專利名稱：獨立磁盤冗余陣列系統(tǒng)及其數(shù)據(jù)恢復(fù)方法
獨立磁盤冗余陣列系統(tǒng)及其數(shù)據(jù)恢復(fù)方法技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明實施例涉及磁盤數(shù)據(jù)恢復(fù)技術(shù)，尤其涉及一種獨立磁盤冗余陣列系統(tǒng)及其 數(shù)據(jù)恢復(fù)方法。
背景技術(shù)：
串行高級技術(shù)附件(Serial Advanced Technology Attachment ；簡稱SATA)硬 盤容量大，價格便宜，但是可靠性差。據(jù)統(tǒng)計，SATA硬盤的誤碼率(Bit Error Rate ；簡稱 BER)為10" 14比特，約為12TB，即每讀取12T數(shù)據(jù)會出現(xiàn)一次讀取錯誤，如果讀取錯誤發(fā)生 在重構(gòu)時，就會出現(xiàn)雙盤失效。在成員盤數(shù)量多的情況下進(jìn)行全盤的重構(gòu)，出現(xiàn)這種雙盤失 效的概率很大。即使可修復(fù)錯誤在降級情況下，也是無法采用重構(gòu)進(jìn)行修復(fù)的，也存在大量 的重構(gòu)過程中出現(xiàn)的雙盤失效事件。
獨立磁盤冗余陣列(RedundantArray of Independent DISK ；簡稱RAID)可以 由多個磁盤組成，例如由多個SATA硬盤組成。目前，RAID5依賴的校驗信息屬于同一個條 帶，只能在出現(xiàn)一個失效的分條單元時進(jìn)行錯誤修復(fù)，在降級狀態(tài)例如一個條帶中已出現(xiàn) 一個分條單元失效的情況下，無法修復(fù)其他的可修復(fù)錯誤，即無法在同一個分條內(nèi)出現(xiàn)雙 分條單元失效的情況下修復(fù)錯誤，從而恢復(fù)數(shù)據(jù)。RAID6為一種可以在兩塊磁盤同時故障的 條件下繼續(xù)執(zhí)行RAID組中讀寫請求的RAID類型，使用了兩種校驗數(shù)據(jù)的計算技術(shù)，具體為 采用P+Q雙重校驗，可以在降級狀態(tài)下修復(fù)其他的可修復(fù)錯誤。其中，P校驗的計算方法跟 與RAID5 —樣；Q校驗采用基于feilois域GF (28)的Reed-Solomon算法，具體地，P和Q符 合以下公式
P=各數(shù)據(jù)盤XOR結(jié)果
Q =各數(shù)據(jù)盤的(Gf)XOR結(jié)果
以下表1為現(xiàn)有RAID6的一種示例，其中，每一列表示一個磁盤的各個分條單元， 每一行表示RAID系統(tǒng)的一個條帶，Dl D3為各個磁盤的數(shù)據(jù)分條單元，Pl P4為每個條 帶的條帶分條校驗單元(與RAID5中的條帶分條校驗單元類似)，Q1 Q4為每個條帶的帶 中間系數(shù)的條帶分條校驗單元
表 權(quán)利要求
1.一種獨立磁盤冗余陣列系統(tǒng)，其特征在于，包括至少一個獨立磁盤冗余陣列組，所 述獨立磁盤冗余陣列組由至少三個磁盤組成，所述獨立磁盤冗余陣列組的數(shù)據(jù)按照條帶進(jìn) 行劃分，每個條帶的分條單元分布在所述獨立磁盤冗余陣列組的不同磁盤上；每個條帶包括一個條帶分條校驗單元和至少兩個數(shù)據(jù)分條單元，所述條帶分條校驗單 元的校驗信息用于對其所歸屬條帶的各個數(shù)據(jù)分條單元進(jìn)行校驗和數(shù)據(jù)恢復(fù)；每個磁盤包括至少一個磁盤分條校驗單元，所述磁盤分條校驗單元的校驗信息用于對 其所歸屬磁盤中一組對應(yīng)的分條單元進(jìn)行校驗和數(shù)據(jù)恢復(fù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的獨立磁盤冗余陣列系統(tǒng)，其特征在于，所述條帶分條校驗單 元的校驗信息為其所歸屬條帶的各個數(shù)據(jù)分條單元中數(shù)據(jù)信息的異或值。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的獨立磁盤冗余陣列系統(tǒng)，其特征在于，所述磁盤分條校驗 單元的校驗信息為其所歸屬磁盤中一組對應(yīng)的分條單元中數(shù)據(jù)信息的異或值。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的獨立磁盤冗余陣列系統(tǒng)，其特征在于，所述獨立磁盤冗余 陣列系統(tǒng)的每個磁盤分條校驗單元所對應(yīng)的一組分條單元的分條單元數(shù)相同。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的獨立磁盤冗余陣列系統(tǒng)，其特征在于，每個磁盤分條校驗 單元所對應(yīng)的一組分條單元的分條單元數(shù)分別為預(yù)定值。
