專利名稱：一種用于龍芯服務(wù)器主板的內(nèi)存電壓的測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)領(lǐng)域，具體涉及一種用于龍芯服務(wù)器主板的內(nèi)存電壓的測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
隨著全球服務(wù)器市場的快速增長，具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的龍芯服務(wù)器也得到了迅猛的發(fā)展。如何保證服務(wù)器的性能，穩(wěn)定性和高可靠性成為研發(fā)和測(cè)試過程中的難點(diǎn)。最新龍芯服務(wù)器主板支持符合DDR3規(guī)范的不同規(guī)格的內(nèi)存，。當(dāng)前針對(duì)內(nèi)存的測(cè)試主要集中在信號(hào)質(zhì)量以及簡單的電壓大小和紋波的測(cè)試，因此，不能模擬內(nèi)存最大電量需求的情況，得不到真實(shí)有效的測(cè)試數(shù)據(jù)和結(jié)果。目前服務(wù)器主板內(nèi)存供電電路大多數(shù)都采用DC/DC電源，根據(jù)所選用內(nèi)存類型的不同，所需電流的大小也不同。各服務(wù)器主板所采用的VR方案也千差萬別，對(duì)內(nèi)存電壓的測(cè)試僅僅局限在電壓的大小及紋波大小上顯得測(cè)試方法不夠成熟和準(zhǔn)確。服務(wù)器主板在進(jìn)行大量數(shù)據(jù)的讀寫和內(nèi)存刷新過程中所需的功率是相當(dāng)大的，如何根據(jù)主板配置把上述情況涵蓋在測(cè)試內(nèi)容當(dāng)中，是需要解決的問題。

發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明提供一種用于龍芯服務(wù)器主板的內(nèi)存電壓的測(cè)試方法，能夠客觀、準(zhǔn)確的反映服務(wù)器主板設(shè)計(jì)是否滿足DDR3電壓規(guī)范要求。本發(fā)明提供的一種用于龍芯服務(wù)器主板的內(nèi)存電壓的測(cè)試方法，其改進(jìn)之處在于，所述方法包括如下步驟測(cè)試前(I)將至少一個(gè)的內(nèi)存電源轉(zhuǎn)接卡插入龍芯服務(wù)器主板；(2)將相鄰的兩個(gè)所述內(nèi)存電源轉(zhuǎn)接卡通過轉(zhuǎn)接卡互聯(lián)線連接；(3)將示波器的探頭與所述內(nèi)存電源轉(zhuǎn)接卡連接；(4)將電子負(fù)載儀通過負(fù)載線與所述內(nèi)存電源轉(zhuǎn)接卡連接；測(cè)試中(5)對(duì)所述示波器校準(zhǔn)；(6)所述龍芯服務(wù)器主板上電，調(diào)節(jié)所述電子負(fù)載儀電流，對(duì)內(nèi)存電壓進(jìn)行靜態(tài)電流測(cè)試；(7)調(diào)節(jié)所述電子負(fù)載儀負(fù)載大小、頻率和電流變化率SR，對(duì)內(nèi)存電壓進(jìn)行動(dòng)態(tài)電流測(cè)試；測(cè)試后(8)所述示波器、所述龍芯服務(wù)器主板和所述電子負(fù)載儀斷電。其中，所述內(nèi)存電壓包括內(nèi)存電壓VDDQ和內(nèi)存電壓VTT。其中，步驟(6)中對(duì)所述內(nèi)存電壓VDDQ進(jìn)行靜態(tài)電流測(cè)試包括如下步驟
