一種用于檢測(cè)光耦的在線測(cè)試儀的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及空調(diào)生產(chǎn)檢測(cè)儀器領(lǐng)域，尤其涉及可以檢測(cè)光耦受光端撇腳的ICT設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]ICT (In-Circuit Test)又稱在線測(cè)試儀，如同一塊功能強(qiáng)大的萬(wàn)用表，主要是靠測(cè)試探針接觸PCB上的測(cè)試點(diǎn)來(lái)檢測(cè)PCB的線路開路、短路，所有零件的焊接情況，其作用是檢測(cè)生產(chǎn)PCB時(shí)所出現(xiàn)的裝配故障，包括元器件的錯(cuò)裝、反裝、漏裝等及焊接故障，如開路、短路，約占整個(gè)電路板故障85%。還可以增加選配配置，檢測(cè)電路板的功能故障，例如檢測(cè)輸入，輸出，頻率，波形，邏輯等，約占整個(gè)電路板故障的15%。
[0003]ICT測(cè)試設(shè)備對(duì)于光親的受光端撇腳一直以來(lái)是個(gè)盲點(diǎn)，未檢測(cè)的光親在總裝整機(jī)負(fù)載后下線，會(huì)影響總裝的直通率，以及電子的品質(zhì)指標(biāo)。分析光耦無(wú)法測(cè)量的原因是ICT對(duì)于光耦的測(cè)試使用的是測(cè)試光耦發(fā)光端的PN結(jié)來(lái)判斷光耦的漏裝和反裝。但是光耦受光端無(wú)PN結(jié)，這樣就會(huì)出現(xiàn)當(dāng)受光端撇腳或者虛焊ICT判斷不出來(lái)的情況，導(dǎo)致總裝下線。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題是實(shí)現(xiàn)一種能夠在線檢測(cè)光耦的受光端是否撇腳或虛焊的線測(cè)試儀。
[0005]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案為:一種用于檢測(cè)光耦的在線測(cè)試儀，包括在線測(cè)試儀本體，待檢測(cè)的光耦的發(fā)光控制端和受光被控端均通過(guò)測(cè)試儀本體接通電源電路，所述的受光被控端連接有用于測(cè)量電壓的第二測(cè)量機(jī)構(gòu)。
[0006]所述的發(fā)光控制端連接有用于測(cè)量電流的第一測(cè)量機(jī)構(gòu)。
[0007]所述的第一測(cè)量機(jī)構(gòu)和第二測(cè)量機(jī)構(gòu)為在線測(cè)試儀本體的測(cè)量機(jī)構(gòu)。
[0008]所述的第一測(cè)量機(jī)構(gòu)通過(guò)兩個(gè)頂針?lè)謩e接觸發(fā)光控制端的兩個(gè)引腳；所述的第二測(cè)量機(jī)構(gòu)通過(guò)兩個(gè)頂針接觸受光被控端的兩個(gè)引腳。
[0009]本實(shí)用新型在線測(cè)試儀，改善了工廠內(nèi)部測(cè)試效果，提高產(chǎn)品質(zhì)量的可靠性與一致性，在檢測(cè)過(guò)程中，人的可變因素太多，產(chǎn)品質(zhì)量會(huì)因人的可變因素的變化而變化，ICT設(shè)備有效解決了這個(gè)問(wèn)題，讓產(chǎn)品質(zhì)量的可靠性一致性更強(qiáng)。ICT測(cè)試對(duì)光耦受光端(3、4端)撇腳測(cè)試100%測(cè)出，彌補(bǔ)了 ICT對(duì)光耦元器件檢測(cè)的全面覆蓋性，徹底杜絕自錯(cuò)而流入下工序。光耦虛焊、撇腳、漏、反，全都能檢測(cè)，總裝無(wú)下線，降低制造技術(shù)難度，提升制造能力。ICT的測(cè)試報(bào)告具體到每一個(gè)不良元器件，不需要再進(jìn)行技術(shù)人員由功能不良分析器件不良的過(guò)程，大大降低了生產(chǎn)過(guò)程中的技術(shù)需要，提升制造能力。
【附圖說(shuō)明】
[0010]下面對(duì)本實(shí)用新型說(shuō)明書中每幅附圖表達(dá)的內(nèi)容及圖中的標(biāo)記作簡(jiǎn)要說(shuō)明:
[0011]圖1用于檢測(cè)光耦的在線測(cè)試儀結(jié)構(gòu)示意圖；
[0012]圖2為光耦檢測(cè)原理圖；
[0013]上述圖中的標(biāo)記均為:1、光耦；2、發(fā)光控制端；3、受光被控端；4、第一測(cè)量機(jī)構(gòu)；
5、第二測(cè)量機(jī)構(gòu)。
【具體實(shí)施方式】
