觸控面板的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種觸控面板。該觸控面板包括一觸控傳感器、一屏蔽層、以及復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)電箔片，該屏蔽層絕緣地設(shè)置于所述觸控傳感器上，該復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)電箔片通過一異方性導(dǎo)電膠來間隔設(shè)置于所述屏蔽層遠(yuǎn)離所述觸控傳感器的一表面，任兩個(gè)所述導(dǎo)電箔片、所述異方性導(dǎo)電膠及所述屏蔽層串接成一信號路徑。此觸控面板具有穩(wěn)定的抗干擾能力。
【專利說明】觸控面板
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種觸控技術(shù)，特別關(guān)于一種觸控面板。
【背景技術(shù)】
[0002]目前廣泛使用的個(gè)人數(shù)字助理、游戲機(jī)、智能手機(jī)、平板計(jì)算機(jī)等電子系統(tǒng)包括觸控屏和顯示器。其中由于觸控屏是貼合于顯示器上方，因此觸控屏中的一觸控感應(yīng)層容易受到來自顯示器端的電磁干擾而降低感應(yīng)的精確度。
[0003]為了增強(qiáng)觸控屏抗干擾的能力，在觸控屏中通常會在觸控感應(yīng)層靠近顯示器的一側(cè)整面覆設(shè)一屏蔽層，藉以防止觸控感應(yīng)層受到來自顯示器端的電磁干擾。其中，屏蔽層通過軟性電路板(Flexible Printed Circuit,FPC)來連接到系統(tǒng)端的接地端，以形成屏蔽層的宣泄路徑。此宣泄路徑的電氣特性好壞將直接影響到屏蔽層的屏蔽效果，因此目前在測試觸控屏的功能時(shí)也會對屏蔽層的宣泄路徑一并測試。
[0004]現(xiàn)有測試屏蔽層的宣泄路徑的方法是由檢測端提供一定頻率的信號至屏蔽層，用來量測屏蔽層與觸控感應(yīng)層之間所形成的耦合電容的電容值。若所測得的電容值異于默認(rèn)值，則判定宣泄路徑的電氣特性不良，例如:因軟性電路板與屏蔽層之間的接觸不良所造成。
[0005]然而，由于測試耦合電容的方式是屬于測試屏蔽層的交流特性，因此測試時(shí)存在著盲點(diǎn)，例如當(dāng)屏蔽層的阻值異常變大而超過工作范圍時(shí)，現(xiàn)有的測試方式便無法有效且精確地判斷出不良，讓屏蔽層可能因此無法發(fā)揮原本應(yīng)有的屏蔽效果，進(jìn)而降低觸控屏的抗干擾能力。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0006]有鑒于此，本實(shí)用新型提供一種觸控面板。
[0007]本實(shí)用新型揭露了一種觸控面板，包括一觸控傳感器、一屏蔽層、以及復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)電箔片。該屏蔽層絕緣地設(shè)置于所述觸控傳感器上，該復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)電箔片通過一異方性導(dǎo)電膠來間隔設(shè)置于所述屏蔽層遠(yuǎn)離所述觸控傳感器的一表面；其中，任兩個(gè)所述導(dǎo)電箔片、所述異方性導(dǎo)電膠及所述屏蔽層串接成一信號路徑。
[0008]在其中一個(gè)實(shí)施例中，相鄰的兩個(gè)所述導(dǎo)電箔片之間的間隔距離范圍為10—15 μm。
[0009]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述導(dǎo)電箔片的面積大小相同。
[0010]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述屏蔽層是由透明導(dǎo)電材料、透明導(dǎo)電材料與金屬或非金屬的合成物所制成。
[0011]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述導(dǎo)電箔片是由金屬或金屬合成物所制成。
[0012]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述屏蔽層是網(wǎng)格狀結(jié)構(gòu)。
[0013]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述觸控傳感器包含一基板，以及一感測電極層，形成于所述基板鄰近所述屏蔽層的一表面。[0014]在其中一個(gè)實(shí)施例中，進(jìn)一步包含一絕緣層，設(shè)置于所述感測電極層及所述屏蔽層之間。
