專利名稱：計(jì)算機(jī)穩(wěn)定性測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測(cè)試裝置，尤指一種計(jì)算才幾穩(wěn)定性測(cè)試裝置。
背景技術(shù)：
計(jì)算才幾產(chǎn)品生產(chǎn)完畢后，都必須測(cè)試其穩(wěn)定性以保-〖正產(chǎn)品質(zhì)量。測(cè)試 計(jì)算機(jī)開關(guān)機(jī)性能是計(jì)算機(jī)穩(wěn)定性測(cè)試過(guò)程中必不可少的環(huán)節(jié)。測(cè)試計(jì)算 機(jī)的開機(jī)功能的傳統(tǒng)方法是將計(jì)算機(jī)接上交流電源并通過(guò)手工操作的方式 以測(cè)試其開機(jī)或關(guān)機(jī)性能。若不能正常開/關(guān)機(jī)，或開/關(guān)機(jī)的時(shí)間過(guò)長(zhǎng)， 則需要更進(jìn)一步測(cè)試計(jì)算機(jī)的性能以查出異常原因便于維修。但是這種人 工操作的方式效率低，尤其是測(cè)試多臺(tái)計(jì)算機(jī)，而且需要重復(fù)測(cè)試計(jì)算機(jī) 的開/關(guān)才幾性能時(shí)，浪費(fèi)時(shí)間^A力，成本高。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提供節(jié)省人力，效率較高的計(jì)算機(jī)穩(wěn)定性測(cè)試 裝置。
一種計(jì)算機(jī)穩(wěn)定性測(cè)試裝置，用于測(cè)試至少一計(jì)算機(jī)的開關(guān)機(jī)性能， 每一計(jì)算機(jī)包括一對(duì)開機(jī)引腳及一開機(jī)信號(hào)產(chǎn)生引腳，所述計(jì)算機(jī)穩(wěn)定性
測(cè)試裝置包括一與被測(cè)計(jì)算機(jī)開機(jī)引腳相連的開關(guān)模組，所述計(jì)算機(jī)穩(wěn)定 性測(cè)試裝置還包括一單片機(jī)，所述開關(guān)才莫組包括至少一芯片，所述芯片包
括至少一與所述單片才M目連的輸入引腳及與每一輸入引腳對(duì)應(yīng)的一對(duì)輸出 引腳，所述每對(duì)輸出引腳與一臺(tái)被測(cè)計(jì)算機(jī)的開機(jī)引腳相連，所述單片機(jī) 還與所述計(jì)算機(jī)開機(jī)信號(hào)引腳相連以檢測(cè)被測(cè)計(jì)算機(jī)的開關(guān)機(jī)狀態(tài)，所述 單片機(jī)輸出開機(jī)信號(hào)/關(guān)機(jī)信號(hào)至所述芯片的輸入引腳以控制所述芯片的 輸出引腳的導(dǎo)通及斷開狀態(tài)，從而測(cè)試所述計(jì)算機(jī)開機(jī)/關(guān)機(jī)性能。
本發(fā)明計(jì)算機(jī)穩(wěn)定性測(cè)試裝置利用 一單片機(jī)輸出開機(jī)信號(hào)/關(guān)機(jī)信號(hào) 以控制與被測(cè)計(jì)算機(jī)相連的開關(guān)模組，從而間接的控制被測(cè)計(jì)算機(jī)的開/ 關(guān)機(jī)，達(dá)到測(cè)試計(jì)算機(jī)開關(guān)機(jī)性能的目的。由于單片機(jī)具有在系統(tǒng)編程特 性，可以通過(guò)編寫或更該程序設(shè)定所述開/關(guān)機(jī)信號(hào)的保持時(shí)間，及開/關(guān) 機(jī)信號(hào)的切換時(shí)間，并將程序下載至所述單片機(jī)內(nèi)，電路簡(jiǎn)單，制作方便， 測(cè)試效率高。


圖1為本發(fā)明較佳實(shí)施方式計(jì)算機(jī)穩(wěn)定性測(cè)試裝置的設(shè)計(jì)原理圖。
圖2為本發(fā)明較佳實(shí)施方式計(jì)算機(jī)穩(wěn)定性測(cè)試裝置的電路圖。
具體實(shí)施例方式
