專利名稱：儲(chǔ)存裝置的磁區(qū)測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種儲(chǔ)存裝置測試技術(shù)，更詳細(xì)地，涉及一種通過數(shù) 據(jù)處理系統(tǒng)執(zhí)行儲(chǔ)存裝置的磁區(qū)測試方法。
背景技術(shù)：
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隨著數(shù)據(jù)儲(chǔ)存技術(shù)的日新月異，相同體積的儲(chǔ)存裝置所能儲(chǔ)存的
容量亦隨之增加，對(duì)于使用者而言，單一的儲(chǔ)存裝置可以儲(chǔ)存更多的 數(shù)據(jù)，因此大幅提高數(shù)據(jù)儲(chǔ)存的效率。
在種類眾多的儲(chǔ)存裝置類型中，磁盤冗余陣歹lj(Redundant Array of Independent Disks, RAID)是一種具備有多個(gè)實(shí)體儲(chǔ)存單元(如硬磁盤)
15 的儲(chǔ)存裝置，其通常應(yīng)用于搭接到網(wǎng)絡(luò)服務(wù)器等數(shù)據(jù)處理裝置，用于 儲(chǔ)存數(shù)量極為龐大的電腦數(shù)據(jù)。由于RAID具備有多個(gè)硬磁盤，因此 可提供多工化的電腦數(shù)據(jù)存取功能來提升整體的存取效率，并可提供 多重備份的鏡向儲(chǔ)存功能來使得電腦數(shù)據(jù)的儲(chǔ)存更加妥善。
實(shí)際應(yīng)用上，RAID中的多個(gè)硬磁盤通常會(huì)預(yù)先規(guī)劃成一個(gè)或多個(gè)
20 磁區(qū)(Volume),以利用每一個(gè)硬磁盤所規(guī)劃出的磁區(qū)來提供特定目的 的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存功能，通過磁區(qū)的劃分可更有彈性的規(guī)劃該硬磁盤的儲(chǔ)存 空間，并能增加數(shù)據(jù)存取的效率。
然而隨著儲(chǔ)存裝置的快速增加，首先面對(duì)的問題便是該儲(chǔ)存裝置 存取功能測試的困難度。具體地，目前的硬磁盤均支持劃分的功能，
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亦即單一硬磁盤中可規(guī)劃成多個(gè)磁區(qū)，使用者可例如為依據(jù)實(shí)際需求 將硬磁盤規(guī)劃成128、 256、 512或1024個(gè)磁區(qū)，并利用規(guī)劃后的磁區(qū) 進(jìn)行數(shù)據(jù)的存取。但是實(shí)際上，某一硬磁盤雖能在規(guī)劃成256個(gè)磁區(qū) 的狀態(tài)下正常運(yùn)作，但可能在規(guī)劃成1024個(gè)磁區(qū)的狀態(tài)下，其中的一 個(gè)或多個(gè)磁區(qū)無法正常運(yùn)作，反之亦然。
30
為確保出廠的硬磁盤能在規(guī)劃成每一種不同數(shù)量的磁區(qū)的狀態(tài)下 均能正常運(yùn)作，最直接且全面的測試方式便是逐一增加規(guī)劃數(shù)量并逐
一測試規(guī)劃后的硬磁盤的數(shù)據(jù)存取狀況，此種方式固然具有完整的硬 磁盤磁區(qū)測試覆蓋率，但執(zhí)行過程必須一再使測試人員重新規(guī)劃磁區(qū) 以進(jìn)行測試，其測試效率相對(duì)低落。為提升測試效率，目前有直接將 硬磁盤做最大磁區(qū)數(shù)量的規(guī)劃，并僅針對(duì)規(guī)劃成最大數(shù)量磁區(qū)的狀態(tài) 5 下測試硬磁盤是否能正常的進(jìn)行數(shù)據(jù)存取，此測試方式固然省卻每一 種磁區(qū)數(shù)量規(guī)劃狀態(tài)下的測試，但其硬磁盤磁區(qū)測試覆蓋率則相對(duì)降 低。
