Sas通道檢測(cè)系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明揭露一種SAS通道檢測(cè)裝置，包括一測(cè)試端，以及一待測(cè)系統(tǒng)，所述測(cè)試端載有測(cè)試程序，所述待測(cè)系統(tǒng)包含一SAS擴(kuò)充IC，以及若干個(gè)SAS硬盤，所述SAS擴(kuò)充模塊IC具有一微處理器以及若干個(gè)SAS通道，所述微處理器連接于所述測(cè)試端與所述若干個(gè)SAS通道之間，所述若干個(gè)SAS通道分別連接所述若干個(gè)SAS硬盤，當(dāng)接收到所述測(cè)試端發(fā)出的測(cè)試命令后，所述微處理器將產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)并通過依次監(jiān)測(cè)所述測(cè)試信號(hào)通過所述若干個(gè)SAS通道發(fā)送到對(duì)應(yīng)的SAS硬盤的狀態(tài)來判斷各SAS通道的連接功能是否正常。借由上述設(shè)計(jì)，本發(fā)明無需添加SAS/RAID?HBA卡利用待測(cè)系統(tǒng)內(nèi)部自我確認(rèn)實(shí)現(xiàn)SAS通道的檢測(cè)。
【專利說明】SAS通道檢測(cè)系統(tǒng)
【【技術(shù)領(lǐng)域】】
[0001]本發(fā)明涉及一種檢測(cè)系統(tǒng)，特別是一種SAS通道檢測(cè)系統(tǒng)。
【【背景技術(shù)】】
[0002]SAS (Serial Attached SCSI)即串行連接SCSI，是新一代的SCSI技術(shù)，是采用串行技術(shù)以獲得更高的傳輸速度，并通過縮短連結(jié)線改善內(nèi)部空間等。SAS是并行SCSI接口之后開發(fā)出的全新接口。此接口的設(shè)計(jì)是為了改善存儲(chǔ)系統(tǒng)的效能、可用性和擴(kuò)充性。
[0003]目前，SAS通道出場(chǎng)時(shí)的相關(guān)檢測(cè)驗(yàn)證，都是以一臺(tái)系統(tǒng)(工作站/服務(wù)器)，內(nèi)加一張SAS/RAID HBA卡 ，連結(jié)至待測(cè)系統(tǒng)，執(zhí)行IO STRESS的動(dòng)作后，在由系統(tǒng)利用RS232連接至待測(cè)物的Debug Interface利用內(nèi)建命令，詢問此次IO STRESS的動(dòng)作有無產(chǎn)生任何錯(cuò)誤。由此可見，現(xiàn)有的SAS通道的檢測(cè)系統(tǒng)比較的復(fù)雜且執(zhí)行IO STRESS并不可以確保每一個(gè)SAS通道被檢測(cè)到，因此，無法確保檢測(cè)質(zhì)量。
[0004]有鑒于此，本發(fā)明提供一種SAS通道檢測(cè)裝置，其無需添加SAS/RAID HBA卡，利用待測(cè)系統(tǒng)內(nèi)部自我確認(rèn)實(shí)現(xiàn)SAS通道的檢測(cè)。
【
【發(fā)明內(nèi)容】
】
[0005]本發(fā)明的主要目的是提供一種SAS通道檢測(cè)裝置，其無需添加SAS/RAID HBA卡，利用待測(cè)系統(tǒng)內(nèi)部自我確認(rèn)實(shí)現(xiàn)SAS通道的檢測(cè)。
[0006]為達(dá)上述目的，本發(fā)明所提供的一種SAS通道檢測(cè)裝置，包括一測(cè)試端，以及一待測(cè)系統(tǒng)，所述測(cè)試端載有測(cè)試程序，其特征在于:所述待測(cè)系統(tǒng)包含一 SAS擴(kuò)充1C，以及若干個(gè)SAS硬盤，所述SAS擴(kuò)充模塊IC具有一微處理器以及若干個(gè)SAS通道，所述微處理器連接于所述測(cè)試端與所述若干個(gè)SAS通道之間，所述若干個(gè)SAS通道分別連接所述若干個(gè)SAS硬盤，當(dāng)接收到所述測(cè)試端發(fā)出的測(cè)試命令后，所述微處理器將產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)并通過依次監(jiān)測(cè)所述測(cè)試信號(hào)通過所述若干個(gè)SAS通道發(fā)送到對(duì)應(yīng)的SAS硬盤的狀態(tài)來判斷各SAS通道的連接功能是否正常。