[0015]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述絕緣層為一膠體。
[0016]藉此，本實(shí)用新型通過觸控面板的架構(gòu)改良設(shè)計(jì)，在測試觸控面板的屏蔽性能時(shí)，檢測裝置是與屏蔽層構(gòu)成閉合回路而得以直接測試屏蔽層的直流特性，藉以有效地篩選出屏蔽性能不良的觸控面板，讓生產(chǎn)出的觸控面板具有穩(wěn)定的抗干擾能力。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0017]圖1A是本實(shí)用新型實(shí)施例中一種觸控面板的剖面圖及其測試狀態(tài)示意圖。
[0018]圖1B是顯示圖1A中觸控面板的俯視圖。
[0019]圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例中另一種觸控面板的剖面圖及其測試狀態(tài)示意圖。
[0020]附圖標(biāo)記說明
[0021]10、20?觸控面板；
[0022]12、22a、22b、22c ?檢測裝置；
[0023]100,200?觸控傳感器；
[0024]1001、2001 ?基板；
[0025]1001a、1001b、2001a、2001b ?表面；
[0026]1002、2002?感測電極層；
[0027]101、201 ?絕緣層；
[0028]102、202 ?屏蔽層；
[0029]102a、202a ?表面；
[0030]103?信號路徑；
[0031]104、204?異方性導(dǎo)電膠；
[0032]106a、106b、206a、206b、206c ?導(dǎo)電箔片；
[0033]lla、llb、21a、21b、21c ?連接線;
[0034]120a、120b、220a、220b、220c ?腳位；
[0035]d?間隔距離。
【具體實(shí)施方式】
[0036]實(shí)施例中的各組件的配置是為了表述明白，并非用以限制本實(shí)用新型。且實(shí)施例中圖式標(biāo)號的部分重復(fù)，是為了簡化說明，并非意指不同實(shí)施例之間的關(guān)聯(lián)性。
[0037]圖1A是顯示本實(shí)用新型實(shí)施例中一種觸控面板的剖面圖及其測試狀態(tài)示意圖。觸控面板10可運(yùn)用在智能型手機(jī)、平板計(jì)算機(jī)、手提電腦等系統(tǒng)裝置上，用來作為系統(tǒng)裝置的用戶操作接口。本實(shí)施例的觸控面板10包括觸控傳感器100、屏蔽層102以及多個(gè)導(dǎo)電箔片106a和106b，本實(shí)施例是舉例以兩個(gè)導(dǎo)電箔片106a及106a來進(jìn)行說明。其中，屏蔽層102絕緣地設(shè)置于觸控傳感器100上，用于屏蔽外界信號對于觸控傳感器100的干擾，例如:當(dāng)觸控面板10應(yīng)用于上述系統(tǒng)裝置時(shí)，屏蔽層102得以屏蔽來自系統(tǒng)裝置的顯示器或主板的電磁信號干擾。導(dǎo)電箔片106a和106b是通過異方性導(dǎo)電膠104來間隔設(shè)置于屏蔽層102遠(yuǎn)離觸控傳感器100的表面102a上。如此一來,導(dǎo)電箔片106a、106b、異方性導(dǎo)電膠104及屏蔽層102串接成一信號路徑103，而此一信號路徑103即可提供測試本實(shí)施例觸控面板10的屏蔽層102的屏蔽效果。
[0038]更具體來說明，觸控傳感器100進(jìn)一步包含基板1001及感測電極層1002。本實(shí)施例的基板1001包含相對應(yīng)的二表面IOOla及1001b，其中表面IOOla是靠近使用者觀看的一側(cè)，而感測電極層1002則是形成于基板1001鄰近屏蔽層102的表面IOOlb上。此外，由于感測電極層1002及屏蔽層102皆是屬于導(dǎo)電材料層，因此本實(shí)施例的觸控面板10進(jìn)一步包含一設(shè)置于感測電極層1002及屏蔽層102之間的絕緣層101，用來電性絕緣感測電極層1002與屏蔽層102。就制程上來看，本實(shí)施例的絕緣層101及屏蔽層102是例如直接以光微影制程(Photo-Lithography Process)在感測電極層1002上依序形成。在其他實(shí)施例中，絕緣層101可例如是一膠體，而屏蔽層102則是通過絕緣層101來與感測電極層1002進(jìn)行貼合。
[0039]本實(shí)施例的兩個(gè)導(dǎo)電箔片106a及106b的面積大小是例如設(shè)計(jì)為相同，并且兩個(gè)導(dǎo)電箔片106a及106b之間的間隔距離d范圍較佳是10 μ m到15 μ m。當(dāng)然，導(dǎo)電箔片106a及106b的尺寸規(guī)格及間隔距離d并非以此為限，可依實(shí)際設(shè)計(jì)需求來調(diào)整。
