一種各向異性導(dǎo)電膜中粒子的檢測(cè)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] -種應(yīng)用于COG、FOG制程中的ACF粒子自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法，特別涉及檢測(cè)壓制的 導(dǎo)電粒子。
【背景技術(shù)】
[0002] 液晶顯示器除了液晶面板外，在其外圍必須連動(dòng)驅(qū)動(dòng)芯片作為顯示訊號(hào)之控制用 途。COG是chip on glass的縮寫，即芯片被直接綁定在玻璃上；FOG是FPC on Glass的縮 寫。兩者都是用于液晶玻璃與電路電氣導(dǎo)通的加工方式。
[0003] ACF是Anisotropic Conductive Film(各向異性導(dǎo)電膜）的縮寫，其特點(diǎn)在于Z 軸電氣導(dǎo)通方向與XY絕緣平面的電阻特性具有明顯的差異性。當(dāng)Z軸導(dǎo)通電阻值與XY平 面絕緣電阻值的差異超過一定比值后，既可稱為良好的導(dǎo)電異方性。導(dǎo)電原理是利用導(dǎo)電 粒子連接IC芯片與基板兩者之間的電極使之成為導(dǎo)通，同時(shí)又能避免相鄰兩電極間導(dǎo)通 短路，而達(dá)成只在Z軸方向?qū)ㄖ康摹?br>[0004] COG制程是利用覆晶（Flip Chip)導(dǎo)通方式，將晶片直接對(duì)準(zhǔn)玻璃基板上的電極， 利用ACF材料作為接合的介面材料，使兩種結(jié)合物體垂直方向的電極導(dǎo)通。
[0005] 現(xiàn)在液晶廠商檢測(cè)導(dǎo)電粒子是否合格主要采用兩種方法，一種是電氣測(cè)試，另一 種是在顯微鏡下直接觀察粒子的成像。電氣測(cè)試即給液晶屏幕接上測(cè)試電源，測(cè)試電流和 電壓是否達(dá)到要求。顯微鏡測(cè)試即工作人員把液晶屏拿到顯微鏡下直接觀察，看粒子壓制 的是否合格。（本文方法原理和顯微鏡測(cè)試是一樣的，都是對(duì)粒子成像進(jìn)行分析判斷），兩 種方法都是需要人工對(duì)每一片屏幕進(jìn)行測(cè)試，效率低，成本高。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006] 本發(fā)明針對(duì)【背景技術(shù)】的不足，所要解決的技術(shù)問題是設(shè)計(jì)一種操作簡(jiǎn)單、快速、有 效的檢測(cè)ACF粒子壓制后是否有效性的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法，粒子的有效性即有效粒子個(gè)數(shù) 達(dá)到要求，能滿足導(dǎo)電要求。
[0007] 本發(fā)明一種各向異性導(dǎo)電膜中粒子的檢測(cè)方法，該方法包括：
[0008] 步驟1 :利用線陣相機(jī)采集各向異性導(dǎo)電膜中粒子圖像，得到放大的粒子圖像，并 記錄拍攝圖像時(shí)的光照方向；
[0009] 步驟2 :對(duì)采集到的圖像進(jìn)行去噪處理；
[0010] 步驟3 :采用直方圖均衡化方法對(duì)去噪圖像進(jìn)行灰度變換，得到灰度圖像；
[0011] 步驟4 :采用光照方向差值法對(duì)步驟3得到的灰度圖像進(jìn)行處理；光照方向?yàn)椴襟E 1記錄的光照方向；
[0012] 步驟5 :對(duì)步驟4得到的圖像進(jìn)行二值化處理，得到背景為黑色，粒子為白色的圖 像，由此計(jì)算出粒子個(gè)數(shù)；
[0013] 步驟6 :根據(jù)步驟5得到圖像中白色區(qū)域所在位置，確定步驟4處理后圖像中粒子 所在位置；
[0014] 步驟7 :采用拉普拉斯算子求出步驟6中各粒子的梯度場(chǎng)，判斷粒子是否合格；根 據(jù)光照及環(huán)境變化設(shè)定一閾值，計(jì)算出的梯度場(chǎng)大于閾值則合格，小于則不合格。
[0015] 所述步驟4的光照方向差值法的具體方法為：選取一個(gè)像素點(diǎn)，再找到該像素點(diǎn) 沿光照方向上1~D范圍內(nèi)的灰度值最小值；將選取像素點(diǎn)的灰度值與該最小值點(diǎn)的灰度 值作差，得到的差賦為選取像素點(diǎn)的新灰度值；其中D的取值根據(jù)實(shí)際圖像粒子的大小進(jìn) 行確定，粒子在圖像中半徑為r，則D取值在2*r±2。
