專(zhuān)利名稱(chēng)：電容式觸控感應(yīng)裝置及其檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種電容式觸控感應(yīng)裝置及其檢測(cè)方法，特別是涉及一種適用于多點(diǎn) 觸控檢測(cè)的電容式觸控感應(yīng)裝置及其檢測(cè)方法。
背景技術(shù)：
觸控面板(Touch Panel)具有操作方便、反應(yīng)速度快及節(jié)省空間的優(yōu)點(diǎn)，能提供使 用者更直覺(jué)與便利的操控方式，因而成為重要的輸入接口。目前觸控面板已廣泛地用于各 式的消費(fèi)性電子產(chǎn)品中，例如個(gè)人數(shù)字助理、智能型移動(dòng)通訊裝置、筆記型計(jì)算機(jī)及銷(xiāo)售管 理系統(tǒng)(P0Q等電子產(chǎn)品。而兼具性能穩(wěn)定、靈敏度佳且耐用的電容式觸控技術(shù)是目前最 受歡迎的觸控技術(shù)之一。一般來(lái)說(shuō)，電容式觸控技術(shù)主要是藉由檢測(cè)人體與觸控面板上的觸控點(diǎn)接觸時(shí)， 因靜電結(jié)合所產(chǎn)生的感應(yīng)電容變化，來(lái)判斷觸控事件，換句話(huà)說(shuō)，即利用人體觸摸某一觸控 點(diǎn)前后的電容特性差異，來(lái)實(shí)現(xiàn)觸控功能。請(qǐng)參考圖1，圖1為現(xiàn)有的一投射電容感應(yīng)裝置 10的示意圖。電容投射電容感應(yīng)裝置10包含有感應(yīng)電容串行& Xm與Y1 Yn，每一感應(yīng) 電容串行是由多個(gè)感應(yīng)電容所串接成的一維結(jié)構(gòu)?，F(xiàn)有的觸控檢測(cè)方式為檢測(cè)每一感應(yīng)電 容串行的電容值，來(lái)判斷是否有觸控事件發(fā)生。假設(shè)感應(yīng)電容串行&有a個(gè)感應(yīng)電容，每一 感應(yīng)電容的電容值為C，則正常情況下，感應(yīng)電容串行&的電容值為aC。若人體(例如手 指)接觸到感應(yīng)電容串行&上的某一感應(yīng)電容時(shí)的電容變化量為△(。若檢測(cè)到感應(yīng)電容 串行&的電容值為(aC+AC)時(shí)，即表示目前手指正接觸于感應(yīng)電容串行&上的某處。如 圖1所示，于手指接觸到觸控點(diǎn)A (即()(3，Υ3)坐標(biāo)處)時(shí)，感應(yīng)電容串行)(3及乙同時(shí)感應(yīng) 到電容變化，而判斷觸控感應(yīng)點(diǎn)在(Χ3，Υ3)處。然而，針對(duì)多點(diǎn)觸控的情況時(shí)，將可能面臨誤判的問(wèn)題，舉例來(lái)說(shuō)，請(qǐng)參考圖2，圖 2為投射電容感應(yīng)裝置10的多點(diǎn)觸控示意圖。如圖2所示，由于同時(shí)有兩只手指接觸到投 射電容感應(yīng)裝置10，感應(yīng)電容串行XyX1^YyYlri會(huì)同時(shí)感應(yīng)到電容變化，因而將會(huì)判斷成 在(X3, Y3)、(X3, Ylri)、(Xlrt，Y3)、(Xnri，YnJ處有觸控事件發(fā)生。但是，實(shí)際上，僅有(X3, Y3) 與(Xffl-L Yn-!)為真實(shí)觸控點(diǎn)，而(X3, Yn-!) > Ori，Y3)并非真實(shí)觸控點(diǎn)。在此情況下，投射電 容感應(yīng)裝置10發(fā)生錯(cuò)誤判斷的結(jié)果，而使檢測(cè)結(jié)果誤報(bào)了兩個(gè)非真實(shí)觸控點(diǎn)，也就是導(dǎo)致 了所謂幽靈鍵(ghost key)的情況。因此，當(dāng)有多點(diǎn)觸控的情形時(shí)，僅能得知有哪些感應(yīng)電 容串行的交會(huì)處可能有觸控事件發(fā)生，而無(wú)法確實(shí)定位出真實(shí)觸控點(diǎn)。除此之外，為了實(shí)現(xiàn)二維定位的目的，投射電容感應(yīng)裝置10必須利用兩次工藝來(lái) 分別制作兩層感應(yīng)電容電極板，才能完成感應(yīng)電容串行& Xm與Y1 Yn，如此一來(lái)，將耗費(fèi) 許多的制造成本。另一方面，使用如投射電容感應(yīng)裝置10的結(jié)構(gòu)，在感應(yīng)檢測(cè)時(shí)，必須考慮 到每一感應(yīng)電容串行上的所有感應(yīng)電容的電容值總和，相形之下，觸摸所產(chǎn)生的電容變化 量所占比例非常小。