專利名稱:觸控面板近接偵測裝置與方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明關(guān)于一種觸控面板,特別是關(guān)于一種觸控面板近接偵測裝置與方法。
背景技術(shù):
隨著光電科技的發(fā)展,近接切換裝置已被大量運(yùn)用在不同的機(jī)器上,例如智能性手機(jī)、運(yùn)輸工具的購票系統(tǒng)、數(shù)字照像機(jī)、遙控器與液晶屏幕等。常見的近接切換裝置 (Proximity Device)包括如近接傳感器(Proximity sensor)與角蟲控面板(touch panel) 等。其中,近接傳感器的運(yùn)作方式為當(dāng)一物體靠近傳感器的感應(yīng)范圍內(nèi),近接傳感器在觸及該物體或不觸及物體的狀況下,經(jīng)由近接感應(yīng)的方式得知該物體接近近接傳感器所在的位置。近接傳感器將感應(yīng)所得的信號轉(zhuǎn)變?yōu)橐浑娮有盘?,系統(tǒng)或機(jī)器會(huì)依據(jù)該電子信號做出適當(dāng)?shù)姆磻?yīng),達(dá)成控制系統(tǒng)狀態(tài)的目的。觸控面板則用于觸碰坐標(biāo)的計(jì)算,如單點(diǎn)觸碰坐標(biāo)或者多點(diǎn)觸碰坐標(biāo)的計(jì)算。近接傳感器又稱近接開關(guān)(Proximity Switch),應(yīng)用在許多液晶電視、電源開關(guān)、 家電開關(guān)、門禁系統(tǒng)、手持式遙控器與手機(jī)等,近年來,更是這些裝置與設(shè)備不可或缺的角色之一。它負(fù)責(zé)偵測物體是否靠近,以便讓控制器了解目前物體所在的位置。以家電應(yīng)用來說,近接傳感器被大量用在燈源的控制上,只要靠近近接傳感器或碰觸近接傳感器,依據(jù)感測信號燈源就可進(jìn)行開或關(guān)的動(dòng)作。而近接傳感器的種類及外型琳瑯滿目,為長方型、四方型、圓柱型、圓孔型、溝型、多點(diǎn)型等。依其原理可分成以下4種類型電感式、電容式、光電式與磁氣式。由上可知,近接傳感器與觸控面板的應(yīng)用領(lǐng)域差異極大,分別做為切換開關(guān)與觸碰坐標(biāo)的計(jì)算。以目前的技術(shù)而言,并未有如何處理近接傳感器與觸控面板兩者的整合應(yīng)用技術(shù)。因此,如何能整合近接傳感器與觸控面板兩者,進(jìn)而讓近接傳感器的短距離空間感測功能與觸碰坐標(biāo)偵測功能整合,成為可讓電子設(shè)備大幅增加應(yīng)用功能可能性的研究方向。
發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上公知技術(shù)的問題,本發(fā)明提供一種觸控面板近接偵測裝置與方法,用以偵測空間中對象進(jìn)入觸控面板的感應(yīng)范圍的情形。本發(fā)明提出一種觸控面板近接偵測裝置,包括以下主要組件電容式觸控面板與控制單元。其中,電容式觸控面板,具有位于同一平面的多個(gè)電極,該些電極彼此絕緣并各自對應(yīng)于一坐標(biāo),該些電極用以偵測一對象的接近而產(chǎn)生一感應(yīng)信號,并偵測該對象的觸碰而產(chǎn)生一觸碰信號。控制單元,連接電容式觸控面板并具有一近接偵測模式與一觸碰偵測模式,當(dāng)執(zhí)行近接偵測模式時(shí),依據(jù)感應(yīng)信號產(chǎn)生一近接數(shù)據(jù);當(dāng)執(zhí)行觸碰偵測模式時(shí), 依據(jù)觸碰信號計(jì)算對象的至少一坐標(biāo)數(shù)據(jù)。本發(fā)明更提供一種觸控面板近接偵測方法,運(yùn)用于具有多個(gè)電極的一面板,該些電極彼此絕緣且對應(yīng)于一坐標(biāo),用以偵測一對象的接近而產(chǎn)生一感應(yīng)信號且偵測該對象的觸碰而產(chǎn)生一觸碰信號,該方法包含以下步驟提供該電容式觸控面板一近接偵測模式; 執(zhí)行該近接偵測模式;依據(jù)一工作時(shí)序,偵測一對象進(jìn)入該些電極的空間感應(yīng)區(qū)所產(chǎn)生的該感應(yīng)信號;依據(jù)該工作時(shí)序與該電極所輸出的該感應(yīng)信號,產(chǎn)生一近接數(shù)據(jù);及依據(jù)不同的該工作時(shí)序、該電極的該坐標(biāo)與該電極所對應(yīng)的該近接數(shù)據(jù),計(jì)算該對象的一 X軸移動(dòng)趨勢、一 Y軸移動(dòng)趨勢與一 Z軸移動(dòng)趨勢。為讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征、和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂,下文特舉數(shù)個(gè)較佳實(shí)施例,并配合附圖,作詳細(xì)說明如下
圖IA為其為本發(fā)明的觸控面板近接偵測裝置的功能方塊圖;圖IB為其為本發(fā)明的觸控面板近接偵測裝置的功能方塊圖中選擇近接偵測模式的示意圖;圖2A為運(yùn)用本發(fā)明觸控面板近接偵測裝置中,對象以軌跡32經(jīng)過觸控面板11時(shí)的偵測示意圖;圖2B為運(yùn)用本發(fā)明觸控面板近接偵測裝置中,對象2以軌跡32經(jīng)過觸控面板11 時(shí)的A-A剖面?zhèn)蓽y示意圖;圖2C為運(yùn)用本發(fā)明觸控面板近接偵測裝置中,對象2以軌跡32經(jīng)過觸控面板11 時(shí)的B-B剖面?zhèn)蓽y示意圖;圖2D為運(yùn)用本發(fā)明觸控面板近接偵測裝置中,對象2以軌跡32經(jīng)過觸控面板11 時(shí),于時(shí)序T1、T2所輸出的近接數(shù)據(jù)示意圖;圖2Ε為運(yùn)用本發(fā)明觸控面板近接偵測裝置中,對象2以軌跡32經(jīng)過觸控面板11 時(shí),于時(shí)序Τ3、Τ4所輸出的近接數(shù)據(jù)示意圖;圖2F為運(yùn)用本發(fā)明觸控面板近接偵測裝置中,對象2以軌跡32經(jīng)過觸控面板11 