專利名稱：片上系統(tǒng)芯片、片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試系統(tǒng)及方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種芯片及其控制系統(tǒng)與方法，尤其涉及一種片上系統(tǒng)芯片以及片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試系統(tǒng)及方法。
背景技術：
片上系統(tǒng)芯片是一種由具有可編程能力的處理器、功能模塊以及片內總線組成的芯片，是近幾年國際半導體發(fā)展的熱點。
片上系統(tǒng)芯片包括中央處理器、片內總線和一些特定的功能模塊。根據片上系統(tǒng)芯片實現(xiàn)功能的不同，上述的功能模塊也不盡相同。如圖1所示，片上系統(tǒng)芯片包括了中央處理器、片內總線、以及存儲介質、協(xié)處理器和JTAG(Joint Test Action Group，聯(lián)合檢測行動組)接口模塊等特定的功能模塊。所述的JTAG接口模塊可實現(xiàn)多種功能，例如，用于印刷電路板產品測試、片上系統(tǒng)芯片內部信號測試、以及片上系統(tǒng)芯片跟蹤調試。在需要對片上系統(tǒng)芯片進行跟蹤調試時，由上述的JTAG接口模塊輸出片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試數(shù)據，由于JTAG接口模塊能夠完成的功能眾多，因此其接口協(xié)議復雜，當其接收到要求輸出跟蹤調試數(shù)據的指令時，需要較長的處理時間，之后才能輸出跟蹤調試數(shù)據，這直接導致了輸出跟蹤調試數(shù)據的速度較慢。
圖2為圖1所示的片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試系統(tǒng)示意圖。由圖2可以看出，所述片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試系統(tǒng)由片上系統(tǒng)芯片、JTAG接口轉換模塊、計算機、以及芯片外部的其他外圍器件構成。
在對片上系統(tǒng)芯片進行跟蹤調試的過程中，計算機首先通過片上系統(tǒng)芯片的JTAG接口模塊向片上系統(tǒng)芯片發(fā)送跟蹤調試命令，片上系統(tǒng)芯片解析接收到的跟蹤調試命令，然后依照跟蹤調試命令向計算機發(fā)送跟蹤調試數(shù)據，計算機對接收到的跟蹤調試數(shù)據進行分析。
由以上對片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試系統(tǒng)可以看出，對片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試需要經過計算機發(fā)出跟蹤調試命令和片上系統(tǒng)芯片響應跟蹤調試命令兩個過程，片上系統(tǒng)芯片只有在接收到計算機發(fā)出的跟蹤調試命令后才輸出跟蹤調試數(shù)據，這樣的交互過程造成了對片上系統(tǒng)芯片跟蹤調試的速度較慢。

發(fā)明內容
本發(fā)明針對現(xiàn)有技術的缺點，提供一種片上系統(tǒng)芯片、片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試系統(tǒng)及方法，可以更方便、快速的實現(xiàn)片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試。
本發(fā)明所述的片上系統(tǒng)芯片包括中央處理器、片內總線、功能模塊，以及跟蹤調試數(shù)據接口模塊，其中，跟蹤調試數(shù)據接口模塊用于根據輸出的時鐘信號及有效指示信號，輸出有效的跟蹤調試數(shù)據。
上述有效指示信號通過高電平或低電平指示輸出的跟蹤調試數(shù)據的有效性。
上述跟蹤調試數(shù)據接口模塊實時輸出跟蹤調試數(shù)據、或在存儲介質存儲的數(shù)據容量滿時輸出跟蹤調試數(shù)據、或根據中央處理器指令輸出存儲介質內存儲的跟蹤調試數(shù)據。
上述跟蹤調試數(shù)據接口模塊包含1至128根信號線。
