專(zhuān)利名稱(chēng)：觸控面板及觸控面板的檢測(cè)方法
觸控面板及觸控面板的檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種觸控面板及檢測(cè)方法，且特別是涉及一種可獨(dú)立檢測(cè)感測(cè)軸線(xiàn)的
觸控面板及觸控面板的檢測(cè)方法。
背景技術(shù)：
隨著技術(shù)的日新月異，無(wú)論是筆記本電腦、手機(jī)或是可攜式多媒體播放器等電子 裝置，皆逐漸利用觸控面板來(lái)取代傳統(tǒng)鍵盤(pán)以作為新一代輸入界面。常見(jiàn)的觸控面板大致 可分為電容式觸控面板以及電阻式觸控面板。電容式觸控面板因?yàn)榫哂卸帱c(diǎn)觸控的特性而 備受矚目。 —般來(lái)說(shuō)，電容式觸控面板的設(shè)計(jì)是在基板表面形成多條感測(cè)軸線(xiàn)。當(dāng)用戶(hù)以手 指或是導(dǎo)電物體接近或觸碰電容式觸控面板的表面時(shí)，感測(cè)軸線(xiàn)上的電容值會(huì)發(fā)生對(duì)應(yīng)的 變化。電容式觸控面板利用這樣的電容值變化來(lái)進(jìn)行觸控位置的感測(cè)以及計(jì)算。由此可知， 電容式觸控面板的感測(cè)正確性主要依賴(lài)各感測(cè)軸線(xiàn)的電特性而決定。所以，感測(cè)軸線(xiàn)中若 有斷路、短路或是電容效應(yīng)不均勻的情形發(fā)生都會(huì)影響觸控感測(cè)的正確性。因此，感測(cè)軸線(xiàn) 的檢測(cè)變得相當(dāng)重要。 中國(guó)專(zhuān)利公開(kāi)案CN101408825中揭露了一種在觸控面板半成品中進(jìn)行檢測(cè)的方 法。然而，此專(zhuān)利的檢測(cè)方法在半成品中需要額外配置檢測(cè)用的線(xiàn)路而造成基板利用率下 降。并且，此專(zhuān)利的檢測(cè)方法將感測(cè)軸線(xiàn)與對(duì)應(yīng)的傳輸線(xiàn)一并進(jìn)行檢測(cè)，而無(wú)法獨(dú)立地檢測(cè) 感測(cè)軸線(xiàn)的電特性。中國(guó)專(zhuān)利公開(kāi)案CN100498483揭露了一種在主動(dòng)組件陣列基板的端子 部分進(jìn)行檢測(cè)的方法。然而，此專(zhuān)利的檢測(cè)方法應(yīng)用于電容式觸控面板中無(wú)法獨(dú)立地檢測(cè) 感測(cè)軸線(xiàn)。簡(jiǎn)言之，上述專(zhuān)利皆無(wú)法有效精確檢測(cè)出感測(cè)軸線(xiàn)的缺陷，因易受傳輸線(xiàn)高電阻 RC效應(yīng)干擾，而影響實(shí)際面內(nèi)電容量測(cè)，并會(huì)因量測(cè)偏差值大，在往后的檢測(cè)應(yīng)用時(shí)，易產(chǎn) 生假性缺陷。所以，如何有效檢測(cè)電容式觸控面板中感測(cè)軸線(xiàn)以維持電容式觸控面板的質(zhì) 量，仍為本領(lǐng)域中一項(xiàng)重要的課題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種觸控面板，其感測(cè)軸線(xiàn)的端部具有一被絕緣層暴露出來(lái)的檢測(cè) 區(qū)，以利于檢測(cè)。 本發(fā)明提供一種觸控面板的檢測(cè)方法，可以精確檢測(cè)感測(cè)軸線(xiàn)的電容值以及電阻值。 本發(fā)明提供一種檢測(cè)方法，可以正確檢測(cè)傳輸線(xiàn)的電阻值。 本發(fā)明提出一種觸控面板，包括一基板、多條第一感測(cè)軸線(xiàn)，多條與之對(duì)應(yīng)的第一 傳輸線(xiàn)、多條第二感測(cè)軸線(xiàn)，多條與之對(duì)應(yīng)的第二傳輸線(xiàn)以及一絕緣層。第一感測(cè)軸線(xiàn)配置 于基板上。各第一感測(cè)軸線(xiàn)沿一第一方向延伸，且各第一感測(cè)軸線(xiàn)的至少一端具有一第一 檢測(cè)區(qū)。第二感測(cè)軸線(xiàn)配置于基板上。各第二感測(cè)軸線(xiàn)的至少一端具有一第二檢測(cè)區(qū)，且 各第二感測(cè)軸線(xiàn)沿一第二方向延伸，而第一方向不平行于第二方向。絕緣層覆蓋第一感測(cè)軸線(xiàn)以及第二感測(cè)軸線(xiàn)，且暴露出第一檢測(cè)區(qū)以及第二檢測(cè)區(qū)。 在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述絕緣層設(shè)置有多個(gè)開(kāi)口，且開(kāi)口對(duì)應(yīng)暴露出第一檢 測(cè)區(qū)以及第二檢測(cè)區(qū)。 在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述各第一感測(cè)軸線(xiàn)以及各第二感測(cè)軸線(xiàn)分別由一感測(cè) 墊和一橋接部組成。該感測(cè)墊包括多個(gè)中心感測(cè)墊以及邊緣感測(cè)墊。中心感測(cè)墊串接在一 起并位于邊緣感測(cè)墊之間，且第一檢測(cè)區(qū)或第二檢測(cè)區(qū)位于邊緣感測(cè)墊中?；寰哂幸伙@ 示區(qū)以及一非顯示區(qū)，且各邊緣感測(cè)墊包括一外側(cè)部以及一內(nèi)側(cè)部。