時(shí),于時(shí)序Τ5、Τ6所輸出的近接數(shù)據(jù)示意圖;圖2G為圖2D中,于時(shí)序Tl所輸出的近接數(shù)據(jù)詳細(xì)內(nèi)容示意圖;圖2Η為圖2D中,于時(shí)序Τ2所輸出的近接數(shù)據(jù)詳細(xì)內(nèi)容示意圖;圖21為圖2Ε中,于時(shí)序Τ3所輸出的近接數(shù)據(jù)詳細(xì)內(nèi)容示意圖;圖2J為圖2Ε中,于時(shí)序Τ4所輸出的近接數(shù)據(jù)詳細(xì)內(nèi)容示意圖;圖I為圖2F中,于時(shí)序Τ5所輸出的近接數(shù)據(jù)詳細(xì)內(nèi)容示意圖;圖2L為圖2F中,于時(shí)序Τ6所輸出的近接數(shù)據(jù)詳細(xì)內(nèi)容示意圖;圖3Α為運(yùn)用本發(fā)明觸控面板近接偵測裝置中,對象以軌跡32經(jīng)過觸控面板11時(shí)的偵測示意圖,其為選擇近接偵測模式下的實(shí)施例;圖;3Β為運(yùn)用本發(fā)明觸控面板近接偵測裝置中,對象2以軌跡32經(jīng)過觸控面板11 時(shí)的A-A剖面?zhèn)蓽y示意圖;圖3C為運(yùn)用本發(fā)明觸控面板近接偵測裝置中,對象2以軌跡32經(jīng)過觸控面板11 時(shí)的B-B剖面?zhèn)蓽y示意圖;圖3D為運(yùn)用本發(fā)明觸控面板近接偵測裝置中,對象2以軌跡32經(jīng)過觸控面板11 時(shí),于時(shí)序Τ1、Τ2所輸出的近接數(shù)據(jù)示意圖;圖3Ε為運(yùn)用本發(fā)明觸控面板近接偵測裝置中,對象2以軌跡32經(jīng)過觸控面板11吋,于時(shí)序T3、T4所輸出的近接數(shù)據(jù)示意圖;圖3F為運(yùn)用本發(fā)明觸控面板近接偵測裝置中,對象2以軌跡32經(jīng)過觸控面板11 吋,于時(shí)序T5、T6所輸出的近接數(shù)據(jù)示意圖;圖3G為圖3D中,于時(shí)序Tl所輸出的近接數(shù)據(jù)詳細(xì)內(nèi)容示意圖;圖3H為圖3D中,于時(shí)序T2所輸出的近接數(shù)據(jù)詳細(xì)內(nèi)容示意圖;圖31為圖3E中,于時(shí)序T3所輸出的近接數(shù)據(jù)詳細(xì)內(nèi)容示意圖;圖3J為圖3E中,于時(shí)序T4所輸出的近接數(shù)據(jù)詳細(xì)內(nèi)容示意圖;圖I為圖3F中,于時(shí)序T5所輸出的近接數(shù)據(jù)詳細(xì)內(nèi)容示意圖;圖3L為圖3F中,于時(shí)序T6所輸出的近接數(shù)據(jù)詳細(xì)內(nèi)容示意圖;圖4為運(yùn)用本發(fā)明的觸控面板近接偵測裝置,所偵測出的空間相對坐標(biāo),再依據(jù) 空間相對坐標(biāo)計(jì)算得移動(dòng)趨勢,再由移動(dòng)趨勢判斷手勢的示意圖;圖5為本發(fā)明的觸控面板三維近接感應(yīng)偵測方法流程圖,ー階近接偵測模式的一 實(shí)施例;圖6為本發(fā)明的觸控面板三維近接感應(yīng)偵測方法流程圖,多階近接偵測模式的一 實(shí)施例;圖7為本發(fā)明的觸控面板三維近接感應(yīng)偵測方法流程圖,多階近接偵測模式的另 一實(shí)施例;圖8為本發(fā)明的觸控面板三維近接感應(yīng)偵測方法流程圖,選擇近接偵測模式的一 實(shí)施例;及圖9為本發(fā)明的觸控面板三維近接感應(yīng)偵測方法流程圖,選擇近接偵測模式的另 ー實(shí)施例。符號說明1 觸控面板近接偵測裝置2物件11 觸控面板14 觸控感測電路16近接感測電路18 控制電路El E24 電極22 控制單元24連接板32、34軌跡41、42、43、44、45、46、47、53、59 感應(yīng)范圍Dl 距離Pl P7 相對坐標(biāo)Tl T6 時(shí)序
具體實(shí)施例方式本發(fā)明運(yùn)用電容式觸控面板本身所具有的近接感應(yīng)功能,將所偵測到的近接感應(yīng) 信號輸出為近接數(shù)據(jù),并依據(jù)近接數(shù)據(jù)計(jì)算出各個(gè)維度的移動(dòng)趨勢,再依據(jù)各個(gè)維度的移 動(dòng)趨勢來計(jì)算近接空間當(dāng)中的手勢判斷,進(jìn)而輸出為控制指令。其中,本發(fā)明運(yùn)用一控制單 元來實(shí)現(xiàn)觸控感測與近接感測功能,并通過単一總線輸出代表近接感應(yīng)信號結(jié)果的近接數(shù) 據(jù)與代表觸碰坐標(biāo)的坐標(biāo)資料。電容式觸控面板主要分兩類,分別為表面電容式觸控面板與投射電容式觸控面 板。投射電容式觸控面板具有可偵測多點(diǎn)觸碰的功能,然而,近年來,也有廠商將表面電容式觸控面板制作為可偵測多點(diǎn)觸碰的功能。無論何種電容式觸控面板,本發(fā)明可運(yùn)用單層并具有多個(gè)單獨(dú)的掃描電極的電容式觸控面板結(jié)構(gòu),其中,每個(gè)電極均對應(yīng)于一個(gè)特定的坐標(biāo)。以下的矩形電極的實(shí)施例,僅為本發(fā)明為說明起見所列舉者,并非用以限定本發(fā)明, 其它不同的電極形狀亦可采用,例如菱形、圓形、正方形…。首先,請參考圖1A,其為本發(fā)明的觸控面板近接偵測裝置的功能方塊圖的一實(shí)施例,其為以矩形電極排列于單層的實(shí)施例。觸控面板近接偵測裝置1包含有觸控面板11、 連接板M與控制單元22。其中,觸控面板11上有電極El E24,以矩陣排列的方式排列為4)(6的矩陣。每個(gè)電極用來偵測對象的接近而產(chǎn)生感應(yīng)信號并用來偵測對象的觸碰而產(chǎn)生觸碰信號??刂茊卧?2當(dāng)中包含有觸控偵測電路14、近接偵測電路16與控制電路18。 控制單元22透過連接板M連接觸控面板11,并具有一近接偵測模式與一觸碰偵測模式,當(dāng)執(zhí)行近接偵測模式時(shí),依據(jù)感應(yīng)信號產(chǎn)生近接數(shù)據(jù);當(dāng)執(zhí)行觸碰偵測模式時(shí),依據(jù)觸碰信號計(jì)算對象的至少一坐標(biāo)數(shù)據(jù)。