專利名稱：：觸控屏幕面板短路的原位檢測的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明系關(guān)于輸入裝置。更具體而言，本發(fā)明系關(guān)于用于測試觸控屏幕裝置的機(jī)構(gòu)。
背景技術(shù)：
：電容感測式觸控屏幕(capacitive-sensetouchscreen)已廣泛用作使用者裝置中的使用者接口組件。具體而言，觸控屏幕已非常普遍地用于行動電話(mobilephone)、蜂巢式電話(cellularphone)、平板電腦(tablet)、個人數(shù)字助理(PersonalDigitalAssistant;PDA)、膝上型電腦(laptop)及其他可攜式計(jì)算裝置中。觸控屏幕亦已廣泛地用于銷售點(diǎn)(PointofSale；P0S)終端機(jī)、庫存管理系統(tǒng)、安全系統(tǒng)等等中。觸控屏幕，更具體如電容感測式觸控屏幕，其受到更大歡迎的一個原因在于能夠同時用作一使用者輸入裝置及一使用者輸出裝置。更具體而言，觸控屏幕使一使用者能夠與呈現(xiàn)給該使用者的數(shù)據(jù)交互作用，而非與一組單獨(dú)的按鍵交互作用。此有助于將使用者裝置的尺寸最小化及/或?qū)⑾蚴褂谜叱尸F(xiàn)信息的輸出屏幕的尺寸最大化。換言之，電容感測式觸控屏幕可視為一種讓使用者裝置獲得輸入的直觀方式。目前，在大多數(shù)電容式觸控屏幕裝置中，主要采用二種電容感測及量測技術(shù)。第一種稱為自電容(self-capacitance)技術(shù)。SYNAPTICS所制造的許多裝置以及CYPRESSPS0C的集成電路(IntegratedCircuit；IC)裝置即是采用自電容量測技術(shù)。自電容涉及使用例如以下專利文獻(xiàn)中所述的技術(shù)來量測一系列電極焊墊(pad)的自電容值Bisset等人的美國專利第5，543，588號、Ritter等人的美國專利公開案第2010/0302201號及Narasimhan等人的美國專利公開案第2008/0297174號，其中所述專利文獻(xiàn)以引用方式全文并入本文中。自電容可通過檢測在一處于給定電壓的物體上累積的電荷量(Q=CV)而量測。自電容通常通過以下方式量測施加一已知電壓至一電極，接著使用一電路來量測有多少電荷流至該同一電極。當(dāng)外部物體接近該電極時，會有額外的電荷被吸引至該電極。因此，該電極的自電容增大。在觸控屏幕中所使用的許多觸摸感測器被配置成以一手指作為接地物體。人體實(shí)質(zhì)上相對于一電場趨于零的表面系為一電容器，且通常具有100微微法拉(pF)左右的電容值。自電容式觸控屏幕及/或觸控板中的電極通常以列及行形式排列。舉例而言，通過首先掃描列、然后掃描行的方式，可確定因一手指的觸摸而引起的各個擾動的位置。通常地，例如觸控屏幕或觸控板等自電容感測式裝置中的電極列及電極行包含由敷于一玻璃或塑膠基板上的氧化銦錫(IndiumTinOxide；ΙΤ0)所形成的導(dǎo)電跡線或?qū)щ妿?。盡管ITO為在大多數(shù)電容感測式觸控屏幕中所選用的材料，但亦可使用在功能上等效于ITO的其他已知材料或成份。在一適宜基板上形成此種跡線期間及之后，至少在某些自電容感測式裝置中，可能會在此種跡線或帶中出現(xiàn)缺陷。而使一批感測裝置中的缺陷數(shù)目最小化(例如，增大良率)是業(yè)界所期望的，但即便可能，要完全消除在觸控屏幕中出現(xiàn)的瑕疵也有困難。觸控屏幕的ITO跡線中的常見缺陷包括跡線間的短路、一或多條跡線與接地端之間的短路、跡線斷裂、跡線過薄、過窄、過厚或過寬、以及各個跡線的幾何形狀出現(xiàn)非預(yù)期的不規(guī)則性等等。ITO跡線中的缺陷可對觸控屏幕或觸控板的效能產(chǎn)生明顯的不利影響。因此，常常在制程完成后要對各個自電容感測式裝置實(shí)施測試。一種用于自電容觸摸感測裝置的測試方法可如Reynolds等人的美國專利公開案第2008/0278453號中所闡述，其中該美國專利公開案的全部內(nèi)容以引用方式并入本文中。在自電容感測式裝置中，測試ITO電極或其他類型電極的完整性存在若干問題；然而，測試仍為用于確保產(chǎn)品品質(zhì)的一重要生產(chǎn)步驟。在電容觸摸感測裝置中所使用的第二種主要電容感測及量測技術(shù)系為互電容技術(shù)(mutualcapacitance),其中通常使用一交叉的電極網(wǎng)格來執(zhí)行量測。舉例而言,可參見Gerpheide的美國專利第5，861，875號，其中該美國專利的全部內(nèi)容以引用方式并入本文中。與自電容量測中量測單個可受到附近其他物體影響的導(dǎo)體的電容的方式不同，互電容量測量測二導(dǎo)體間的電容。在某些互電容量測系統(tǒng)中，于一基板的一第一側(cè)上設(shè)置一感測電極陣列，并于該基板與該第一側(cè)相對的一第二側(cè)上設(shè)置一驅(qū)動電極陣列，將驅(qū)動電極陣列中的一行或一列電極驅(qū)動至一特定電壓，并量測該感測電極陣列中的一單列(或單行)的互電容，以確定一單一列-行的交叉點(diǎn)的電容。通過掃描所有列及行，可針對網(wǎng)格中的所有節(jié)點(diǎn)(node)形成一電容量測地圖。當(dāng)一使用者的手指或其他導(dǎo)電物體接近一給定網(wǎng)格點(diǎn)時，自該網(wǎng)格點(diǎn)發(fā)出或位于該網(wǎng)格點(diǎn)附近的某些電場線將發(fā)生偏轉(zhuǎn)，進(jìn)而減小該網(wǎng)格點(diǎn)處二電極的互電容。因每一量測僅探測一單一網(wǎng)格交叉點(diǎn)，故不會如在某些自電容式系統(tǒng)中，有多個觸摸時所出現(xiàn)量測的模糊性(ambiguity)。目前，關(guān)于觸控屏幕裝置或觸控板(無論其是利用互電容技術(shù)還是自電容技術(shù))測試的一問題在于，需要一單獨(dú)的測試設(shè)備來執(zhí)行所述測試。具體而言，須對驅(qū)動行及感測行施加一外部激勵來測試是否存在瑕疵。而施加外部激勵常常需要在制造觸控屏幕或觸控板的場所中使用額外的測試電路。此對于觸控屏幕制造商而言意味著額外的成本。因此，最小化或消除此等額外的成本是業(yè)界所希望的。