6.一種獨立磁盤冗余陣列系統(tǒng)的數(shù)據(jù)恢復(fù)方法，其特征在于，包括檢測獨立磁盤冗余陣列系統(tǒng)是否存在失效的分條單元；若存在，則根據(jù)所述失效的分條單元所歸屬磁盤的磁盤分條校驗單元的校驗信息對所 述失效的分條單元進(jìn)行校驗和數(shù)據(jù)恢復(fù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的獨立磁盤冗余陣列系統(tǒng)的數(shù)據(jù)恢復(fù)方法，其特征在于，所述 根據(jù)所述失效的分條單元所歸屬磁盤的磁盤分條校驗單元的校驗信息對所述失效的分條 單元進(jìn)行校驗和數(shù)據(jù)恢復(fù)，具體包括若所述失效的分條單元所歸屬條帶或磁盤的失效單元的數(shù)量為一個，則根據(jù)所述失效 的分條單元所歸屬磁盤的磁盤分條校驗單元的校驗信息對所述失效的分條單元進(jìn)行校驗 和數(shù)據(jù)恢復(fù)；若失效的分條單元所歸屬條帶的失效單元的數(shù)量為兩個，則根據(jù)所述失效的分條單元 所歸屬磁盤的磁盤分條校驗單元的校驗信息對所述失效的分條單元進(jìn)行校驗和數(shù)據(jù)恢復(fù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的獨立磁盤冗余陣列系統(tǒng)的數(shù)據(jù)恢復(fù)方法，其特征在于，所 述獨立磁盤冗余陣列系統(tǒng)的條帶分條校驗單元的校驗信息為其所歸屬條帶的各個數(shù)據(jù)分 條單元中數(shù)據(jù)信息的異或值。
9.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的獨立磁盤冗余陣列系統(tǒng)的數(shù)據(jù)恢復(fù)方法，其特征在于，所 述磁盤分條校驗單元的校驗信息為其所歸屬磁盤中一組對應(yīng)的分條單元中數(shù)據(jù)信息的異 或值。
10.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的獨立磁盤冗余陣列系統(tǒng)的數(shù)據(jù)恢復(fù)方法，其特征在于， 所述檢測獨立磁盤冗余陣列系統(tǒng)是否存在失效的分條單元之前，還包括設(shè)置所述磁盤分條校驗單元所歸屬磁盤中對應(yīng)的一組分條單元的分條單元數(shù)。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的獨立磁盤冗余陣列系統(tǒng)的數(shù)據(jù)恢復(fù)方法，其特征在于，所 述設(shè)置所述磁盤分條校驗單元所歸屬磁盤中對應(yīng)的一組分條單元的分條單元數(shù)，包括將所述獨立磁盤冗余陣列系統(tǒng)的每個磁盤分條校驗單元所歸屬磁盤中對應(yīng)的一組分條單元的分條單元數(shù)設(shè)置為相同。
12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的獨立磁盤冗余陣列系統(tǒng)的數(shù)據(jù)恢復(fù)方法，其特征在于，所 述設(shè)置所述磁盤分條校驗單元所歸屬磁盤中一組對應(yīng)的一組分條單元的分條單元數(shù)，包 括將每個磁盤分條校驗單元所歸屬磁盤中對應(yīng)的一組分條單元的分條單元數(shù)分別設(shè)置 為預(yù)定值。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種獨立磁盤冗余陣列系統(tǒng)及其數(shù)據(jù)恢復(fù)方法，該系統(tǒng)包括至少一個獨立磁盤冗余陣列組，獨立磁盤冗余陣列組由至少三個磁盤組成，所述獨立磁盤冗余陣列組的數(shù)據(jù)按照條帶進(jìn)行劃分，每個條帶的分條單元分布在所述獨立磁盤冗余陣列組的不同磁盤上；每個條帶包括一個條帶分條校驗單元和至少兩個數(shù)據(jù)分條單元；每個磁盤包括至少一個磁盤分條校驗單元，所述磁盤分條校驗單元的校驗信息用于對其所歸屬磁盤中一組對應(yīng)的分條單元進(jìn)行校驗和數(shù)據(jù)恢復(fù)。本發(fā)明通過條帶分條校驗單元和磁盤分條校驗單元的校驗信息對分條單元校驗和數(shù)據(jù)恢復(fù)，修復(fù)降級狀態(tài)下的磁盤可修復(fù)錯誤簡單，磁盤空間利用率高。
文檔編號G06F11/10GK102043685SQ20101062467
公開日2011年5月4日 申請日期2010年12月31日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月31日
發(fā)明者劉昕 申請人:成都市華為賽門鐵克科技有限公司