綜上所述，如何提供一種能兼顧儲(chǔ)存裝置磁區(qū)測試覆蓋率的全面 性而且無須使測試人員一再重新規(guī)劃磁區(qū)以進(jìn)行測試的儲(chǔ)存裝置磁區(qū) 10 測試技術(shù)，遂成為目前亟待解決的課題。

發(fā)明內(nèi)容
為解決前述現(xiàn)有技術(shù)的問題，本發(fā)明提供一種儲(chǔ)存裝置的磁區(qū)測 試方法，能在無須人為設(shè)定操作的條件下，針對(duì)于不同磁區(qū)數(shù)量規(guī)劃
15 狀態(tài)下的儲(chǔ)存裝置，進(jìn)行規(guī)劃后的磁區(qū)能否正常存取數(shù)據(jù)的測試。
本發(fā)明的儲(chǔ)存裝置的磁區(qū)測試方法，通過數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)執(zhí)行儲(chǔ)存 裝置的磁區(qū)測試，該儲(chǔ)存裝置包括至少一個(gè)能支持多個(gè)磁區(qū)的規(guī)劃的 儲(chǔ)存單元，本發(fā)明的儲(chǔ)存裝置的磁區(qū)測試方法包括以下步驟設(shè)定該 儲(chǔ)存裝置能規(guī)劃出的最大磁區(qū)數(shù)n;依據(jù)該儲(chǔ)存裝置中的儲(chǔ)存單元的容
20 量計(jì)算出該儲(chǔ)存單元容量比例值；以及依據(jù)至少包括容量比例值分配 規(guī)則在內(nèi)的磁區(qū)規(guī)劃規(guī)則，以在該儲(chǔ)存單元中規(guī)劃出磁區(qū)，其中，該 容量比例值分配規(guī)則依據(jù)儲(chǔ)存單元的容量比例值較高者取得較優(yōu)先的 規(guī)劃磁區(qū)順序，此外，每當(dāng)該規(guī)劃出的磁區(qū)數(shù)加一時(shí)，即針對(duì)該儲(chǔ)存 單元進(jìn)行數(shù)據(jù)存取的測試，直至該規(guī)劃出的磁區(qū)數(shù)達(dá)到n為止。
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本發(fā)明各種型態(tài)中，該容量比例值分配規(guī)則進(jìn)一步包括n大于該
儲(chǔ)存單元的數(shù)量的情況下，重復(fù)依照該規(guī)劃磁區(qū)順序，以在該儲(chǔ)存單 元中增加磁區(qū)。
本發(fā)明各種型態(tài)中，該磁區(qū)規(guī)劃規(guī)則進(jìn)一步包括儲(chǔ)存單元的容量 比例值相同的情況下，未規(guī)劃磁區(qū)的儲(chǔ)存單元的規(guī)劃磁區(qū)順序優(yōu)先于 30 已規(guī)劃磁區(qū)的儲(chǔ)存單元。
本發(fā)明各種型態(tài)中，該磁區(qū)規(guī)劃規(guī)則進(jìn)一步包括儲(chǔ)存單元的容量 比例值相同的情況下，較早建立于數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)的儲(chǔ)存單元的規(guī)劃磁 區(qū)順序優(yōu)先于較晚建立于數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)的儲(chǔ)存單元。
本發(fā)明各種型態(tài)中，還包括依據(jù)對(duì)該儲(chǔ)存單元進(jìn)行數(shù)據(jù)存取的測 5 試結(jié)果產(chǎn)生測試報(bào)告的步驟。
相比于現(xiàn)有的儲(chǔ)存裝置磁區(qū)測試技術(shù)，本發(fā)明的儲(chǔ)存裝置的磁區(qū) 測試方法，由于能夠通過數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，依據(jù)設(shè)定的最大磁區(qū)數(shù)以及 磁區(qū)規(guī)劃規(guī)則，執(zhí)行儲(chǔ)存單元不同磁區(qū)數(shù)量的規(guī)劃并針對(duì)不同磁區(qū)數(shù) 量狀態(tài)下的儲(chǔ)存單元進(jìn)行數(shù)據(jù)存取的測試，因此無須人為設(shè)定操作， 10即能針對(duì)于不同磁區(qū)數(shù)量規(guī)劃狀態(tài)下的儲(chǔ)存裝置，進(jìn)行規(guī)劃后的磁區(qū) 能否正常存取數(shù)據(jù)的測試并產(chǎn)生測試報(bào)告。


