專利名稱：電子裝備故障診斷方法和系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子設(shè)備的故障診斷技術(shù)，特別是涉及一種電子裝備故障診斷方法和系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
隨著現(xiàn)代電子技術(shù)的不斷發(fā)展，各種電子裝備的功能越來越完善，設(shè)備的測試和維修保障方面也產(chǎn)生了測試流程復(fù)雜、測試時(shí)間長、維修保障困難、費(fèi)用高等諸多問題， 也對電子裝備的測試和故障診斷工作提出了新的要求。利用故障樹分析(Fault Tree Analysis, FTA)，建立故障樹診斷模型，是故障診斷的一種重要手段，它采用邏輯的方法，將某一現(xiàn)象或結(jié)果分析推導(dǎo)出一個(gè)可預(yù)知的故障事件，可以做定性分析，也可以做定量分析， 是安全系統(tǒng)工程的主要分析方法之一。目前，大多數(shù)的電子裝備都采用仿真技術(shù)來實(shí)現(xiàn)故障診斷，即將存在故障的被測試對象放置在仿真的工作環(huán)境下測試，再根據(jù)故障樹診斷模型來判斷故障位置。由于并非在實(shí)際工作環(huán)境下進(jìn)行，測試向量不能如實(shí)地反映被測試對象的實(shí)際工作情況，測試結(jié)果與實(shí)際的故障位置存在較大誤差，也不能發(fā)現(xiàn)與相關(guān)電路板的關(guān)聯(lián)情況，難于實(shí)現(xiàn)故障的隔離，造成許多常見維修故障不易復(fù)現(xiàn)和診斷。此外仿真環(huán)境建立較為復(fù)雜，仿真測試設(shè)備需要配備仿真I/o模塊、矩陣開關(guān)、硬件接口等，導(dǎo)致故障診斷過程復(fù)雜，效率低。

發(fā)明內(nèi)容
基于此，有必要針對上述基于仿真技術(shù)導(dǎo)致電子裝備故障診斷過程復(fù)雜，效率低的問題，提供一種電子裝備故障診斷方法和系統(tǒng)。一種電子裝備故障診斷方法，包括如下步驟讀取用戶輸入的故障樹；其中，所述故障樹包括測試點(diǎn)的相關(guān)信息；將所述故障樹封裝成測試點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則以及邏輯關(guān)聯(lián)四個(gè)對象；根據(jù)所述封裝的對象建立原位狀態(tài)下的測試模型；根據(jù)所述測試模型從被測對象的測試點(diǎn)采集測試數(shù)據(jù)；利用所述測試模型診斷所述測試數(shù)據(jù)獲得故障位置。一種電子裝備故障診斷系統(tǒng)，包括信息錄入單元，用于讀取用戶輸入的故障樹；其中，所述故障樹包括測試點(diǎn)的相關(guān)信息；對象封裝單元，用于將所述故障樹封裝成測試點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則以及邏輯關(guān)聯(lián)四個(gè)對象；模型建立單元，用于根據(jù)所述封裝的對象建立原位狀態(tài)下的測試模型；數(shù)據(jù)采集單元，用于根據(jù)所述測試模型從被測對象的測試點(diǎn)采集測試數(shù)據(jù)；故障診斷單元，用于利用所述測試模型診斷所述測試數(shù)據(jù)獲得故障位置。上述電子裝備故障診斷方法和系統(tǒng)，通過將故障樹抽離出測試點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則以及邏輯關(guān)聯(lián)信息，并封裝為原位狀態(tài)下的測試模型的對象，在故障診斷測試時(shí)，直接調(diào)用測試模型進(jìn)行故障診斷，基于原位完成對被測對象的故障定位，無需建立仿真環(huán)境，簡化了測試的流程，提高了診斷效率，將測試程序與軟件編程分割為兩個(gè)并行的開發(fā)過程，降低了測試程序的開發(fā)難度，提高了測試模型的開發(fā)效率。


圖I為一個(gè)實(shí)施例的電子裝備故障診斷方法流程圖；圖2為一個(gè)實(shí)施例的封裝過程的示意圖；圖3為一個(gè)實(shí)施例的測試模型結(jié)構(gòu)圖；圖4為一個(gè)實(shí)施例的故障規(guī)則屬性匹配的示意圖；圖5為一個(gè)實(shí)施例的電子裝備故障診斷系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖；圖6為一個(gè)較佳實(shí)施例的電子裝備故障診斷系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式本發(fā)明的電子裝備故障診斷方法，通過將故障樹抽離出測試點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則以及邏輯關(guān)聯(lián)的信息，以測試點(diǎn)與邏輯關(guān)聯(lián)為基礎(chǔ)，建立測試模型，診斷測試時(shí)通過調(diào)用測試模型，完成對被測對象的故障定位。下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的電子裝備故障診斷方法的具體實(shí)施方式