本發(fā)明還提供一種片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括輸出跟蹤調試數(shù)據的片上系統(tǒng)芯片、以及跟蹤調試數(shù)據接口轉換模塊和跟蹤調試數(shù)據分析模塊，其中，跟蹤調試數(shù)據接口轉換模塊用于提供片上系統(tǒng)芯片輸出跟蹤調試數(shù)據的接口與跟蹤調試數(shù)據分析模塊接收跟蹤調試數(shù)據的接口之間的轉換；跟蹤調試數(shù)據分析模塊用于分析接收到的跟蹤調試數(shù)據。
本發(fā)明所述的片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試系統(tǒng)中，還可以進一步包括連接于跟蹤調試數(shù)據接口轉換模塊上的跟蹤調試數(shù)據緩存模塊，該模塊用于緩存片上系統(tǒng)芯片輸出的跟蹤調試數(shù)據。
本發(fā)明還提供一種片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試方法，其步驟包括步驟一，片上系統(tǒng)芯片輸出跟蹤調試數(shù)據；步驟二，傳送上述跟蹤調試數(shù)據至跟蹤調試數(shù)據分析模塊；步驟三，跟蹤調試數(shù)據分析模塊分析接收到的跟蹤調試數(shù)據。
上述步驟一中進一步包括，緩存片上系統(tǒng)芯片輸出的跟蹤調試數(shù)據。
本發(fā)明中在片上系統(tǒng)芯片上設置了專用于輸出片上系統(tǒng)芯片跟蹤調試數(shù)據的跟蹤調試數(shù)據接口模塊，簡化了片上系統(tǒng)芯片輸出跟蹤調試數(shù)據的接口協(xié)議，使片上系統(tǒng)芯片輸出跟蹤調試的速率得以加快；而且，片上系統(tǒng)芯片在輸出跟蹤調試數(shù)據時，同時采用多根信號線，也使得片上系統(tǒng)芯片輸出跟蹤調試數(shù)據的速度加快。同時，片上系統(tǒng)芯片主動輸出跟蹤調試數(shù)據，由跟蹤調試數(shù)據分析模塊接收并進行分析，改變了現(xiàn)有技術中需要跟蹤調試數(shù)據分析模塊先向片上系統(tǒng)芯片發(fā)送獲取跟蹤調試數(shù)據的指令，由片上系統(tǒng)芯片響應指令輸出其跟蹤調試數(shù)據，再由跟蹤調試分析模塊對接收到的數(shù)據進行分析的信息交互過程，節(jié)省了獲取片上系統(tǒng)芯片跟蹤調試數(shù)據的時間，提高了對片上系統(tǒng)芯片進行跟蹤調試的速度。


圖1為現(xiàn)有技術中片上系統(tǒng)芯片的結構示意圖；圖2為現(xiàn)有技術中片上系統(tǒng)芯片跟蹤調試的系統(tǒng)結構示意圖；圖3為本發(fā)明的片上系統(tǒng)芯片的結構示意圖；圖4為本發(fā)明的片上系統(tǒng)芯片跟蹤調試的系統(tǒng)結構示意圖；圖5為本發(fā)明的片上系統(tǒng)芯片跟蹤調試的系統(tǒng)的另一種結構示意圖；圖6為本發(fā)明的片上系統(tǒng)芯片中跟蹤調試數(shù)據接口模塊輸出的跟蹤調試數(shù)據與時鐘、有效指示的關系示意圖；圖7為本發(fā)明的片上系統(tǒng)芯片跟蹤調試的方法流程圖。
具體實施例方式
本發(fā)明通過改進片上系統(tǒng)芯片的結構，提高片上系統(tǒng)芯片輸出跟蹤調試數(shù)據的速度，同時也提高了片上系統(tǒng)芯片跟蹤調試的速度。
下面結合附圖對本發(fā)明的片上系統(tǒng)芯片、片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試系統(tǒng)及方法做進一步說明。
如圖3所示，本發(fā)明的片上系統(tǒng)芯片包括中央處理器、片內總線、功能模塊，以及跟蹤調試數(shù)據接口模塊。上述的功能模塊可以為存儲介質、多個協(xié)處理器、以及JTAG接口模塊。
上述存儲介質、多個協(xié)處理器、跟蹤調試數(shù)據接口模塊分別連接于片上系統(tǒng)芯片的片內總線上。其中，存儲介質用于儲存片上系統(tǒng)芯片的運行數(shù)據。例如，中央處理器內軟件運行過程中產生的中間結果和最后結果，中央處理器內寄存器狀態(tài)信息，以及功能模塊運行過程中產生的中間結果和最后結果。
所述中央處理器用于處理片上系統(tǒng)芯片的運行數(shù)據。
