觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法，包括以下步驟：依次對(duì)所述多個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極進(jìn)行驅(qū)動(dòng)掃描并感測(cè)，未施加驅(qū)動(dòng)信號(hào)的驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極接地，獲得多個(gè)第一信號(hào)值C1，計(jì)算得到觸摸點(diǎn)坐標(biāo)；依次對(duì)所述多個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極再次進(jìn)行驅(qū)動(dòng)掃描并感測(cè)，獲得多個(gè)第二信號(hào)值C2；以及比較第二信號(hào)值C2與第一信號(hào)值C1的大小，判斷是否存在觸摸壓力。
【專利說(shuō)明】觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法，尤其涉及一種電容式觸控裝置觸 摸點(diǎn)及是否存在觸摸壓力的檢測(cè)方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 近年來(lái)，伴隨著移動(dòng)電話與觸摸導(dǎo)航系統(tǒng)等各種電子設(shè)備的高性能化和多樣化的 發(fā)展，在液晶等顯示模組的前面安裝透光性的觸控模組的電子設(shè)備逐步增加。這樣的觸控 顯示電子設(shè)備的使用者通過(guò)觸摸模組，一邊對(duì)位于觸控模組背面的顯示設(shè)備的顯示內(nèi)容進(jìn) 行視覺(jué)確認(rèn)，一邊利用手指或筆等方式按壓觸控模組來(lái)進(jìn)行操作。由此，可以操作電子設(shè)備 的各種功能。
[0003] 按照觸控模組的工作原理和傳輸介質(zhì)的不同，現(xiàn)有的觸控模組分為四種類型，分 別為電阻式、電容式、紅外線式以及表面聲波式。其中電容式觸控模組因敏感度較高、所需 觸碰力度較小而應(yīng)用較為廣泛。在現(xiàn)有的電容式觸控模組中，通常在一形成有透明導(dǎo)電層 的曲面或平面玻璃基板設(shè)置多個(gè)電極。當(dāng)用裸指或?qū)щ娧b置觸摸到觸控模組的表面時(shí)，觸 摸物與透明導(dǎo)電層之間形成一耦合電容，通過(guò)檢測(cè)并計(jì)算各電極的耦合電容的大小即可算 出觸摸點(diǎn)的位置。隨著科技的進(jìn)步，人們不僅對(duì)觸控位置的要求越來(lái)越精確，同時(shí)對(duì)觸控反 饋等方面的需求越來(lái)越大。
[0004] 然而，上述觸控裝置的觸摸點(diǎn)的檢測(cè)方法僅可檢測(cè)觸摸點(diǎn)的位置，而對(duì)于觸摸點(diǎn) 的按壓狀態(tài)，如是否用力按壓等，卻無(wú)法進(jìn)行判斷，從而限制了在某些領(lǐng)域例如觸控反饋等 方面的功能應(yīng)用。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 有鑒于此，確有必要提供一種可實(shí)現(xiàn)同時(shí)檢測(cè)觸控裝置的觸摸點(diǎn)以及判斷是否存 在按壓壓力的檢測(cè)方法。
[0006] -種觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法，其包括以下步驟：提供一觸控裝置，其包括： 一觸控模組，所述觸控模組包括：一基板；一第一導(dǎo)電膜，設(shè)置于該基板表面，所述第一導(dǎo) 電膜具有阻抗異向性以定義出相互垂直的一低阻抗方向和一高阻抗方向；多個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電 極設(shè)置于所述低阻抗方向相對(duì)兩側(cè)的至少一側(cè)；該觸控裝置進(jìn)一步包括一第二導(dǎo)電膜與所 述第一導(dǎo)電膜相對(duì)且間隔設(shè)置；依次對(duì)所述多個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極進(jìn)行驅(qū)動(dòng)掃描并感測(cè)，未施 加驅(qū)動(dòng)信號(hào)的驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極接地，獲得多個(gè)第一信號(hào)值(^，計(jì)算得到觸摸點(diǎn)坐標(biāo)；依次對(duì)所 述多個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極再次進(jìn)行驅(qū)動(dòng)掃描并感測(cè)，獲得多個(gè)第二信號(hào)值C2;以及比較第二信 號(hào)值C2與第一信號(hào)值Q的大小，當(dāng)，判斷為存在觸摸壓力；當(dāng)C2SQ，判斷為不存在 觸摸壓力。
