射特性分析模型校驗方法，其特征在于，步驟4中縮比模型比例視可見光散射特性測試系統(tǒng)的太陽模擬器和可測距離而定，以模擬的太陽平行光完全把目標覆蓋為宜。
5.如權(quán)利要求1所述的空間目標可見光散射特性分析模型校驗方法，其特征在于，步驟5中選取一系列特定光照條件、特定觀測方位對試驗?zāi)繕丝s比模型的可見光散射特性進行測試。
6.如權(quán)利要求1所述的空間目標可見光散射特性分析模型校驗方法，其特征在于，步驟7包括:利用測試結(jié)果對空間目標可見光散射特性分析模型進行校驗，修正表面材料模型中的待定參數(shù)，重新對試驗?zāi)繕说目梢姽馍⑸涮匦赃M行分析，獲得近似于測試結(jié)果的分析結(jié)果。
【文檔編號】G06F19/00GK104008268SQ201410106801
【公開日】2014年8月27日 申請日期:2014年3月20日 優(yōu)先權(quán)日:2014年3月20日
【發(fā)明者】魏祥泉, 黃建明, 顏根廷, 肖余之, 劉魯江, 姚建, 唐潔 申請人:上海宇航系統(tǒng)工程研究所