專利名稱：電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的驗(yàn)證系統(tǒng)和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的驗(yàn)證系統(tǒng)和方法。
背景技術(shù)：
隨著科技的日益進(jìn)步和發(fā)展，一套完整的電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)也越來越復(fù)雜起來，例如計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，一套基本的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)包含機(jī)箱、電源、計(jì)算機(jī)板、中央處理器CPU、內(nèi)存條以及相應(yīng)的存貯設(shè)備硬盤等。因此電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)也隨之變得復(fù)雜起來。此外，對(duì)電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的驗(yàn)證是一個(gè)最重要的環(huán)節(jié)。針對(duì)復(fù)雜的電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)，如果驗(yàn)證電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的環(huán)節(jié)效率不高，那么計(jì)算機(jī)系統(tǒng)設(shè)計(jì)可靠性也不高，同時(shí)也大大增加了整個(gè)開發(fā)電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的成本
發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的驗(yàn)證方法，有效地對(duì)電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)進(jìn)行驗(yàn)證，提高計(jì)算機(jī)系統(tǒng)設(shè)計(jì)的可靠性。此外，還有必要提供一種電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的驗(yàn)證系統(tǒng)，有效地對(duì)電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)進(jìn)行驗(yàn)證，提高計(jì)算機(jī)系統(tǒng)設(shè)計(jì)的可靠性。一種電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的驗(yàn)證方法，應(yīng)用于計(jì)算機(jī)上，該方法包括建立步驟建立預(yù)設(shè)格式的電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)模塊與產(chǎn)品模塊失效模型數(shù)據(jù)，并存儲(chǔ)于計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)庫中；檢查步驟當(dāng)利用計(jì)算機(jī)的模塊化設(shè)計(jì)系統(tǒng)完成電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)后，讀取數(shù)據(jù)庫中的設(shè)計(jì)模塊的失效模型數(shù)據(jù)，對(duì)電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)進(jìn)行失效檢查，以判斷電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)是否合格 ’驗(yàn)證步驟當(dāng)電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)合格時(shí)，讀取數(shù)據(jù)庫中的產(chǎn)品模塊的失效模型數(shù)據(jù)，對(duì)電子產(chǎn)品的產(chǎn)品模塊進(jìn)行驗(yàn)證；獲取步驟當(dāng)電子產(chǎn)品的產(chǎn)品模塊驗(yàn)證成功時(shí)，獲取運(yùn)行該電子產(chǎn)品的故障數(shù)據(jù)；更新步驟當(dāng)獲取到故障數(shù)據(jù)時(shí)，更新該故障數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化的預(yù)設(shè)格式的失效模型數(shù)據(jù)至數(shù)據(jù)庫中。一種電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的驗(yàn)證系統(tǒng)，運(yùn)行于計(jì)算機(jī)上，該系統(tǒng)包括建立模塊，用于建立預(yù)設(shè)格式的電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)模塊與產(chǎn)品模塊失效模型數(shù)據(jù)，并存儲(chǔ)于計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)庫中；檢查模塊，用于當(dāng)利用計(jì)算機(jī)的模塊化設(shè)計(jì)系統(tǒng)完成電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)后，讀取數(shù)據(jù)庫中的設(shè)計(jì)模塊的失效模型數(shù)據(jù)，對(duì)電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)進(jìn)行失效檢查，以判斷電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)是否合格；驗(yàn)證模塊，用于當(dāng)電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)合格時(shí)，讀取數(shù)據(jù)庫中的產(chǎn)品模塊的失效模型數(shù)據(jù)，對(duì)電子產(chǎn)品的產(chǎn)品模塊進(jìn)行驗(yàn)證；獲取模塊，用于當(dāng)電子產(chǎn)品的產(chǎn)品模塊驗(yàn)證成功時(shí)，獲取運(yùn)行該電子產(chǎn)品的故障數(shù)據(jù)；更新模塊，用于當(dāng)獲取到故障數(shù)據(jù)時(shí)，當(dāng)獲取到故障數(shù)據(jù)時(shí)，更新該故障數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化的預(yù)設(shè)格式的失效模型數(shù)據(jù)至數(shù)據(jù)庫中。