[0007]優(yōu)選地，所述微處理器當(dāng)接收到所述測(cè)試端發(fā)出的測(cè)試命令后，將產(chǎn)生的測(cè)試信號(hào)通過一預(yù)定的SAS通道發(fā)送到其對(duì)應(yīng)的SAS硬盤，等待SAS硬盤回應(yīng)成功訊息后，所述微處理器會(huì)在經(jīng)過多次確認(rèn)后判斷此SAS通道連接功能正常，當(dāng)測(cè)試完此SAS通道后，所述微處理器會(huì)依次對(duì)剩余SAS通道進(jìn)行檢測(cè)。
[0008]優(yōu)選地，所述測(cè)試端為個(gè)人計(jì)算機(jī)或服務(wù)器
[0009]優(yōu)選地，所述微處理器為存儲(chǔ)機(jī)箱處理器。
[0010]優(yōu)選地，所述微處理器通過RS232連接所述測(cè)試端。
[0011]與現(xiàn)有技術(shù)相比較，本發(fā)明的測(cè)試端在發(fā)出測(cè)試命令后，所述微處理器會(huì)根據(jù)該測(cè)試命令發(fā)送測(cè)試信號(hào)并通過依次監(jiān)測(cè)所述測(cè)試信號(hào)通過所述若干個(gè)SAS通道發(fā)送到對(duì)應(yīng)的SAS硬盤的狀態(tài)來判斷各SAS通道的連接功能是否正常且將監(jiān)測(cè)的結(jié)果反饋給測(cè)試端供測(cè)試人員查看，由此可見，本發(fā)明的SAS通道檢測(cè)裝置無需添加SAS/RAID HBA卡，利用待測(cè)系統(tǒng)內(nèi)部自我確認(rèn)實(shí)現(xiàn)SAS通道的檢測(cè)。另，由于所述微處理器依次對(duì)待測(cè)系統(tǒng)的SAS通道進(jìn)行檢測(cè)，故可確保每一個(gè)SAS通道被檢測(cè)到，從而確保檢測(cè)的質(zhì)量。
【【專利附圖】

【附圖說明】】
[0012]下面結(jié)合附圖和【具體實(shí)施方式】對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說明。
[0013]圖1為本發(fā)明一種SAS通道檢測(cè)裝置一較佳實(shí)施例的方塊原理示意圖。
【【具體實(shí)施方式】】
[0014]圖1所示為本發(fā)明一種SAS通道檢測(cè)裝置一較佳實(shí)施例的方塊原理示意圖。在本實(shí)施例中，所述SAS通道檢測(cè)裝置包括一測(cè)試端10，以及一待測(cè)系統(tǒng)20。
[0015]所述測(cè)試端10載有測(cè)試程序，供用戶發(fā)出測(cè)試命令。在本實(shí)施例中，所述測(cè)試端10可為個(gè)人計(jì)算機(jī)，或服務(wù)器。
[0016]所述待測(cè)系統(tǒng)20包含一 SAS擴(kuò)充IC21，以及若干個(gè)SAS硬盤23。所述SAS擴(kuò)充模塊IC21具有一微處理器211以及若干個(gè)SAS通道22。所述微處理器211連接于所述測(cè)試端10與所述若干個(gè)SAS通道22之間，所述若干個(gè)SAS通道22分別連接所述若干個(gè)SAS硬盤23。在本實(shí)施例中，所述微處理器211通過RS232連接所述測(cè)試端10。所述微處理器211用于接收所述測(cè)試端10發(fā)出的測(cè)試命令，并根據(jù)測(cè)試命令分別發(fā)出測(cè)試信號(hào)至所述SAS通道22并通過依次監(jiān)測(cè)所述測(cè)試信號(hào)通過所述若干個(gè)SAS通道22發(fā)送到對(duì)應(yīng)的SAS硬盤23的狀態(tài)來判斷各SAS通道22的連接功能是否正常。在本實(shí)施例中，所述微處理器211為存儲(chǔ)機(jī)箱處理器(Storage Enclosure Processor)。