專利名稱：用于配置分析系統(tǒng)的分類矩陣中的分類區(qū)域以及對測定的粒子進行分類的方法、存儲介 ...的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明一般涉及用于配置測定分析系統(tǒng)的分類矩陣中的分類區(qū)域的方法、存儲介 質(zhì)和系統(tǒng)，并且還涉及用于將測定的粒子分類的方法、存儲介質(zhì)和系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
以下說明和示例不能由于其包括在此部分中而被承認為現(xiàn)有技術(shù)。在化學(xué)測定和生物測定的分析中廣泛使用光譜技術(shù)。通常，這些技術(shù)需要測量感 興趣的物質(zhì)的電磁輻射的吸收或發(fā)射。一個這樣的應(yīng)用是在微陣列領(lǐng)域中，其是由包括組 合化學(xué)和生物測定行業(yè)的大量學(xué)科所采用的技術(shù)。德克薩斯州奧斯汀的Luminex公司已經(jīng) 開發(fā)出了這樣的系統(tǒng)，在該系統(tǒng)中通過檢測來自各種顏色的熒光粒子的表面的熒光發(fā)射來 分析生物測定。該系統(tǒng)還可以經(jīng)由測量由粒子所散射的光的水平、粒子的電阻抗和其它參 數(shù)來對測定進行分析。一些情況下，在測定分析系統(tǒng)中使用復(fù)用方案以便在單個樣本的單個分析過程中 可以評估多個分析物。為了促進復(fù)用方案，粒子被配置成可區(qū)分的組，用不同的組去指示測 定中不同分析物的存在、不存在和/或數(shù)量。例如，不同的熒光染色和/或不同濃度的染色 可以被吸收到粒子中和/或粘合到粒子的表面，和/或粒子的大小可以不同。使用這些分類 粒子的傳統(tǒng)系統(tǒng)能夠在使用二維分類矩陣的測定中對數(shù)十個至一百個以上的不同分析物 進行測試。盡管通過增加染色的數(shù)目和/或不同的染色強度可以增加粒子種類的數(shù)目(以 及因此待檢測的分析物的數(shù)目)，但是粒子種類數(shù)量的增加一般需要增大分類矩陣的大小。 如以下所描述的，分類矩陣的大小和分類矩陣內(nèi)用于布置分類區(qū)域的可用空間可能是有限 的，因此需要分類區(qū)域的有效分配，并且當(dāng)分類區(qū)域的數(shù)目增加時，分類區(qū)域的有效分配變 得更有挑戰(zhàn)性。在利用熒光發(fā)射對粒子進行分類的測定分析系統(tǒng)中，熒光值的范圍一般由能被雪 崩光電二極管檢測到的染色的最小量限定，并且還由能被粒子保留的染色的最大量限定。 由此，特別在針對測定存在多于100種粒子類別的情況下，有時由多于2個的參數(shù)來構(gòu)建 (frame)與這樣的系統(tǒng)相關(guān)聯(lián)的分類矩陣以增加可用的分類空間。但是，由多于2個的參數(shù) 所構(gòu)建的分類矩陣可能特別易于限制可用的空間。更具體地，熒光發(fā)射的檢測通道一般不 是正交的，因此，在通道之間可存在串?dāng)_(即，一種染色的增多和/或增加可在某種程度上 影響其它通道中的一個或更多個通道)。因此，可能存在可能不適合于分類區(qū)域(即，被串 擾影響的區(qū)域)的分類矩陣的區(qū)域。由于增多和/或增加染色以促進這種與二維分類矩陣 相關(guān)的矩陣，因此這種對可用空間的限制可特別地與由多于2個的參數(shù)所構(gòu)建的分類矩陣 關(guān)系密切。不考慮構(gòu)建分類矩陣參數(shù)的數(shù)量，使分類矩陣內(nèi)的分類區(qū)域合適和確保明確分類 的一種方式是配置小的和間隔寬的分類區(qū)域。但是，由于在小的和間隔寬的分類區(qū)域內(nèi)匹 配(fit)的粒子的比例相對低，因此這種策略經(jīng)常導(dǎo)致差的分類效率。更高的分類效率給予更準(zhǔn)確的分析結(jié)果，因此通常有利的是，將分類區(qū)域配置成包括粒子子集的可能測量值 中的大多數(shù)，并且更具體的，大于粒子子集的可能測量值的大約90%。但是，特別在針對測 定存在多于100種粒子類別的情況下，這種高分類效率通常很難達到，因為不同分類區(qū)域 的配置隨著粒子種類數(shù)量的增加而趨向于變化更大，并且在某些實施例中，不同分類區(qū)域 的配置可能交疊。由于存在將粒子誤分類到多于一個的分類區(qū)域的潛在性，交疊分類區(qū)域 尤其是不希望的，因此一般要避免交疊分類區(qū)域。因此，一般會根據(jù)構(gòu)建分類矩陣的單元的 標(biāo)度而將分類區(qū)域減小到下一個更小尺寸，顯著地限制區(qū)域的大小并削弱獲得高分類效率 的能力。對測定分析系統(tǒng)的另一挑戰(zhàn)是存儲分類區(qū)域的配置參數(shù)所需要的大量存儲容量。 特別地，給定構(gòu)建分類矩陣的等級粒度的具體水平，一般需要附加的存儲容量以存儲附加 的分類區(qū)域。此外，用于定義分類區(qū)域的參數(shù)越多，所需要的存儲容量就越多。在某些情況 下，對系統(tǒng)存儲容量的限制可能妨礙可被考慮用于測定的分類區(qū)域的數(shù)量，因此，不合乎希 望地限制多路復(fù)用方案的范圍。在某些實施例中，分類矩陣可由比可從粒子測量到的值的 標(biāo)度更小粒度的標(biāo)度所構(gòu)建，以具體地減少系統(tǒng)存儲容量。例如，在某些實施例中，分類矩 陣可由根據(jù)粒子測量參數(shù)計算出的對數(shù)值的整數(shù)的標(biāo)度所構(gòu)建。但是，在這種情況下，轉(zhuǎn)換 粒子測量值以匹配分類矩陣的對數(shù)標(biāo)度可使值偏移，降低粒子分類的準(zhǔn)確性。此外，使用這 種分類矩陣的系統(tǒng)可能仍然具有存儲容量限制，這些存儲容量限制妨礙可被考慮用于測定 的分類區(qū)域的數(shù)量。因此，期望的是，開發(fā)用于配置分類區(qū)域的方法和系統(tǒng)，其中，這些分類區(qū)域有效 分布在分類矩陣中并導(dǎo)致足夠高的分類效率。此外，有益的是，開發(fā)用于創(chuàng)建分類區(qū)域的方 法和系統(tǒng)，其中，用更準(zhǔn)確地對應(yīng)于粒子測量值的值來表征這些分類區(qū)域。而且，有利的是， 開發(fā)用于將粒子分類到多個分類區(qū)域而不會嚴重地增加系統(tǒng)的存儲使用量的方法和系統(tǒng)。

發(fā)明內(nèi)容
用于配置測定分析系統(tǒng)的分類矩陣中的分類區(qū)域的方法、存儲介質(zhì)和系統(tǒng)的各種 實施例，以及用于對測定的粒子進行分類的方法、存儲介質(zhì)和系統(tǒng)的各種實施例的以下描 述，不應(yīng)以任何方式被解釋為限制所附權(quán)利要求的主題。方法、存儲介質(zhì)和系統(tǒng)的實施例包括用于識別分類矩陣中的多個分類區(qū)域的配 置，其中該分類矩陣由與被配置用于測定分析的粒子的一個或更多個可測量參數(shù)相關(guān)聯(lián)的 值的各范圍所構(gòu)建。另外，方法、存儲介質(zhì)和系統(tǒng)包括用于將共同分配給多個分類區(qū)域中的 兩個或更多個分類區(qū)域的單元位置(unit location)再分配為非分類區(qū)域的配置。方法、存儲介質(zhì)和系統(tǒng)的其它實施例包括用于將對應(yīng)于測定粒子群種類中的點的 第一值數(shù)學(xué)變換成第二值以及將第二值轉(zhuǎn)換成第一整數(shù)的配置。方法、存儲介質(zhì)和系統(tǒng)還 包括用于將第一整數(shù)數(shù)學(xué)變換成第三值、將第三值轉(zhuǎn)換成第二整數(shù)、以及將第二整數(shù)指定 為測定粒子群種類中的點的替換值的配置。方法、存儲介質(zhì)和系統(tǒng)的其它實施例包括用于獲取對應(yīng)于粒子可測量參數(shù)的數(shù)據(jù) 以及識別分類矩陣中單個粒子的數(shù)據(jù)中的至少一些所對應(yīng)的單元位置的配置。方法、存儲 介質(zhì)和系統(tǒng)還包括用于將對應(yīng)于所識別的單元位置的數(shù)據(jù)或位于分類矩陣中已知位置處 的目標(biāo)空間平移預(yù)定數(shù)量的預(yù)定坐標(biāo)路徑，直至得到粒子被分類到粒子群或拒絕類的結(jié)論的配置。在某些情況下，方法、存儲介質(zhì)和系統(tǒng)被配置成通過多個目標(biāo)空間迭代這樣的步驟 直至粒子被分類。


在閱讀以下詳細描述以及在參考附圖之后，本發(fā)明的其它目標(biāo)和優(yōu)點將變得明 顯，其中圖Ia示出包括具有程序指令的存儲介質(zhì)的系統(tǒng)的示意圖，其中，這些程序指令被 配置成執(zhí)行參考圖2a_12所描述的過程；圖加和2b示出用于描述圖4中所概述的過程的示例性分類矩陣和分類區(qū)域的圖 形表示；圖3示出由圖5中概述的過程所產(chǎn)生的分類區(qū)域的示例性移位和示例性分類矩陣 的圖形表示；圖4和5示出用于配置測定分析系統(tǒng)的分類矩陣中的分類區(qū)域的示例性方法的流 程圖；圖6和7示出用于對測定的粒子進行分類的示例性方法的流程圖；圖8和9示出用于描述圖6和7中所概述的過程的分類矩陣的圖形表示；圖10示出表示彼此堆疊的多個分類區(qū)域配置的示例性目標(biāo)空間，該示例性目標(biāo) 空間用于解釋參考圖11和12所描述的過程；圖11和12示出當(dāng)在參考圖6和7所描述的兩種方法之一中使用表示多個分類區(qū) 域配置的目標(biāo)空間時，用于確定數(shù)據(jù)點或目標(biāo)空間是否可被平移到多個分類區(qū)域配置以及 平移到多個分類區(qū)域配置中的哪一個的示例性技術(shù)的流程圖；雖然該發(fā)明能夠容許各種修改和替代形式，但是其具體實施例通過附圖中的例子 被示出并且在本文中被詳細描述。但是，應(yīng)當(dāng)理解，附圖和詳細說明不是試圖將該發(fā)明限制 到所公開的特定形式，而是相反的，該發(fā)明將覆蓋落入如所附權(quán)利要求定義的本發(fā)明的精 神和范圍內(nèi)的所有修改、等同實施例或替代實施例。
