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可檢測觸控筆的觸控面板及其使用方法

文檔序號:6510836閱讀:143來源:國知局
可檢測觸控筆的觸控面板及其使用方法
【專利摘要】一種可檢測觸控筆的觸控面板及其使用方法。該可檢測觸控筆的觸控面板于每一掃描幀內(nèi),執(zhí)行至少一自掃描周期及至少一互掃描周期,且當自掃描周期與互掃描周期都被檢測到時,觸控筆的觸碰識別才會被確認。
【專利說明】可檢測觸控筆的觸控面板及其使用方法

【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種觸控面板,特別是涉及一種可檢測觸控筆(stylus)的觸控面板。

【背景技術】
[0002]觸控筆(stylus)為觸控屏幕的一種輔助工具。觸控筆的尖端很小,因而很難被一般的觸控屏幕感測到。因此,在使用一般的觸控屏幕時,通常需使用特殊制造的電容性觸控筆。
[0003]然而,傳統(tǒng)觸控筆(例如電容性觸控筆)需耗費相當?shù)闹圃旃に嚰俺杀?。再者,遇到故障、遺忘或者遺失時,電容性觸控筆不容易立即作更換。
[0004]因此亟需提出一種新穎機制以檢測觸控筆(特別是非特殊制造的觸控筆),提供更多的便利性給一般觸控屏幕的使用者。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]鑒于上述,本發(fā)明實施例的目的之一在于提出一種觸控面板及其方法,較傳統(tǒng)觸控面板更有效率且更正確地檢測觸控筆。
[0006]根據(jù)本發(fā)明實施例,可檢測觸控筆的觸控面板包含沿第一軸向設置的多個電極行,及沿第二軸向設置的多個電極列。每一電極行與電極列的交會處具有互電容,且每一電極行與每一電極列具有自電容。于一自掃描周期內(nèi)施一電壓于電極列或電極行,再量測相同的電極列或電極行以檢測觸碰觸控面板的表面的觸控筆。于一互掃描周期內(nèi)施一電壓于一軸向,再量測另一軸向以檢測觸碰觸控面板的表面的觸控筆。于每一掃描幀內(nèi),執(zhí)行至少一自掃描周期及至少一互掃描周期,且當自掃描周期與互掃描周期都被檢測到時,觸控筆的觸碰識別才會被確認。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0007]圖1顯示本發(fā)明實施例的觸控面板的示意圖。
[0008]圖2的示意圖例示掃描幀序列。
[0009]圖3A顯示自原始數(shù)據(jù)相對于預設自觸碰閾值。
[0010]圖3B顯示互原始數(shù)據(jù)相對于預設互觸碰閾值。
[0011]圖4顯示本發(fā)明實施例的識別觸控筆的觸碰動作的流程圖。
[0012]圖5顯示本發(fā)明實施例的解除觸控筆的觸碰動作的流程圖。
[0013]圖6顯示本發(fā)明另一實施例的解除觸控筆的觸碰動作的流程圖。
[0014]附圖符號說明
[0015]100 觸控面板
[0016]11 電極行
[0017]12 電極列
[0018]41?47識別觸控筆的觸碰動作的步驟
[0019]51?57解除觸控筆的觸碰動作的步驟
[0020]61?63解除觸控筆的觸碰動作的步驟
[0021]Cs 自電容
[0022]Cm 互電容
[0023]THs 自觸碰閾值
[0024]THm 互觸碰閾值
[0025]TH 互閾值

【具體實施方式】
[0026]圖1顯示本發(fā)明實施例的觸控面板100的示意圖。本實施例的觸控面板100可應用于電子裝置,例如移動電話。觸控面板100 (例如電容式觸控面板)由電極行11及電極列12所組成。每一電極行11與電極列12的交會處具有互電容(mutual capacitance)Cm ;而每一電極行11與每一電極列12則具有自電容(self capacitance)Cs。本實施例的觸控面板100可較傳統(tǒng)觸控面板更有效率及更正確地檢測觸控筆以執(zhí)行相關功能。本實施例所稱的觸控筆可泛指一般非特殊制造或電容式的觸控筆。