在控制單元22當(dāng)中,近接偵測電路16經(jīng)由連接板M連接觸控面板11,用以接收感應(yīng)信號并產(chǎn)生近接數(shù)據(jù);觸控偵測電路14經(jīng)由連接板M連接觸控面板11,用以接收該觸碰信號并計(jì)算觸碰坐標(biāo);控制電路18連接近接偵測電路16與觸控偵測電路14,用以控制近接偵測模式與觸控偵測模式的切換執(zhí)行,并將該近接數(shù)據(jù)與該觸碰坐標(biāo)傳輸出去。須注意,圖IA的近接偵測電路16、觸控偵測電路14與控制電路18的連接關(guān)系,僅為本發(fā)明為說明起見所列舉者,并非用以限定本發(fā)明。此外,本發(fā)明亦可將可偵測多點(diǎn)觸碰坐標(biāo)的電容式觸控面板以選擇性偵測的方式來進(jìn)行近接感測控制。例如,圖IB即為選擇了圖IA當(dāng)中的電極E1、E3、E5、E8、E10、E12、 E13、E15、E17、E20、E22、EM作為選擇近接偵測模式的偵測電極,其余的電極不做近接偵測用。具體的作法后續(xù)將會(huì)描述的。當(dāng)把電容式觸控面板當(dāng)作空間的近接偵測之用時(shí),近接偵測電路16的偵測輸出結(jié)果有兩種,分別為一階近接資料與多階近接資料。其中一階近接數(shù)據(jù)為對象進(jìn)入電容式觸控面板的近接感應(yīng)空間后,所輸出的一位數(shù)據(jù)。多階近接數(shù)據(jù)則為依據(jù)對象的接近距離而產(chǎn)生的不同感應(yīng)量大小,可輸出多位數(shù)據(jù),例如,二位、三位、四位…。依據(jù)一階近接數(shù)據(jù)與多階近接數(shù)據(jù)的輸出,可做不同的移動(dòng)趨勢與手勢的判斷, 以下將于實(shí)際的實(shí)施例中分別說明。首先,請參考圖2A,其為運(yùn)用本發(fā)明觸控面板近接偵測裝置中,對象以軌跡32經(jīng)過觸控面板11時(shí)的偵測示意圖。由圖中可發(fā)現(xiàn),軌跡經(jīng)過E2、E3、E9、E10、E16、E17、E23、 E24的上方,并且,有以負(fù)Z軸的移動(dòng)趨勢(未畫出)。軌跡32的實(shí)際感測與輸出數(shù)據(jù),將由后續(xù)的圖式說明的。請參考圖2B,其為運(yùn)用本發(fā)明觸控面板近接偵測裝置中,對象2以軌跡32經(jīng)過觸控面板11時(shí)的A-A剖面?zhèn)蓽y示意圖。觀察圖2B可發(fā)現(xiàn),對象2以軌跡32經(jīng)過觸控面板11 上方時(shí),在時(shí)序Tl T6會(huì)分別經(jīng)過不同的電極的感應(yīng)范圍。其中,圖2B分別顯示了電極 E1、E7、E13、E19的感應(yīng)范圍41、47、53、59,而對象2由電極El的感應(yīng)范圍逐漸往電極E19 的感應(yīng)范圍移動(dòng),并且,有往負(fù)Z軸的移動(dòng)趨勢。圖2C為運(yùn)用本發(fā)明觸控面板近接偵測裝置中,對象2以軌跡32經(jīng)過觸控面板11 時(shí)的B-B剖面?zhèn)蓽y示意圖。觀察圖2C可發(fā)現(xiàn),對象2以軌跡32經(jīng)過觸控面板11上方時(shí),在時(shí)序Tl T6會(huì)分別經(jīng)過不同的電極的感應(yīng)范圍。其中,圖2C分別顯示了電極E1、E2、 E3、E4、E5、E6的感應(yīng)范圍41、42、43、44、45、46,而對象2由電極El的感應(yīng)范圍逐漸往電極 E6的感應(yīng)范圍移動(dòng),并且,有往負(fù)Z軸的移動(dòng)趨勢。接著,請參考圖2D,其為運(yùn)用本發(fā)明觸控面板近接偵測裝置中,對象2以軌跡32經(jīng)過觸控面板11時(shí),于時(shí)序Tl、T2所輸出的近接數(shù)據(jù)示意圖。在時(shí)序Tl時(shí),電極El、E2、E7 感測到感應(yīng)信號,而近接偵測電路16也輸出對應(yīng)的近接數(shù)據(jù)(端視設(shè)定為一階或多階)。 時(shí)序T2時(shí),分別有電極E1、E2、E3、E4、E7、E8、E9、E13、E14感測到感應(yīng)信號,而近接偵測電路16也輸出對應(yīng)的近接數(shù)據(jù)。圖2E為運(yùn)用本發(fā)明觸控面板近接偵測裝置中,對象2以軌跡32經(jīng)過觸控面板11 時(shí),于時(shí)序T3、T4所輸出的近接數(shù)據(jù)示意圖。時(shí)序Τ3時(shí),分別有電極Ε1、Ε2、Ε3、Ε4、Ε5、Ε6、 Ε7、Ε8、Ε9、Ε10、Ell、Ε12、E13、E14、E15、E16、E17、E21、E22 感測到感應(yīng)信號,而近接偵測電路16也輸出對應(yīng)的近接數(shù)據(jù)。時(shí)序T4時(shí),分別有電極E3、E4、E5、E6、E8、E9、E10、E11、 E12、E13、E14、E15、E16、E17、E18、E19、E20、E2UE22 感測到感應(yīng)信號,而近接偵測電路 16 也輸出對應(yīng)的近接數(shù)據(jù)。圖2F為運(yùn)用本發(fā)明觸控面板近接偵測裝置中,對象2以軌跡32經(jīng)過觸控面板11 時(shí),于時(shí)序T5、T6所輸出的近接數(shù)據(jù)示意圖。時(shí)序Τ5時(shí),分別有電極Ε5、Ε6、Ε10、Ε11、Ε12、 Ε15、Ε16、Ε17、Ε18、Ε20、Ε21、Ε22、Ε23、Ε24感測到感應(yīng)信號,而近接偵測電路16也輸出對應(yīng)的近接數(shù)據(jù)。時(shí)序Τ6時(shí),有電極Ε18、Ε23、ΕΜ感測到感應(yīng)信號,而近接偵測電路16也輸出對應(yīng)的近接數(shù)據(jù)。圖2D 2F中,近接數(shù)據(jù)可以是一階近接數(shù)據(jù)或者多階近接數(shù)據(jù)。