外側(cè)部位于非顯示區(qū) 中而內(nèi)側(cè)部以及中心感測(cè)墊位于顯示區(qū)中，此外，第一檢測(cè)區(qū)或第二檢測(cè)區(qū)位于外側(cè)部上。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述基板具有一第一感測(cè)區(qū)以及一第二感測(cè)區(qū)。部分第 一感測(cè)軸線(xiàn)以及部分第二感測(cè)軸線(xiàn)位于第一感測(cè)區(qū)，而其他的第一感測(cè)軸線(xiàn)以及其他的第 二感測(cè)軸線(xiàn)位該第二感測(cè)區(qū)。位于第一感測(cè)區(qū)的第二感測(cè)軸線(xiàn)對(duì)齊于第二感測(cè)區(qū)的第二感 測(cè)軸線(xiàn)。 在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述第一感測(cè)軸線(xiàn)配置于基板的一第一側(cè)而第二感測(cè)軸 線(xiàn)配置于基板的一第二側(cè)，且第一側(cè)與該第二側(cè)相對(duì)。在一實(shí)施例中，各第一感測(cè)軸線(xiàn)以及 各第二感測(cè)軸線(xiàn)分別由一感測(cè)條所組成。另外，觸控面板進(jìn)一步包括多個(gè)虛擬墊，其配置于 第一基板的第一側(cè)上，位于第一感測(cè)軸線(xiàn)之間。具體而言，絕緣層包括一第一絕緣層以及一 第二絕緣層。第一絕緣層覆蓋第一感測(cè)軸線(xiàn)，并暴露出第一檢測(cè)區(qū)，而第二絕緣層覆蓋第二 感測(cè)軸線(xiàn)，并暴露出第二檢測(cè)區(qū)。第一絕緣層例如具有多個(gè)第一開(kāi)口，以暴露出第一檢測(cè) 區(qū)，而第二絕緣層例如具有多個(gè)第二開(kāi)口，以暴露出第二檢測(cè)區(qū)。 在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述觸控面板進(jìn)一步包括多條第一傳輸線(xiàn)以及多條第二 傳輸線(xiàn)。各第一傳輸線(xiàn)的一第一連接端連接至其中一條第一感測(cè)軸線(xiàn)，而各第二傳輸線(xiàn)的 一第二連接端連接至其中一條第二感測(cè)軸線(xiàn)。絕緣層進(jìn)一步覆蓋第一傳輸線(xiàn)以及第二傳輸 線(xiàn)。此外，絕緣層進(jìn)一步暴露出各第一傳輸線(xiàn)的一第一信號(hào)端以及各第二傳輸線(xiàn)的一第二 信號(hào)端。 本發(fā)明另提出一種觸控面板的檢測(cè)方法，包括提供一前述的觸控面板以及通過(guò)第 一檢測(cè)區(qū)以及第二檢測(cè)區(qū)的其中兩者進(jìn)行檢測(cè)。 在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述進(jìn)行檢測(cè)的方法包括通過(guò)其中一個(gè)第一檢測(cè)區(qū)以及 其中 一個(gè)第二檢測(cè)區(qū)進(jìn)行檢測(cè)。 在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述各第一感測(cè)軸線(xiàn)的兩端分別具有第一檢測(cè)區(qū)，且進(jìn) 行檢測(cè)的方法包括通過(guò)同一第一感測(cè)軸線(xiàn)兩端的第一檢測(cè)區(qū)進(jìn)行檢測(cè)。 在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述各第二感測(cè)軸線(xiàn)的兩端分別具有第二檢測(cè)區(qū)，且進(jìn) 行檢測(cè)的方法包括通過(guò)同一第二感測(cè)軸線(xiàn)兩端的第二檢測(cè)區(qū)進(jìn)行檢測(cè)。 本發(fā)明又提出一種觸控面板的檢測(cè)方法，包括提供一前述的觸控面板。接著，通過(guò) 第一檢測(cè)區(qū)以及對(duì)應(yīng)的其中一個(gè)第一信號(hào)端進(jìn)行檢測(cè)或是通過(guò)第二檢測(cè)區(qū)與對(duì)應(yīng)的其中 一個(gè)第二信號(hào)端進(jìn)行檢測(cè)。 基于上述，本發(fā)明在觸控面板的感測(cè)軸線(xiàn)端部設(shè)置檢測(cè)區(qū)，且絕緣層將檢測(cè)區(qū)暴 露出來(lái)。因此，本發(fā)明的觸控面板中，感測(cè)軸線(xiàn)可以獨(dú)立地被檢測(cè)，而可以更正確地判斷感 測(cè)軸線(xiàn)是否發(fā)生缺陷，而不被傳輸線(xiàn)高電阻RC效應(yīng)干擾，而影響實(shí)際面內(nèi)電容量測(cè)。另外， 本發(fā)明的觸控面板中，傳輸線(xiàn)也可以獨(dú)立地被檢測(cè)而使觸控面板的缺陷正確地被檢驗(yàn)出來(lái)。搭配上述觸控面板的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，本發(fā)明的檢測(cè)方法可以更有效率地檢驗(yàn)出感測(cè)軸線(xiàn)與 傳輸線(xiàn)的缺陷。


