Ltcc濾波器測試板以及測試夾具的制作方法
【專利摘要】一種LTCC濾波器測試板，包括基板、第一接地層、第二接地層、第三接地層以及信號傳輸層；第一接地層設置于基板的第一面上；第二接地層、第三接地層以及信號傳輸層相互絕緣設置于第二面上，形成共面波導結構；第二接地層、第三接地層分別通過接地層連接孔與第一接地層電連接；第二接地層和第三接地層兩端均分別設置有負輸入端、負輸出端；信號傳輸層的兩端分別設置有信號輸入端和信號輸出端；信號傳輸層上位于信號輸入端和信號輸出端的中間位置處設置有焊盤；焊盤用于與待測LTCC濾波器電連接。上述LTCC濾波器測試板的測試誤差小且測試頻率范圍較大。本實用新型還涉及一種LTCC濾波器測試夾具。
【專利說明】
LTCC濾波器測試板以及測試夾具
技術領域
[0001]本實用新型涉及電子器件測試技術領域，特別是涉及一種LTCC濾波器測試板以及測試夾具。
【背景技術】
[0002]LTCC(Low Temperature Co-fired Ceramic，低溫共燒陶瓷)濾波器是一種適用于微波頻段的選頻器件，廣泛應用于微波通信、雷達導航、衛(wèi)星通訊以及汽車電子等領域。近年來，隨著整機系統(tǒng)高度集成化、小型化的發(fā)展需求，LTCC濾波器以其體積小、微波頻段電性一致性好、可靠性高等優(yōu)點而獲得廣泛的應用。LTCC濾波器是采用低溫共燒技術制備的獨石結構電子元件(使用頻段覆蓋DC—40GHz)，其常見端電極個數(shù)分別有4、6、8、10等，包括三種類型端電極:輸入端、輸出端和接地端，端電極的寬度最小達0.5_，從而使得測試難度大。
[0003]傳統(tǒng)的DC-6GHZ頻段的產品測試，使用的測試夾具存在較大的測試誤差，尤其是測試頻段在IGHz以上頻段的產品測試誤差更大。
【實用新型內容】
[0004]基于此，有必要提供一種測試誤差小且測試頻率范圍較大的LTCC濾波器測試板。
[0005]還提供一種LTCC濾波器測試夾具。
[0006]—種LTCC濾波器測試板，包括基板，所述基板包括第一面和與所述第一面相對的第二面;所述測試板還包括第一接地層、第二接地層、第三接地層以及信號傳輸層;所述第一接地層設置于所述基板的第一面上;所述第二接地層、所述第三接地層以及所述信號傳輸層相互絕緣設置于所述第二面上;所述信號傳輸層設置于所述第二面的中間位置;所述第二接地層和所述第三接地層分別設置于所述信號傳輸層兩側，形成共面波導結構;所述基板上還設置有接地層連接孔;所述第二接地層、所述第三接地層分別通過所述接地層連接孔與所述第一接地層電連接;所述第二接地層和所述第三接地層兩端均分別設置有負輸入端、負輸出端;所述信號傳輸層的兩端分別設置有信號輸入端和信號輸出端;所述信號輸入端的一端、所述負輸入端用于與第一同軸連接器連接;所述信號輸入端的另一端向所述信號輸出端延伸;所述信號輸出端的一端、所述負輸出端用于與第二同軸連接器連接;所述信號輸出端的另一端向所述信號輸入端延伸;所述信號傳輸層上位于所述信號輸入端和信號輸出端的中間位置處設置有焊盤;所述焊盤用于與待測試的LTCC濾波器電連接。
[0007]在其中一個實施例中，所述焊盤上還設置有垂直導電結構；所述垂直導電結構用于確保所述焊盤的垂直方向上呈導電狀態(tài)，而水平方向上呈絕緣狀態(tài)。
[0008]在其中一個實施例中，所述垂直導電結構為垂直導電膠。
[0009]在其中一個實施例中，所述第一接地層、所述第二接地層、所述第三接地層以及所述信號傳輸層均為銅層;所述第二接地層和所述第三接地層上未設置負輸入端、負輸出端的區(qū)域均涂覆有絕緣層;所述信號傳輸層上未設置焊盤、信號輸入端和信號輸出端的區(qū)域均涂覆有絕緣層。
