一體定位式熒光測(cè)試儀的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一體定位式熒光測(cè)試儀，包括安裝板、測(cè)試卡承載盤、撥卡裝置、進(jìn)卡裝置、讀卡檢測(cè)裝置和取卡裝置，其中撥卡裝置疊置于測(cè)試卡承載盤上并可在測(cè)試卡承載盤上轉(zhuǎn)動(dòng)，所述撥卡裝置上沿圓周均勻設(shè)置有多個(gè)測(cè)試卡固定件，測(cè)試卡固定件沿徑向延伸至測(cè)試卡承載盤的外圓周，每個(gè)測(cè)試卡固定件上包括用于放置測(cè)試卡的凹槽，凹槽的寬度與測(cè)試卡的寬度相匹配；所述進(jìn)卡裝置沿徑向輸送測(cè)試卡至所述凹槽，所述讀卡檢測(cè)裝置可沿所述撥卡裝置徑向移動(dòng)以檢測(cè)凹槽內(nèi)的測(cè)試卡的熒光強(qiáng)度，所述取卡裝置沿徑向?qū)⒔?jīng)檢測(cè)后的測(cè)試卡從凹槽內(nèi)取出。本實(shí)用新型能防止測(cè)試卡在讀卡檢測(cè)裝置工作期間發(fā)生橫向位置偏移，提高測(cè)試儀的準(zhǔn)確度和可靠性。
【專利說(shuō)明】
一體定位式熒光測(cè)試儀
技術(shù)領(lǐng)域
[0001 ]本實(shí)用新型涉及醫(yī)療檢測(cè)儀器領(lǐng)域，具體涉及一體定位式熒光測(cè)試儀。
【背景技術(shù)】
[0002]相關(guān)技術(shù)中的轉(zhuǎn)盤式熒光測(cè)試儀，為方便在卡槽中取放測(cè)試卡，其用于承載測(cè)試卡的卡槽的寬度一般略大于測(cè)試卡的寬度。由于測(cè)試卡和所述卡槽之間存在較大的間隙，測(cè)試卡在隨熒光測(cè)試儀的轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動(dòng)的過(guò)程中會(huì)發(fā)生偏移，而用于讀取、檢測(cè)測(cè)試卡的讀卡檢測(cè)裝置與所述卡槽之間的位置關(guān)系是固定的，因此所述測(cè)試卡的橫向位置偏移會(huì)影響讀卡檢測(cè)裝置對(duì)測(cè)試卡的讀取和檢測(cè)，無(wú)法確保每次均是沿測(cè)試卡的中軸線進(jìn)行讀取和檢測(cè)，從而降低了熒光測(cè)試儀的測(cè)試準(zhǔn)確度。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]針對(duì)上述問(wèn)題，本實(shí)用新型要解決問(wèn)題是提供一種可防止測(cè)試卡發(fā)生橫向位置偏移的一體定位式熒光測(cè)試儀。
[0004]為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是:
[0005]—體定位式熒光測(cè)試儀，包括安裝板、測(cè)試卡承載盤、撥卡裝置、進(jìn)卡裝置、讀卡檢測(cè)裝置和取卡裝置，安裝板固定設(shè)置，進(jìn)卡裝置、讀卡檢測(cè)裝置和取卡裝置安裝于所述安裝板上，測(cè)試卡承載盤水平固設(shè)于安裝板的上方，撥卡裝置疊置于所述測(cè)試卡承載盤上并可在測(cè)試卡承載盤上轉(zhuǎn)動(dòng)。
[0006]所述撥卡裝置上沿圓周均勻設(shè)置有多個(gè)測(cè)試卡固定件，所述測(cè)試卡固定件沿徑向延伸至測(cè)試卡承載盤的外圓周，每個(gè)測(cè)試卡固定件上包括開(kāi)口向上的用于放置測(cè)試卡的凹槽，所述凹槽的寬度與測(cè)試卡的寬度相匹配;所述進(jìn)卡裝置沿徑向輸送測(cè)試卡至所述凹槽，所述讀卡檢測(cè)裝置可沿所述撥卡裝置徑向移動(dòng)以檢測(cè)所述凹槽內(nèi)的測(cè)試卡的熒光強(qiáng)度，所述取卡裝置沿徑向?qū)⒔?jīng)過(guò)檢測(cè)后的測(cè)試卡從所述凹槽內(nèi)取出。