作詳細(xì)描述。圖I示出了一個(gè)實(shí)施例的電子裝備故障診斷方法流程圖；主要包括如下步驟步驟SI，讀取用戶輸入的故障樹；其中，故障樹主要由行為、判斷、故障定位與連接線等可辨識的結(jié)構(gòu)組成，該輸入的故障樹包括了電子裝備的測試點(diǎn)的相關(guān)信息，其中測試點(diǎn)唯一標(biāo)定被測對象的狀態(tài)，相關(guān)信息包括電壓值、電流值、頻率值和/或電平值等。步驟S2，將所述故障樹封裝成測試點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則以及邏輯關(guān)聯(lián)四個(gè)對象。在一個(gè)實(shí)施例中，步驟S2的過程具體包括如下步驟步驟S201，對故障樹進(jìn)行結(jié)構(gòu)化預(yù)處理，拆分為測試點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則以及邏輯關(guān)聯(lián)四個(gè)特征元素；具體地，包括如下步驟a、從故障樹的行為節(jié)點(diǎn)中提取行為主體與行為，標(biāo)定各個(gè)測試點(diǎn)；即通過從故障樹中行為節(jié)點(diǎn)中提取行為主體與行為來實(shí)現(xiàn)測試點(diǎn)的標(biāo)定。
b、檢索判斷節(jié)點(diǎn)的約束值和不同結(jié)果狀態(tài)下，引導(dǎo)至其它行為或故障定位的連接線，獲得標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)與邏輯關(guān)聯(lián)；即通過檢索判斷節(jié)點(diǎn)的約束值和不同結(jié)果狀態(tài)下引導(dǎo)至其它行為或故障定位的連接線，獲取標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)與邏輯關(guān)聯(lián)。C、從故障樹的故障規(guī)則節(jié)點(diǎn)提取故障信息，并獲取故障規(guī)則節(jié)點(diǎn)之前的判斷節(jié)點(diǎn)的行為主體，確定故障樹的故障規(guī)則；即通過從故障樹中故障規(guī)則節(jié)點(diǎn)中提取故障信息，獲取故障規(guī)則節(jié)點(diǎn)之前的判斷節(jié)點(diǎn)的行為主體，獲取故障規(guī)則。基于上述對輸入的故障樹進(jìn)行結(jié)構(gòu)上的預(yù)處理，將故障樹轉(zhuǎn)換為系統(tǒng)可識別的結(jié)構(gòu)。步驟S202，將所述特征元素封裝成測試點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則以及邏輯關(guān)聯(lián)四個(gè)對象。
具體地，可以通過設(shè)置循環(huán)檢索器控制四種相應(yīng)的對象解析器對經(jīng)過結(jié)構(gòu)化預(yù)處理后的故障樹進(jìn)行循環(huán)檢索，解析并重新封裝為上述四種對象。循環(huán)檢索器以測試點(diǎn)為檢索對象，通過檢查故障樹中的信息數(shù)量與已封裝的對象數(shù)量來判別解析工作的完成情況，通過調(diào)用相應(yīng)的對象解析器對未解析的故障樹節(jié)點(diǎn)進(jìn)行掃描、抽取并封裝。通過對故障樹進(jìn)行解析，實(shí)現(xiàn)了智能學(xué)習(xí)的過程，將所得到的對象封裝為用于建立測試程序的原位故障知識，根據(jù)該原位故障知識可以建立原位狀態(tài)下的測試模型。圖2示出了一個(gè)實(shí)施例的封裝過程的示意圖；假設(shè)一個(gè)輸入循環(huán)檢索器的經(jīng)過結(jié)構(gòu)預(yù)處理的故障樹，該故障樹中包括行為主體I、行為1，約束1，約束I的狀態(tài)I下對應(yīng)故障I及故障定位1，約束I的狀態(tài)2下對應(yīng)行為主體2、行為2 ;循環(huán)檢索器控制測試屬性解析器、邏輯關(guān)聯(lián)解析器、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)解析器、故障規(guī)則解析器；分別解析出測試點(diǎn)I的行為主體I、行為1，測試點(diǎn)2的行為主體2、行為2等，以及該測試點(diǎn)I的邏輯關(guān)聯(lián)對應(yīng)的狀態(tài)I、 故障I、連接的其它行為主體2，該測試點(diǎn)I的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)對應(yīng)的約束1，該測試點(diǎn)I的故障規(guī)則I對應(yīng)的故障定位等。步驟S3，根據(jù)測試點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則、邏輯關(guān)聯(lián)等四個(gè)對象建立原位狀態(tài)下的測試模型。
