專利名稱：芯片驗(yàn)證系統(tǒng)和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種芯片驗(yàn)證系統(tǒng)和方法，特別涉及一種能全面驗(yàn)證芯片的芯片驗(yàn)證系統(tǒng)和方法。
背景技術(shù)：
隨著科技的發(fā)展，芯片已經(jīng)成為了當(dāng)前技術(shù)和生產(chǎn)力發(fā)展的重要產(chǎn)品。由于芯片生產(chǎn)的成本較高，如何提高芯片的可靠性，芯片驗(yàn)證已經(jīng)成為了芯片技術(shù)的一個(gè)重要組成部分。由于芯片功能越來越多，越來越復(fù)雜，如何提高驗(yàn)證的覆蓋面，提高芯片的可靠性成為了一個(gè)非常重要的課題。
許多芯片都有許多寄存器，不同的寄存器配置，可以使芯片實(shí)現(xiàn)不同的功能，因此如何產(chǎn)生不同的寄存器配置，并對芯片的運(yùn)行結(jié)果正確與否進(jìn)行判斷就是芯片驗(yàn)證的主要目的。
下面，參照圖1，描述現(xiàn)有技術(shù)中驗(yàn)證芯片的方法，其包括如下步驟。
步驟S101，硬件工程師提供芯片驗(yàn)證的配置向量。
步驟S102，硬件工程師將若干套配置向量存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中。
步驟S103，驗(yàn)證工程師取出存儲(chǔ)器中的配置向量。
步驟S104，驗(yàn)證工程師將取出的配置向量送入需驗(yàn)證的芯片。
步驟S105，記錄芯片依照輸入的配置向量運(yùn)行的結(jié)果。
步驟S106，硬件工程師對運(yùn)行結(jié)果進(jìn)行分析和判斷。
在傳統(tǒng)方法中，由硬件工程師提供芯片驗(yàn)證向量，驗(yàn)證工程師無法自行產(chǎn)生驗(yàn)證向量，只能使用硬件工程師提供的芯片配置方案。由于芯片的功能組合非常多，因此這種驗(yàn)證方法總是會(huì)存在許多未能驗(yàn)證到的芯片的功能，不能對芯片的功能進(jìn)行比較全面的測試。例如，對于一種能將輸入的圖像尺寸進(jìn)行放縮處理的圖像處理芯片，它能將輸入的640×480的圖像縮小到320×240，160×120，352×288等。但是由于配置向量由硬件工程師提供，硬件工程師可能只會(huì)提供縮小到320×240的配置向量，這樣就可能造成當(dāng)圖像縮小為160×120時(shí)，芯片有可能工作不正常；但由于沒有這種配置向量，會(huì)造成驗(yàn)證工程師無法驗(yàn)證160×120的情況，所以使得芯片的驗(yàn)證不充分，沒有達(dá)到驗(yàn)證芯片的根本目的。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種芯片驗(yàn)證系統(tǒng)和方法，其能夠全面地驗(yàn)證芯片。
本發(fā)明的一方面在于提供一種芯片驗(yàn)證系統(tǒng)，其包括一存儲(chǔ)器；一應(yīng)用程序模塊，用于將芯片應(yīng)用中使用的應(yīng)用程序轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的配置向量，并將該配置向量存儲(chǔ)在所述的存儲(chǔ)器中；以及一配置向量選擇裝置，用于從存儲(chǔ)器中選擇配置向量，并將選擇的配置向量輸入需進(jìn)行驗(yàn)證的芯片。
如上所述的芯片驗(yàn)證系統(tǒng)，應(yīng)用程序模塊包括一應(yīng)用程序接口，應(yīng)用工程師通過該接口輸入應(yīng)用程序；一芯片驅(qū)動(dòng)模塊，用于將來自應(yīng)用程序接口的應(yīng)用程序轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的配置向量；一基本芯片讀寫模塊，用于將來自芯片驅(qū)動(dòng)模塊的配置向量存儲(chǔ)在所述的存儲(chǔ)器中。
如上所述的芯片驗(yàn)證系統(tǒng)，配置向量選擇裝置從存儲(chǔ)器存儲(chǔ)的配置向量中隨機(jī)選擇輸入需進(jìn)行驗(yàn)證的芯片的配置向量。
如上所述的芯片驗(yàn)證系統(tǒng)，配置向量是按照時(shí)間順序存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的。
如上所述的芯片驗(yàn)證系統(tǒng)，配置向量是按照類別存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的。
本發(fā)明的另一方面在于提供一種芯片驗(yàn)證方法，其包括步驟一，利用應(yīng)用程序模塊，將應(yīng)用中使用的應(yīng)用程序轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的配置向量，并將該配置向量存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中；以及步驟二，利用配置向量選擇裝置，從存儲(chǔ)器存儲(chǔ)的配置向量中選擇配置向量，并將選擇的配置向量輸入需進(jìn)行驗(yàn)證的芯片。