因此，整體而言，投射電容感應(yīng)裝置10的感應(yīng)靈敏度(AC/(aC+AC)) 并不理想，極易在判斷是否有電容變化時(shí)產(chǎn)生錯(cuò)誤。而且一旦感應(yīng)電容串行包含更多感應(yīng) 電容時(shí)，靈敏度不佳的情況將會(huì)加更惡化。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明主要在于提供一種電容式觸控感應(yīng)裝置及其檢測(cè)方法。本發(fā)明揭示一種電容式觸控感應(yīng)裝置，包含有一基板；多個(gè)感應(yīng)電容單元，設(shè)置 于該基板上，用來(lái)產(chǎn)生多個(gè)觸控模擬訊號(hào)；多條控制訊號(hào)線(xiàn)，沿一第一方向平行設(shè)置；多條 訊號(hào)傳輸線(xiàn)，沿異于該第一方向的一第二方向平行設(shè)置；一控制訊號(hào)產(chǎn)生單元，耦接于該多 條控制訊號(hào)線(xiàn)，用來(lái)產(chǎn)生多個(gè)控制訊號(hào)，并通過(guò)該多條控制訊號(hào)線(xiàn)傳送該多個(gè)控制訊號(hào)，其 中于一時(shí)間點(diǎn)，該多個(gè)控制訊號(hào)中僅有其中的一控制訊號(hào)處于一致能狀態(tài)；多個(gè)高阻抗控 制器，分別設(shè)置于該多條控制訊號(hào)線(xiàn)與該多條訊號(hào)傳輸線(xiàn)的交錯(cuò)處，每一高阻抗控制器包 含有一輸入端、一輸出端及一控制端，該輸入端耦接于一相對(duì)應(yīng)的感應(yīng)電容單元，該控制端 耦接于一相對(duì)應(yīng)的控制訊號(hào)線(xiàn)，該輸出端耦接于一相對(duì)應(yīng)的訊號(hào)傳輸線(xiàn)，且該每一高阻抗 控制器是根據(jù)相對(duì)應(yīng)的控制訊號(hào)，將相對(duì)應(yīng)的觸控模擬訊號(hào)導(dǎo)通至相對(duì)應(yīng)的訊號(hào)傳輸線(xiàn)； 以及一檢測(cè)單元，耦接于該多條訊號(hào)傳輸線(xiàn)，用來(lái)根據(jù)該多個(gè)觸控模擬訊號(hào)，判斷是否發(fā)生 感應(yīng)變化，以檢測(cè)出發(fā)生觸控事件的感應(yīng)電容單元。本發(fā)明還揭示一種電容式觸控感應(yīng)裝置，包含有一基板；一感應(yīng)電容單元，設(shè)置于 該基板上，用來(lái)產(chǎn)生一觸控模擬訊號(hào)；一控制訊號(hào)產(chǎn)生單元，用來(lái)產(chǎn)生一控制訊號(hào)；一檢測(cè) 單元，用來(lái)根據(jù)該觸控訊號(hào)，檢測(cè)是否發(fā)生感應(yīng)變化，以判斷出觸控事件；以及一高阻抗控 制器，耦接于該感應(yīng)電容單元、該控制訊號(hào)產(chǎn)生單元及該檢測(cè)單元，用來(lái)根據(jù)該控制訊號(hào)， 將該觸控訊號(hào)導(dǎo)通至該檢測(cè)單元。本發(fā)明還揭示一種多點(diǎn)觸控的檢測(cè)方法，用于一電容式觸控感應(yīng)裝置，該電容式 觸控感應(yīng)裝置包含有多條控制訊號(hào)線(xiàn)、多條訊號(hào)傳輸線(xiàn)以及多個(gè)高阻抗控制器，該多條控 制訊號(hào)線(xiàn)是沿一第一方向平行設(shè)置，該多條訊號(hào)傳輸線(xiàn)是沿異于該第一方向的一第二方向 平行設(shè)置，該多個(gè)高阻抗控制器，分別設(shè)置于該多條控制訊號(hào)線(xiàn)與該多條訊號(hào)傳輸線(xiàn)的交 錯(cuò)處，該檢測(cè)方法包含有產(chǎn)生多個(gè)觸控模擬訊號(hào)；產(chǎn)生多個(gè)控制訊號(hào)，并通過(guò)該多條控制訊 號(hào)線(xiàn)傳送，其中，于一時(shí)間點(diǎn)，該多個(gè)控制訊號(hào)中僅有其中的一控制訊號(hào)處于一致能狀態(tài)； 每一高阻抗控制器根據(jù)該多個(gè)控制訊號(hào)中的一相對(duì)應(yīng)的控制訊號(hào)，將相對(duì)應(yīng)的一觸控模擬 訊號(hào)導(dǎo)通至一相對(duì)應(yīng)的訊號(hào)傳輸線(xiàn)；以及根據(jù)經(jīng)導(dǎo)通的該觸控模擬訊號(hào)，判斷是否發(fā)生感 應(yīng)變化，以檢測(cè)出一觸控事件。