圖1為本發(fā)明第一實(shí)施例的觸控面板的俯視示意圖。 圖2為圖1的區(qū)域I的示意圖。 圖3為沿圖2的A-A'剖線(xiàn)的剖面示意圖。 圖4為本發(fā)明第二實(shí)施例的觸控面板的俯視示意圖。 圖5為圖4的區(qū)域I1的示意圖。 圖6為沿圖5的剖線(xiàn)B-B'的剖面示意圖。 圖7為本發(fā)明第三實(shí)施例的觸控面板的俯視示意圖。 圖8為本發(fā)明第四實(shí)施例的觸控面板的俯視示意圖。 圖9為本發(fā)明第五實(shí)施例的觸控面板的俯視示意圖。 圖10為圖9的觸控面板的第一側(cè)的俯視示意圖。 圖11為圖9的觸控面板的第二側(cè)的俯視示意圖。 圖12為本發(fā)明一實(shí)施例的觸控面板的第一種檢測(cè)方法。 圖13為本發(fā)明一實(shí)施例的觸控面板的第二種檢測(cè)方法。 圖14為本發(fā)明一實(shí)施例的觸控面板的第三種檢測(cè)方法。
具體實(shí)施方式
為讓本發(fā)明上述特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉實(shí)施例，并配合附圖作詳細(xì) 說(shuō)明。 圖l為本發(fā)明第一實(shí)施例的觸控面板的俯視示意圖。請(qǐng)參照?qǐng)D1，觸控面板100包 括一基板110、多條第一感測(cè)軸線(xiàn)120、多條第二感測(cè)軸線(xiàn)130以及一絕緣層140。第一感測(cè) 軸線(xiàn)120以及第二感測(cè)軸線(xiàn)130皆配置于基板110上。各第一感測(cè)軸線(xiàn)120沿一第一方向 Dl延伸，而各第二感測(cè)軸線(xiàn)130沿一第二方向D2延伸，且第一方向Dl與第二方向D2不平 行。第一感測(cè)軸線(xiàn)120可以垂直于第二感測(cè)軸線(xiàn)130。此外，各第一感測(cè)軸線(xiàn)120的至少一 端具有一第一檢測(cè)區(qū)150，而第二感測(cè)軸線(xiàn)130的至少一端具有一第二檢測(cè)區(qū)160。絕緣層 140則覆蓋第一感測(cè)軸線(xiàn)120以及第二感測(cè)軸線(xiàn)130，且暴露出第一檢測(cè)區(qū)150以及第二檢 測(cè)區(qū)160。 本實(shí)施例的第一感測(cè)軸線(xiàn)120兩端分別具有第一檢測(cè)區(qū)150，而第二感測(cè)軸線(xiàn)130 的兩端也分別具有第二檢測(cè)區(qū)160。在其他的實(shí)施例中，第一感測(cè)軸線(xiàn)120可以?xún)H有一端具 有第一檢測(cè)區(qū)150，而第二感測(cè)軸線(xiàn)130也可以?xún)H有一端具有第二檢測(cè)區(qū)160。另外，本實(shí) 施例的絕緣層140設(shè)置有多個(gè)開(kāi)口 142，該開(kāi)口的形狀可為圓形、橢圓形、矩形或者各種多 邊形或弧線(xiàn)構(gòu)成的各種封閉圖形。各開(kāi)口 142暴露出一個(gè)第一檢測(cè)區(qū)150或是一個(gè)第二檢 測(cè)區(qū)160。 進(jìn)一步而言，觸控面板100進(jìn)一步包括多條第一傳輸線(xiàn)Sl以及多條第二傳輸線(xiàn) S2。各第一傳輸線(xiàn)Sl的一第一連接端Sla連接至其中一條第一感測(cè)軸線(xiàn)120，而各第二傳 輸線(xiàn)S2的一第二連接端S2a連接至其中一條第二感測(cè)軸線(xiàn)130。各第一傳輸線(xiàn)Sl的另一
6端則為第一信號(hào)端Slb，而各第二傳輸線(xiàn)S2的另一端則為第二信號(hào)端S2b。上述的傳輸線(xiàn) 會(huì)通過(guò)收攏的布置整合在基板的非顯示區(qū)的一側(cè)，所有傳輸線(xiàn)的信號(hào)端則是用以連接至驅(qū) 動(dòng)芯片(未圖示)。 在本實(shí)施例中，絕緣層140進(jìn)一步覆蓋第一傳輸線(xiàn)Sl以及第二傳輸線(xiàn)S2。此外， 絕緣層140進(jìn)一步暴露出各第一信號(hào)端Slb以及各第二信號(hào)端S2b。也就是說(shuō)，絕緣層140 的部分開(kāi)口 142位于第一信號(hào)端Slb以及第二信號(hào)端S2b上以將其暴露出來(lái)。
在這樣的設(shè)計(jì)之下，檢測(cè)觸控面板100時(shí)，感測(cè)軸線(xiàn)120、 130以及傳輸線(xiàn)S1、S2可 以分別地進(jìn)行檢測(cè)。也就是說(shuō)，檢測(cè)感測(cè)軸線(xiàn)120U30時(shí)，檢測(cè)的結(jié)果不會(huì)受到傳輸線(xiàn)Sl、 S2的缺陷影響。同樣地，檢測(cè)傳輸線(xiàn)Sl、 S2時(shí)，檢測(cè)結(jié)果也不會(huì)受到感測(cè)軸線(xiàn)120U30的 缺陷所影響。因此，本實(shí)施例可以更有效率地檢測(cè)出觸控面板100中不同組件的缺陷，而提 升觸控面板100的質(zhì)量。 具體而言，本實(shí)施例的各第一感測(cè)軸線(xiàn)120以及各第二感測(cè)軸線(xiàn)130分別由多個(gè) 感測(cè)墊170和多個(gè)橋接部(圖1未標(biāo)示)所組成。感測(cè)墊170包括多個(gè)中心感測(cè)墊172以 及兩個(gè)邊緣感測(cè)墊174。中心感測(cè)墊172串接在一起并位于兩個(gè)邊緣感測(cè)墊174之間，且第 一檢測(cè)區(qū)150或第二檢測(cè)區(qū)160位于兩個(gè)邊緣感測(cè)墊174中。也就是說(shuō)，各第一感測(cè)軸線(xiàn) 120以及各第二感測(cè)軸線(xiàn)130中，兩端的部分由邊緣感測(cè)墊174所構(gòu)成。
