一種光電傳感器測試設備的制造方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種光電傳感器測試設備，包括機構(gòu)底座、測試軌道和測試暗室，所述機構(gòu)底座具有斜坡；所述測試軌道沿斜坡鋪設，使得待測光電傳感器能夠利用自身重力沿著所述測試軌道的一斜邊由上而下滑動；所述測試暗室位于測試軌道上，測試暗室內(nèi)設置有支撐裝置、反射板和標準光源：所述支撐裝置將測試暗室分隔為第一暗室和第二暗室，第一暗室和第二暗室沿測試軌道由上往下依次設置，用于支撐所述反射板和標準光源；所述反射板設置于第一暗室和第二暗室的頂部；所述標準光源設置于第一暗室或第二暗室頂部的反射板上。本實用新型具有節(jié)能、誤差小、測試時間短、效率高等諸多優(yōu)點。
【專利說明】
一種光電傳感器測試設備
技術(shù)領域
[0001]本實用新型屬于光電傳感器測試設備技術(shù)領域，尤其是涉及一種光電傳感器測試設備。
【背景技術(shù)】
[0002]光電傳感器是一種目前普遍使用于手機、平板以及可穿戴裝置中的無源器件。光電傳感器集成了紅外發(fā)射芯片和感光芯片于一體的光學器件。光電傳感器外形尺寸小，適配性強，被廣泛應用。
[0003]測試光電感應器的測試機，需要測試光電感應器的兩項主要功能，即環(huán)境光響應功能和接近傳感器的功能。測試機需要迅速而準確的探測產(chǎn)品的主要電性能和光學性能。電性能方面比較容易實現(xiàn)，但是光學性能的測試存在很多難以實現(xiàn)的部分。
[0004]其中，光電傳感器上接近傳感器的原理在于:光電傳感器自身發(fā)射紅外信號，通過外部反射來判定物體的接近程度，并可通過接收到的反射信號將手機屏幕關(guān)閉，防止誤操作，影響通話。光電傳感器的另外一個主要功能是響應外部環(huán)境光的強弱，來調(diào)整手機屏幕的亮度，達到與人眼相匹配的程度，提高使用的舒適度。
[0005]目前已有的測試機通過轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)到固定位置，該固定位置有反射板，反射板的位置和高度固定，反射板上有特殊固定反射率的反射灰卡，該待測光電感應器在通電之后，感光芯片探測反射的光線強度并通過I2C方式輸出。由于感光芯片的靈敏度非常高，感光芯片常常會探測到由四周反射回來的光線，而非有固定反射灰卡反射回來的光線。
[0006]目前的光電感應器件都使用近紅外的發(fā)射芯片，發(fā)出不可見的紅外光。但是近紅外部分作為環(huán)境光的一部分，感光芯片在探測環(huán)境光強度的同時一樣會探測到自身發(fā)射芯片發(fā)出的紅外部分光線，這些情況對測試都會造成很大的困難。
[0007]現(xiàn)有的光電傳感器測試機臺存在以下技術(shù)上的缺陷:
[0008]1.需要訂制昂貴的轉(zhuǎn)盤，只能運送特殊大小尺寸的產(chǎn)品；
[0009]2.由于測試環(huán)境光響應功能和測試接近傳感器功能的區(qū)域都需要在黑色的區(qū)域中進行，但是即使轉(zhuǎn)盤噴黑漆之后，仍會有一定的反射。這對光學性能的測試精準度造成較大的影響。
【實用新型內(nèi)容】
[0010]鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點，本實用新型的目的在于提供一種光電傳感器測試設備，通過簡單而快捷的方式測量光學性能，測試機構(gòu)容易制造，測試機構(gòu)的價格可以大幅度降低，測試的速度可以大幅度提升，并且可以在很大程度上降低外界反射的影響，有效提高測試精準度。
[0011 ]為了達到上述實用新型目的，解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案如下:
[0012]本實用新型公開了一種光電傳感器測試設備，包括機構(gòu)底座、測試軌道和測試暗室，其中:
[0013]所述機構(gòu)底座具有斜坡；