具體實施例方式轉(zhuǎn)向附圖，提供了用于配置測定分析系統(tǒng)的分類矩陣內(nèi)的分類區(qū)域的示例性方 法、存儲介質(zhì)和系統(tǒng)。另外，提供了用于對測定粒子進行分類的示例性方法、存儲介質(zhì)和系 統(tǒng)。特別的，圖4和圖5描述了用于配置測定分類系統(tǒng)的分類矩陣內(nèi)的分類區(qū)域的流程圖。 另一方面，圖6、7、11和12描述了用于對測定粒子進行分類的流程圖。圖1描述了具有存 儲介質(zhì)的示例性系統(tǒng)，該存儲介質(zhì)包括程序指令，程序指令被配置成執(zhí)行圖4-7、11和12中 描述的流程圖中所概述的過程。圖加_3和圖8-10示出了用于描述流程圖中所概述的過程 的分類矩陣的圖形表示和/或目標(biāo)空間。應(yīng)當(dāng)指出，本文描述的方法、存儲介質(zhì)和系統(tǒng)不需要取決于物理意義上圖形地描 述的分類矩陣和分類區(qū)域。相反的，本文描述的分類矩陣和分類區(qū)域在某種意義上可具有 虛擬存在。圖加-3和圖8-10主要用于幫助解釋本文描述的方法、程序指令和系統(tǒng)的紛繁 復(fù)雜之處。應(yīng)當(dāng)指出，在某些情況下，本文描述的系統(tǒng)、存儲介質(zhì)和方法可被配置成執(zhí)行除 與配置分類區(qū)域和/或分類粒子相關(guān)聯(lián)的那些過程之外的過程，因此，本文描述的系統(tǒng)、存儲介質(zhì)和方法不需要被限于圖1-12的描述。如圖1所示，系統(tǒng)20包括存儲介質(zhì)22和處理器26。系統(tǒng)20可采用各種形式，包括 個人計算機系統(tǒng)、大型機計算機系統(tǒng)、工作站、網(wǎng)絡(luò)設(shè)備、英特網(wǎng)設(shè)備、個人數(shù)字助理(PDA)、 數(shù)字信號處理器(DSP)、現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)或其它設(shè)備。在任何情況下，存儲介質(zhì) 22包括程序指令對，其能夠使用處理器沈來執(zhí)行，用于生成和傳送輸出29，尤其用于執(zhí)行 以下參考圖4-7、11和12所概述的處理。在某些情況下，系統(tǒng)20可被配置成接收輸入觀 以通過處理器沈激活程序指令M和/或為程序指令M提供待處理的數(shù)據(jù)。附加地或替 選地，存儲介質(zhì)22可包括數(shù)據(jù)庫和/或查找表，其可被程序指令訪問，用于執(zhí)行以下根據(jù)圖 4-7,11和12所概述的過程。參考圖8-10來描述可被包括在存儲介質(zhì)22中的示例性數(shù)據(jù) 庫和/或查找表。一般地，如本文所使用的，術(shù)語“存儲介質(zhì)”可指被配置成保持一個或更多個程序 指令集的任何電子介質(zhì)，例如但不限于只讀存儲器、隨機訪問存儲器、磁盤或光盤、或磁帶。 術(shù)語“程序指令” 一般可指程序中的命令，其被配置成執(zhí)行特定的功能，例如，如以下更詳細 描述的，對測定分析系統(tǒng)的分類矩陣中的分類區(qū)域進行配置或?qū)y定粒子進行分類。可以 以各種方式中的任何一種來實現(xiàn)程序指令，尤其包括基于過程的技術(shù)、基于組件的技術(shù)和/ 或面向?qū)ο蟮募夹g(shù)。例如，根據(jù)需要，可使用ActiveX控制、C++對象、JavaBeans、微軟基礎(chǔ) 類(“MFC”)、或其它的技術(shù)或方法來實現(xiàn)程序指令?？杀辉O(shè)置成執(zhí)行本文中所描述的過程中的一個或更多個過程(即，可包括系統(tǒng)20 的系統(tǒng)或可被連接到系統(tǒng)20的系統(tǒng))的系統(tǒng)包括但不限于Luminex ； 100 、Luminex (S) HTS,Luminex 100E、Luminex 200 、以及來自德克薩斯州奧斯汀的Luminex公司的該產(chǎn) 品家族的任何另外的插件。但是，應(yīng)該理解，本文中描述的方法、存儲介質(zhì)和系統(tǒng)可使用或 者可被設(shè)置成使用通過任何測定測量系統(tǒng)獲得的粒子數(shù)據(jù)。測量系統(tǒng)的示例包括流式細胞 器和靜態(tài)熒光成像系統(tǒng)。另外，盡管本文中描述了能夠用于粒子分類的各種參數(shù)，但是應(yīng)該 理解，本文中描述的實施例可使用能用于區(qū)分不同粒子群的粒子的任何可測量參數(shù)，因此， 參數(shù)不需要限于粒子的熒光屬性。此外，本文中描述的方法、存儲介質(zhì)和系統(tǒng)可被應(yīng)用到用 于分析任何類型測定的系統(tǒng)中，具體是生物測定、化學(xué)測定或環(huán)境測定，其中，期望的是，確 定感興趣的一個或更多個分析物的存在或不存在。如上所指出的，程序指令M —般可被配置成執(zhí)行圖4-7、圖11和12中描述的流程 圖所概述的過程。同樣的，圖4-7、圖11和12中描述的流程圖一般描述通過使用軟件模塊 來實現(xiàn)的方法。更具體的，參考圖4-7、圖11和12所描述的方法包括通過使用一個或更多 個算法來分析和計算相對大量的數(shù)據(jù)，因此，通過計算機可最好地實現(xiàn)這些方法。因此，參 考圖4-7、圖11和12所描述的方法可被稱作“計算機實現(xiàn)的方法”。如本文中使用的，術(shù)語“分類”一般被稱為將測定粒子分類到成員粒子具有相似性 質(zhì)的群組中。群組在本文中被稱為“粒子群”。在某些情況下，術(shù)語“測定粒子群”在本文中 可被用于具體地指示被配置用于測定分析的粒子群。因為在單個測定實驗(即，在多路復(fù) 用方案中)中通常用多個不同的粒子群來分析樣本，所以分類是特別重要的。特別的，不同 的粒子群典型地具有至少一個不同的特征，例如耦合到粒子的物質(zhì)的類型和/或耦合到粒 子的物質(zhì)的量，從而通過測定分析系統(tǒng)在一遍運行中能夠檢測和/或量化樣本中不同類型 和/或數(shù)量的分析物的存在。為了解釋測量結(jié)果，可確定測定中單個粒子的身份或分類，從而可將測量值與單個粒子的屬性相關(guān)聯(lián)。以這種方式，能夠區(qū)分與不同粒子群相關(guān)聯(lián)的測 量值以及把與不同粒子群相關(guān)聯(lián)的測量值分別歸于感興趣的分析物。為了對測定的粒子進 行分類，可將測量值與分類矩陣相關(guān)聯(lián)，如以下詳細描述的，其在本文中被稱為對應(yīng)于用于 分類的粒子的測量參數(shù)的值的陣列(真實的或虛擬的)。在用于對粒子進行分類的分類矩 陣中可定義多個分類區(qū)域，因此，如本文中所使用的，術(shù)語“分類區(qū)域”是指粒子群可被分類 到的分類矩陣的區(qū)域。本文中使用的術(shù)語“粒子”一般是指微粒、微球、聚苯乙烯顆粒、量子點、納米點、納 米粒子、納米殼、顆粒、微顆粒、乳膠粒子、乳膠顆粒、熒光顆粒、熒光粒子、有色粒子、有色顆 粒、組織、細胞、微生物、有機物、無機物、或者在本領(lǐng)域中已知的任何其它離散的基質(zhì)或物 質(zhì)。在本文中能夠可交換地使用這樣的術(shù)語中的任一個。本文中描述的方法、存儲介質(zhì)和 系統(tǒng)可被用于任何類型的粒子的分類。在某些情況下，本文中描述的方法、存儲介質(zhì)和系統(tǒng) 可特別用于充當(dāng)分子反應(yīng)媒介的粒子。流式細胞計中所使用的示例性分子反應(yīng)粒子包括 xMAP 微球，其可從德克薩斯州奧斯汀的Luminex公司購買。圖4中描述了用于配置測定分析系統(tǒng)的粒子分類區(qū)域的示例性方法的流程圖。圖 2a和2b描述了由圖4概述的過程所產(chǎn)生的分類矩陣和分類區(qū)域的圖形表示，因此結(jié)合圖4 描述圖加和2b。如圖4的方框30中所示，圖4中概述的方法包括識別分類矩陣中的多個 分類區(qū)域，該分類矩陣由與被配置用于測定分析的粒子的一個或更多個可測量參數(shù)相關(guān)聯(lián) 的值的各范圍所構(gòu)建。可測量參數(shù)包括粒子的熒光、光散射、電阻抗、或任何其它可測量屬 性。另外，與粒子的一個或更多個可測量參數(shù)相關(guān)聯(lián)的值以及構(gòu)建分類矩陣的值可以是與 粒子的測量標(biāo)度相等的標(biāo)度，或者可以是從這樣的測量標(biāo)度的值變換得到的值的標(biāo)度。當(dāng) 分類矩陣由比可從粒子測量到的值的標(biāo)度更小粒度的標(biāo)度所構(gòu)建時，后者的實施例可以是 特別適用的。