如上所述的芯片驗(yàn)證方法，在步驟一中，進(jìn)一步包括利用應(yīng)用程序模塊的芯片驅(qū)動(dòng)模塊，提供保證芯片正常工作的信號(hào)的步驟；和利用基本芯片讀寫模塊，將配置向量輸入應(yīng)用中使用的芯片的步驟。
如上所述的芯片驗(yàn)證方法，在步驟二中，從存儲(chǔ)器存儲(chǔ)的配置向量中選擇配置向量是隨機(jī)選擇的。
如上所述的芯片驗(yàn)證方法，配置向量是按照時(shí)間順序存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的。
如上所述的芯片驗(yàn)證方法，配置向量是按照類別存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的。
依照本發(fā)明的芯片驗(yàn)證系統(tǒng)和方法，因?yàn)樾酒?yàn)證中使用的配置向量是由芯片應(yīng)用程序根據(jù)不同的需求產(chǎn)生的，與現(xiàn)有的由硬件工程師提供的配置向量相比，其數(shù)量大大地增加了，因此能夠更全面地驗(yàn)證芯片。


圖1為依照現(xiàn)有技術(shù)的芯片驗(yàn)證方法的流程圖。
圖2為依照本發(fā)明的芯片驗(yàn)證系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。
圖3為依照本發(fā)明另一實(shí)施方式的芯片驗(yàn)證系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。
圖4為依照本發(fā)明的芯片驗(yàn)證方法的流程圖。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明從芯片驗(yàn)證角度出發(fā)，提出了一種對內(nèi)置有寄存器的芯片進(jìn)行驗(yàn)證的系統(tǒng)和方法。
如圖2所示，依照本發(fā)明的芯片驗(yàn)證系統(tǒng)3包括需進(jìn)行驗(yàn)證的芯片31’，應(yīng)用程序模塊32，存儲(chǔ)器34和配置向量選擇裝置35。芯片31’包括多個(gè)寄存器311’。這里提到的應(yīng)用程序模塊32可以是軟件和硬件的結(jié)合。
芯片應(yīng)用工程師通過應(yīng)用程序模塊32的應(yīng)用程序接口321輸入芯片應(yīng)用時(shí)所需的應(yīng)用程序，該應(yīng)用程序是根據(jù)芯片應(yīng)用的不同需求產(chǎn)生的。應(yīng)用程序接口321將輸入的應(yīng)用程序輸入芯片驅(qū)動(dòng)模塊322。芯片驅(qū)動(dòng)模塊322將該應(yīng)用程序轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的配置向量(包括寄存器地址和寫入寄存器的數(shù)據(jù))，并將其傳輸給基本芯片讀寫模塊323?；拘酒x寫模塊323將這些配置向量存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器34中。此外，也可以同時(shí)將硬件工程師提供的配置向量存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器34中。
因?yàn)樾酒?1’的功能很多，所以在存儲(chǔ)器34中存儲(chǔ)了大量在芯片應(yīng)用中使用過的配置向量。例如，對于一種能將輸入的圖像尺寸進(jìn)行放縮處理的圖像處理芯片，存儲(chǔ)器34將存儲(chǔ)有在應(yīng)用中使用過的所有配置向量，例如將輸入的640×480的圖像縮小到320×240，160×120，352×288等的配置向量，每一種縮小的配置向量都將被存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中，大大增加了配置向量的數(shù)量。
配置向量可以按照時(shí)間的先后順序存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器34中。從而，當(dāng)驗(yàn)證工程師對芯片31’進(jìn)行驗(yàn)證時(shí)，其能夠按照存儲(chǔ)時(shí)間的先后順序選擇相應(yīng)的配置向量。