所述跟蹤調試數(shù)據接口模塊用于根據輸出的時鐘信號及有效指示信號，輸出有效的跟蹤調試數(shù)據。跟蹤調試數(shù)據的內容包括中央處理器內軟件運行過程中產生的中間結果和最后結果，中央處理器內寄存器狀態(tài)信息，以及功能模塊運行過程中產生的中間結果和最后結果。跟蹤調試數(shù)據接口模塊可實時輸出跟蹤調試數(shù)據，或根據片上系統(tǒng)芯片內部存儲介質的容量，在存儲介質存儲的數(shù)據容量滿時輸出跟蹤調試數(shù)據，又或根據中央處理器的指令輸出存儲介質內存儲的跟蹤調試數(shù)據。
上述的時鐘信號由片上系統(tǒng)芯片內部的時鐘產生模塊產生，跟蹤調試數(shù)據接口模塊輸出該時鐘信號時，可以保持時鐘信號頻率不變，也可以改變時鐘信號的頻率。片上系統(tǒng)芯片外部相應的接收跟蹤調試數(shù)據的模塊可以根據此同步時鐘信號同步接收跟蹤調試數(shù)據。在實際輸出跟蹤調試數(shù)據的過程中，中央處理器可以確定輸出跟蹤調試數(shù)據的時鐘時刻，故在沒有跟蹤調試數(shù)據輸出時，跟蹤調試數(shù)據接口模塊也可以停止輸出時鐘信號。
上述的有效指示信號用于指示跟蹤調試數(shù)據接口模塊輸出跟蹤調試數(shù)據的有效性。片上系統(tǒng)芯片的運行數(shù)據信息中，有些是反映片上系統(tǒng)芯片的運行狀態(tài)，需要對數(shù)據進行跟蹤調試的，因此，需要有效指示信號來指示哪些運行數(shù)據信息是有效的片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試數(shù)據。有效指示信號可以通過高電平或低電平來指示跟蹤調試數(shù)據接口模塊輸出的跟蹤調試數(shù)據的有效性。例如，當有效指示信號為高電平時，跟蹤調試數(shù)據接口模塊輸出的跟蹤調試數(shù)據為有效。有效指示信號指示有效性的高電平或低電平取決于中央處理器的指示信息，當片上系統(tǒng)芯片輸出跟蹤調試數(shù)據時，中央處理器的指示信息就包含了片上系統(tǒng)芯片輸出的跟蹤調試數(shù)據為有效的信息，于是，有效指示信號就可以通過高電平或低電平來指示跟蹤調試數(shù)據接口模塊輸出跟蹤調試數(shù)據的有效性。
本發(fā)明中，跟蹤調試數(shù)據接口模塊通過信號線輸出時鐘信號、有效指示信號、以及跟蹤調試數(shù)據。所述的信號線的數(shù)量可以為一根以上的任意根，由所有的信號線同時輸出上述數(shù)據信息。在實際應用中，信號線的數(shù)量通常為128根以下的任意根，例如，信號線為64根信號線，此時，信號線上可同時輸出64比特的數(shù)據信息，較現(xiàn)有技術中的JTAG接口模塊同時輸出的數(shù)據量大大增加，因此，提高了輸出片上系統(tǒng)芯片跟蹤調試數(shù)據的速度。
為更好理解本發(fā)明所述的片上系統(tǒng)芯片輸出跟蹤調試數(shù)據與同步時鐘信號及有效指示信號之間的關系，下面結合圖6進行說明。
如圖6所示，在對應的同步時鐘T2、T3、T4，以及T7、T8、T9時刻，有效指示信號為高電平，那么，跟蹤調試數(shù)據接口模塊輸出有效的跟蹤調試數(shù)據d1、d2、d3和d4、d5、d6。對于接收片上系統(tǒng)芯片跟蹤調試數(shù)據的外部分析模塊來說，也可以通過同步時鐘信號和有效指示信號得知，對應的同步時鐘T2、T3、T4，以及T7、T8、T9時刻，接收的數(shù)據為有效的跟蹤調試數(shù)據。在圖6中的T11時刻以后，就沒有時鐘信號輸出了，相應的，也就沒有跟蹤調試數(shù)據輸出。
相對于現(xiàn)有技術，本發(fā)明中在片上系統(tǒng)芯片上設置了專用于輸出片上系統(tǒng)芯片跟蹤調試數(shù)據的跟蹤調試數(shù)據接口模塊，簡化了片上系統(tǒng)芯片輸出跟蹤調試數(shù)據的接口協(xié)議，使片上系統(tǒng)芯片輸出跟蹤調試的速率得以加快；而且，片上系統(tǒng)芯片在輸出跟蹤調試數(shù)據時，同時采用多根信號線，也使得片上系統(tǒng)芯片輸出跟蹤調試數(shù)據的速度加快。
本發(fā)明還提供了一種片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試系統(tǒng)。如圖4所示，所述片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試系統(tǒng)包括片上系統(tǒng)芯片、跟蹤調試數(shù)據接口轉換模塊、跟蹤調試數(shù)據分析模塊，還可以包括片上系統(tǒng)芯片外部的其他外圍器件。