盡管示出構(gòu)建圖加和2b中所描述的分類矩陣的三個參數(shù)，但是參考圖4所 描述的過程以及本文中所描述的所有其它方法可被應(yīng)用到由任意數(shù)量的參數(shù)所構(gòu)建的分 類矩陣。如以下詳細描述的，參考圖4所描述的過程特別地可被應(yīng)用到具有交疊分類區(qū)域 的任何分類矩陣。圖加和2b中描述的分類矩陣包括12個分類區(qū)域。應(yīng)當(dāng)指出，本文中描述的方法、 存儲介質(zhì)和系統(tǒng)可被應(yīng)用到具有任意數(shù)量的分類區(qū)域的分類矩陣，包括但不限于多于100 個的分類區(qū)域，并且在某些情況下，多于幾百個分類區(qū)域以及可能更多個分類區(qū)域。圖加 和2b中描述的分類區(qū)域的數(shù)量僅僅是用于簡化圖形以及強調(diào)圖4中描述的方法的處理步 驟。還應(yīng)當(dāng)指出的是，參考圖4所描述的方法以及本文中所描述的任何其它方法不限于分 類區(qū)域不均勻地布置在如圖加和2b所描述的矩陣中的示例。特別的，參考圖4所描述的 方法以及本文中所描述的任何其它方法可被應(yīng)用到具有均勻分布的分類區(qū)域的分類矩陣。如圖加中所示，分類區(qū)域1-12中的一些分類區(qū)域相交疊(即，區(qū)域1和2 ；區(qū)域4 和5 ；區(qū)域3、6和7 ；以及區(qū)域10和11)。更具體的，如圖加中雙交叉影線標(biāo)記所示，分類 區(qū)域1-12中的部分相交疊。應(yīng)當(dāng)指出，一些分類區(qū)域可能不交疊，例如圖加中所描述的分 類區(qū)域8、9和12，但是在其它實施例中，所有分類區(qū)域可與矩陣中的至少一個其它分類區(qū) 域相交疊。如圖4的方框32中所示，用于配置測定分析系統(tǒng)的粒子分類矩陣的方法包括識 別分類矩陣中共同分配給兩個或更多個分類區(qū)域的單元位置。換言之，該方法可包括識別 分類矩陣中兩個或更多個分類區(qū)域相交疊的單元位置?；蛘哒f，該方法可包括識別分類矩陣中落入多于一個分類區(qū)域的單元位置。本文中所使用的術(shù)語“單元位置”可指分類矩陣 中的特定坐標(biāo)點。同樣的，容易想到的是，分類區(qū)域可具有共同分配給另一分類區(qū)域的一個 或多于一個的單元位置。在某些情況下，如圖4的方框34中所示，用于配置測定分析系統(tǒng)的粒子分類區(qū)域 的方法可包括確定共同分配的單元位置的數(shù)量。這樣的過程在本文中被稱為“沖突計數(shù)過 程”。在確定共同分配的單元位置的數(shù)量之后，可在方框36中確定計算出的數(shù)量是否大于預(yù) 定閾值。如果計算出的數(shù)量大于預(yù)定閾值，則處理繼續(xù)到方框38以調(diào)整多個分類區(qū)域中的 一個或更多個中的一個或更多個空間屬性(dimensional attribute)的值?？臻g屬性可對 應(yīng)于用來表征分類區(qū)域的大小、形狀、角度、或者任何其它參數(shù)。如圖加中所示，在某些實 施例中，分類區(qū)域1-12可以是橢圓形的。在這種情況下，圖4中的方框38可包括調(diào)整多個 分類區(qū)域中的一個或更多個分類區(qū)域的長軸、短軸、仰角和方位角中至少之一的值。但是， 應(yīng)當(dāng)指出，本文中描述的方法、存儲介質(zhì)和系統(tǒng)不需要限于圖中所描述的分類區(qū)域的形狀， 因此，其不限于應(yīng)用到具有橢圓形的分類區(qū)域的分類矩陣。在任何情況下，特性和分類區(qū)域 的數(shù)量以及方框38中概述的過程所影響的調(diào)整或多個調(diào)整的大小一般可預(yù)置，并且可隨 系統(tǒng)和測定應(yīng)用的不同而不同。在參考方框38調(diào)整分類區(qū)域1-12中的一個或更多個分類區(qū)域的空間屬性之后， 可迭代地重復(fù)方框32、34、36和38中所概述的過程直至共同分配的單元位置的數(shù)量被計算 為小于或等于預(yù)定閾值。當(dāng)這種情況發(fā)生時，如圖4中的方框40所示，將單元位置再分配 為非分類區(qū)域。可替選地，當(dāng)計算出共同分配的單元位置的數(shù)量小于或等于預(yù)定閾值時，該 方法在方框36的第一遍執(zhí)行之后可繼續(xù)到方框40。預(yù)定閾值可隨系統(tǒng)和測定應(yīng)用的不同 而不同。在某些實施例中，可限制方框32、34、36和38中所概述的過程被重復(fù)的迭代次數(shù) (即，可預(yù)設(shè)迭代的最大次數(shù))。在這種情況下，當(dāng)計算出共同分配的單元位置小于或等于 預(yù)定閾值時，或者直至符合迭代的預(yù)設(shè)次數(shù)，迭代處理可終止。在后者的情況下，一般可確 定，用給定的分類區(qū)域集不能達到預(yù)定閾值，因此，可終止圖4中概述的方法。在這種情況 下，可采取校正動作來選擇不同的分類區(qū)域集以進行圖4中概述的方法，并且/或者降低用 以控制方框36中所概述的過程的閾值。為了簡化附圖，圖4中未示出對可重復(fù)方框32、34、 36和38的迭代次數(shù)的限制，但是應(yīng)當(dāng)聲明，本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠想到如何基于上述描述來 結(jié)合這種限定。在可替選實施例中，該方法可不包括將共同分配的單元位置的數(shù)量與預(yù)定閾值進 行比較(即，參考方框36所描述的過程)。而是，在某些情況下，可從圖4所描述的流程圖 中省略方框36，因此，該方法可從方框34直接繼續(xù)到方框38。在這種實施例中，方框32、 34和38中概述的過程可重復(fù)預(yù)定次數(shù)。然后，當(dāng)完成預(yù)定次數(shù)的迭代時，在方框40中，選 擇具有最小數(shù)量的共同分配單元位置的分類區(qū)域，并且將相關(guān)聯(lián)的共同分配單元位置分配 為非分類區(qū)域。對于尋求相對于根據(jù)方框30初始設(shè)定的分類區(qū)域集具有較少共同分配單 元位置而不必被特定閾值所約束的分類區(qū)域，這樣的實施例可以是有利的。應(yīng)當(dāng)指出，為了 簡化附圖，圖4中未示出方框36的省略以及對方框32、34和38可重復(fù)的迭代數(shù)量的限制。 但是，本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠想到如何基于上述描述來結(jié)合這種限定。在其它實施例中，該方法可不包括確定共同分配單元位置的數(shù)量(即，根據(jù)方框 34所描述的沖突計數(shù)過程)，或者可不包括調(diào)整分類區(qū)域的空間屬性(即，根據(jù)方框38所描述的過程)。特別的，應(yīng)當(dāng)指出，與方框34和38相關(guān)聯(lián)的處理也是可選的，因此在某些實 施例中，可從圖4描述的流程圖中省略。更確切的，在某些實施例中，用于配置測定分析系 統(tǒng)的粒子分類區(qū)域的方法可直接從方框32繼續(xù)到方框40。但是，在某些情況下，可以有利 的是，計算分類矩陣中共同分配單元位置的數(shù)量，以及調(diào)整分類區(qū)域的空間屬性，使得共同 分配可被最小化。特別的，可以有利的是，保留分類區(qū)域中相對大的部分以確保達到相對高 的分類效率。在任何情況下，在某些實施例中，如方框42所示，該方法可包括將鄰近已被再分 配的非分類區(qū)域的單元位置(即，先前被區(qū)分為共同分配的單元位置)再分配為非分類區(qū) 域?？梢栽诜娇?0中所概述的過程之后或者與方框40中所概述的過程同時地執(zhí)行此處 理。一般來說，由方框42中概述的過程所影響的單元位置的數(shù)量可隨系統(tǒng)和測定應(yīng)用的不 同而不同。例如，在某些實施例中，方框42中表示的過程可僅包括將緊鄰根據(jù)方框40所分 配的非分類區(qū)域的單元位置集再分配為非分類區(qū)域。這些實施例在本文中可被稱為相對于 根據(jù)方框40所分配的分類區(qū)域的邊界對單層鄰近單元位置進行再分配。在其它情況下，方 框42中表示的過程可包括對多層鄰近單元位置進行再分配。換言之，方框42中表示的過 程可包括將一個或更多個單元位置集再分配為非分類區(qū)域，其中，一個或更多個單元位置 集從緊鄰根據(jù)方框40分配的非分類區(qū)域的單元位置集橫向延伸。在其它實施例中，圖4中 描述的方法可以不包括對鄰近單元位置進行再分配的過程。特別的，方框42中表示的過程 是可選的，因此，在某些實施例中，可從圖4描述的流程圖中省略方框42中表示的過程。一般來說，隨著更多的單元位置被再分配為非分類區(qū)域，錯誤分類的發(fā)生減少，但 是，隨著更多的區(qū)域被再分配為非分類區(qū)域，分類效率(被分類到群的粒子與被分類到拒 絕類的粒子的比率)降低。因此，在使分類區(qū)域間的緩沖區(qū)域最小化與擴大緩沖區(qū)域之間 存在權(quán)衡。最優(yōu)化一般可取決于所使用的系統(tǒng)以及要被分析的測定。圖2b中描述了對共同分配的單元位置進行再分配，以及在某些實施例中，對鄰近 單元位置進行再分配的過程。具體的，圖2b描述了被再分配為非分類區(qū)域的分類區(qū)域1-2、 4-5,3和6-7、以及10-11的共同分配單元位置，這些非分類區(qū)域在圖4中被表示為分類矩 陣中的白色空間。