一種電器性能指標(biāo)測(cè)試方法及裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于電子測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及一種電器性能指標(biāo)測(cè)試方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著社會(huì)的發(fā)展，各種電器設(shè)備廣泛地應(yīng)用在人們的日常生活當(dāng)中，對(duì)電器性能指標(biāo)的測(cè)試十分有必要，因?yàn)檫@關(guān)乎到電器的正常使用。通常，我們對(duì)電器性能指標(biāo)的測(cè)試包括電壓、電流等等性能測(cè)試。
[0003]對(duì)電器設(shè)備進(jìn)行測(cè)試時(shí)，必須要用到測(cè)試線來(lái)連接電器設(shè)備和測(cè)試設(shè)備，而采用現(xiàn)有的測(cè)試使用不同長(zhǎng)度的測(cè)試線，由于測(cè)試線的壓降不同，會(huì)導(dǎo)致測(cè)試出來(lái)的參數(shù)不同。比如，對(duì)同一被測(cè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，如果被測(cè)設(shè)備的電壓一樣，由于采用短測(cè)試線的壓降小于長(zhǎng)測(cè)試線的壓降，所以導(dǎo)致短測(cè)試線測(cè)出來(lái)的電流大于長(zhǎng)測(cè)試線測(cè)出來(lái)的電流。
[0004]因此，采用現(xiàn)在的測(cè)試方法由于測(cè)試線的長(zhǎng)短不同，會(huì)導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不同。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明的目的在于提供一種電器性能指標(biāo)測(cè)試方法，旨在解決采用現(xiàn)在的測(cè)試方法由于測(cè)試線的長(zhǎng)短不同，會(huì)導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不同的問(wèn)題。
[0006]本發(fā)明是這樣實(shí)現(xiàn)的，一種電器性能指標(biāo)測(cè)試方法，所述方法包括如下步驟:
[0007]測(cè)試被測(cè)設(shè)備的主板電壓；
[0008]測(cè)試所述被測(cè)設(shè)備的主板通過(guò)測(cè)試線的線端電壓；
[0009]以將所述主板電壓調(diào)整到預(yù)定主板電壓為準(zhǔn)，對(duì)所述被測(cè)設(shè)備進(jìn)行調(diào)整，測(cè)試通過(guò)所述測(cè)試線的充電電流。
[0010]本發(fā)明的另一目的在于提供一種電器性能指標(biāo)測(cè)試裝置，所述裝置包括:
[0011]第一電壓測(cè)試單元，用于測(cè)試被測(cè)設(shè)備的主板電壓；
[0012]第二電壓測(cè)試單元，用于測(cè)試所述被測(cè)設(shè)備的主板通過(guò)測(cè)試線的線端電壓；
[0013]電流測(cè)試單元，用于以將所述主板電壓調(diào)整到預(yù)定主板電壓為準(zhǔn)，對(duì)所述被測(cè)設(shè)備進(jìn)行調(diào)整，測(cè)試通過(guò)所述測(cè)試線的充電電流。
[0014]在本發(fā)明中，分別對(duì)被測(cè)設(shè)備的主板電壓和通過(guò)測(cè)試線的線端電壓進(jìn)行測(cè)試，并且以將主板電壓調(diào)整到預(yù)定主板電壓為準(zhǔn)，對(duì)被測(cè)設(shè)備進(jìn)行調(diào)整，測(cè)試通過(guò)測(cè)試線的充電電流，這樣的測(cè)試結(jié)果不會(huì)受到長(zhǎng)短不同的測(cè)試線導(dǎo)致的壓降不同的影響，從而提高了測(cè)試的精度。
【附圖說(shuō)明】
[0015]圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的電器性能指標(biāo)測(cè)試方法的流程圖；
[0016]圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的電器性能指標(biāo)測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)圖。
【具體實(shí)施方式】
[0017]為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0018]圖1示出了本發(fā)明實(shí)施例提供的電器性能指標(biāo)測(cè)試方法的流程，為了便于說(shuō)明，僅不出了與本發(fā)明實(shí)施例相關(guān)的部分。
[0019]一種電器性能指標(biāo)測(cè)試方法，所述方法包括如下步驟:
[0020]步驟S101，測(cè)試被測(cè)設(shè)備的主板電壓；
[0021]步驟S102，測(cè)試所述被測(cè)設(shè)備的主板通過(guò)測(cè)試線的線端電壓；
