Pci-e切換開關(guān)測試系統(tǒng)及方法
【專利摘要】一種PCI-E切換開關(guān)測試方法，包括：選擇一條測試線路，獲取該測試線路所連接的PCI-E設(shè)備中配置空間的寄存器地址，為其中每一個寄存器地址創(chuàng)建一組數(shù)據(jù)；選擇其中一個寄存器地址，并將對應(yīng)的數(shù)據(jù)寫入到該寄存器地址對應(yīng)的配置空間，并從上述配置空間中讀取數(shù)據(jù)；判斷所述讀取的數(shù)據(jù)與寫入的數(shù)據(jù)是否相同，以判斷所選擇的測試線路是否通過測試；及輸出測試結(jié)果。本發(fā)明還提供一種PCI-E切換開關(guān)測試系統(tǒng)。利用本發(fā)明可以對PCI-E切換開關(guān)做數(shù)據(jù)傳輸?shù)臏y試，保證PCI-E切換開關(guān)的數(shù)據(jù)傳輸功能。
【專利說明】PC1-E切換開關(guān)測試系統(tǒng)及方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種切換開關(guān)測試系統(tǒng)及方法，特別是一種PC1-E切換開關(guān)測試系統(tǒng)及方法。
【背景技術(shù)】
[0002]PC1-E (Peripheral Component Interconnect Express,高速外設(shè)組件互連接口)切換開關(guān)(switch)用于切換PC1-E通道，使數(shù)據(jù)可以在相應(yīng)的通道上傳輸。對于PC1-E切換開關(guān)的測試通常使用ICT (In Circuit Tester,在線測試儀)或飛針測試,但是ICT與飛針測試都屬于開路測試，并沒有對PC1-E切換開關(guān)做數(shù)據(jù)傳輸?shù)臏y試，所以無法確定PC1-E切換開關(guān)是否能夠準(zhǔn)確地傳輸數(shù)據(jù)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種PC1-E切換開關(guān)測試系統(tǒng)及方法，可以對PC1-E切換開關(guān)做數(shù)據(jù)傳輸?shù)臏y試，以保證PC1-E切換開關(guān)的數(shù)據(jù)傳輸功能。
[0004]所述PC1-E切換開關(guān)測試系統(tǒng)安裝在電子設(shè)備中，用于測試由該電子設(shè)備中的中央處理器、PC1-E切換開關(guān)以及每一個PC1-E設(shè)備所組成的數(shù)據(jù)傳輸線路。該系統(tǒng)包括:創(chuàng)建模塊，用于依次選擇其中一條數(shù)據(jù)傳輸線路作為測試線路，獲取該測試線路所連接的PC1-E設(shè)備中配置空間的寄存器地址，為上述每一個寄存器地址創(chuàng)建一組數(shù)據(jù)，并存儲所述寄存器地址及對應(yīng)的數(shù)據(jù)至電子設(shè)備的存儲設(shè)備中；處理模塊，用于從所述存儲設(shè)備中選擇其中一個寄存器地址，并將對應(yīng)的數(shù)據(jù)寫入到該寄存器地址對應(yīng)的配置空間，并從上述配置空間中讀取數(shù)據(jù)，并將讀取的數(shù)據(jù)存儲到所述存儲設(shè)備中；判斷模塊，用于從所述存儲設(shè)備中獲取寫入到所述配置空間的數(shù)據(jù)以及從所述配置空間讀取的數(shù)據(jù)，判斷所述讀取的數(shù)據(jù)與寫入的數(shù)據(jù)是否相同，以判斷所選擇的測試線路是否通過測試；及顯示模塊，用于輸出測試結(jié)果。
[0005]所述PC1-E切換開關(guān)測試方法運(yùn)行在電子設(shè)備中，用于測試由該電子設(shè)備中的中央處理器、PC1-E切換開關(guān)以及每一個PC1-E設(shè)備所組成的數(shù)據(jù)傳輸線路。該方法包括:依次選擇其中一條數(shù)據(jù)傳輸線路作為測試線路，獲取該測試線路所連接的PC1-E設(shè)備中配置空間的寄存器地址，為上述每一個寄存器地址創(chuàng)建一組數(shù)據(jù)，并存儲所述寄存器地址及對應(yīng)的數(shù)據(jù)至電子設(shè)備的存儲設(shè)備中；從所述存儲設(shè)備中選擇其中一個寄存器地址，并將對應(yīng)的數(shù)據(jù)寫入到該寄存器地址對應(yīng)的配置空間，并從上述配置空間中讀取數(shù)據(jù)，并將讀取的數(shù)據(jù)存儲到所述存儲設(shè)備中；從所述存儲設(shè)備中獲取寫入到所述配置空間的數(shù)據(jù)以及從所述配置空間讀取的數(shù)據(jù)，判斷所述讀取的數(shù)據(jù)與寫入的數(shù)據(jù)是否相同，以判斷所選擇的測試線路是否通過測試；及輸出測試結(jié)果。