圖1為現(xiàn)有的一投射電容感應(yīng)裝置的示意圖。圖2為現(xiàn)有的一投射電容感應(yīng)裝置的多點(diǎn)觸控示意圖。圖3為本發(fā)明實(shí)施例一電容式觸控感應(yīng)裝置的示意圖。圖4為本發(fā)明實(shí)施例一電容式觸控感應(yīng)裝置的另一示意圖。圖5為用于圖3中電容式觸控感應(yīng)裝置的一檢測(cè)流程的示意圖。圖6為圖3中電容式觸控感應(yīng)裝置使用于多點(diǎn)觸控時(shí)的示意圖。圖7為圖3中電容式觸控感應(yīng)裝置使用于多點(diǎn)觸控時(shí)的訊號(hào)波形圖。附圖符號(hào)說(shuō)明
30、40電容式觸控感應(yīng)裝置302基板304控制訊號(hào)產(chǎn)生單元306檢測(cè)單元50流程500、502、504、506、508、510步驟C1 Cq控制訊號(hào)CAPE環(huán)境電容值CAPv觸控感應(yīng)電容變化量CL1 --CLq控制訊號(hào)線(xiàn)Dl第一方向D2第二方向D3第三方向O1 Op輸出訊號(hào)S11-“S 0PQ觸控模擬訊號(hào)SC11 sr感應(yīng)電容單元SL1 -、SLp訊號(hào)傳輸線(xiàn)SW11 SWPQ高阻抗控制器THl第一閾值TH2第二閾值\ ■W \ 感應(yīng)電容串行
具體實(shí)施例方式
請(qǐng)參考圖3，圖3為本發(fā)明實(shí)施例一電容式觸控感應(yīng)裝置30的示意圖。電容式觸 控感應(yīng)裝置30包含有一基板302、感應(yīng)電容單元SC11 SCpq、控制訊號(hào)線(xiàn)CL1 CLq、訊號(hào)傳 輸線(xiàn)SL1 SLP、一控制訊號(hào)產(chǎn)生單元304、高阻抗控制器SW11 SWpq及一檢測(cè)單元306。感 應(yīng)電容單元SC11 SCpq設(shè)置于基板302上，分別用來(lái)產(chǎn)生觸控模擬訊號(hào)S11 SPQ，每一觸 控模擬訊號(hào)中包含有其相對(duì)應(yīng)感應(yīng)電容單元的一環(huán)境電容值CAPe與一觸控感應(yīng)電容變化 量CAPV。當(dāng)有人體觸碰到感應(yīng)電容單元時(shí)，觸控感應(yīng)電容變化量CAPv會(huì)產(chǎn)生變化。如圖3 所示，控制訊號(hào)線(xiàn)CL1 CLq沿一第一方向Dl平行設(shè)置，而訊號(hào)傳輸線(xiàn)SL1 SLp,沿一第二 方向D2平行設(shè)置?？刂朴嵦?hào)產(chǎn)生單元304耦接于控制訊號(hào)線(xiàn)CL1 CLq，用來(lái)產(chǎn)生控制訊 號(hào)C1 CQ，并且分別通過(guò)控制訊號(hào)線(xiàn)CL1 CLq來(lái)傳送其對(duì)應(yīng)的控制訊號(hào)。高阻抗控制器 Sff11 SWpq分別設(shè)置于控制訊號(hào)線(xiàn)CL1 CLq與訊號(hào)傳輸線(xiàn)SL1 SLp的交錯(cuò)處，且每一高 阻抗控制器包含有一輸入端、一輸出端及一控制端，其中每一高阻抗控制器的輸入端耦接 于一相對(duì)應(yīng)的感應(yīng)電容單元，控制端耦接于一相對(duì)應(yīng)的控制訊號(hào)線(xiàn)，輸出端耦接于一相對(duì) 應(yīng)的訊號(hào)傳輸線(xiàn)。例如，高阻抗控制器SW12設(shè)置于訊號(hào)傳輸線(xiàn)SL1與控制訊號(hào)線(xiàn)CL2的交錯(cuò) 處，則高阻抗控制器SW12的輸入端耦接感應(yīng)電容單元SC12，其控制端耦接控制訊號(hào)線(xiàn)CL2,以 及其輸出端耦接訊號(hào)傳輸線(xiàn)SL115依此類(lèi)推，每一高阻抗控制器可根據(jù)輸入端接收到的控制訊號(hào)，將相對(duì)應(yīng)的感應(yīng)電容單元所產(chǎn)生的觸控模擬訊號(hào)導(dǎo)通至相對(duì)應(yīng)的訊號(hào)線(xiàn)。進(jìn)一步地，檢測(cè)單元306耦接于訊號(hào)傳輸線(xiàn)SL1 SLP，用來(lái)根據(jù)經(jīng)導(dǎo)通至訊號(hào)傳 輸線(xiàn)SL1 SLp上的觸控模擬訊號(hào)S11 SPQ，來(lái)判斷感應(yīng)電容單元SC11 SCpq是否發(fā)生感應(yīng) 變化，進(jìn)而檢測(cè)出發(fā)生觸控事件的感應(yīng)電容單元。