[0007] -種觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法，其包括以下步驟：提供一觸控裝置，其包括： 一觸控模組，所述觸控模組包括：一基板；一第一導(dǎo)電膜，設(shè)置于該基板表面，所述第一導(dǎo) 電膜具有阻抗異向性以定義出相互垂直的一低阻抗方向和一高阻抗方向；多個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電 極設(shè)置于所述低阻抗方向相對(duì)兩側(cè)的至少一側(cè)；所述觸控裝置進(jìn)一步包括一第二導(dǎo)電膜與 所述第一導(dǎo)電膜相對(duì)且間隔設(shè)置；依次對(duì)所述多個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極進(jìn)行驅(qū)動(dòng)掃描并感測(cè)，其 他未輸入驅(qū)動(dòng)信號(hào)的驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極保持空接或輸入相同的驅(qū)動(dòng)信號(hào)，獲得多個(gè)第一信號(hào)值 Ci;再次對(duì)所述多個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極逐一進(jìn)行驅(qū)動(dòng)掃描并感測(cè)，其他未輸入驅(qū)動(dòng)信號(hào)的驅(qū)動(dòng) 感測(cè)電極接地，獲得多個(gè)第二信號(hào)值(: 2，并確定觸摸點(diǎn)坐標(biāo)；依次對(duì)所述多個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極 再次進(jìn)行驅(qū)動(dòng)并進(jìn)行感測(cè)掃描，其他未輸入驅(qū)動(dòng)信號(hào)的驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極接地，獲得多個(gè)第三 信號(hào)值C3;以及比較第二信號(hào)值c3與第二信號(hào)值c2的大小，判斷是否存在觸摸壓力。
[0008] -種觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法，其包括以下步驟：提供一觸控裝置，其包括： 一觸控模組，所述觸控模組包括：一基板；一第一導(dǎo)電膜，設(shè)置于該基板表面，所述第一導(dǎo) 電膜具有阻抗異向性以定義出相互垂直的一低阻抗方向和一高阻抗方向；多個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電 極設(shè)置于所述低阻抗方向相對(duì)兩側(cè)的至少一側(cè)；所述觸控裝置進(jìn)一步包括一第二導(dǎo)電膜與 所述第一導(dǎo)電膜相對(duì)且間隔設(shè)置；設(shè)定一閾值Q;依次對(duì)所述多個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極進(jìn)行驅(qū)動(dòng) 掃描并感測(cè)，其他未輸入驅(qū)動(dòng)信號(hào)的驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極接地，獲得多個(gè)第一信號(hào)值q，獲得觸摸 點(diǎn)坐標(biāo)；再次對(duì)所述多個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極逐一進(jìn)行驅(qū)動(dòng)掃描并感測(cè)，其他未輸入驅(qū)動(dòng)信號(hào)的 驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極保持接地，獲得多個(gè)第二信號(hào)值c2;計(jì)算多個(gè)第二信號(hào)值c2與多個(gè)第一信號(hào) 值(^的差值，獲得多個(gè)差值A(chǔ)C;以及比較差值A(chǔ)C與閾值Q的大小，判斷是否存在觸摸壓 力F。
[0009] -種觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法，其包括以下步驟：提供一觸控裝置，其包括： 一觸控模組，所述觸控模組包括：一基板；一第一導(dǎo)電膜，設(shè)置于該基板表面，所述第一導(dǎo) 電膜具有阻抗異向性以定義出相互垂直的一低阻抗方向和一高阻抗方向；多個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電 極設(shè)置于所述低阻抗方向相對(duì)兩側(cè)的至少一側(cè)；所述觸控裝置進(jìn)一步包括一第二導(dǎo)電膜與 所述第一導(dǎo)電膜相對(duì)且間隔設(shè)置；設(shè)定一閾值Q;依次對(duì)所述多個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極進(jìn)行驅(qū)動(dòng) 掃描并感測(cè)，其他未輸入驅(qū)動(dòng)信號(hào)的驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極接地，獲得多個(gè)第一信號(hào)值q，獲得觸摸 點(diǎn)坐標(biāo)；再次對(duì)所述多個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極逐一進(jìn)行驅(qū)動(dòng)掃描并感測(cè)，其他未輸入驅(qū)動(dòng)信號(hào)的 驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極保持接地，獲得多個(gè)第二信號(hào)值C2 ;計(jì)算多個(gè)第二信號(hào)值C2與多個(gè)第一信號(hào) 值心的比值A(chǔ)C;以及比較比值A(chǔ)C與閾值Q的大小，判斷是否存在觸摸壓力F。