圖1是本發(fā)明的儲(chǔ)存裝置的磁區(qū)測試方法執(zhí)行時(shí)的步驟流程圖。
主要元件符號(hào)說明
S10-S14 步驟
具體實(shí)施例方式
以下通過特定的具體實(shí)施例說明本發(fā)明的實(shí)施方式，本領(lǐng)域的技
術(shù)人員可由本說明書所揭示內(nèi)容輕易地了解本發(fā)明的其他優(yōu)點(diǎn)與功 效。本發(fā)明亦可通過其他不同的具體實(shí)施例加以施行或應(yīng)用，本說明 書中的各項(xiàng)細(xì)節(jié)亦可基于不同觀點(diǎn)與應(yīng)用，在不背離本發(fā)明的精神下 進(jìn)行各種修飾與變更。
請(qǐng)參閱圖1，這是本發(fā)明的儲(chǔ)存裝置的磁區(qū)測試方法的步驟流程
圖。本實(shí)施例中，本發(fā)明的儲(chǔ)存裝置的磁區(qū)測試方法通過數(shù)據(jù)處理系 統(tǒng)執(zhí)行儲(chǔ)存裝置的磁區(qū)測試，該儲(chǔ)存裝置包括至少一個(gè)能支持多個(gè)磁 區(qū)的規(guī)劃的儲(chǔ)存單元。具體地，該數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)可例如但不限為個(gè)人 電腦、服務(wù)器、工作站或其他具有數(shù)據(jù)處理功能的測試機(jī)器或工作站
臺(tái)。該儲(chǔ)存裝置可例如為磁盤冗余陣列(RAID),該磁盤冗余陣列是
由第一儲(chǔ)存單元、第二儲(chǔ)存單元以及第三儲(chǔ)存單元所組成，其中，該
第一儲(chǔ)存單元、第二儲(chǔ)存單元以及第三儲(chǔ)存單元分別為儲(chǔ)存容量100 GB、 200GB以及100GB的硬磁盤。需補(bǔ)充說明，該儲(chǔ)存裝置所具有
的儲(chǔ)存單元數(shù)量可依實(shí)際需求予以調(diào)整。
本發(fā)明的儲(chǔ)存裝置的磁區(qū)測試方法可以模塊化的方式整合成應(yīng)用 5程序，并以軟件或固件的形式通過該數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)予以執(zhí)行。
如圖1所示，在步驟S10中，設(shè)定該儲(chǔ)存裝置能規(guī)劃出的最大磁 區(qū)數(shù)n，接著進(jìn)至步驟Sll。本實(shí)施例中，該儲(chǔ)存裝置是由第一至第三 儲(chǔ)存單元所組成，且該儲(chǔ)存裝置在該數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)的實(shí)際應(yīng)用上，通 過安裝于該數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)的磁盤冗余陣列測試應(yīng)用程序予以測試。更 10具體地，本發(fā)明的儲(chǔ)存裝置的磁區(qū)測試方法應(yīng)用于該磁盤冗余陣列測
試應(yīng)用程序中，以通過該數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)執(zhí)行儲(chǔ)存裝置的磁區(qū)測試。此 夕卜，本步驟中所設(shè)定該儲(chǔ)存裝置能規(guī)劃出的最大磁區(qū)數(shù)n的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存 于該數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)中該儲(chǔ)存裝置以外的非易失性儲(chǔ)存單元或易失性儲(chǔ) 存單元中，該非易失性儲(chǔ)存單元可例如但不限定為用于儲(chǔ)存BIOS的