[0022]步驟S103，以將所述主板電壓調(diào)整到預(yù)定主板電壓為準(zhǔn)，對(duì)所述被測(cè)設(shè)備進(jìn)行調(diào)整，測(cè)試通過(guò)所述測(cè)試線的充電電流。
[0023]作為本發(fā)明一實(shí)施例，步驟S103，以將主板電壓調(diào)整到預(yù)定主板電壓為準(zhǔn)，對(duì)所述被測(cè)設(shè)備進(jìn)行調(diào)整，測(cè)試通過(guò)所述測(cè)試線的充電電流的步驟具體包括:
[0024]以將所述主板電壓調(diào)整到預(yù)定主板電壓為準(zhǔn)，對(duì)所述被測(cè)設(shè)備進(jìn)行調(diào)整，測(cè)試通過(guò)所述測(cè)試線的充電電流，具體依據(jù)如下公式:
[0025]I = (U1_U2)*S/p L
[0026]其中，Ul為線端電壓、U2為主板電壓、S為測(cè)試線橫截面積、P為測(cè)試線電阻率、L為測(cè)試線長(zhǎng)度。
[0027]作為本發(fā)明一實(shí)施例，所述測(cè)試線采用USB線或夾子線。
[0028]圖2示出了本發(fā)明實(shí)施例提供的電器性能指標(biāo)測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)，為了便于說(shuō)明，僅不出了與本發(fā)明實(shí)施例相關(guān)的部分。
[0029]一種電器性能指標(biāo)測(cè)試裝置，所述裝置包括:
[0030]第一電壓測(cè)試單元1，用于測(cè)試被測(cè)設(shè)備的主板電壓；
[0031]第二電壓測(cè)試單元2，用于測(cè)試所述被測(cè)設(shè)備的主板通過(guò)測(cè)試線的線端電壓；
[0032]電流測(cè)試單元3，用于以將所述主板電壓調(diào)整到預(yù)定主板電壓為準(zhǔn)，對(duì)所述被測(cè)設(shè)備進(jìn)行調(diào)整，測(cè)試通過(guò)所述測(cè)試線的充電電流。
[0033]作為本發(fā)明一實(shí)施例，所述電流測(cè)試單元3具體包括:
[0034]電流測(cè)試模塊31，用于以將所述主板電壓調(diào)整到預(yù)定主板電壓為準(zhǔn)，對(duì)所述被測(cè)設(shè)備進(jìn)行調(diào)整，測(cè)試通過(guò)所述測(cè)試線的充電電流，具體依據(jù)如下公式:
[0035]I = (U1_U2)*S/p L
[0036]其中，Ul為線端電壓、U2為主板電壓、S為測(cè)試線橫截面積、P為測(cè)試線電阻率、L為測(cè)試線長(zhǎng)度。
[0037]作為本發(fā)明一實(shí)施例，所述測(cè)試線采用USB線或夾子線。
[0038]作為本發(fā)明一實(shí)施例，電器性能指標(biāo)測(cè)試裝置可以為集成在測(cè)試儀器中的軟件、硬件或軟硬件的結(jié)合。
[0039]原理解釋:
[0040]在傳統(tǒng)的測(cè)試方法中，測(cè)試者誤以為被測(cè)設(shè)備的主板通過(guò)測(cè)試線的線端電壓(即測(cè)試設(shè)備顯示的電壓)為被測(cè)設(shè)備的主板電壓，而忽略采用不同長(zhǎng)度的測(cè)試線，由于測(cè)試線的壓降不同，會(huì)導(dǎo)致測(cè)試出來(lái)的參數(shù)不同。比如，對(duì)同一被測(cè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，如果被測(cè)設(shè)備的電壓一樣，由于采用短測(cè)試線的壓降小于長(zhǎng)測(cè)試線的壓降，所以導(dǎo)致短測(cè)試線測(cè)出來(lái)的電流大于長(zhǎng)測(cè)試線測(cè)出來(lái)的電流。
[0041]而在本測(cè)試方法中，Ul =U2+I*pL/S，其中，Ul為線端電壓、U2為主板電壓、S為測(cè)試線橫截面積、P為測(cè)試線電阻率、L為測(cè)試線長(zhǎng)度，I*p L/S為測(cè)試線的壓降電壓，采用同材料、同寬度、長(zhǎng)度不同的測(cè)試線，長(zhǎng)測(cè)試線的壓降電壓大于短測(cè)試線，采用長(zhǎng)測(cè)試線和短測(cè)試線分別測(cè)試時(shí)，兩次都以將主板電壓U2調(diào)整到預(yù)定主板電壓為準(zhǔn)，對(duì)被測(cè)設(shè)備進(jìn)行調(diào)整，采用長(zhǎng)測(cè)試線的線端電壓Ul大于采用短測(cè)試線的線端電壓U1，這樣兩次測(cè)試出來(lái)的通過(guò)測(cè)試線的充電電流基本相等。
[0042]例如，以設(shè)定主板電壓U2 = 5V為準(zhǔn)，對(duì)被測(cè)設(shè)備進(jìn)行調(diào)整，采用長(zhǎng)測(cè)試線的線端電壓Ul調(diào)節(jié)至5.62V，采用短測(cè)試線的線端電壓Ul調(diào)節(jié)至5.45V，最后兩次測(cè)試出來(lái)的通過(guò)測(cè)試線的充電電流均為1.694A。
[0043]因此，在本測(cè)試方法中，采用長(zhǎng)短不同的測(cè)試線，都不會(huì)導(dǎo)致通過(guò)測(cè)試線的充電電流不同。