[0010] 與現(xiàn)有技術(shù)比較，本發(fā)明提供的觸控裝置觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法，通過(guò)所 述對(duì)所述驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極進(jìn)行至少兩次驅(qū)動(dòng)感測(cè)，能夠獲得觸摸點(diǎn)坐標(biāo)，并且能夠判斷是否 存在觸摸壓力，為觸控裝置的觸控反饋提供了參照，提高了所述觸控裝置在觸控反饋領(lǐng)域 的應(yīng)用。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0011] 圖1為本發(fā)明第一實(shí)施例提供的觸控裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0012] 圖2為圖1所述的觸控裝置的分解示意圖。
[0013] 圖3為圖1所示的觸控裝置的驅(qū)動(dòng)及感測(cè)掃描電路示意圖。
[0014] 圖4為本發(fā)明第一實(shí)施例提供的觸控裝置觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法流程圖。
[0015] 圖5為本發(fā)明第一實(shí)施例提供的觸控裝置觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法得到的 模擬曲線的示意圖。
[0016] 圖6為本發(fā)明第二實(shí)施例提供的觸控裝置觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法流程圖。
[0017] 圖7為本發(fā)明第二實(shí)施例提供的觸控裝置觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法得到的 模擬曲線的示意圖。
[0018] 圖8為本發(fā)明第三實(shí)施例提供的觸控裝置觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法流程圖。 [0019]圖9為本發(fā)明第四實(shí)施例提供的觸控裝置觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法流程圖。
[0020] 主要元件符號(hào)說(shuō)明

【權(quán)利要求】
1. 一種觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法，其包括w下步驟： 提供一觸控裝置，其包括： 一觸控模組，所述觸控模組包括：一基板；一第一導(dǎo)電膜，設(shè)置于該基板表面，所述第 一導(dǎo)電膜具有阻抗異向性W定義出相互垂直的一低阻抗方向和一高阻抗方向；多個(gè)驅(qū)動(dòng)感 測(cè)電極設(shè)置于所述低阻抗方向相對(duì)兩側(cè)的至少一側(cè)； 該觸控裝置進(jìn)一步包括一第二導(dǎo)電膜與所述第一導(dǎo)電膜相對(duì)且間隔設(shè)置； 依次對(duì)所述多個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極進(jìn)行驅(qū)動(dòng)掃描并感測(cè)，未施加驅(qū)動(dòng)信號(hào)的驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極 接地，獲得多個(gè)第一信號(hào)值Cl,計(jì)算得到觸摸點(diǎn)坐標(biāo)； 依次對(duì)所述多個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極再次進(jìn)行驅(qū)動(dòng)掃描并感測(cè)，獲得多個(gè)第二信號(hào)值C,; W 及 比較第二信號(hào)值C,與第一信號(hào)值Cl的大小，當(dāng)C,乂1，判斷為存在觸摸壓力；當(dāng)C, ^判斷為不存在觸摸壓力。
2. 如權(quán)利要求1所述的觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法，其特征在于，所述第一導(dǎo)電膜 包括一碳納米管膜，所述碳納米管膜中的大部分碳納米管首尾相連地沿同一個(gè)方向擇優(yōu)取 向延伸，且為一自支撐結(jié)構(gòu)。
3. 如權(quán)利要求1所述的觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法，其特征在于，通過(guò)W下方式得 到多個(gè)第一信號(hào)值Cl及多個(gè)第二信號(hào)值C,;通過(guò)一驅(qū)動(dòng)集成電路向所述每個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極 輸入一脈沖信號(hào)，當(dāng)脈沖信號(hào)逐一輸入所述驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極時(shí)，其他未輸入脈沖信號(hào)的驅(qū)動(dòng) 感測(cè)電極接地，并通過(guò)一與所述驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極電連接的感測(cè)集成電路感測(cè)所述多個(gè)驅(qū)動(dòng)感 測(cè)電極獲得第一信號(hào)值Cl及第二信號(hào)值C,，并通過(guò)該多個(gè)第一信號(hào)值Cl獲得所述觸摸點(diǎn)的 位置。