在本實(shí)施例中，第一檢測(cè)區(qū)120的面積與第二檢測(cè)區(qū)130的面積可以由邊緣感測(cè) 墊174的設(shè)計(jì)而決定。 一般而言，邊緣感測(cè)墊174需具有一定的面積，所以檢測(cè)觸控面板 100時(shí)的對(duì)位流程較為容易。也就是說(shuō)，觸控面板100的檢測(cè)不需要高精度的對(duì)位設(shè)備而有 助于簡(jiǎn)化并加快檢測(cè)方法。 圖2為圖1的區(qū)域I的示意圖，而圖3為沿圖2的A-A'剖線(xiàn)的剖面示意圖。請(qǐng)同 時(shí)參照?qǐng)D2與圖3，在本實(shí)施例中，相鄰的中心感測(cè)墊172可以通過(guò)一橋接部176串接在一 起。當(dāng)然，中心感測(cè)墊172與邊緣感測(cè)墊174也可以通過(guò)橋接部176串接在一起。
另外，由圖3可知，邊緣感測(cè)墊174與中心感測(cè)墊172進(jìn)一步可以通過(guò)橋接部176 串接在一起。不過(guò)，根據(jù)不同的需求，可以?xún)H串接第二感測(cè)軸線(xiàn)130的邊緣感測(cè)墊174與中 心感測(cè)墊172，或是僅串接多個(gè)中心感測(cè)墊172。值得一提的是，第一感測(cè)軸線(xiàn)120與第二 感測(cè)軸線(xiàn)130必需保持需保持獨(dú)立的電特性，因此第一感測(cè)軸線(xiàn)120的橋接部176與第二 感測(cè)軸線(xiàn)130的橋接部176之間配置有絕緣構(gòu)件190。 本實(shí)施例的絕緣層140暴露出第一檢測(cè)區(qū)150、第二檢測(cè)區(qū)160、第一信號(hào)端Slb 以及第二信號(hào)端S2b。所以，觸控面板100可通過(guò)絕緣層140所暴露出來(lái)的這些區(qū)域來(lái)進(jìn) 行電特性的檢測(cè)。如此一來(lái)，感測(cè)軸線(xiàn)120、130以及傳輸線(xiàn)S1、S2可以分別地被檢測(cè)。此 外，觸控面板100的檢測(cè)方法相當(dāng)簡(jiǎn)單，且一旦檢測(cè)出缺陷可以實(shí)時(shí)地進(jìn)行修復(fù)。因此，觸 控面板100具有良好的電性質(zhì)量。 圖4為本發(fā)明第二實(shí)施例的觸控面板400的俯視示意圖。圖5為圖4的區(qū)域II 的示意圖，而圖6為沿圖5中剖線(xiàn)B-B'的剖面示意圖。請(qǐng)同時(shí)參照?qǐng)D4、圖5以及圖6，觸 控面板400與第一實(shí)施例的觸控面板100相似，其中觸控面板400也包括有一基板110、多 條第一感測(cè)軸線(xiàn)120、多條第二感測(cè)軸線(xiàn)130以及一絕緣層140。不過(guò)，觸控面板400中，基 板110具有一顯示區(qū)112和一非顯示區(qū)114。此外，邊緣感測(cè)墊474包括一外側(cè)部474A以 及一內(nèi)側(cè)部474B，且外側(cè)部474A位于非顯示區(qū)114中，而內(nèi)側(cè)部474B以及中心感測(cè)墊172皆位于顯示區(qū)112中。此外，第一檢測(cè)區(qū)150或第二檢測(cè)區(qū)160位于外側(cè)部474A上。
—般來(lái)說(shuō)，中心感測(cè)墊172以及邊緣感測(cè)墊474會(huì)以透明導(dǎo)電材質(zhì)加以制作，以使 觸控面板400提供良好的光線(xiàn)穿透性。檢測(cè)觸控面板400時(shí)，操作者會(huì)使用一探針接觸欲 檢測(cè)的第一檢測(cè)區(qū)150或第二檢測(cè)區(qū)160。不過(guò)，探針的移動(dòng)與接觸可能造成透明導(dǎo)電材質(zhì) 的損傷而影響第一檢測(cè)區(qū)150或第二檢測(cè)區(qū)160的表面平坦性。所以，本實(shí)施例將第一檢 測(cè)區(qū)150以及第二檢測(cè)區(qū)160設(shè)置于周邊區(qū)114中可以避免顯示區(qū)112的光線(xiàn)穿透性受到 不良的影響。即，觸控面板400除了具有良好的電特性外，更具有相當(dāng)不錯(cuò)的光線(xiàn)穿透性。
圖7為本發(fā)明第三實(shí)施例的觸控面板的俯視示意圖。請(qǐng)參照?qǐng)D7，觸控面板700的 設(shè)計(jì)是改變觸控面板400中的絕緣層140，以形成具有一環(huán)形開(kāi)口 442。環(huán)形開(kāi)口 442暴露 出所有的第一檢測(cè)區(qū)150以及所有的第二檢測(cè)區(qū)160。也就是說(shuō)，環(huán)形開(kāi)口 442的設(shè)計(jì)是將 第二實(shí)施例中的多個(gè)開(kāi)口 142貫通。 不過(guò)，在其他的實(shí)施例中，可以?xún)H將絕緣層140的部分開(kāi)口 142貫通，而使各貫通 的開(kāi)口同時(shí)暴露出數(shù)個(gè)第一檢測(cè)區(qū)150或是數(shù)個(gè)第二檢測(cè)區(qū)160。本實(shí)施例的第一檢測(cè)區(qū) 150以及第二檢測(cè)區(qū)160被暴露出來(lái)，檢測(cè)觸控面板700時(shí)可以正確地將第一感測(cè)軸線(xiàn)120 以及第二感測(cè)軸線(xiàn)130中的缺陷判斷出來(lái)。因此，觸控面板700具有良好的質(zhì)量。