15CM0S、其他內(nèi)建或外接的閃速存儲(chǔ)器中，該易失性儲(chǔ)存單元?jiǎng)t可例如 但不限定為隨機(jī)存取存儲(chǔ)器。從而在該儲(chǔ)存裝置執(zhí)行測試的過程中， 能正常設(shè)定或取用該儲(chǔ)存裝置能規(guī)劃出的最大磁區(qū)數(shù)n的數(shù)據(jù)。
本發(fā)明的另一實(shí)施例中，該非易失性儲(chǔ)存單元進(jìn)一步包括該數(shù)據(jù) 處理系統(tǒng)中除前述包括該第一儲(chǔ)存單元、第二儲(chǔ)存單元以及第三儲(chǔ)存
20單元的儲(chǔ)存裝置外，其他可正常運(yùn)作如硬磁盤等的儲(chǔ)存裝置。
在步驟Sll中，依據(jù)該儲(chǔ)存裝置中的儲(chǔ)存單元的容量計(jì)算出該第 一儲(chǔ)存單元、第二儲(chǔ)存單元以及第三儲(chǔ)存單元容量比例值，接著進(jìn)行 步驟S12。如前所述，該第一儲(chǔ)存單元、第二儲(chǔ)存單元以及第三儲(chǔ)存單 元分別為儲(chǔ)存容量100 GB、 200 GB以及100 GB的硬磁盤，因此本實(shí)
25施例中，該第一儲(chǔ)存單元、第二儲(chǔ)存單元以及第三儲(chǔ)存單元容量比例
值為1: 2: 1。
在步驟S12中，依據(jù)磁區(qū)規(guī)劃規(guī)則以在該儲(chǔ)存單元中規(guī)劃出磁區(qū)，
接著進(jìn)至步驟S13。本實(shí)施例中，該磁區(qū)規(guī)劃規(guī)則至少包括容量比例值
分配規(guī)則；儲(chǔ)存單元的容量比例值相同的情況下，未規(guī)劃磁區(qū)的儲(chǔ)存 30單元的規(guī)劃磁區(qū)順序優(yōu)先于已規(guī)劃磁區(qū)的儲(chǔ)存單元的規(guī)則；以及儲(chǔ)存 單元的容量比例值相同的情況下，較早建立于數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)的儲(chǔ)存單
元的規(guī)劃磁區(qū)順序優(yōu)先于較晚建立于數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)的儲(chǔ)存單元的規(guī) 則。
本實(shí)施例中，該容量比例值分配規(guī)則進(jìn)一步包括依據(jù)儲(chǔ)存單元的 容量比例值較高的取得較優(yōu)先的規(guī)劃磁區(qū)順序的規(guī)則；以在n大于該 5儲(chǔ)存單元的數(shù)量的情況下，重復(fù)依該規(guī)劃磁區(qū)順序，以在該儲(chǔ)存單元 中增加磁區(qū)的規(guī)則。
如前所述，該第一儲(chǔ)存單元、第二儲(chǔ)存單元以及第三儲(chǔ)存單元容 量比例值為l: 2: 1,假設(shè)在步驟S10中所設(shè)定的n為4，則依據(jù)上述
的磁區(qū)規(guī)劃規(guī)則，該第一儲(chǔ)存單元、第二儲(chǔ)存單元以及第三儲(chǔ)存單元
10 由一個(gè)磁區(qū)規(guī)劃至四個(gè)(n = 4)磁區(qū)的規(guī)劃順序?yàn)?: 1: 0; 1: 1: 0; 1: 1: 1;以及l(fā): 2: 1。具體地，僅有一個(gè)磁區(qū)需規(guī)劃時(shí)，該磁區(qū) 規(guī)劃于該第二儲(chǔ)存單元中；當(dāng)有二個(gè)磁區(qū)需規(guī)劃時(shí)，其中一個(gè)磁區(qū)規(guī) 劃于該第二儲(chǔ)存單元中，另一個(gè)磁區(qū)規(guī)劃于該第一儲(chǔ)存單元中；當(dāng)有 三個(gè)磁區(qū)需規(guī)劃時(shí)，其中一個(gè)磁區(qū)規(guī)劃于該第二儲(chǔ)存單元中，另二個(gè)