[0027]繼續(xù)參閱圖1,對于自電容Cs,于自掃描(self scan)周期內(nèi)施一電壓于電極列12或電極行11,再藉由檢測電路(未顯示)量測相同的電極列12或電極行11以檢測觸碰觸控面板100正面(或觸控面)的觸控筆。對于互電容Cm,于互掃描(mutual scan)周期內(nèi)施一電壓于一軸(例如電極列12),再藉由檢測電路量測另一軸(例如電極行11)以檢測觸碰觸控面板100的觸控筆。
[0028]圖2的示意圖例示掃描(或量測)幀(scan frame)序列。根據(jù)本實施例的特征之一,可將多個(如圖2例示的十個)先前掃描幀的(相關于自電容Cs的)自原始數(shù)據(jù)(self rawdata)予以累加。鑒于觸控筆于檢測時所得到的自原始數(shù)據(jù)的強度通常很弱,因此累加掃描幀的自原始數(shù)據(jù)后,可以增強觸控靈敏度。
[0029]根據(jù)本實施例的另一特征,繼續(xù)參閱圖2,于每一掃描幀內(nèi),執(zhí)行多個(如圖2例示的二個)相同的自掃描周期(self scan cycle),再將這些自掃描周期的自掃描原始數(shù)據(jù)予以加總。藉此,這些加總的自原始數(shù)據(jù)可加強觸控面板100的觸控靈敏度。
[0030]根據(jù)本實施例的又一特征,繼續(xù)參閱圖2,每一掃描幀內(nèi)除了執(zhí)行一次或多次自掃描周期外,還執(zhí)行了至少一次互掃描周期(mutual scan cycle),如圖2所例示。所執(zhí)行的互掃描周期的(相關于互電容Cm的)互原始數(shù)據(jù)(mutual raw data)可用以確認觸控筆觸碰觸控面板100的表面。例如,在本實施例中,僅有在自掃描周期與互掃描周期都被檢測到時,觸碰識別才會被確認。換句話說,在本實施例中,若自掃描周期或互掃描周期其中之一未被檢測到,則觸碰識別即不會被確認。同時執(zhí)行自掃描周期與互掃描周期可用以防止周邊環(huán)境變化對于觸控面板100的影響。
[0031]在本實施例中,如圖3A所示,對于自電容Cs,當(一或多自掃描周期的)自原始數(shù)據(jù)大于預設自觸碰閾值THs時,觸碰識別才算是被檢測到。如圖3B所示,對于互電容Cm,當(至少一互掃描周期的)互原始數(shù)據(jù)大于預設互觸碰閾值THm時,觸碰識別才算是被檢測到。
[0032]圖4顯示本發(fā)明實施例的識別觸控筆的觸碰動作的流程圖。于步驟41,將(掃描幀之一或多自掃描周期中)自電容Cs相應的自原始數(shù)據(jù)與自觸碰閾值THs作比較。如果步驟41的結果是否定的(亦即,自原始數(shù)據(jù)非大于自觸碰閾值THs),則忽略觸碰動作(步驟42)。否則,流程進入步驟43,將(掃描幀中)互電容Cm相應的互原始數(shù)據(jù)與互觸碰閾值THm作比較。如果步驟43的結果是否定的(亦即,互原始數(shù)據(jù)非大于互觸碰閾值THm),則忽略觸碰動作(步驟44);否則,于步驟45,累進計數(shù)值。若計數(shù)值未大于設定值(步驟46的“否”分支路徑),則流程回到步驟41以處理下一掃描幀。若計數(shù)值大于設定值(步驟46的“是”分支路徑),則觸碰動作即被識別且觸控面板100進入觸控筆模式(步驟47)。如圖3A或圖3B所示,使用計數(shù)值并配合設定值以防止因不穩(wěn)原始數(shù)據(jù)所造成的錯誤觸碰識別。在本實施例中,如圖4所示流程,僅有當原始數(shù)據(jù)穩(wěn)定之后(亦即,原始數(shù)據(jù)大于觸碰閾值達到預設次數(shù)),觸碰動作才會被真正識別。于進入觸控筆模式后(換句話說,離開手指模式后),需要調(diào)整一些參數(shù)。例如,增加原始數(shù)據(jù)大于觸碰閾值的預設次數(shù),以增強觸碰識別的準確度。再者,于觸控筆模式中,局限演算法于單點觸碰的識別,而非手指模式中多點觸碰的識別。