在某種意義上，分類區(qū)域1-2、4-5、3和6-7、以及10-11的共同分配單元 位置已經(jīng)被“劃出(carve out) ”，從而減少或消除將粒子分類到兩個不同的分類中的可能 性和/或?qū)⒘Ｗ臃值讲徽_群中的可能性。換言之，共同分配單元位置的再分配在分類區(qū) 域之間安置了緩沖區(qū)。再分配技術(shù)的好處在于能夠使區(qū)域適度地更大而不會嚴格地限制分 類區(qū)域的大小。如上所指出的，本文中描述的方法、存儲介質(zhì)和系統(tǒng)不需要依賴于物理意義上圖 形描述的分類矩陣和分類區(qū)域。因此，對共同分配單元位置進行再分配的過程不需要依賴 于分類矩陣的描繪，例如圖加和2b中呈現(xiàn)的。而是，可在虛擬意義上執(zhí)行該過程，具體地 掃描存儲在存儲器中的每個分類區(qū)域的每個點(即，單元位置)。在這樣的掃描過程期間， 如果之前掃描的區(qū)域已經(jīng)占用了那個單元位置(即，指示共同分配的單元位置)，那么該單 元位置可被再分配為非分類區(qū)域。在某些情況下，再分配過程可包括改變存儲在存儲器中 的單元位置的標(biāo)識符。例如，單元位置最初可被分配與其被分配的類別相關(guān)聯(lián)的數(shù)字(例 如，1-12)，然后被再分配數(shù)字“0”以表示其為非分配區(qū)域的部分。在其它實施例中，被識別為共同分配的單元位置可被再分配唯一標(biāo)識符，例如，-1。這樣的唯一標(biāo)識符可幫助將單元位置與初始未被分配為分類區(qū)域的其它非分類點 區(qū)分開，這在以下情形中可能是有幫助的如上所描述的，關(guān)于圖4中的方框42，作為可選 處理，鄰近唯一標(biāo)識符的點也可被再分配為非分類區(qū)域。特別的，可搜索整個分類矩陣，并 且可用-ι標(biāo)識符代替與-ι標(biāo)識符相鄰的任意點，因此使緩沖區(qū)更大?？商孢x的，與-ι標(biāo) 識符相鄰的點可與具有-ι標(biāo)識符的點一起被再分配0標(biāo)識符，使得更大的緩沖區(qū)可與分類 矩陣的其它白色區(qū)域一起被分類為白色區(qū)域。如圖4所示，在某些實施例中，用于配置測定分析系統(tǒng)的粒子分類區(qū)域的方法可 在方框40或者方框42之后終止。但是，在其它情況下，期望與再分配技術(shù)相結(jié)合的附加過 程(即，方框32和40的過程，以及有時方框42的過程)是確定一個或者更多個分類區(qū)域 的分類效率。特別的，有利的是，在執(zhí)行再分配技術(shù)以確保再分配過程沒有不合乎希望地改 變分類區(qū)域以致這些分類區(qū)域不是要在測定中使用的粒子群的表示之后，確定一個或更多 個分離區(qū)域的分類效率。附加地或可替換地，有利的是，在執(zhí)行再分配技術(shù)以確保將過程應(yīng) 用到分類區(qū)域之前，確定分類矩陣的一個或更多個分類區(qū)域的分類效率，其中，這些分類區(qū) 域是要在測定中使用的粒子群的表示。圖4中的方框44-48示出用于計算一個或更多個分類區(qū)域的分類效率的示例性技 術(shù)。特別的，方框44涉及獲得對應(yīng)于多個粒子的可測量參數(shù)的數(shù)據(jù)?？赏ㄟ^測定測量系 統(tǒng)來獲得該數(shù)據(jù)，并且在某些實施例中，該數(shù)據(jù)可包括對若干不同參數(shù)的測量，這些參數(shù)包 括但不限于那些用于對粒子進行分類的參數(shù)。例如，該數(shù)據(jù)可包括對粒子的熒光、光散射、 電阻抗或任何其它可測量屬性的測量。在任何情況下，分別如圖4中的方框46和48所示， 該過程還可包括識別分類矩陣中該數(shù)據(jù)中的至少一些所對應(yīng)的單元位置，并且相對于多個 分類區(qū)域計算多個粒子的分類效率。如上所指出的以及如圖4所示出的，分類效率的計算 (即，與方框44-48相關(guān)聯(lián)的過程)可在再分配過程(即，與方框32和40、以及有時與方框 42相關(guān)聯(lián)的過程)之前和/或之后執(zhí)行。特別的，針對在再分配過程之前計算分類效率的 情況，圖4描述了從方框30到方框44的繼續(xù)箭頭。另外，針對在再分配過程之后計算分類 效率的情況，圖4描述了從方框42 (或方框40)到方框44的繼續(xù)箭頭。在某些情況下，可使用分類效率計算來確定是否應(yīng)該調(diào)整分類區(qū)域的空間屬性以 設(shè)法達到更高的分類效率。特別的，圖4所描述的方法可包括確定方框50，其中，如果計算 得到的分類效率被確定為小于預(yù)定閾值，那么該方法繼續(xù)到方框52以調(diào)整多個分類區(qū)域 中的一個或更多個中的一個或更多個空間屬性的值。預(yù)定閾值可隨系統(tǒng)和測定應(yīng)用的不同 而不同。另外，空間屬性可對應(yīng)于用來描述分類區(qū)域特征的大小、形狀、角度或任何其它參 數(shù)。在調(diào)整一個或更多個值之后，該方法返回到方框46以識別具有經(jīng)調(diào)整的分類區(qū) 域的分類矩陣中方框44所獲取的數(shù)據(jù)中的至少一些所對應(yīng)的單元位置，然后繼續(xù)到方框 48以計算新的分類效率，并在方框50中將該新的分類效率與預(yù)定閾值進行比較。在某些 實施例中，如圖4所示，與方框46、48、50和52相關(guān)聯(lián)的過程可迭代地重復(fù)直到分類效率被 計算為符合預(yù)定閾值或在預(yù)定閾值以上。在其它實施例中，可限制迭代的次數(shù)(即，可預(yù)設(shè) 迭代的最大次數(shù))。在這樣的情況下，當(dāng)分類效率被計算為等于或大于預(yù)定閾值時，或者直 至達到迭代的預(yù)設(shè)次數(shù)，可結(jié)束迭代過程。在后者的情況下，一般可確定的是，利用給定的 分類區(qū)域集不可能達到預(yù)定閾值，因此可終止圖4所概述的方法。在這種情況下，可采取校正動作來選擇不同的分類區(qū)域集以進行圖4所概述的方法，和/或降低用以管理方框50所 概述的過程的分類效率閾值。應(yīng)當(dāng)指出，為了簡化附圖，圖4中未示出對方框46、48、50和 52可被重復(fù)的迭代次數(shù)的限制，但是應(yīng)當(dāng)聲明的是，本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠想到如何基于上 述描述來加入這種限定。如圖4所示，在得到分類效率等于或大于預(yù)定閾值時，尤其是在已經(jīng)采用方框52 所概述的調(diào)整過程的實施例中，該方法可返回到方框32以再次初始化該再分配過程。在其 它情況下，該方法可繼續(xù)到方框32以第一次開始再分配過程(即，如果在效率的計算之前 未進行再分配過程)。在其它實施例中，當(dāng)?shù)玫椒诸愋实扔诨虼笥陬A(yù)定閾值時，該方法可 終止。特別的，有利的是，在針對分類效率所基于的分類區(qū)域集已經(jīng)執(zhí)行了再分配過程的情 況下(即，關(guān)于方框52，分類區(qū)域的空間屬性沒有變化時)，終止該方法。在任何情況下，應(yīng) 當(dāng)指出，可將本領(lǐng)域技術(shù)人員所公知的技術(shù)合并到圖4所概述的方法中，使得再分配過程 和分類效率的計算之間的來回切換不被阻塞在非常耗時(或永不結(jié)束)的周期內(nèi)。圖5中的流程圖示出用于配置測定檢測系統(tǒng)的分類區(qū)域的另一個實施例。應(yīng)當(dāng)指 出，關(guān)于圖4和5所描述的方法不需要是相互排斥的，因此，在某些實施例中，可使用上述兩 者來配置測定分析系統(tǒng)的分類區(qū)域。一般地，可使用關(guān)于圖5所描述的方法來創(chuàng)建分類區(qū) 域，用更精確地對應(yīng)于粒子測量值的值來表征該分類區(qū)域。更具體地，當(dāng)在精確度比粒子的 測量值更低的分類矩陣內(nèi)匹配時，可使用關(guān)于圖5所描述的方法來調(diào)整粒子群種類的一個 或更多個值以解決粒子群種類對應(yīng)的分類區(qū)域的移位。如上所指出的，在某些實施例中，尤 其是為了降低系統(tǒng)存儲容量，經(jīng)常通過比可從粒子測量到的值的標(biāo)度更低粒度的標(biāo)度來構(gòu) 建分類矩陣。例如，在某些實施例中，可通過從粒子測量參數(shù)的對數(shù)值所計算得到的整數(shù)范 圍來構(gòu)建分類矩陣。但是，在某些情況下，將粒子的測量值轉(zhuǎn)換成匹配分類矩陣的對數(shù)標(biāo)度 可使值偏移，降低粒子分類的準(zhǔn)確性。圖3描述分類矩陣以及由圖5概述的過程所產(chǎn)生的 分類區(qū)域的移位的圖形表示，因此結(jié)合圖5來描述圖3。如以上所指出的，分類矩陣在本文中是指對應(yīng)于用于分類的粒子測量參數(shù)的值的 陣列(真實的或虛擬的)。另外，如本文中所使用的，術(shù)語“分類區(qū)域”是指分類矩陣中一個 群體的粒子可被分類到的區(qū)域。術(shù)語“粒子群種類”與術(shù)語“分類區(qū)域”的細微差別在于，術(shù) 語“粒子群種類”是指粒子群的一個或更多個參數(shù)的可能測量值的組(即，用術(shù)語“粒子群” 指具有類似屬性的粒子的集合)。特別的，術(shù)語“粒子群種類”是指用粒子群的一個或更多 個參數(shù)的測量標(biāo)度來表征的可能值的組，而分類區(qū)域的值取決于值的范圍和分類矩陣的粒 度，其中，在該分類矩陣中布置分類區(qū)域的值。