若為一階近接數(shù)據(jù),則可依據(jù)一階近接數(shù)據(jù)的改變趨勢來計(jì)算得X軸移動(dòng)趨勢與Y軸移動(dòng)趨勢,進(jìn)而獲得平面手勢指令。在一階近接數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上,若要計(jì)算X軸相對坐標(biāo)與Y軸相對坐標(biāo),可采用重心法或其它方法來將一階近接資料統(tǒng)計(jì)后取得。若近接數(shù)據(jù)為多階近接資料,則可依據(jù)多階近接資料來計(jì)算得X軸相對坐標(biāo)、Y軸相對坐標(biāo)、Z軸相對坐標(biāo)與X軸移動(dòng)趨勢、Y軸移動(dòng)趨勢與Z軸移動(dòng)趨勢。最后,再依據(jù)移動(dòng)趨勢來判斷平面手勢指令、垂直手勢指令或者三維手勢指令。圖2G 2L即為多階近接資料的一實(shí)施例,以下說明。圖2G為圖2D中,于時(shí)序Tl所輸出的近接數(shù)據(jù)詳細(xì)內(nèi)容示意圖。在時(shí)序Tl時(shí),電極E1、Ε2、Ε7所代表的多階近接資料分別為2、1、1。圖2Η為圖2D中,于時(shí)序Τ2所輸出的近接數(shù)據(jù)詳細(xì)內(nèi)容示意圖。時(shí)序Τ2時(shí),電極 Ε1、Ε2、Ε3、Ε4、Ε7、Ε8、Ε9、Ε13、Ε14 所代表的多階近接資料分別為 2、3、2、1、1、2、1、1、1。圖21為圖2Ε中,于時(shí)序Τ3所輸出的近接數(shù)據(jù)詳細(xì)內(nèi)容示意圖;時(shí)序Τ3時(shí),電極 Ε1、Ε2、Ε3、Ε4、Ε5、Ε6、Ε7、Ε8、Ε9、Ε10、Ε11、Ε12、Ε13、Ε14、Ε15、Ε16、Ε17、Ε21、Ε22 附戈· 的多階近接資料分別為 1、2、3、3、2、1、1、3、4、4、2、1、1、1、2、2、1、1。圖2J為圖2Ε中,于時(shí)序Τ4所輸出的近接數(shù)據(jù)詳細(xì)內(nèi)容示意圖。時(shí)序Τ4時(shí),電極 Ε3、Ε4、Ε5、Ε6、Ε8、Ε9、Ε10、Ε11、Ε12、Ε13、Ε14、Ε15、Ε16、Ε17、Ε18、Ε19、Ε20、Ε21、Ε22 所代表的多階近接資料分別為 1、2、2、1、1、2、3、3、2、1、2、4、5、5、4、1、2、2、3、4、2。圖^(為圖2F中,于時(shí)序T5所輸出的近接數(shù)據(jù)詳細(xì)內(nèi)容示意圖;時(shí)序T5時(shí),電極 E5、E6、E10、Ell、E12、E15、E16、E17、E18、E20、E21、E22、E23、E24 所代表的多階近接資料分別為 1、1、1、2、2、1、3、5、5、1、3、5、7、7。圖2L為圖2F中,于時(shí)序T6所輸出的近接數(shù)據(jù)詳細(xì)內(nèi)容示意圖;時(shí)序T6時(shí),電極 E18、E23、E24所代表的多階近接資料分別為3、3、6。通過圖2G 2L的感應(yīng)量大小值,可推算出物件在Z軸的相對距離。亦即,在每個(gè)掃描周期中,以感應(yīng)量最大的一個(gè)或數(shù)個(gè)電極的多階近接數(shù)據(jù)的平均值換算為對象與觸控面板于Z軸的相對距離。運(yùn)用此相對距離的變化,可計(jì)算出Z軸的移動(dòng)趨勢與垂直移動(dòng)手勢等信息。而X軸相對坐標(biāo)與Y軸相對坐標(biāo),在每個(gè)掃描周期中,可由感應(yīng)量最大的一個(gè)或數(shù)個(gè)電極的坐標(biāo)的重心做為X、Y坐標(biāo)。至于X軸移動(dòng)趨勢、Y軸移動(dòng)趨勢、Z軸移動(dòng)趨勢, 則可由不同的掃描周期如Tl T6來計(jì)算取得。計(jì)算得X軸移動(dòng)趨勢、Y軸移動(dòng)趨勢、Z軸移動(dòng)趨勢后,即可據(jù)以計(jì)算平面手勢指令、垂直手勢指令或者三維手勢指令。圖2A 2L為采取全掃描式的近接偵測手段,另外可采取選擇掃描式的近接偵測手段,請參考圖3A 3L的說明。首先,請參考圖3A,其為運(yùn)用本發(fā)明觸控面板近接偵測裝置中,對象以軌跡32經(jīng)過觸控面板11時(shí)的偵測示意圖,其為選擇近接偵測模式下的實(shí)施例。由圖中可發(fā)現(xiàn),軌跡經(jīng)過E3、E10、E17、EM的上方,并且,有以負(fù)Z軸的移動(dòng)趨勢(未畫出)。軌跡32的實(shí)際感測與輸出數(shù)據(jù),將由后續(xù)的
。請參考圖:3B,其為運(yùn)用本發(fā)明觸控面板近接偵測裝置中,對象2以軌跡32經(jīng)過觸控面板11時(shí)的A-A剖面?zhèn)蓽y示意圖。觀察圖:3B可發(fā)現(xiàn),對象2以軌跡32經(jīng)過觸控面板11 上方時(shí),在時(shí)序Tl T6會(huì)分別經(jīng)過不同的電極的感應(yīng)范圍。其中,圖:3B分別顯示了電極 EU E13的感應(yīng)范圍41、53,而對象2由電極El的感應(yīng)范圍逐漸往電極E13的感應(yīng)范圍移動(dòng),并且,有往負(fù)Z軸的移動(dòng)趨勢。圖3C為運(yùn)用本發(fā)明觸控面板近接偵測裝置中,對象2以軌跡32經(jīng)過觸控面板11 時(shí)的B-B剖面?zhèn)蓽y示意圖。觀察圖2C可發(fā)現(xiàn),對象2以軌跡32經(jīng)過觸控面板11上方時(shí), 在時(shí)序Tl T6會(huì)分別經(jīng)過不同的電極的感應(yīng)范圍。其中,圖3C分別顯示了電極El、E3、 E5的感應(yīng)范圍41、43、45,而對象2由電極El的感應(yīng)范圍逐漸往電極E5的感應(yīng)范圍移動(dòng), 并且,有往負(fù)Z軸的移動(dòng)趨勢。接著,請參考圖3D,其為運(yùn)用本發(fā)明觸控面板近接偵測裝置中,對象2以軌跡32經(jīng)過觸控面板11時(shí),于時(shí)序Tl、T2所輸出的近接數(shù)據(jù)示意圖。在時(shí)序Tl時(shí),電極El感測到感應(yīng)信號,而近接偵測電路16也輸出對應(yīng)的近接數(shù)據(jù)(端視設(shè)定為一階或多階)。