[0006]相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明通過對PC1-E切換開關(guān)做數(shù)據(jù)傳輸?shù)臏y試，可以保證PC1-E切換開關(guān)的數(shù)據(jù)傳輸功能。【專利附圖】

【附圖說明】
[0007]圖1是本發(fā)明PC1-E切換開關(guān)測試系統(tǒng)較佳實(shí)施例的運(yùn)行環(huán)境圖。
[0008]圖2是本發(fā)明PC1-E切換開關(guān)測試系統(tǒng)的功能模塊圖。
[0009]圖3是本發(fā)明PC1-E切換開關(guān)測試方法較佳實(shí)施例的流程圖。
[0010]主要元件符號說明
[0011]
【權(quán)利要求】
1.一種PC1-E切換開關(guān)測試系統(tǒng)，安裝在電子設(shè)備中，用于測試由該電子設(shè)備中的中央處理器、PC1-E切換開關(guān)以及每一個PC1-E設(shè)備所組成的數(shù)據(jù)傳輸線路，其特征在于，該系統(tǒng)包括: 創(chuàng)建模塊，用于依次選擇其中一條數(shù)據(jù)傳輸線路作為測試線路，獲取該測試線路所連接的PC1-E設(shè)備中配置空間的寄存器地址，為上述每一個寄存器地址創(chuàng)建一組數(shù)據(jù)，并存儲所述寄存器地址及對應(yīng)的數(shù)據(jù)至電子設(shè)備的存儲設(shè)備中； 處理模塊，用于從所述存儲設(shè)備中選擇其中一個寄存器地址，并將對應(yīng)的數(shù)據(jù)寫入到該寄存器地址對應(yīng)的配置空間，并從上述配置空間中讀取數(shù)據(jù)，并將讀取的數(shù)據(jù)存儲到所述存儲設(shè)備中； 判斷模塊，用于從所述存儲設(shè)備中獲取寫入到所述配置空間的數(shù)據(jù)以及從所述配置空間讀取的數(shù)據(jù)，判斷所述讀取的數(shù)據(jù)與寫入的數(shù)據(jù)是否相同，以判斷所選擇的測試線路是否通過測試；及 顯示模塊，用于輸出測試結(jié)果。
2.如權(quán)利要求1所述的PC1-E切換開關(guān)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述顯示模塊在所有測試線路都能正確傳輸數(shù)據(jù)時，顯示所述PC1-E切換開關(guān)測試通過，及某一條測試線路不能正確傳輸數(shù)據(jù)，則報錯并顯示錯誤代碼。
3.如權(quán)利要求1所述的PC1-E切換開關(guān)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述創(chuàng)建的數(shù)據(jù)為隨機(jī)數(shù)據(jù)。
4.一種PC1-E切換開關(guān)測試方法，運(yùn)行在電子設(shè)備中，用于測試由該電子設(shè)備中的中央處理器、PC1-E切換開關(guān)以及每一個PC1-E設(shè)備所組成的數(shù)據(jù)傳輸線路，其特征在于，該方法包括: 創(chuàng)建步驟:依次選擇其中一條數(shù)據(jù)傳輸線路作為測試線路，獲取該測試線路所連接的PC1-E設(shè)備中配置空間的寄存器地址，為上述每一個寄存器地址創(chuàng)建一組數(shù)據(jù)，并存儲所述寄存器地址及對應(yīng)的數(shù)據(jù)至電子設(shè)備的存儲設(shè)備中； 處理步驟:從所述存儲設(shè)備中選擇其中一個寄存器地址，并將對應(yīng)的數(shù)據(jù)寫入到該寄存器地址對應(yīng)的配置空間，并從上述配置空間中讀取數(shù)據(jù)，并將讀取的數(shù)據(jù)存儲到所述存儲設(shè)備中； 判斷步驟:從所述存儲設(shè)備中獲取寫入到所述配置空間的數(shù)據(jù)以及從所述配置空間讀取的數(shù)據(jù)，判斷所述讀取的數(shù)據(jù)與寫入的數(shù)據(jù)是否相同，以判斷所選擇的測試線路是否通過測試 '及 顯示步驟:輸出測試結(jié)果。
5.如權(quán)利要求4所述的PC1-E切換開關(guān)測試方法，其特征在于，在所述顯示步驟中，在所有測試線路都能正確傳輸數(shù)據(jù)時，顯示所述PC1-E切換開關(guān)測試通過，及某一條測試線路不能正確傳輸數(shù)據(jù)，則報錯并顯示錯誤代碼。
6.如權(quán)利要求4所述的PC1-E切換開關(guān)測試方法，其特征在于，所述創(chuàng)建的數(shù)據(jù)為隨機(jī)數(shù)據(jù)。
【文檔編號】G06F11/22GK103885862SQ201210562691
【公開日】2014年6月25日 申請日期:2012年12月21日 優(yōu)先權(quán)日:2012年12月21日
【發(fā)明者】房金妮, 羅探科 申請人:鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司