[0007]進(jìn)一步地，所述測(cè)試卡固定件的兩側(cè)和一端均設(shè)有定位塊，所述定位塊的中心設(shè)有用于將測(cè)試卡固定件安裝到所述撥卡裝置上的定位孔，所述測(cè)試卡固定件的另一端沿徑向延伸至測(cè)試卡承載盤的外圓周。
[0008]其中，所述進(jìn)卡裝置包括進(jìn)卡承載盤、進(jìn)卡導(dǎo)軌和下方開(kāi)槽的進(jìn)卡盒，所述進(jìn)卡導(dǎo)軌位于所述進(jìn)卡承載盤的下方并沿所述撥卡裝置徑向設(shè)置，所述進(jìn)卡承載盤上均勻設(shè)置有用于安裝所述進(jìn)卡盒的引導(dǎo)槽，所述引導(dǎo)槽沿所述進(jìn)卡導(dǎo)軌徑向設(shè)置。
[0009]其中，所述讀卡檢測(cè)裝置位于所述撥卡裝置的上方，其包括互相平行的螺紋絲桿和導(dǎo)軌支架，螺紋絲桿和導(dǎo)軌支架沿?fù)芸ㄑb置的徑向水平固定于所述安裝板，所述螺紋絲桿裝有用于檢測(cè)所述凹槽內(nèi)的測(cè)試卡的測(cè)量光路盒。
[0010]進(jìn)一步地，所述一體定位式熒光測(cè)試儀還包括位于所述測(cè)試卡承載盤下方的頂卡裝置，所述進(jìn)卡導(dǎo)軌沿所述撥卡裝置的軸心徑向移動(dòng)所述進(jìn)卡盒底部的測(cè)試卡時(shí)，所述頂卡裝置向上凸起穿過(guò)所述測(cè)試卡承載盤和撥卡裝置，伸入所述凹槽的末端，并伸入所述進(jìn)卡盒的下方開(kāi)設(shè)的槽中，推動(dòng)所述進(jìn)卡盒底部的測(cè)試卡至所述凹槽中。
[0011 ]進(jìn)一步地，所述取卡裝置位于所述撥卡裝置的上方，其包括由皮帶輪驅(qū)動(dòng)而沿所述撥卡裝置徑向移動(dòng)的取卡器。
[0012]優(yōu)選地，所述測(cè)試卡承載盤和撥卡裝置均為圓盤狀，所述測(cè)試卡承載盤的直徑大于所述撥卡裝置的直徑。
[0013]本實(shí)用新型有益效果在于:
[0014]1、通過(guò)設(shè)置測(cè)試卡承載盤和撥卡裝置，測(cè)試卡承載盤水平固定于安裝板上，撥卡裝置疊置于測(cè)試卡承載盤上，由于設(shè)置的撥卡裝置相對(duì)較薄且輕，其轉(zhuǎn)動(dòng)慣性小，能大幅度降低耗能，并提高轉(zhuǎn)速。
[0015]2、通過(guò)在撥卡裝置上沿圓周均勻設(shè)置多個(gè)測(cè)試卡固定件，其中測(cè)試卡固定件包括用于放置測(cè)試卡的開(kāi)口向上的凹槽，凹槽的寬度與測(cè)試卡的寬度相匹配，防止了測(cè)試卡發(fā)生橫向位置偏移，從而確保了讀卡檢測(cè)裝置沿測(cè)試卡的中軸線進(jìn)行讀取和檢測(cè)，從而提高熒光測(cè)試儀的測(cè)試準(zhǔn)確度。
【附圖說(shuō)明】
[0016]圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0017]圖2是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)爆炸圖。
[0018]圖3是本實(shí)用新型測(cè)試卡位于測(cè)試卡固定件時(shí)的示意圖。
[0019]其中，安裝板1、測(cè)試卡承載盤2、撥卡裝置3、進(jìn)卡裝置4、讀卡檢測(cè)裝置5、取卡裝置
6、頂卡裝置7、測(cè)試卡8、測(cè)試卡固定件9、進(jìn)卡導(dǎo)軌40、進(jìn)卡盒41、進(jìn)卡承載盤42、引導(dǎo)槽421、螺紋絲桿50、導(dǎo)軌支架51、取卡器60、皮帶輪61、凹槽90、定位件91、定位孔911。
【具體實(shí)施方式】
[0020]結(jié)合附圖，對(duì)本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)作進(jìn)一步說(shuō)明。