在一個(gè)實(shí)施例中，建立測試模型的過程主要包括選擇模型入口點(diǎn)與建立內(nèi)部邏輯兩部分，具體包括如下步驟步驟S301，以測試點(diǎn)為主體建立測試模型。步驟S302，選取測試模型的入口測試點(diǎn)，設(shè)置該入口測試點(diǎn)為模型入口。步驟S303，根據(jù)所述封裝的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則、邏輯關(guān)聯(lián)建立測試模型中各個(gè)測試點(diǎn)的內(nèi)部邏輯屬性；具體地，即在選取了模型入口點(diǎn)后，根據(jù)已封裝的內(nèi)部對象建立測試模型各個(gè)測試點(diǎn)的邏輯關(guān)聯(lián)列表、目標(biāo)點(diǎn)及其對應(yīng)狀態(tài)，以及故障規(guī)則等。進(jìn)一步地，可以根據(jù)需要對測試模型進(jìn)行二次編輯。圖3示出了一個(gè)實(shí)施例的測試模型結(jié)構(gòu)圖；入口測試點(diǎn)作為模型入口，測試模型的第I層包括入口測試點(diǎn)的下一個(gè)測試點(diǎn)(即目標(biāo)點(diǎn))A、B ;第2層包括測試點(diǎn)A的下一個(gè)測試點(diǎn)D及其目標(biāo)規(guī)則，測試點(diǎn)B的下一個(gè)測試點(diǎn)E、F ;第3層包括測試點(diǎn)D的下一個(gè)測試點(diǎn)I、J及其目標(biāo)規(guī)則，測試點(diǎn)E的下一個(gè)測試點(diǎn)K及其目標(biāo)規(guī)則，測試點(diǎn)E的下一個(gè)測試點(diǎn) L、M、N。步驟S4，根據(jù)所述測試模型從被測對象的測試點(diǎn)采集測試數(shù)據(jù)；在一個(gè)實(shí)施例中，以入口測試點(diǎn)為初始測試位置，并根據(jù)所述內(nèi)部邏輯屬性查找出下一層診斷測試的測試點(diǎn)位置，對所述位置對應(yīng)的測試點(diǎn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行采集，獲取所有測試點(diǎn)的測試數(shù)據(jù)，通過測試數(shù)據(jù)確定被測對象的工作狀態(tài)。通過測試模型中各個(gè)測試點(diǎn)的內(nèi)部邏輯屬性，確定診斷的所需測試的測試點(diǎn)位置，采集該位置對應(yīng)的測試點(diǎn)的數(shù)據(jù)，完成對測試點(diǎn)的各項(xiàng)測試工作，即可獲得所需的測試數(shù)據(jù)。步驟S5，利用所述測試模型診斷所述測試數(shù)據(jù)獲得故障位置；在一個(gè)實(shí)施例中， 上述獲取故障位置的過程主要包括如下步驟步驟S501，將所采集的測試數(shù)據(jù)與測試模型中的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)進(jìn)行對比，獲取不合格的測試數(shù)據(jù)；具體地，將對應(yīng)測試點(diǎn)測試得到測試數(shù)據(jù)與測試模型中對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)進(jìn)行對比，對于量化標(biāo)準(zhǔn)的，主要比較體現(xiàn)在三種情況若標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)有上限值、下限值，則測試結(jié)果在該上限值與下限值之間時(shí)判定合格， 反之不合格。若標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)僅有下限值，則測試結(jié)果大于該下限值時(shí)判定合格，反之不合格。若標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)僅有上限值，則測試結(jié)果小于該上限值時(shí)判定合格，反之不合格。