專利名稱：芯片測試數(shù)據(jù)的分析方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及諸如ic測試芯片的分析方法，尤其是指IC測試芯
片數(shù)據(jù)的分析方法。
背景技術(shù)：
在半導(dǎo)體制造工業(yè)中， 一般在使用之前會對其產(chǎn)品進(jìn)行測試，其 目的在于控制測試系統(tǒng)硬件以一定的方式保證被測器件達(dá)到或超越
它的那些被具體定義在器件規(guī)格書里的設(shè)計(jì)指標(biāo);其測試程序通常分 為幾個(gè)部分，如DC測試、功能測試、AC測試等。DC測試驗(yàn)證電壓及 電流參數(shù)；功能測試驗(yàn)證芯片內(nèi)部一系列邏輯功能操作的正確性；AC 測試用以保證芯片能在特定的時(shí)間約束內(nèi)完成邏輯操作;其中程序還 要有控制外圍測試設(shè)備比如手柄Handler和探測器Probe的能力； 還要搜集和提供摘要性質(zhì)(或格式)的測試結(jié)果或數(shù)據(jù)，這些結(jié)果或 數(shù)據(jù)提供有價(jià)值的信息給測試或生產(chǎn)工程師，用于良率(Yield)分析 和控制?，F(xiàn)以芯片測試為例，目前現(xiàn)有的半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司和測試廠在 分析大量的IC測試數(shù)據(jù)時(shí)，各自都有自己的測試分析方法，整個(gè)芯 片測試行業(yè)并沒有一個(gè)統(tǒng)一的模式，這樣就造成每開發(fā)一款新的芯 片,都需要再根據(jù)測試機(jī)臺生成的數(shù)據(jù)文件格式再利用某種語言去開 發(fā)對應(yīng)的測試分析程式，由于開發(fā)測試程序不是一件簡單的正確或者 錯(cuò)誤的事情，它是一個(gè)在給定的狀況下尋找最佳解決方案的過程，所以比較費(fèi)時(shí)，比如對一款新開發(fā)的芯片，選擇一特定的數(shù)量，在選擇 好對應(yīng)的機(jī)臺后，再根據(jù)該機(jī)臺生成的數(shù)據(jù)文件格式選中某種語言來 編寫相應(yīng)程序以得出數(shù)據(jù)分析結(jié)果，這樣每變更一次不同類別的芯 片，就得花大量的時(shí)間通常至少一個(gè)月的時(shí)間進(jìn)行一次編程，這樣務(wù) 必浪費(fèi)了編程人員大量的時(shí)間，而且行業(yè)之間就很可能不斷的做重復(fù) 動作，所以無形中浪費(fèi)了大量的人力和物力。
因此需要為廣大用戶提供一種更加簡便的方法來解決以上問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)際所要解決的技術(shù)問題是如何提供一種不需要重復(fù)編 程的可使用所有規(guī)格芯片的數(shù)據(jù)的分析方法。
為了實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的上述目的，本發(fā)明提供了一種新的數(shù)據(jù)分析方 法，其通過測試機(jī)臺生成的數(shù)據(jù)最終實(shí)現(xiàn)測試結(jié)果的分析，其特征在 于該測試分析方法中利用了一種分析軟件，該分析軟件中包括所有 測試機(jī)臺所對應(yīng)的庫函數(shù)。
本發(fā)明所述的芯片數(shù)據(jù)的分析方法，不但方法步驟簡單，而且由 于不需要重復(fù)編程，因此可有效的節(jié)約測試者的大量時(shí)間和精力，縮 短工程周期，故此很大程度上降低了人力成本。


圖1是根據(jù)本發(fā)明操作時(shí)的一個(gè)具體實(shí)施例；
圖2是根據(jù)本發(fā)明芯片測試數(shù)據(jù)的分析系統(tǒng)流程圖;
具體實(shí)施例方式
下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對本發(fā)明作進(jìn)一步的說明。