圖8為本發(fā)明第四實(shí)施例的觸控面板的俯視示意圖。請(qǐng)參照?qǐng)D8，觸控面板800也 包括有一基板110、多條第一感測(cè)軸線(xiàn)120、多條第二感測(cè)軸線(xiàn)130以及一絕緣層140。不 過(guò)，本實(shí)施例中，基板110具有一第一感測(cè)區(qū)116以及一第二感測(cè)區(qū)118，部分第一感測(cè)軸線(xiàn) 120以及部分第二感測(cè)軸線(xiàn)130位于第一感測(cè)區(qū)116，而其他的第一感測(cè)軸線(xiàn)120以及其他 的第二感測(cè)軸線(xiàn)130位于第二感測(cè)區(qū)118。此外，位于第一感測(cè)區(qū)116的第二感測(cè)軸線(xiàn)130 對(duì)齊于第二感測(cè)區(qū)118的第二感測(cè)軸線(xiàn)130。也就是說(shuō)，第一感測(cè)區(qū)116的其中一條第二感 測(cè)軸線(xiàn)130與第二感測(cè)區(qū)118的其中一條第二感測(cè)軸線(xiàn)130排列成一直線(xiàn)。
本實(shí)施例的設(shè)計(jì)使兩條第二感測(cè)軸線(xiàn)130對(duì)齊可以避免觸控面板800進(jìn)行感測(cè)時(shí) 發(fā)生誤感測(cè)，例如鬼點(diǎn)(ghost point)的現(xiàn)象。此外，邊緣感測(cè)墊874A的設(shè)計(jì)同第二實(shí)施 例的邊緣感測(cè)墊474 —樣是由外側(cè)部474A以及內(nèi)側(cè)部474B所構(gòu)成。邊緣感測(cè)墊874B則 例如由三角形圖案所構(gòu)成。值得一提的是，本實(shí)施例的第二感測(cè)串列130中都只有一端設(shè) 有第二檢測(cè)區(qū)160，而同一條線(xiàn)上的兩條第二感測(cè)串列130中相鄰的一端未設(shè)有任何的檢 測(cè)區(qū)。也就是說(shuō)，邊緣感測(cè)墊874B未設(shè)有檢測(cè)區(qū)。如此設(shè)計(jì)有助于提升觸控面板800的光 線(xiàn)穿透性質(zhì)。相似地，本實(shí)施例的觸控面板800中，感測(cè)軸線(xiàn)120、130可以獨(dú)立地進(jìn)行電容 值的檢測(cè)，而使得觸控面板800可維持良好的質(zhì)量。 圖9為本發(fā)明第五實(shí)施例的觸控面板的俯視示意圖，圖10為圖9的觸控面板的第 一側(cè)的俯視示意圖，而圖11為圖9的觸控面板的第二側(cè)的俯視示意圖。請(qǐng)參照?qǐng)D9，觸控面 板900包括一基板910、多條第一感測(cè)軸線(xiàn)920、多條第二感測(cè)軸線(xiàn)930、一第一絕緣層945 以及一第二絕緣層947。第一感測(cè)軸線(xiàn)920以及第二感測(cè)軸線(xiàn)930皆配置于基板910上。 具體而言，第一感測(cè)軸線(xiàn)920配置于基板910的一第一側(cè)912，而第二感測(cè)軸線(xiàn)930配置于 基板910的一第二側(cè)914，且第一側(cè)912與第二側(cè)914相對(duì)。 請(qǐng)同時(shí)參照?qǐng)D9、圖10以及圖11，各第一感測(cè)軸線(xiàn)920沿第一方向D1延伸，而各 第二感測(cè)軸線(xiàn)930沿第二方向D2延伸，且第一方向Dl與第二方向D2不平行。此外，各第 一感測(cè)軸線(xiàn)920的兩端分別具有一第一檢測(cè)區(qū)950，而第二感測(cè)軸線(xiàn)930的兩端分別具有一第二檢測(cè)區(qū)960。第一絕緣層945覆蓋第一感測(cè)軸線(xiàn)920且暴露出第一檢測(cè)區(qū)950。第二 絕緣層947則覆蓋第二感測(cè)軸線(xiàn)930且暴露出第二檢測(cè)區(qū)960。 具體而言，各第一感測(cè)軸線(xiàn)920以及各第二感測(cè)軸線(xiàn)930分別由一感測(cè)條 (sensing bar)所組成。也就是說(shuō)，各第一感測(cè)軸線(xiàn)920以及各第二感測(cè)軸線(xiàn)930由一條狀 導(dǎo)體圖案所構(gòu)成，其材質(zhì)例如為透明導(dǎo)電材質(zhì)。此外，為了增進(jìn)觸控面板900的亮度的均勻 性，觸控面板900進(jìn)一步包括多個(gè)虛擬墊922，其配置于基板910的第一側(cè)912上，并位于第 一感測(cè)軸線(xiàn)920之間。 在本實(shí)施例中，第一絕緣層945具有多個(gè)第一開(kāi)口 945A，以暴露出第一檢測(cè)區(qū) 950，而第二絕緣層947具有多個(gè)第二開(kāi)口 947A，以暴露出第二檢測(cè)區(qū)960。尤其是，第二開(kāi) 口 947A都設(shè)置在顯示區(qū)112之外。在其他的實(shí)施例中，位于同一側(cè)的第一開(kāi)口 945A可以 彼此貫通，而位于同一側(cè)的第二開(kāi)口 947A也可以彼此貫通。