發(fā)明內(nèi)容傳統(tǒng)觸控屏幕控制器必須依賴于外部測試組件來測試觸控屏幕的保真度(fidelity)。具體而言，先前技術(shù)的觸控屏幕將首先須連接至其控制器，然后利用外部測試組件對其進(jìn)行測試。為了解決先前技術(shù)的上述問題，本發(fā)明將提供如下所示的一種觸控屏幕控制器、一種集成電路、一種裝置、一種使用者裝置及一種檢測方法，以為觸控屏幕制造商提供一完整的控制器的解決方案。本發(fā)明提供一種觸控屏幕控制器。該觸控屏幕控制器包含至少一控制組件及至少一測試組件。該至少一控制組件，用以通過于一觸控屏幕感測一使用者輸入并提供至少一輸出至一主機(jī)處理器，控制該觸控屏幕或其部分的至少一運(yùn)作，其中該至少一輸出是表示該使用者輸入。該至少一測試組件，用以測試該觸控屏幕或其元件的至少一瑕疵。本發(fā)明提供一種集成電路。該集成電路包含前述的觸控屏幕控制器。本發(fā)明提供一種裝置。該裝置用以通過于一觸控屏幕檢測一使用者輸入并產(chǎn)生用于表示該使用者輸入的至少一電信號，控制該觸控屏幕。該裝置包含至少一測試組件，該至少一測試組件用以測試該觸控屏幕的一觸摸敏感面板的瑕疵。本發(fā)明提供一使用者裝置。該使用者裝置包含前述的裝置。本發(fā)明提供一種用于檢測一觸控屏幕與一觸摸敏感面板至少其中之一的瑕疵的方法。該方法包含下列步驟自一觸控屏幕控制器擷取至少一指令；將包含于該觸控屏幕控制器內(nèi)的一測試電子器件連接至一驅(qū)動線/感測線對、一驅(qū)動線/驅(qū)動線對、以及一感測線/感測線對至少其中之一之間，以判斷該觸控屏幕與該觸摸敏感面板至少其中之一的一瑕疵；于該觸控屏幕控制器處量測橫跨該測試電子器件兩端的至少一電信號輸出；以及基于該至少一電信號輸出，判斷該觸控屏幕與該觸摸敏感面板至少其中之一包含該瑕疵。結(jié)合以下附圖來闡述本發(fā)明圖I為本發(fā)明的實(shí)施例的一使用者裝置的使用者接口組件的方框圖；圖2為本發(fā)明的實(shí)施例的一使用者裝置的組件的方框圖；圖3為本發(fā)明的實(shí)施例的一電容式觸控屏幕系統(tǒng)的剖視圖；圖4為本發(fā)明的實(shí)施例的一觸控屏幕控制器細(xì)節(jié)的方框圖；圖5為本發(fā)明的實(shí)施例的一觸控屏幕控制器細(xì)節(jié)的電路圖；圖6為本發(fā)明的實(shí)施例的一觸控屏幕測試電路的簡化電路圖；圖7A為本發(fā)明的實(shí)施例的一組4X4驅(qū)動線及感測線的示意圖；圖7B為圖7A所示的該組4X4驅(qū)動線及感測線的一電學(xué)表示的示意圖；圖7C為具有一第一瑕疵的圖7A所示的該組4X4驅(qū)動線及感測線的一電學(xué)表示的不意圖；圖7D為具有一第二瑕疵的圖7A所示的該組4X4驅(qū)動線及感測線的一電學(xué)表示的不意圖；以及圖8為本發(fā)明的實(shí)施例的一觸控屏幕測試過程的流程圖。附圖標(biāo)號100:使用者裝置104:觸控屏幕108:使用者接口物件112:專用使用者輸出裝置116:專用使用者輸入裝置204:控制器/觸控屏幕控制器/微處理器/應(yīng)用專用集成電路/CPU208:控制組件212:測試組件216:其他組件300:觸控屏幕系統(tǒng)304:觸摸敏感面板3O8:介電板312:頂部主表面316:底部主表面320:LCD或OLCD顯示器404:處理器408:導(dǎo)航固件412:隨機(jī)存取存儲器/RAM416:唯讀存儲器/ROM420:測試固件424隨機(jī)存取存儲器/RAM428:唯讀存儲器/ROM432:配置暫存器436:驅(qū)動電子器件440:感測電子器件444:測試電子器件448:開關(guān)矩陣452:運(yùn)動緩沖器456:輸入/輸出(I/O)端口460:主機(jī)處理器504電路控制組件508:固件512:數(shù)字電路516a:第一感測線516b:第二感測線516c:第三感測線516d:第四感測線520a:第一驅(qū)動線520b:第二驅(qū)動線520c:第三驅(qū)動線520d:第四驅(qū)動線524:模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換器528:放大器532:驅(qū)動放大器536a:第一驅(qū)動線開關(guān)536b:第二驅(qū)動線開關(guān)536c:第三驅(qū)動線開關(guān)536d:第四驅(qū)動線開關(guān)540a:第一感測線開關(guān)540b:第二感測線開關(guān)540c:第三感測線開關(guān)540d:第四感測線開關(guān)604:感測焊墊608:驅(qū)動焊墊col/driveO:第一驅(qū)動線col/driveI:第二驅(qū)動線col/drive2:第三驅(qū)動線col/drive3:第四驅(qū)動線row/senseO:第一感測線row/senseI:第二感測線row/sense2:第三感測線row/sense3:第四感測線Ctest:測試電容器具體實(shí)施例方式以下說明僅用于提供實(shí)施例，而非用于限制申請專利范圍的范圍、適用性、或構(gòu)造。更確切而言，以下說明將為本領(lǐng)域技術(shù)人員提供能夠?qū)嵤┧鰧?shí)施例的說明。在不背離本案的權(quán)利要求所含的精神及范圍的情況下，對元件功能及排列進(jìn)行各種改變可為此項(xiàng)技術(shù)中的通常知識者所理解。此外，盡管以下將主要針對電容感測式觸控屏幕或觸控板的測試來闡述各實(shí)施例。然而，此項(xiàng)技術(shù)中的通常知識者亦可理解以下所述實(shí)施例亦可應(yīng)用于觸控屏幕以外的領(lǐng)域。具體而言，任何利用電容性質(zhì)且需要一控制器的裝置皆可得益于本發(fā)明。首先參照圖1，其根據(jù)本發(fā)明的至少某些實(shí)施例而描繪的一使用者裝置100。使用者裝置100可對應(yīng)于任何類型的使用者裝置，無論是行動式或非行動式的使用者裝置。