(6-1)設(shè)定所述電子負(fù)載儀的最小電流值，并加載；(6-2)將所述電子負(fù)載儀的電流值從小到大連續(xù)調(diào)節(jié)，直至得到計(jì)算的TDC電流值；(6-3)所述示波器記錄電壓和紋波大小；(6-4)繼續(xù)增大所述電子負(fù)載儀電流值，直至所計(jì)算得到的PEAK值；(6-5)減小所述電子負(fù) 載儀電流值。其中，步驟(6)中所述內(nèi)存電壓VTT進(jìn)行靜態(tài)電流測(cè)試包括如下步驟(6-a)設(shè)定所述電子負(fù)載儀的負(fù)電流輸入端最小電流值，并加載；(6-b)將所述電子負(fù)載儀的電流值從小到大調(diào)節(jié)；(6-c)所述示波器記錄內(nèi)存電壓(VTT)電壓大小和紋波。其中，步驟(7)所述動(dòng)態(tài)電流測(cè)試包括如下步驟(7-1)設(shè)定所述電子負(fù)載儀的最小頻率值和電流變化率SR，并加載；(7-2)保持所述電流變化率SR不變，將所述電子負(fù)載儀的頻率值從小到大調(diào)節(jié)；(7-3)所述示波器記錄電壓和紋波大小。其中，根據(jù)所述服務(wù)器主板所配置的內(nèi)存規(guī)格和類型，結(jié)合內(nèi)存廠商提供的內(nèi)存規(guī)格說明書，記錄單條內(nèi)存電壓VDDQ所需TDC電流值A(chǔ)l，PEAK電流值A(chǔ)2 ;記錄單條內(nèi)存電壓VTT所需TDC電流值A(chǔ)3，PEAK電流值A(chǔ)4 ;記錄服務(wù)器主板CPU內(nèi)存控制器所需內(nèi)存電壓VDDQ的TDC電流大小A5，PEAK電流值為A6 ；設(shè)服務(wù)器主板配置N條內(nèi)存條，則測(cè)試指標(biāo)計(jì)算公式如下TDC=(A1+A3)*N+A5 ;PEAK=(A2+A4)*N+A6。其中，當(dāng)所述內(nèi)存電源轉(zhuǎn)接卡為兩個(gè)以上時(shí)，步驟(3)所述示波器的探頭設(shè)置兩組，分別與最外側(cè)的所述內(nèi)存電源轉(zhuǎn)接卡連接。其中，步驟(3 )所述探頭為差分探頭。其中，所述差分探頭采用Tektronix P6247。也可采用同等規(guī)格的其他高性能差分探頭來實(shí)現(xiàn)測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性，如P6248，P6330等。其中，步驟(6-1)所述最小電流值為4A ;步驟(6-a)所述最小電流值為_2. 9A。其中，步驟(7-2)中測(cè)試所述內(nèi)存電壓VDDQ時(shí)，電子負(fù)載儀的頻率值從1K-10K-50K-100K依次調(diào)節(jié)；測(cè)試所述內(nèi)存電壓VTT時(shí)，電子負(fù)載儀的頻率值從1K-10K-50K-100K-400K 依次調(diào)節(jié)。與現(xiàn)有技術(shù)比，本發(fā)明的有益效果為本發(fā)明專利可以應(yīng)用于龍芯服務(wù)器內(nèi)存電壓的測(cè)試，確保內(nèi)存的可靠運(yùn)行，提高服務(wù)器的性能和質(zhì)量。本發(fā)明從內(nèi)存工作的實(shí)際環(huán)境出發(fā)，利用內(nèi)存連接板模擬內(nèi)存實(shí)際工作狀態(tài)，采用電子負(fù)載儀從靜態(tài)和動(dòng)態(tài)多個(gè)方向全面的測(cè)試內(nèi)存工作電壓，能夠真實(shí)有效的反映內(nèi)存電壓電路設(shè)計(jì)的質(zhì)量和指標(biāo)，得出準(zhǔn)確的測(cè)試數(shù)據(jù)。本發(fā)明的示波器使用P6247差分探頭，保證了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。