在本實(shí)施例中，所述微處理器211當(dāng)接收到所述測(cè)試端10發(fā)出的測(cè)試命令后，所述微處理器211將產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)并通過一預(yù)定的SAS通道22發(fā)送到其對(duì)應(yīng)的SAS硬盤23，等待SAS硬盤23回應(yīng)成功訊息后，所述微處理器211會(huì)在經(jīng)過多次確認(rèn)后判斷此SAS通道連接功能正常。當(dāng)測(cè)試完此SAS通道22后，所述微處理器20會(huì)依次對(duì)剩余SAS通道22進(jìn)行檢測(cè)以確保每一通道22被檢測(cè)到，在本實(shí)施例中，設(shè)定經(jīng)三次確認(rèn)測(cè)試信號(hào)回傳成功后則可判定此SAS通道連接功能正常。
[0017] 綜上所述，上述各實(shí)施例及圖示僅為本發(fā)明之較佳實(shí)施例而已，當(dāng)不能以之限定本發(fā)明實(shí)施之范圍，即大凡依本發(fā)明申請(qǐng)專利范圍所作之均等變化與修飾，皆應(yīng)屬本發(fā)明專利涵蓋之范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種SAS通道檢測(cè)裝置，包括一測(cè)試端，以及一待測(cè)系統(tǒng)，所述測(cè)試端載有測(cè)試程序，其特征在于:所述待測(cè)系統(tǒng)包含一 SAS擴(kuò)充1C，以及若干個(gè)SAS硬盤，所述SAS擴(kuò)充模塊IC具有一微處理器以及若干個(gè)SAS通道，所述微處理器連接于所述測(cè)試端與所述若干個(gè)SAS通道之間，所述若干個(gè)SAS通道分別連接所述若干個(gè)SAS硬盤，當(dāng)接收到所述測(cè)試端發(fā)出的測(cè)試命令后，所述微處理器將產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)并通過依次監(jiān)測(cè)所述測(cè)試信號(hào)通過所述若干個(gè)SAS通道發(fā)送到對(duì)應(yīng)的SAS硬盤的狀態(tài)來判斷各SAS通道的連接功能是否正常。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的SAS通道檢測(cè)裝置，其特征在于:所述微處理器當(dāng)接收到所述測(cè)試端發(fā)出的測(cè)試命令后，將產(chǎn)生的測(cè)試信號(hào)通過一預(yù)定的SAS通道發(fā)送到其對(duì)應(yīng)的SAS硬盤，等待SAS硬盤回應(yīng)成功訊息后，所述微處理器會(huì)在經(jīng)過多次確認(rèn)后判斷此SAS通道連接功能正常，當(dāng)測(cè)試完此SAS通道后，所述微處理器會(huì)依次對(duì)剩余SAS通道進(jìn)行檢測(cè)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的SAS通道檢測(cè)裝置，其特征在于:所述測(cè)試端為個(gè)人計(jì)算機(jī)或服務(wù)器。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的SAS通道檢測(cè)裝置，其特征在于:所述微處理器為存儲(chǔ)機(jī)箱處理器。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的SAS通道檢測(cè)裝置，其特征在于:所述微處理器通過RS232連接所述測(cè)試端。
【文檔編號(hào)】G06F11/267GK103970636SQ201310036616
【公開日】2014年8月6日 申請(qǐng)日期:2013年1月30日 優(yōu)先權(quán)日:2013年1月30日
【發(fā)明者】林佳融 申請(qǐng)人:昆達(dá)電腦科技(昆山)有限公司, 神達(dá)電腦股份有限公司