時(shí)序T2 時(shí),分別有電極El、E3、E8、E13感測到感應(yīng)信號,而近接偵測電路16也輸出對應(yīng)的近接數(shù)據(jù)。圖3E為運(yùn)用本發(fā)明觸控面板近接偵測裝置中,對象2以軌跡32經(jīng)過觸控面板11 時(shí),于時(shí)序T3、T4所輸出的近接數(shù)據(jù)示意圖。時(shí)序T3時(shí),分別有電極El、E3、E5、E8、E10、 E12、E13、E15、E17、E22感測到感應(yīng)信號,而近接偵測電路16也輸出對應(yīng)的近接數(shù)據(jù)。時(shí)序 T4時(shí),分別有電極E3、E5、E8、E10、E12、E13、E15、E17、E20、E22感測到感應(yīng)信號,而近接偵測電路16也輸出對應(yīng)的近接數(shù)據(jù)。圖3F為運(yùn)用本發(fā)明觸控面板近接偵測裝置中,對象2以軌跡32經(jīng)過觸控面板11 時(shí),于時(shí)序T5、T6所輸出的近接數(shù)據(jù)示意圖。時(shí)序Τ5時(shí),分別有電極Ε5、Ε10、Ε12、Ε15、Ε17、 Ε20.Ε22.Ε24感測到感應(yīng)信號,而近接偵測電路16也輸出對應(yīng)的近接數(shù)據(jù)。時(shí)序Τ6時(shí),有電極EM感測到感應(yīng)信號,而近接偵測電路16也輸出對應(yīng)的近接數(shù)據(jù)。圖3D 3F中,近接數(shù)據(jù)可以是一階近接數(shù)據(jù)或者多階近接數(shù)據(jù)。若為一階近接數(shù)據(jù),則可依據(jù)一階近接數(shù)據(jù)的改變趨勢來計(jì)算得X軸移動(dòng)趨勢與Y軸移動(dòng)趨勢,進(jìn)而獲得平面手勢指令。在一階近接數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上,若要計(jì)算X軸相對坐標(biāo)與Y軸相對坐標(biāo),可采用重心法或其它方法來將一階近接資料統(tǒng)計(jì)后取得。若近接數(shù)據(jù)為多階近接資料,則可依據(jù)多階近接資料來計(jì)算得X軸相對坐標(biāo)、Y軸相對坐標(biāo)、Z軸相對坐標(biāo)與X軸移動(dòng)趨勢、Y軸移動(dòng)趨勢與Z軸移動(dòng)趨勢。最后,再依據(jù)移動(dòng)趨勢來判斷平面手勢指令、垂直手勢指令或者三維手勢指令。圖3G 3L即為選擇近接偵測模式中多階近接數(shù)據(jù)的一實(shí)施例,以下說明。圖3G為圖3D中,于時(shí)序Tl所輸出的近接數(shù)據(jù)詳細(xì)內(nèi)容示意圖。在時(shí)序Tl時(shí),電極El所代表的多階近接資料分別為2。圖3H為圖3D中,于時(shí)序T2所輸出的近接數(shù)據(jù)詳細(xì)內(nèi)容示意圖。時(shí)序T2時(shí),電極 E1、E3、E8、E13所代表的多階近接資料分別為2、2、2、1。圖31為圖3E中,于時(shí)序T3所輸出的近接數(shù)據(jù)詳細(xì)內(nèi)容示意圖;時(shí)序T3時(shí),電極 E1、E3、E5、E8、E10、E12、E13、E15、E17、E22 所代表的多階近接資料分別為 1、3、2、3、4、1、2、 2、1。圖3J為圖3E中,于時(shí)序T4所輸出的近接數(shù)據(jù)詳細(xì)內(nèi)容示意圖。時(shí)序T4時(shí),電極 E3、E5、E8、E10、E12、E13、E15、E17、E20、E22 所代表的多階近接資料分別為 1、2、1、3、2、1、 4、5、4、1> 3 > 2 ο圖;3Κ為圖3F中,于時(shí)序Τ5所輸出的近接數(shù)據(jù)詳細(xì)內(nèi)容示意圖;時(shí)序Τ5時(shí),電極 Ε5、Ε10、Ε12、Ε15、Ε17、Ε20、Ε22、Ε24 所代表的多階近接資料分別為 1、1、2、1、5、1、5、7。圖3L為圖3F中,于時(shí)序Τ6所輸出的近接數(shù)據(jù)詳細(xì)內(nèi)容示意圖;時(shí)序Τ6時(shí),電極 Ε24所代表的多階近接資料分別為6。通過第3G 3L圖的感應(yīng)量大小值,可推算出物件在Z軸的相對距離。亦即,在每個(gè)掃描周期中,以感應(yīng)量最大的一個(gè)或數(shù)個(gè)電極的多階近接數(shù)據(jù)的平均值換算為對象與觸控面板于Z軸的相對距離。運(yùn)用此相對距離的變化,可計(jì)算出Z軸的移動(dòng)趨勢與垂直移動(dòng)手勢等信息。而X軸相對坐標(biāo)與Y軸相對坐標(biāo),在每個(gè)掃描周期中,可由感應(yīng)量最大的一個(gè)或數(shù)個(gè)電極的坐標(biāo)的重心做為χ、γ坐標(biāo)。至于X軸移動(dòng)趨勢、Y軸移動(dòng)趨勢、Z軸移動(dòng)趨勢, 則可由不同的掃描周期如Tl Τ6來計(jì)算取得。計(jì)算得X軸移動(dòng)趨勢、Y軸移動(dòng)趨勢、Z軸移動(dòng)趨勢后,即可據(jù)以計(jì)算平面手勢指令、垂直手勢指令或者三維手勢指令。由圖2Α 3L可知,無論采用全掃描式或者選擇掃描式,皆可達(dá)到計(jì)算得對象于觸控面板附近的空間中的近接偵測,亦即,可取得X、Y、Z軸相對坐標(biāo)、移動(dòng)趨勢、乃至于手勢指令。惟在X軸相對坐標(biāo)、Y軸相對坐標(biāo)與Z軸相對坐標(biāo)的取得上,全掃描式的近接偵測分辨率可較高。圖4為運(yùn)用本發(fā)明的觸控面板近接偵測裝置,所偵測出的空間相對坐標(biāo),再依據(jù)空間相對坐標(biāo)計(jì)算得移動(dòng)趨勢,再由移動(dòng)趨勢判斷手勢的示意圖。對不同的掃描區(qū)間的對象移動(dòng)軌跡34而言,本發(fā)明可取得不同的掃描區(qū)間的對象相對坐標(biāo)Pl Ρ7。其中,若近接資料為一階近接資料時(shí),相對坐標(biāo)Pl Ρ6僅能代表Χ、Υ軸坐標(biāo),并據(jù)以判斷平面的移動(dòng)趨勢,進(jìn)而判斷出平面的空間移動(dòng)手勢,如圖4的實(shí)施例為劃圓。若近接數(shù)據(jù)為多階近接資料時(shí),每個(gè)相對坐標(biāo)Pl P6將包含有X軸、Y軸與Z軸的相對坐標(biāo),并可據(jù)以計(jì)算X軸、Y軸的移動(dòng)趨勢信息。因此,將可判斷圖4的手勢為三維手勢。請參考圖5,其為本發(fā)明的觸控面板三維近接感應(yīng)偵測方法流程圖,一階近接偵測模式的一實(shí)施例,包含以下步驟步驟110 開啟電容式觸控面板的一階近接偵測模式。步驟112 依據(jù)工作時(shí)序,分別偵測對象進(jìn)入各電極的空間感應(yīng)區(qū)所產(chǎn)生的感應(yīng)