所謂測試系統(tǒng)稱為ATE，由電子電路和機(jī)械硬件組成，是由同一 個(gè)主控制器指揮下的電源、計(jì)量儀器、信號發(fā)生器、模式生成器和其 他硬件項(xiàng)目的集合體,用于模仿被測器件將會在應(yīng)用中體驗(yàn)到的操作 條件，以發(fā)現(xiàn)不合格的產(chǎn)品。該測試系統(tǒng)包括測試系統(tǒng)硬件和測試系 統(tǒng)軟件。其中測試系統(tǒng)硬件由運(yùn)行一組指令(測試程序)的計(jì)算機(jī)控 制，在測試時(shí)提供合適的電壓、電流、時(shí)序和功能狀態(tài)給被測器件并 監(jiān)測被測器件的響應(yīng)，對比每次測試的結(jié)果和預(yù)先設(shè)定的界限，做出 pass或fail的判斷。其中對程序控制測試系統(tǒng)的硬件進(jìn)行測試，對 每個(gè)測試項(xiàng)給出pass或fail的結(jié)果。Pass指器件達(dá)到或者超越了 其設(shè)計(jì)規(guī)格；Fail則相反，器件沒有達(dá)到設(shè)計(jì)要求，不能用于最終 應(yīng)用。測試程序要充分利用測試系統(tǒng)的性能以獲得良好的測試覆蓋 率，故一些測試方法會受到測試系統(tǒng)硬件或軟件性能的限制。
由于現(xiàn)有的芯片測試需要先選中特定型號的機(jī)臺，然后由該測試 機(jī)臺生成相應(yīng)的數(shù)據(jù)，測試工程師根據(jù)該生成的數(shù)據(jù)再利用某種語言 來編寫程序，以得出需要的如方差，平均值等各種測試結(jié)果，以便于 測試工程師根據(jù)該數(shù)據(jù)結(jié)果對芯片進(jìn)行分析,為了節(jié)約測試人員的精 力，可將現(xiàn)有的如V50、 6700、 V77等各種型號的所有IC測試機(jī)臺整 合在一起，利用某一款語言開發(fā)出一種測試分析軟件，該分析軟fl^由 于包括了現(xiàn)有所有型號的測試機(jī)臺，所以在測試芯片時(shí)，需要選擇好 對應(yīng)的測試機(jī)臺，然后再調(diào)用該所選擇的測試機(jī)臺所對應(yīng)的庫函數(shù)，這樣就實(shí)現(xiàn)了對該測試機(jī)臺的生成數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，即可對任何型號的 芯片進(jìn)行分析，因此不再需要測試工程師再另外編寫程序就可直接得 到測試結(jié)果，這樣不但節(jié)約了測試工程師的時(shí)間，而且縮短了整個(gè)工 程周期。
現(xiàn)以這種新的分析軟件的應(yīng)用為例舉例說明，請結(jié)合參閱圖1
和圖2所示，現(xiàn)如有一定數(shù)量的一種芯片需要測試分析，由于各款芯 片的測試項(xiàng)目是變量，測試人員首先需要根據(jù)測試項(xiàng)目去編寫符合該 款軟件的測試項(xiàng)目文檔，即需要利用測試項(xiàng)目轉(zhuǎn)化器，使其測試項(xiàng)目 轉(zhuǎn)化成測試系統(tǒng)能夠識別的文本，再將其導(dǎo)入測試數(shù)據(jù)分析軟件系統(tǒng) 中，然后在開啟的人機(jī)界面上，從多種不同類型的測試機(jī)臺中選擇好 相對應(yīng)的機(jī)臺，以便于調(diào)用分析軟件中對應(yīng)的庫函數(shù)，所述庫函數(shù)是 指由系統(tǒng)建立的具有一定功能的函數(shù)的集合的函數(shù)庫中存放的函數(shù)， 其中每個(gè)庫函數(shù)對應(yīng)一種相應(yīng)的機(jī)臺，再根據(jù)其生成的測試項(xiàng)目在生
成的文本上設(shè)置所述測試項(xiàng)目的上、下限范圍，再選擇出所要分析數(shù) 據(jù)的路徑，確認(rèn)后即開始進(jìn)入芯片測試報(bào)告生成器，將其轉(zhuǎn)換成一個(gè) 數(shù)據(jù)文檔，然后就進(jìn)入了數(shù)據(jù)報(bào)告分析生成器，開始分析數(shù)據(jù)，最終 生成一個(gè)分析數(shù)據(jù)的文檔，這樣測試工程師就可以很直觀分析所有數(shù) 據(jù)，保存生成分析數(shù)據(jù)的文檔，最后關(guān)閉整個(gè)分析軟件，需要補(bǔ)充的 是，整個(gè)測試數(shù)據(jù)的分析系統(tǒng)還包括一些其他系統(tǒng)組件，用于支持該 數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)的相關(guān)軟件及安裝文件。