[0040]承上所述，當(dāng)本實(shí)施例的觸控面板10欲進(jìn)行屏蔽性能的測試時(shí)，將一檢測裝置12 (如電阻計(jì))通過連接線Ila及Ilb分別電性連接觸控面板10的導(dǎo)電箔片106a及106b后，檢測裝置12可例如先通過連接線Ila來傳遞一測試信號(如電壓)給導(dǎo)電箔片106a，并讓測試信號通過信號路徑103傳遞至導(dǎo)電箔片106b，進(jìn)而再通過連接線Ilb回傳到檢測裝置12。如此一來，檢測裝 置12即可計(jì)算出測試信號經(jīng)過信號路徑103所產(chǎn)生的一電氣特性(如電阻值)，以測得信號路徑103的直流特性。藉此，在設(shè)計(jì)上電性連接檢測裝置12的一判斷裝置(圖未示)或檢測人員即可根據(jù)檢測裝置12所計(jì)算出的電氣特性來判斷屏蔽層102的屏蔽性能，其中若電氣特性不良，即可判定屏蔽層102的屏蔽性能就相對不良。
[0041]補(bǔ)充說明的是，本實(shí)施例所述的連接線11a、Ilb可例如是觸控面板10的一軟性印刷電路板中的導(dǎo)線。當(dāng)觸控面板10在檢測階段，導(dǎo)電箔片106a及106b是分別通過連接線Ila及Ilb來電性連接檢測裝置12，讓檢測裝置12、連接線11a、Ilb及信號路徑103之間形成閉合回路，換句話說，檢測裝置12是一并檢測整個(gè)連接線11a、信號路徑103及連接線Ilb這個(gè)回路上的電氣特性(如回路阻值)。當(dāng)觸控面板10應(yīng)用于系統(tǒng)裝置時(shí)，連接線Ila及Ilb對應(yīng)的腳位定義(Pin Assignment)為接地端,藉此屏蔽層102得以通過信號路徑103、連接線IlaUlb及接地端所形成的宣泄路徑來提供屏蔽的功能。
[0042]接下來，舉例以電阻計(jì)作為檢測裝置12來做進(jìn)一步的說明，假設(shè)檢測裝置12的兩腳位120a及120b之間所檢測到的回路阻值為Rab，可以用公式(I)表示:
[0043]Rab-Ra (I IaJ+^A (Ila^ 106a) +R(106a) +^Α( 106a ^ 104)+R(104)+R(104 — 102) ~*?ρ (102)+? (lib)+? (I Ib — 106b)+^(106b)+Rb (106b — 104) +^(104)+^(104 — 102)公式(I)
[0044]其中，RA(lla)為連接線Ila的線阻值；
[0045]RB(llb)為連接線Ilb的線阻值；
[0046]RA(lla^106a)為連接線Ila電性接觸導(dǎo)電箔片106a的接口阻值；
[0047]RB(llb _ 106b)為連接線I Ib電性接觸導(dǎo)電箔片106b的接口阻值；
[0048]Ratl6a)為導(dǎo)電箔片106a的面阻值；
[0049]R(106b)為導(dǎo)電箔片106b的面阻值；[0050]RA(1(l6a — _為導(dǎo)電箔片106a電性接觸異方性導(dǎo)電膠104的接口阻值；
[0051]RB(106b^104)為導(dǎo)電箔片106b電性接觸異方性導(dǎo)電膠104的接口阻值；
[0052]R(104)為異方性導(dǎo)電膠104的面阻值；
[0053]R(104^102)為異方性導(dǎo)電膠104電性接觸屏蔽層102的接口阻值；以及
[0054]Rgap(102)為屏蔽層102在兩導(dǎo)電箔片106a及106b之間的面阻值。
[0055]由上述公式⑴可知，回路阻值(Rab)與線阻值




(RA(Ila)、RB(Ilb)
)、面阻值(R_、
R(106b)、R(104)、RgAP(102) )及界面阻值 ^Adla — 106a)、(106a — 104)、^(104 — 102)、^Bdlb — 106b)、^BdOeb — 104))
中的任一阻值之間是呈正向相關(guān)。換句話說，所測得的回路阻值將可反應(yīng)出觸控面板10的屏蔽層102、異方性導(dǎo)電膠104及導(dǎo)電箔片106a、106b各迭層的面阻值或是各迭層之間接觸所形成的接口阻值因生產(chǎn)不良等因素而發(fā)生的異常。此外，由于線阻值通常是較為固定的接線(如軟性印刷電路板的導(dǎo)線)，較不容易有變量且阻值較小，因此若忽略不計(jì)的話，檢測裝置12所測得的回路阻值即是代表信號路徑103的電氣特性。