信號。
步驟114 依據(jù)工作時(shí)序,依據(jù)各電極所輸出的感應(yīng)信號產(chǎn)生一階近接數(shù)據(jù)。步驟116 依據(jù)各電極的坐標(biāo)及其所對應(yīng)的一階近接數(shù)據(jù)計(jì)算該對象于各工作時(shí)序的X軸、Y軸的相對坐標(biāo)。步驟117 依據(jù)各時(shí)序該對象于X軸、Y軸的相對坐標(biāo)變化,計(jì)算該對象于X軸、Y 軸的移動(dòng)趨勢。步驟118 依據(jù)X軸、Y軸移動(dòng)趨勢,產(chǎn)生一平面手勢指令。亦即,依照圖5的步驟,最基本的可以取得X軸、Y軸的相對坐標(biāo)與移動(dòng)趨勢,進(jìn)而可以取得空間中的平面手勢指令。接著,請參考圖6,其為本發(fā)明的觸控面板三維近接感應(yīng)偵測方法流程圖,多階近接偵測模式的一實(shí)施例,包含以下步驟步驟120 開啟電容式觸控面板的近接偵測模式。步驟122 依據(jù)工作時(shí)序,分別偵測對象進(jìn)入電極的空間感應(yīng)區(qū)所產(chǎn)生的感應(yīng)信號。步驟124 依據(jù)工作時(shí)序與各電極所輸出的感應(yīng)信號產(chǎn)生多階感應(yīng)數(shù)據(jù)。步驟126 依據(jù)多個(gè)工作時(shí)序中各電極所對應(yīng)的多階感應(yīng)數(shù)據(jù),計(jì)算該對象于X 軸、Y軸與Z軸的移動(dòng)趨勢。步驟128 依據(jù)Z軸移動(dòng)趨勢,產(chǎn)生垂直手勢指令。步驟130 依據(jù)X軸與Y軸移動(dòng)趨勢,產(chǎn)生平面手勢指令。步驟132 依據(jù)X軸、Y軸與Z軸移動(dòng)趨勢,產(chǎn)生三維手勢指令。亦即,依照圖6的步驟,最基本的可以取得X軸、Y軸、Z軸的移動(dòng)趨勢,進(jìn)而可以取得垂直手勢指令、平面手勢指令或者空間中的三維手勢指令。圖7為本發(fā)明的觸控面板三維近接感應(yīng)偵測方法流程圖,多階近接偵測模式的另一實(shí)施例,包含以下步驟步驟120 開啟電容式觸控面板的近接偵測模式步驟122 依據(jù)工作時(shí)序,分別偵測對象進(jìn)入電極的空間感應(yīng)區(qū)所產(chǎn)生的感應(yīng)信號。步驟124 依據(jù)工作時(shí)序與各電極所輸出的感應(yīng)信號產(chǎn)生多階感應(yīng)數(shù)據(jù)。步驟125:依據(jù)各電極所對應(yīng)的多階感應(yīng)數(shù)據(jù),計(jì)算該對象于各時(shí)序的X軸、Y軸與 Z軸相對空間坐標(biāo)。步驟127 依據(jù)各時(shí)序于X軸、Y軸與Z軸的相對空間坐標(biāo)的變化,產(chǎn)生X、Y軸與Z 軸移動(dòng)趨勢。步驟128 依據(jù)Z軸移動(dòng)趨勢,產(chǎn)生垂直手勢指令。
12
步驟130 依據(jù)X軸與Y軸移動(dòng)趨勢,產(chǎn)生平面手勢指令。步驟132 依據(jù)X軸、Y軸與Z軸移動(dòng)趨勢,產(chǎn)生三維手勢指令。亦即,依照圖7的步驟,最基本的可以取得X軸、Y軸、Z軸的相對坐標(biāo)以及對象的移動(dòng)趨勢,進(jìn)而可以取得垂直手勢指令、平面手勢指令或者空間中的三維手勢指令。圖8為本發(fā)明的觸控面板三維近接感應(yīng)偵測方法流程圖,選擇近接偵測模式的一實(shí)施例,包含以下步驟步驟140 開啟電容式觸控面板的選擇近接偵測模式。步驟142 依據(jù)工作時(shí)序,分別偵測對象進(jìn)入經(jīng)選擇的電極的空間感應(yīng)區(qū)所產(chǎn)生的感應(yīng)信號。步驟144 依據(jù)工作時(shí)序與各經(jīng)選擇的電極所輸出的感應(yīng)信號產(chǎn)生多階感應(yīng)數(shù)據(jù)。步驟146 依據(jù)多個(gè)工作時(shí)序中各經(jīng)選擇的電極所對應(yīng)的多階感應(yīng)數(shù)據(jù),計(jì)算該對象于χ軸、Y軸與ζ軸的移動(dòng)趨勢。步驟148 依據(jù)Z軸移動(dòng)趨勢,產(chǎn)生垂直手勢指令。步驟150 依據(jù)X軸與Y軸移動(dòng)趨勢,產(chǎn)生平面手勢指令。步驟152 依據(jù)X軸、Y軸與Z軸移動(dòng)趨勢,產(chǎn)生三維手勢指令。亦即,依照圖8的步驟,最基本的可以取得X軸、Y軸、Z軸對象移動(dòng)趨勢,進(jìn)而可以取得垂直手勢指令、平面手勢指令或者空間中的三維手勢指令。圖9為本發(fā)明的觸控面板三維近接感應(yīng)偵測方法流程圖,選擇近接偵測模式的另一實(shí)施例,包含以下步驟步驟140 開啟電容式觸控面板的選擇近接偵測模式。步驟142 依據(jù)工作時(shí)序,分別偵測對象進(jìn)入經(jīng)選擇的電極的空間感應(yīng)區(qū)所產(chǎn)生的感應(yīng)信號。步驟144 依據(jù)工作時(shí)序與各經(jīng)選擇的電極所輸出的感應(yīng)信號產(chǎn)生多階感應(yīng)數(shù)據(jù)。步驟145 依據(jù)各經(jīng)選擇的電極所對應(yīng)的多階感應(yīng)數(shù)據(jù),計(jì)算該對象于各時(shí)序的X 軸、Y軸與Z軸相對空間坐標(biāo)。