[0010]—種LTCC濾波器測試夾具，包括底座以及設置于所述底座上的測試支架;所述測試支架上設置有測試壓針和測試升降裝置;所述測試夾具還包括接地裝置、如前述任一實施例所述的測試板以及所述第一同軸連接器和所述第二同軸連接器;所述測試板的第一接地層與所述接地裝置電連接且可拆卸連接;所述第一同軸連接器和所述第二同軸連接器分別用于與射頻矢量網絡分析儀連接;所述測試升降裝置用于控制所述測試壓針上下運動，從而實現(xiàn)待測LTCC濾波器與測試板之間的導通控制。
[0011]在其中一個實施例中，所述第一同軸連接器和所述第二同軸連接器均為SMA接頭。
[0012]在其中一個實施例中，還包括測試校準板;所述測試校準板的結構除不設置用于與待測LTCC濾波器連接的焊盤之外與測試板相同；所述測試校準板用于校準測試板的測試值。
[0013]在其中一個實施例中，所述接地裝置為接地銅塊，所述接地銅塊上設置螺釘連接孔;所述接地銅塊通過螺釘連接孔分別與底座以及所述測試板連接。
[0014]在其中一個實施例中，所述接地銅塊上與所述測試板連接的一側設置為階梯結構。
[0015]在其中一個實施例中，還包括設置于所述測試板第二面上的測試蓋板;所述測試蓋板為“工”字形結構;所述測試蓋板的中間位置設置有固定槽，以定位待測LTCC濾波器。
[0016]上述LTCC濾波器測試板以及測試夾具，測試板中的第一接地層、第二接地層以及第三接地層通過接地層連接孔連接為一個整體，統(tǒng)一引出到接地端，從而實現(xiàn)測試誤差的最小化。并且，測試板中的基板、設置于基板第二面的第二接地層、第三接地層以及信號傳輸層形成共面波導結構，使得測試板能夠適用于更高的測試頻率，且測試損耗較小，穩(wěn)定性更好。
【附圖說明】
[0017]圖1為一實施例中的LTCC濾波器測試板的結構簡圖；
[0018]圖2為圖1中的LTCC濾波器測試板的頂部平面示意圖；
[0019]圖3為用于對圖1中的測試板進行校準的測試校準板的頂部平面示意圖；
[0020]圖4為一實施例中的LTCC濾波器測試夾具的主視圖；
[0021]圖5為圖4中的測試夾具的側視圖；
[0022]圖6為圖4中的底座的結構不意圖；
[0023]圖7為圖4中的底座在另一視角下的結構不意圖；
[0024]圖8為圖4中的測試蓋板的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0025]為了使本實用新型的目的、技術方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本實用新型進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。
[0026]—種LTCC濾波器測試板，用于LTCC濾波器測試過程中，以實現(xiàn)LTCC濾波器S參數(shù)的測試功能。S參數(shù)也稱散射參數(shù)，包括直通S參數(shù)和反射S參數(shù)。直通S參數(shù)包括反向傳輸系數(shù)S12和正向傳輸系數(shù)S21。直通S參數(shù)用于反映設備的插入損耗。反射S參數(shù)包括輸入反射系統(tǒng)Sll和輸出反射系數(shù)S22，用于表征設備的回波損耗。圖1為一實施例中的LTCC濾波器測試板(以下簡稱測試板)的結構簡圖，圖2則為圖1中的測試板的頂部平面的示意圖。參見圖1和圖2，該測試板為采用高頻陶瓷材料通過覆銅工藝制作的PCB板，其包括基板110、第一接地層120、第二接地層132、第三接地層134以及信號傳輸層140。其中，第二接地層132、第三接地層134均作為接地電極，信號傳輸層140則作為信號輸入/輸出電極。
[0027]在本實施例中，基板110為長方體，且為絕緣介質層?；?10的材質為高頻陶瓷材料，測試頻率可以在6GHz以上?；?10的材質可以根據測試頻率進行設定。對于測試頻率6GHz以下測試板，基板110采用FR4板材即可。如果測試頻率大于6GHz，則一般要選用高頻陶瓷材料作為基板材料。基板110包括第一面(即基板110的下表面)和與第一面相對的第二面(即基板110的上表面)。