對于圖形化標(biāo)準(zhǔn)的，主要通過是比較測試結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)值的圖形差異，在偏差范圍之外屬于不合格，在范圍之內(nèi)屬于合格。步驟S502，將不合格的測試數(shù)據(jù)與測試模型中的故障規(guī)則進(jìn)行匹配確定故障位置；具體地，將包含異常狀態(tài)的測試點(diǎn)對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)與故障規(guī)則的匹配進(jìn)行故障定位，由于故障規(guī)則的結(jié)構(gòu)中包括診斷時(shí)用于匹配的屬性，以及用于定位的引導(dǎo)屬性，所以將測試結(jié)果的屬性集合與故障規(guī)則中用于匹配的屬性集合進(jìn)行全匹配，匹配成功則進(jìn)行規(guī)則的故障定位。圖4示出了一個(gè)實(shí)施例的電子裝備故障規(guī)則屬性匹配的示意圖；匹配故障對象 (如X型號、X電路板、X測試點(diǎn))，測試內(nèi)容(如電壓、波形、電平)，工作狀態(tài)(發(fā)射、接收)，異常狀態(tài)(狀態(tài)I、狀態(tài)2、狀態(tài)3);若匹配成功，則進(jìn)行故障定位，然后返回下一個(gè)測試 點(diǎn)故障規(guī)則屬性的匹配，若匹配失敗，則判定為未知故障，返回下一個(gè)測試點(diǎn)故障規(guī)則屬性的匹配。下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的電子裝備故障診斷方法對應(yīng)裝置的具體實(shí)施方式
作詳細(xì)描述。圖5示出了一個(gè)實(shí)施例的電子裝備故障診斷系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；主要包括信息錄入單元100、對象封裝單元200、模型建立單元300、數(shù)據(jù)采集單元400以及故障診斷單元 500。其中信息錄入單元100，用于讀取用戶輸入的故障樹；其中，所述故障樹包括測試點(diǎn)的
相關(guān)信息。對象封裝單元200，用于將所述故障樹封裝成測試點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則以及邏輯關(guān)聯(lián)四個(gè)對象。模型建立單元300，用于根據(jù)所述封裝的對象建立原位狀態(tài)下的測試模型。數(shù)據(jù)采集單元400，用于根據(jù)所述測試模型從被測對象的測試點(diǎn)采集測試數(shù)據(jù)。故障診斷單元500，用于利用所述測試模型診斷所述測試數(shù)據(jù)獲得故障位置。在一個(gè)實(shí)施例中，故障樹主要由行為、判斷、故障定位與連接線等可辨識的結(jié)構(gòu)組成，規(guī)則樹故障樹包括測試點(diǎn)的相關(guān)信息，包括了測試點(diǎn)的相關(guān)信息，測試點(diǎn)唯一標(biāo)定被測對象的狀態(tài)，相關(guān)信息包括電壓值、電流值、頻率值和/或電平值等。圖6示出了一個(gè)較佳實(shí)施例的電子裝備故障診斷系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。在一個(gè)實(shí)施例中，對象封裝單元200包括預(yù)處理模塊201和封裝模塊202 ;其中， 預(yù)處理模塊201，用于利用設(shè)定的函數(shù)將所述故障樹拆分為測試點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則以及邏輯關(guān)聯(lián)四個(gè)特征元素；封裝模塊202，用于將所述特征元素封裝成測試點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、 故障規(guī)則以及邏輯關(guān)聯(lián)四個(gè)對象。進(jìn)一步地，預(yù)處理模塊201通過從故障樹中行為節(jié)點(diǎn)中提取行為主體與行為來實(shí)現(xiàn)測試點(diǎn)的標(biāo)定；通過檢索判斷節(jié)點(diǎn)的約束值和不同結(jié)果狀態(tài)下引導(dǎo)至其它行為或故障定位的連接線，獲取標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)與邏輯關(guān)聯(lián)；通過從故障樹中故障規(guī)則節(jié)點(diǎn)中提取故障信息，獲取故障規(guī)則節(jié)點(diǎn)之前的判斷節(jié)點(diǎn)的行為主體，獲取故障規(guī)則?；谏鲜鰧斎氲墓收蠘溥M(jìn)行結(jié)構(gòu)上的預(yù)處理，將故障樹轉(zhuǎn)換為系統(tǒng)可識別的結(jié)構(gòu)。