[0044]在本發(fā)明實(shí)施例中，分別對(duì)被測(cè)設(shè)備的主板電壓和通過(guò)測(cè)試線的線端電壓進(jìn)行測(cè)試，并且以將主板電壓調(diào)整到預(yù)定主板電壓為準(zhǔn)，對(duì)被測(cè)設(shè)備進(jìn)行調(diào)整，測(cè)試通過(guò)測(cè)試線的充電電流，這樣的測(cè)試結(jié)果不會(huì)受到長(zhǎng)短不同的測(cè)試線導(dǎo)致的壓降不同的影響，從而提高了測(cè)試的精度。
[0045]本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解:實(shí)現(xiàn)上述方法實(shí)施例的步驟或部分步驟可以通過(guò)程序指令相關(guān)的硬件來(lái)完成，前述的程序可以存儲(chǔ)于計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中，該程序在執(zhí)行時(shí)，執(zhí)行包括上述方法實(shí)施例的步驟，而前述的存儲(chǔ)介質(zhì)包括:ROM、RAM、磁碟或者光盤等各種可以存儲(chǔ)程序代碼的介質(zhì)。
[0046]以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種電器性能指標(biāo)測(cè)試方法，其特征在于，所述方法包括如下步驟: 測(cè)試被測(cè)設(shè)備的主板電壓； 測(cè)試所述被測(cè)設(shè)備的主板通過(guò)測(cè)試線的線端電壓； 以將所述主板電壓調(diào)整到預(yù)定主板電壓為準(zhǔn)，對(duì)所述被測(cè)設(shè)備進(jìn)行調(diào)整，測(cè)試通過(guò)所述測(cè)試線的充電電流。
2.如權(quán)利要求1所述的電器性能指標(biāo)測(cè)試方法，其特征在于，所述以將主板電壓調(diào)整到預(yù)定主板電壓為準(zhǔn)，對(duì)所述被測(cè)設(shè)備進(jìn)行調(diào)整，測(cè)試通過(guò)所述測(cè)試線的充電電流的步驟具體包括: 以將所述主板電壓調(diào)整到預(yù)定主板電壓為準(zhǔn)，對(duì)所述被測(cè)設(shè)備進(jìn)行調(diào)整，測(cè)試通過(guò)所述測(cè)試線的充電電流，具體依據(jù)如下公式:I = (Ul-U2)*S/p L 其中，Ul為線端電壓、U2為主板電壓、S為測(cè)試線橫截面積、P為測(cè)試線電阻率、L為測(cè)試線長(zhǎng)度。
3.如權(quán)利要求1或2所述的電器性能指標(biāo)測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試線采用USB線或夾子線。
4.一種電器性能指標(biāo)測(cè)試裝置，其特征在于，所述裝置包括: 第一電壓測(cè)試單元，用于測(cè)試被測(cè)設(shè)備的主板電壓； 第二電壓測(cè)試單元，用于測(cè)試所述被測(cè)設(shè)備的主板通過(guò)測(cè)試線的線端電壓； 電流測(cè)試單元，用于以將所述主板電壓調(diào)整到預(yù)定主板電壓為準(zhǔn)，對(duì)所述被測(cè)設(shè)備進(jìn)行調(diào)整，測(cè)試通過(guò)所述測(cè)試線的充電電流。
5.如權(quán)利要求4所述的電器性能指標(biāo)測(cè)試裝置，其特征在于，所述電流測(cè)試單元具體包括: 電流測(cè)試模塊，用于以將所述主板電壓調(diào)整到預(yù)定主板電壓為準(zhǔn)，對(duì)所述被測(cè)設(shè)備進(jìn)行調(diào)整，測(cè)試通過(guò)所述測(cè)試線的充電電流，具體依據(jù)如下公式:I = (U1-U2)*S/p L 其中，Ul為線端電壓、U2為主板電壓、S為測(cè)試線橫截面積、P為測(cè)試線電阻率、L為測(cè)試線長(zhǎng)度。
6.如權(quán)利要求4或5所述的電器性能指標(biāo)測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試線采用USB線或夾子線。
【專利摘要】本發(fā)明適用于電子測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及一種電器性能指標(biāo)測(cè)試方法及裝置。在本發(fā)明中，分別對(duì)被測(cè)設(shè)備的主板電壓和通過(guò)測(cè)試線的線端電壓進(jìn)行測(cè)試，并且以將主板電壓調(diào)整到預(yù)定主板電壓為準(zhǔn)，對(duì)被測(cè)設(shè)備進(jìn)行調(diào)整，測(cè)試通過(guò)測(cè)試線的充電電流，這樣的測(cè)試結(jié)果不會(huì)受到長(zhǎng)短不同的測(cè)試線導(dǎo)致的壓降不同的影響，從而提高了測(cè)試的精度。
【IPC分類】G01R31-00
【公開號(hào)】CN104749462
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510128171
【發(fā)明人】劉華中
【申請(qǐng)人】廣東小天才科技有限公司
【公開日】2015年7月1日
【申請(qǐng)日】2015年3月20日