[0028]第一接地層120覆蓋整個基板110的下表面。第二接地層132、第三接地層134以及信號傳輸層140則設置于基板110的上表面。在本實施例中，基板110、第一接地層120、第二接地層132以及第三接地層134上均設置有多個接地層連接孔136。第二接地層132和第三接地層134分別通過接地層連接孔136與第一接地層120連接，形成一個整體后引出到接地端，從而實現(xiàn)測試誤差的最小化。在本實施例中，第一接地層120、第二接地層132和第三接地層134上還設置有用于與測試夾具上的接地裝置連接的接地連接孔138，從而通過接地連接孔138與測試夾具上的接地裝置電連接。在本實施例中，第一接地層120、第二接地層132、第三接地層134以及信號傳輸層140均為銅層。銅層具有較好的導電性，從而使得整個測試板具有較好的電氣連接性能。信號傳輸層140設置于基板110的中間位置且沿基板110的長度方向設置。第二接地層132和第三接地層134對稱設置于信號傳輸層140的兩側，從而形成共面波導結構。傳統(tǒng)的濾波器測試板的測試頻率在5GHz左右。具有共面波導結構的測試版則能夠適用于更高的測試頻率，可以高達20GHz甚至以上。并且，采用共面波導結構的測試板，其損耗更小，穩(wěn)定性更好。
[0029]具體地，第二接地層132和第三接地層134的兩端均分別設置有負輸入端152和負輸出端154。信號傳輸層140的兩端分別設置有信號輸入端(也即正輸入端)142和信號輸出端(也即正輸出端)144。信號輸入端142的一端和負輸入端152用于與第一同軸連接器連接，信號輸入端142的另一端向信號輸出端144延伸，并延伸至靠近基板110的中間位置。信號輸出端144的一端和負輸出端154用于與第二同軸連接器連接，信號輸入端144的另一端向信號輸入端142延伸，并延伸至基板110的中間位置。信號傳輸層140上位于信號輸入端142和信號輸出端144的中間位置處還設置有焊盤146。焊盤146用于與待測試的LTCC濾波器進行電連接。在本實施例中，信號輸入端142和信號輸出端144上靠近焊盤146的一端的寬度變寬，從而確保接地良好。焊盤146上還設置有垂直導電結構(圖中未示)。垂直導電結構可以為垂直導電膠，以確保焊盤146上的垂直方向上通過施加較小壓力即可實現(xiàn)良好導通，而在水平方向上呈絕緣狀態(tài)。導電膠導電率良好，接觸電阻非常小，比傳統(tǒng)的采用彈簧式觸點測試具有明顯的優(yōu)勢，能夠最大限度的減小測試誤差。在本實施例中，在基板110上表面上未設置連接端(輸入端以及輸出端)以及焊盤146的區(qū)域用綠油涂覆了一層阻焊層148(也可以稱為絕緣層)。
[0030]測試板中的基板材料、特性阻抗值(可以為50Ω、75Ω或者100 Ω等)以及尺寸會對散射參數(shù)產生影響，從而影響測試的濾波參數(shù)精度。測試板的影響尺寸主要包括基板110的厚度H、電極布線(也即信號傳輸層140)的寬度W和厚度T以及第二接地層132和信號傳輸層140(也即接地電極和輸入/輸出電極)之間的間距G。通過調整測試板的上述四個參數(shù)，可以實現(xiàn)對測試板的散射參數(shù)進行調整，以滿足不同濾波器參數(shù)精度要求。上述四個關鍵尺寸可以通過仿真軟件(如HFSS、ADS或者AppCAD等)仿真分析獲取。
[0031 ]下面以HFSS(High Frequency Structure Simulator，高頻結構仿真)為例對確定測試板的制備過程進行說明。
[0032]步驟I，進行特性阻抗理論分析及共面波導三維結構建模。根據濾波器測試板匹配特性阻抗(一般采用50 Ω，還有75 Ω、100 Ω等)的要求，在仿真軟件上繪制共面波導三維結構模型，包括基板材料選擇(本處選擇低損耗高頻陶瓷材料)、基板厚度H、電極布線的厚度T和寬度W、輸入/輸出電極與接地電極的間距G，以及連接孔數(shù)量大小等變量設置(見圖1、2)。