第一開(kāi)口 945A以及第二開(kāi)口 947A將對(duì)應(yīng)的第一檢測(cè)區(qū)950以及第二檢測(cè)區(qū)960暴露出來(lái)，所以第一感測(cè)軸線(xiàn)920與第 二感測(cè)軸線(xiàn)930可以獨(dú)立地進(jìn)行感測(cè)。因此，觸控面板900若有缺陷可以正確地被檢測(cè)出 來(lái)，而有助于維持觸控面板900的質(zhì)量。 另外，本實(shí)施例中，第一感測(cè)軸線(xiàn)920的兩端都設(shè)有第一檢測(cè)區(qū)950，而第二感測(cè) 軸線(xiàn)930的兩端也都設(shè)有第二檢測(cè)區(qū)960。不過(guò)，根據(jù)不同的檢測(cè)需求及布局設(shè)計(jì)，第一感 測(cè)軸線(xiàn)920可以?xún)H有一端設(shè)有第一檢測(cè)區(qū)950，而第二感測(cè)軸線(xiàn)也可以?xún)H有一端設(shè)有第二 檢測(cè)區(qū)960。 以上實(shí)施例所描述的觸控面板100、400、700、800以及900都分別在各感測(cè)軸線(xiàn)的 端部設(shè)置檢測(cè)區(qū)。并且，這些檢測(cè)區(qū)被絕緣層暴露出來(lái)。因此，觸控面板100、400、700、800 以及900可以采用簡(jiǎn)易的檢測(cè)方式來(lái)分別檢視各感測(cè)軸線(xiàn)或是各傳輸線(xiàn)是否有缺陷產(chǎn)生。 具體地說(shuō)，觸控面板100、400、700、800以及900可以采用的檢測(cè)方法如下。圖12為本發(fā)明 一實(shí)施例的觸控面板的第一種檢測(cè)方法。請(qǐng)參照?qǐng)D12，先進(jìn)行步驟10，提供一觸控面板。 在本實(shí)施例的檢測(cè)方法中，觸控面板例如是前述的觸控面板100、400、700、800以及900中 其中一者或是觸控面板100、400、700、800以及900中各感測(cè)軸線(xiàn)僅有一端設(shè)有檢測(cè)區(qū)的設(shè) 計(jì)。 接著，進(jìn)行步驟20，通過(guò)觸控面板中其中一條第一感測(cè)軸線(xiàn)的第一檢測(cè)區(qū)以及其 中一條第二感測(cè)軸線(xiàn)的第二檢測(cè)區(qū)進(jìn)行檢測(cè)。具體來(lái)說(shuō)，檢測(cè)的步驟例如是利用一組探針 分別地接觸其中一條第一感測(cè)軸線(xiàn)的第一檢測(cè)區(qū)以及其中一條第二感測(cè)軸線(xiàn)的第二檢測(cè) 區(qū)。并且，測(cè)量這組探針之間的電容值。根據(jù)所測(cè)得的電容值來(lái)判斷第一感測(cè)軸線(xiàn)與第二 感測(cè)軸線(xiàn)是否有短路或是斷路的缺陷。 另外，因工藝誤差而使第一感測(cè)軸線(xiàn)的圖案或是第二感測(cè)軸線(xiàn)的圖案不一致，例 如圖案的面積差異過(guò)大或是圖案的間距不一致，會(huì)導(dǎo)致第一感測(cè)軸線(xiàn)與第二感測(cè)軸線(xiàn)在不 同位置上的電容耦合效應(yīng)隨之變化。如此，觸控面板將會(huì)有感測(cè)不準(zhǔn)確的情況。本實(shí)施例 根據(jù)不同感測(cè)軸線(xiàn)間的電容值變化可判斷出感測(cè)軸線(xiàn)的圖案是否有缺陷，以進(jìn)一步針對(duì)缺 陷部分進(jìn)修補(bǔ)而提升觸控面板的感測(cè)準(zhǔn)確性。 本實(shí)施例的檢測(cè)方法搭配觸控面板100、400、700、800以及900的布局設(shè)計(jì)可以直 接地檢測(cè)不同感側(cè)軸線(xiàn)之間的電容值。這樣的檢測(cè)方法不會(huì)受到傳輸線(xiàn)的影響而更直接地 檢驗(yàn)出感測(cè)軸線(xiàn)是否有缺陷。也就是說(shuō)，感測(cè)軸線(xiàn)中的缺陷可以正確且有效率地被檢測(cè)出
9來(lái)。 圖13為本發(fā)明一實(shí)施例的觸控面板的第二種檢測(cè)方法。請(qǐng)參照?qǐng)D13，本實(shí)施例的 觸控面板檢測(cè)方法例如是進(jìn)行步驟10，提供一觸控面板。在此，觸控面板例如是前述的觸控 面板100、400、700、800以及900中其中一者。值得一提的是，采用本實(shí)施例的檢測(cè)方法進(jìn) 行檢測(cè)的觸控面板中，所有感測(cè)軸線(xiàn)兩端都分別地設(shè)有檢測(cè)區(qū)。 接著，進(jìn)行步驟30，通過(guò)同一感測(cè)軸線(xiàn)兩端的檢測(cè)區(qū)進(jìn)行檢測(cè)。通過(guò)同一感測(cè)軸線(xiàn) 兩端的檢測(cè)區(qū)可以檢測(cè)同一條感測(cè)軸線(xiàn)的電阻值，以確認(rèn)每一感測(cè)軸線(xiàn)是否有短路或是斷 路的缺陷。并且，感測(cè)軸線(xiàn)的傳輸阻抗若有過(guò)大的差異也可以通過(guò)步驟30檢測(cè)出來(lái)。