[0014]所述測試軌道沿所述斜坡鋪設，使得待測光電傳感器能夠利用自身重力沿著所述測試軌道的一斜邊由上而下滑動；
[0015]所述測試暗室位于所述測試軌道上，所述測試暗室內(nèi)設置有支撐裝置、反射板和標準光源:
[0016]所述支撐裝置將所述測試暗室分隔為第一暗室和第二暗室，所述第一暗室和第二暗室沿所述測試軌道由上往下依次設置，用于支撐所述反射板和標準光源；
[0017]所述反射板設置于所述第一暗室和第二暗室的頂部；
[0018]所述標準光源設置于第一暗室或第二暗室頂部的反射板上。
[0019]優(yōu)選的，所述支撐裝置為間隔板，所述間隔板的尺寸大小與所述測試暗室的大小相匹配，用于支撐所述反射板和標準光源。
[0020]進一步的，所述第一暗室入口處設有第一彈性擋片，所述第一彈性擋片對應的測試軌道在垂直于所述待測光電傳感器運動方向上設置有第一伸縮擋片；
[0021]所述支撐裝置設有第二彈性擋片，所述第二彈性擋片對應的測試軌道在垂直于所述待測光電傳感器運動方向上設置有第二伸縮擋片；
[0022]所述第二暗室出口處設有第三彈性擋片，所述第三彈性擋片對應的測試軌道在垂直于所述待測光電傳感器運動方向上設置有第三伸縮擋片。
[0023]進一步的，所述測試軌道垂直于所述待測光電傳感器運動方向的橫截面為內(nèi)凹型結(jié)構(gòu)，所述測試軌道底部還設有一凹槽，所述凹槽的寬度與所述待測光電傳感器的寬度相匹配，所述待測光電傳感器能夠放置于所述凹槽內(nèi)。
[0024]優(yōu)選的，所述凹槽與所述測試軌道兩側(cè)的內(nèi)側(cè)壁各具有一間隙，形成一四周中空的空間區(qū)域，使得所述待測光電傳感器的上表面四周沒有反射面。
[0025]進一步的，所述測試軌道上設置有兩個測試底座，兩個所述測試底座分別位于所述第一暗室和第二暗室對應的測試軌道上，兩個所述測試底座內(nèi)嵌設有多組測試探針，所述測試探針與待測光電傳感器電性接觸，測試所述待測光電傳感器的電學性能。
[0026]進一步的，所述第一暗室和第二暗室的所有內(nèi)壁噴涂為經(jīng)過特殊處理的沒有漫反射的全黑色。
[0027]進一步的，所述第一暗室和第二暗室位于測試軌道的中間區(qū)域。
[0028]進一步的，所述第一暗室和/或第二暗室的高度大于所述待測光電傳感器的反射灰卡的高度，能夠忽略不計所述待測光電傳感器所發(fā)射光線經(jīng)由所述第一暗室和/或第二暗室的各個內(nèi)側(cè)面所反射的光強度。
[0029]本實用新型由于采用以上技術(shù)方案，使之與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下的優(yōu)點和積極效果:
[0030]1.本實用新型測試軌道的斜坡式設計，利用了待測光電傳感器自身的重力作為動力傳輸，可以有效減少傳動裝置，有利于節(jié)能環(huán)保；
[0031]2.本實用新型測試暗室中的特殊結(jié)構(gòu)，尤其是測試軌道的特殊設計結(jié)構(gòu)，可以有效減少光學干擾，將機械測試誤差降低到最小程度，并將原有的光學干擾值降低50%-80% ；
[0032]3.本實用新型中由黑色間隔板將光電傳感器的功能測試部分一分為二，互不干擾，且兩個暗室能同時測試，測試的時間大幅度降低，測試效率大幅度提升。
【附圖說明】
[0033]為了更清楚地說明本實用新型實施例的技術(shù)方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單的介紹。顯而易見，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領域技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。附圖中:
[0034]圖1為本實用新型一種光電傳感器測試設備中的光電傳感器的剖面結(jié)構(gòu)示意圖；
[0035]圖2為本實用新型一種光電傳感器測試設備中包含測試暗箱外箱的測試設備側(cè)視圖；
[0036]圖3為本實用新型一種光電傳感器測試設備中測試暗箱打開后的測試設備側(cè)視圖；