一適宜的使用者裝置100的實(shí)例可包含但不限于行動電話、蜂巢式電話、智能型電話(smartphone)、電話機(jī)(telephone)、平板電腦、筆記型電腦(netbook)、膝上型電腦、個人電腦(PersonalComputer;PC)、瘦客機(jī)(thinclient)、POS終端機(jī)、可攜式媒體播放器(portablemediaplayer)、收音機(jī)(radio)、電視機(jī)(television)、運(yùn)動機(jī)器(exercisemachine)、家用電器(householdappliance)、工業(yè)控制裝置(industrialcontroldevice)、行動網(wǎng)際網(wǎng)路裝置(MobileInternetDevice;MID),全球定位系統(tǒng)(GlobalPositioningSystem；GPS)裝置等等。使用者裝置100可由一或多個使用者所使用。為便于使用者與使用者裝置100進(jìn)行交互作用，使用者裝置100可包含一組合使用者輸入/輸出裝置如下一觸控屏幕104、一或多個專用使用者輸出裝置112、以及一或多個專用使用者輸入裝置116。應(yīng)理解，觸控屏幕104可包含一觸控板(touchpad)或能夠同時向一使用者呈現(xiàn)信息并接收來自一使用者的輸入的任何其他類型的裝置。在某些實(shí)施例中，觸控屏幕104可用作向使用者呈現(xiàn)一或多個使用者接口(UserInterface;UI)物件108的一機(jī)構(gòu)。在某些實(shí)施例中，Π物件108可對應(yīng)于一圖符(icon)、一視窗、一鏈接、一文本、一圖片、一視頻、或由一處理器所準(zhǔn)備而顯示于一屏幕的數(shù)據(jù)的任何其他可視化形式。使用者被容許放置一物體(例如其手指、一支筆、一尖筆等等)與觸控屏幕104接觸或僅位于觸控屏幕104附近，且觸控屏幕104可用以檢測相對于Π物件108的該物體的位置。端視所檢測的使用者輸入的位置而定，使用者裝置100可執(zhí)行一或多個與該使用者輸入連貫的動作。專用使用者輸出裝置112可包含如下其中之一或多者一揚(yáng)聲器、一光源(例如發(fā)光二極管(LightEmittingDiode；LED)、LED集合、LED陣列)、一液晶顯示器(LiquidCrystalDisplay；LCD)裝置等等。專用使用者輸入裝置116可包含如下其中之一或多者一麥克風(fēng)、一按鍵、一按鈕、一實(shí)體開關(guān)(physicalswitch)等等?，F(xiàn)在參照圖2，其根據(jù)本發(fā)明的至少某些實(shí)施例而描繪使用者裝置100的至少某些內(nèi)部組件。在某些實(shí)施例中，使用者裝置100可包含一控制器204以及其他組件216，控制器204用以控制觸控屏幕104的運(yùn)作。其他組件216可包含電性硬體、軟體、及/或本身設(shè)置于使用者裝置100上的固件。可以理解，其他組件216的性質(zhì)可取決于使用觸控屏幕104的使用者裝置100的類型。于某些實(shí)施例中，使用者裝置100中的其他組件216可包含但不限于處理器(processor)、存儲器(memory)、電路及電路組件、應(yīng)用專用集成電路(ApplicationSpecificIntegratedCircuit;ASIC)、IC芯片、天線(antenna)、通訊接口(communicationinterface)、輸入/輸出(Input/Output;1/0)端口、數(shù)據(jù)機(jī)(modem)等坐寸ο在某些實(shí)施例中，觸控屏幕104的控制器204本身可包含一或多個控制組件208及測試組件212。更具體而言，觸控屏幕104可具有整合于其中的組件，所述組件使控制器204能夠檢測并處理于觸控屏幕104處所接收的使用者輸入以及在各制造階段期間測試觸控屏幕104。測試組件212亦可在如下情形中測試觸控屏幕104有無瑕疵在觸控屏幕104制造期間、在觸控屏幕104制造完成之后但被倂入使用者裝置100之前、在觸控屏幕104被倂入使用者裝置100之后、及/或在使用者裝置100完全制造完成之后。換言之，控制器204可具有整合于其中的控制組件208及測試組件212，且測試組件212可提供一用于在各生產(chǎn)階段中檢測觸控屏幕104中有無瑕疵的原位機(jī)構(gòu)。通過整合測試組件212于控制器204中，將提供優(yōu)于傳統(tǒng)觸控屏幕控制器的一顯著優(yōu)勢，因傳統(tǒng)觸控屏幕控制器必須依賴于外部測試組件來測試觸控屏幕104的保真度(fidelity)。具體而言，先前技術(shù)的觸控屏幕將首先須連接至其控制器，然后利用外部測試組件對其進(jìn)行測試。通過整合測試組件212于控制器204中，本發(fā)明的實(shí)施例可為觸控屏眷制造商提供一完整的控制器204的解決方案。圖3描繪本發(fā)明的實(shí)施例的一電容式觸控屏幕系統(tǒng)300。在某些實(shí)施例中，觸控屏幕系統(tǒng)300包含一IXD或OLED顯不器320、一觸摸敏感面板304、一設(shè)置于觸摸敏感面板304上方的保護(hù)罩或介電板308、以及一觸控屏幕控制器、微處理器(micro-processor)、應(yīng)用專用集成電路(ApplicationSpecificIntegratedCircuit;「ASIC」)或CPU204。在某些實(shí)施例中，介電板308的一底部主表面316接觸觸摸敏感面板304。底部主表面316的相對表面對應(yīng)于一頂部主表面312。介電板308的頂部主表面312表不一供用戶與其進(jìn)行交互作用(例如，觸摸)的觸控屏幕104的表面。圖4是描繪一控制器204細(xì)節(jié)的方框圖?？刂破?04可用于控制觸控屏幕104的運(yùn)作及/或測試觸控屏幕104有無瑕疵。在某些實(shí)施例中，控制器204為一小功率電容式觸控面板控制器，其被設(shè)計(jì)成可為提供一觸控屏幕系統(tǒng)高精確度的屏幕導(dǎo)航。電容式觸摸敏感面板304可通過對一介電板的一或多個表面涂敷一導(dǎo)電材料(例如ITO)而形成，該介電板通常包含玻璃、塑膠或另一適宜的電絕緣材料且較佳地為光學(xué)透射性材料，且該介電板通常被構(gòu)造成呈一電極網(wǎng)格(grid)的形狀。