[0056]如前述說明的內(nèi)容，檢測裝置12所測得的回路阻值可由判斷裝置(未圖標(biāo))來進(jìn)一步自動(dòng)判斷。在一實(shí)施例中，判斷裝置可例如是默認(rèn)有一標(biāo)準(zhǔn)阻值，當(dāng)回路阻值小于或等于標(biāo)準(zhǔn)阻值時(shí)，判斷裝置可判定觸控面板10的屏蔽層102的屏蔽性能符合標(biāo)準(zhǔn)，可以發(fā)揮屏蔽信號的功能而讓觸控面板10具有抗干擾能力。反之，當(dāng)回路阻值大于標(biāo)準(zhǔn)阻值時(shí)，可判定觸控面板10的屏蔽層102可能隨時(shí)會失去屏蔽干擾信號的功能，其造成的原因可例如是觸控面板10的屏蔽層102、異方性導(dǎo)電膠104及導(dǎo)電箔片106a、106b各迭層之間有一定電性接觸，但是接觸不良，或者也可能是上述各迭層存在有導(dǎo)電雜質(zhì)而導(dǎo)致回路阻值變大。再者，當(dāng)回路阻值進(jìn)一步為一無窮大值時(shí)，判斷裝置可判定觸控面板10的屏蔽層102完全失去屏蔽干擾信號的功能，其造成的原因可例如是觸控面板10的各迭層之間可能因生產(chǎn)不良而出現(xiàn)斷路沒有任何電性接觸。
[0057]圖2是顯示本實(shí)用新型實(shí)施例中另一種觸控面板的剖面圖及其測試狀態(tài)示意圖。本實(shí)施例中的觸控面板20與第I圖中實(shí)施例的觸控面板的架構(gòu)差異點(diǎn)在于本實(shí)施例的觸控面板20是設(shè)計(jì)有三個(gè)導(dǎo)電箔片206a、206b及206c。本實(shí)施例的三個(gè)導(dǎo)電箔片206a、206b及206c的面積大小是例如設(shè)計(jì)為相同，并且任何相鄰兩個(gè)導(dǎo)電箔片之間的間隔距離d范圍較佳是IOym到15 μ m。當(dāng)然，導(dǎo)電箔片206a、206b及206c的尺寸規(guī)格及間隔距離d并非以此為限，可依實(shí)際設(shè)計(jì)需求來調(diào)整。在本實(shí)施例中，屏蔽層202通過絕緣層201絕緣地設(shè)置于觸控傳感器200上，用于屏蔽外界信號對于觸控傳感器200的干擾，導(dǎo)電箔片206a、206b及206c是通過異方性導(dǎo)電膠204來間隔設(shè)置于屏蔽層202遠(yuǎn)離觸控傳感器200的表面202a上。本實(shí)施例為方便說明起見，同時(shí)設(shè)置三個(gè)檢測裝置22a、22b及22c來分別對應(yīng)測試三個(gè)導(dǎo)電箔片206a、206b及206c兩兩之間與異方性導(dǎo)電膠204及屏蔽層202串接成的信號路徑，如此一來，導(dǎo)電箔片206a、206b、異方性導(dǎo)電膠204及屏蔽層202串接成一信號路徑，此信號路徑由檢測裝置22a檢測；導(dǎo)電箔片206b、206c、異方性導(dǎo)電膠204及屏蔽層202串接成一信號路徑，此信號路徑由檢測裝置22b檢測；導(dǎo)電箔片206a、206c、異方性導(dǎo)電膠204及屏蔽層202串接成一信號路徑，此信號路徑由檢測裝置22c檢測。而此任一信號路徑即可提供測試本實(shí)施 例觸控面板10的屏蔽層102的屏蔽效果。然而，在實(shí)際應(yīng)用上，亦可如第I圖中實(shí)施例所示的僅以一臺檢測裝置來分時(shí)測試不同的信號路徑，在此并非為本實(shí)用新型所限制。[0058]在本實(shí)施例的架構(gòu)下，判斷裝置對于檢測裝置22a、22b及22c所測得的三組回路阻值可以用來設(shè)計(jì)出不同的判斷標(biāo)準(zhǔn)。在一實(shí)施例中，必須當(dāng)三組回路阻值皆小于或等于標(biāo)準(zhǔn)組值時(shí)，判斷裝置才會判定觸控面板20的屏蔽層202的屏蔽性能符合標(biāo)準(zhǔn)。換句話說，當(dāng)有任一組回路阻值大于標(biāo)準(zhǔn)阻值時(shí)，判斷裝置即可判斷觸控面板20的屏蔽層202可能隨時(shí)會失去屏蔽干擾信號的功能，在這之中，若有任一組回路阻值為一無窮大值時(shí)，判斷裝置則判定觸控面板20的屏蔽層202完全失去屏蔽信號干擾的功能。
[0059]在另一實(shí)施例中，判斷裝置可設(shè)計(jì)用來判斷三組回路阻值中，在沒有出現(xiàn)無窮大值的情況下，只要有兩組回路阻值小于或等于標(biāo)準(zhǔn)阻值，判斷裝置即可判定觸控面板20的屏蔽層202的屏蔽性能符合標(biāo)準(zhǔn)，否則在其他的情況下，判斷裝置都會判定屏蔽層202的屏蔽性能不符合標(biāo)準(zhǔn)。