[0037]圖4為本實用新型一種光電傳感器測試設備中測試軌道特殊結(jié)構(gòu)的剖視圖；
[0038]圖5為本實用新型一種光電傳感器測試設備中測試軌道特殊結(jié)構(gòu)的俯視圖。
[0039]【主要符號說明】:
[0040]1-發(fā)光源；
[0041 ] 2-光信號接收芯片；
[0042]3-機構(gòu)底座；
[0043]4-測試軌道；
[0044]5-測試暗室；
[0045]6-反射板；
[0046]7-支撐裝置；
[0047]8-標準光源；
[0048]9-待測光電傳感器；
[0049]10-測試底座；
[0050]11-測試探針；
[0051]12-空間區(qū)域。
【具體實施方式】
[0052]以下將結(jié)合本實用新型的附圖，對本實用新型實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整的描述和討論，顯然，這里所描述的僅僅是本實用新型的一部分實例，并不是全部的實例，基于本實用新型中的實施例，本領域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型的保護范圍。
[0053]圖1為需要測試的光電傳感器的剖面結(jié)構(gòu)圖，該光電傳感器的主要結(jié)構(gòu)包括有發(fā)光源I和用于光學響應的光信號接收芯片2。該光電傳感器的主要功能:
[0054]一是用于測試環(huán)境光的強弱，根據(jù)環(huán)境光的強弱來調(diào)整應用電子產(chǎn)品的屏幕亮度。
[0055]二是用于測試接近傳感器的功能，光電傳感器自身的發(fā)光源發(fā)射出特定光強的光，根據(jù)反射光的強弱判斷反射物接近程度，并根據(jù)響應判斷關(guān)閉應用的電子產(chǎn)品，比如手機屏幕的按鍵，避免在通話中的誤操作。
[0056]下面即通過具體的實施例來闡述本實用新型中光電傳感器測試設備的改進結(jié)構(gòu)及其測試方法。
[0057]如圖2-5所示，本實用新型公開了一種光電傳感器測試設備，包括機構(gòu)底座3、測試軌道4和測試暗室5，其中:
[0058]所述機構(gòu)底座3具有斜坡，本實施例中，不對所述機構(gòu)底座3作具體形狀上的限制，可以是三角形或梯形，只需滿足具有一斜邊即可；
[0059]所述測試軌道4沿所述斜邊由上而下鋪設，使得待測光電傳感器9能夠利用自身重力沿著所述測試軌道4的一斜邊由上而下滑動；
[0060]所述測試暗室5位于所述測試軌道4上，本實施例中，所述測試暗室5用于遮擋外界的環(huán)境光對待測光電傳感器9測試造成光學部分的干擾，其內(nèi)部設置有支撐裝置7、反射板6和標準光源8:
[0061 ]所述支撐裝置7將所述測試暗室5分隔為第一暗室和第二暗室，所述第一暗室和第二暗室沿所述測試軌道4由上往下依次設置，用于支撐所述反射板和標準光源；
[0062]所述反射板6設置于所述第一暗室和第二暗室的頂部，所述反射板6的作用在于測試光電傳感器9的接近功能；
[0063]所述標準光源8設置于第一暗室或第二暗室頂部的反射板6上，所述標準光源8的作用在于測試光電傳感器9的環(huán)境光響應功能。
[0064]其中，所述支撐裝置7可以是只起到支撐作用的中間有鏤空部分的支撐件，而經(jīng)過優(yōu)化設計，本實施例中，所述支撐裝置7采用全黑色的間隔板，所述間隔板的尺寸大小與所述測試暗室5的大小相匹配，一來用于區(qū)分第一暗室和第二暗室，二來用于支撐所述反射板6和標準光源8。既可以實現(xiàn)多種測試功能又可以有效節(jié)約測試空間。
[0065]本實施例中，所述第一暗室入口處設有第一彈性擋片(未圖示)，所述第一彈性擋片對應的測試軌道4在垂直于所述待測光電傳感器9運動方向上設置有第一伸縮擋片(未圖示);
[0066]所述支撐裝置7設有第二彈性擋片(未圖示)，所述第二彈性擋片對應的測試軌道4在垂直于所述待測光電傳感器9運動方向上設置有第二伸縮擋片(未圖示)；