進(jìn)一步地，封裝模塊202通過設(shè)置循環(huán)檢索器控制四種相應(yīng)的對象解析器對經(jīng)過結(jié)構(gòu)化預(yù)處理后的故障樹進(jìn)行循環(huán)檢索，解析并重新封裝為上述四種內(nèi)部對象。循環(huán)檢索器以測試點(diǎn)為檢索對象，通過檢查故障樹中的信息數(shù)量與已封裝的對象數(shù)量來判別解析工作的完成情況，通過調(diào)用相應(yīng)的對象解析器對未解析的故障樹節(jié)點(diǎn)進(jìn)行掃描、抽取并封裝。通過對故障樹進(jìn)行解析，實(shí)現(xiàn)了智能學(xué)習(xí)的過程，將所得到的內(nèi)部對象封裝為用于建立測試程序的原位故障知識，根據(jù)該原位故障知識可以建立原位狀態(tài)下的測試模型。在一個(gè)實(shí)施例中，模型建立單元300建立原位狀態(tài)下的測試模型主要包括選擇模型入口點(diǎn)與建立內(nèi)部邏輯兩部分 ；具體地，以測試點(diǎn)為主體建立測試模型，選取測試模型的入口測試點(diǎn)，設(shè)置該入口測試點(diǎn)為模型入口，根據(jù)已封裝的內(nèi)部對象建立測試模型各個(gè)測試點(diǎn)的邏輯關(guān)聯(lián)列表、目標(biāo)點(diǎn)及其對應(yīng)狀態(tài)，以及故障規(guī)則等。在一個(gè)實(shí)施例中，數(shù)據(jù)采集單元400在采集測試數(shù)據(jù)過程中，進(jìn)一步地，以入口測試點(diǎn)為初始測試位置，并根據(jù)所述內(nèi)部邏輯屬性查找出下一層診斷測試的測試點(diǎn)位置，對所述位置對應(yīng)的測試點(diǎn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行采集，獲取所有測試點(diǎn)的測試數(shù)據(jù)，通過測試數(shù)據(jù)確定被測對象工作狀態(tài)。在一個(gè)實(shí)施例中，故障診斷單元500包括數(shù)據(jù)分析模塊501和故障定位模塊502 ； 其中，數(shù)據(jù)分析模塊501，用于將所采集的測試數(shù)據(jù)與所述測試模型中的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)進(jìn)行對 t匕，獲取不合格的測試數(shù)據(jù)；故障定位模塊502，用于將所述不合格的測試數(shù)據(jù)與所述測試模型中的故障規(guī)則進(jìn)行匹配確定故障位置。進(jìn)一步地，數(shù)據(jù)分析模塊501將對應(yīng)測試點(diǎn)測試得到測試數(shù)據(jù)與測試模型中對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)進(jìn)行對比，對于量化標(biāo)準(zhǔn)的，主要比較體現(xiàn)在三種情況若標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)有上限值、下限值，則測試結(jié)果在該上限值與下限值之間時(shí)判定合格， 反之不合格。若標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)僅有下限值，則測試結(jié)果大于該下限值時(shí)判定合格，反之不合格。若標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)僅有上限值，則測試結(jié)果小于該上限值時(shí)判定合格，反之不合格。對于圖形化標(biāo)準(zhǔn)的，主要通過是比較測試結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)值的圖形差異，在偏差范圍之外屬于不合格，在范圍之內(nèi)屬于合格。進(jìn)一步地，故障定位模塊502將包含異常狀態(tài)的測試點(diǎn)對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)與故障規(guī)則的匹配進(jìn)行故障定位，由于故障規(guī)則的結(jié)構(gòu)中包括診斷時(shí)用于匹配的屬性，以及用于定位的引導(dǎo)屬性，所以將測試結(jié)果的屬性集合與故障規(guī)則中用于匹配的屬性集合進(jìn)行全匹配，匹配成功則進(jìn)行規(guī)則的故障定位。綜合上述實(shí)施例，基于電子裝備故障診斷方法和系統(tǒng)，只需要通過對特征值建立故障模型，實(shí)現(xiàn)智能診斷，測試環(huán)境基于原位，電子裝備無需搬離測試現(xiàn)場，可以在真實(shí)環(huán)境下減少排故時(shí)間，及時(shí)發(fā)現(xiàn)失效和迅速定位故障，提高測試程序集診斷效率，便于及時(shí)維修。