專利名稱：嵌入式設(shè)備系統(tǒng)死鎖調(diào)試裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及嵌入式設(shè)備領(lǐng)域，尤其涉及一種嵌入式設(shè)備系統(tǒng)死鎖調(diào)試方法。
背景技術(shù)：
隨著科學(xué)技術(shù)的迅速發(fā)展，嵌入式系統(tǒng)設(shè)備已經(jīng)大量應(yīng)用于社會(huì)的各個(gè)領(lǐng)域，如軍事、消費(fèi)類電子、教學(xué)等，嵌入式系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)調(diào)試已成為提高人們生活水平的重要內(nèi)容。嵌入式系統(tǒng)是一種微型化的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，以硬件為基礎(chǔ)，以軟件為手段來(lái)實(shí)現(xiàn)用戶需要的應(yīng)用功能。嵌入式系統(tǒng)由于一些未知原因，會(huì)導(dǎo)致系統(tǒng)發(fā)生死鎖。對(duì)于死鎖的傳統(tǒng)調(diào)試手段是多次進(jìn)行調(diào)試，并在每次調(diào)試之前不斷根據(jù)上次的調(diào)試信息結(jié)果加入新的調(diào)試信息，采取猜測(cè)的手段，不斷重復(fù)地驗(yàn)證并在各個(gè)懷疑出問(wèn)題的地方多加調(diào)試信息，然后根據(jù)這些調(diào)試信息先后出現(xiàn)的順序關(guān)系來(lái)對(duì)軟件整個(gè)系統(tǒng)發(fā)生了死鎖的情況進(jìn)行定位。 顯然，這種解決嵌入式系統(tǒng)死鎖的方法缺乏科學(xué)的技術(shù)手段，不僅調(diào)試效率低下，而且破壞了系統(tǒng)的運(yùn)行環(huán)境，給后續(xù)的調(diào)試帶來(lái)更多困難。因此，亟需一種嵌入式系統(tǒng)死鎖調(diào)試方法，能夠顯著的提高調(diào)試效率，并且能夠保留系統(tǒng)死鎖時(shí)的原始運(yùn)行環(huán)境，從而能夠快速、準(zhǔn)確地找到影響死鎖的原因。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，提出一種嵌入式設(shè)備系統(tǒng)死鎖調(diào)試方法， 該方法能夠提高調(diào)試效率，并能夠保留系統(tǒng)死鎖時(shí)的原始運(yùn)行環(huán)境。本發(fā)明采用的技術(shù)方案是提供一種嵌入式設(shè)備系統(tǒng)死鎖調(diào)試裝置，包括順序連接的系統(tǒng)檢測(cè)模塊、中斷模塊和顯示模塊；其中所述的系統(tǒng)檢測(cè)模塊用于實(shí)時(shí)檢測(cè)嵌入式系統(tǒng)的運(yùn)行狀態(tài)，并輸出中斷指令到中斷模塊；所述的中斷模塊用于接收系統(tǒng)檢測(cè)模塊的指令中斷系統(tǒng)運(yùn)行，并讀取嵌入式系統(tǒng) CPU寄存器內(nèi)的參數(shù)數(shù)據(jù)；所述的顯示模塊用于接收中斷模塊的指令，以顯示嵌入式系統(tǒng)存儲(chǔ)器內(nèi)的參數(shù)數(shù)據(jù)。另外，本發(fā)明還提供一種嵌入式設(shè)備系統(tǒng)死鎖調(diào)試方法，包括以下步驟a.系統(tǒng)檢測(cè)模塊根據(jù)死鎖出現(xiàn)的步驟描述操作系統(tǒng)，并對(duì)操作系統(tǒng)進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測(cè)，若出現(xiàn)死鎖，則進(jìn)入步驟b，若無(wú)死鎖出現(xiàn)，則繼續(xù)執(zhí)行本步驟；b.中斷模塊執(zhí)行中斷程序，讀取嵌入式系統(tǒng)CPU寄存器內(nèi)的參數(shù)數(shù)據(jù)，并進(jìn)入步驟c ·’c.將中斷模塊讀取的CPU寄存器內(nèi)的參數(shù)數(shù)據(jù)在顯示模塊上顯示出來(lái)；d.根據(jù)寄存器內(nèi)的參數(shù)數(shù)據(jù)與系統(tǒng)編譯時(shí)產(chǎn)生的obj或map目標(biāo)文件對(duì)比來(lái)定位故障。本發(fā)明的有益效果是首先本發(fā)明能夠?qū)η度胧较到y(tǒng)的死鎖狀態(tài)進(jìn)行有效的定位，極大的提高了調(diào)試效率。其次，本發(fā)明不改變系統(tǒng)死鎖時(shí)的原始運(yùn)行環(huán)境，不會(huì)對(duì)正常運(yùn)行的程序產(chǎn)生性能影響。