15 磁區(qū)則分別規(guī)劃于該第一儲(chǔ)存單元與該第三儲(chǔ)存單元中；當(dāng)有四個(gè)磁 區(qū)需規(guī)劃時(shí)，其中二個(gè)磁區(qū)規(guī)劃于該第二儲(chǔ)存單元中，另二個(gè)磁區(qū)則 分別規(guī)劃于該第一儲(chǔ)存單元與該第三儲(chǔ)存單元中。
在步驟S13中，每當(dāng)該規(guī)劃出的磁區(qū)數(shù)加一時(shí)，即針對(duì)該儲(chǔ)存單 元進(jìn)行數(shù)據(jù)存取的測試，并依據(jù)測試結(jié)果產(chǎn)生測試報(bào)告，接著進(jìn)至步
20 驟S14。如前所述，該第一儲(chǔ)存單元、第二儲(chǔ)存單元以及第三儲(chǔ)存單元 依據(jù)前述的規(guī)劃順序規(guī)劃磁區(qū)時(shí)，亦即，每當(dāng)增加一個(gè)磁區(qū)數(shù)時(shí)，即 針對(duì)該儲(chǔ)存單元進(jìn)行數(shù)據(jù)存取的測試，并依據(jù)針對(duì)該儲(chǔ)存單元進(jìn)行數(shù) 據(jù)存取的測試結(jié)果產(chǎn)生測試報(bào)告。
須特別說明，每當(dāng)增加一個(gè)磁區(qū)數(shù)后，在針對(duì)該儲(chǔ)存單元進(jìn)行數(shù)
25據(jù)存取的測試前，相應(yīng)增加磁區(qū)數(shù)的該第一儲(chǔ)存單元、第二儲(chǔ)存單元 或第三儲(chǔ)存單元中的磁區(qū)容量會(huì)重新規(guī)劃。具體地，將該第一儲(chǔ)存單 元、第二儲(chǔ)存單元或第三儲(chǔ)存單元的儲(chǔ)存容量依據(jù)增加后的磁區(qū)數(shù)平 均分配。如前所述，當(dāng)該第二儲(chǔ)存單元的磁區(qū)數(shù)從一個(gè)增加至二個(gè)時(shí)，
則由原本一個(gè)儲(chǔ)存容量200 GB的磁區(qū)重新規(guī)劃為二個(gè)儲(chǔ)存容量分別 30為50 GB的磁區(qū)，再針對(duì)執(zhí)行具有二個(gè)儲(chǔ)存容量分別為50 GB的磁區(qū) 的該第二儲(chǔ)存單元進(jìn)行數(shù)據(jù)存取的測試，并依據(jù)針對(duì)該儲(chǔ)存單元進(jìn)行
數(shù)據(jù)存取的測試結(jié)果產(chǎn)生測試報(bào)告。需補(bǔ)充說明，前述的重新規(guī)劃以 平均分配為原則，當(dāng)該儲(chǔ)存單元的儲(chǔ)存容量無法為增加后的磁區(qū)數(shù)所 整除時(shí)，可將無法整除的儲(chǔ)存容量余數(shù)規(guī)劃于特定的磁區(qū)，但是這種 磁區(qū)規(guī)劃模式為現(xiàn)有技術(shù)，其可能的規(guī)劃模式亦有多種，為了避免模 5 糊本案技術(shù)特征，不再贅述。
本實(shí)施例中，本發(fā)明的儲(chǔ)存裝置的磁區(qū)測試方法進(jìn)一步搭接到安
裝于該數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)的測試數(shù)據(jù)(test-pattern)產(chǎn)生模塊，更具體地， 該測試數(shù)據(jù)產(chǎn)生模塊可為應(yīng)用程序，且每當(dāng)該規(guī)劃出的磁區(qū)數(shù)加一時(shí)， 可通過該數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)發(fā)出測試觸發(fā)信號(hào)，從而使該測試數(shù)據(jù)產(chǎn)生模
