專利名稱：進(jìn)行多功能測試的測試卡的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本申請要求提交于2003年4月10日的申請?zhí)枮?0/461,783、代理人卷號O2Micro 03.12-P、標(biāo)題為“進(jìn)行多功能測試的測試卡”的審查中的臨時專利申請的優(yōu)先權(quán)，其教義在此引作參考。
本發(fā)明涉及一種測試卡裝置，更具體的是涉及一種支持多功能測試的測試卡裝置。
背景技術(shù)：
多功能系統(tǒng)(例如計算機(jī)系統(tǒng)、I/O擴(kuò)展卡等)可以公用一個復(fù)合端口/連接器/插槽來支持多種功能。在這些復(fù)合端口/連接器/插槽中的信號根據(jù)裝置的不同為多功能信號。例如，在復(fù)合端口/連接器/插槽上的同一引腳可根據(jù)不同的裝置而支持不同的功能。在同一時刻只有一個裝置/功能可以工作。例如，一個CardBay PCMCIA插槽能使智能卡(Smart card)、安全數(shù)字卡(Secure Digital card)、多媒體卡(Multi-Media card)、智能媒體卡(Smart Media)和存儲棒(Memory Stick)通過標(biāo)準(zhǔn)PC卡標(biāo)準(zhǔn)與其相連。計算機(jī)中的控制器會發(fā)送合適的信號給該CardBay PCMCIA插槽。集體存儲器(collective memory)和智能卡接口在CardBay中為可選。
采用支持多種裝置的單個插槽能使筆記本計算機(jī)支持所有這些接口，而無需額外的復(fù)雜插槽，并可以避免筆記本計算機(jī)的邊緣使用限制，還能使用戶更方便的訪問筆記本計算機(jī)的各種功能和裝置。例如，因為CardBay卡和現(xiàn)有的16位CardBus卡使用相同的插槽，所以CardBay信號和16位的CardBus信號合成于支持PCMCIA方案0262的PCMCIA/CardBus控制器中。當(dāng)CardBay卡插入時，68引腳的PC卡接口將轉(zhuǎn)變?yōu)橹С諧ardBay信號。
為測試CardBay PCMCIA接口和相關(guān)電路、連接器的所有功能，傳統(tǒng)的方法需要先插入一個媒體裝置進(jìn)行測試，再拔出，接著插入下一個媒體裝置進(jìn)行測試。簡而言之，這需要依次的插入和拔出每個裝置/功能，而不能同時測試所有的功能。因此傳統(tǒng)的方法消耗了大量的時間和人力來依次的測試每個裝置/功能。隨著越來越多的裝置和協(xié)議引入市場，測試和保證新裝置的工作將變得更加冗長和耗費時間。另外，長時間的插入和拔出會造成對復(fù)合端口/連接器/插槽和功能(媒體)裝置的磨損。因此，傳統(tǒng)方法大大降低了測試效率和造成了復(fù)合端口/連接器/插槽和功能(媒體)裝置的磨損。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的一種進(jìn)行多功能測試的測試裝置包括一個包含多功能信號的單個接口；多個媒體裝置，其中所有這些媒體裝置都位于該單個接口上；和一個選擇器裝置，該選擇器裝置選擇每個媒體裝置進(jìn)行測試。


圖1所示為一個示范性測試卡系統(tǒng)的具體框圖；圖2所示為另一個示范性測試卡系統(tǒng)的具體框圖；圖3所示為本發(fā)明的一個應(yīng)用于筆記本計算機(jī)系統(tǒng)的測試卡的可能形狀；圖4所示為本發(fā)明的一個計數(shù)器的更具體的電路圖；圖5所示為本發(fā)明的一個解碼器的更具體的電路圖；圖6所示為本發(fā)明的一個安全數(shù)字卡和一個快速開關(guān)之間的具體引腳布局；圖7所示為本發(fā)明的一個多媒體卡和一個快速開關(guān)之間的具體引腳布局；圖8所示為本發(fā)明的一個存儲棒和一個快速開關(guān)之間的具體引腳布局；圖9所示為本發(fā)明的一個智能媒體卡和一個快速開關(guān)之間的具體引腳布局；和圖10所示為本發(fā)明的一種測試一個PCMCIA/CardBay系統(tǒng)的部分或所有功能的方法的流程圖。
具體實施例方式
圖1所示為一個示范性的測試卡系統(tǒng)10的具體框圖。更具體的是，系統(tǒng)10是一個通過包含一系列多重定義的多重功能的信號的PCMCIA接口110來測試一個CardBay系統(tǒng)的示范性測試卡系統(tǒng)。在此描述的本示范性實施例將參考68引腳的PCMCIA接口110。但是，本發(fā)明并不受限于PCMCIA接口，且可以應(yīng)用于任何多功能測試。
