用于磁保持繼電器批量檢測(cè)的壓降自動(dòng)補(bǔ)償裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本實(shí)用新型涉及磁保持繼電器批量檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種用于磁保持繼電 器批量檢測(cè)的壓降自動(dòng)補(bǔ)償裝置。
【背景技術(shù)】
[0002] 中國專利201120501581. 9公開了一種磁保持繼電器批量檢測(cè)裝置,該磁保持繼 電器批量檢測(cè)裝置采用串聯(lián)連接測(cè)試方法,即所有受檢繼電器串接在同一電流回路上,由 于是串聯(lián)接線,通常情況下,如果前級(jí)繼電器斷開,則后級(jí)繼電器上將沒有電流流過,這樣 后面的繼電器就不能夠進(jìn)行正常的帶載檢測(cè)了。為了能夠使多個(gè)繼電器進(jìn)行批量同時(shí)測(cè) 試,必須需要一種電流自動(dòng)旁路機(jī)構(gòu),在檢測(cè)到某個(gè)檢測(cè)位的繼電器斷開后,電流自動(dòng)旁路 機(jī)構(gòu)自動(dòng)生效,電流從旁路機(jī)構(gòu)流到下一個(gè)繼電器,這樣后面的繼電器就可以進(jìn)行帶載檢 測(cè)了。
[0003] 電流自動(dòng)旁路機(jī)構(gòu)是一個(gè)非常重要的關(guān)鍵部件,當(dāng)某個(gè)或某些檢測(cè)位的受檢繼電 器處于斷開狀態(tài)時(shí),為滿足其他受檢繼電器處于帶載狀態(tài)的測(cè)試要求,這些處于斷開狀態(tài) 的受檢繼電器所對(duì)應(yīng)的電流自動(dòng)旁路機(jī)構(gòu)必須處于導(dǎo)通狀態(tài),這就需要其導(dǎo)通壓降要小, 否則會(huì)影響后續(xù)其他受檢繼電器的負(fù)載大小。 【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004] 為解決現(xiàn)有技術(shù)中的不足,本實(shí)用新型提供一種用于磁保持繼電器批量檢測(cè)的壓 降自動(dòng)補(bǔ)償裝置,解決了磁保持繼電器批量檢測(cè)時(shí)電流自動(dòng)旁路機(jī)構(gòu)閉合產(chǎn)生導(dǎo)通壓降, 對(duì)后續(xù)表位的負(fù)載電流產(chǎn)生影響的問題。
[0005] 為了實(shí)現(xiàn)上述目標(biāo),本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案:一種用于磁保持繼電器批量 檢測(cè)的壓降自動(dòng)補(bǔ)償裝置,其特征在于,包括MCU控制器、分別與所述MCU控制器相連的壓 降補(bǔ)償單元、負(fù)載切換單元和通訊接口;所述壓降補(bǔ)償單元和負(fù)載切換單元并聯(lián)連接;所 述通訊接口連接磁保持繼電器批量檢測(cè)裝置中的測(cè)試主機(jī)。
[0006] 前述的一種用于磁保持繼電器批量檢測(cè)的壓降自動(dòng)補(bǔ)償裝置,其特征是:所述壓 降補(bǔ)償單元包括若干串聯(lián)連接的電阻,每個(gè)電阻分別并聯(lián)有各自的繼電器開關(guān)。
[0007] 前述的一種用于磁保持繼電器批量檢測(cè)的壓降自動(dòng)補(bǔ)償裝置,其特征是:所述負(fù) 載切換單元包括若干串聯(lián)連接的電阻,每個(gè)電阻分別并聯(lián)有各自的繼電器開關(guān)。
[0008] 前述的一種用于磁保持繼電器批量檢測(cè)的壓降自動(dòng)補(bǔ)償裝置,其特征是:所述壓 降補(bǔ)償單元串聯(lián)連接繼電器開關(guān)KO后并聯(lián)連接所述負(fù)載切換單元。
[0009] 前述的一種用于磁保持繼電器批量檢測(cè)的壓降自動(dòng)補(bǔ)償裝置,其特征是:所述壓 降補(bǔ)償單元和負(fù)載切換單元的并聯(lián)連接電路與受檢繼電器電路串聯(lián)連接。