另外，針對于現(xiàn)有基于故障樹模型的故障診斷系統(tǒng)，在故障模型的開發(fā)技術(shù)中，在工程上采用的是整體開發(fā)的技術(shù)，測試程序的開發(fā)者必須精通電路知識與軟件編程知識， 如果開發(fā)者來自不同領(lǐng)域，由于對對方領(lǐng)域的知識理解程度不夠，往往會(huì)導(dǎo)致概念理解的偏差，從而增加了測試程序的開發(fā)難度，降低了故障排除效率。本發(fā)明的電子裝備故障診斷方法和系統(tǒng)，通過將軟件編程的過程封裝為系統(tǒng)內(nèi)部對象以及操作函數(shù)庫，將原有的開發(fā)技術(shù)從工程領(lǐng)域上分割為兩部分，讓軟件開發(fā)者與測試程序開發(fā)者不需要了解對方領(lǐng)域的知識，避免了概念理解偏差，同時(shí)將開發(fā)過程分為了兩個(gè)可以并行的開發(fā)過程，大大降低了測試程序的開發(fā)難度，提高了開發(fā)效率。 以上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本發(fā)明的幾種實(shí)施方式，其描述較為具體和詳細(xì)，但并不能因此而理解為對本發(fā)明專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。因此，本發(fā)明專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種電子裝備故障診斷方法，其特征在于，包括如下步驟讀取用戶輸入的故障樹；其中，所述故障樹包括測試點(diǎn)的相關(guān)信息；將所述故障樹封裝成測試點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則以及邏輯關(guān)聯(lián)四個(gè)對象；根據(jù)所述封裝的對象建立原位狀態(tài)下的測試模型；根據(jù)所述測試模型從被測對象的測試點(diǎn)采集測試數(shù)據(jù)；利用所述測試模型診斷所述測試數(shù)據(jù)獲得故障位置。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的電子裝備故障診斷方法，其特征在于，所述測試點(diǎn)的相關(guān)信息包括電壓值、電流值、頻率值和/或電平值。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的電子裝備故障診斷方法，其特征在于，所述將所述故障樹封裝成測試點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則以及邏輯關(guān)聯(lián)四個(gè)對象的過程包括利用設(shè)定的函數(shù)將所述故障樹拆分為測試點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則以及邏輯關(guān)聯(lián)四個(gè)特征元素；將所述特征元素封裝成測試點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則以及邏輯關(guān)聯(lián)四個(gè)對象。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的電子裝備故障診斷方法，其特征在于，所述利用設(shè)定的函數(shù)將所述故障樹拆分為測試點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則以及邏輯關(guān)聯(lián)四個(gè)特征元素的過程包括從故障樹的行為節(jié)點(diǎn)中提取行為主體與行為，標(biāo)定各個(gè)測試點(diǎn)；檢索判斷節(jié)點(diǎn)的約束值和不同結(jié)果狀態(tài)下，引導(dǎo)至其它行為或故障定位的連接線，獲得標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)與邏輯關(guān)聯(lián)；從故障樹的故障規(guī)則節(jié)點(diǎn)提取故障信息，并獲取故障規(guī)則節(jié)點(diǎn)之前的判斷節(jié)點(diǎn)的行為主體，確定故障樹的故障規(guī)則。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的電子裝備故障診斷方法，其特征在于，所述根據(jù)所述封裝的對象建立原位狀態(tài)下的測試模型的過程包括以測試點(diǎn)為主體建立測試模型；選取測試模型的入口測試點(diǎn)，將所述入口測試點(diǎn)設(shè)為模型入口 ；根據(jù)所述封裝的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則以及邏輯關(guān)聯(lián)內(nèi)部對象，建立測試模型中各個(gè)測試點(diǎn)的內(nèi)部邏輯屬性。