系統(tǒng)10通常包括一個狀態(tài)機(jī)202；多個媒體裝置，包括存儲棒卡(MS)210、安全數(shù)字卡(SD)212、智能媒體卡(SMC)214和多媒體卡(MMC)216；多個場效應(yīng)管緩沖器(220、222、224、226)；多個快速開關(guān)(230、232、234、236)；和一個電容240。當(dāng)包含MMC、SD、MS和SMC卡的單個測試卡插入68引腳的PCMCIA接口110時，測試程序首先打開PCMCIA接口中的電源Socket_VCC 112。本示范性實施例中的Socket_VCC為3.3伏。因為二極管242上的壓降約為0.3伏，因此狀態(tài)機(jī)202上的電壓約等于3伏。從而狀態(tài)機(jī)202上形成了一個+3VSB的供電電平(power rail)。二極管242能隔離狀態(tài)機(jī)202上的+3VSB的供電電平和Socket_VCC 112。電容240在Socket_VCC 112上電時進(jìn)行充電，且能在測試期間切換到測試下一功能、Socket_VCC 112處于很短的暫時關(guān)期間給狀態(tài)機(jī)202提供穩(wěn)定的電源。這樣狀態(tài)機(jī)202就不會被復(fù)位且能完成測試所有選擇的功能/裝置。甚至還能使得接口110關(guān)斷電源來重新配置下一個選擇的媒體裝置的測試。開關(guān)244用來給電容240放電。狀態(tài)機(jī)202的時鐘源可以由來自PCMCIA接口110的相應(yīng)引腳的SQRYDR 118或由Socket_VCC 112經(jīng)由RC延遲濾波器262和施密特觸發(fā)器(Smith-trigger gate)產(chǎn)生的Delay_Socket_VCC 116提供。模式跳線41(MODEjumper)可以選擇上述時鐘源。本實施例中，我們通過短接模式跳線41的引腳113和115選擇Delay_Socket_VCC 116作為狀態(tài)機(jī)202的時鐘源。Delay_Socket_VCC 116由接口110的電源的上升沿提供。這樣就能通過接口110處的電源的開和閉為狀態(tài)機(jī)202提供時鐘源。狀態(tài)機(jī)202通常包括一個計數(shù)器252和一個解碼器電路254。脈沖計數(shù)器252的時鐘為上升沿觸發(fā)。兩比特計數(shù)器252的輸出SQRY3和SQRY4提供給解碼器電路254來選擇一個SD、MMC、MS和SMC接口/裝置(210、212、214、216)。解碼器電路254對脈沖計數(shù)器252的輸出解碼，并產(chǎn)生激活信號給相應(yīng)的快速開關(guān)(230、232、234、236)和場效應(yīng)管(270、272、274、276)，從而激活相應(yīng)的接口路徑和給所選的媒體裝置(210、212、214、216)(例如MMC、SD、MS或SMC中的一個)供電。工作過程如下所述(a).如本領(lǐng)域所熟知，一旦Socket_VCC 112上電，脈沖計數(shù)器252的輸出(SQRY3，SQRY4)就復(fù)位為(0，0)，接著脈沖計數(shù)器252獲取Delay_Socket_VCC 116的上升沿信號，其狀態(tài)變?yōu)?1，1)。解碼器電路254會對脈沖計數(shù)器252的輸出進(jìn)行解碼，并產(chǎn)生相應(yīng)的激活信號。因此MS路徑被激活并被選擇進(jìn)行測試?？焖匍_關(guān)(230、232、234、236)能隔離定義在68引腳的PCMCIA接口110的信號和每個SD、MMC、MS、SMC連接器/卡的信號。待MS卡210上的電源穩(wěn)定后，測試程序能復(fù)位卡210并進(jìn)行測試。測試結(jié)束后，測試程序顯示測試結(jié)果給輸出(顯示器或其它裝置)，并關(guān)斷Socket_VCC 112。場效應(yīng)管緩沖器(MOSFET buffer)在Socket_VCC112關(guān)斷時可以防止解碼器電路254上的電力泄漏到快速開關(guān)230和其它裝置。