請(qǐng)參閱圖1,本發(fā)明較佳實(shí)施方式計(jì)算機(jī)穩(wěn)定性測(cè)試裝置的設(shè)計(jì)原理 如下通過(guò)編寫相應(yīng)的程序并燒錄至單片機(jī)內(nèi)使單片機(jī)發(fā)送開機(jī)信號(hào)/關(guān)機(jī) 信號(hào)至一模擬開關(guān)，以控制所述模擬開關(guān)的導(dǎo)通/斷開狀態(tài)，從而間接地控 制待測(cè)計(jì)算機(jī)的開/關(guān)機(jī)。
請(qǐng)參閱圖2，本發(fā)明較佳實(shí)施方式計(jì)算機(jī)穩(wěn)定性測(cè)試裝置用于測(cè)試主 機(jī)板上設(shè)有開機(jī)引腳和開機(jī)信號(hào)產(chǎn)生引腳的計(jì)算機(jī)，包括一單片機(jī)IO、 一 開關(guān)模組20、 一計(jì)算機(jī)開機(jī)接頭30、 一計(jì)算機(jī)開機(jī)信'號(hào)產(chǎn)生接頭40、 一 晶振電路50、 一復(fù)位信號(hào)產(chǎn)生電路60、 一 ISP (In-System Programming, 在系統(tǒng)可編程)模組70。
所述單片機(jī)10為一 AT89S51型號(hào)的單片機(jī)，包括P0(P0.0-P0.7)口 、 P1(P1.0-P1.7)口、 P2(P2.0-P2.7)口及P3(P3.0-P3.7)口，所述單片機(jī)10還包 括一對(duì)接所述晶振電路50的輸A/輸出引腳XTAL1及XTAL2、 一接所述 復(fù)位電路60的引腳RET及一接VCC電源(+5V)的引腳EA弁。
所述開關(guān)模組20包括兩個(gè)74HC4066芯片，所述每一 74HC4066芯片 均包括4個(gè)控制信號(hào)輸入引腳1E、 2E、 3E、 4E及4對(duì)輸出引腳1Y、 1Z; 2Y、 2Z; 3Y、 3Z; 4Y、 4Z。
所述計(jì)算機(jī)開機(jī)接頭30包括8對(duì)開關(guān)引腳分別與8臺(tái)被測(cè)計(jì)算機(jī)主機(jī) 板上的開機(jī)引腳相連。
所述計(jì)算機(jī)開機(jī)信號(hào)產(chǎn)生接頭40包括16個(gè)引腳，其中引腳1-8接地，
引腳9-16分別與8臺(tái)4皮測(cè)計(jì)算才幾主積叔上的開積W言號(hào)產(chǎn)生引腳相連，在開 機(jī)后，所述開機(jī)信號(hào)產(chǎn)生引腳產(chǎn)生+5V電壓，關(guān)機(jī)后，開機(jī)信號(hào)產(chǎn)生引腳 電壓為零。
所述晶振電路50由石英晶體和微調(diào)電容組成，由于所述單片機(jī)10內(nèi) 部有一個(gè)高增益反相放大器，當(dāng)外接所述晶振電路50后，就構(gòu)成了自激振 蕩器并產(chǎn)生振蕩時(shí)鐘脈沖。
所述復(fù)位信號(hào)產(chǎn)生電路60輸入復(fù)位信號(hào)至所述單片機(jī)10,當(dāng)輸入的 信號(hào)連續(xù)2個(gè)機(jī)器周期以上高電平時(shí)即為有效，用以完成單片機(jī)的復(fù)位初 始化操作。
所述ISP模組70包括6個(gè)引腳，其中引腳1與引腳6分別接VCC電 源及接地，引腳2-4與所述單片機(jī)10相連，引腳5與所述復(fù)位信號(hào)產(chǎn)生電 ^各60相連。
下面詳細(xì)介紹所述單片機(jī)10與其外圍電路的連接線路，所述單片機(jī) 10的PO 口的P0.0-P0.7分別與一端接VCC電源的電阻R (阻值IO千歐)相連。
所述單片機(jī)10的Pl 口的P1.0-P1.3分別與一 74HC4066芯片的控制信 號(hào)輸入引腳1E、 2E、 3E、 4E相連,P1.4-P1.7分別與另一 74HC4066芯片 的控制信號(hào)輸入引腳1E、 2E、 3E、 4E相連。所述74HC4066芯片的每一 輸入引腳對(duì)應(yīng)一對(duì)輸出引腳，所述兩個(gè)74HC4066芯片的8對(duì)輸出引腳分 別與所述計(jì)算機(jī)開機(jī)接頭30的8對(duì)引腳相連。所述74HC4066芯片的每一 輸入可I腳對(duì)應(yīng) 一對(duì)輸出引腳，所述74HC4066芯片的輸入《I腳接高電平時(shí)， 該輸入引腳對(duì)應(yīng)的一對(duì)輸出引腳導(dǎo)通；所述74HC4066芯片的輸入引腳接 低電平時(shí)，該輸入引腳對(duì)應(yīng)的一對(duì)輸出引腳斷開。所述單片機(jī)10的P1口 作為輸出端口用與輸出開機(jī)信號(hào)/關(guān)機(jī)信號(hào)至所述74HC4066芯片的輸入引 腳。