4. 如權(quán)利要求1所述的觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法，其特征在于，所述第一信號(hào)值 Cl及第二信號(hào)值C,均為電容變化值。
5. 如權(quán)利要求1所述的觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法，其特征在于，對(duì)同一個(gè)驅(qū)動(dòng)感 測(cè)電極測(cè)量到的第一信號(hào)值Cl及第二信號(hào)值C,進(jìn)行一一比較。
6. 如權(quán)利要求1所述的觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法，其特征在于，通過(guò)比較觸摸點(diǎn) 附近的多個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極獲得的第一信號(hào)值Cl及第二信號(hào)值C,判斷是否存在觸摸壓力。
7. 如權(quán)利要求6所述的觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法，其特征在于，設(shè)觸摸點(diǎn)對(duì)應(yīng)的 驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極為第P個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極，通過(guò)比較第P個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極附近的第[P-M，P+M] 個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極中，任意一個(gè)或多個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極所檢測(cè)到的第二信號(hào)值C,與第一信號(hào)值 Cl的大小，判斷是否存在觸摸壓力，其中，M<N/2, N為單側(cè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極個(gè)數(shù)。
8. -種觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法，其包括W下步驟： 提供一觸控裝置，其包括： 一觸控模組，所述觸控模組包括：一基板；一第一導(dǎo)電膜，設(shè)置于該基板表面，所述第 一導(dǎo)電膜具有阻抗異向性W定義出相互垂直的一低阻抗方向和一高阻抗方向；多個(gè)驅(qū)動(dòng)感 測(cè)電極設(shè)置于所述低阻抗方向相對(duì)兩側(cè)的至少一側(cè)； 所述觸控裝置進(jìn)一步包括一第二導(dǎo)電膜與所述第一導(dǎo)電膜相對(duì)且間隔設(shè)置； 依次對(duì)所述多個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極進(jìn)行驅(qū)動(dòng)掃描并感測(cè)，其他未輸入驅(qū)動(dòng)信號(hào)的驅(qū)動(dòng)感測(cè) 電極保持空接或輸入相同的驅(qū)動(dòng)信號(hào)，獲得多個(gè)第一信號(hào)值Cl ; 再次對(duì)所述多個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極逐一進(jìn)行驅(qū)動(dòng)掃描并感測(cè)，其他未輸入驅(qū)動(dòng)信號(hào)的驅(qū)動(dòng) 感測(cè)電極接地，獲得多個(gè)第二信號(hào)值c,，并確定觸摸點(diǎn)坐標(biāo)； 依次對(duì)所述多個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極再次進(jìn)行驅(qū)動(dòng)并進(jìn)行感測(cè)掃描，其他未輸入驅(qū)動(dòng)信號(hào)的 驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極接地，獲得多個(gè)第H信號(hào)值C3 ; W及 比較第二信號(hào)值C3與第二信號(hào)值C,的大小，判斷是否存在觸摸壓力。
9. 如權(quán)利要求8所述的觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法，其特征在于，通過(guò)W下方式確 定觸摸點(diǎn)： 比較第二信號(hào)值C,與第一信號(hào)值Cl的大?。? 根據(jù)第二信號(hào)值C,與第一信號(hào)值Cl的大小判斷是雜質(zhì)接觸還是手指觸摸，若C2=Ci，貝。 為手指觸摸；若C,乂1，則為雜質(zhì)接觸。