要注意的是，于同一時(shí)間點(diǎn)，控制訊號(hào)產(chǎn) 生單元304會(huì)控制控制訊號(hào)C1 Cq中僅有某一個(gè)控制訊號(hào)處于一致能狀態(tài)EN，并使其它 控制訊號(hào)處于一失能狀態(tài)DN。換句話(huà)說(shuō)，同一時(shí)間，將只有一條控制訊號(hào)在線(xiàn)所傳輸?shù)目刂?訊號(hào)為致能狀態(tài)EN，在此情況下，僅有連接于此控制訊號(hào)線(xiàn)的高阻抗控制器會(huì)被致能而導(dǎo) 通，并將其對(duì)應(yīng)的觸控模擬訊號(hào)，通過(guò)訊號(hào)傳輸線(xiàn)傳送至檢測(cè)單元306，以供判斷觸控事件。 因此，通過(guò)控制訊號(hào)產(chǎn)生單元304的時(shí)序安排，控制訊號(hào)C1 Cq分時(shí)依序地切換至致能狀 態(tài)，使得電容式觸控感應(yīng)裝置30于同一時(shí)間點(diǎn)僅致能耦接于某一條控制訊號(hào)在線(xiàn)的高阻 抗控制器，亦即檢測(cè)單元306可由每一訊號(hào)傳輸在線(xiàn)接收到最多一組相對(duì)應(yīng)的觸控模擬訊 號(hào)。舉例來(lái)說(shuō)，通過(guò)控制訊號(hào)產(chǎn)生單元304控制而使得對(duì)應(yīng)于控制訊號(hào)C1 Cq的控制訊號(hào) 線(xiàn)CL1 CLq沿第一方向Dl依序切換至致能狀態(tài)，則當(dāng)各控制訊號(hào)皆切換至致能狀態(tài)后，即 表示感應(yīng)電容單元SC11 SCrj已被掃描檢測(cè)過(guò)一次，如此一來(lái)，本發(fā)明實(shí)施例將可精確檢測(cè) 到每一感應(yīng)電容單元的觸控狀況，而達(dá)到精準(zhǔn)的定位目的。因此，相較于現(xiàn)有技術(shù)無(wú)法于多點(diǎn)觸控的情形下確實(shí)檢測(cè)出真實(shí)的觸控事件，又 需檢測(cè)每一感應(yīng)電容串行上的電容值總和才能據(jù)以判斷的缺點(diǎn)。本發(fā)明通過(guò)不同時(shí)間逐一 檢測(cè)各控制訊號(hào)線(xiàn)所對(duì)應(yīng)的感應(yīng)電容單元的觸控模擬訊號(hào)，而可檢測(cè)到每一感應(yīng)電容單元 的觸控狀況，達(dá)到精確多重定位目的。除此之外，本發(fā)明僅需檢測(cè)單一感應(yīng)電容的相關(guān)特性 物理量即可進(jìn)行觸控檢測(cè)，相較于現(xiàn)有技術(shù)將可大幅提升觸控檢測(cè)的靈敏度。進(jìn)一步說(shuō)明，在本實(shí)施例中，當(dāng)檢測(cè)單元306經(jīng)由訊號(hào)傳輸線(xiàn)SL1 SLp接收到被 導(dǎo)通的觸控模擬訊號(hào)后，檢測(cè)單元306可判斷觸控模擬訊號(hào)中的所包含的環(huán)境電容值CAPe 與觸控感應(yīng)電容變化量CAPv信息是否大于一第一閾值THl ；若是，則判斷相對(duì)應(yīng)的感應(yīng)電 容單元發(fā)生觸控事件?；蛘?，檢測(cè)單元306可判斷觸控模擬訊號(hào)中的所包含的觸控感應(yīng)電 容變化量CAPv信息是否大于一第二閾值TH2 ；若是，則判斷相對(duì)應(yīng)的感應(yīng)電容單元發(fā)生觸 控事件。其中，第一閾值THl等于環(huán)境電容值CAPe與第二閾值TH2的總和。另一方面，控制訊號(hào)線(xiàn)CL1 CLq與訊號(hào)傳輸線(xiàn)SL1 SLp主要用來(lái)傳輸訊號(hào)。要 注意的是，控制訊號(hào)線(xiàn)與訊號(hào)傳輸線(xiàn)之間會(huì)有交會(huì)處，但主要是指相互之間的相對(duì)位置，而 實(shí)際上兩者之間并無(wú)任何的耦接或接觸關(guān)系。而每一控制訊號(hào)線(xiàn)主要是用來(lái)使耦接于其上 的所有高阻抗控制器得以同時(shí)根據(jù)同一控制訊號(hào)，來(lái)導(dǎo)通所對(duì)應(yīng)的感應(yīng)電容單元的觸控模 擬訊號(hào)。至于控制訊號(hào)線(xiàn)CL1-CLq間的排列關(guān)系不拘。