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一種改善投射電容式觸控面板信號一致性的布線結(jié)構(gòu)的制作方法

文檔序號:6528471閱讀:226來源:國知局
一種改善投射電容式觸控面板信號一致性的布線結(jié)構(gòu)的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種改善投射電容式觸控面板信號一致性的布線結(jié)構(gòu),包括投射電容式觸控面板、若干信號線以及觸控芯片,投射電容式觸控面板通過若干信號線與觸控芯片連接:若干信號線的寬度根據(jù)投射電容式觸控面板與觸控芯片之間的距離由近及遠(yuǎn)依次增加,若干信號線的長度根據(jù)投射電容式觸控面板與觸控芯片之間的距離由近及遠(yuǎn)依次減少。
【專利說明】一種改善投射電容式觸控面板信號一致性的布線結(jié)構(gòu)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及觸控面板【技術(shù)領(lǐng)域】,特別涉及一種改善投射電容式觸控面板信號一致性的布線結(jié)構(gòu)。
【背景技術(shù)】
[0002]傳統(tǒng)投射電容式觸控面板的偵測信號線一般采用直走線,面板不同區(qū)域的傳感器(sensor)到觸控芯片(IC)的信號線長短不一,離觸控IC近的傳感器的X/Y方向走線較短,阻抗較小,而離觸控IC遠(yuǎn)的傳感器的X/Y方向走線較長,阻抗較大,信號傳輸時間長、衰減較嚴(yán)重,易造成觸控IC誤動作;隨著觸控面板向大尺寸的不斷發(fā)展,投射電容式觸控面板尺寸也越做越大,不同區(qū)域傳感器到觸控IC的信號線阻抗不一造成信號傳輸時間及衰減程度差異越嚴(yán)重。
[0003]正如圖1所示的傳統(tǒng)常見投射電容式觸控面板信號線的直走線方式,在投射電容式觸控面板不同區(qū)域的傳感器到觸控IC的路徑長度不一,阻抗有大有小,信號的強(qiáng)度也有強(qiáng)有弱:
[0004]區(qū)塊(I)通過信號線X/Y方向走線(即圖中的信號線Xl、Yl)到觸控IC路徑最長、阻抗最大,信號傳到觸控IC的時間最長、強(qiáng)度最弱;
[0005]區(qū)塊(2)通過X/Y方向走線(即圖中的信號線X4、Y4)到觸控IC路徑最短、阻抗最小,信號傳到觸控IC的時間最短、強(qiáng)度最強(qiáng);
[0006]其他區(qū)塊路徑、阻抗均在區(qū)塊(I)和(2)值的區(qū)域內(nèi);
[0007]此種走線方式易造成信號傳輸時間及信號強(qiáng)度分布不均勻。
[0008]為此,本實(shí)用新型提供一種改善投射電容式觸控面板信號一致性的布線結(jié)構(gòu),以解決上述技術(shù)問題。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0009]本實(shí)用新型針對現(xiàn)有技術(shù)存在的上述不足,提供了一種改善投射電容式觸控面板信號一致性的布線結(jié)構(gòu),主要從投射電容式觸控面板走線方式角度出發(fā),通過改善不同區(qū)域傳感器到觸控芯片(IC)的信號線長度及寬度,使各條偵測信號線的阻抗、信號傳輸時間及強(qiáng)度一致,可有效改善觸控IC檢測靈敏度及準(zhǔn)確度。
[0010]本實(shí)用新型通過以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):
[0011]一種改善投射電容式觸控面板信號一致性的布線結(jié)構(gòu),包括投射電容式觸控面板、若干信號線以及觸控芯片,投射電容式觸控面板通過若干信號線與觸控芯片連接:
[0012]若干信號線的寬度根據(jù)投射電容式觸控面板與觸控芯片之間的距離由近及遠(yuǎn)依次增加,若干信號線的長度根據(jù)投射電容式觸控面板與觸控芯片之間的距離由近及遠(yuǎn)依次減少。
[0013]較佳的,連接投射電容式觸控面板與觸控芯片之間的距離最遠(yuǎn)處的信號線為直走線結(jié)構(gòu),以減少投射電容式觸控面板與觸控芯片之間的距離最遠(yuǎn)處的信號傳輸距離;其余的信號線為“幾”字形結(jié)構(gòu),以增加投射電容式觸控面板與觸控芯片之間的信號傳輸距離。
[0014]較佳的,若干信號線的寬度根據(jù)投射電容式觸控面板與觸控芯片之間的距離由近及遠(yuǎn)依次增加投射電容式觸控面板與觸控芯片之間的距離最近的信號線的寬度的一倍。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0015]圖1所示的是現(xiàn)有的投射電容式觸控面板的布線結(jié)構(gòu)示意圖;