[0033]步驟2，邊界模型建模、邊界條件設計。以一定的比例關系繪制邊界模型，邊界模型務必把共面波導模型囊括在內，設置邊界條件，選擇微波邊界。
[0034]步驟3，激勵條件設置。繪制激勵平面，設置激勵條件為50Ω特性阻抗。
[0035]步驟4，掃描頻率設置。設置掃描頻率，本實施例中的測試頻率要求達20GHz，因此掃描頻率設置I OOKHz?20GHz。
[0036]步驟5，變量設置及分析。以共面波導理論為基礎，分別設定H、T、W、G等(圖1)變量，設置變量分析條件。
[0037]步驟6，仿真運行，結果分析、優(yōu)化。根據各變量變化的趨勢，有針對性地對以上變量的進行調整，使直通損耗參數(shù)S12、S21最大程度的接近0(也就是使信號在PCB測試板中傳輸過程幾乎無能量損失)，使反射損耗參數(shù)SI 1、S22分別小于-30dB，小于-40dB，也就是使信號在測試板中傳輸過程幾乎無能量反射。
[0038]步驟7，優(yōu)化完成，參數(shù)提取、測試板制作。
[0039]當S12、S21、SI 1、S22等參數(shù)均滿足要求時，提取H、T、W、G等尺寸參數(shù)，采用PCB板制作工藝進行測試板制作。為最大限度減小測試板引入的系統(tǒng)誤差，同時制作配套的測試校準板，供直通校準用，如圖3所示。測試校準板的結構與測試板的結構基本相同，僅僅是沒有設置焊盤146，因為焊盤146對直通S參數(shù)影響可以忽略不計，所以不設置焊盤146。實際PCB測試板制作時，還需在上銅層(第二接地層132、第三接地層134以及信號傳輸層140)之上焊盤146以外的地方用綠油涂覆一層阻焊層(也稱絕緣層)。
[0040]上述LTCC濾波器測試板，測試板中的第一接地層110、第二接地層132以及第三接地層134通過接地層連接孔136連接為一個整體，統(tǒng)一引出到接地端，從而實現(xiàn)測試誤差的最小化。并且，測試板中的基板110、設置于基板110第二面的第二接地層132、第三接地層134以及信號傳輸層140形成共面波導結構，使得測試板能夠適用于更高的測試頻率，且測試損耗較小，穩(wěn)定性更好。并且上述測試板采用垂直導電膠作為焊盤和待測LTCC濾波器的連接器件，導電膠導電率良好，接觸電阻非常小，比傳統(tǒng)的采用彈簧式觸點測試具有明顯的優(yōu)勢，能夠最大限度的較小測試誤差。
[0041]本實用新型還提供了一種LTCC濾波器測試夾具，用于固定待測LTCC濾波器。圖4為一實施例中的LTCC濾波器測試夾具(以下簡稱測試夾具)的主視圖，圖5為圖4中的測試夾具的側視圖。參見圖4和圖5，該測試夾具包括底座402、接地裝置404、測試板406、第一同軸連接器408、第二同軸連接器410、測試蓋板412、測試支架414、測試壓針416以及測試升降裝置418。
[0042]底座402采用金屬材料制作，為測試夾具最底部的一部分。底座402用于起到支撐、穩(wěn)定夾具及保證接地良好等作用。在本實施例中，底座402下方還設置有四個支撐點403。四個支撐點403用于調整測試夾具水平用。
[0043]在本實施例中，接地裝置404為接地銅塊。接地銅塊是實心金屬塊，其結構如圖6和圖7所示。接地銅塊的上下兩個端面都設置有螺釘連接孔610。接地銅塊下端通過螺釘連接孔與底座402固定連接，接地銅塊上端面的螺釘連接孔為預留孔，用于與測試板406的第一接地層連接。接地銅塊用于保證測試夾具的接地良好，以減少外界信號對反射S參數(shù)測試的影響。在本實施例中，接地銅塊上與測試板連接的一側設置為階梯結構，從而其接地良好，且與測試板406配套使用。