io塊接收到該測試觸發(fā)信號(hào)產(chǎn)生測試數(shù)據(jù)，進(jìn)行該儲(chǔ)存裝置數(shù)據(jù)存取是 否正常的測試，并依據(jù)該測試結(jié)果產(chǎn)生測試報(bào)告。
在步驟S14中，判斷該規(guī)劃出的磁區(qū)數(shù)是否達(dá)到n，若是，則結(jié)束 流程步驟；若否，則返回步驟S12。
綜上所述，本發(fā)明的儲(chǔ)存裝置的磁區(qū)測試方法，由于能夠通過數(shù)
15 據(jù)處理系統(tǒng)，依據(jù)設(shè)定的最大磁區(qū)數(shù)以及磁區(qū)規(guī)劃規(guī)則，執(zhí)行儲(chǔ)存單 元不同磁區(qū)數(shù)量的規(guī)劃并針對(duì)不同磁區(qū)數(shù)量狀態(tài)下的儲(chǔ)存單元進(jìn)行數(shù) 據(jù)存取的測試，因此無須人為設(shè)定操作，即能針對(duì)于不同磁區(qū)數(shù)量規(guī) 劃狀態(tài)下的儲(chǔ)存裝置，進(jìn)行規(guī)劃后的磁區(qū)能否正常存取數(shù)據(jù)的測試并 產(chǎn)生測試報(bào)告。
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上述實(shí)施例僅為例示性說明本發(fā)明的原理及其功效，而非用于限
制本發(fā)明。任何本領(lǐng)域技術(shù)人員均可在不違背本發(fā)明的精神及范疇下， 對(duì)上述實(shí)施例進(jìn)行修飾與變化。因此，本發(fā)明的權(quán)利保護(hù)范圍，應(yīng)如 所述的權(quán)利要求所列。
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權(quán)利要求
1.一種儲(chǔ)存裝置的磁區(qū)測試方法，通過數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)執(zhí)行儲(chǔ)存裝置的磁區(qū)測試，該儲(chǔ)存裝置包括至少一個(gè)能支持多個(gè)磁區(qū)的規(guī)劃的儲(chǔ)存單元，該儲(chǔ)存裝置的磁區(qū)測試方法包括以下步驟設(shè)定該儲(chǔ)存裝置能規(guī)劃出的最大磁區(qū)數(shù)n；依據(jù)該儲(chǔ)存裝置中的儲(chǔ)存單元的容量計(jì)算出該儲(chǔ)存單元容量比例值；以及依據(jù)至少包括容量比例值分配規(guī)則在內(nèi)的磁區(qū)規(guī)劃規(guī)則，以在該儲(chǔ)存單元中規(guī)劃出磁區(qū)，其中，該容量比例值分配規(guī)則依據(jù)儲(chǔ)存單元的容量比例值較高者取得較優(yōu)先的規(guī)劃磁區(qū)順序，從而當(dāng)該規(guī)劃出的磁區(qū)數(shù)加一時(shí)，即針對(duì)該儲(chǔ)存單元進(jìn)行數(shù)據(jù)存取的測試，直至該規(guī)劃出的磁區(qū)數(shù)達(dá)到n為止。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述儲(chǔ)存裝置的磁區(qū)測試方法，其中，該容量比例值分配規(guī)則進(jìn)一步包括n大于該儲(chǔ)存單元的數(shù)量的情況下，重復(fù)依該規(guī)劃磁區(qū)順序，以在該儲(chǔ)存單元中增加磁區(qū)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述儲(chǔ)存裝置的磁區(qū)測試方法，其中，該 磁區(qū)規(guī)劃規(guī)則進(jìn)一步包括儲(chǔ)存單元的容量比例值相同的情況下，未規(guī)劃磁區(qū)的儲(chǔ)存單元的規(guī)劃磁區(qū)順序優(yōu)先于已規(guī)劃磁區(qū)的儲(chǔ)存單元。