圖1是本發(fā)明的嵌入式設(shè)備系統(tǒng)死鎖調(diào)試裝置結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本發(fā)明的嵌入式設(shè)備系統(tǒng)死鎖調(diào)試方法程序流程圖。
具體實(shí)施例方式下面，對(duì)照附圖和較佳實(shí)施例對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。參照?qǐng)D1，嵌入式設(shè)備系統(tǒng)死鎖調(diào)試裝置，包括順序連接的系統(tǒng)檢測(cè)模塊1，中斷模塊2，顯示模塊3。其中，系統(tǒng)檢測(cè)模塊1用于實(shí)時(shí)檢測(cè)嵌入式系統(tǒng)的運(yùn)行狀態(tài)，并輸出中斷指令到中斷模塊。中斷模塊2用于接收系統(tǒng)檢測(cè)模塊的指令中斷系統(tǒng)運(yùn)行，并讀取嵌入式系統(tǒng)CPU寄存器內(nèi)的參數(shù)數(shù)據(jù)。顯示模塊3用于接收中斷模塊的指令，以顯示嵌入式系統(tǒng)CPU存儲(chǔ)器內(nèi)的參數(shù)數(shù)據(jù)。所述的中斷模塊2為具有按鍵中斷方式或特定芯片腳電平拉高中斷方式的中斷模塊。所述的顯示模塊3為IXD顯示屏。參見(jiàn)圖2，一種嵌入式設(shè)備系統(tǒng)死鎖調(diào)試方法，包括以下步驟a.系統(tǒng)檢測(cè)模塊根據(jù)死鎖出現(xiàn)的步驟描述操作系統(tǒng)，并對(duì)操作系統(tǒng)進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測(cè)，若出現(xiàn)死鎖，則進(jìn)入步驟b，若無(wú)死鎖出現(xiàn)，則繼續(xù)執(zhí)行本步驟；b.中斷模塊執(zhí)行中斷程序，讀取嵌入式系統(tǒng)CPU寄存器內(nèi)的參數(shù)數(shù)據(jù)，并進(jìn)入步驟c ·’c.將中斷模塊讀取的CPU寄存器內(nèi)的參數(shù)數(shù)據(jù)在顯示模塊上顯示出來(lái)；d.根據(jù)寄存器內(nèi)的參數(shù)數(shù)據(jù)與系統(tǒng)編譯時(shí)產(chǎn)生的obj或map目標(biāo)文件對(duì)比來(lái)定位故障。所述的中斷模塊2的中斷方式為按鍵中斷或特定芯片腳電平拉高中斷。所述的顯示模塊3為IXD顯示屏。所述的中斷模塊還可以包括其他方式的中斷，如拉低芯片引腳電平的方式產(chǎn)生中斷等。顯示模塊可以為L(zhǎng)ED顯示屏、CRT顯示屏或者其它具有顯示功能的顯示設(shè)備。死鎖調(diào)試人員使用本發(fā)明對(duì)死鎖系統(tǒng)進(jìn)行調(diào)試分析時(shí)，根據(jù)LCD顯示的CPU寄存器參數(shù)數(shù)據(jù)，直接查找系統(tǒng)軟件編譯時(shí)的目標(biāo)文件就可以定位到系統(tǒng)運(yùn)行阻塞的位置，所述的目標(biāo)文件為obj或map等文件。本發(fā)明公開(kāi)了一種嵌入式設(shè)備系統(tǒng)死鎖調(diào)試裝置及方法，通過(guò)在系統(tǒng)死鎖發(fā)生后產(chǎn)生按鍵中斷或芯片電平拉高中斷的中斷方式，運(yùn)行中斷程序。在中斷處理程序中將系統(tǒng)程序執(zhí)行狀態(tài)時(shí)的CPU寄存器參數(shù)數(shù)據(jù)用LCD屏幕直觀地顯示出來(lái)，讓用戶快速有效的根據(jù)CPU寄存器參數(shù)數(shù)據(jù)，直接查找系統(tǒng)軟件編譯時(shí)的obj或map目標(biāo)文件來(lái)定位故障。本發(fā)明的有益效果是首先，能夠?qū)η度胧较到y(tǒng)的死鎖狀態(tài)進(jìn)行有效的定位，且極大地的提高了調(diào)試效率。其次，不改變系統(tǒng)死鎖時(shí)的原始運(yùn)行環(huán)境，不會(huì)對(duì)正常運(yùn)行的程序產(chǎn)生性能影響。雖然以上結(jié)合具體實(shí)施方式