該網(wǎng)格的電容保持一電荷，且當(dāng)使用一手指(或其他類型的物體)在頂部主表面312觸摸面板時,會出現(xiàn)通往該使用者身體的一電路通道,從而形成擾動(disruption)。觸控屏幕控制器204利用控制組件208來感測并分析此等擾動的坐標(biāo)。在某些實(shí)施例中，所述擾動的坐標(biāo)可比對至一Π物件108的一位置。當(dāng)觸控屏幕104固定于具有一圖形使用者接口的一顯示器時，可通過追蹤所述觸摸坐標(biāo)而達(dá)成屏幕導(dǎo)航，其中常常需要檢測多個觸摸。而所驅(qū)動該網(wǎng)格的尺寸是通過所述觸摸所需的解析度而定。通常地，可存在一額外介電板308以保護(hù)觸控屏幕104的頂部ITO層，進(jìn)而形成一完整的觸摸屏幕解決方案。一種形成一觸摸敏感面板304的方式是僅于一介電板或基板的一側(cè)上涂敷一ITO網(wǎng)格。當(dāng)觸摸敏感面板304與一顯示器配合時，將不需要一額外保護(hù)罩。如此將具有形成一改良的透射率(>90%)且更輕薄的顯示系統(tǒng)的益處，進(jìn)而能夠?qū)崿F(xiàn)更明亮且更輕薄的手持式裝置。根據(jù)本發(fā)明的至少某些實(shí)施例，控制器204包含一處理器404、一導(dǎo)航固件408、一測試固件420、一配置暫存器(configurationregister)432、一驅(qū)動電子器件436、一感測電子器件440、一測試電子器件444、一開關(guān)矩陣448、一運(yùn)動緩沖器452、及一或多個I/O端口456，其中導(dǎo)航固件408包含儲存于一或多種形式的隨機(jī)存取存儲器(RandomAccessMemory;RAM)412及/或唯讀存儲器(ReadOnlyMemory；R0M)416中的多個指令，測試固件420包含儲存于一或多種形式的RAM424及/或ROM428中的多個指令，該一或多個1/0端口456用于使控制器204能夠與使用者裝置100的一外部主機(jī)處理器460界面接合。在某些實(shí)施例中，控制器204可在一VDD電壓下為其組件接收功率輸入，且1/0端口456可接收VDDIO的輸入電壓。此項(xiàng)技術(shù)中的通常知識者將理解，可向控制器204提供其他形式的電源，且VDD及VDDIO所提供的電壓大小可根據(jù)包含于控制器204中的組件規(guī)格而異。在某些實(shí)施例中，處理器404、導(dǎo)航固件408、驅(qū)動電子器件436、及感測電子器件440其中之一或多者可被視為控制組件208的一部分。控制器204可通過利用處理器404自導(dǎo)航固件408讀取各種指令而對觸控屏幕104施加控制。接著處理器404可促使驅(qū)動電子器件436對觸摸敏感面板304中的驅(qū)動線施加一特定電壓。使用者輸入可被感測電子器件440透過觸摸敏感面板304中一或多條感測線的電容變化而檢測到。此等電容變化可被報(bào)告至處理器404，并在處理器404中被轉(zhuǎn)換為使用者輸入數(shù)據(jù)，而使用者輸入數(shù)據(jù)隨后經(jīng)由1/0端口456提供至主機(jī)處理器460。在某些實(shí)施例中，處理器404、測試固件420、驅(qū)動電子器件436、感測電子器件440、開關(guān)矩陣448、以及測試電子器件444其中之一或多者可被視為測試組件212的一部分。具體而言，處理器404可通過系統(tǒng)性地控制開關(guān)矩陣448，而實(shí)施如在測試固件420中所述的一測試過程。由于處理器404可控制開關(guān)矩陣448，測試電子器件444可連接于驅(qū)動電子器件436的各部分與感測電子器件440的各部分之間。端視測試固件420中所定義的測試常式(routine)而定，處理器404可促使測試電子器件444系統(tǒng)性地連接于每一驅(qū)動線/感測線對之間，直至測試完所有可能的驅(qū)動線/感測線對。在其他實(shí)施例中，可根據(jù)此項(xiàng)技術(shù)中已知的任何測試過程，將測試電子器件444連接于多條驅(qū)動線及/或感測線之間。作為一個實(shí)例，處理器404可控制開關(guān)矩陣448來實(shí)施如Staton等人的美國專利公開案第2009/0250268號中所述的測試程序，其中該美國專利公開案的全部內(nèi)容以引用方式倂入本文中。圖5描繪本發(fā)明的至少某些實(shí)施例的驅(qū)動電子器件436、感測電子器件440、開關(guān)矩陣448、以及測試電子器件444的一可能的實(shí)施方案。圖5所示控制器204表示用以控制及/或測試一4X4觸控面板的一IC芯片?？衫斫?，在不背離本發(fā)明范圍的情況下，一控制器可用以控制及/或測試具有一更大或更小數(shù)目的驅(qū)動線及感測線(例如，IXI、IX2、2X2、......、16X16、32X32等)的一觸控屏幕面板。此外，熟習(xí)此項(xiàng)技術(shù)者將理解，在不背離本發(fā)明各實(shí)施例的范圍或精神的情況下，除此處所述的一控制器204之外，亦可在觸控屏幕系統(tǒng)300中采用觸控屏幕控制器、微處理器、ASIC或CPU，且除此處明確所示者之外，亦可采用不同數(shù)目的驅(qū)動線及感測線以及不同數(shù)目及配置的驅(qū)動電極及感測電極。具體而言，控制器204可包含電路控制組件504以及數(shù)字電路512，其中電路控制組件504包含用于控制具固件508形式的電路的多個指令，且數(shù)字電路512用于執(zhí)行所述指令。在某些實(shí)施例中，固件508可包含導(dǎo)航固件408及測試固件420其中之一或二者。數(shù)字電路512可包含一或多個數(shù)字電路組件，例如可用于形成組合邏輯的多個邏輯閘。各該邏輯閘表示一布林(Boolean)邏輯的功能。一邏輯閘為電性控制開關(guān)(更常稱為晶體管)的一排列。