10. -種觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法，其包括W下步驟： 提供一觸控裝置，其包括： 一觸控模組，所述觸控模組包括：一基板；一第一導(dǎo)電膜，設(shè)置于該基板表面，所述第 一導(dǎo)電膜具有阻抗異向性W定義出相互垂直的一低阻抗方向和一高阻抗方向；多個(gè)驅(qū)動(dòng)感 測(cè)電極設(shè)置于所述低阻抗方向相對(duì)兩側(cè)的至少一側(cè)； 所述觸控裝置進(jìn)一步包括一第二導(dǎo)電膜與所述第一導(dǎo)電膜相對(duì)且間隔設(shè)置； 設(shè)定一闊值C。； 依次對(duì)所述多個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極進(jìn)行驅(qū)動(dòng)掃描并感測(cè)，其他未輸入驅(qū)動(dòng)信號(hào)的驅(qū)動(dòng)感測(cè) 電極接地，獲得多個(gè)第一信號(hào)值Cl,獲得觸摸點(diǎn)坐標(biāo)； 再次對(duì)所述多個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極逐一進(jìn)行驅(qū)動(dòng)掃描并感測(cè)，其他未輸入驅(qū)動(dòng)信號(hào)的驅(qū)動(dòng) 感測(cè)電極保持接地，獲得多個(gè)第二信號(hào)值C,; 計(jì)算多個(gè)第二信號(hào)值C,與多個(gè)第一信號(hào)值Cl的差值，獲得多個(gè)差值A(chǔ) C ; W及 比較差值A(chǔ) C與闊值C。的大小，判斷是否存在觸摸壓力F。
11. 如權(quán)利要求10所述的觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法，其特征在于，所述闊值C。為 手指處于完全接觸的狀態(tài)時(shí)，所述驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極所檢測(cè)到信號(hào)值與所述第一信號(hào)值Cl之間 的差值。
12. 如權(quán)利要求10所述的觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法，其特征在于，當(dāng)?shù)诙盘?hào)值 C2與第一信號(hào)值Cl之間的差值A(chǔ)C大于闊值C。時(shí)，判斷存在觸摸壓力F ;反之則判斷沒(méi)有 觸摸壓力F。
13. 如權(quán)利要求10所述的觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法，其特征在于，進(jìn)一步包括一 計(jì)算所述觸摸壓力F大小的步驟，通過(guò)檢測(cè)到的差值A(chǔ) C計(jì)算出所述觸摸壓力F，所述觸摸 壓力F與所述差值A(chǔ)C滿足；開(kāi)kAC。
14. 如權(quán)利要求13所述的觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢巧巧沿其特征在于，所述觸摸壓力F、 第一導(dǎo)電膜與第二導(dǎo)電膜之間的距離d的變化Ad ^及差值A(chǔ)C滿足F 、Arf ?:扯二'。
15. -種觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法，其包括W下步驟： 提供一觸控裝置，其包括： 一觸控模組，所述觸控模組包括：一基板；一第一導(dǎo)電膜，設(shè)置于該基板表面，所述第 一導(dǎo)電膜具有阻抗異向性W定義出相互垂直的一低阻抗方向和一高阻抗方向；多個(gè)驅(qū)動(dòng)感 測(cè)電極設(shè)置于所述低阻抗方向相對(duì)兩側(cè)的至少一側(cè)； 所述觸控裝置進(jìn)一步包括一第二導(dǎo)電膜與所述第一導(dǎo)電膜相對(duì)且間隔設(shè)置； 設(shè)定一闊值C。； 依次對(duì)所述多個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極進(jìn)行驅(qū)動(dòng)掃描并感測(cè)，其他未輸入驅(qū)動(dòng)信號(hào)的驅(qū)動(dòng)感測(cè) 電極接地，獲得多個(gè)第一信號(hào)值Cl,獲得觸摸點(diǎn)坐標(biāo)； 再次對(duì)所述多個(gè)驅(qū)動(dòng)感測(cè)電極逐一進(jìn)行驅(qū)動(dòng)掃描并感測(cè)，其他未輸入驅(qū)動(dòng)信號(hào)的驅(qū)動(dòng) 感測(cè)電極保持接地，獲得多個(gè)第二信號(hào)值C,; 計(jì)算多個(gè)第二信號(hào)值C,與多個(gè)第一信號(hào)值Cl的比值A(chǔ) C ; W及 比較比值A(chǔ) C與闊值C。的大小，判斷是否存在觸摸壓力F。
16. 如權(quán)利要求15所述的觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法，其特征在于，當(dāng)?shù)诙盘?hào)值 C2與第一信號(hào)值Cl之間的比值A(chǔ)C大于闊值C。時(shí)，判斷存在觸摸壓力F ;反之則判斷沒(méi)有 觸摸壓力F。
17. 如權(quán)利要求16所述的觸摸點(diǎn)及觸摸壓力的檢測(cè)方法，其特征在于，所述闊值C。大 于1小于等于2。
【文檔編號(hào)】G06F3/044GK104423741SQ201310387181
【公開(kāi)日】2015年3月18日 申請(qǐng)日期:2013年8月30日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月30日
【發(fā)明者】施博盛, 鄭建勇, 趙志涵, 鄭嘉雄 申請(qǐng)人:天津富納源創(chuàng)科技有限公司