圖I為本發(fā)明提供的龍芯服務(wù)器主板內(nèi)存電壓測(cè)試示意圖。圖2為本發(fā)明提供的龍芯主板示意圖。
圖3為本發(fā)明提供的內(nèi)存電源轉(zhuǎn)接卡示意圖。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施方式
作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。DDR3內(nèi)存包括I. 5V電壓內(nèi)存和I. 35V低電壓內(nèi)存兩種類型。不管是哪種類型的內(nèi)存都要測(cè)試兩種電壓的大小=VDDQ和VTT(VDDQ/2)。根據(jù)JEDEC組織對(duì)內(nèi)存工作電壓的規(guī)范要求制定(AC+DC)電壓工作范圍如下
權(quán)利要求
1.一種用于龍芯服務(wù)器主板的內(nèi)存電壓的測(cè)試方法，其特征在于，所述方法包括如下步驟 測(cè)試前 (1)將至少一個(gè)的內(nèi)存電源轉(zhuǎn)接卡插入龍芯服務(wù)器主板； (2)將相鄰的兩個(gè)所述內(nèi)存電源轉(zhuǎn)接卡通過轉(zhuǎn)接卡互聯(lián)線連接； (3)將示波器的探頭與所述內(nèi)存電源轉(zhuǎn)接卡連接； (4)將電子負(fù)載儀通過負(fù)載線與所述內(nèi)存電源轉(zhuǎn)接卡連接； 測(cè)試中 (5)對(duì)所述示波器校準(zhǔn)； (6 )所述龍芯服務(wù)器主板上電，調(diào)節(jié)所述電子負(fù)載儀電流，對(duì)內(nèi)存電壓進(jìn)行靜態(tài)電流測(cè)試； (7)調(diào)節(jié)所述電子負(fù)載儀負(fù)載大小、頻率和電流變化率SR，對(duì)內(nèi)存電壓進(jìn)行動(dòng)態(tài)電流測(cè)試； 測(cè)試后 (8 )所述示波器、所述龍芯服務(wù)器主板和所述電子負(fù)載儀斷電。
2.如權(quán)利要求I所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述內(nèi)存電壓包括內(nèi)存電壓VDDQ和內(nèi)存電壓VTT。
3.如權(quán)利要求I所述的測(cè)試方法，其特征在于，步驟(6)中對(duì)所述內(nèi)存電壓VDDQ進(jìn)行靜態(tài)電流測(cè)試包括如下步驟 (6-1)設(shè)定所述電子負(fù)載儀的最小電流值，并加載； (6-2)將所述電子負(fù)載儀的電流值從小到大連續(xù)調(diào)節(jié)，直至得到計(jì)算的TDC電流值； (6-3)所述示波器記錄電壓和紋波大??； (6-4)繼續(xù)增大所述電子負(fù)載儀電流值，直至所計(jì)算得到的PEAK值； (6-5)減小所述電子負(fù)載儀電流值。
4.如權(quán)利要求I所述的測(cè)試方法，其特征在于，步驟(6)中所述內(nèi)存電壓VTT進(jìn)行靜態(tài)電流測(cè)試包括如下步驟 (6-a)設(shè)定所述電子負(fù)載儀的負(fù)電流輸入端最小電流值,并加載； (6-b)將所述電子負(fù)載儀的電流值從小到大調(diào)節(jié)； (6-c)所述示波器記錄內(nèi)存電壓(VTT)電壓大小和紋波。
5.如權(quán)利要求I所述的測(cè)試方法，其特征在于，步驟(7)所述動(dòng)態(tài)電流測(cè)試包括如下步驟 (7-1)設(shè)定所述電子負(fù)載儀的最小頻率值和電流變化率SR，并加載； (7-2)保持所述電流變化率SR不變，將所述電子負(fù)載儀的頻率值從小到大調(diào)節(jié)； (7-3)所述示波器記錄電壓和紋波大小。