作為另一選擇，或此外，數(shù)字電路512可包含一或多個查找表(lookuptable),該一或多個查找表可具有一可程序化邏輯器件(ProgrammableLogicDevice；PLD)形式，并可用以執(zhí)行固件508中所定義的功能。作為再一選擇，或另外，可提供一可程序化邏輯電路(ProgrammableLogicCircuit；PLC)作為控制器204中的一嵌式系統(tǒng)(embeddedsystem)。根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，亦可使用其他形式的已知數(shù)字電路512。驅(qū)動電子器件436可被實(shí)施成經(jīng)由一或多個驅(qū)動放大器(driveramplifier)532而連接至數(shù)字電路512的一或多條驅(qū)動線520a-520d。感測電子器件440可被實(shí)施成經(jīng)由一或多個放大器528及一或多個模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換器(Analog-to-DigitalConverter;A/D)524而連接至數(shù)字電路的一或多條感測線516a-516d。測試電子器件444可被實(shí)施成一測試電容器Ctest，可經(jīng)由一系列驅(qū)動線開關(guān)536a-536d而選擇性地達(dá)成該測試電容器Ctest與驅(qū)動線520a_520d的耦合及解耦合。亦可經(jīng)由一系列感測線開關(guān)540a-540d而選擇性地達(dá)成該測試電容器Ctest與感測線516a-516d的耦合及解耦合。當(dāng)執(zhí)行測試固件420中所定義的測試常式時，可由電路控制組件504對驅(qū)動線開關(guān)536a-536d及感測線開關(guān)540a_540d施加控制。根據(jù)本發(fā)明的至少某些實(shí)施例，在一測試常式期間，可通過選擇性地閉合及斷開驅(qū)動線開關(guān)536a-536d及感測線開關(guān)540a_540d的某些對，而將各該驅(qū)動線520a_520d系統(tǒng)性地連接至各該感測線516a-516d，反之亦然。作為一實(shí)例，可通過閉合第三感測線開關(guān)540c、閉合第二驅(qū)動線開關(guān)536b、及斷開所有其他驅(qū)動線開關(guān)及感測線開關(guān)，而將測試電容器Ctest連接于第三感測線516c與第二驅(qū)動線520b之間。如此可通過測試電容器Ctest的電容值而使施加于第三感測線516c與第二驅(qū)動線520b間的電容值增大。在某些實(shí)施例中，相較于當(dāng)驅(qū)動線帶電時于驅(qū)動線與感測線之間所引起的電容，測試電容器Ctest包含一相對大的電容。具體而言，在正常運(yùn)作期間，驅(qū)動線520a-520d可帶電且各該驅(qū)動線520a-520d與各該感測線516a_516d間的一電容可大約為I至2微微法拉(PF)。根據(jù)本發(fā)明的至少某些實(shí)施例，測試電容器Ctest可包含一電容，該電容為于驅(qū)動線520a_520d其中的一電極與感測線516a_516d其中的一電極之間所形成的任意互電容的至少二倍大且可為其三倍大。更具體而言，當(dāng)一正確運(yùn)行的觸控屏幕104的互電容預(yù)期約為I至2微微法拉(pF)時，測試電容器Ctest可具有一約4.5微微法拉(pF)的電容。此項(xiàng)技術(shù)中的通常知識者可理解，測試電容器Ctest可被設(shè)置成一單一電容器或多個電容器，該單一電容器或多個電容器具有足以測試觸控屏幕104或其組件的一等效電容。此外，在測試電容器Ctest被設(shè)置成多個電容器的情況下，所述電容器其中的某些可包含于控制器204中，而所述電容器其中的其他電容器可通過具有連接至開關(guān)矩陣448的能力而位于控制器204外部。作為另一選擇，所述電容器可全部包含于控制器204中。圖6描繪當(dāng)測試電容器Ctest連接于一條驅(qū)動線(例如第一驅(qū)動線520a)與一條感測線(例如第一感測線516a)之間時的一簡化電路圖。各該感測線516a_516d可包含一對應(yīng)感測焊墊(sensepad)604。同樣地,各該驅(qū)動線520a-520d可包含一對應(yīng)驅(qū)動焊墊(drivepad)608感測焊墊604及驅(qū)動焊墊608用于將控制器204連接至觸摸敏感面板304中的各電極。因此，電信號自控制器204經(jīng)由驅(qū)動焊墊608而被提供至觸摸敏感面板304，且來自觸摸敏感面板304的電信號經(jīng)由感測焊墊604而于控制器204處接收。如上所述，可通過閉合驅(qū)動線開關(guān)536其中之一及感測線開關(guān)540其中之一而使一驅(qū)動線與一感測線經(jīng)由測試電容器Ctest而連接至彼此。當(dāng)一個驅(qū)動線開關(guān)536及一個感測線開關(guān)540閉合時，對應(yīng)驅(qū)動線與感測線會在測試電容器Ctest兩端并聯(lián)連接，且可由數(shù)字電路512在對應(yīng)驅(qū)動線與感測線之間檢測測試電容器Ctest的電容。該所檢測電容可用于判斷觸控屏幕104，具體如判斷觸摸敏感面板304是否在一感測線中、在一驅(qū)動線中、在感測線之間、在驅(qū)動線之間、及/或在一驅(qū)動線/感測線對之間包含任何瑕疵。因此，可由控制器204在制造制程的早期檢測出有瑕疵的觸摸敏感面板304，且控制器204最終用于控制使用者裝置100中的觸控屏幕104的運(yùn)作。參照圖7A至圖7D，根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，一觸摸敏感面板304中的驅(qū)動線及感測線的一4X4陣列以及對其測試的方法將被闡述?？衫斫猓诓槐畴x本發(fā)明范圍的情況下，可將結(jié)合該4X4陣列所述的概念用于更大或更小的陣列。在一互電容式觸控屏幕環(huán)境中，觸控屏幕控制器204利用一時鐘信號來驅(qū)動該陣列的一維度(例如行)。