步驟147 依據(jù)各時(shí)序于X軸、Y軸與Z軸的相對空間坐標(biāo)的變化,產(chǎn)生X、Y軸與Z 軸移動(dòng)趨勢。步驟148 依據(jù)Z軸移動(dòng)趨勢,產(chǎn)生垂直手勢指令。步驟150 依據(jù)X軸與Y軸移動(dòng)趨勢,產(chǎn)生平面手勢指令。步驟152 依據(jù)X軸、Y軸與Z軸移動(dòng)趨勢,產(chǎn)生三維手勢指令。亦即,依照圖9的步驟,最基本的可以取得X軸、Y軸、Z軸的相對坐標(biāo)以及對象的移動(dòng)趨勢,進(jìn)而可以取得垂直手勢指令、平面手勢指令或者空間中的三維手勢指令。就輸出數(shù)據(jù)而言,可輸出近接數(shù)據(jù)、坐標(biāo)數(shù)據(jù)、移動(dòng)趨勢、手勢指令(其一或任意組合)等等。雖然本發(fā)明的較佳實(shí)施例揭露如上所述,然其并非用以限定本發(fā)明,任何熟悉相關(guān)技術(shù)人員,在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi),當(dāng)可作些許的更動(dòng)與潤飾,因此本發(fā)明的保護(hù)范圍須根據(jù)權(quán)利要求所界定的內(nèi)容為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種觸控面板近接偵測裝置,其特征在于,包含一電容式觸控面板,具有位于同一平面的多個(gè)電極,該些電極彼此絕緣并各自對應(yīng)于一坐標(biāo),該些電極用以偵測一對象的接近而產(chǎn)生一感應(yīng)信號,并偵測該對象的觸碰而產(chǎn)生一觸碰信號;及一控制單元,連接該電容式觸控面板并具有一近接偵測模式與一觸碰偵測模式,當(dāng)執(zhí)行該近接偵測模式時(shí),依據(jù)該感應(yīng)信號產(chǎn)生一近接數(shù)據(jù),當(dāng)執(zhí)行該觸碰偵測模式時(shí),依據(jù)該觸碰信號計(jì)算該對象的至少一坐標(biāo)數(shù)據(jù)。
2.如權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,該控制單元依據(jù)不同時(shí)序的該些電極對應(yīng)的該些近接數(shù)據(jù)計(jì)算該對象的一 X軸坐標(biāo)、一 Y軸坐標(biāo)。
3.如權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,該控制單元依據(jù)不同時(shí)序的該些電極對應(yīng)的該些近接數(shù)據(jù)計(jì)算該對象的一 X軸坐標(biāo)、一 Y軸坐標(biāo)、一 Z軸坐標(biāo)。
4.如權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,該控制單元依據(jù)不同時(shí)序的該些電極對應(yīng)的該些近接數(shù)據(jù)計(jì)算該對象的一 X軸移動(dòng)趨勢、一 Y軸移動(dòng)趨勢。
5.如權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,該控制單元依據(jù)不同時(shí)序的該些電極對應(yīng)的該些近接數(shù)據(jù)計(jì)算該對象的一 X軸移動(dòng)趨勢、一 Y軸移動(dòng)趨勢與一 Z軸移動(dòng)趨勢。
6.如權(quán)利要求5所述的裝置,其特征在于,該Z軸移動(dòng)趨勢包含一移動(dòng)方向與一移動(dòng)角度。
7.如權(quán)利要求5所述的裝置,其特征在于,該控制單元依據(jù)該X軸移動(dòng)趨勢與該Y軸移動(dòng)趨勢產(chǎn)生一平面近接手勢;該控制單元依據(jù)該控制單元依據(jù)該Z軸移動(dòng)趨勢產(chǎn)生一垂直近接手勢;該控制單元依據(jù)該控制單元依據(jù)該X軸移動(dòng)趨勢、該Y軸移動(dòng)趨勢與該Z軸移動(dòng)趨勢產(chǎn)生一三維近接手勢。
8.如權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,該控制單元包含一近接偵測電路,用以接收該感應(yīng)信號并產(chǎn)生該近接數(shù)據(jù);一觸控偵測電路,用以接收該觸碰信號并計(jì)算該觸碰坐標(biāo);及一控制電路,耦接于該近接偵測電路與該觸控偵測電路,用以控制該近接偵測電路執(zhí)行該近接偵測模式與控制該觸控偵測電路執(zhí)行該觸控偵測模式,并將該近接數(shù)據(jù)與該觸碰坐標(biāo)傳輸出去。
9.如權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,該控制單元包含一選擇近接偵測模式與一觸碰偵測模式,當(dāng)執(zhí)行該選擇近接偵測模式時(shí),依據(jù)經(jīng)選擇的該些電極所產(chǎn)生的該感應(yīng)信號產(chǎn)生該近接數(shù)據(jù),當(dāng)執(zhí)行該觸碰偵測模式時(shí),依據(jù)該觸碰信號產(chǎn)生該觸碰坐標(biāo)。
10.一種觸控面板近接偵測方法,其特征在于,運(yùn)用于具有多個(gè)電極的一觸控面板,該些電極彼此絕緣且對應(yīng)于一坐標(biāo),用以偵測一對象的接近而產(chǎn)生一感應(yīng)信號且偵測該對象的觸碰而產(chǎn)生一觸碰信號,該方法包含以下步驟提供該觸控面板一近接偵測模式;執(zhí)行該近接偵測模式;依據(jù)一工作時(shí)序,偵測一對象進(jìn)入該些電極的空間感應(yīng)區(qū)所產(chǎn)生的該感應(yīng)信號;依據(jù)該工作時(shí)序與該電極所輸出的該感應(yīng)信號,產(chǎn)生一近接數(shù)據(jù);及依據(jù)不同的該工作時(shí)序、該電極的該坐標(biāo)與該電極所對應(yīng)的該近接數(shù)據(jù),計(jì)算該對象的一 X軸移動(dòng)趨勢、一 Y軸移動(dòng)趨勢與一 Z軸移動(dòng)趨勢。