[0044]測試板406為本測試夾具的核心部分，LTCC濾波S參的測試功能需要通過該測試板來實現(xiàn)。測試板406采用前述任一實施例中的測試板結構。第一同軸連接器408和第二同軸連接器410與測試板406上的輸入端、輸出端連接后通過同軸電纜與射頻矢量網絡分析儀連接。在本實施例中，第一同軸連接器408和第二同軸連接器410均為SMA接頭，在其他的實施例中，也可以為SMB接頭、SMC接頭以及BNC接頭等。該測試板406通過輸入端、輸出端、焊盤、接地連接孔、接地層連接孔等與測試夾具的其他部分實現(xiàn)連接。測試板406的信號輸入端和信號輸出端的輸入/輸出信號由射頻矢量網絡分析儀提供。射頻矢量網絡分析儀輸出、輸入端分別通過測試電纜與測試板406的兩個SMA接頭連接成一個閉合回路。射頻矢量網絡分析儀輸出端輸出一個信號經由測試電纜到達測試板406通過濾波器產品，該信號具有直通和反射兩種狀態(tài)。直通信號繼續(xù)向前回到射頻矢量網絡分析儀的另一端，反射信號反射到射頻矢量網絡分析儀的輸出端。射頻矢量網絡分析儀通過對輸出信號、直通信號、反射信號的分析，實現(xiàn)濾波器的測試。在一實施例中，測試夾具還包括測試校準板。
[0045]測試蓋板412設置于測試板406上與待測LTCC連接的一面。測試蓋板412的結構如圖8所示。測試蓋板412為“工”字形結構，從而與測試板406的結構相匹配。測試蓋板412的中間位置設置有固定槽710。固定槽710用于定位待測LTCC濾波器。測試蓋板412的固定槽710的結構與濾波器的結構相匹配。測試蓋板412上位于固定槽710的四周還形成有淺槽結構720，以方便濾波器的裝配。測試蓋板412上還設置有多個連接孔730。測試蓋板412通過金屬螺釘穿過連接孔730、測試板406上的接地連接孔與接地銅塊連接。具體地，在測試板406的連接端焊接上SMA接頭，在其焊盤上方放置一層垂直導電膠(垂直方向通過施加較小壓力即可實現(xiàn)良好導通，水平方向呈絕緣狀態(tài))，在垂直導電膠及測試板板上406方加上測試蓋板412，采用金屬螺釘(保證測試板406接地良好)通過接地連接孔固定在接地銅塊上，實現(xiàn)測試板的在測試夾具中的連接。
[0046]測試支架414固定于底座402上。測試升降裝置418和測試壓針416均固定于測試支架414上。測試升降裝置418用于控制測試壓針416上下運動，從而實現(xiàn)待測LTCC濾波器與測試板406之間的導通控制。具體地，測試升降裝置418為扳手結構，即測試升降扳手。測試壓針416采用硬樹脂材料制作，安裝于測試板406的焊盤的正上方，測試產品時下壓給產品施加一定的壓力，實現(xiàn)產品在測試板406中連接導通。測試壓針416連接在測試壓針軸417上，測試壓針軸417內安裝彈簧(圖中未示)，通過測試支架414連接在測試升降扳手的一端。產品處于待測試狀態(tài)時，拉起測試升降扳手，彈簧彈起，測試壓針上升懸空。測試產品時，下拉測試升降扳手，通過彈簧力的傳導，將測試壓針416下壓到待測試產品上表面，產品受力傳遞到垂直導電膠上，導電膠導通，從而實現(xiàn)測試。
[0047]上述測試夾具具有測試頻率高達20GHz、測試誤差小、穩(wěn)定性高、一致性好、組裝及使用簡單實用等一系列優(yōu)點。上述測試夾具可以應用于對LTCC低通濾波器、LTCC高通濾波器、LTCC帶通濾波器以及相關微波濾波器等電性能的測試中，以及濾波器自動分選機測試系統(tǒng)核心部件中，還適用于微波電子元件、射頻元件等測試系統(tǒng)。
[0048]以上所述實施例的各技術特征可以進行任意的組合，為使描述簡潔，未對上述實施例中的各個技術特征所有可能的組合都進行描述，然而，只要這些技術特征的組合不存在矛盾，都應當認為是本說明書記載的范圍。