所述單片機(jī)10的P1.5、 P1.6、 P1.7還與所述ISP模組70的引腳2-4 相連，以便下載程序至所述單片機(jī)10。
所述單片機(jī)10的P2 口的P2.0-P2.7分別通過(guò)一保護(hù)電阻與一發(fā)光二極 管的陽(yáng)極相連，同時(shí)還與所述計(jì)算機(jī)開機(jī)信號(hào)產(chǎn)生接頭40的引腳9-16相 連，所述發(fā)光二極管的陰極接地，用于顯示對(duì)應(yīng)的計(jì)算機(jī)的開關(guān)機(jī)狀態(tài)。 所述單片機(jī)10的P2 口作為輸入端口，所述計(jì)算機(jī)開機(jī)信號(hào)產(chǎn)生接頭40
的引腳9-16輸入信號(hào)(+5V或OV電壓信號(hào))至所述P2 口 ，所述單片機(jī) 10根據(jù)輸入P2 口的信號(hào)判斷待測(cè)計(jì)算機(jī)的開關(guān)機(jī)狀態(tài)。所述單片機(jī)10通 過(guò)所述計(jì)算機(jī)開機(jī)信號(hào)產(chǎn)生接頭40與被測(cè)計(jì)算機(jī)主機(jī)板上的開機(jī)信號(hào)產(chǎn) 生引腳相連。
使用時(shí)，先將各待測(cè)計(jì)算機(jī)接上220 V的交流電源，所述單片機(jī)10 通電初始化后，即開始測(cè)試待測(cè)計(jì)算機(jī)的開/關(guān)機(jī)功能。測(cè)試時(shí)，所述單片 機(jī)10循環(huán)檢測(cè)P2.0-P2.7引腳的狀態(tài)，如果檢測(cè)到P2 口的某一引腳的為低 電平，即該引腳對(duì)應(yīng)的被測(cè)計(jì)算才;Ui未開機(jī)，所^單片機(jī)Pl 口與該被測(cè) 電腦對(duì)應(yīng)的引腳輸出開機(jī)信號(hào)至所述74HC4066芯片對(duì)應(yīng)的輸入引腳，以 使該被測(cè)計(jì)算機(jī)開機(jī)。計(jì)算機(jī)開機(jī)并運(yùn)行一段時(shí)間后，所述單片機(jī)10輸出 關(guān)機(jī)信號(hào)至所述74HC4066芯片，以使所述計(jì)算機(jī)關(guān)機(jī)。由于所述單片機(jī) 10具有在系統(tǒng)編程特性，可以通過(guò)編寫或更該程序設(shè)定所述開/關(guān)機(jī)信號(hào)的 保持時(shí)間、開/關(guān)機(jī)信號(hào)的切換時(shí)間及循環(huán)次數(shù)，并通過(guò)所述ISP模組70 下載至所述單片機(jī)IO內(nèi)。
測(cè)試過(guò)程中，如果計(jì)算機(jī)不能正常開機(jī)或關(guān)機(jī)，則視該計(jì)算機(jī)開/關(guān)機(jī) 性能穩(wěn)定性不合格，需要進(jìn)一步檢查異常的原因。
權(quán)利要求
1.一種計(jì)算機(jī)穩(wěn)定性測(cè)試裝置，用于測(cè)試至少一計(jì)算機(jī)的開關(guān)機(jī)性能，每一計(jì)算機(jī)包括一對(duì)開機(jī)引腳及一開機(jī)信號(hào)產(chǎn)生引腳，所述計(jì)算機(jī)穩(wěn)定性測(cè)試裝置包括一與被測(cè)計(jì)算機(jī)開機(jī)引腳相連的開關(guān)模組，其特征在于所述計(jì)算機(jī)穩(wěn)定性測(cè)試裝置還包括一單片機(jī)，所述開關(guān)模組包括至少一芯片，所述芯片包括至少一與所述單片機(jī)相連的輸入引腳及與每一輸入引腳對(duì)應(yīng)的一對(duì)輸出引腳，所述每對(duì)輸出引腳與一臺(tái)被測(cè)計(jì)算機(jī)的開機(jī)引腳相連，所述單片機(jī)還與所述計(jì)算機(jī)開機(jī)信號(hào)引腳相連以檢測(cè)被測(cè)計(jì)算機(jī)的開關(guān)機(jī)狀態(tài)，所述單片機(jī)輸出開機(jī)信號(hào)/關(guān)機(jī)信號(hào)至所述芯片的輸入引腳以控制所述芯片的輸出引腳的導(dǎo)通及斷開狀態(tài)，從而測(cè)試所述計(jì)算機(jī)開機(jī)/關(guān)機(jī)性能。