例如，在使用平均熒光強度(MFI)對測定粒子進行分類的實施例中，粒子群的可 能MFI的組可被稱為粒子群種類。相反的，對應(yīng)于這種粒子群種類的分類矩陣的分類區(qū)域 可包括取決于值的范圍和分類矩陣的粒度的相同值或不同值。特別的，如果通過與用于測 量粒子的MFI標(biāo)度相同的值和粒度來構(gòu)建分類矩陣，那么包括分類區(qū)域的值的范圍將與相 應(yīng)的粒子群種類的值相同。相反，如果通過與用于測量粒子的MFI標(biāo)度不同的值和/或粒 度來構(gòu)建分類矩陣，那么包括分類區(qū)域的值的范圍將與相應(yīng)的粒子群種類的值不同。如圖5所示，用于配置測定分析系統(tǒng)的分類區(qū)域的方法可包括方框60，在方框60 中，對應(yīng)于測定粒子群種類中的點的一個或更多個值被數(shù)學(xué)變換成新值。如本文中所使用 的，術(shù)語“數(shù)學(xué)變換”一般可指應(yīng)用數(shù)學(xué)公式以將值改變成不同值?？煽紤]任意公式，且任意公式一般可取決于相對于用于獲取關(guān)于粒子的數(shù)據(jù)的測量標(biāo)度的、分類矩陣的期望粒度。 一些示例性公式可以是基于對數(shù)的公式；采用指數(shù)、冪、二項式、泰勒(Taylor)級數(shù)或麥克 勞林(MacLaurin)級數(shù)、參數(shù)方程、坐標(biāo)轉(zhuǎn)換的公式；或每點被乘以或加上常數(shù)的復(fù)雜度相 對小的公式。針對方框60中所概述的過程還可考慮其它公式。因此，盡管以下根據(jù)圖5所 概述的方法，關(guān)于表1和2所描述的示例性數(shù)學(xué)過程為這個處理采用基于對數(shù)的公式，但是 圖5中提及的方法不需要被如此限制。如上所指出的，可用一個或更多個測量參數(shù)來表征粒子群，因此，可用一個或更多 個值來表征粒子群種類中的點。例如，以下根據(jù)圖5概述的方法、關(guān)于表1描述的示例性數(shù) 學(xué)過程描述了用3個參數(shù)來表征的粒子群種類，這3個參數(shù)被表示為分類通道“CL1”、“CL2” 和“CL3”。因此，方框60概述的過程可包括對與測定粒子群種類中的點對應(yīng)的一個或更多 個值進行數(shù)學(xué)變換。一般地，與方框60概述的處理相對應(yīng)的測定粒子群種類中的點可對應(yīng)于所配置 的測定粒子群種類中的任意點。在某些實施例中，有利的是，該點為測定粒子群種類的中心 點。具體地，經(jīng)常通過用目標(biāo)量的染料對粒子群進行染色來創(chuàng)建粒子群，其基于測定粒子群 種類的中心點。但是，在某些情況下，有利的是，該點是非中心點，特別是如果預(yù)期粒子群相 對于測定粒子群種類所包圍的值的分組是不對稱的。在這些情況下，粒子群種類的非中心 點，而不是中心點，可以是對粒子群進行染色的基礎(chǔ)。在任何情況下，轉(zhuǎn)換粒子的測量值以 匹配具有更低粒度的分類矩陣可使值發(fā)生偏移。因此，目標(biāo)染料量可不直接與分類區(qū)域的 特定點(例如，中心)相關(guān)聯(lián)。因而，圖5呈現(xiàn)的方法對于調(diào)整一個群體的粒子的目標(biāo)染料 量可以是特別有益的。在其它情況下，針對方框60概述的過程，可考慮不需要與對粒子群 進行染色相關(guān)聯(lián)的粒子群種類的點。這種點的示例可包括但不限于沿著分類區(qū)域的外圍的 點ο在根據(jù)方框60數(shù)學(xué)變換一個或更多個值之后，分別如方框62、64和66所表示的， 分別將一個或更多個經(jīng)數(shù)學(xué)變換的值轉(zhuǎn)換成一個或更多個第一整數(shù)，一個或更多個第一整 數(shù)被數(shù)學(xué)轉(zhuǎn)換，并且分別將得到的一個或更多個值轉(zhuǎn)換成一個或更多個第二整數(shù)。值到第 一整數(shù)和第二整數(shù)的轉(zhuǎn)換可包括對值進行舍入或舍位。一般，用于針對方框64概述的過程 數(shù)學(xué)轉(zhuǎn)換一個或更多個第一整數(shù)的公式可以是用于關(guān)于方框60數(shù)學(xué)轉(zhuǎn)換一個或更多個第 一整數(shù)的公式的逆反。例如，如果針對方框60概述的過程使用基于對數(shù)的公式來數(shù)學(xué)變換 一個或更多個值，那么關(guān)于方框64可使用相同基數(shù)的基于反對數(shù)的公式來數(shù)學(xué)變換一個 或更多個第一整數(shù)，反之亦然。而且，如果針對方框60概述的過程使用包括升到某正冪的 表達式的公式來數(shù)學(xué)變換一個或更多個值，那么關(guān)于方框64可使用包括升到那個數(shù)的負 數(shù)次冪的表達式的公式來數(shù)學(xué)變換一個或更多個第一整數(shù)，反之亦然。而且，如果針對方框 60中概述的過程使用包括乘以常數(shù)的公式來數(shù)學(xué)變換一個或更多個值，那么關(guān)于方框64 可使用包括除以同樣常數(shù)的公式來數(shù)學(xué)變換一個或更多個第一整數(shù)，反之亦然。在任何情況下，在方框66概述的過程之后，該方法繼續(xù)到方框68，其中，將一個或 更多個第二整數(shù)分別指定為方框60中所引用的測定粒子群種類中的點的一個或更多個替 換值。在某些實施例中，如方框70所表示的，該方法可附加地或可替換地包括將一個或更 多個第二整數(shù)指定為用于對粒子群進行染色的目標(biāo)。但是，這種處理是可選的，因此在某些 實施例中可從圖5中省略方框70。特別的，應(yīng)當(dāng)指出，第二整數(shù)中的一個或更多個相對接近于(例如，差小于粒子可被染色的精度)測定粒子群種類中的點的一個或更多個原始值，因 此可不需要改變用于對粒子群進行染色的目標(biāo)。在任何情況下，一旦改變了測定粒子群種 類的一個點，則使分類區(qū)域的相應(yīng)單元位置偏離其原始位置，分類區(qū)域中的其它點將基于 分類區(qū)域的已知配置(例如，大小、形狀、維度)以相同的方向和大小位移。針對多個分類 區(qū)域，圖3描述了示例性位移效果。如圖5所示，在某些實施例中，該方法可在方框68或70之后進行到方框72以確 定是否存在要被評估的任何其它測定粒子群種類。如果該確定是肯定的，該方法返回方框 60以數(shù)學(xué)處理對應(yīng)于不同測定粒子群種類中的點的一個或更多個值，并且針對不同的測定 粒子群種類，該方法還執(zhí)行方框62-68概述的過程，以及有時執(zhí)行方框70概述的過程?？?以針對測定粒子群種類的任意數(shù)量重復(fù)這種過程，并且在某些情況下，可以針對為測定所 考慮的全部測定粒子群種類重復(fù)這種過程。當(dāng)在方框72確定沒有其它測定粒子群種類要 被評估時，過程可終止或者進行到方框74以開始可選的評估過程，在以下根據(jù)方框74-78 被更詳細地描述該可選的評估過程。在可替選的過程中，可以針對多個測定粒子群種類同 時執(zhí)行關(guān)于方框60-68所描述的數(shù)學(xué)過程序列。如以下更詳細描述的，在已經(jīng)為多個測定粒子群種類指定多個替代值之后，可執(zhí) 行根據(jù)圖5 (即，方框74-88)所描述的可選的評估過程。但是，在其它實施例中，在已經(jīng)為 單個測定粒子群種類指定一個或更多個替換值之后，執(zhí)行可選的評估過程。為了反映后者 的實施例，圖5包括在方框70和74之間的連接箭頭，如果從方法中省略了與方框70相關(guān) 聯(lián)的過程，則該連接箭頭可替換地用作在方框68和74之間的連接箭頭。對于這兩種情況 中的任何一種，在執(zhí)行可選的評估過程之后，可評估附加的測定粒子群種類(即，可數(shù)學(xué)地 調(diào)整對應(yīng)于測定粒子群種類中的點的值從而為這些點指定替代值)，所以在圖5的方框82 與方框72之間存在連接箭頭以表示這種可選項。在其它實施例中，可放棄可選評估過程， 因此，在某些情況下，可從圖5中省略方框74-88。一般來說，可使用可選的評估過程來確定第二整數(shù)與分類矩陣的標(biāo)度匹配得如 何，從而產(chǎn)生可精確對應(yīng)于粒子群的測量值的分類區(qū)域。如圖5所示，方框74包括通過應(yīng)用 參考方框60中用于數(shù)學(xué)變換一個或更多個值的公式來數(shù)學(xué)變換一個或更多個第二整數(shù)。 可直接在根據(jù)方框70所描述的過程之后執(zhí)行方框74所概述的過程，或者當(dāng)在方框72確定 沒有其它測定粒子群種類要被評估時執(zhí)行方框74所概述的過程。對于這兩種情況中的任 何一種，在方框74之后，該方法繼續(xù)到方框76，其中，計算由數(shù)學(xué)變換第二值或多個第二值 所得到的值或多個值與其最接近整數(shù)之間的差或多個差。在此之后，評估過程進行到如下 所描述的方框78處的兩種情形之一。在已經(jīng)評估了單個測定粒子群種類并且其值中的一個或更多個值已經(jīng)被方框66 中所計算的一個或更多個第二整數(shù)替代的情況下，或者當(dāng)希望為每個單個的測定粒子群種 類執(zhí)行評估過程時，該方法可繼續(xù)到方框80以確定方框76處計算的差或多個差是否大于 預(yù)定閾值。預(yù)定閾值可隨系統(tǒng)和測定應(yīng)用的不同而不同。