對(duì)本發(fā)明內(nèi)容進(jìn)行了詳細(xì)地說(shuō)明，但是應(yīng)當(dāng)理解到，本領(lǐng)域的技術(shù)人員在不違背本發(fā)明的原理和實(shí)質(zhì)精神的前提下，對(duì)本發(fā)明的實(shí)施方式可以作出各種變形或者修改，這些變形和修改均應(yīng)當(dāng)落入本發(fā)明的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種嵌入式設(shè)備系統(tǒng)死鎖調(diào)試裝置，包括順序連接的系統(tǒng)檢測(cè)模塊、中斷模塊和顯示模塊，其特征在于所述的系統(tǒng)檢測(cè)模塊用于實(shí)時(shí)檢測(cè)嵌入式系統(tǒng)的運(yùn)行狀態(tài)，并輸出中斷指令到中斷模塊；所述的中斷模塊用于接收系統(tǒng)檢測(cè)模塊的指令中斷系統(tǒng)運(yùn)行，并讀取嵌入式系統(tǒng)CPU 寄存器內(nèi)的參數(shù)數(shù)據(jù)；所述的顯示模塊用于接收中斷模塊的指令，以顯示嵌入式系統(tǒng)CPU存儲(chǔ)器內(nèi)的參數(shù)數(shù)據(jù)。
2.如權(quán)利要求1所述的嵌入式設(shè)備系統(tǒng)死鎖調(diào)試裝置，其特征在于所述的中斷模塊為具有按鍵中斷方式或特定芯片引腳電平拉高中斷方式的中斷模塊。
3.如權(quán)利要求1所述的嵌入式設(shè)備系統(tǒng)死鎖調(diào)試裝置，其特征在于所述的顯示模塊為IXD顯示屏。
4.一種嵌入式設(shè)備系統(tǒng)死鎖調(diào)試方法，其特征在于包括以下步驟a.系統(tǒng)檢測(cè)模塊根據(jù)死鎖出現(xiàn)的步驟描述操作系統(tǒng)，并對(duì)操作系統(tǒng)進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測(cè)，若出現(xiàn)死鎖，則進(jìn)入步驟b，若無(wú)死鎖出現(xiàn)，則繼續(xù)執(zhí)行本步驟；b.中斷模塊執(zhí)行中斷程序，讀取嵌入式系統(tǒng)CPU寄存器內(nèi)的參數(shù)數(shù)據(jù)，并進(jìn)入步驟c；c.將中斷模塊讀取的CPU寄存器內(nèi)的參數(shù)數(shù)據(jù)在顯示模塊上顯示出來(lái)；d.根據(jù)寄存器內(nèi)的參數(shù)數(shù)據(jù)與系統(tǒng)編譯時(shí)產(chǎn)生的obj或map目標(biāo)文件對(duì)比來(lái)定位故障。
5.如權(quán)利要求4所述的嵌入式設(shè)備系統(tǒng)死鎖調(diào)試方法，其特征在于所述的中斷模塊的中斷方式為按鍵中斷或特定芯片引腳電平拉高中斷。
6.如權(quán)利要求4所述的嵌入式設(shè)備系統(tǒng)死鎖調(diào)試方法，其特征在于所述的顯示模塊為IXD顯示屏。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種嵌入式設(shè)備系統(tǒng)死鎖調(diào)試裝置及方法，通過(guò)在系統(tǒng)死鎖發(fā)生后產(chǎn)生按鍵中斷或芯片電平拉高中斷的中斷方式，運(yùn)行中斷程序，在中斷處理程序中將系統(tǒng)程序執(zhí)行狀態(tài)用LCD屏幕直觀地顯示出來(lái)，讓用戶快速有效的根據(jù)CPU寄存器參數(shù)數(shù)據(jù)，直接查找系統(tǒng)軟件編譯時(shí)的obj或map目標(biāo)文件來(lái)定位故障。本發(fā)明的有益效果是首先，能夠?qū)η度胧较到y(tǒng)的死鎖狀態(tài)進(jìn)行有效的定位，且極大地的提高了調(diào)試效率。其次，不改變系統(tǒng)死鎖時(shí)的原始運(yùn)行環(huán)境，不會(huì)對(duì)正常運(yùn)行的程序產(chǎn)生性能影響。
文檔編號(hào)G06F9/48GK102253859SQ20101018041
公開(kāi)日2011年11月23日 申請(qǐng)日期2010年5月21日 優(yōu)先權(quán)日2010年5月21日
發(fā)明者羅民 申請(qǐng)人:康佳集團(tuán)股份有限公司