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述儲(chǔ)存裝置的磁區(qū)測試方法，其中，該 磁區(qū)規(guī)劃規(guī)則進(jìn)一步包括儲(chǔ)存單元的容量比例值相同的情況下，較早建立于數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)的儲(chǔ)存單元的規(guī)劃磁區(qū)順序優(yōu)先于較晚建立于數(shù) 據(jù)處理系統(tǒng)的儲(chǔ)存單元。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述儲(chǔ)存裝置的磁區(qū)測試方法，進(jìn)一步包 括以下步驟依據(jù)對(duì)該儲(chǔ)存單元進(jìn)行數(shù)據(jù)存取的測試結(jié)果產(chǎn)生測試報(bào)告。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述儲(chǔ)存裝置的磁區(qū)測試方法，其中，該數(shù)據(jù) 處理系統(tǒng)包括有測試數(shù)據(jù)產(chǎn)生模塊，用于該規(guī)劃出的磁區(qū)數(shù)加一時(shí)， 通過該數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)發(fā)出測試觸發(fā)信號(hào)，從而使該測試數(shù)據(jù)產(chǎn)生模塊 接收到該測試觸發(fā)信號(hào)產(chǎn)生測試數(shù)據(jù)，進(jìn)行該儲(chǔ)存裝置數(shù)據(jù)存取是否正常的測試。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述儲(chǔ)存裝置的磁區(qū)測試方法，其中，該測試 數(shù)據(jù)產(chǎn)生模塊為應(yīng)用程序。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述儲(chǔ)存裝置的磁區(qū)測試方法，其中，該測試數(shù)據(jù)產(chǎn)生模塊依據(jù)該測試結(jié)果產(chǎn)生測試報(bào)告。
全文摘要
一種儲(chǔ)存裝置的磁區(qū)測試方法，通過數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)執(zhí)行儲(chǔ)存裝置的磁區(qū)測試，該儲(chǔ)存裝置包括至少一個(gè)能支持多個(gè)磁區(qū)的規(guī)劃的儲(chǔ)存單元，其主要包括設(shè)定該儲(chǔ)存裝置能規(guī)劃出的最大磁區(qū)數(shù)n，并依據(jù)該儲(chǔ)存裝置中的儲(chǔ)存單元的容量計(jì)算出儲(chǔ)存單元容量比例值，再依據(jù)預(yù)設(shè)的磁區(qū)規(guī)劃規(guī)則在該儲(chǔ)存單元中規(guī)劃出磁區(qū)，其中，每當(dāng)該規(guī)劃出的磁區(qū)數(shù)加一時(shí)，即針對(duì)該儲(chǔ)存單元進(jìn)行數(shù)據(jù)存取的測試并產(chǎn)生測試報(bào)告，直至該規(guī)劃出的磁區(qū)數(shù)達(dá)到n為止。據(jù)此，能針對(duì)儲(chǔ)存裝置中儲(chǔ)存單元的磁區(qū)規(guī)劃的多種可能性進(jìn)行數(shù)據(jù)存取測試，以提高該儲(chǔ)存裝置測試覆蓋率，此外，通過測試報(bào)告的產(chǎn)生，還能提升測試的效率。
文檔編號(hào)G06F11/22GK101196843SQ20061016338
公開日2008年6月11日 申請(qǐng)日期2006年12月4日 優(yōu)先權(quán)日2006年12月4日
發(fā)明者陳志偉 申請(qǐng)人:英業(yè)達(dá)股份有限公司