較佳地，可以平行方式設(shè)置各控制 訊號(hào)線(xiàn)，以達(dá)到最好的檢測(cè)效率。此外，關(guān)于所有控制訊號(hào)線(xiàn)與所有訊號(hào)傳輸線(xiàn)之間的相對(duì) 關(guān)系，只要相互之間不發(fā)生互相重迭的情況即可，舉例來(lái)說(shuō)，如圖3所示，所有控制訊號(hào)線(xiàn) 與訊號(hào)傳輸線(xiàn)可呈垂直交錯(cuò)方式排列，或是如圖4所示訊號(hào)傳輸線(xiàn)S1 $，沿一第三方向 D3平行設(shè)置，皆為本發(fā)明的實(shí)施例，且不限于此。值得注意的是，電容式觸控感應(yīng)裝置30為本發(fā)明的實(shí)施例，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可 據(jù)以做不同的變化。舉例來(lái)說(shuō)，電容式觸控感應(yīng)裝置30中的感應(yīng)電容單元的數(shù)量與配置， 僅為本發(fā)明的實(shí)施例，但不以此為限，亦可僅有一個(gè)感應(yīng)電容單元或是隨系統(tǒng)設(shè)計(jì)而定。而 感應(yīng)電容單元亦不拘于任何形狀或面積大小，凡是可以反應(yīng)因人體觸碰而產(chǎn)生電容變化8的裝置即可，舉例來(lái)說(shuō)，感應(yīng)電容單元可為一導(dǎo)電極板，而導(dǎo)電極板的材質(zhì)可為銦錫氧化物 (Indium Tin Oxide, IT0)或是其它可以制作透明電極的材質(zhì)。除此之外，任何可根據(jù)對(duì) 應(yīng)的控制訊號(hào)，來(lái)選擇輸出對(duì)應(yīng)的觸控模擬訊號(hào)的裝置皆可用來(lái)實(shí)現(xiàn)高阻抗控制器，例如 使用一開(kāi)關(guān)組件來(lái)實(shí)現(xiàn)高阻抗控制器，而開(kāi)關(guān)組件可利用任何種類(lèi)的金屬氧化半導(dǎo)體晶體 管、薄膜晶體管或低溫多晶硅薄膜晶體管或是其組合來(lái)實(shí)現(xiàn)。關(guān)于電容式觸控感應(yīng)裝置30的實(shí)現(xiàn)，請(qǐng)參考圖5，圖5為用于圖3中電容式觸控感 應(yīng)裝置30的一檢測(cè)流程50的示意圖。檢測(cè)流程50包含以下步驟步驟500:開(kāi)始。步驟502 產(chǎn)生觸控模擬訊號(hào)S11 知。步驟504 產(chǎn)生控制訊號(hào)C1 CQ，并通過(guò)控制訊號(hào)線(xiàn)CL1 CLq傳送，其中，于一時(shí) 間點(diǎn)，控制訊號(hào)C1 Cq中僅有其中的一控制訊號(hào)處于一致能狀態(tài)EN。步驟506 每一高阻抗控制器根據(jù)控制訊號(hào)中C1 Cq的一相對(duì)應(yīng)的控制訊號(hào)，將 相對(duì)應(yīng)的觸控模擬訊號(hào)導(dǎo)通至相對(duì)應(yīng)的訊號(hào)傳輸線(xiàn)。步驟508 根據(jù)經(jīng)導(dǎo)通的觸控模擬訊號(hào)，判斷是否發(fā)生感應(yīng)變化，以檢測(cè)出觸控事 件。步驟510:結(jié)束。以下進(jìn)一步說(shuō)明檢測(cè)流程50的運(yùn)作方式，以4點(diǎn)觸控為例，亦即同時(shí)有4根手指 (或物體)觸摸于電容式觸控感應(yīng)裝置30。請(qǐng)參考圖6及圖7，圖6為圖3中電容式觸控 感應(yīng)裝置30使用于多點(diǎn)觸控時(shí)的示意圖。圖7為圖3中電容式觸控感應(yīng)裝置30使用于 多點(diǎn)觸控時(shí)的訊號(hào)波形圖。首先，利用感應(yīng)電容單元SC11 SCpq產(chǎn)生觸控模擬訊號(hào)S11 Spqo接著，假設(shè)控制訊號(hào)產(chǎn)生單元304依序控制訊號(hào)C1 Cq輪流切換至致能狀態(tài)，相關(guān)的 時(shí)序波形如圖7所示。在時(shí)間T1中，控制訊號(hào)C1切換至致能狀態(tài)，在此情況下，耦接于控制 訊號(hào)線(xiàn)CL1的高阻抗控制器SW11 SWpi將會(huì)因此被致能，而將觸控模擬訊號(hào)S11 、分別 傳送至對(duì)應(yīng)的訊號(hào)傳輸線(xiàn)SL1 SLP。在此情況下，訊號(hào)傳輸線(xiàn)SL1 SLp的輸出訊號(hào)O1 Op即分別為觸控模擬訊號(hào)S11 Ρ1。