[0016]圖2所示的是本實(shí)用新型的布線結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0017]以下將結(jié)合本實(shí)用新型的附圖,對本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整的描述和討論,顯然,這里所描述的僅僅是本實(shí)用新型的一部分實(shí)例,并不是全部的實(shí)例,基于本實(shí)用新型中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
[0018]為了便于對本實(shí)用新型實(shí)施例的理解,下面將結(jié)合附圖以具體實(shí)施例為例作進(jìn)一步的解釋說明,且各個實(shí)施例不構(gòu)成對本實(shí)用新型實(shí)施例的限定。
[0019]請參考圖2,為解決傳統(tǒng)投射電容式觸控面板在不同區(qū)域的傳感器到觸控IC (即觸控芯片)的路徑長短不一而造成的各條信號線阻抗、信號傳輸時間及強(qiáng)度不一致的問題,主要通過改變投射電容式觸控面板的走線方式及走線寬度,使各條信號線的阻抗、信號傳輸時間及強(qiáng)度一致。
[0020]其原理是根據(jù)導(dǎo)線的電阻特性,走線越長越細(xì),阻抗越大;走線越短越粗,阻抗越小。
[0021]在制作投射電容式觸控面板時:
[0022]離觸控IC遠(yuǎn)的X/Y信號線可采用傳統(tǒng)直走線,同時增加走線寬度;
[0023]離觸控IC近的X/Y信號線可采用“幾”字形方式增加走線長度,同時縮小走線寬度。
[0024]在圖2中,使信號線Xl寬度是信號線X4寬度的3倍,信號線Yl寬度是信號線Y4寬度的3倍;同時配合增加信號線X4/Y4的走線長度,如此以平衡信號線X1/Y1與X4/Y4的阻抗,使信號傳輸時間及信號強(qiáng)度達(dá)到或接近一致。
[0025]區(qū)塊(I)通過較粗的直形信號線X1/Y1到觸控IC的阻抗變小,信號傳到觸控IC的時間減少、強(qiáng)度增強(qiáng),接近平均值;
[0026]區(qū)塊(2)通過較細(xì)的“幾”字形信號線X4/Y4到觸控IC的阻抗變大,信號傳到觸控IC的時間增加、強(qiáng)度減弱,接近平均值;
[0027]同理其他區(qū)塊均接近平均值,從而使各條信號線的阻抗、信號傳輸時間及強(qiáng)度一致,可有效改善觸控IC檢測靈敏度及準(zhǔn)確度。
[0028]以上所述,僅為本實(shí)用新型較佳的【具體實(shí)施方式】,但本實(shí)用新型的保護(hù)范圍并不局限于此,任何熟悉本【技術(shù)領(lǐng)域】的技術(shù)人員在本實(shí)用新型揭露的技術(shù)范圍內(nèi),可輕易想到的變化或替換,都應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此,本實(shí)用新型的保護(hù)范圍應(yīng)該以權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種改善投射電容式觸控面板信號一致性的布線結(jié)構(gòu),包括投射電容式觸控面板、若干信號線以及觸控芯片,所述投射電容式觸控面板通過所述若干信號線與所述觸控芯片連接,其特征在于:所述若干信號線的寬度根據(jù)所述投射電容式觸控面板與所述觸控芯片之間的距離由近及遠(yuǎn)依次增加,所述若干信號線的長度根據(jù)所述投射電容式觸控面板與所述觸控芯片之間的距離由近及遠(yuǎn)依次減少。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的改善投射電容式觸控面板信號一致性的布線結(jié)構(gòu),其特征在于,連接所述投射電容式觸控面板與所述觸控芯片之間的距離最遠(yuǎn)處的所述信號線為直走線結(jié)構(gòu),以減少所述投射電容式觸控面板與所述觸控芯片之間的距離最遠(yuǎn)處的信號傳輸距離;其余的所述信號線為“幾”字形結(jié)構(gòu),以增加所述投射電容式觸控面板與所述觸控芯片之間的信號傳輸距離。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的改善投射電容式觸控面板信號一致性的布線結(jié)構(gòu),其特征在于,所述若干信號線的寬度根據(jù)所述投射電容式觸控面板與所述觸控芯片之間的距離由近及遠(yuǎn)依次增加所述投射電容式觸控面板與所述觸控芯片之間的距離最近的所述信號線的寬度的一倍。
【文檔編號】G06F3/044GK203405800SQ201320479679
【公開日】2014年1月22日 申請日期:2013年8月7日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月7日
【發(fā)明者】姜海斌, 李紅 申請人:華映視訊(吳江)有限公司
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