[0060]附帶一提的是，在前述實(shí)施例中，屏蔽層102(202)可例如是由透明的導(dǎo)電材料所制成，材質(zhì)可選自氧化銦錫(indium tin oxide, ITO)、氧化銦鋅(indium zincoxide, IZ0)、氧化鎘錫(cadmium tin oxide, CTO)、氧化招鋒(aluminum zinc oxide, ΑΖ0)、氧化銦鋒錫(indium tin zinc oxide, ΙΤΖ0)、氧化錫(tin oxide)、氧化鋒(zinc oxide)、氧化鎘(cadmium oxide)、氧化給(hafnium oxide, HfO)、氧化銦嫁招(indium galliumaluminum oxide, InGaAlO)、納米碳管(Carbon Nano Tube, CNT)、納米銀(Nano Silver)等及上述透明導(dǎo)電材質(zhì)與金屬或非金屬的合成物群組。此外，屏蔽層102(202)的結(jié)構(gòu)可以依應(yīng)用需求而設(shè)計(jì)為平坦層結(jié)構(gòu)或者網(wǎng)格狀結(jié)構(gòu)。而導(dǎo)電箔片106a(206a)、106b (206b)及206c可例如是由導(dǎo)電金屬材料或金屬合成物所制制成，材質(zhì)可選自銅、銀、鑰鋁鑰等及金屬合成物的群組。
[0061]綜上所述，本實(shí)用新型通過觸控面板的架構(gòu)改良設(shè)計(jì)，在測試觸控面板的屏蔽性能時(shí)，檢測裝置是與屏蔽層構(gòu)成閉合回路而得以直接測試屏蔽層的直流特性，藉以有效地篩選出屏蔽性能不良的觸控面板，讓生產(chǎn)出的觸控面板具有穩(wěn)定的抗干擾能力。此外，由于本實(shí)用新型的觸控面板在架構(gòu)上，屏蔽層仍可與感測電極層形成耦合電容，因此檢測裝置仍可通過任一導(dǎo)電箔片來提供一定頻率的信號至屏蔽層，以測試屏蔽層的交流特性。
[0062]雖然本實(shí)用新型已以較佳實(shí)施例揭露如上，然其并非用以限定本實(shí)用新型，任何熟悉此項(xiàng)技藝者，在不脫離本實(shí)用新型的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可做些許更動(dòng)與潤飾，因此本實(shí)用新型的保護(hù)范圍當(dāng)以權(quán)力要求范圍所界定者為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種觸控面板,包括: 一觸控傳感器； 一屏蔽層，絕緣地設(shè)置于所述觸控傳感器上；以及 復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)電箔片，通過一異方性導(dǎo)電膠來間隔設(shè)置于所述屏蔽層遠(yuǎn)離所述觸控傳感器的一表面； 其中，任兩個(gè)所述導(dǎo)電箔片、所述異方性導(dǎo)電膠及所述屏蔽層串接成一信號路徑。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控面板，其特征在于，相鄰的兩個(gè)所述導(dǎo)電箔片之間的間隔距離范圍為10-15 μ m。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控面板，其特征在于，所述導(dǎo)電箔片的面積大小相同。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控面板，其特征在于，所述屏蔽層是由透明導(dǎo)電材料、透明導(dǎo)電材料與金屬或非金屬的合成物所制成。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控面板，其特征在于，所述導(dǎo)電箔片是由金屬或金屬合成物所制成。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控面板，其特征在于，所述屏蔽層是網(wǎng)格狀結(jié)構(gòu)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控面板，其特征在于，所述觸控傳感器包含: 一基板；以及 一感測電極層，形成于所述基板鄰近所述屏蔽層的一表面。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的觸控面板，其特征在于，進(jìn)一步包含一絕緣層，設(shè)置于所述感測電極層及所述屏蔽層之間。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的觸控面板，其特征在于，所述絕緣層為一膠體。
【文檔編號】G06F3/041GK203376708SQ201320444383
【公開日】2014年1月1日 申請日期:2013年7月24日 優(yōu)先權(quán)日:2013年7月24日
【發(fā)明者】葉惠林, 黃仕游, 張專元, 邱宗科 申請人:宸鴻科技(廈門)有限公司