換句話(huà)說(shuō)，在時(shí)間T1中，每一訊號(hào)傳輸線(xiàn)SL1 SLp上 僅有一組觸控模擬訊號(hào)，也就是檢測(cè)單元306可檢測(cè)對(duì)應(yīng)于控制訊號(hào)線(xiàn)CL1的感應(yīng)電容單 元SC11 SCpi是否發(fā)生感應(yīng)變化，而有觸控事件發(fā)生。因此，隨控制訊號(hào)C1 Cq的致能時(shí) 序，將可逐列地檢測(cè)各感應(yīng)電容單元的觸控狀態(tài)。當(dāng)然，在時(shí)間T1中，檢測(cè)單元306會(huì)檢測(cè) 到感應(yīng)電容單元SC21發(fā)生電容變化，而判斷感應(yīng)電容單元SC21發(fā)生觸控事件。依此方式類(lèi) 推，將分別于在時(shí)間T2檢測(cè)到感應(yīng)電容單元SC12及SCp2發(fā)生電容變化而判斷感應(yīng)電容單元 SC12及SCp2發(fā)生觸控事件，以及于時(shí)間Tp中檢測(cè)到感應(yīng)電容單元SCm發(fā)生電容變化，而判斷 感應(yīng)電容單元SC2q有觸控事件。當(dāng)控制訊號(hào)C1 Cq依序輪流切換至致能狀態(tài)后，檢測(cè)單元 306可正確地判斷定位出目前感應(yīng)電容單元SC21、SC12、SCp2、SCm有觸控事件。換言之，電容 式觸控感應(yīng)裝置30通過(guò)控制訊號(hào)C1 Cq于不同時(shí)間逐一地導(dǎo)通對(duì)應(yīng)的高阻抗控制器，而 能精確檢測(cè)各感應(yīng)電容單元的觸控狀態(tài)。綜上所述，相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明除了不需耗費(fèi)過(guò)多制造成本來(lái)制作兩層感應(yīng) 電容電極板，即能實(shí)現(xiàn)二維定位的目的之外，本發(fā)明僅需檢測(cè)單一感應(yīng)電容的相關(guān)特性物 理量，即可判斷出觸控事件，而大幅提升觸控檢測(cè)的靈敏度。更重要的是，本發(fā)明可精確檢 測(cè)到每一感應(yīng)電容單元的觸控狀況，并通過(guò)不同時(shí)間逐一掃描檢測(cè)各控制訊號(hào)線(xiàn)所對(duì)應(yīng)的感應(yīng)電容單元的觸控狀態(tài)，如此一來(lái)，將可正確檢測(cè)到多點(diǎn)觸控的情形，并達(dá)到精準(zhǔn)的多重 定位目的。 以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，凡依本發(fā)明的權(quán)利要求所做的均等變化與修 飾，皆應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍。
權(quán)利要求
1.一種電容式觸控感應(yīng)裝置，包含有 一基板；多個(gè)感應(yīng)電容單元，設(shè)置于該基板上，用來(lái)產(chǎn)生多個(gè)觸控模擬訊號(hào)； 多條控制訊號(hào)線(xiàn)，沿一第一方向平行設(shè)置； 多條訊號(hào)傳輸線(xiàn)，沿異于該第一方向的一第二方向平行設(shè)置； 一控制訊號(hào)產(chǎn)生單元，耦接于該多條控制訊號(hào)線(xiàn)，用來(lái)產(chǎn)生多個(gè)控制訊號(hào)，并通過(guò)該多 條控制訊號(hào)線(xiàn)傳送該多個(gè)控制訊號(hào)，其中于一時(shí)間點(diǎn)，該多個(gè)控制訊號(hào)中僅有其中的一控 制訊號(hào)處于一致能狀態(tài)；多個(gè)高阻抗控制器，分別設(shè)置于該多條控制訊號(hào)線(xiàn)與該多條訊號(hào)傳輸線(xiàn)的交錯(cuò)處，每 一高阻抗控制器包含有一輸入端、一輸出端及一控制端，該輸入端耦接于一相對(duì)應(yīng)的感應(yīng) 電容單元，該控制端耦接于一相對(duì)應(yīng)的控制訊號(hào)線(xiàn)，該輸出端耦接于一相對(duì)應(yīng)的訊號(hào)傳輸 線(xiàn)，且該每一高阻抗控制器是根據(jù)相對(duì)應(yīng)的控制訊號(hào)，將相對(duì)應(yīng)的觸控模擬訊號(hào)導(dǎo)通至相 對(duì)應(yīng)的訊號(hào)傳輸線(xiàn)；以及一檢測(cè)單元，耦接于該多條訊號(hào)傳輸線(xiàn)，用來(lái)根據(jù)該多個(gè)觸控模擬訊號(hào)，判斷是否發(fā)生 感應(yīng)變化，以檢測(cè)出發(fā)生觸控事件的感應(yīng)電容單元。