在所示實(shí)例中，所述行對應(yīng)于驅(qū)動線520a-520d(例如，col/driveO=第一驅(qū)動線520a、col/driveI=第二驅(qū)動線520b、col/drive2=第三驅(qū)動線520c、以及col/drive3=第四驅(qū)動線520d)。在某些實(shí)施例中，該驅(qū)動時鐘可對應(yīng)于控制器204中一時鐘的運(yùn)作頻率，該時鐘可以約100千赫茲至約200千赫茲間的任意頻率運(yùn)作。該陣列的另一維度(例如列)用作感測線516a_516d(例如,row/senseO=第一感測線516a、row/senseI=第二感測線516b、row/sense2=第三感測線516c、以及row/sense3=第四感測線516d)。此等感測線將具有由驅(qū)動線與感測線間的互電容而引起的電荷。此電荷于控制器204處被量測及數(shù)字化。圖7A描繪沒有任何瑕疵的驅(qū)動線及感測線的一4X4陣列。圖7B描繪，產(chǎn)生于各該驅(qū)動線及感測線對之間的互電容的一理想化電學(xué)表不。根據(jù)至少某些實(shí)施例，可通過在一單一驅(qū)動線與一單一感測線之間引入測試電容器Ctest，并隨后致能該驅(qū)動線而測試一觸摸敏感面板304有無瑕疵。因可預(yù)期來自具有額外電容的感測線的結(jié)果將大于在所有其他感測線之間所檢測的電容，若二感測線之間存在一短路，則該二感測線都將顯示出由測試電容器Ctest所引入的增大電容的影響。類似地，若致能一已顯示出該增大電容的影響的第二驅(qū)動線，則可斷定在有目的地連接至該測試電容器Ctest的驅(qū)動線與亦顯示出增大電容的影響的另一驅(qū)動線之間存在一短路。根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例而在第7C圖中描繪一瑕疵的實(shí)例，該瑕疵被顯示為二驅(qū)動線(例如，col/driveI與col/drive2)間的一短路。通過將測試電容器Ctest連接至col/driveI與row/senseO可用來檢測該瑕疵。當(dāng)利用驅(qū)動時鐘驅(qū)動col/driveO時,在各該所量測感測線處將只會檢測到固有的面板驅(qū)動線-感測線電容。然而，當(dāng)利用驅(qū)動時鐘驅(qū)動col/driveI時,在row/senseO上將量測到一額外電容。假若觸摸敏感面板304不具有任何短路，則在驅(qū)動col/drive2時，在所有感測線上應(yīng)同樣僅顯示出固有的驅(qū)動線-感測線電容。然而，在圖7C所示的情形中，將在row/senseO上檢測到一額外電容(由測試電容器Ctest所引入)。該額外電容的檢測可幫助確定在觸摸敏感面板304中存在一瑕疵。根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例而在圖7D中描繪一瑕疵的另一實(shí)例。圖7D所示的瑕疵為二感測線(例如,row/senseO及row/senseI)間的一短路。當(dāng)測試電容器Ctest連接于col/driveI與row/senseO之間時,可達(dá)成對該瑕疵的檢測。具體而言，當(dāng)col/driveO被驅(qū)動時,row/senseO與row/senseI二者的量測值將顯示出測試電容器Ctest的影響,進(jìn)而指示在row/senseO與row/senseI之間存在一短路。現(xiàn)在參照圖8，根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例，用于測試一觸控屏幕104及/或一觸摸敏感面板304是否有瑕疵的一過程將被闡述。當(dāng)決定開始一測試過程時，該過程開始(步驟804)。該決定可由以下者做出觸摸敏感面板304的一制造商、觸控屏眷104的一制造商、使用者裝置100的一制造商、使用者裝置100的一配送商、及/或使用者裝置100的一消費(fèi)者。有利地，可在配送鏈(chainofdistribution)中的任何一點(diǎn)處,使用用于控制觸控屏幕104運(yùn)作的同一控制器204來測試觸控屏幕是否有瑕疵。因此，該測試過程僅需要由測試者使用整合于控制器204中的測試組件212。該過程繼續(xù)測試一第一驅(qū)動線/感測線對(步驟808)。在此步驟中，可將測試電容器Ctest連接于一第一選定驅(qū)動線與一第一選定感測線之間。此步驟亦可包含驅(qū)動該第一選定驅(qū)動線及在每一感測線(包括該第一選定感測線以及當(dāng)前未經(jīng)開關(guān)矩陣448而有目的地連接至測試電容器Ctest的其他感測線)處量測電容。此后，分析各該感測線處的量測值，以確定是否檢測到一瑕疵(步驟812)。此分析可包含簡單地比較各該感測線處的電性值。該所量測及比較的電性值可包含但不限于電壓值、電流值、及來自一電信號的任何其他可公制量測的值。在使用電壓作為所量測及比較之值的情況下，該電壓表示所驅(qū)動的驅(qū)動線與所量測的感測線間的電容。若僅有一條感測線相較于其他感測線具有一顯著不同的電壓量測值且具有一顯著不同的電壓量測值的該感測線對應(yīng)于連接至測試電容器Ctest的感測線，則可斷定未檢測到瑕疵。相似地，可針對電流值來執(zhí)行上述的分析步驟。作為另一選擇，或另外，步驟812的分析可包含假設(shè)當(dāng)前所測試的驅(qū)動線/感測線對并非所測試的第一驅(qū)動線/感測線對的情況下，比較通過測試當(dāng)前驅(qū)動線/感測線對所獲得的結(jié)果與通過測試先前的驅(qū)動線/感測線對(通過測試同一觸控屏幕104或觸摸敏感面板304、測試先前的觸控屏幕104或觸摸敏感面板304、或已獲得理論量測值的模擬測試)所獲得的結(jié)果。若檢測到一瑕疵，則可通過記錄該瑕疵的位置(步驟816)而繼續(xù)該過程。該瑕疵的位置信息可用于與其他觸控屏幕104或觸摸敏感面板304中的瑕疵位置相比較。具體而言，若多個觸控屏幕104或觸摸敏感面板304具有處于類似位置的瑕疵，則該制造制程可包含一重復(fù)引起瑕疵的系統(tǒng)缺陷。若可確定瑕疵的位置，則可更容易地辨識是由制造制程中的哪一步驟將瑕疵引入觸控屏幕104或觸摸敏感面板304。