[0010] 本實(shí)用新型所達(dá)到的有益效果:通過MCU控制器、壓降補(bǔ)償單元調(diào)整回路中的負(fù) 載電阻,使得回路中的電流保持在額定負(fù)載電流處,性能穩(wěn)定可靠,可自動(dòng)控制,可以廣泛 應(yīng)用在磁保持繼電器批量檢測(cè)裝置上,保證測(cè)試負(fù)載電流的準(zhǔn)確性。
【附圖說明】
[0011] 圖1是壓降自動(dòng)補(bǔ)償裝置與串聯(lián)的受檢繼電器連接示意圖;
[0012] 圖2是壓降自動(dòng)補(bǔ)償裝置原理圖。
【具體實(shí)施方式】
[0013] 下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步描述。以下實(shí)施例僅用于更加清楚地說明本 實(shí)用新型的技術(shù)方案,而不能以此來限制本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
[0014] 如圖1-2所示,一種用于磁保持繼電器批量檢測(cè)的壓降自動(dòng)補(bǔ)償裝置,包括MCU控 制器、分別與所述MCU控制器相連的壓降補(bǔ)償單元、負(fù)載切換單元和通訊接口;所述通訊接 口連接磁保持繼電器批量檢測(cè)的測(cè)試主機(jī),用于接受測(cè)試主機(jī)發(fā)送的命令,如繼電器啟閉, 對(duì)測(cè)試回路負(fù)載大小進(jìn)行調(diào)整;所述壓降補(bǔ)償單元和負(fù)載切換單元并聯(lián)連接;所述壓降補(bǔ) 償單元包括若干串聯(lián)連接的電阻,每個(gè)電阻分別并聯(lián)有各自的繼電器開關(guān);所述負(fù)載切換 單元用于切換負(fù)載以適應(yīng)不同的測(cè)試電流。
[0015] 所述負(fù)載切換單元包括若干串聯(lián)連接的電阻,每個(gè)電阻分別并聯(lián)有各自的繼電器 開關(guān)。
[0016] 所述壓降補(bǔ)償單元串聯(lián)繼電器開關(guān)KO后并聯(lián)連接所述負(fù)載切換單元,該并聯(lián)電 路串聯(lián)連接受檢繼電器電路。
[0017] 當(dāng)測(cè)試回路中有n個(gè)電流自動(dòng)旁路機(jī)構(gòu)導(dǎo)通時(shí),壓降補(bǔ)償單元中需要補(bǔ)償?shù)碾娮?Rb大小為:
[0019] 其中,Rb為補(bǔ)償電阻;Ucin為電流自動(dòng)旁路機(jī)構(gòu)的導(dǎo)通電壓;IA磁保持繼電器批 量檢測(cè)裝置額定負(fù)載電流;n為電流自動(dòng)旁路機(jī)構(gòu)數(shù)量;Uin為市電電壓。
[0020] 隨著電流自動(dòng)旁路機(jī)構(gòu)導(dǎo)通數(shù)量增加時(shí),繼電器負(fù)載回路中流過的電流將會(huì)變 小,可通過壓降補(bǔ)償單元改變補(bǔ)償電阻大小從而對(duì)測(cè)試負(fù)載進(jìn)行實(shí)時(shí)調(diào)整,實(shí)現(xiàn)流經(jīng)每個(gè) 測(cè)試表位的被測(cè)磁保持繼電器的負(fù)載電流不變。
[0021] 本實(shí)施例實(shí)施過程為:
[0022] 1)測(cè)試主機(jī)控制受檢繼電器的導(dǎo)通和電流旁路機(jī)構(gòu)的導(dǎo)通;一般一次測(cè)試一個(gè) 或幾個(gè)繼電器,其他繼電器旁的電流自動(dòng)旁路機(jī)構(gòu)閉合;通過市電Uin和額定負(fù)載電流込求 得需要的負(fù)載大小,MCU控制器控制斷開繼電器開關(guān)K0,且控制負(fù)載切換單元中電阻旁的 繼電器啟閉,使負(fù)載切換單元中電阻值為計(jì)算出的負(fù)載大??;
[0023] 2)MCU控制器檢測(cè)當(dāng)前閉合的電流自動(dòng)旁路機(jī)構(gòu)的數(shù)量n,同時(shí)測(cè)量回路中的電 流,由于電流自動(dòng)旁路機(jī)構(gòu)的分壓作用,回路中的電流略小于額定負(fù)載電流L需要減小回 路中的負(fù)載大小;MCU控制器根據(jù)公式(1)計(jì)算補(bǔ)償電阻Rb大小,控制閉合繼電器開關(guān)K0, 控制壓降補(bǔ)償單元的繼電器開關(guān)調(diào)整補(bǔ)償電阻大小。