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電子裝備故障診斷方法，其特征在于，根據(jù)所述測試模型從被測對象的測試點(diǎn)采集測試數(shù)據(jù)的過程包括以所述入口測試點(diǎn)為初始測試位置，并根據(jù)所述內(nèi)部邏輯查找出下一層診斷測試的測試點(diǎn)位置，對所述位置對應(yīng)的測試點(diǎn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行采集，獲取所有測試點(diǎn)的測試數(shù)據(jù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電子裝備故障診斷方法，其特征在于，利用所述測試模型診斷所述測試數(shù)據(jù)獲得故障位置的過程包括將所采集的測試數(shù)據(jù)與所述測試模型中的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)進(jìn)行對比，獲取不合格的測試數(shù)據(jù)；將所述不合格的測試數(shù)據(jù)與所述測試模型中的故障規(guī)則進(jìn)行匹配確定故障位置。
8.一種電子裝備故障診斷系統(tǒng)，其特征在于，包括信息錄入單元，用于讀取用戶輸入的故障樹；其中，所述故障樹包括測試點(diǎn)的相關(guān)信息；對象封裝單元，用于將所述故障樹封裝成測試點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則以及邏輯關(guān)聯(lián)四個(gè)對象；模型建立單元，用于根據(jù)所述封裝的對象建立原位狀態(tài)下的測試模型；數(shù)據(jù)采集單元，用于根據(jù)所述測試模型從被測對象的測試點(diǎn)采集測試數(shù)據(jù)；故障診斷單元，用于利用所述測試模型診斷所述測試數(shù)據(jù)獲得故障位置。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的電子裝備故障診斷系統(tǒng)，其特征在于，所述對象封裝單元包括預(yù)處理模塊，用于利用設(shè)定的函數(shù)將所述故障樹拆分為測試點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則以及邏輯關(guān)聯(lián)四個(gè)特征元素；封裝模塊，用于將所述特征元素封裝成測試點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則以及邏輯關(guān)聯(lián)四個(gè)對象。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的電子裝備故障診斷系統(tǒng)，其特征在于，所述故障診斷單元包括數(shù)據(jù)分析模塊，用于將所采集的測試數(shù)據(jù)與所述測試模型中的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)進(jìn)行對比，獲取不合格的測試數(shù)據(jù)；故障定位模塊，用于將所述不合格的測試數(shù)據(jù)與所述測試模型中的故障規(guī)則進(jìn)行匹配確定故障位置。
全文摘要
本發(fā)明提供一種電子裝備故障診斷方法，包括步驟讀取用戶輸入的故障樹；其中，所述故障樹包括測試點(diǎn)的相關(guān)信息；將所述故障樹封裝成測試點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、故障規(guī)則以及邏輯關(guān)聯(lián)四個(gè)對象；根據(jù)所述封裝的對象建立原位狀態(tài)下的測試模型；根據(jù)所述測試模型從被測對象的測試點(diǎn)采集測試數(shù)據(jù)；利用所述測試模型診斷所述測試數(shù)據(jù)獲得故障位置。本發(fā)明還提供電子裝備故障診斷系統(tǒng)，通過本發(fā)明的技術(shù)，基于原位完成對被測對象的故障定位，無需建立仿真環(huán)境，簡化了測試的流程，提高了診斷效率，將測試程序與軟件編程分割為兩個(gè)并行的開發(fā)過程，降低了測試程序的開發(fā)難度，提高了測試模型的開發(fā)效率。
文檔編號G05B23/02GK102707712SQ201210185809
公開日2012年10月3日 申請日期2012年6月6日 優(yōu)先權(quán)日2012年6月6日
發(fā)明者古兆兵, 張樂飛, 方瓊娟, 曾昕, 杜辰, 杜里 申請人:廣州山鋒測控技術(shù)有限公司