[0033]圖5顯示本發(fā)明實施例的解除觸控筆的觸碰動作(離開觸控筆模式)的流程圖。于步驟51,將(掃描幀之一或多自掃描周期中)自電容Cs相應的自原始數(shù)據(jù)與自觸碰閾值THs作比較。如果自原始數(shù)據(jù)非小于自觸碰閾值THs,則忽略自原始數(shù)據(jù)(步驟52)。否則,流程進入步驟53,將(掃描幀中)互電容Cm相應的互原始數(shù)據(jù)與互觸碰閾值THm作比較。如果互原始數(shù)據(jù)非小于互觸碰閾值THm,則忽略互原始數(shù)據(jù)(步驟54);否則,于步驟55,累進計數(shù)值。若計數(shù)值未大于設定值(步驟56的“否”分支路徑),則流程回到步驟51以處理下一掃描幀。若計數(shù)值大于設定值(步驟56的“是”分支路徑),則觸碰動作即被解除且觸控面板100離開觸控筆模式(步驟57)。如圖3A或圖3B所示,使用計數(shù)值并配合設定值以防止因不穩(wěn)原始數(shù)據(jù)所造成的錯誤觸碰解除。在本實施例中,如圖5所示流程,僅有當原始數(shù)據(jù)穩(wěn)定之后(亦即,原始數(shù)據(jù)小于觸碰閾值達到預設次數(shù)),觸碰動作才會被真正解除。
[0034]圖6顯示本發(fā)明另一實施例的解除觸控筆的觸碰動作(離開觸控筆模式)的流程圖。于步驟61,將(掃描周期中)互電容Cm相應的互原始數(shù)據(jù)與手指模式的手指觸碰相關的互閾值TH作比較。上述手指觸碰相關的互閾值TH通常大于觸控筆模式的觸控筆觸碰相關的互觸碰閾值THm。如果互原始數(shù)據(jù)非大于互閾值TH,則忽略互原始數(shù)據(jù)(步驟62)。否貝U,如果互原始數(shù)據(jù)大于互閾值TH,表示手指觸碰到觸控面板100,則觸控筆的觸碰動作即被解除且觸控面板100離開觸控筆模式(步驟63)。
[0035]以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已,并非用以限定本發(fā)明的權利要求范圍;凡在其它未脫離發(fā)明所揭示的精神下所完成的等效改變或修飾,均應包含在本發(fā)明的權利要求的范圍內(nèi)。
【權利要求】
1.一種可檢測觸控筆的觸控面板,包含: 多個電極行,沿第一軸向設置 '及 多個電極列,沿第二軸向設置,每一電極行與電極列的交會處具互電容,且每一電極行與每一電極列具有自電容; 其中,于一自掃描周期內(nèi)施一電壓于該電極列或電極行,再量測相同的該電極列或電極行以檢測觸碰該觸控面板的表面的觸控筆;于一互掃描周期內(nèi)施一電壓于一軸向,再量測另一軸向以檢測觸碰該觸控面板的表面的觸控筆; 其中于每一掃描幀內(nèi),執(zhí)行至少一自掃描周期及至少一互掃描周期,且當該自掃描周期與該互掃描周期都被檢測到時,觸控筆的觸碰識別才會被確認。
2.根據(jù)權利要求1所述可檢測觸控筆的觸控面板,其中多個先前掃描幀的自電容所相關的自原始數(shù)據(jù)被累加。
3.根據(jù)權利要求1所述可檢測觸控筆的觸控面板,其中于每一掃描幀內(nèi),執(zhí)行多個相同的自掃描周期,再將這些自掃描周期的自掃描原始數(shù)據(jù)予以加總。