[0067]所述第二暗室出口處設有第三彈性擋片(未圖示)，所述第三彈性擋片對應的測試軌道4在垂直于所述待測光電傳感器9運動方向上設置有第三伸縮擋片(未圖示)。
[0068]本實施例中，兩個暗室分別用于檢測待測光電傳感器9的環(huán)境光響應功能和接近傳感器功能，其中，在測試環(huán)境光響應功能部分，其內(nèi)部裝有標準光源，用于檢測待測光電傳感器9的環(huán)境光響應功能;在測試接近傳感器功能部分，是通過安裝在測試暗室5頂部的反射板6的光反射來測試待測光電傳感器9的對應功能;而此處間隔板的作用在于避免兩個暗室中測試之間的光學干擾，該測試設備設計測試待測光電傳感器9的優(yōu)越部分在于將待測光電傳感器9的性能測試一分為二，并且可以實現(xiàn)同時測試。因此測試的時間可以大幅度降低，測試效率大幅度提升。由于第一部分的測試須有開啟標準光源，如果沒有間隔板，第一部分的發(fā)光源必然會影響到第二部分的光學性能測試，反之亦然。
[0069]進一步的，所述測試軌道4垂直于所述待測光電傳感器9運動方向的橫截面為內(nèi)凹型結(jié)構(gòu)，所述測試軌道4底部還設有一凹槽，所述凹槽的寬度與所述待測光電傳感器9的寬度相匹配，所述待測光電傳感器9能夠放置于所述凹槽內(nèi)，使得所述待測光電傳感器9沿所述測試軌道4運動。此外，所述凹槽與所述測試軌道4兩側(cè)的內(nèi)側(cè)壁各具有一間隙，形成一四周中空的空間區(qū)域，使得所述待測光電傳感器9的上表面四周沒有反射面，只有頂部的反射板6可以反射光，從而得到精準的測試結(jié)果。本實施例中，考慮到測試軌道4即使在測試暗室5中，也會有微弱的光反射存在，同樣會影響到待測光電傳感器9的實際測試值的準確性，而上述的空間區(qū)域12的特殊設計可以有效減少測試中的機械誤差，將原有的光學干擾值降低50%-80%。
[0070]優(yōu)選實施例中，所述測試軌道4的底部具有一與所述待測光電傳感器9寬度相等的凹槽，所述待測光電傳感器9沿所述凹槽下滑。該設計的作用在于，所述凹槽在可以支持待測光電傳感器9的同時，也可以引導待測光電傳感器9的運動方向，使之不會偏離測試軌道4而影響最后的測試結(jié)果。
[0071]進一步的，所述測試軌道4上設置有兩個測試底座10，兩個所述測試底座10分別位于所述第一暗室和第二暗室對應的測試軌道4上，兩個所述測試底座10內(nèi)嵌設有多組測試探針U，所述測試探針11與待測光電傳感器9電性接觸，測試所述待測光電傳感器9的電學性能，并將測試結(jié)果傳輸?shù)綔y試設備的軟件部分，進行讀數(shù)和運算判定。
[0072]優(yōu)選實施例中，所述第一暗室和第二暗室的所有內(nèi)壁噴涂為經(jīng)過特殊處理的沒有漫反射的全黑色。本實施例中，由于需要測試的產(chǎn)品為光電傳感器，該光電傳感器的主要功能具有接近光響應的功能。為了減少周圍環(huán)境的光反射干擾，測試暗室5和測試軌道4都需要使用表面處理，噴涂黑漆，將光反射減小到最低。即使是固定的螺絲和螺帽都需要進行同樣的表面處理。
[0073]進一步的，所述第一暗室和第二暗室位于測試軌道4的中間區(qū)域，即所述機構(gòu)基座I 一斜邊的中間位置。
[0074]此外，所述第一暗室和/或第二暗室的高度遠大于待測光電傳感器9的反射灰卡的高度。因此測試暗室5的反射效應遠小于測試用的待測光電傳感器9的反射灰卡的反射效應。所述測試暗室5的空間非常大，遠大于感光芯片可以探測的范圍，能夠忽略不計所述待測光電傳感器9所發(fā)射光線經(jīng)由所述第一暗室和/或第二暗室的各個內(nèi)側(cè)面所反射的光強度。
[0075]由于采用了以上的測試設備，本實用新型達到了以下的有益效果:
[0076]1.本實用新型測試軌道的斜坡式設計，利用了待測光電傳感器自身的重力作為動力傳輸，可以有效減少傳動裝置，有利于節(jié)能環(huán)保；
[0077]2.本實用新型測試暗室中的特殊結(jié)構(gòu)，尤其是測試軌道的特殊設計結(jié)構(gòu)，可以有效減少光學干擾，將機械測試誤差降低到最小程度，并將原有的光學干擾值降低50%_80% ；