[0021]參見(jiàn)圖1至圖3，本實(shí)用新型的一體定位式熒光測(cè)試儀，包括安裝板1、測(cè)試卡承載盤2、撥卡裝置3、進(jìn)卡裝置4、讀卡檢測(cè)裝置5和取卡裝置6，安裝板I固定設(shè)置，進(jìn)卡裝置4、讀卡檢測(cè)裝置5和取卡裝置6安裝于所述安裝板I上，測(cè)試卡承載盤2水平固設(shè)于安裝板I的下方，撥卡裝置3疊置于所述測(cè)試卡8承載盤2上并可在測(cè)試卡承載盤2上轉(zhuǎn)動(dòng)。
[0022]所述撥卡裝置3上沿圓周均勻設(shè)置有多個(gè)測(cè)試卡固定件9，所述測(cè)試卡固定件9沿徑向延伸至測(cè)試卡承載盤2的外圓周，每個(gè)測(cè)試卡固定件9上包括用于放置測(cè)試卡8的開(kāi)口向上的凹槽90，所述凹槽90的寬度與測(cè)試卡8的寬度相匹配;所述進(jìn)卡裝置4沿徑向輸送測(cè)試卡8至所述凹槽90，所述讀卡檢測(cè)裝置5可沿所述撥卡裝置3徑向移動(dòng)以檢測(cè)所述凹槽90內(nèi)的測(cè)試卡8的熒光強(qiáng)度，所述取卡裝置6沿徑向?qū)⒔?jīng)過(guò)檢測(cè)后的測(cè)試卡8從所述凹槽90內(nèi)取出。
[0023]進(jìn)一步地，所述測(cè)試卡固定件9的兩側(cè)和一端均設(shè)有定位塊91，所述定位塊91的中心設(shè)有用于將測(cè)試卡固定件9安裝到所述撥卡裝置3上的定位孔911，所述測(cè)試卡固定件9的另一端沿徑向延伸至測(cè)試卡承載盤2的外圓周。
[0024]其中，所述進(jìn)卡裝置4包括進(jìn)卡承載盤42、進(jìn)卡導(dǎo)軌40和下方開(kāi)槽的進(jìn)卡盒41，所述進(jìn)卡導(dǎo)軌40位于所述進(jìn)卡承載盤42的下方并沿所述撥卡裝置3徑向設(shè)置，所述進(jìn)卡承載盤42上均勻設(shè)置有用于安裝所述進(jìn)卡盒41的引導(dǎo)槽421，所述引導(dǎo)槽421沿所述進(jìn)卡導(dǎo)軌40徑向設(shè)置。
[0025]其中，所述讀卡檢測(cè)裝置5位于所述撥卡裝置3的上方，其包括互相平行的螺紋絲桿50和導(dǎo)軌支架51，螺紋絲桿50和導(dǎo)軌支架51沿?fù)芸ㄑb置3的徑向水平固定于所述安裝板I，所述套螺紋絲桿50裝有所述套螺紋絲桿裝有用于檢測(cè)所述凹槽90內(nèi)的測(cè)試卡8的測(cè)量光路盒。
[0026]進(jìn)一步地，所述一體定位式熒光測(cè)試儀還包括位于所述測(cè)試卡承載盤2下方的頂卡裝置7，所述進(jìn)卡導(dǎo)軌40沿所述撥卡裝置3的軸心徑向移動(dòng)所述進(jìn)卡盒41底部的測(cè)試卡8時(shí)，所述頂卡裝置7向上凸起穿過(guò)所述測(cè)試卡承載盤2和撥卡裝置3，伸入所述凹槽90的末端，并伸入所述進(jìn)卡盒41的下方開(kāi)設(shè)的槽中，推動(dòng)所述進(jìn)卡盒41底部的測(cè)試卡8至所述凹槽90中。
[0027]進(jìn)一步地，所述取卡裝置6位于所述撥卡裝置3的上方，其包括由皮帶輪61驅(qū)動(dòng)而沿所述撥卡裝置3徑向移動(dòng)的取卡器60。
[0028]優(yōu)選地，所述測(cè)試卡承載盤2和撥卡裝置3均為圓盤狀，所述測(cè)試卡承載盤2的直徑大于所述撥卡裝置3的直徑。
[0029]最后應(yīng)說(shuō)明的是:以上實(shí)施例僅用以說(shuō)明本發(fā)明創(chuàng)造的技術(shù)方案，而非對(duì)其限制；盡管參照前述實(shí)施例對(duì)本發(fā)明創(chuàng)造進(jìn)行了詳細(xì)的說(shuō)明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解:其依然可以對(duì)前述各實(shí)施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改，或者對(duì)其中部分技術(shù)特征進(jìn)行等同替換;而這些修改或者替換，并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明創(chuàng)造各實(shí)施例技術(shù)