相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明提供的電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的驗(yàn)證系統(tǒng)及方法，基于FMEA(Failure Mode and Effects Analysis,失效模式與影響分析)的原理，有效地對(duì)電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)進(jìn)行驗(yàn)證，降低了一定的設(shè)計(jì)開發(fā)成本、提高了電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的可靠性，同時(shí)也提高了電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的效率。


圖I是本發(fā)明電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的驗(yàn)證系統(tǒng)較佳實(shí)施例的運(yùn)行環(huán)境示意圖。圖2是本發(fā)明電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的驗(yàn)證系統(tǒng)的較佳實(shí)施例的功能模塊圖。圖3是本發(fā)明電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的驗(yàn)證系統(tǒng)中失效模型數(shù)據(jù)較佳實(shí)施例的示意圖。圖4是本發(fā)明電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的驗(yàn)證方法的較佳實(shí)施例的流程圖。主要元件符號(hào)說明
權(quán)利要求
1.一種電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的驗(yàn)證方法，其特征在于，該方法包括 建立步驟建立預(yù)設(shè)格式的電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)模塊與產(chǎn)品模塊的失效模型數(shù)據(jù)，并存儲(chǔ)于計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)庫中； 檢查步驟當(dāng)利用計(jì)算機(jī)的模塊化設(shè)計(jì)系統(tǒng)完成電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)后，讀取數(shù)據(jù)庫中的設(shè)計(jì)模塊的失效模型數(shù)據(jù)，對(duì)電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)進(jìn)行失效檢查，以判斷電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)是否合格； 驗(yàn)證步驟當(dāng)電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)合格時(shí)，讀取數(shù)據(jù)庫中的產(chǎn)品模塊的失效模型數(shù)據(jù)，對(duì)電子產(chǎn)品的產(chǎn)品模塊進(jìn)行驗(yàn)證； 獲取步驟當(dāng)電子產(chǎn)品的產(chǎn)品模塊驗(yàn)證成功時(shí)，獲取運(yùn)行該電子產(chǎn)品的故障數(shù)據(jù)； 更新步驟當(dāng)獲取到故障數(shù)據(jù)時(shí)，更新該故障數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化的預(yù)設(shè)格式的失效模型數(shù)據(jù)至數(shù)據(jù)庫中。
2.如權(quán)利要求I所述的電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的驗(yàn)證方法，其特征在于，所述設(shè)計(jì)模塊的失效模型數(shù)據(jù)是根據(jù)電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的規(guī)格要求以及電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)建立的； 所述的產(chǎn)品失效模型是根據(jù)驗(yàn)證電子產(chǎn)品的實(shí)際經(jīng)驗(yàn)來建立的；以及所述的失效模型數(shù)據(jù)包括電子產(chǎn)品的各設(shè)計(jì)模塊或各產(chǎn)品模塊的預(yù)估失效模型、預(yù)估失效影響、嚴(yán)重度S、預(yù)估失效原因、發(fā)生率O、難檢度D、風(fēng)險(xiǎn)優(yōu)先數(shù)RPN、建議控制措施數(shù)據(jù)。
3.如權(quán)利要求2所述的電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的驗(yàn)證方法，其特征在于，所述的檢查步驟包括 針對(duì)設(shè)計(jì)模塊失效模型數(shù)據(jù)中的每個(gè)設(shè)計(jì)模塊均生成一個(gè)設(shè)計(jì)檢查項(xiàng)目表，該設(shè)計(jì)檢查項(xiàng)目表中的設(shè)計(jì)檢查項(xiàng)目是根據(jù)該設(shè)計(jì)模塊的預(yù)估失效模型生成的； 讀取計(jì)算機(jī)中的測(cè)試軟件依次對(duì)電子產(chǎn)品的各設(shè)計(jì)模塊中的設(shè)計(jì)檢查項(xiàng)目進(jìn)行測(cè)試，判斷是否有任意一個(gè)設(shè)計(jì)檢查項(xiàng)目的測(cè)試結(jié)果是該設(shè)計(jì)檢查項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的預(yù)估失效模型； 一旦有設(shè)計(jì)檢查項(xiàng)目的測(cè)試結(jié)果是其對(duì)應(yīng)的預(yù)估失效模型，表示該電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)不合格； 當(dāng)沒有設(shè)計(jì)模塊的設(shè)計(jì)檢查項(xiàng)目的測(cè)試結(jié)果是其對(duì)應(yīng)的預(yù)估失效模型時(shí)，表示電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)合格。