(b).測試程序有一個很短的延遲來對Socket_VCC 112放電。因為+3VSB的電源必須保持穩(wěn)定，所以該延遲時間不能太長。
(c).測試程序接著第二次使Socket_VCC 112上電。脈沖計數(shù)器252將變?yōu)?0，1)。SD路徑被激活并被選擇進(jìn)行測試。其它步驟與上述(a)和(b)相似。
(d).測試程序接著第三次使Socket_VCC 112上電。脈沖計數(shù)器252將變?yōu)?1，0)。SMC路徑被激活并被選擇進(jìn)行測試。其它步驟與上述(a)和(b)相似。
(e).測試程序接著第四次使Socket_VCC 112上電。脈沖計數(shù)器252將變?yōu)?0，0)。MMC路徑被激活并被選擇進(jìn)行測試。其它步驟與上述(a)和(b)相似。
圖2所示為另一個示范性測試卡系統(tǒng)10’的具體框圖。總體上，本實施例通過短接模式跳線41的引腳115和117，利用SQRYDR作為狀態(tài)計數(shù)器的時鐘源。SQRYDR 118是CardBay PCMCIA接口110上的一個引腳，且由CardBay控制器驅(qū)動來判定CardBay卡的功能。圖2中的很多部件與圖1中相似，從而標(biāo)號相同。因此為簡潔起見，在此省略了與圖1中相似的部件的描述，而著重描述圖1與圖2中的不同點。采用SQRYDR 118作為狀態(tài)計數(shù)器252的時鐘源的工作過程如下所述(a).當(dāng)包含MMC、SD、MS和SMC卡(210、212、214、216)的測試卡10’插入68引腳的PCMCIA接口110時，測試程序第一次使Socket_VCC上電。脈沖計數(shù)器252的輸出(SQRY3，SQRY4)就復(fù)位為(0，0)。接著測試程序關(guān)斷Socket_VCC 112。測試程序的一次產(chǎn)生SQRYDR 118脈沖，使脈沖計數(shù)器252變?yōu)?1，1)，接著使Socket_VCC 112再次上電。MS路徑被激活并被選擇進(jìn)行測試。待MS卡210上的電源穩(wěn)定后，測試程序能復(fù)位卡210并進(jìn)行測試。測試結(jié)束后，測試程序顯示測試結(jié)果給輸出(顯示器或其它裝置)，并關(guān)斷Socket_VCC 112。
(b).測試程序有一個很短的延遲來對Socket_VCC 112放電。因為+3VSB的電源必須保持穩(wěn)定，所以該延遲時間不能太長。
(c).測試程序接著第二次產(chǎn)生SQRYDR 118脈沖使脈沖計數(shù)器252變?yōu)?0，1)，并使Socket_VCC 112上電。SD/(MMC)路徑被激活并被選擇進(jìn)行測試。其它步驟與上述(a)和(b)相似。
(d).測試程序接著第三次產(chǎn)生SQRYDR 118脈沖使脈沖計數(shù)器252變?yōu)?1，0)，并再次使Socket_VCC 112上電。SMC路徑被激活并被選擇進(jìn)行測試。其它步驟與上述(a)和(b)相似。
(e).測試程序接著第四次產(chǎn)生SQRYDR 118脈沖使脈沖計數(shù)器252變?yōu)?0，0)，并再次使Socket_VCC 112上電。MMC路徑被激活并被選擇進(jìn)行測試。其它步驟與上述(a)和(b)相似。
在此描述的測試步驟還可以是另一種本領(lǐng)域技術(shù)人員熟知的簡單步驟，上述是為了保持與“使用Delay_Socket_VCC”的步驟一致。
圖3所示為本發(fā)明的一個應(yīng)用于筆記本計算機(jī)系統(tǒng)20的測試卡的可能形狀。包含MMC、SD、MS和SMC卡(210、212、214、216)的測試卡10插入一臺筆記本計算機(jī)20的68引腳的PCMCIA接口110。顯然，本發(fā)明可以測試所有的MMC、SD、MS和SMC(210、212、214、216)裝置和功能，而無需依次的插入和拔出存儲器裝置。