上述片上系統(tǒng)芯片用于輸出跟蹤調試數(shù)據。片上系統(tǒng)芯片輸出的跟蹤調試數(shù)據的結構可以包含信息頭和信息體兩部分。在信息頭中包含了跟蹤調試數(shù)據的標識信息，如片上系統(tǒng)芯片中產生跟蹤調試數(shù)據的硬件標識、軟件標識等信息。在信息頭中還可以進一步包含指示跟蹤調試數(shù)據長度的信息。在信息體中包含了跟蹤調試數(shù)據的內容信息，例如片上系統(tǒng)芯片內軟件運行過程中產生的中間結果和最后結果，中央處理器內寄存器狀態(tài)信息，以及功能模塊運行過程中產生的中間結果和最后結果。
所述的外圍器件可以為應用片上系統(tǒng)芯片的硬件中的其他器件，如硬件內部的存儲模塊或接插件。
所述的跟蹤調試數(shù)據接口轉換模塊用于提供片上系統(tǒng)芯片輸出跟蹤調試數(shù)據的接口與跟蹤調試數(shù)據分析模塊接收跟蹤調試數(shù)據的接口之間的轉換。本發(fā)明中，片上系統(tǒng)芯片輸出跟蹤調試數(shù)據的接口與跟蹤調試數(shù)據分析模塊的數(shù)據接收接口不同，因此，需要在二者之間進行接口的轉換。
所述跟蹤調試數(shù)據分析模塊用于分析接收到的跟蹤調試數(shù)據。該模塊可以為計算機或其他具有數(shù)據處理能力的設備。根據上述片上系統(tǒng)芯片輸出的跟蹤調試數(shù)據包含了數(shù)據標識、數(shù)據內容信息，或者進一步還包含了數(shù)據長度信息，跟蹤調試數(shù)據分析模塊接收到片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試數(shù)據后，根據數(shù)據的標識信息可以確定欲進行分析的數(shù)據內容具體屬于片上系統(tǒng)芯片的哪個部分，并可根據數(shù)據長度信息接收片上系統(tǒng)芯片的數(shù)據內容信息，然后對接收到的跟蹤調試數(shù)據進行分析，得出對片上系統(tǒng)芯片運行狀態(tài)的分析結果。
上述片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試系統(tǒng)適用于片上系統(tǒng)芯片輸出跟蹤調試數(shù)據的速率低于跟蹤調試數(shù)據分析模塊分析跟蹤調試數(shù)據的速率的情況。當片上系統(tǒng)芯片輸出跟蹤調試數(shù)據的速率高于跟蹤調試數(shù)據分析模塊分析跟蹤調試數(shù)據的速率時，跟蹤調試數(shù)據分析模塊就不能實時的對接收到的數(shù)據進行分析了，這時，需要增加一個能夠存儲跟蹤調試數(shù)據的存儲裝置。
如圖5所示，為增加跟蹤調試數(shù)據存儲裝置的片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試系統(tǒng)示意圖。圖5中，在跟蹤調試數(shù)據接口轉換模塊連接有跟蹤調試數(shù)據緩存模塊，該緩存模塊用于緩存片上系統(tǒng)芯片輸出的跟蹤調試數(shù)據。上述跟蹤調試數(shù)據緩存模塊可以為具有存儲功能的任何存儲介質。
在圖5所示的片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試系統(tǒng)中，片上系統(tǒng)芯片的中央處理器將跟蹤調試數(shù)據緩存到跟蹤調試數(shù)據緩存模塊中。而跟蹤調試數(shù)據分析模塊可通過向跟蹤調試數(shù)據緩存模塊發(fā)出讀取數(shù)據的命令，由跟蹤調試數(shù)據接口轉換模塊將片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試數(shù)據輸出至跟蹤調試數(shù)據分析模塊。當然，片上系統(tǒng)芯片的中央處理器也可以下發(fā)指令，將跟蹤調試數(shù)據緩存模塊中緩存的數(shù)據通過跟蹤調試數(shù)據接口轉換模塊轉換后輸出至跟蹤調試數(shù)據分析模塊。