如圖5的方框82中所示，如果 所計算的差或多個差大于預(yù)定閾值，那么取消方框68中的將第二整數(shù)或多個第二整數(shù)指 定為替代值或多個替代值。特別的，大于預(yù)定閾值的差可指示相應(yīng)的第二整數(shù)沒有更好地 表示分類區(qū)域的粒子群的測量值，因此將測定粒子群種類中的點調(diào)整到這個數(shù)可能是無益 的。相反的，如果所計算的差或多個差小于預(yù)定閾值，那么保留將第二整數(shù)值或多個第二整數(shù)值指定為測定粒子群種類中的點的替代值或多個替代值。在替換實施例中，該方法可不包括將方框76處所計算的差或多個差與預(yù)定閾值 進行比較(即，根據(jù)方框80所描述的過程)。而是，在某些情況下，可從圖5所示出的流程 圖中省略方框80。在方框80的位置處，由根據(jù)方框60執(zhí)行的數(shù)學(xué)變換所得到的值或多個 值與其最接近整數(shù)或多個整數(shù)之間的差或多個差的計算過程可被計算。當(dāng)確定這個差或這 些差小于根據(jù)方框76所計算的差或多個差時，該方法可繼續(xù)到方框82以取消將第二整數(shù) 或多個第二整數(shù)指定為替代值或多個替代值。應(yīng)當(dāng)指出，為了簡化附圖，圖5中未示出方框 80的省略以及表示前述處理的方框的替代。但是，應(yīng)當(dāng)聲明，本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠想到如何 基于前述描述來合并這種限定。在任何情況下，該方法在如上所指出的評估過程之后可進行到方框72以確定是 否存在要被評估的任何其它測定粒子群種類。與方框60-76相關(guān)聯(lián)的步驟序列以及如上所 指出的評估過程可被重復(fù)任意多次以評估不同測定粒子群種類中的點。當(dāng)確定沒有其它測 定粒子群種類要被評估時，過程可終止。在替換實施例中，尤其是如果多個測定粒子群種類 在評估過程之前已經(jīng)被評估了，則該方法從如上所指出的評估過程進行到方框76。在其它 實施例中，過程可在以下情況下終止當(dāng)在方框80處確定所計算的差小于預(yù)定閾值時；在 確定由根據(jù)方框60執(zhí)行的數(shù)學(xué)變換所得到的值或多個值與其最接近整數(shù)或多個整數(shù)之間 的差或多個差大于根據(jù)方框76所計算的差之后；或者當(dāng)在方框82處取消將第二整數(shù)指定 為替代值時。但是，為了簡化附圖，這些終止情形中的任何一個都未在圖5中示出。在多個測定粒子群種類中的點在可選的評估過程之前已經(jīng)被評估并且被方框66 中計算的第二整數(shù)值所替代的情況下，方法可從方框78繼續(xù)到方框84以計算針對第二整 數(shù)中的每一個整數(shù)所計算的、大于預(yù)定閾值的差的比例。預(yù)定閾值可隨系統(tǒng)和測定應(yīng)用的 不同而不同，并且可以與方框80中所引用的預(yù)定閾值相同或不同。其后，方法繼續(xù)到方框 86以確定比例是否大于預(yù)定水平。預(yù)定水平可隨系統(tǒng)和測定應(yīng)用的不同而不同。如圖5 的方框88中所示，如果比例大于預(yù)定水平，那么取消根據(jù)方框68所描述的將第二整數(shù)值指 定為替代值。特別的，大于預(yù)定水平的比例可指示相當(dāng)大數(shù)量的第二整數(shù)沒有更好地表示 其各自測定粒子群種類的粒子的測量值，因此將測定粒子群種類中的點調(diào)整到這些數(shù)可能 不是有益的。相反，如果計算出的比例小于預(yù)定水平，那么保留將第二整數(shù)值指定為分類區(qū) 域的替代值。在上述兩種情況的任何一種情況下，如圖5所示，處理可在方框86或88之后 終止?？商孢x地，處理可返回到方框72以確定是否存在要被評估的任何其它測定粒子群種 類。僅僅是為了簡化附圖，圖5中未示出這種可選項。在替選實施例中，該方法可以不包括計算大于預(yù)定閾值(即，根據(jù)方框84所描述 的過程)的差的比例。而是，在某些情況下，可從圖5所示出的流程圖中省略方框84。在方 框84的位置，由根據(jù)方框60執(zhí)行的數(shù)學(xué)變換所得到的值與其最接近整數(shù)之間的差或多個 差的計算過程可被計算。在這種情況下，可計算比根據(jù)方框76計算的差更小的差的比例。 在某些情況下，可將這個比例與如根據(jù)方框86所描述的預(yù)定水平進行比較，并且方法可繼 續(xù)進行到方框88、終止、或返回到方框72。應(yīng)當(dāng)指出，為了簡化附圖，圖5中未示出方框86 的省略以及前述處理的替代。但是，應(yīng)當(dāng)聲明，本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠想到如何基于前述描述 來合并這種限定。不管如何使用評估過程，其僅僅可與相對大的值有關(guān)，這些相對大的值對應(yīng)于根據(jù)方框60描述的測定粒子群種類中的點。特別的，在圖5概述的方法僅使值最多改變幾個 百分點的情況下，這種變化對于相對小的值可能不是足夠顯著的。因此，可將規(guī)定合并到圖 5概述的方法中，以僅針對大于特定數(shù)的、對應(yīng)于根據(jù)方框60所描述的測定粒子群種類中 的點的值來實施評估過程?？商鎿Q地，可實施規(guī)定，使得將評估過程應(yīng)用到全體范圍的值， 但是針對小于特定數(shù)的值，忽略方框82和88的取消過程。應(yīng)當(dāng)指出，為了簡化附圖，圖5 中未示出這些措施，但是應(yīng)當(dāng)聲明，本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠想到如何基于前述描述來合并這 種限定?？杀辉黾拥綀D5所概述的方法的可選過程是使用不同的數(shù)學(xué)變換等式集來重復(fù) 根據(jù)方框60-76所描述的過程，然后針對用于評估粒子群種類的每個數(shù)學(xué)變換等式集來比 較根據(jù)方框76計算的差。在這種情況下，由生成差的最小變化的數(shù)學(xué)變換等式集產(chǎn)生的第 二整數(shù)可被指定為方框60概述的過程中所指的測定粒子群種類中的點的最終替代值。特 別的，由生成差的最小變化的數(shù)學(xué)變換等式集生成的第二整數(shù)可以是值的表示，其中，這些 值可最精確地對應(yīng)于由基于數(shù)學(xué)變換等式集的參數(shù)標(biāo)度構(gòu)建的分類矩陣中的粒子的測量 值。應(yīng)當(dāng)指出，為了簡化附圖，圖5中未示出這個可選過程，但是應(yīng)當(dāng)聲明，本領(lǐng)域技術(shù)人員 能夠想到如何基于前述描述來合并該過程。下面描述示例性數(shù)學(xué)過程，其可被用于根據(jù)圖5的方框60-88所描述的過程。另 外，表1和表2示出了從這種示例性過程生成的和所使用的數(shù)據(jù)。特別的，表1和表2列出 了針對3個測定粒子群種類所生成的數(shù)據(jù)，具體是每個測定粒子群種類中被表示為“CL1”、 “CL2”和“CL3”的3個分類通道的分類數(shù)據(jù)。應(yīng)當(dāng)指出，多路復(fù)用系統(tǒng)典型地可以并且將 包括多于3個的測定粒子群種類。另外，取決于所采用的測定分析系統(tǒng)，可使用少于3個或 多于3個的分類通道。因此，根據(jù)圖5所描述的過程不應(yīng)該被解釋成限于表1和表2所提 供的示例性數(shù)據(jù)。分類通道CL1-CL3 —般可指用來對粒子進行分類的任何參數(shù)，但是在某 些實施例中，分類通道CL1-CL3可具體地指熒光測量。在這些情況下，圖5概述的方法尤其 能夠應(yīng)用于改變對粒子群進行染色的目標(biāo)量。表1具體涉及圖5的方框60-70所概述的過 程，而表2具體涉及根據(jù)圖5的方框76-88所描述的評估過程以及評估過程的替選選項。
MFl目標(biāo)變換公式舍入的第一整數(shù)逆反變化函數(shù)舍入的第二整數(shù)
CL1CL2CL3CL1CL2CL3CL1CL2CL3CL1CL2CL3CL1CL2CL318.8530.9910.5973.2984.9960.0973.0085.0060.0018.6231.0010.5519.0031.0011.002691.74Θ85.68341.37160.38169.07143.06160.00169.00143.00680.11.982.07339.55680.00982.00340.0037113.711077.04264.63217.54171.24136.81218.00171.00137.007247.631065.59265.657248.001066.00266.00表1 使用圖5中描述的過程對測定分析系統(tǒng)的分類區(qū)域進行配置的示例性數(shù)據(jù) 生成
19關(guān)于笫二整數(shù)的變換公式 舍入的第三整數(shù)差關(guān)于第一變換公式的差
權(quán)利要求
1.一種包括程序指令的存儲介質(zhì)，所述程序指令能夠被處理器執(zhí)行以用于識別分類矩陣中的多個分類區(qū)域，所述分類矩陣由與被配置成用于測定分析的粒子的 一個或更多個可測量參數(shù)相關(guān)聯(lián)的值的各范圍所構(gòu)建；以及將被共同分配給所述多個分類區(qū)域中的兩個或更多個分類區(qū)域的單元位置再分配為 非分類區(qū)域。