圖4所示為本發(fā)明的計數(shù)器的更具體的電路圖。圖4的詳細(xì)描述請參考圖1和圖2。圖4中的一些部件與圖1和圖2中的相似，從而標(biāo)號相同。因此為簡潔起見，在此省略對已經(jīng)在圖1和圖2中描述過的相似部件的描述。如圖4所示，電阻25和電容7構(gòu)成了圖1和圖2所示的RC延遲濾波器。在一個實施例中，電阻25和電容7可以分別是300千歐和1微法。本領(lǐng)域的技術(shù)人員知道逆變器31、32構(gòu)成了施密特觸發(fā)器30。逆變器32的輸出將提供Delay_Socket_VCC 116(如圖1和圖2所示)給模式跳線41。模式跳線41的另一個輸出由PCMCIA接口的SQRYDR 118引腳提供。模式跳線41(3引腳跳線)作為一個跳線來給計數(shù)器252選擇時鐘源。二極管242能隔離狀態(tài)機(jī)上的+3VSB的供電電平和Socket_VCC 112。電容240在Socket_VCC 112上電時進(jìn)行充電，并在Socket_VCC 112暫時關(guān)斷時供電給狀態(tài)機(jī)，從而維持其狀態(tài)。在該實施例中，電容240為220微法。計數(shù)器252包括兩個脈沖D觸發(fā)器21和22。D觸發(fā)器21的Q端作為D觸發(fā)器22的時鐘。本領(lǐng)域的技術(shù)人員知道，D觸發(fā)器21和22構(gòu)成了一個分頻器/頻率計數(shù)器。D觸發(fā)器21的Q端輸出為SQRY3，而D觸發(fā)器22的Q端輸出為SQRY4。同樣，D觸發(fā)器21的Q端輸出為SQRY3#，而D觸發(fā)器22的Q端輸出為SQRY4#。一旦脈沖D觸發(fā)器21被時鐘源觸發(fā)，脈沖計數(shù)器的輸出(SQRY3，SQRY4)將以順序(1，1)、(0，1)、(1，0)、(0，0)變化。因此輸出SQRY3、SQRY3#、SQRY4、SQRY4#被進(jìn)一步提供至解碼器電路。如圖1中的實施例所描述，當(dāng)Socket_VCC 112上電時，如果SQRY3為低電平且SQRY4為低電平，則MMC路徑將被激活；如果SQRY3為高電平且SQRY4為高電平，則MS路徑將被激活；如果SQRY3為低電平且SQRY4為高電平，則SD路徑將被激活；如果SQRY3為高電平且SQRY4為低電平，則SM路徑將被激活。
圖5所示為本發(fā)明的解碼器電路254的更具體的電路圖。通常，解碼器電路254包括多個或門(620、622、624、626)，多個晶體管(630、632、634、636)和多個逆變器(640、642、644、646)?；蜷T(620、622、624、626)的輸入分別為(SQRY3，SQRY4)、(SQRY3#，SQRY4#)、(SQRY3，SQRY4#)、(SQRY3#，SQRY4)。如上節(jié)所述，如果SQRY3為低電平且SQRY4為低電平，則MMC路徑將被激活。在本實施例中，當(dāng)SQRY3為低電平且SQRY4為低電平時，或門620的輸出為低電平。因此，晶體管630未導(dǎo)通，從而逆變器640的輸入端650 MMC/EN#為低電平。本領(lǐng)域所熟知，逆變器640的輸出(MMC/EN)，即MMC路徑的激活信號將變?yōu)楦唠娖?，從而激活MMC路徑。如果SQRY3為高電平且SQRY4為高電平，則或門622的輸出為高。晶體管632未導(dǎo)通。如上所述，逆變器642的輸出(MS/EN)，即MS路徑的激活信號將變?yōu)楦唠娖?，MS路徑被激活。同樣，如果SQRY3為低電平且SQRY4為高電平，則SD/EN為高電平，SD路徑被激活。如果SQRY3為高電平且SQRY4為低電平，則SM/EN為高電平，SMC路徑被激活。
圖6所示為本發(fā)明的一個SD卡212和一個快速開關(guān)232之間的具體引腳布局。本實施例中，快速開關(guān)232為3.3伏、10比特的模擬/總線開關(guān)。然而，其它類型的類似總線開關(guān)也可以應(yīng)用于本發(fā)明?？焖匍_關(guān)232由總線激活輸入信號打開。有兩個總線激活信號BEA1和BEB13，其都與來自解碼器電路254的SD/EN#信號相連?？焖匍_關(guān)232的A側(cè)引腳(A0、A1、A2、A3、A4、A5、A6、A7)與來自68引腳的PCMCIA接口的混合信號相連(A8、A9被保留)。開關(guān)232的引腳VCC與Socket_VCC相連，引腳GND接地?？焖匍_關(guān)232的B側(cè)引腳(B0、B1、B2、B3、B4、B5、B6、B7)與SD卡212(DATA3、Command、SDCLK、DATA0、DATA1、DATA2、CD#、WP)(B8、B9被保留)相連。VSS和VSS2接地，且VDD為SD212的電源引腳。顯而易見，一旦SD/EN#信號變?yōu)榈碗娖?，即SD/EN為高電平，則快速開關(guān)232被打開，SD路徑被激活從而進(jìn)行測試。SD212的WP引腳表示SD卡212的寫保護(hù)狀態(tài)。測試程序能分辯WP引腳來知道SD卡212是否處于寫保護(hù)。