本發(fā)明中，片上系統(tǒng)芯片實時輸出跟蹤調試數(shù)據，或根據內部存儲介質的容量，在存儲介質存儲的數(shù)據容量滿時輸出跟蹤調試數(shù)據，或由中央處理器下發(fā)指令來輸出內部存儲介質中的跟蹤調試數(shù)據，再由跟蹤調試數(shù)據分析模塊接收并進行分析，改變了現(xiàn)有技術中需要跟蹤調試數(shù)據分析模塊先向片上系統(tǒng)芯片發(fā)送獲取跟蹤調試數(shù)據的指令，由片上系統(tǒng)芯片響應指令輸出其跟蹤調試數(shù)據，再由跟蹤調試分析模塊對接收到的數(shù)據進行分析的信息交互過程，節(jié)省了獲取片上系統(tǒng)芯片跟蹤調試數(shù)據的時間，提高了對片上系統(tǒng)芯片進行跟蹤調試的速度。
本發(fā)明還提供了一種片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試方法。如圖7所示，包括如下步驟步驟101，片上系統(tǒng)芯片輸出跟蹤調試數(shù)據。
該步驟中，片上系統(tǒng)芯片通過其跟蹤調試數(shù)據接口模塊輸出跟蹤調試數(shù)據。
片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試數(shù)據接口模塊可以實時輸出跟蹤調試數(shù)據，或根據片上系統(tǒng)芯片內部存儲介質的容量，在存儲介質存儲的數(shù)據容量滿時輸出跟蹤調試數(shù)據，又或根據中央處理器的指令輸出存儲介質內存儲的跟蹤調試數(shù)據。
片上系統(tǒng)芯片輸出的跟蹤調試數(shù)據的結構可以包含信息頭和信息體兩部分。在信息頭中包含了跟蹤調試數(shù)據的標識信息，如片上系統(tǒng)芯片中產生跟蹤調試數(shù)據的硬件標識、軟件標識等信息。在信息頭中還可以進一步包含指示跟蹤調試數(shù)據長度的信息。在信息體中包含了跟蹤調試數(shù)據的內容信息，例如片上系統(tǒng)芯片內軟件運行過程中產生的中間結果和最后結果，中央處理器內寄存器狀態(tài)信息，以及功能模塊運行過程中產生的中間結果和最后結果。
步驟102，傳送上述跟蹤調試數(shù)據至跟蹤調試數(shù)據分析模塊。
本步驟中，可采用中間設備將片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試數(shù)據傳送至跟蹤調試數(shù)據分析模塊。由于片上系統(tǒng)芯片的數(shù)據輸出接口與跟蹤調試數(shù)據分析模塊的數(shù)據輸入接口不同，因此，需要由上述中間設備提供片上系統(tǒng)芯片輸出跟蹤調試數(shù)據的接口與跟蹤調試數(shù)據分析模塊接收跟蹤調試數(shù)據的接口之間的轉換。于是，本步驟還進一步包括轉換片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試數(shù)據輸出接口為與跟蹤調試數(shù)據分析模塊的數(shù)據輸入接口相對應的類型。
步驟103，跟蹤調試數(shù)據分析模塊分析接收到的跟蹤調試數(shù)據。
跟蹤調試數(shù)據分析模塊接收到片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試數(shù)據后，根據數(shù)據的標識信息可以確定欲進行分析的數(shù)據內容具體屬于片上系統(tǒng)芯片的哪個部分，并可根據數(shù)據長度信息接收片上系統(tǒng)芯片的數(shù)據內容信息，然后對接收到的跟蹤調試數(shù)據進行分析，得出對片上系統(tǒng)芯片運行狀態(tài)的分析結果。
在片上系統(tǒng)芯片輸出跟蹤調試數(shù)據的速率低于跟蹤調試數(shù)據分析模塊分析跟蹤調試數(shù)據的速率時，跟蹤調試數(shù)據分析模塊可以實時的對接收到的數(shù)據進行分析。但當片上系統(tǒng)芯片輸出跟蹤調試數(shù)據的速率高于跟蹤調試數(shù)據分析模塊分析跟蹤調試數(shù)據的速率時，跟蹤調試數(shù)據分析模塊就不能實時的對接收到的數(shù)據進行跟蹤調試了，這時，需要將片上系統(tǒng)芯片輸出的跟蹤調試數(shù)據進行緩存。
基于以上原因，本發(fā)明所述的片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試方法的步驟101中還進一步包括緩存片上系統(tǒng)芯片輸出的跟蹤調試數(shù)據。