[0024] 以80A額定負(fù)載電流為例,在電流自動(dòng)旁路機(jī)構(gòu)導(dǎo)通數(shù)量不同的情況下,根據(jù)式 (1)計(jì)算,可以獲得所需補(bǔ)償電阻值表1所示:
[0025] 表1不同n值下補(bǔ)償電阻大?。~定電流為80A)
[0026]
[0027] 以上所述僅是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式,應(yīng)當(dāng)指出,對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技 術(shù)人員來說,在不脫離本實(shí)用新型技術(shù)原理的前提下,還可以做出若干改進(jìn)和變形,這些改 進(jìn)和變形也應(yīng)視為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種用于磁保持繼電器批量檢測(cè)的壓降自動(dòng)補(bǔ)償裝置,其特征在于,包括MCU控制 器、分別與所述MCU控制器相連的壓降補(bǔ)償單元、負(fù)載切換單元和通訊接口;所述壓降補(bǔ)償 單元和負(fù)載切換單元并聯(lián)連接;所述通訊接口連接磁保持繼電器批量檢測(cè)裝置中的測(cè)試主 機(jī)。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于磁保持繼電器批量檢測(cè)的壓降自動(dòng)補(bǔ)償裝置,其特 征是:所述壓降補(bǔ)償單元包括若干串聯(lián)連接的電阻,每個(gè)電阻分別并聯(lián)有繼電器開關(guān)。3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于磁保持繼電器批量檢測(cè)的壓降自動(dòng)補(bǔ)償裝置,其特 征是:所述負(fù)載切換單元包括若干串聯(lián)連接的電阻,每個(gè)電阻分別并聯(lián)有繼電器開關(guān)。4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于磁保持繼電器批量檢測(cè)的壓降自動(dòng)補(bǔ)償裝置,其特 征是:所述壓降補(bǔ)償單元串聯(lián)連接繼電器開關(guān)KO后并聯(lián)連接所述負(fù)載切換單元。5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于磁保持繼電器批量檢測(cè)的壓降自動(dòng)補(bǔ)償裝置,其特 征是:所述壓降補(bǔ)償單元和負(fù)載切換單元的并聯(lián)連接電路與受檢繼電器電路串聯(lián)連接。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種用于磁保持繼電器批量檢測(cè)的壓降自動(dòng)補(bǔ)償裝置,其特征在于,包括MCU控制器、分別與所述MCU控制器相連的壓降補(bǔ)償單元、負(fù)載切換單元和通訊接口;所述壓降補(bǔ)償單元和負(fù)載切換單元并聯(lián)連接;所述通訊接口連接磁保持繼電器批量檢測(cè)裝置中的測(cè)試主機(jī)。本實(shí)用新型通過MCU控制器、壓降補(bǔ)償單元調(diào)整回路中的負(fù)載電阻,使得回路中的電流保持在額定負(fù)載電流處,性能穩(wěn)定可靠,可自動(dòng)控制,可以廣泛應(yīng)用在磁保持繼電器批量檢測(cè)裝置上,保證測(cè)試負(fù)載電流的準(zhǔn)確性。
【IPC分類】G01R31/327
【公開號(hào)】CN204789933
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520505389
【發(fā)明人】紀(jì)峰, 徐晴, 田正其, 周超, 鮑進(jìn), 祝宇楠, 穆小星
【申請(qǐng)人】國家電網(wǎng)公司, 江蘇省電力公司, 江蘇省電力公司電力科學(xué)研究院
【公開日】2015年11月18日
【申請(qǐng)日】2015年7月13日