圖7所示為本發(fā)明的一個MMC卡216和一個快速開關(guān)236之間的具體引腳布局。如前所述，同樣，快速開關(guān)236為3.3伏、10比特的模擬/總線開關(guān)。為簡潔起見，一些與圖6中部件相似且標(biāo)號相同的部件在此不作描述。有兩個總線激活信號BEA1和BEB13，其都與來自解碼器電路254的MMC/EN#信號相連。快速開關(guān)236的A側(cè)引腳(A0、A1、A2、A3、A4、A5、A6、A7)與來自68引腳的PCMCIA接口的混合信號相連(A8、A9被保留)?？焖匍_關(guān)236的B側(cè)引腳(B0、B1、B2、B3、B4、B5、B6、B7)與MMC卡216(DATA3、Command、SDCLK、DATA0、DATA1、DATA2、CD#、WP)(B8、B9被保留)相連。同樣，一旦MMC/EN#信號變?yōu)榈碗娖?，即MMC/EN為高電平，則快速開關(guān)236被打開，MMC路徑被激活從而進(jìn)行測試。
圖8所示為本發(fā)明的一個MS卡210和一個快速開關(guān)230之間的具體引腳布局。同樣，如圖6和圖7中所述，快速開關(guān)230為3.3伏、10比特的模擬/總線開關(guān)。有兩個總線激活信號BEA1和BEB13，其都與來自解碼器電路254的MS/EN#信號相連。快速開關(guān)230的A側(cè)引腳(A0、A1、A2、A3、A4、A5、A6)與來自68引腳的PCMCIA接口的混合信號相連(A7、A8、A9被保留)?？焖匍_關(guān)230的B側(cè)引腳(B0、B1、B2、B3、B4、B5、B6)與MS卡210(BS、VCC1、SDIO、RSVD1、INS、RSVD2、CLK)(B7、B8、B9被保留)相連。VSS1和VSS2接地，VCC2為MS 210的電源引腳。同樣，當(dāng)MS/EN#信號變?yōu)榈碗娖?，即MS/EN變?yōu)楦唠娖綍r，則快速開關(guān)230被打開，MS路徑被激活從而進(jìn)行測試。本領(lǐng)域的技術(shù)人員知道，電阻91連接于快速開關(guān)230的輸出端和MS卡之間，其為MS Pro保留。從而本發(fā)明還適用于MS Pro，而不僅限于MS。
圖9所示為本發(fā)明的一個SMC卡214和一個快速開關(guān)234之間的具體引腳布局。與圖6、圖7和圖8的實施例有所不同，本實施例中，快速開關(guān)234為3.3伏、20比特的模擬/總線開關(guān)。然而，其它類似的開關(guān)也可以應(yīng)用于本實施例。有兩個總線激活信號1OE48和2OE47，其都與來自解碼器電路254的SM/EN#信號相連?？焖匍_關(guān)234的A側(cè)引腳(1A0、1A1、1A2、1A3、1A4、1A5、1A6，...2A8)與來自68引腳的PCMCIA接口的混合信號相連(2A9、2A10被保留)?？焖匍_關(guān)230的B側(cè)引腳(1B1、1B2、1B3、1B4、1B5、1B6，...2B8)與SM卡214(2B9、2B10被保留)相連。同樣，當(dāng)SM/EN#信號變?yōu)榈碗娖?，即SM/EN#變?yōu)楦唠娖綍r，則快速開關(guān)234被打開，SMC路徑被激活從而進(jìn)行測試。SMC卡214也支持寫保護(hù)功能。測試程序能分辯WP引腳來知道SMC卡214是否處于寫保護(hù)。
圖10所示為本發(fā)明的一種測試一個PCMCIA/CardBay系統(tǒng)的部分或所有功能的方法的流程圖900。具體描述請參考圖1和圖2。如圖10所示，步驟902，測試卡首先從Delay_Socket_VCC 116和SQRYDY118選擇一個合適的時鐘源。如圖1所述，計數(shù)器252和解碼器254的時鐘源可以由PCMCIA接口110的SQRYDR 118或由Socket_VCC112經(jīng)由RC延遲濾波器262和施密特觸發(fā)器產(chǎn)生的Delay_Socket_VCC 116提供。測試程序接著在步驟904檢測測試卡是否插入。若檢測結(jié)果表明測試卡未插入，則會退出測試程序。若檢測結(jié)果表明測試卡插入，則測試程序會在步驟906使PCMCIA接口110上電，例如Socket_VCC 112會響應(yīng)測試卡的插入而上電。