以上分析軟件的方法是以一個(gè)具體實(shí)施例來體現(xiàn)該操作的一種 方法，該種分析測試芯片的方法利用了一個(gè)測試數(shù)據(jù)的分析軟件，其中包括了現(xiàn)有機(jī)臺所有對應(yīng)的庫函數(shù)，用戶在測試芯片時(shí)，只需要導(dǎo) 出該分析軟件中對應(yīng)機(jī)臺的函數(shù)即可對芯片進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，這樣就不 再需要測試工程師重復(fù)編寫程序，這樣無疑減少了工程人員的工作 量。換句話說，針對所有不同的類型機(jī)臺做一個(gè)分析軟件，即該分析 軟件適用于現(xiàn)有的所有機(jī)臺，這樣當(dāng)選中好對應(yīng)的機(jī)臺后，將其中的 分析軟件中對應(yīng)的該機(jī)臺的程序?qū)С?，這樣測試工程師就不必再專門 針對芯片或者機(jī)臺分別編寫程序，而只需要導(dǎo)出這個(gè)分析軟件既可， 這樣即可完成后續(xù)的數(shù)據(jù)分析動作。
以上這種新的分析測試芯片的方法，利用了一個(gè)分析軟件就整合 了整個(gè)測試行業(yè)中的測試數(shù)據(jù)的分析方法，不但方法趨于更加簡單， 而且節(jié)省了測試人員的時(shí)間，縮短了工程周期，也很大程度上降低了 人力成本。
權(quán)利要求
1.一種芯片測試數(shù)據(jù)的分析方法，其通過測試機(jī)臺生成的數(shù)據(jù)最終實(shí)現(xiàn)測試結(jié)果的分析，其特征在于該測試分析方法中利用了一種分析軟件，該分析軟件中包括所有測試機(jī)臺所對應(yīng)的庫函數(shù)。
2. 如權(quán)利要求1所述的分析方法，其特征在于所述分析軟件可以 是由任何某一款語言開發(fā)而成。
3. 如權(quán)利要求1所述的分析方法，其特征在于在該方法中，在選 擇好所對應(yīng)的測試機(jī)臺后，然后再調(diào)用該所選擇的測試機(jī)臺所對 應(yīng)的庫函數(shù)。
4. 如權(quán)利要求1或3所述的分析方法，其特征在于所述庫函數(shù)是 指由系統(tǒng)建立的具有一定功能的函數(shù)的集合的函數(shù)庫中存放的 函數(shù)。
5. 如權(quán)利要求l、 3、 4中任意一項(xiàng)權(quán)利要求所述的分析方法，其特 征在于所述每個(gè)庫函數(shù)對應(yīng)一種相應(yīng)的機(jī)臺。
6. 如權(quán)利要求1所述的分析方法，其特征在于所述芯片測試數(shù)據(jù) 的分析方法中，在選擇了測試機(jī)臺所對應(yīng)的庫函數(shù)后，通過分析 即可得出該芯片的最終測試分析數(shù)據(jù)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種測試芯片數(shù)據(jù)的分析方法，其通過測試機(jī)臺生成的數(shù)據(jù)最終實(shí)現(xiàn)測試結(jié)果的分析，該測試分析方法中利用了一種分析軟件，該分析軟件中包括所有測試機(jī)臺所對應(yīng)的庫函數(shù)。本發(fā)明所述的分析方法，不但方法步驟簡單，而且由于不需要重復(fù)編程，因此可有效的節(jié)約測試者的大量時(shí)間和精力，縮短工程周期，故此很大程度上降低了人力成本。
文檔編號G06F9/44GK101650655SQ200910182798
公開日2010年2月17日 申請日期2009年9月7日 優(yōu)先權(quán)日2009年9月7日
發(fā)明者章國平, 薛魏偉 申請人:蘇州瀚瑞微電子有限公司