配置向量也可以按照配置向量的種類存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器34中。例如，對于一種具有圖像縮放功能和圖像平移功能的芯片，可以將關(guān)于圖像縮放的配置向量，例如將640×480的圖像縮小到320×240，160×120，352×288等，存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器34的一個(gè)區(qū)域，而將關(guān)于圖像平移的配置向量，例如將圖像向上平移1cm，2cm等等，存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器34的另一區(qū)域。通過這樣的存儲(chǔ)方式，當(dāng)驗(yàn)證工程師對芯片31’進(jìn)行驗(yàn)證時(shí)，其能夠很方便地針對不同的驗(yàn)證目的選擇相應(yīng)類型的配置向量。
當(dāng)對需進(jìn)行驗(yàn)證的芯片31’進(jìn)行驗(yàn)證時(shí)，配置向量選擇裝置35可以從外部(圖未示)接收保證芯片正常工作的信號(hào)，如電源信號(hào)、讀寫信號(hào)等，從存儲(chǔ)器34中存儲(chǔ)的配置向量中選擇其需要的配置，并將選擇的配置向量和保證芯片正常工作的信號(hào)輸入需驗(yàn)證的芯片31’中。芯片31’的寄存器311’依照輸入配置向量運(yùn)行并輸出相應(yīng)的運(yùn)行結(jié)果。然后，硬件工程師對輸出的運(yùn)行結(jié)果進(jìn)行分析和判斷。這里，可以通過驗(yàn)證工程師手動(dòng)選擇，也可以通過配置向量選擇裝置35自動(dòng)地隨機(jī)選擇來執(zhí)行配置向量的選擇。
如圖3所示，描述了依照本發(fā)明的另一實(shí)施方式的驗(yàn)證系統(tǒng)3。該驗(yàn)證系統(tǒng)3除了包括圖2所示的驗(yàn)證系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)之外，還具有與應(yīng)用程序模塊32相連的在應(yīng)用中使用的芯片31。所述的在應(yīng)用中使用的芯片31和需進(jìn)行驗(yàn)證的芯片31’為相同類型的芯片，皆包括多個(gè)寄存器311。芯片工程師向應(yīng)用程序模塊32輸入應(yīng)用程序后，應(yīng)用程序模塊32的基本芯片讀寫模塊323可以在將轉(zhuǎn)換應(yīng)用程序得到的配置向量存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器34中的同時(shí)，還通過芯片驅(qū)動(dòng)模塊322產(chǎn)生部分保證芯片正常工作的信號(hào)，如讀寫信號(hào)等，并與其轉(zhuǎn)換得到的配置向量一起傳輸給基本芯片讀寫模塊323。基本芯片讀寫模塊323將從芯片驅(qū)動(dòng)模塊322接收的配置向量寫入在應(yīng)用中使用的芯片31的寄存器311中，并將保證芯片正常工作的信號(hào)輸入芯片31，從而使芯片31可以執(zhí)行該應(yīng)用。
下面，參照圖4，描述依照本發(fā)明的驗(yàn)證方法，其包括如下步驟。
步驟S301，芯片應(yīng)用工程師將應(yīng)用程序輸入應(yīng)用程序模塊32。
步驟S302，利用應(yīng)用程序模塊32的基本芯片讀寫模塊323，將輸入應(yīng)用程序轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的配置向量，且將配置向量存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器34中。在該步驟S302中，還可以利用基本芯片讀寫模塊323，將該配置向量輸入應(yīng)用中使用的芯片31中。
當(dāng)應(yīng)用工程師反復(fù)輸入應(yīng)用程序時(shí)，則反復(fù)執(zhí)行步驟S301和S302，從而在存儲(chǔ)器34中存儲(chǔ)大量的配置向量。
步驟S303，利用配置向量選擇裝置35，從存儲(chǔ)器34存儲(chǔ)的配置向量中選擇配置向量，并從外部接收保證芯片正常工作的信號(hào)。
步驟S304，利用配置向量選擇裝置35，將選擇的配置向量和保證芯片正常工作的信號(hào)輸入需驗(yàn)證的芯片31’。
步驟S305，記錄需驗(yàn)證的芯片31’的運(yùn)行結(jié)果，該運(yùn)行結(jié)果是芯片31’依照輸入的配置向量運(yùn)行而產(chǎn)生的。
步驟S306，硬件工程師對運(yùn)行結(jié)果進(jìn)行分析判斷。
依照本發(fā)明的驗(yàn)證系統(tǒng)和方法，因?yàn)轵?yàn)證向量是由芯片應(yīng)用程序模塊32根據(jù)不同的需求產(chǎn)生，因此其產(chǎn)生的過程是自動(dòng)化的，很容易產(chǎn)生多套用于芯片驗(yàn)證的配置向量。此外，由于應(yīng)用程序模塊32所包括的應(yīng)用程序非常容易被用戶理解和使用，因此產(chǎn)生配置向量的人可以是硬件工程師和應(yīng)用工程師等，大大的增加了芯片驗(yàn)證的配置向量的來源，大大的提高芯片驗(yàn)證的覆蓋率。此外，硬件工程師，應(yīng)用工程師，驗(yàn)證工程師能同時(shí)工作，合理的分擔(dān)了工作強(qiáng)度，緩解了硬件工程師的工作壓力，更好的提高了芯片的驗(yàn)證質(zhì)量。