舉例來(lái)說(shuō)，當(dāng)本方法應(yīng)用于觸控面板100時(shí)，探針可以同時(shí)接觸同一條第一感測(cè) 軸線(xiàn)120兩端的第一檢測(cè)區(qū)150以進(jìn)行檢測(cè)。當(dāng)然，探針也可以同時(shí)接觸同一條第二感測(cè) 軸線(xiàn)130兩端的第二檢測(cè)區(qū)160以進(jìn)行檢測(cè)。在這樣的檢測(cè)過(guò)程中，若有其中一條感測(cè)軸 線(xiàn)的電阻值發(fā)生異常可以很正確地被判斷出來(lái)并進(jìn)行對(duì)應(yīng)的修補(bǔ)工作。因此，這樣的檢測(cè) 方法有助于提升觸控面板的質(zhì)量。 前述兩種檢測(cè)方法可以有效地檢測(cè)出感測(cè)軸線(xiàn)內(nèi)的缺陷，不過(guò)觸控面板中的傳輸 線(xiàn)也必須維持良好的電特性以使觸控面板正常地進(jìn)行觸控感測(cè)。因此，本實(shí)施例提出以下 的檢測(cè)方法，其針對(duì)觸控面板中的傳輸線(xiàn)進(jìn)行檢測(cè)。圖14為本發(fā)明一實(shí)施例的觸控面板的 第三種檢測(cè)方法。請(qǐng)參照?qǐng)D14，本檢測(cè)方法首先是進(jìn)行步驟10提供一觸控面板。觸控面板 可以是如前述的觸控面板100、400、700、800以及900中其中一者。值得一提的是，應(yīng)用本 方法的觸控面板中，絕緣層會(huì)暴露出傳輸線(xiàn)的信號(hào)端。另外，各感測(cè)軸線(xiàn)中可以?xún)H有連接信 號(hào)線(xiàn)的一端設(shè)有檢測(cè)區(qū)。 接著，進(jìn)行步驟40，通過(guò)其中一個(gè)檢測(cè)區(qū)以及對(duì)應(yīng)的其中一個(gè)信號(hào)端進(jìn)行檢測(cè)。舉 例來(lái)說(shuō)，本檢測(cè)方法應(yīng)用于觸控面板100時(shí)，步驟40的進(jìn)行方式例如是將一探針接觸第一 檢測(cè)區(qū)150或第二檢測(cè)區(qū)160其中一者，同時(shí)將另一探針接觸對(duì)應(yīng)的第一信號(hào)端Slb或?qū)?應(yīng)的第二信號(hào)端S2b。如此，通過(guò)兩探針檢測(cè)第一傳輸線(xiàn)Sl或是第二傳輸線(xiàn)S2的電特性， 以針對(duì)有缺陷的第一傳輸線(xiàn)Sl或是第二傳輸線(xiàn)S2進(jìn)行修補(bǔ)。當(dāng)然，這樣的檢測(cè)步驟也可 以應(yīng)用于觸控面板400、700、800以及900，以提升觸控面板400、700、800以及900的質(zhì)量。
整體而言，本發(fā)明在各感測(cè)軸線(xiàn)的端部設(shè)置檢測(cè)區(qū)，且絕緣層將檢測(cè)區(qū)暴露出來(lái)。 因此，本發(fā)明可以直接檢測(cè)感測(cè)軸線(xiàn)是否有缺陷產(chǎn)生，并且傳輸線(xiàn)與感測(cè)軸線(xiàn)可以分別地 進(jìn)行檢測(cè)。觸控面板的檢測(cè)方法因而更有效率。當(dāng)觸控面板中有缺陷被檢測(cè)出來(lái)后，可以 進(jìn)一步針對(duì)缺陷部分進(jìn)行修補(bǔ)。如此，本發(fā)明觸控面板可以具有良好質(zhì)量。
雖然本發(fā)明已以實(shí)施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何本領(lǐng)域技術(shù)人 員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，可對(duì)本發(fā)明進(jìn)行各種修改，故本發(fā)明的保護(hù)范 圍當(dāng)以權(quán)利要求為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
一種觸控面板，其特征在于，包括一基板；多條第一感測(cè)軸線(xiàn)，配置于該基板上，各該第一感測(cè)軸線(xiàn)沿一第一方向延伸，且各該第一感測(cè)軸線(xiàn)的至少一端具有一第一檢測(cè)區(qū)；多條第一傳輸線(xiàn)，各該第一傳輸線(xiàn)的一連接端分別連接至各該第一感測(cè)軸線(xiàn)；多條第二感測(cè)軸線(xiàn)，配置于該基板上，各該第二感測(cè)軸線(xiàn)的至少一端具有一第二檢測(cè)區(qū)，且各該第二感測(cè)軸線(xiàn)沿一第二方向延伸，而該第一方向不平行于該第二方向；多條第二傳輸線(xiàn)，各該第二傳輸線(xiàn)的一連接端分別連接至各該第二感測(cè)軸線(xiàn)，以及一絕緣層，覆蓋該多條第一感測(cè)軸線(xiàn)以及該多條第二感測(cè)軸線(xiàn)，且暴露出該多個(gè)第一檢測(cè)區(qū)以及該多個(gè)第二檢測(cè)區(qū)。
2. 如權(quán)利要求1所述的觸控面板，其特征在于，該第一感測(cè)軸線(xiàn)垂直于該第二感測(cè)軸線(xiàn)。
3. 如權(quán)利要求1所述的觸控面板，其特征在于，該絕緣層暴露處設(shè)置有多個(gè)開(kāi)口，且該 多個(gè)開(kāi)口對(duì)應(yīng)暴露出該多個(gè)第一檢測(cè)區(qū)以及該多個(gè)第二檢測(cè)區(qū)。
4. 如權(quán)利要求1所述的觸控面板，其特征在于，該絕緣層暴露出該多個(gè)第一檢測(cè)區(qū)以 及該多個(gè)第二檢測(cè)區(qū)的開(kāi)口為一環(huán)形。