2. 如權(quán)利要求1所述的計(jì)算積4t、定性測(cè)試裝置，其特征在于所述單 片機(jī)包括一輸出端口 ，所述輸出端口與所述芯片的輸入引腳相連。
3. 如權(quán)利要求2所述的計(jì)算機(jī)穩(wěn)定性測(cè)試裝置，其特征在于所述開 關(guān)模組包括一對(duì)芯片，每一芯片具有四個(gè)輸入引腳和四對(duì)輸出引腳，所述 輸出端口包括8個(gè)引腳，分別與所述一對(duì)芯片的8個(gè)輸入引腳相連。
4. 如權(quán)利要求2所述的計(jì)算機(jī)穩(wěn)定性測(cè)試裝置，其特征在于所述單 片才腿包括輸入端口，所述輸入端口包括8個(gè)引腳，所述輸入端口的8個(gè) S1腳分別與 一發(fā)光二極管的陽(yáng)極相連，所述發(fā)光二極管的陰極接地。
5. 如權(quán)利要求4所述的計(jì)算機(jī)穩(wěn)定性測(cè)試裝置，其特征在于所述輸 入端口的8個(gè)引腳還分別與一待測(cè)計(jì)算機(jī)的開機(jī)信號(hào)產(chǎn)生引腳相連，所述 開機(jī)信號(hào)產(chǎn)生引腳在待測(cè)計(jì)算機(jī)開機(jī)后產(chǎn)生高電平信號(hào)，關(guān)機(jī)后產(chǎn)生低電 平信號(hào)。
6. 如權(quán)利要求1所述的計(jì)算機(jī)穩(wěn)定性測(cè)試裝置，其特征在于所述測(cè) 試裝置還包括一下載程序至所述單片機(jī)的在系統(tǒng)可編程模組，所述在系統(tǒng) 可編程模組與所述單片機(jī)相連。
7. 如權(quán)利要求6所述的計(jì)算機(jī)穩(wěn)定性測(cè)試裝置，其特征在于所迷測(cè) 試裝置還包括一與所述單片機(jī)及所述在系統(tǒng)可編程才莫組相連的復(fù)位信號(hào)產(chǎn) 生電路。
8. 如權(quán)利要求7所述的計(jì)算機(jī)穩(wěn)定性測(cè)試裝置，其特征在于所述測(cè) 試裝置還包括一與所述單片才M目連的晶振電路。
9. 如權(quán)利要求1所述的計(jì)算機(jī)穩(wěn)定性測(cè)試裝置，其特征在于所述單 片機(jī)為一 AT89S51型號(hào)的單片機(jī)。
全文摘要
一種計(jì)算機(jī)穩(wěn)定性測(cè)試裝置，用于測(cè)試至少一計(jì)算機(jī)的開關(guān)機(jī)性能，每一計(jì)算機(jī)包括一對(duì)開機(jī)引腳及一開機(jī)信號(hào)產(chǎn)生引腳，所述計(jì)算機(jī)穩(wěn)定性測(cè)試裝置包括一與被測(cè)計(jì)算機(jī)開機(jī)引腳相連的開關(guān)模組，所述計(jì)算機(jī)穩(wěn)定性測(cè)試裝置還包括一單片機(jī)，所述開關(guān)模組包括至少一芯片，所述芯片包括至少一與所述單片機(jī)相連的輸入引腳及與每一輸入引腳對(duì)應(yīng)的一對(duì)輸出引腳，所述每對(duì)輸出引腳與一臺(tái)被測(cè)計(jì)算機(jī)的開機(jī)引腳相連，所述單片機(jī)還與所述計(jì)算機(jī)開機(jī)信號(hào)引腳相連以檢測(cè)被測(cè)計(jì)算機(jī)的開關(guān)機(jī)狀態(tài)，所述單片機(jī)輸出開機(jī)信號(hào)/關(guān)機(jī)信號(hào)至所述芯片的輸入引腳以控制所述芯片的輸出引腳的導(dǎo)通及斷開狀態(tài)，從而測(cè)試所述計(jì)算機(jī)開機(jī)/關(guān)機(jī)性能。
文檔編號(hào)G06F11/267GK101105765SQ20061006161
公開日2008年1月16日 申請(qǐng)日期2006年7月12日 優(yōu)先權(quán)日2006年7月12日
發(fā)明者汪永安 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司