對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，其它的優(yōu)點(diǎn)和修改都是顯而易見的。故，本發(fā)明并不僅僅限定于說明書中所記載的實(shí)施例。因此，任何不脫離由權(quán)利要求和其等同部分而限定的本發(fā)明的精神和范圍的各種更改皆能實(shí)現(xiàn)。
權(quán)利要求
1.一種芯片驗(yàn)證系統(tǒng)，其特征在于包括一存儲(chǔ)器；一應(yīng)用程序模塊，用于將芯片應(yīng)用中使用的應(yīng)用程序轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的配置向量，并將該配置向量存儲(chǔ)在所述的存儲(chǔ)器中；以及一配置向量選擇裝置，用于從存儲(chǔ)器中選擇配置向量，并將選擇的配置向量輸入需進(jìn)行驗(yàn)證的芯片。
2.如權(quán)利要求1所述的芯片驗(yàn)證系統(tǒng)，其特征在于應(yīng)用程序模塊包括一應(yīng)用程序接口，應(yīng)用工程師通過該接口輸入應(yīng)用程序；一芯片驅(qū)動(dòng)模塊，用于將來自應(yīng)用程序接口的應(yīng)用程序轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的配置向量；一基本芯片讀寫模塊，用于將來自芯片驅(qū)動(dòng)模塊的配置向量存儲(chǔ)在所述的存儲(chǔ)器中。
3.如權(quán)利要求1所述的芯片驗(yàn)證系統(tǒng)，其特征在于配置向量選擇裝置從存儲(chǔ)器存儲(chǔ)的配置向量中隨機(jī)選擇輸入需進(jìn)行驗(yàn)證的芯片的配置向量。
4.如權(quán)利要求1所述的芯片驗(yàn)證系統(tǒng)，其特征在于配置向量是按照時(shí)間順序存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的。
5.如權(quán)利要求1所述的芯片驗(yàn)證系統(tǒng)，其特征在于配置向量是按照類別存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的。
6.一種芯片驗(yàn)證方法，其特征在于包括步驟一，利用應(yīng)用程序模塊，將應(yīng)用中使用的應(yīng)用程序轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的配置向量，并將該配置向量存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中；以及步驟二，利用配置向量選擇裝置，從存儲(chǔ)器存儲(chǔ)的配置向量中選擇配置向量，并將選擇的配置向量輸入需進(jìn)行驗(yàn)證的芯片。
7.如權(quán)利要求6所述的芯片驗(yàn)證方法，其特征在于在步驟一中，進(jìn)一步包括利用應(yīng)用程序模塊的芯片驅(qū)動(dòng)模塊，提供保證芯片正常工作的信號(hào)的步驟；和利用基本芯片讀寫模塊，將配置向量輸入應(yīng)用中使用的芯片的步驟。
8.如權(quán)利要求6所述的芯片驗(yàn)證方法，其特征在于在步驟二中，從存儲(chǔ)器存儲(chǔ)的配置向量中選擇配置向量是隨機(jī)選擇的。
9.如權(quán)利要求6所述的芯片驗(yàn)證方法，其特征在于配置向量是按照時(shí)間順序存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的。
10.如權(quán)利要求6所述的芯片驗(yàn)證方法，其特征在于配置向量是按照類別存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的。
全文摘要
本發(fā)明提供一種芯片驗(yàn)證系統(tǒng)和方法。該系統(tǒng)包括一存儲(chǔ)器；一應(yīng)用程序模塊，用于將芯片應(yīng)用中使用的應(yīng)用程序轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的配置向量，并將該配置向量存儲(chǔ)在所述的存儲(chǔ)器中；以及一配置向量選擇裝置，用于從存儲(chǔ)器中選擇配置向量，并將選擇的配置向量輸入需進(jìn)行驗(yàn)證的芯片。
文檔編號(hào)G06F11/00GK1719417SQ20051008308
公開日2006年1月11日 申請日期2005年7月8日 優(yōu)先權(quán)日2005年7月8日
發(fā)明者游明琦 申請人:北京中星微電子有限公司