接口110上電后存在一個延遲，從而使測試的媒體裝置上的電力保持穩(wěn)定(步驟908)。接著在步驟910，對選定的媒體裝置測試。(計數(shù)器252和解碼器254會產(chǎn)生合適的輸出(SQRY3，SQRY4)來選擇相應(yīng)的媒體裝置)。測試結(jié)束后，測試程序在步驟912會顯示測試結(jié)果至輸出(顯示器或其它裝置)。如果所有裝置都測試完畢，則會退出該測試程序。如果沒有全部測試完，則測試程序會在步驟916短暫的關(guān)斷接口110。同樣，隨后在步驟918有一個延遲。接著步驟又回到906。電容240將在Socket_VCC關(guān)斷時維持穩(wěn)定的電力。
因此，本發(fā)明的測試卡能同時測試所有的SD、MMC、MS(Pro)、SMC卡和功能，而無需依次的插入和拔出這些媒體卡，從而加速了生產(chǎn)線的測試速度。本發(fā)明的測試程序還能檢測接口中媒體卡是否存在。若某個媒體卡不存在，則測試程序能自動跳過測試。
本領(lǐng)域技術(shù)人員都知道，上述對本發(fā)明的較佳實施例的描述是為說明本發(fā)明，本發(fā)明并不受限于此。本發(fā)明旨在涵蓋各種對本發(fā)明的改進(jìn)和相似的調(diào)整，其都不脫離本發(fā)明的精神和權(quán)利要求的范圍。在此所描述的實施例是一些利用本發(fā)明的具體例子，令本領(lǐng)域技術(shù)人員顯而易見的許多其它的改進(jìn)都不脫離本發(fā)明的精神和權(quán)利要求的范圍。
權(quán)利要求
1.一種進(jìn)行多功能測試的測試裝置，所述測試裝置包括單個接口；多個媒體裝置，其中所述多個媒體裝置都位于所述單個接口上；和一個選擇器裝置，其中所述選擇器裝置選擇所述多個媒體裝置進(jìn)行測試。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，所述測試裝置還包括一個減小所述選擇器裝置的電力泄漏的隔離器。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，所述測試裝置還包括一個維持所述選擇器裝置穩(wěn)定電力的電荷存儲器。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，所述測試裝置測試一個PCMCIA接口。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其中所述媒體裝置包括一個安全數(shù)字卡。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其中所述媒體裝置包括一個多媒體卡。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其中所述媒體裝置包括一個智能媒體卡。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其中所述媒體裝置包括一個存儲棒。
9.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試裝置，其中所述隔離器包括一個二極管。
10.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試裝置，所述測試裝置還包括一個給所述電荷存儲器放電的放電器。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的測試裝置，其中所述電荷存儲器包括一個電容。
12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的測試裝置，其中所述放電器包括一個開關(guān)。
13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其中所述選擇器裝置包括一個狀態(tài)機(jī)。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的測試裝置，其中所述狀態(tài)機(jī)包括一個產(chǎn)生輸出來選擇所述多個媒體裝置的計數(shù)器。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的測試裝置，其中所述計數(shù)器包括一個兩比特的計數(shù)器。