2.如權(quán)利要求1所述的存儲介質(zhì)，其中，所述程序指令還能夠被所述處理器執(zhí)行以用 于進一步將與所述共同分配的單元位置鄰近的單元位置再分配為非分類區(qū)域。
3.如權(quán)利要求1所述的存儲介質(zhì)，其中，所述程序指令還能夠被所述處理器執(zhí)行以用于在將所述分類矩陣的單元位置再分配為非分類區(qū)域之前，計算所述分類矩陣中的所述 共同分配的單元位置的數(shù)量；當(dāng)計算出的共同分配的單元位置的數(shù)量在預(yù)定閾值以上時，調(diào)整所述多個分類區(qū)域中 的一個或更多個分類區(qū)域的一個或更多個空間屬性值；在調(diào)整所述分類區(qū)域中的一個或更多個分類區(qū)域的一個或更多個空間屬性值之后，識 別所述分類矩陣中被共同分配給所述分類區(qū)域中的兩個或更多個分類區(qū)域的單元位置；以 及迭代執(zhí)行以下步驟計算所述分類矩陣中的所述共同分配的單元位置的數(shù)量；調(diào)整所 述多個分類區(qū)域中的一個或更多個分類區(qū)域的一個或更多個空間屬性值；以及識別所述分 類矩陣中被共同分配給所述分類區(qū)域中的兩個或更多個分類區(qū)域的單元位置，直至所述分 類矩陣中被共同分配的單元位置的數(shù)量被計算為等于或小于所述預(yù)定閾值為止，其中，所 述用于將所述分類矩陣的單元位置再分配為非分類區(qū)域的程序指令包括用于將與下述分 類區(qū)域相關(guān)聯(lián)的共同分配的單元位置再分配為非分類區(qū)域的程序指令所述分類區(qū)域使被 計算出的共同分配的單元位置的數(shù)量等于或小于所述預(yù)定閾值。
4.如權(quán)利要求1所述的存儲介質(zhì)，其中，所述程序指令還能夠被所述處理器執(zhí)行以用于在將所述分類矩陣的單元位置再分配為非分類區(qū)域之前，計算所述分類矩陣中的所述 共同分配的單元位置的數(shù)量；調(diào)整所述多個分類區(qū)域中的一個或更多個分類區(qū)域的一個或更多個空間屬性值；在調(diào)整所述分類區(qū)域中的一個或更多個分類區(qū)域的一個或更多個空間屬性值之后，識 別所述分類矩陣中被共同分配給所述分類區(qū)域中的兩個或更多個分類區(qū)域的單元位置；以 及以預(yù)定次數(shù)迭代執(zhí)行以下步驟計算所述分類矩陣中的所述共同分配的單元位置的數(shù) 量，調(diào)整所述多個分類區(qū)域中的一個或更多個分類區(qū)域的一個或更多個空間屬性值，以及 識別所述分類矩陣中被共同分配給所述分類區(qū)域中的兩個或更多個分類區(qū)域的單元位置， 其中，所述用于將所述分類矩陣的單元位置再分配為非分類區(qū)域的程序指令包括用于將與 下述分類區(qū)域相關(guān)聯(lián)的共同分配的單元位置再分配為非分類區(qū)域的程序指令所述分類區(qū) 域具有最小數(shù)量的共同分配的單元位置。
5.如權(quán)利要求3所述的存儲介質(zhì)，其中，所述多個分類區(qū)域是橢圓形的，并且其中，所 述用于調(diào)整一個或更多個空間屬性值的程序指令包括調(diào)整所述多個分類區(qū)域的長軸、短軸、仰角以及方位角中至少之一的值。
6.如權(quán)利要求1所述的存儲介質(zhì)，其中，所述程序指令還能夠被所述處理器執(zhí)行以用于獲取對應(yīng)于多個粒子的可測量參數(shù)的數(shù)據(jù)；識別所述分類矩陣中所述數(shù)據(jù)中的至少一些所對應(yīng)的單元位置；相對于所述多個分類區(qū)域計算所述多個粒子的分類效率；當(dāng)計算出的分類效率在預(yù)定閾值以下時，調(diào)整所述多個分類區(qū)域中的一個或更多個分 類區(qū)域的一個或更多個空間屬性值；重復(fù)以下步驟計算分類效率，以及當(dāng)計算出的分類效率在預(yù)定閾值以下時調(diào)整一個 或更多個空間屬性值，直至分類效率等于或大于所述預(yù)定閾值為止。
7.如權(quán)利要求6所述的存儲介質(zhì)，其中，所述程序指令還能夠被所述處理器執(zhí)行以用 于重復(fù)以下步驟計算分類效率，以及在將所述分類矩陣的單元位置再分配為非分類區(qū)域 的步驟之前調(diào)整一個或更多個空間屬性值。
8.如權(quán)利要求6所述的存儲介質(zhì)，其中，所述程序指令還能夠被所述處理器執(zhí)行以用 于重復(fù)以下步驟計算分類效率，以及在將所述分類矩陣的單元位置再分配為非分類區(qū)域 的步驟之后調(diào)整所述一個或更多個空間屬性值。
9.一種系統(tǒng)，包括 處理器；以及存儲介質(zhì)，包括程序指令，所述程序指令能夠被所述處理器執(zhí)行以用于 將對應(yīng)于測定粒子群種類中的點的第一值數(shù)學(xué)變換成第二值； 將所述第二值轉(zhuǎn)換成第一整數(shù)；通過將變換公式應(yīng)用到所述第一整數(shù)來將所述第一整數(shù)數(shù)學(xué)變換成第三值，其中，所 述變換公式與用于數(shù)學(xué)變換所述第一值的變換公式相逆； 將所述第三值轉(zhuǎn)換成第二整數(shù)；以及將所述第二整數(shù)指定為所述測定粒子群種類中的所述點的替代值。
10.如權(quán)利要求9所述的系統(tǒng)，其中，所述用于數(shù)學(xué)變換對應(yīng)于所述測定粒子群種類中 的所述點的所述第一值的程序指令包括用于數(shù)學(xué)變換對應(yīng)于所述測定粒子群種類的中心 點的值的程序指令。
11.如權(quán)利要求9所述的系統(tǒng)，還包括用于將所述第二整數(shù)指定為用于對用于測定分 析的粒子群進行染色的目標(biāo)的程序指令。
12.如權(quán)利要求9的系統(tǒng)，其中，所述用于數(shù)學(xué)變換所述第一值的程序指令包括用于以 基于對數(shù)的公式、包括指數(shù)的公式、包括冪的公式、包括二項式的公式、包括泰勒級數(shù)或麥 克勞林級數(shù)的公式、包括參數(shù)方程的公式、包括坐標(biāo)變換的公式或?qū)⑺龅谝恢党艘曰蚣?上常數(shù)的公式來數(shù)學(xué)變換所述第一值的程序指令。
13.如權(quán)利要求9所述的系統(tǒng)，還包括程序指令，用于通過將用于數(shù)學(xué)變換所述第一值的變換公式應(yīng)用到所述第二整數(shù)來將所述第二整數(shù) 數(shù)學(xué)變換成第四值；計算所述第四值與其最接近整數(shù)之間的差；以及當(dāng)計算出的差大于預(yù)定閾值時，取消將所述第二整數(shù)指定為所述替代值。
14.如權(quán)利要求9所述的系統(tǒng)，還包括程序指令，用于通過將用于數(shù)學(xué)變換所述第一值的變換公式應(yīng)用到所述第二整數(shù)來將所述第二整數(shù) 數(shù)學(xué)變換成第四值；計算所述第四值與其最接近整數(shù)之間的第一差； 計算所述第二值與其最接近整數(shù)之間的第二差；以及當(dāng)確定所述第二差小于所述第一差時，取消將所述第二整數(shù)指定為所述替代值。
15.如權(quán)利要求9所述的系統(tǒng)，其中，所述程序指令還能夠被所述處理器執(zhí)行以用于 針對多個不同測定粒子群種類中的每個，重復(fù)以下步驟將對應(yīng)于相應(yīng)測定粒子群種類中的點的第一值數(shù)學(xué)變換成第二值，將所述第二值轉(zhuǎn)換成第一整數(shù)，通過將與用于數(shù)學(xué) 變換所述第一值的變換公式相逆的公式應(yīng)用到所述第一整數(shù)來將所述第一整數(shù)數(shù)學(xué)變換 成第三值，將所述第三值轉(zhuǎn)換成第二整數(shù)，以及將所述第二整數(shù)指定為對應(yīng)于所述相應(yīng)測 定粒子群種類中的所述點的替代值；通過將用于數(shù)學(xué)變換與所述多個不同測定粒子群種類中的每個中的點相對應(yīng)的所述 第一值的變換公式應(yīng)用到所述第二整數(shù)，將針對所述多個不同測定粒子群種類中的每個而 計算的所述第二整數(shù)中的每個數(shù)學(xué)變換成各第四值； 計算所述第四值與其各自最接近整數(shù)之間的差； 計算預(yù)定閾值以上的所述差的比例；以及當(dāng)計算出的比例大于預(yù)定水平時，取消將所述第二整數(shù)指定為所述替代值。