4.如權(quán)利要求3所述的電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的驗(yàn)證方法，其特征在于，所述的驗(yàn)證步驟包括 針對(duì)產(chǎn)品模塊的失效模型數(shù)據(jù)中每個(gè)產(chǎn)品模塊均生成一個(gè)產(chǎn)品檢查項(xiàng)目表，該產(chǎn)品檢查項(xiàng)目表中的產(chǎn)品檢查項(xiàng)目是根據(jù)該產(chǎn)品模塊的預(yù)估失效模型生成的； 讀取計(jì)算機(jī)中的測(cè)試軟件對(duì)電子產(chǎn)品的各產(chǎn)品檢查項(xiàng)目表中的產(chǎn)品檢查項(xiàng)目依次進(jìn)行測(cè)試，判斷是否有任意一個(gè)產(chǎn)品檢查項(xiàng)目的測(cè)試結(jié)果是該產(chǎn)品檢查項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的預(yù)估失效模型； 一旦有產(chǎn)品檢查項(xiàng)目的測(cè)試結(jié)果是其對(duì)應(yīng)的預(yù)估失效模型，表示電子產(chǎn)品驗(yàn)證不成功； 當(dāng)沒有產(chǎn)品模塊產(chǎn)品檢查項(xiàng)目的測(cè)試結(jié)果是其對(duì)應(yīng)的預(yù)估失效模型時(shí)，表示電子產(chǎn)品的產(chǎn)品模塊驗(yàn)證成功。
5.如權(quán)利要求4所述的電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的驗(yàn)證方法，其特征在于，該方法還包括步驟 提示步驟一一旦有設(shè)計(jì)模塊的設(shè)計(jì)檢查項(xiàng)目的測(cè)試結(jié)果是其對(duì)應(yīng)的預(yù)估失效模型時(shí)，或一旦有產(chǎn)品檢查項(xiàng)目的測(cè)試結(jié)果是其對(duì)應(yīng)的預(yù)估失效模型時(shí)，提示該預(yù)估失效模型及其對(duì)應(yīng)的失效模型數(shù)據(jù)；以及 在提示步驟或更新步驟后，再次利用模塊化設(shè)計(jì)系統(tǒng)完成電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)并重新返回檢查步驟。
6.一種電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的驗(yàn)證系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)包括 建立模塊，用于建立預(yù)設(shè)格式的電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)模塊與產(chǎn)品模塊失效模型數(shù)據(jù)，并存儲(chǔ)于計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)庫中； 檢查模塊，用于當(dāng)利用計(jì)算機(jī)的模塊化設(shè)計(jì)系統(tǒng)完成電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)后，讀取數(shù)據(jù)庫中的設(shè)計(jì)模塊的失效模型數(shù)據(jù)，對(duì)電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)進(jìn)行失效檢查，以判斷電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)是否合格； 驗(yàn)證模塊，用于當(dāng)電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)合格時(shí)，讀取數(shù)據(jù)庫中的產(chǎn)品模塊的失效模型數(shù)據(jù)，對(duì)電子產(chǎn)品的產(chǎn)品模塊進(jìn)行驗(yàn)證； 獲取模塊，用于當(dāng)電子產(chǎn)品的產(chǎn)品模塊驗(yàn)證成功時(shí)，獲取運(yùn)行該電子產(chǎn)品的故障數(shù)據(jù)； 更新模塊，用于當(dāng)獲取到故障數(shù)據(jù)時(shí)，當(dāng)獲取到故障數(shù)據(jù)時(shí)，更新該故障數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化的預(yù)設(shè)格式的失效模型數(shù)據(jù)至數(shù)據(jù)庫中。
7.如權(quán)利要求6所述的電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的驗(yàn)證系統(tǒng)，其特征在于，所述設(shè)計(jì)模塊的失效模型數(shù)據(jù)是根據(jù)電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的規(guī)格要求以及電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)建立的； 所述的產(chǎn)品失效模型是根據(jù)驗(yàn)證電子產(chǎn)品的實(shí)際經(jīng)驗(yàn)來建立的；以及所述的失效模型數(shù)據(jù)包括電子產(chǎn)品的各設(shè)計(jì)模塊或各產(chǎn)品模塊的預(yù)估失效模型、預(yù)估失效影響、嚴(yán)重度S、預(yù)估失效原因、發(fā)生率O、難檢度D、風(fēng)險(xiǎn)優(yōu)先數(shù)RPN、建議控制措施數(shù)據(jù)。