若未檢測到瑕疵或在記錄瑕疵位置之后，可通過確定是否欲測試另一不同驅(qū)動/感測對(步驟820)而繼續(xù)該制程。該問題在如下情形中的答案可為「否」若已測試每一可能的驅(qū)動線/感測線對、若已測試一足夠數(shù)目的驅(qū)動線/感測線對、及/或若已檢測到一足夠數(shù)目的瑕疵。若該問題的答案為「是」，則該過程接著選擇并測試一新的驅(qū)動線/感測線對(步驟824)。除測試一不同驅(qū)動線/感測線對之外，此步驟的實(shí)施可類似于或相同于步驟808的實(shí)施。此后，該過程回到步驟812?！と舨襟E820的問題的答案為「否」，則該測試過程結(jié)束(步驟828)。此具體過程步驟可涉及報(bào)告測試過程的結(jié)果為「是」還是「否」、報(bào)告所記錄的瑕疵位置(若存在)、及/或報(bào)告該測試過程已完成。然后測試固件420可結(jié)束其測試常式，且處理器404可視需要而開始執(zhí)行一不同的常式。應(yīng)注意，盡管此處所述具體測試過程一般性地闡述了測試驅(qū)動線/感測線對，然而可在不背離本發(fā)明范圍的情況下由測試組件212來實(shí)施其他測試方案。舉例而言，可僅相對于一單一感測線來測試每一驅(qū)動線(例如，對于一4X4陣列而言在各時鐘序列處的測試序列可如下所示在驅(qū)動第一驅(qū)動線520a時，于第一驅(qū)動線520a與第一感測線516a之間連接Ctest，接著在驅(qū)動第二驅(qū)動線520b時，于第二驅(qū)動線520b與第一感測線516a之間連接Ctest，然后在驅(qū)動第三驅(qū)動線520c時，于第三驅(qū)動線520c與第一感測線516a之間連接Ctest，再然后在驅(qū)動第四驅(qū)動線520d時，于第四驅(qū)動線520d與第一感測線516a之間連接Ctest)。作為另一實(shí)例，可僅測試連續(xù)的驅(qū)動線/感測線對(例如，對于一4X4陣列而言在各時鐘序列處的測試序列可如下所示在驅(qū)動第一驅(qū)動線520a時，于第一驅(qū)動線520a與第一感測線516a之間連接Ctest，接著在驅(qū)動第二驅(qū)動線520b時，于第二驅(qū)動線520b與第二感測線516b之間連接Ctest，然后在驅(qū)動第三驅(qū)動線520c時，于第三驅(qū)動線520c與第三感測線516c之間連接Ctest，再然后在驅(qū)動第四驅(qū)動線520d時，于第四驅(qū)動線520d與第四感測線516d之間連接Ctest)?？衫斫猓诓槐畴x本發(fā)明范圍的情況下采用其他測試方案。具體而言，可同時閉合多個驅(qū)動線開關(guān)536及/或多個感測線開關(guān)540，以在多條驅(qū)動線及/或感測線之間連接測試電容器Ctest。作為另一選擇，或此外，可在一特定時鐘周期內(nèi)同時驅(qū)動多條驅(qū)動線520a_520d。作為另一選擇，或此外，可通過在測試電容器Ctest兩端連接多條驅(qū)動線、多條感測線、或多個驅(qū)動線/感測線對來測試僅多條驅(qū)動線或僅多條測試線。換言之，亦可利用本發(fā)明實(shí)施例來測試一條軸線上的多條線以對是否相對于一已知參考點(diǎn)存在任何不規(guī)則性來進(jìn)行二元搜索(binarysearch)。以下顯示一測試演算法的一具體但非限制性實(shí)例的偽碼(pseudocode)，該測試演算法可用作本文所述測試過程的一部分。ForsenselinesOthroughnum—senses；ConnecttestcapacitorCtestbetweenselecteddriveandselectedsense；Fordrivelinesconnecteddrive-1throughconnecteddrive+1；Senddriveclockonselecteddriveline；Capturedataforconnectedsense-1throughconnectedsense+1；Examinearrayofdrive/sensedata.Common"large"numbersbetweentwoadjacentsenselinesindicateasense-to-senselineshort；Common"large"numbersbetweentwodrivelinesindicateadrive-to-drivelineshort；Reporttestresults；當(dāng)存在額外驅(qū)動/感測耦合、驅(qū)動/驅(qū)動耦合、感測/感測耦合、分流電容、及ITO電阻時，上述測試過程其中的一或多者可被實(shí)施。若額外測試電容器Ctest夠大，則二次面板影響(secondorderpaneleffect)相較于該測試電容器Ctest的影響一般可忽略不計(jì)。因此，該測試電容器Ctest可非?？煽康乇皇褂?，且一般不會導(dǎo)致對瑕疵產(chǎn)生錯誤檢測。此外，盡管本文已將某些實(shí)施例闡述為使用一測試電容器Ctest將一或多條驅(qū)動線耦合至一或多條感測線，然而本發(fā)明的實(shí)施例并不受限于此。舉例而言，可通過適用于連接二或更多條線(例如，將一或多條驅(qū)動線連接至一或多條感測線、將一條驅(qū)動線連接至另一條驅(qū)動線、將一條感測線連接至另一條感測線等)的其他電性耦合方式來實(shí)施測試電容器Ctest的功能。因此，經(jīng)由一測試電容器Ctest將各條線耦合于一起的概念可被擴(kuò)展至利用任何類型的適宜電性組件或?qū)y試的線進(jìn)行電性協(xié)調(diào)的組件系列?？筛郊佑诨虼鏈y試電容器Ctest而使用的適宜電性組件的實(shí)例包含但不限于一或多個二極管、一或多個電阻器、一或多個電感器等等。本說明中給出了具體細(xì)節(jié)來達(dá)成對所述實(shí)施例的透徹理解。然而，此項(xiàng)技術(shù)中的通常知識者將理解，亦可在沒有此等具體細(xì)節(jié)的情況下實(shí)踐所述實(shí)施例。舉例而言，為避免不必要的細(xì)節(jié)而使實(shí)施例模糊不清，可以方框圖形式顯示電路。