[0049]以上所述實施例僅表達了本實用新型的幾種實施方式，其描述較為具體和詳細，但并不能因此而理解為對實用新型專利范圍的限制。應當指出的是，對于本領域的普通技術人員來說，在不脫離本實用新型構思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬于本實用新型的保護范圍。因此，本實用新型專利的保護范圍應以所附權利要求為準。
【主權項】
1.一種LTCC濾波器測試板，包括基板，所述基板包括第一面和與所述第一面相對的第二面;其特征在于，所述測試板還包括第一接地層、第二接地層、第三接地層以及信號傳輸層;所述第一接地層設置于所述基板的第一面上;所述第二接地層、所述第三接地層以及所述信號傳輸層相互絕緣設置于所述第二面上;所述信號傳輸層設置于所述第二面的中間位置;所述第二接地層和所述第三接地層分別設置于所述信號傳輸層兩側，形成共面波導結構;所述基板上還設置有接地層連接孔;所述第二接地層、所述第三接地層分別通過所述接地層連接孔與所述第一接地層電連接;所述第二接地層和所述第三接地層兩端均分別設置有負輸入端、負輸出端;所述信號傳輸層的兩端分別設置有信號輸入端和信號輸出端;所述信號輸入端的一端、所述負輸入端用于與第一同軸連接器連接;所述信號輸入端的另一端向所述信號輸出端延伸;所述信號輸出端的一端、所述負輸出端用于與第二同軸連接器連接;所述信號輸出端的另一端向所述信號輸入端延伸;所述信號傳輸層上位于所述信號輸入端和信號輸出端的中間位置處設置有焊盤;所述焊盤用于與待測試的LTCC濾波器電連接。2.根據權利要求1所述的LTCC濾波器測試板，其特征在于，所述焊盤上還設置有垂直導電結構;所述垂直導電結構用于確保所述焊盤的垂直方向上呈導電狀態(tài)，而水平方向上呈絕緣狀態(tài)。3.根據權利要求2所述的LTCC濾波器測試板，其特征在于，所述垂直導電結構為垂直導電膠。4.根據權利要求1所述的LTCC濾波器測試板，其特征在于，所述第一接地層、所述第二接地層、所述第三接地層以及所述信號傳輸層均為銅層； 所述第二接地層和所述第三接地層上未設置負輸入端、負輸出端的區(qū)域均涂覆有絕緣層;所述信號傳輸層上未設置焊盤、信號輸入端和信號輸出端的區(qū)域均涂覆有絕緣層。5.—種LTCC濾波器測試夾具，包括底座以及設置于所述底座上的測試支架；所述測試支架上設置有測試壓針和測試升降裝置;其特征在于，所述測試夾具還包括接地裝置、如權利要求I?4任一所述的測試板以及所述第一同軸連接器和所述第二同軸連接器;所述測試板的第一接地層與所述接地裝置電連接且可拆卸連接;所述第一同軸連接器和所述第二同軸連接器分別用于與射頻矢量網絡分析儀連接;所述測試升降裝置用于控制所述測試壓針上下運動，從而實現(xiàn)待測LTCC濾波器與測試板之間的導通控制。6.根據權利要求5所述的LTCC濾波器測試夾具，其特征在于，所述第一同軸連接器和所述第二同軸連接器均為SMA接頭。7.根據權利要求5所述的LTCC濾波器測試夾具，其特征在于，還包括測試校準板;所述測試校準板的結構除不設置用于與待測LTCC濾波器連接的焊盤之外與測試板相同；所述測試校準板用于校準測試板的測試值。8.根據權利要求5所述的LTCC濾波器測試夾具，其特征在于，所述接地裝置為接地銅塊，所述接地銅塊上設置螺釘連接孔;所述接地銅塊通過螺釘連接孔分別與底座以及所述測試板連接。9.根據權利要求8所述的LTCC濾波器測試夾具，其特征在于，所述接地銅塊上與所述測試板連接的一側設置為階梯結構。10.根據權利要求5所述的LTCC濾波器測試夾具，其特征在于，還包括設置于所述測試板第二面上的測試蓋板;所述測試蓋板為“工”字形結構;所述測試蓋板的中間位置設置有固定槽，以定位待測LTCC濾波器。
【文檔編號】G01R31/00GK205539228SQ201620050573
【公開日】2016年8月31日
【申請日】2016年1月19日
【發(fā)明人】羅洪梁, 林亞梅, 黃寒寒, 劉季超, 朱建華, 胡志明
【申請人】深圳振華富電子有限公司, 中國振華（集團）科技股份有限公司