8.如權(quán)利要求7所述的電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的驗(yàn)證系統(tǒng)，其特征在于，所述的檢查模塊對(duì)電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)進(jìn)行失效檢查包括 針對(duì)設(shè)計(jì)模塊失效模型數(shù)據(jù)中的每個(gè)設(shè)計(jì)模塊均生成一個(gè)設(shè)計(jì)檢查項(xiàng)目表，該設(shè)計(jì)檢查項(xiàng)目表中的設(shè)計(jì)檢查項(xiàng)目是根據(jù)該設(shè)計(jì)模塊的預(yù)估失效模型生成的； 讀取計(jì)算機(jī)中測(cè)試軟件依次對(duì)電子產(chǎn)品的各設(shè)計(jì)模塊中的設(shè)計(jì)檢查項(xiàng)目進(jìn)行測(cè)試，判斷是否有任意一個(gè)設(shè)計(jì)檢查項(xiàng)目的測(cè)試結(jié)果是該設(shè)計(jì)檢查項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的預(yù)估失效模型； 一旦有設(shè)計(jì)檢查項(xiàng)目的測(cè)試結(jié)果是其對(duì)應(yīng)的預(yù)估失效模型，表示該電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)不合格； 當(dāng)沒有設(shè)計(jì)模塊的設(shè)計(jì)檢查項(xiàng)目的測(cè)試結(jié)果是其對(duì)應(yīng)的預(yù)估失效模型時(shí)，表示該電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)合格。
9.如權(quán)利要求8所述的電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的驗(yàn)證系統(tǒng)，其特征在于，所述的驗(yàn)證模塊對(duì)電子產(chǎn)品的產(chǎn)品模塊進(jìn)行驗(yàn)證包括 針對(duì)產(chǎn)品模塊的失效模型數(shù)據(jù)中每個(gè)產(chǎn)品模塊均生成一個(gè)產(chǎn)品檢查項(xiàng)目表，該產(chǎn)品檢查項(xiàng)目表中的產(chǎn)品檢查項(xiàng)目是根據(jù)該產(chǎn)品模塊的預(yù)估失效模型生成的； 讀取計(jì)算機(jī)中測(cè)試軟件對(duì)電子產(chǎn)品的各產(chǎn)品模塊中的產(chǎn)品檢查項(xiàng)目依次進(jìn)行測(cè)試，判斷是否有任意一個(gè)產(chǎn)品檢查項(xiàng)目的測(cè)試結(jié)果是該產(chǎn)品檢查項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的預(yù)估失效模型； 一旦有產(chǎn)品檢查項(xiàng)目的測(cè)試結(jié)果是其對(duì)應(yīng)的預(yù)估失效模型，表示電子產(chǎn)品驗(yàn)證不成功； 當(dāng)沒有產(chǎn)品模塊的產(chǎn)品檢查項(xiàng)目的測(cè)試結(jié)果是其對(duì)應(yīng)的預(yù)估失效模型時(shí)，表示電子產(chǎn)品的產(chǎn)品模塊驗(yàn)證成功。
10.如權(quán)利要求9所述的電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的驗(yàn)證系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)還包括提示模塊，用于一旦有設(shè)計(jì)模塊的設(shè)計(jì)檢查項(xiàng)目的測(cè)試結(jié)果是其對(duì)應(yīng)的預(yù)估失效模型時(shí)，或一旦有產(chǎn)品模塊的產(chǎn)品檢查項(xiàng)目的測(cè)試結(jié)果是其對(duì)應(yīng)的預(yù)估失效模型時(shí)，提示該預(yù)估失效模型及其對(duì)應(yīng)的失效模型數(shù)據(jù)。
全文摘要
一種電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的驗(yàn)證系統(tǒng)及方法，包括步驟建立預(yù)設(shè)格式的電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)模塊與產(chǎn)品模塊的失效模型數(shù)據(jù)于數(shù)據(jù)庫中；當(dāng)利用計(jì)算機(jī)的模塊化設(shè)計(jì)系統(tǒng)完成后，讀取設(shè)計(jì)模塊的失效模型數(shù)據(jù)檢查電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)是否合格；當(dāng)檢查電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)合格時(shí)，讀取產(chǎn)品模塊的失效模型數(shù)據(jù)以對(duì)電子產(chǎn)品的產(chǎn)品模塊進(jìn)行驗(yàn)證，當(dāng)電子產(chǎn)品的產(chǎn)品模塊驗(yàn)證成功時(shí)，獲取運(yùn)行該電子產(chǎn)品的故障數(shù)據(jù)，當(dāng)獲取到故障數(shù)據(jù)時(shí)，更新該故障數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化的預(yù)設(shè)格式的失效模型數(shù)據(jù)至數(shù)據(jù)庫中。利用本發(fā)明可以方便用戶能快速有效地對(duì)電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)進(jìn)行驗(yàn)證。
文檔編號(hào)G06F17/50GK102810122SQ201110147300
公開日2012年12月5日 申請(qǐng)日期2011年6月2日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月2日
發(fā)明者黃永兆 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司