在其他情形中，為避免使實(shí)施例模糊不清，可在不顯示不必要的細(xì)節(jié)情況下顯示眾所習(xí)知的電路、過程、演算法、結(jié)構(gòu)、以及技術(shù)。盡管本文已詳細(xì)闡述了本發(fā)明的例示性實(shí)施例，然而應(yīng)理解，可以其他方式來實(shí)施及采用本發(fā)明的概念，且隨附權(quán)利要求旨在被解釋為包含此種改變，除非受限于先前技術(shù)。權(quán)利要求1.一種觸控屏幕控制器，其特征在于，所述的觸控屏幕控制器包含至少一控制組件，用以通過于一觸控屏幕感測一使用者輸入并提供至少一輸出至一主機(jī)處理器，控制該觸控屏幕或其部分的至少一運(yùn)作，該至少一輸出表示該使用者輸入；以及至少一測試組件，用以測試該觸控屏幕或其元件的至少一瑕疵。2.如權(quán)利要求I所述的控制器，其特征在于，該至少一控制組件包含至少一指令，該至少一指令用于檢測自一感測電子器件所接收的電信號的量測值的變化并將該變化轉(zhuǎn)換成使用者輸入數(shù)據(jù)，該至少一測試組件包含一整合于該控制器內(nèi)的測試電容器。3.如權(quán)利要求2所述的控制器，其特征在于，該至少一測試組件更包含一開關(guān)矩陣，該開關(guān)矩陣用以選擇性地耦合及解耦合該測試電容器與該感測電子器件。4.如權(quán)利要求3所述的控制器，其特征在于，該開關(guān)矩陣更用以選擇性地耦合及解耦合該測試電容器與一驅(qū)動電子器件。5.如權(quán)利要求4所述的控制器，其特征在于，該測試電容器用以于該開關(guān)矩陣中的對應(yīng)驅(qū)動線開關(guān)及感測線開關(guān)閉合時，并聯(lián)連接于該驅(qū)動電子器件中的一驅(qū)動線與該感測電子器件中的一感測線之間。6.如權(quán)利要求4所述的控制器，其特征在于，該測試電容器包含一電容值，當(dāng)該驅(qū)動電子器件中的一驅(qū)動線被驅(qū)動時，該電容值為該驅(qū)動線與該感測電子器件中的一感測線之間的一互電容值的至少二倍。7.如權(quán)利要求I所述的控制器，其特征在于，該至少一測試組件包含一電性耦合機(jī)構(gòu)及至少一指令，該至少一指令用以通過選擇性地耦合及解耦合該電性耦合機(jī)構(gòu)與穿過該觸控屏幕的至少一驅(qū)動線及至少一感測線，執(zhí)行一觸控屏幕測試過程。8.一種集成電路，其特征在于，所述的集成電路包含如權(quán)利要求I所述的控制器。9.一種裝置，用以通過于一觸控屏幕檢測一使用者輸入并產(chǎn)生用于表示該使用者輸入的至少一電信號，控制該觸控屏幕，其特征在于，該裝置包含至少一測試組件，用以測試該觸控屏幕的一觸摸敏感面板的瑕疵。10.如權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，該至少一測試組件包含一驅(qū)動電子器件、一感測電子器件及一耦合機(jī)構(gòu)，該驅(qū)動電子器件電連接至該觸摸敏感面板中的多條驅(qū)動線，該感測電子器件電連接至該觸摸敏感面板中的多條感測線，該耦合機(jī)構(gòu)經(jīng)由一開關(guān)矩陣連接至該驅(qū)動電子器件及該感測電子器件。11.如權(quán)利要求10所述的裝置，其特征在于，該開關(guān)矩陣用以將該耦合機(jī)構(gòu)分別連接于該觸摸敏感面板中的各該驅(qū)動線與各該感測線之間。12.如權(quán)利要求10所述的裝置，其特征在于，該至少一測試組件更包含用以執(zhí)行一測試過程的至少一指令，該測試過程系通過控制該開關(guān)矩陣中的一開關(guān)的斷開或閉合，將該耦合機(jī)構(gòu)連接至一特定驅(qū)動線或一特定感測線。13.如權(quán)利要求12所述的裝置，其特征在于，更包含一存儲器，該存儲器儲存該至少一指令作為固件。14.一種使用者裝置，其特征在于，包含如權(quán)利要求9所述的裝置。15.一種用于檢測一觸控屏幕與一觸摸敏感面板至少其中之一的瑕疵的方法，其特征在于，該方法包含下列步驟自一觸控屏幕控制器擷取至少一指令；將包含于該觸控屏幕控制器內(nèi)的一測試電子器件連接至一驅(qū)動線/感測線對、一驅(qū)動線/驅(qū)動線對、以及一感測線/感測線對至少其中之一之間，以判斷該觸控屏幕與該觸摸敏感面板至少其中之一的一瑕疵；于該觸控屏幕控制器處量測橫跨該測試電子器件兩端的至少一電信號輸出；以及基于該至少一電信號輸出，判斷該觸控屏幕與該觸摸敏感面板至少其中之一包含該瑕疵。16.如權(quán)利要求15所述的方法，其特征在于，該連接步驟包含將一電性耦合裝置并聯(lián)連接于一第一驅(qū)動線與一第一感測線之間。17.如權(quán)利要求16所述的方法,其特征在于,量測該至少一電信號輸出包含確定于一第一感測線處的一第一電壓或電流讀數(shù)、確定于一第二感測線處的一第二電壓或電流讀數(shù)、以及比較該第一讀數(shù)與該第二讀數(shù)。18.如權(quán)利要求15所述的方法，其特征在于，該觸控屏幕包含一電容感測式觸控屏幕，且該觸摸敏感面板包含由敷于一基板上的氧化銦錫形成的多條導(dǎo)電跡線。19.如權(quán)利要求15所述的方法，其特征在于，所述的方法更包含下列步驟連接該測試電子器件至多條驅(qū)動線、多條感測線、以及多條驅(qū)動線/感測線對至少其中之一之間。20.如權(quán)利要求15所述的方法，其特征在于，更包含下列步驟通過依序地連接該測試電子器件至不同的驅(qū)動線與感測線之間，依序地測試不同的驅(qū)動線/感測線對。全文摘要本發(fā)明揭示一種用于測試一電容感測式觸控屏幕的測試系統(tǒng)。具體而言，該測試系統(tǒng)可包含于一用于控制該觸控屏幕的運(yùn)作的控制器中。該控制器可包含一集成電路，且該測試系統(tǒng)可對應(yīng)于被嵌入該集成電路中的一測試電容器。文檔編號G06F11/263GK102819476SQ20121011874公開日2012年12月12日申請日期2012年4月20日優(yōu)先權(quán)日2011年4月22日發(fā)明者莎朗根·納拉辛漢,瑪斯德斯·E·吉兒申請人:原相科技股份有限公司