6.如權(quán)利要求I所述的測(cè)試方法，其特征在于，根據(jù)所述服務(wù)器主板所配置的內(nèi)存規(guī)格和類型，結(jié)合內(nèi)存廠商提供的內(nèi)存規(guī)格說明書，記錄單條內(nèi)存電壓VDDQ所需TDC電流值A(chǔ)l，PEAK電流值A(chǔ)2 ;記錄單條內(nèi)存電壓VTT所需TDC電流值A(chǔ)3，PEAK電流值A(chǔ)4 ;記錄服務(wù)器主板CPU內(nèi)存控制器所需內(nèi)存電壓VDDQ的TDC電流大小A5，PEAK電流值為A6 ； 設(shè)服務(wù)器主板配置N條內(nèi)存條，則測(cè)試指標(biāo)計(jì)算公式如下TDC=(A1+A3)*N+A5 ；PEAK=(A2+A4)*N+A6。
7.如權(quán)利要求I所述的測(cè)試方法，其特征在于，當(dāng)所述內(nèi)存電源轉(zhuǎn)接卡為兩個(gè)以上時(shí)，步驟(3 )所述示波器的探頭設(shè)置兩組，分別與最外側(cè)的所述內(nèi)存電源轉(zhuǎn)接卡連接。
8.如權(quán)利要求I所述的測(cè)試方法，其特征在于，步驟(3)所述探頭為差分探頭。
9.如權(quán)利要求8所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述差分探頭采用TektronixP6247。
10.如權(quán)利要求3所述的測(cè)試方法，其特征在于，步驟(6-1)所述最小電流值為4A;步驟(6-a)所述最小電流值為-2. 9A。
11.如權(quán)利要求5所述的測(cè)試方法，其特征在于，步驟(7-2)中測(cè)試所述內(nèi)存電壓VDDQ時(shí)，電子負(fù)載儀的頻率值從1K-10K-50K-100K依次調(diào)節(jié)；測(cè)試所述內(nèi)存電壓VTT時(shí)，電子負(fù)載儀的頻率值從1K-10K-50K-100K-400K依次調(diào)節(jié)。
全文摘要
本發(fā)明提供一種用于龍芯服務(wù)器主板的內(nèi)存電壓的測(cè)試方法，將內(nèi)存電源轉(zhuǎn)接卡插入龍芯服務(wù)器主板，若內(nèi)存電源轉(zhuǎn)接卡為兩個(gè)以上，將相鄰的兩個(gè)所述內(nèi)存電源轉(zhuǎn)接卡通過轉(zhuǎn)接卡互聯(lián)線連接，將示波器的探頭與所述內(nèi)存電源轉(zhuǎn)接卡連接，將電子負(fù)載儀通過負(fù)載線與所述內(nèi)存電源轉(zhuǎn)接卡連接。本發(fā)明通過電子負(fù)載儀和示波器進(jìn)行靜態(tài)和動(dòng)態(tài)多方向的內(nèi)存電壓測(cè)試。本發(fā)明可以確保內(nèi)存的可靠運(yùn)行，提高服務(wù)器的性能和質(zhì)量。本發(fā)明從內(nèi)存工作的實(shí)際環(huán)境出發(fā)，利用內(nèi)存連接板模擬內(nèi)存實(shí)際工作狀態(tài)，采用電子負(fù)載儀從靜態(tài)和動(dòng)態(tài)多個(gè)方向全面的測(cè)試內(nèi)存工作電壓，能夠真實(shí)有效的反映內(nèi)存電壓電路設(shè)計(jì)的質(zhì)量和指標(biāo)，得出準(zhǔn)確的測(cè)試數(shù)據(jù)。
文檔編號(hào)G06F11/22GK102880534SQ20121025208
公開日2013年1月16日 申請(qǐng)日期2012年7月20日 優(yōu)先權(quán)日2012年7月20日
發(fā)明者鄧建廷, 劉小亮, 李華 申請(qǐng)人:曙光信息產(chǎn)業(yè)(北京)有限公司