[0016] 本發(fā)明一種各向異性導(dǎo)電膜中粒子的檢測(cè)方法，該方法根據(jù)粒子圖像的灰度及位 置特征，進(jìn)行特征合并，再通過梯度場(chǎng)的量化，避開了大量的數(shù)據(jù)運(yùn)算，在運(yùn)算速度上完全 能跟上實(shí)際的生產(chǎn)節(jié)拍。本方法檢測(cè)正確率很高，能取代人工的電氣檢測(cè)和顯微鏡檢測(cè)，可 以廣泛應(yīng)用于COG和FOG生產(chǎn)中的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)。
【附圖說明】
[0017] 圖1為采集到的粒子圖像；
[0018] 圖2為采用光照方向差值法處理后的圖像；
[0019] 圖3為原圖和處理后粒子特性的曲線示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0020] 下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步的說明。
[0021] 步驟1 :搭建運(yùn)動(dòng)平臺(tái)作為液晶屏載物臺(tái)，PLC控制平臺(tái)運(yùn)動(dòng)，利用分別率為0. 7um 的線陣相機(jī)采集圖像，再加上一個(gè)10倍的鏡頭進(jìn)行放大，并記錄光照方向。
[0022] 步驟2 :利用中值濾波去除高頻噪聲，取中值濾波模板為3X 3的范圍。
[0023] 步驟3 :直方圖均衡化分為3步：
[0024] 步驟3. 1 :統(tǒng)計(jì)直方圖每個(gè)灰度級(jí)出現(xiàn)的次數(shù)；
[0025] 步驟3. 2 :累計(jì)歸一化的直方圖；
[0026] 步驟3. 3 :計(jì)算新的像素值，計(jì)算公式如下
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種各向異性導(dǎo)電膜中粒子的檢測(cè)方法，該方法包括： 步驟1:利用線陣相機(jī)采集各向異性導(dǎo)電膜中粒子圖像，得到放大的粒子圖像，并記錄 拍攝圖像時(shí)的光照方向； 步驟2 :對(duì)采集到的圖像進(jìn)行去噪處理； 步驟3 :采用直方圖均衡化方法對(duì)去噪圖像進(jìn)行灰度變換，得到灰度圖像； 步驟4 :采用光照方向差值法對(duì)步驟3得到的灰度圖像進(jìn)行處理；光照方向?yàn)椴襟E1記 錄的光照方向； 步驟5 :對(duì)步驟4得到的圖像進(jìn)行二值化處理，得到背景為黑色，粒子為白色的圖像，由 此計(jì)算出粒子個(gè)數(shù)； 步驟6 :根據(jù)步驟5得到圖像中白色區(qū)域所在位置，確定步驟4處理后圖像中粒子所在 位置； 步驟7 :采用拉普拉斯算子求出步驟6中各粒子的梯度場(chǎng)，判斷粒子是否合格；根據(jù)光 照及環(huán)境變化設(shè)定一閾值，計(jì)算出的梯度場(chǎng)大于閾值則合格，小于則不合格。
2. 如權(quán)利要求1所述的一種各向異性導(dǎo)電膜中粒子的檢測(cè)方法，其特征在于所述步驟 4的光照方向差值法的具體方法為：選取一個(gè)像素點(diǎn)，再找到該像素點(diǎn)沿光照方向上1~D 范圍內(nèi)的灰度值最小值；將選取像素點(diǎn)的灰度值與該最小值點(diǎn)的灰度值作差，得到的差賦 為選取像素點(diǎn)的新灰度值；其中D的取值根據(jù)實(shí)際圖像粒子的大小進(jìn)行確定，粒子在圖像 中半徑為r，則D取值在2打±2。
【專利摘要】該發(fā)明公開了一種各向異性導(dǎo)電膜中粒子的檢測(cè)方法，應(yīng)用于COG、FOG制程中的ACF粒子自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法,特別涉及檢測(cè)壓制的導(dǎo)電粒子。該方法根據(jù)粒子圖像的灰度及位置特征，進(jìn)行特征合并，再通過梯度場(chǎng)的量化，避開了大量的數(shù)據(jù)運(yùn)算，在運(yùn)算速度上完全能跟上實(shí)際的生產(chǎn)節(jié)拍。本方法檢測(cè)正確率很高，能取代人工的電氣檢測(cè)和顯微鏡檢測(cè)，可以廣泛應(yīng)用于COG和FOG生產(chǎn)中的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)。
【IPC分類】G01N15-00
【公開號(hào)】CN104729961
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510140140
【發(fā)明人】劉霖, 謝煜, 胡勇, 何崗, 梁翔, 劉鵬, 張靜, 劉娟秀, 倪光明, 葉玉堂, 劉永
【申請(qǐng)人】電子科技大學(xué)
【公開日】2015年6月24日
【申請(qǐng)日】2015年3月27日