16.根據(jù)權(quán)利要求14所述的測試裝置，其中所述狀態(tài)機(jī)包括一個對所述計數(shù)器的所述輸出解碼的解碼器。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的測試裝置，所述測試裝置還包括一個減小所述解碼器的泄漏的緩沖器。
18.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，所述測試裝置還包括一個提供一個時鐘信號的延遲電路。
19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的測試裝置，所述測試裝置還包括一個選擇所述時鐘信號的時鐘源選擇器。
20.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，所述測試裝置還包括一個分離所述多個媒體裝置的信號的媒體裝置隔離器。
21.根據(jù)權(quán)利要求20所述的測試裝置，其中所述媒體裝置隔離器包括一個開關(guān)。
22.一種測試一個接口是否能與多個媒體裝置正常工作的方法，所述方法包括檢測包括所述多個媒體裝置的測試卡的插入，其中所述多個媒體裝置位于一單個接口上；選擇所述多個媒體裝置的第一媒體裝置進(jìn)行測試；測試所述多個媒體裝置的所述第一媒體裝置；選擇所述多個媒體裝置的第二媒體裝置進(jìn)行測試；測試所述多個媒體裝置的所述第二媒體裝置。
23.根據(jù)權(quán)利要求22所述的方法，所述方法還包括步驟減小電力泄漏。
24.根據(jù)權(quán)利要求22所述的方法，所述方法還包括步驟采用一個電荷存儲器來維持穩(wěn)定電力。
25.根據(jù)權(quán)利要求22所述的方法，其中所述媒體裝置包括一個安全數(shù)字卡。
26.根據(jù)權(quán)利要求22所述的方法，其中所述媒體裝置包括一個多媒體卡。
27.根據(jù)權(quán)利要求22所述的方法，其中所述媒體裝置包括一個智能媒體卡。
28.根據(jù)權(quán)利要求22所述的方法，其中所述媒體裝置包括一個存儲棒。
29.根據(jù)權(quán)利要求23所述的方法，所述方法還包括步驟采用一個二極管來減小所述電力泄漏。
30.根據(jù)權(quán)利要求24所述的方法，所述方法還包括步驟使所述電荷存儲器釋放電量。
31.根據(jù)權(quán)利要求30所述的方法，所述方法還包括步驟采用一個電容作為所述電荷存儲器。
32.根據(jù)權(quán)利要求30所述的方法，所述方法還包括步驟采用一個開關(guān)來釋放所述電荷存儲器的所述電量。
33.根據(jù)權(quán)利要求22所述的方法，所述方法還包括步驟采用一個計數(shù)器來產(chǎn)生輸出，從而選擇所述多個媒體裝置。
34.根據(jù)權(quán)利要求22所述的方法，所述方法還包括步驟采用一個解碼器對所述計數(shù)器的所述輸出解碼。
35.根據(jù)權(quán)利要求34所述的方法，所述方法還包括步驟減小所述解碼器的泄漏。
36.根據(jù)權(quán)利要求22所述的方法，所述方法還包括步驟產(chǎn)生一個時鐘信號。
37.根據(jù)權(quán)利要求36所述的方法，所述方法還包括步驟采用一個時鐘源選擇器來選擇所述時鐘信號。
38.根據(jù)權(quán)利要求22所述的方法，所述方法還包括步驟分離所述多個媒體裝置的信號。
39.根據(jù)權(quán)利要求39所述的方法，所述方法還包括步驟采用一個開關(guān)來分離所述多個媒體裝置的所述信號。
全文摘要
本發(fā)明提供一種能進(jìn)行多功能測試的測試卡。該測試卡包括多個媒體裝置，其中所有這些媒體裝置都位于一個印刷線路板上；和一個選擇器裝置，其能選擇多個媒體裝置的每一個來進(jìn)行測試。該測試卡能同時測試所有安全數(shù)字(SD)、多媒體(MMC)、存儲棒(MS(Pro))和智能媒體(SMC)卡及功能，而無需插入和拔出這些媒體裝置，從而加快了生產(chǎn)線測試速度。
文檔編號G06F11/26GK1605990SQ20041003281
公開日2005年4月13日 申請日期2004年4月12日 優(yōu)先權(quán)日2003年4月10日
發(fā)明者高漢榮, 陳時鈞, 林春喜, 林治郎, 李世炘 申請人:美國凹凸微系有限公司