[0014]如圖1、2所示，本實(shí)用新型是針對(duì)在線測(cè)試儀(ICT設(shè)備)使用結(jié)構(gòu)的改進(jìn)，在檢測(cè)光耦1時(shí)，利用在線測(cè)試儀本體的電源電路，分別接通光耦1的發(fā)光控制端2和受光被控端3，實(shí)現(xiàn)發(fā)光控制端2和受光被控端3的電導(dǎo)通，同時(shí)受光被控端3連接有用于測(cè)量電壓的第二測(cè)量機(jī)構(gòu)5，通過(guò)發(fā)光控制端2電源電路的電流變化觀察第二測(cè)量機(jī)構(gòu)5的電壓變化，則能夠檢測(cè)出光耦1的發(fā)光控制端2和受光被控端3的好壞，這樣在品質(zhì)上有效降低下線率，提高ICT試覆蓋率，減少市場(chǎng)下線。
[0015]此外，還可以在發(fā)光控制端2連接有用于測(cè)量電流的第一測(cè)量機(jī)構(gòu)4，方便觀察發(fā)光控制端2電源電路的電流變化，可以用于與第二測(cè)量機(jī)構(gòu)5的數(shù)據(jù)變化比對(duì)，更加準(zhǔn)確的獲得光耦1的質(zhì)量?jī)?yōu)劣。第一測(cè)量機(jī)構(gòu)4和第二測(cè)量機(jī)構(gòu)5為在線測(cè)試儀本體的測(cè)量機(jī)構(gòu)，同時(shí)第一測(cè)量機(jī)構(gòu)4通過(guò)兩個(gè)頂針?lè)謩e接觸發(fā)光控制端2的兩個(gè)引腳，第二測(cè)量機(jī)構(gòu)5通過(guò)兩個(gè)頂針接觸受光被控端3的兩個(gè)引腳，方便線路連接和拆卸，提高檢測(cè)效率。
[0016]上面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行了示例性描述，顯然本實(shí)用新型具體實(shí)現(xiàn)并不受上述方式的限制，只要采用了本實(shí)用新型的方法構(gòu)思和技術(shù)方案進(jìn)行的各種非實(shí)質(zhì)性的改進(jìn)，或未經(jīng)改進(jìn)將本實(shí)用新型的構(gòu)思和技術(shù)方案直接應(yīng)用于其它場(chǎng)合的，均在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種用于檢測(cè)光耦的在線測(cè)試儀，包括在線測(cè)試儀本體，其特征在于:待檢測(cè)的光耦的發(fā)光控制端和受光被控端均通過(guò)測(cè)試儀本體接通電源電路，所述的受光被控端連接有用于測(cè)量電壓的第二測(cè)量機(jī)構(gòu)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于檢測(cè)光耦的在線測(cè)試儀，其特征在于:所述的發(fā)光控制端連接有用于測(cè)量電流的第一測(cè)量機(jī)構(gòu)。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于檢測(cè)光耦的在線測(cè)試儀，其特征在于:所述的第一測(cè)量機(jī)構(gòu)和第二測(cè)量機(jī)構(gòu)為在線測(cè)試儀本體的測(cè)量機(jī)構(gòu)。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于檢測(cè)光耦的在線測(cè)試儀，其特征在于:所述的第一測(cè)量機(jī)構(gòu)通過(guò)兩個(gè)頂針?lè)謩e接觸發(fā)光控制端的兩個(gè)引腳；所述的第二測(cè)量機(jī)構(gòu)通過(guò)兩個(gè)頂針接觸受光被控端的兩個(gè)引腳。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種用于檢測(cè)光耦的在線測(cè)試儀，包括在線測(cè)試儀本體，待檢測(cè)的光耦的發(fā)光控制端和受光被控端均通過(guò)測(cè)試儀本體接通電源電路，所述的受光被控端連接有用于測(cè)量電壓的第二測(cè)量機(jī)構(gòu)。本實(shí)用新型在線測(cè)試儀，改善了工廠內(nèi)部測(cè)試效果，提高產(chǎn)品質(zhì)量的可靠性與一致性,在檢測(cè)過(guò)程中,人的可變因素太多,產(chǎn)品質(zhì)量會(huì)因人的可變因素的變化而變化,ICT設(shè)備有效解決了這個(gè)問(wèn)題,讓產(chǎn)品質(zhì)量的可靠性一致性更強(qiáng)。
【IPC分類】G01R31/02
【公開號(hào)】CN205067654
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520861823
【發(fā)明人】吳承明, 蔣永福, 邢仁奎
【申請(qǐng)人】蕪湖美智空調(diào)設(shè)備有限公司, 邯鄲美的制冷設(shè)備有限公司, 重慶美的制冷設(shè)備有限公司
【公開日】2016年3月2日
【申請(qǐng)日】2015年10月29日