16.一種方法，包括獲取對應(yīng)于粒子的可測量參數(shù)的數(shù)據(jù)；識別分類矩陣中單個粒子的所述數(shù)據(jù)中的至少一些所對應(yīng)的單元位置，其中，所述分 類矩陣由與所述可測量參數(shù)的至少之一相關(guān)聯(lián)的值所構(gòu)建；將對應(yīng)于所述被識別的單元位置的數(shù)據(jù)在所述分類矩陣中平移預(yù)定坐標(biāo)路徑； 確定經(jīng)平移的數(shù)據(jù)是否在所述分類矩陣中預(yù)定位置處的目標(biāo)空間內(nèi)匹配； 重復(fù)以下步驟平移所述數(shù)據(jù)；以及針對所述分類矩陣中的不同預(yù)定坐標(biāo)路徑確定經(jīng) 平移的數(shù)據(jù)是否在所述目標(biāo)空間內(nèi)匹配，直至做出兩個結(jié)論性動作之一為止，其中所述兩 個結(jié)論性動作包括確定所述經(jīng)平移的數(shù)據(jù)在所述目標(biāo)空間內(nèi)匹配；以及在沒有確定所述經(jīng)平移的數(shù)據(jù)在所述目標(biāo)空間內(nèi)匹配的情況下，將所述數(shù)據(jù)平移預(yù)定 數(shù)量的預(yù)定坐標(biāo)路徑；當(dāng)確定所述經(jīng)平移的數(shù)據(jù)在所述目標(biāo)空間內(nèi)匹配時，將所述粒子分類到與這樣的預(yù)定 坐標(biāo)路徑相關(guān)聯(lián)的粒子群所述數(shù)據(jù)經(jīng)平移所述預(yù)定坐標(biāo)路徑而匹配到所述目標(biāo)空間內(nèi)； 以及當(dāng)將所述數(shù)據(jù)平移所述預(yù)定數(shù)量的預(yù)定坐標(biāo)路徑而沒有確定所述經(jīng)平移的數(shù)據(jù)在所 述目標(biāo)空間內(nèi)匹配時，執(zhí)行兩個動作項之一，其中所述動作項包括如果沒有其它目標(biāo)空間能夠用于評估，則將所述粒子分類到拒絕類；以及 重復(fù)以下步驟平移所述數(shù)據(jù)，以及確定經(jīng)由所述預(yù)定坐標(biāo)路徑平移的數(shù)據(jù)是否在不 同的目標(biāo)空間內(nèi)匹配，直至做出所述兩個決定性動作之一為止。
17.如權(quán)利要求16所述的方法，其中，所述識別分類矩陣中的單元位置的步驟還包括識別所速分類矩陣的包括所述單元位置的段，并且其中所述平移所述數(shù)據(jù)的步驟包括以與 所述被識別的段相關(guān)聯(lián)的預(yù)定坐標(biāo)路徑平移所述數(shù)據(jù)。
18.如權(quán)利要求16所述的方法，其中，所述目標(biāo)空間和所述不同目標(biāo)空間的至少之一 包括單個分類區(qū)域配置的邊緣。
19.如權(quán)利要求16所述的方法，其中，所述目標(biāo)空間和所述不同目標(biāo)空間的至少之一 包括以同一點為中心的多個分類區(qū)域配置的邊緣。
20.如權(quán)利要求19所述的方法，其中，所述確定所述經(jīng)平移的數(shù)據(jù)是否在所述目標(biāo)空 間內(nèi)匹配的步驟包括在平移所述數(shù)據(jù)的步驟過程中，檢測代表包括所述目標(biāo)空間的多個分類形狀之一的代碼；識別與所述數(shù)據(jù)被平移的預(yù)定坐標(biāo)路徑相關(guān)聯(lián)的粒子群以檢測所述代碼； 將檢測到的代碼和與被識別的粒子群相關(guān)聯(lián)的有效形狀代碼的列表進行比較； 當(dāng)確定所檢測到的代碼被列為所述被識別的粒子群的有效形狀代碼時，確定所述經(jīng)平 移的數(shù)據(jù)在所述目標(biāo)空間內(nèi)匹配；以及當(dāng)確定所檢測到的代碼未被列為所述被識別的粒子群的有效形狀代碼時，確定所述經(jīng) 平移的數(shù)據(jù)未在所述目標(biāo)空間內(nèi)匹配。
21.如權(quán)利要求20所述的方法，其中，所述將所述檢測到的代碼與有效形狀代碼的列 表進行比較的步驟包括識別寄存器中的有效形狀代碼的列表，其列出所述分類矩陣中所包 括的每個粒子群的有效形狀代碼。
22.如權(quán)利要求20所述的方法，其中，所述將所述檢測到的代碼與有效形狀代碼的列 表進行比較的步驟包括參照代表第一寄存器中與所述被識別的粒子群相關(guān)聯(lián)的一團形狀代碼的指示器；以及 識別不同的第二寄存器中與所參照的指示器相關(guān)聯(lián)的有效形狀代碼的列表。
23.一種包括程序指令的存儲介質(zhì)，所述程序指令能夠被處理器執(zhí)行以用于 獲取對應(yīng)于粒子的可測量參數(shù)的數(shù)據(jù)；識別分類矩陣中單個粒子的所述數(shù)據(jù)中的至少一些所對應(yīng)的單元位置，其中，所述分 類矩陣由與所述可測量參數(shù)的至少之一相關(guān)聯(lián)的值所構(gòu)建；將所述分類矩陣中已知位置處的目標(biāo)空間在所述分類矩陣中平移預(yù)定坐標(biāo)路徑； 確定經(jīng)平移的目標(biāo)空間是否包圍所述分類矩陣的所述被識別的單元位置； 重復(fù)以下步驟平移所述目標(biāo)空間，以及針對所述分類矩陣中的不同預(yù)定坐標(biāo)路徑確 定所述經(jīng)平移的目標(biāo)空間是否包圍所述被識別的單元位置，直至做出兩個結(jié)論性動作之一 為止，其中所述兩個結(jié)論性動作包括確定所述經(jīng)平移的目標(biāo)空間包圍所述被識別的單元位置；以及 將所述目標(biāo)空間平移預(yù)定數(shù)量的預(yù)定坐標(biāo)路徑而沒有確定所述目標(biāo)空間包圍所述被 識別的單元位置；當(dāng)確定所述經(jīng)平移的目標(biāo)空間包圍所述被識別的單元位置時，將所述粒子分類到與這 樣的預(yù)定坐標(biāo)路徑相關(guān)聯(lián)的粒子群所述目標(biāo)空間被平移所述預(yù)定坐標(biāo)路徑而包圍所述被 識別的單元位置；以及當(dāng)將所述目標(biāo)空間平移預(yù)定數(shù)量的預(yù)定坐標(biāo)路徑而沒有確定所述經(jīng)平移的目標(biāo)空間包圍所述被識別的單元位置時，執(zhí)行兩個動作項之一，其中所述動作項包括如果沒有其它目標(biāo)空間能夠用于評估，則將粒子分類到拒絕類；以及重復(fù)以下步驟平移不同目標(biāo)空間，以及確定經(jīng)由所述預(yù)定坐標(biāo)路徑平移的所述不同 目標(biāo)空間是否包圍所述被識別的單元位置，直至做出所述兩個決定性動作之一為止。
24.如權(quán)利要求23所述的存儲介質(zhì)，其中，用于識別分類矩陣中單元位置的程序指令 還包括用于識別所述分類矩陣的包括所述單元位置的段的程序指令，并且其中，用于平移 所述目標(biāo)空間的程序指令包括用于以與所述被識別的段相關(guān)聯(lián)的預(yù)定坐標(biāo)路徑平移所述 目標(biāo)空間的程序指令。
25.如權(quán)利要求23所述的存儲介質(zhì)，其中，所述目標(biāo)空間和所述不同目標(biāo)空間的至少 之一包括單個分類區(qū)域配置的邊緣。
26.如權(quán)利要求23所述的存儲介質(zhì)，其中，所述目標(biāo)空間和所述不同目標(biāo)空間至少之 一包括以同一點為中心的多個分類區(qū)域配置的邊緣。
27.如權(quán)利要求26所述的存儲介質(zhì)，其中，用于確定所述經(jīng)平移的目標(biāo)空間是否包圍 所述被識別的單元位置的程序指令包括用于以下操作的程序指令在平移所述目標(biāo)空間的步驟過程中，檢測代表包括所述目標(biāo)空間的多個分類形狀之一 的代碼；識別與所述目標(biāo)空間被平移的預(yù)定坐標(biāo)路徑相關(guān)聯(lián)的粒子群以檢測所述代碼；將檢測到的代碼和與所述被識別的粒子群相關(guān)聯(lián)的有效形狀代碼的列表進行比較；當(dāng)確定所述檢測到的代碼被列為所述被識別的粒子群的有效形狀代碼時，確定所述經(jīng) 平移的目標(biāo)空間包圍所述被識別的單元位置；以及當(dāng)確定所述檢測到的代碼未被列為所述被識別的粒子群的有效形狀代碼時，確定所述 經(jīng)平移的目標(biāo)空間未包圍所述被識別的單元位置。
28.如權(quán)利要求27所述的存儲介質(zhì)，其中，將所述檢測到的代碼與有效形狀代碼的列 表進行比較的程序指令包括用于識別寄存器中的有效形狀代碼列表的程序指令，所述有效 形狀代碼列表列出所述分類矩陣中包括的每個粒子群的有效形狀代碼。
29.如權(quán)利要求27所述的存儲介質(zhì)，其中，將所述檢測到的代碼與有效分類代碼的列 表進行比較的程序指令包括用于以下操作的程序指令參照代表第一寄存器中與所述被識別的粒子群相關(guān)聯(lián)的一團形狀代碼的指示器；以及識別不同的第二寄存器中與所參照的指示器相關(guān)聯(lián)的有效形狀代碼的列表。
全文摘要
公開了方法和系統(tǒng)，其包括用于將分類矩陣中兩個或更多個分類區(qū)域交疊處的單元位置再分配為非分類區(qū)域的配置。另外，公開了系統(tǒng)和方法，其包括用于數(shù)學(xué)地創(chuàng)建可以用更準(zhǔn)確地與粒子的測量值對應(yīng)的值來表征的分類區(qū)域的配置。方法和系統(tǒng)的其它實施例包括用于獲取對應(yīng)于粒子可測量參數(shù)的數(shù)據(jù)的配置，以及用于識別分類矩陣中數(shù)據(jù)中的至少一些所對應(yīng)的位置的配置。這種方法和系統(tǒng)還包括用于將與被識別的單元位置或位于分類矩陣中已知位置處的目標(biāo)空間相對應(yīng)的數(shù)據(jù)中的任一個平移預(yù)定數(shù)量的預(yù)定坐標(biāo)路徑，直至得到粒子可被分類到某粒子種類或拒絕類的結(jié)論為止的配置。
文檔編號G06F17/00GK102124458SQ200980132161
公開日2011年7月13日 申請日期2009年7月17日 優(yōu)先權(quán)日2008年7月17日
發(fā)明者韋恩·D·羅特 申請人:盧米耐克斯公司