根據上述方法，片上系統(tǒng)芯片主動的輸出跟蹤調試數(shù)據，即實時輸出跟蹤調試數(shù)據，或根據片上系統(tǒng)芯片內部存儲介質的容量，在存儲介質存儲的數(shù)據容量滿時輸出跟蹤調試數(shù)據，又或根據中央處理器的指令輸出存儲介質內存儲的跟蹤調試數(shù)據，由跟蹤調試數(shù)據分析模塊接收并進行分析，改變了現(xiàn)有技術中需要跟蹤調試數(shù)據分析模塊先向片上系統(tǒng)芯片發(fā)送獲取跟蹤調試數(shù)據的指令，由片上系統(tǒng)芯片響應指令輸出其跟蹤調試數(shù)據，再由跟蹤調試分析模塊對接收到的數(shù)據進行分析的信息交互過程，節(jié)省了獲取片上系統(tǒng)芯片跟蹤調試數(shù)據的時間，提高了對片上系統(tǒng)芯片進行跟蹤調試的速度。
盡管本發(fā)明的實施方案已公開如上，但其并不僅僅限于說明書和實施方式中所列運用，它完全可以被適用于各種適合本發(fā)明的領域，對于熟悉本領域的人員而言，可容易地實現(xiàn)另外的修改，因此在不背離權利要求及等同范圍所限定的一般概念下，本發(fā)明并不限于特定的細節(jié)和這里示出與描述的圖例。
權利要求
1.一種片上系統(tǒng)芯片，包括中央處理器、片內總線、以及功能模塊，其特征在于，還包括跟蹤調試數(shù)據接口模塊，所述跟蹤調試數(shù)據接口模塊用于根據輸出的時鐘信號及有效指示信號，輸出有效的跟蹤調試數(shù)據。
2.如權利要求1所述的片上系統(tǒng)芯片，其特征在于，所述跟蹤調試數(shù)據包括中央處理器內軟件運行過程中產生的中間結果和最后結果，中央處理器內寄存器狀態(tài)信息，以及功能模塊運行過程中產生的中間結果和最后結果。
3.如權利要求1或2所述的片上系統(tǒng)芯片，其特征在于，所述有效指示信號通過高電平或低電平指示輸出的跟蹤調試數(shù)據的有效性。
4.如權利要求1或2所述的片上系統(tǒng)芯片，其特征在于，所述跟蹤調試數(shù)據接口模塊實時輸出跟蹤調試數(shù)據。
5.如權利要求1或2所述的片上系統(tǒng)芯片，其特征在于，所述跟蹤調試數(shù)據接口模塊在存儲介質存儲的數(shù)據容量滿時輸出跟蹤調試數(shù)據。
6.如權利要求1或2所述的片上系統(tǒng)芯片，其特征在于，所述跟蹤調試數(shù)據接口模塊根據中央處理器的指令輸出存儲介質內存儲的跟蹤調試數(shù)據。
7.如權利要求1所述的片上系統(tǒng)芯片，其特征在于，所述跟蹤調試數(shù)據接口模塊包括1至128根信號線。
8.一種片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試系統(tǒng)，包括輸出跟蹤調試數(shù)據的片上系統(tǒng)芯片，其特征在于，還包括跟蹤調試數(shù)據接口轉換模塊和跟蹤調試數(shù)據分析模塊，所述跟蹤調試數(shù)據接口轉換模塊用于提供片上系統(tǒng)芯片輸出跟蹤調試數(shù)據的接口與跟蹤調試數(shù)據分析模塊接收跟蹤調試數(shù)據的接口之間的轉換；所述跟蹤調試數(shù)據分析模塊用于分析接收到的跟蹤調試數(shù)據。
9.如權利要求8所述的片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)進一步包括用于緩存片上系統(tǒng)芯片輸出跟蹤調試數(shù)據的跟蹤調試數(shù)據緩存模塊，該模塊與跟蹤調試數(shù)據接口轉換模塊相連接。
10.如權利要求8或9所述的片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試系統(tǒng)，其特征在于，所述片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試數(shù)據包括信息頭和信息體。
11.如權利要求10所述的片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試系統(tǒng)，其特征在于，所述信息頭包含跟蹤調試數(shù)據的標識信息。
12.如權利要求11所述的片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試系統(tǒng)，其特征在于，所述信息頭包含跟蹤調試數(shù)據長度信息。