方案的精神和范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一體定位式熒光測(cè)試儀，包括安裝板、測(cè)試卡承載盤、撥卡裝置、進(jìn)卡裝置、讀卡檢測(cè)裝置和取卡裝置，安裝板固定設(shè)置，進(jìn)卡裝置、讀卡檢測(cè)裝置和取卡裝置安裝于所述安裝板上，測(cè)試卡承載盤水平固設(shè)于安裝板的上方，其特征是:所述撥卡裝置上沿圓周均勻設(shè)置有多個(gè)測(cè)試卡固定件，所述測(cè)試卡固定件沿徑向延伸至測(cè)試卡承載盤的外圓周，每個(gè)測(cè)試卡固定件上包括開(kāi)口向上的凹槽，所述凹槽的寬度與測(cè)試卡的寬度相匹配;所述進(jìn)卡裝置沿徑向輸送測(cè)試卡至所述凹槽，所述讀卡檢測(cè)裝置可沿所述撥卡裝置徑向移動(dòng)以檢測(cè)所述凹槽內(nèi)的測(cè)試卡的熒光強(qiáng)度，所述取卡裝置沿徑向?qū)⒔?jīng)過(guò)檢測(cè)后的測(cè)試卡從所述凹槽內(nèi)取出。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一體定位式熒光測(cè)試儀，其特征是:所述測(cè)試卡固定件的兩側(cè)和一端均設(shè)有定位塊，所述定位塊的中心設(shè)有用于將測(cè)試卡固定件安裝到所述撥卡裝置上的定位孔，所述測(cè)試卡固定件的另一端沿徑向延伸至測(cè)試卡承載盤的外圓周。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一體定位式熒光測(cè)試儀，其特征是:所述進(jìn)卡裝置包括進(jìn)卡承載盤、進(jìn)卡導(dǎo)軌和下方開(kāi)槽的進(jìn)卡盒，所述進(jìn)卡導(dǎo)軌位于所述進(jìn)卡承載盤的下方并沿所述撥卡裝置徑向設(shè)置，所述進(jìn)卡承載盤上均勻設(shè)置有用于安裝所述進(jìn)卡盒的引導(dǎo)槽，所述引導(dǎo)槽沿所述進(jìn)卡導(dǎo)軌徑向設(shè)置。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一體定位式熒光測(cè)試儀，其特征是:還包括位于所述測(cè)試卡承載盤下方的頂卡裝置，所述進(jìn)卡導(dǎo)軌沿所述撥卡裝置的軸心徑向移動(dòng)所述進(jìn)卡盒底部的測(cè)試卡時(shí)，所述頂卡裝置向上凸起穿過(guò)所述測(cè)試卡承載盤和撥卡裝置，伸入所述凹槽的末端，并伸入所述進(jìn)卡盒的下方開(kāi)設(shè)的槽中，推動(dòng)所述進(jìn)卡盒底部的測(cè)試卡至所述凹槽中。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一體定位式熒光測(cè)試儀，其特征是:所述讀卡檢測(cè)裝置位于所述撥卡裝置的上方，其包括互相平行的螺紋絲桿和導(dǎo)軌支架，螺紋絲桿和導(dǎo)軌支架沿?fù)芸ㄑb置的徑向水平固定于所述安裝板，所述螺紋絲桿裝有用于檢測(cè)所述凹槽內(nèi)的測(cè)試卡的測(cè)量光路盒。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一體定位式熒光測(cè)試儀，其特征是:所述測(cè)試卡承載盤和撥卡裝置均為圓盤狀，所述測(cè)試卡承載盤的直徑大于所述撥卡裝置的直徑。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一體定位式熒光測(cè)試儀，其特征是:所述取卡裝置位于所述撥卡裝置的上方，其包括由皮帶輪驅(qū)動(dòng)而沿所述撥卡裝置徑向移動(dòng)的取卡器。
【文檔編號(hào)】G01N21/01GK205506683SQ201620180535
【公開(kāi)日】2016年8月24日
【申請(qǐng)日】2016年3月9日
【發(fā)明人】王治才, 李軍民
【申請(qǐng)人】王治才