[0078]3.本實用新型中由黑色間隔板將光電傳感器的功能測試部分一分為二，互不干擾，且兩個暗室能同時測試，測試的時間大幅度降低，測試效率大幅度提升。
[0079]以上所述，僅為本實用新型較佳的【具體實施方式】，但本實用新型的保護范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領域的技術(shù)人員在本實用新型揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換，都應涵蓋在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。因此，本實用新型的保護范圍應該以權(quán)利要求的保護范圍為準。
【主權(quán)項】
1.一種光電傳感器測試設備，其特征在于，包括機構(gòu)底座、測試軌道和測試暗室，其中: 所述機構(gòu)底座具有斜坡； 所述測試軌道沿所述斜坡鋪設，使得待測光電傳感器能夠利用自身重力沿著所述測試軌道的一斜邊由上而下滑動； 所述測試暗室位于所述測試軌道上，所述測試暗室內(nèi)設置有支撐裝置、反射板和標準光源: 所述支撐裝置將所述測試暗室分隔為第一暗室和第二暗室，所述第一暗室和第二暗室沿所述測試軌道由上往下依次設置，用于支撐所述反射板和標準光源； 所述反射板設置于所述第一暗室和第二暗室的頂部； 所述標準光源設置于第一暗室或第二暗室頂部的反射板上。2.如權(quán)利要求1所述的一種光電傳感器測試設備，其特征在于，所述支撐裝置為間隔板，所述間隔板的尺寸大小與所述測試暗室的大小相匹配，用于支撐所述反射板和標準光源。3.如權(quán)利要求1所述的一種光電傳感器測試設備，其特征在于， 所述第一暗室入口處設有第一彈性擋片，所述第一彈性擋片對應的測試軌道在垂直于所述待測光電傳感器運動方向上設置有第一伸縮擋片； 所述支撐裝置設有第二彈性擋片，所述第二彈性擋片對應的測試軌道在垂直于所述待測光電傳感器運動方向上設置有第二伸縮擋片； 所述第二暗室出口處設有第三彈性擋片，所述第三彈性擋片對應的測試軌道在垂直于所述待測光電傳感器運動方向上設置有第三伸縮擋片。4.如權(quán)利要求1所述的一種光電傳感器測試設備，其特征在于，所述測試軌道垂直于所述待測光電傳感器運動方向的橫截面為內(nèi)凹型結(jié)構(gòu)，所述測試軌道底部還設有一凹槽，所述凹槽的寬度與所述待測光電傳感器的寬度相匹配，所述待測光電傳感器能夠放置于所述凹槽內(nèi)。5.如權(quán)利要求4所述的一種光電傳感器測試設備，其特征在于，所述凹槽與所述測試軌道兩側(cè)的內(nèi)側(cè)壁各具有一間隙，形成一四周中空的空間區(qū)域，使得所述待測光電傳感器的上表面四周沒有反射面。6.如權(quán)利要求1所述的一種光電傳感器測試設備，其特征在于，所述測試軌道上設置有兩個測試底座，兩個所述測試底座分別位于所述第一暗室和第二暗室對應的測試軌道上，兩個所述測試底座內(nèi)嵌設有多組測試探針，所述測試探針與待測光電傳感器電性接觸，測試所述待測光電傳感器的電學性能。7.如權(quán)利要求1所述的一種光電傳感器測試設備，其特征在于，所述第一暗室和第二暗室的所有內(nèi)壁噴涂為經(jīng)過特殊處理的沒有漫反射的全黑色。8.如權(quán)利要求1所述的一種光電傳感器測試設備，其特征在于，所述第一暗室和第二暗室位于測試軌道的中間區(qū)域。9.如權(quán)利要求1所述的一種光電傳感器測試設備，其特征在于，所述第一暗室和/或第二暗室的高度大于所述待測光電傳感器的反射灰卡的高度，能夠忽略不計所述待測光電傳感器所發(fā)射光線經(jīng)由所述第一暗室和/或第二暗室的各個內(nèi)側(cè)面所反射的光強度。
【文檔編號】G01D18/00GK205483012SQ201620270446
【公開日】2016年8月17日
【申請日】2016年4月1日
【發(fā)明人】顏莉華
【申請人】南京慧感電子科技有限公司