4.根據(jù)權利要求3所述可檢測觸控筆的觸控面板,其中于一掃描幀內(nèi),當自原始數(shù)據(jù)大于預設自觸碰閾值,且互原始數(shù)據(jù)大于預設互觸碰閾值時,觸控筆的觸碰識別才會被確認。
5.根據(jù)權利要求3所述可檢測觸控筆的觸控面板,其中于一掃描幀內(nèi),當自原始數(shù)據(jù)小于預設自觸碰閾值,且互原始數(shù)據(jù)小于預設互觸碰閾值時,觸控筆的觸碰動作才會被解除。
6.根據(jù)權利要求1所述可檢測觸控筆的觸控面板,其中于一掃描幀內(nèi),當互原始數(shù)據(jù)大于手指觸碰相關的預設互閾值時,觸控筆的觸碰動作才會被解除。
7.根據(jù)權利要求1所述可檢測觸控筆的觸控面板,其中當相關于自電容的自原始數(shù)據(jù)以及相關于互電容的互原始數(shù)據(jù)穩(wěn)定之后,觸控筆的觸碰識別才會被確認。
8.根據(jù)權利要求1所述可檢測觸控筆的觸控面板,其中當相關于自電容的自原始數(shù)據(jù)以及相關于互電容的互原始數(shù)據(jù)穩(wěn)定之后,觸控筆的觸碰動作才會被解除。
9.一種使用觸控面板以檢測觸控筆的方法,包含: 提供多個電極行,沿第一軸向設置; 提供多個電極列,沿第二軸向設置,每一電極行與電極列的交會處具有互電容,且每一電極行與每一電極列具有自電容; 于一自掃描周期內(nèi)施一電壓于該電極列或電極行,再量測相同的該電極列或電極行以檢測觸碰該觸控面板的表面的觸控筆; 于一互掃描周期內(nèi)施一電壓于一軸向,再量測另一軸向以檢測觸碰該觸控面板的表面的觸控筆;及 于每一掃描幀內(nèi),執(zhí)行至少一自掃描周期及至少一互掃描周期,且當該自掃描周期與該互掃描周期都被檢測到時,觸控筆的觸碰識別才會被確認。
10.根據(jù)權利要求9所述使用觸控面板以檢測觸控筆的方法,還包含一步驟,以累加多個先前掃描幀的自電容所相關的自原始數(shù)據(jù)。
11.根據(jù)權利要求9所述使用觸控面板以檢測觸控筆的方法,還包含: 于每一掃描幀內(nèi),執(zhí)行多個相同的自掃描周期;及將這些自掃描周期的自掃描原始數(shù)據(jù)予以加總。
12.根據(jù)權利要求11所述使用觸控面板以檢測觸控筆的方法,其中于一掃描幀內(nèi),當自原始數(shù)據(jù)大于預設自觸碰閾值,且互原始數(shù)據(jù)大于預設互觸碰閾值時,觸控筆的觸碰識別才會被確認。
13.根據(jù)權利要求11所述使用觸控面板以檢測觸控筆的方法,其中于一掃描幀內(nèi),當自原始數(shù)據(jù)小于預設自觸碰閾值,且互原始數(shù)據(jù)小于預設互觸碰閾值時,觸控筆的觸碰動作才會被解除。
14.根據(jù)權利要求9所述使用觸控面板以檢測觸控筆的方法,其中于一掃描幀內(nèi),當互原始數(shù)據(jù)大于手指觸碰相關的預設互閾值時,觸控筆的觸碰動作才會被解除。
15.根據(jù)權利要求9所述使用觸控面板以檢測觸控筆的方法,其中當相關于自電容的自原始數(shù)據(jù)以及相關于互電容的互原始數(shù)據(jù)穩(wěn)定之后,觸控筆的觸碰識別才會被確認。
16.根據(jù)權利要求9所述使用觸控面板以檢測觸控筆的方法,其中當相關于自電容的自原始數(shù)據(jù)以及相關于互電容的互原始數(shù)據(jù)穩(wěn)定之后,觸控筆的觸碰動作才會被解除。
【文檔編號】G06F3/044GK104423750SQ201310407335
【公開日】2015年3月18日 申請日期:2013年9月9日 優(yōu)先權日:2013年9月9日
【發(fā)明者】張仲文, 戴紳峰, 劉叡明, 莊竣凱 申請人:奇景光電股份有限公司
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