2.如權(quán)利要求1所述的電容式觸控感應(yīng)裝置，其中每一感應(yīng)電容單元是一導(dǎo)電極板。
3.如權(quán)利要求2所述的電容式觸控感應(yīng)裝置，其中該導(dǎo)電極板的材質(zhì)是一銦錫氧化物。
4.如權(quán)利要求1所述的電容式觸控感應(yīng)裝置，其中該第一方向是垂直于該第二方向。
5.如權(quán)利要求1所述的電容式觸控感應(yīng)裝置，其中該控制訊號(hào)產(chǎn)生單元控制該多個(gè)控 制訊號(hào)，使該多個(gè)控制訊號(hào)輪流處于該致能狀態(tài)，以致能耦接于相對(duì)應(yīng)控制訊號(hào)線(xiàn)的高阻 抗控制器。
6.如權(quán)利要求5所述的電容式觸控感應(yīng)裝置，其中該控制訊號(hào)產(chǎn)生單元控制該多個(gè) 控制訊號(hào)，使該多個(gè)控制訊號(hào)在線(xiàn)的該多個(gè)控制訊號(hào)沿該第一方向依序輪流處于該致能狀 態(tài)，以致能耦接于相對(duì)應(yīng)控制線(xiàn)的高阻抗控制器。
7.如權(quán)利要求1所述的電容式觸控感應(yīng)裝置，其中每一觸控模擬訊號(hào)包含相對(duì)應(yīng)的感 應(yīng)電容單元的一環(huán)境電容值與一觸控感應(yīng)電容變化量。
8.如權(quán)利要求7所述的電容式感應(yīng)裝置，其中該檢測(cè)單元是于該多個(gè)觸控模擬訊號(hào)中 的一觸控模擬訊號(hào)所包含的該環(huán)境電容值與該觸控感應(yīng)電容變化量的總和大于一閾值時(shí)， 判斷該觸控模擬訊號(hào)所對(duì)應(yīng)的一感應(yīng)電容單元發(fā)生一觸控事件。
9.如權(quán)利要求7所述的電容式觸控感應(yīng)裝置，其中該檢測(cè)單元是于該多個(gè)觸控模擬訊 號(hào)中的一觸控模擬訊號(hào)所包含的該觸控感應(yīng)電容變化量大于一閾值時(shí)，判斷該觸控模擬訊 號(hào)所對(duì)應(yīng)的一感應(yīng)電容單元發(fā)生一觸控事件。
10.一種電容式觸控感應(yīng)裝置，包含有 一基板；一感應(yīng)電容單元，設(shè)置于該基板上，用來(lái)產(chǎn)生一觸控模擬訊號(hào)； 一控制訊號(hào)產(chǎn)生單元，用來(lái)產(chǎn)生一控制訊號(hào)；一檢測(cè)單元，用來(lái)根據(jù)該觸控模擬訊號(hào)，檢測(cè)是否發(fā)生感應(yīng)變化，以判斷出觸控事件；以及一高阻抗控制器，耦接于該感應(yīng)電容單元、該控制訊號(hào)產(chǎn)生單元及該檢測(cè)單元，用來(lái)根 據(jù)該控制訊號(hào)，將該觸控訊號(hào)導(dǎo)通至檢測(cè)單元。
11.如權(quán)利要求10所述的電容式觸控感應(yīng)裝置，其中該感應(yīng)電容單元包含有一導(dǎo)電極板。
12.如權(quán)利要求11所述的電容式觸控感應(yīng)裝置，其中該導(dǎo)電極板的材料包含銦錫氧化物。
13.如權(quán)利要求10所述的電容式觸控感應(yīng)裝置，其中該觸控模擬訊號(hào)包含該感應(yīng)電容 單元的一環(huán)境電容值與一觸控感應(yīng)電容變化量。
14.如權(quán)利要求13所述的電容式感應(yīng)裝置，其中該檢測(cè)單元是于該觸控模擬訊號(hào)所包 含的該環(huán)境電容值與該觸控感應(yīng)電容變化量的總和大于一閾值時(shí)，判斷該感應(yīng)電容單元發(fā) 生一觸控事件。
15.如權(quán)利要求13所述的電容式觸控感應(yīng)裝置，其中該檢測(cè)單元是于該觸控模擬訊號(hào) 所包含的該觸控感應(yīng)電容變化量大于一閾值時(shí)，判斷該感應(yīng)電容單元發(fā)生一觸控事件。