13.如權利要求10所述的片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試系統(tǒng)，其特征在于，所述信息體包含跟蹤調試數(shù)據的內容信息。
14.一種片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試方法，其特征在于，步驟包括步驟一，片上系統(tǒng)芯片輸出跟蹤調試數(shù)據；步驟二，傳送上述跟蹤調試數(shù)據至跟蹤調試數(shù)據分析模塊；步驟三，跟蹤調試數(shù)據分析模塊分析接收到的跟蹤調試數(shù)據。
15.如權利要求14所述的片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試方法，其特征在于，所述步驟一中，片上系統(tǒng)芯片實時輸出跟蹤調試數(shù)據。
16.如權利要求14所述的片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試方法，其特征在于，所述步驟一中，片上系統(tǒng)芯片在存儲介質存儲的數(shù)據容量滿時輸出跟蹤調試數(shù)據。
17.如權利要求14所述的片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試方法，其特征在于，所述步驟一中，片上系統(tǒng)芯片根據中央處理器的指令輸出存儲介質內存儲的跟蹤調試數(shù)據。
18.如權利要求14所述的片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試方法，其特征在于，所述步驟一進一步包括，緩存片上系統(tǒng)芯片輸出的跟蹤調試數(shù)據。
19.如權利要求14所述的片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試方法，其特征在于，所述跟蹤調試數(shù)據包括信息頭和信息體。
20.如權利要求19所述的片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試方法，其特征在于，所述信息頭包含跟蹤調試數(shù)據的標識信息。
21.如權利要求20所述的片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試方法，其特征在于，所述信息頭包含跟蹤調試數(shù)據長度信息。
22.如權利要求19所述的片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試方法，其特征在于，所述信息體包含跟蹤調試數(shù)據的內容信息。
23.如權利要求14所述的片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試方法，其特征在于，所述步驟二中進一步包括，轉換片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試數(shù)據輸出接口為與跟蹤調試數(shù)據分析模塊的數(shù)據輸入接口相對應的類型。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種片上系統(tǒng)芯片、片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試系統(tǒng)及方法。所述片上系統(tǒng)芯片包括中央處理器、片內總線、功能模塊，以及跟蹤調試數(shù)據接口模塊，所述跟蹤調試數(shù)據接口模塊用于根據輸出的時鐘信號及有效指示信號，輸出有效的跟蹤調試數(shù)據。本發(fā)明所述的片上系統(tǒng)芯片的跟蹤調試方法，步驟包括片上系統(tǒng)芯片輸出跟蹤調試數(shù)據；傳送上述跟蹤調試數(shù)據至跟蹤調試數(shù)據分析模塊；跟蹤調試數(shù)據分析模塊分析接收到的跟蹤調試數(shù)據。本發(fā)明通過改變片上系統(tǒng)芯片的結構，提高了片上系統(tǒng)芯片跟蹤調試的速度。
文檔編號G06F11/36GK1851668SQ20061008851
公開日2006年10月25日 申請日期2006年6月1日 優(yōu)先權日2006年6月1日
發(fā)明者賀超 申請人:北京天碁科技有限公司