5. 如權(quán)利要求1所述的觸控面板，其特征在于，各該第一感測(cè)軸線(xiàn)以及各該第二感測(cè) 軸線(xiàn)分別由多個(gè)感測(cè)墊和多個(gè)橋接部所組成。
6. 如權(quán)利要求5所述的觸控面板，其特征在于，該多個(gè)感測(cè)墊包括多個(gè)中心感測(cè)墊以 及兩個(gè)邊緣感測(cè)墊，該多個(gè)中心感測(cè)墊通過(guò)該橋接部串接在一起并位于該兩個(gè)邊緣感測(cè)墊 之間，且該第一檢測(cè)區(qū)或該第二檢測(cè)區(qū)位于該兩個(gè)邊緣感測(cè)墊中。
7. 如權(quán)利要求6所述的觸控面板，其特征在于，該基板具有一顯示區(qū)和一非顯示區(qū)，且 各該邊緣感測(cè)墊包括一外側(cè)部以及一內(nèi)側(cè)部，該外側(cè)部位于該非顯示區(qū)中，而該內(nèi)側(cè)部以 及該多個(gè)中心感測(cè)墊位于該顯示區(qū)中，且該第一檢測(cè)區(qū)或該第二檢測(cè)區(qū)位于該外側(cè)部上。
8. 如權(quán)利要求1所述的觸控面板，其特征在于，該基板具有一第一感測(cè)區(qū)以及一第二 感測(cè)區(qū)，覆蓋于該第一感測(cè)區(qū)以及該第二感測(cè)區(qū)的該絕緣層暴露出該多條第一感測(cè)軸線(xiàn)的 該多個(gè)第一檢測(cè)區(qū)以及該多條第二感測(cè)軸線(xiàn)的該多個(gè)第二檢測(cè)區(qū)。
9. 如權(quán)利要求1所述的觸控面板，其特征在于，該多條第一感測(cè)軸線(xiàn)配置于該基板的 一第一側(cè)，而該多條第二感測(cè)軸線(xiàn)配置于該基板的一第二側(cè)，且該第一側(cè)與該第二側(cè)相對(duì)。
10. 如權(quán)利要求9所述的觸控面板，其特征在于，該絕緣層包括一第一絕緣層以及一第 二絕緣層，且該第一絕緣層覆蓋該多條第一感測(cè)軸線(xiàn)，并暴露出該多個(gè)第一檢測(cè)區(qū)，該第二 絕緣層覆蓋該多條第二感測(cè)軸線(xiàn)，并暴露出該多個(gè)第二檢測(cè)區(qū)。
11. 如權(quán)利要求io所述的觸控面板，其特征在于，該第一絕緣層暴露處設(shè)置有多個(gè)第一開(kāi)口 ，且該多個(gè)第一開(kāi)口對(duì)應(yīng)暴露出該多個(gè)第一檢測(cè)區(qū)，而該第二絕緣層暴露處設(shè)置有 多個(gè)第二開(kāi)口 ，且該多個(gè)第二開(kāi)口對(duì)應(yīng)暴露出該多個(gè)第二檢測(cè)區(qū)。
12. 如權(quán)利要求1所述的觸控面板，其特征在于，該絕緣層進(jìn)一步覆蓋該多條第一傳輸 線(xiàn)以及該多條第二傳輸線(xiàn)，并進(jìn)一步暴露出各該第一傳輸線(xiàn)及各該第二傳輸線(xiàn)的信號(hào)端。
13. —種觸控面板的檢測(cè)方法，其特征在于，包括 提供如權(quán)利要求第1項(xiàng)所述的觸控面板；以及通過(guò)該多個(gè)第一檢測(cè)區(qū)以及該多個(gè)第二檢測(cè)區(qū)的其中兩者進(jìn)行檢測(cè)。
14. 如權(quán)利要求13所述的觸控面板的檢測(cè)方法，其特征在于，各該第一感測(cè)軸線(xiàn)的兩 端分別具有該第一檢測(cè)區(qū)，且進(jìn)行檢測(cè)的方法包括通過(guò)同一該第一感測(cè)軸線(xiàn)兩端的該兩個(gè) 第一檢測(cè)區(qū)進(jìn)行檢測(cè)。
15. 如權(quán)利要求13所述的觸控面板的檢測(cè)方法，其特征在于，各該第二感測(cè)軸線(xiàn)的兩 端分別具有該第二檢測(cè)區(qū)，且進(jìn)行檢測(cè)的方法包括通過(guò)同一該第二感測(cè)軸線(xiàn)兩端的該兩個(gè) 第二檢測(cè)區(qū)進(jìn)行檢測(cè)。
16. —種觸控面板的檢測(cè)方法，其特征在于，包括提供如權(quán)利要求12所述的觸控面板；以及通過(guò)其中一該第一檢測(cè)區(qū)以及與其對(duì)應(yīng)的 信號(hào)端或是其中一該第二檢測(cè)區(qū)以及與其對(duì)應(yīng)的信號(hào)端進(jìn)行檢測(cè)。
全文摘要
本發(fā)明提供一種觸控面板，包括一基板、多條第一感測(cè)軸線(xiàn)、多條第二感測(cè)軸線(xiàn)以及一絕緣層。第一感測(cè)軸線(xiàn)配置于基板上。各第一感測(cè)軸線(xiàn)沿一第一方向延伸，且各第一感測(cè)軸線(xiàn)的至少一端具有一第一檢測(cè)區(qū)。第二感測(cè)軸線(xiàn)配置于基板上。各第二感測(cè)軸線(xiàn)的至少一端具有一第二檢測(cè)區(qū)，且各第二感測(cè)軸線(xiàn)沿一第二方向延伸，而第一方向不平行于第二方向。絕緣層覆蓋第一感測(cè)軸線(xiàn)以及第二感測(cè)軸線(xiàn)，且暴露出第一檢測(cè)區(qū)以及第二檢測(cè)區(qū)。本發(fā)明進(jìn)一步提供了一種觸控面板的檢測(cè)方法。
文檔編號(hào)G06F3/044GK101699376SQ20091018987
公開(kāi)日2010年4月28日 申請(qǐng)日期2009年9月4日 優(yōu)先權(quán)日2009年9月4日
發(fā)明者余鴻志, 張龍泉 申請(qǐng)人:深超光電(深圳)有限公司