11.如權(quán)利要求10所述的方法,其特征在于,更包含以下步驟依據(jù)該近接數(shù)據(jù)與對應(yīng)的該電極的該坐標(biāo),計(jì)算該對象的一 X軸坐標(biāo)、一 Y軸坐標(biāo)、一 Z軸坐標(biāo);及輸出該X軸坐標(biāo)、該Y軸坐標(biāo)與該Z軸坐標(biāo)。
12.如權(quán)利要求10所述的方法,其特征在于,更包含以下步驟 依據(jù)該X軸移動(dòng)趨勢與該Y軸移動(dòng)趨勢,產(chǎn)生一平面手勢指令。
13.如權(quán)利要求10所述的方法,其特征在于,更包含以下步驟 依據(jù)該Z軸移動(dòng)趨勢,產(chǎn)生一垂直手勢指令。
14.如權(quán)利要求10所述的方法,其特征在于,更包含以下步驟依據(jù)該X軸移動(dòng)趨勢、該Y軸移動(dòng)趨勢與該Z軸移動(dòng)趨勢產(chǎn)生一三維手勢指令。
15.如權(quán)利要求10所述的方法,其特征在于,該Z軸移動(dòng)趨勢包含一移動(dòng)方向與一移動(dòng)角度。
16.如權(quán)利要求10所述的方法,其特征在于,計(jì)算該對象的該Z軸移動(dòng)趨勢的步驟,包含以下步驟依據(jù)該工作時(shí)序,比較該些電極所對應(yīng)的該些近接數(shù)據(jù),以該些電極所輸出的一最大感應(yīng)量計(jì)算一 Z軸相對空間坐標(biāo);及依序取得該Z軸相對空間坐標(biāo),計(jì)算該Z軸移動(dòng)趨勢。
17.如權(quán)利要求10所述的方法,其特征在于,計(jì)算該對象的該X軸移動(dòng)趨勢與該Y軸移動(dòng)趨勢的步驟,包含以下步驟依據(jù)該些電極中輸出一最大感應(yīng)量的至少一個(gè)該電極所對應(yīng)的該坐標(biāo),計(jì)算該對象于該工作時(shí)序中所對應(yīng)的一 X軸坐標(biāo)與一 Y軸坐標(biāo);及依據(jù)該X坐標(biāo)與該Y軸坐標(biāo)的變化,計(jì)算該X軸移動(dòng)趨勢與該Y軸移動(dòng)趨勢。
18.—種觸控面板近接偵測方法,其特征在于,運(yùn)用于具有多個(gè)電極的一觸控面板,該些電極彼此絕緣且對應(yīng)于一坐標(biāo),用以偵測一對象的接近而產(chǎn)生一感應(yīng)信號且偵測該對象的觸碰而產(chǎn)生一觸碰信號,該方法包含以下步驟提供該觸控面板一近接偵測模式; 執(zhí)行該近接偵測模式;依據(jù)一工作時(shí)序,偵測一對象進(jìn)入該些電極的空間感應(yīng)區(qū)所產(chǎn)生的該些感應(yīng)信號; 依據(jù)該工作時(shí)序與該感應(yīng)信號,依序產(chǎn)生一近接數(shù)據(jù);依據(jù)不同的該工作時(shí)序、該電極的該坐標(biāo)與該電極所對應(yīng)的該近接數(shù)據(jù),計(jì)算該對象的一 X軸坐標(biāo)、一 Y軸坐標(biāo)、一 Z軸坐標(biāo);及輸出該X軸坐標(biāo)、該Y軸坐標(biāo)與該Z軸坐標(biāo)。
19.一種觸控面板近接偵測裝置,其特征在于,包含一電容式觸控面板,具有位于同一平面的多個(gè)電極,該些電極彼此絕緣并各自對應(yīng)于一坐標(biāo),該些電極用以偵測一對象的接近而產(chǎn)生一感應(yīng)信號,并偵測該對象的觸碰而產(chǎn)生一觸碰信號;及一控制單元,連接該電容式觸控面板并具有一近接偵測模式與一觸碰偵測模式,當(dāng)執(zhí)行該近接偵測模式時(shí),依據(jù)該感應(yīng)信號產(chǎn)生一 Z軸近接數(shù)據(jù),當(dāng)執(zhí)行該觸碰偵測模式時(shí),依據(jù)該觸碰信號計(jì)算該對象的至少一坐標(biāo)數(shù)據(jù)。
20.如權(quán)利要求19所述的裝置,其特征在于,該控制單元依據(jù)不同時(shí)序的該些電極對應(yīng)的該Z軸近接數(shù)據(jù)計(jì)算該對象一 Z軸坐標(biāo)。
21.如權(quán)利要求19所述的裝置,其特征在于,該控制單元依據(jù)不同時(shí)序的該些電極對應(yīng)的該Z軸近接數(shù)據(jù)計(jì)算該對象的一 Z軸移動(dòng)趨勢。
22.如權(quán)利要求21所述的裝置,其特征在于,該Z軸移動(dòng)趨勢包含一移動(dòng)方向與一移動(dòng)角度。
23.如權(quán)利要求21所述的裝置,其特征在于,該控制單元依據(jù)該Z軸移動(dòng)趨勢產(chǎn)生一垂直近接手勢。
24.如權(quán)利要求19所述的裝置,其特征在于,該控制單元包含一選擇近接偵測模式與一觸碰偵測模式,當(dāng)執(zhí)行該選擇近接偵測模式時(shí),依據(jù)經(jīng)選擇的該些電極所產(chǎn)生的該感應(yīng)信號產(chǎn)生該Z軸近接數(shù)據(jù),當(dāng)執(zhí)行該觸碰偵測模式時(shí),依據(jù)該觸碰信號產(chǎn)生該觸碰坐標(biāo)。
全文摘要
本發(fā)明為一種觸控面板近接偵測裝置與方法。運(yùn)用在單層電極層中以矩陣方式排列的電極結(jié)構(gòu)的電容式觸控面板,其電極的近接感應(yīng)功能可偵測到近接感應(yīng)信號,將近接感應(yīng)信號輸出為一階或多階近接數(shù)據(jù),并依據(jù)一階或多階近接資料計(jì)算出各個(gè)維度的相對坐標(biāo)與移動(dòng)趨勢。通過不同時(shí)序的一階近接數(shù)據(jù)可得空間中的平面移動(dòng)手勢,通過多階近接資料可取得三個(gè)維度的移動(dòng)趨勢,并計(jì)算近接空間當(dāng)中的三維手勢。
文檔編號G06F3/044GK102314269SQ20101022080
公開日2012年1月11日 申請日期2010年7月2日 優(yōu)先權(quán)日2010年7月2日
發(fā)明者陳亦達(dá), 顏敏峰 申請人:誼達(dá)光電科技股份有限公司