16.一種多點(diǎn)觸控的檢測(cè)方法，用于一電容式觸控感應(yīng)裝置，該電容式觸控感應(yīng)裝置包 含有多條控制訊號(hào)線(xiàn)、多條訊號(hào)傳輸線(xiàn)以及多個(gè)高阻抗控制器，該多條控制訊號(hào)線(xiàn)是沿一 第一方向平行設(shè)置，該多條訊號(hào)傳輸線(xiàn)是沿異于該第一方向的一第二方向平行設(shè)置，該多 個(gè)高阻抗控制器分別設(shè)置于該多條控制訊號(hào)線(xiàn)與該多條訊號(hào)傳輸線(xiàn)的交錯(cuò)處，該檢測(cè)方法 包含有產(chǎn)生多個(gè)觸控模擬訊號(hào)；產(chǎn)生多個(gè)控制訊號(hào)，并通過(guò)該多條控制訊號(hào)線(xiàn)傳送，其中，于一時(shí)間點(diǎn)，該多個(gè)控制訊 號(hào)中僅有其中的一控制訊號(hào)處于一致能狀態(tài)；每一高阻抗控制器根據(jù)該多個(gè)控制訊號(hào)中的一相對(duì)應(yīng)的控制訊號(hào)，將相對(duì)應(yīng)的一觸控 模擬訊號(hào)導(dǎo)通至一相對(duì)應(yīng)的訊號(hào)傳輸線(xiàn)；以及根據(jù)經(jīng)導(dǎo)通的該觸控模擬訊號(hào)，判斷是否發(fā)生感應(yīng)變化，以檢測(cè)出一觸控事件。
17.如權(quán)利要求16所述的檢測(cè)方法，其中該第一方向是垂直于該第二方向。
18.如權(quán)利要求16所述的檢測(cè)方法，其中還包含控制該多個(gè)控制訊號(hào)，使該多個(gè)控制訊號(hào)輪流處于該致能狀態(tài)，以致能耦接于相對(duì)應(yīng) 控制訊號(hào)線(xiàn)的高阻抗控制器。
19.如權(quán)利要求18所述的檢測(cè)方法，其中控制該多個(gè)控制訊號(hào)，使該多個(gè)控制訊號(hào)輪 流處于該致能狀態(tài)，以致能耦接于相對(duì)應(yīng)控制線(xiàn)的高阻抗控制器的步驟，包含控制該多個(gè) 控制訊號(hào)，使該多條控制訊號(hào)在線(xiàn)的該多個(gè)控制訊號(hào)沿該第一方向依序輪流處于該致能狀 態(tài)，以輪流致能耦接于相對(duì)應(yīng)控制訊號(hào)線(xiàn)的高阻抗控制器。
20.如權(quán)利要求16所述的檢測(cè)方法，其中每一觸控模擬訊號(hào)包含相對(duì)應(yīng)的一環(huán)境電容 值與一觸控感應(yīng)電容變化量。
21.如權(quán)利要求20所述的檢測(cè)方法，其中根據(jù)經(jīng)導(dǎo)通的該觸控模擬訊號(hào)，判斷是否發(fā) 生感應(yīng)變化，以檢測(cè)出該觸控事件的步驟，包含于該觸控模擬訊號(hào)中的該環(huán)境電容值與該 觸控感應(yīng)電容變化量的總和大于一閾值時(shí)，判斷發(fā)生一觸控事件。
22.如權(quán)利要求20所述的檢測(cè)方法，其中根據(jù)經(jīng)導(dǎo)通的該觸控模擬訊號(hào)，判斷是否發(fā) 生感應(yīng)變化，以檢測(cè)出該觸控事件的步驟，包含于該觸控感應(yīng)電容變化量大于一閾值時(shí)，判斷發(fā)生該觸控事件。
全文摘要
本發(fā)明揭示電容式觸控感應(yīng)裝置及其檢測(cè)方法。該電容式觸控感應(yīng)裝置包含有多個(gè)感應(yīng)電容單元、一控制訊號(hào)產(chǎn)生單元、多個(gè)高阻抗控制器以及一檢測(cè)單元。該多個(gè)感應(yīng)電容單元用來(lái)產(chǎn)生多個(gè)觸控模擬訊號(hào)。該控制訊號(hào)產(chǎn)生單元用來(lái)產(chǎn)生多個(gè)控制訊號(hào)，且于一時(shí)間點(diǎn)，該多個(gè)控制訊號(hào)中僅有其中的一控制訊號(hào)處于一致能狀態(tài)。該多個(gè)高阻抗控制器分別設(shè)置于多條控制訊號(hào)線(xiàn)與多條訊號(hào)傳輸線(xiàn)的交錯(cuò)處，每一高阻抗控制器是根據(jù)相對(duì)應(yīng)的控制訊號(hào)，將相對(duì)應(yīng)的觸控模擬訊號(hào)導(dǎo)通至相對(duì)應(yīng)的訊號(hào)傳輸線(xiàn)。該檢測(cè)單元用來(lái)根據(jù)經(jīng)導(dǎo)通的觸控模擬訊號(hào)，判斷是否發(fā)生觸控事件。
文檔編號(hào)G06F3/044GK102053765SQ20091020689
公開(kāi)日2011年5月11日 申請(qǐng)日期2009年10月27日 優(yōu)先權(quán)日2009年10月27日
發(fā)明者許智信, 鄧永佳 申請(qǐng)人:聯(lián)詠科技股份有限公司