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電源供應(yīng)器烘烤測(cè)試裝置的制作方法

文檔序號(hào):6139665閱讀:148來源:國(guó)知局
專利名稱:電源供應(yīng)器烘烤測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種電源供應(yīng)器烘烤測(cè)試裝置,尤指一種可切實(shí)測(cè)試電源供應(yīng)器的測(cè)試裝置。
一般電子元件在制造完成后,大都會(huì)進(jìn)行測(cè)試,以測(cè)試該電子元件是否能在一定的負(fù)載或長(zhǎng)時(shí)間操作下正常運(yùn)作,以計(jì)算機(jī)所使用的電源供應(yīng)器為例,其在組裝制造完成后,會(huì)先經(jīng)過一段長(zhǎng)時(shí)間的運(yùn)轉(zhuǎn)測(cè)試(一般而言測(cè)試時(shí)間約為兩天),來測(cè)試電源供應(yīng)器在長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)轉(zhuǎn)下,能否達(dá)到其應(yīng)有的功能;又一般在測(cè)試電源供應(yīng)器時(shí),大都是配合一測(cè)試架來進(jìn)行測(cè)試,請(qǐng)配合參看圖8、9,其測(cè)試架50主要是一多層的架體,于測(cè)試架50各層板的頂面設(shè)置有數(shù)塊測(cè)試板52,并于每一測(cè)試板52上設(shè)置有散熱裝置54,如此可將預(yù)定數(shù)量的待測(cè)電源供應(yīng)器放置于測(cè)試架50的各層板上,并與各層板上相對(duì)的測(cè)試板52相連接,然后將整個(gè)測(cè)試架推入一測(cè)試室中,并以測(cè)試架50側(cè)面所設(shè)置的電源插頭插設(shè)于測(cè)試室內(nèi)的插座上,使測(cè)試架50上的各測(cè)試板52能藉以導(dǎo)電,并讓各電源供應(yīng)器進(jìn)行運(yùn)轉(zhuǎn)測(cè)試。
然而此種傳統(tǒng)的測(cè)試架50,雖于每組測(cè)試板52上會(huì)設(shè)置有散熱裝置54,來散去測(cè)試板52運(yùn)作時(shí)所生成的高熱,但是因散熱裝置54是直接組設(shè)于每一測(cè)試板52上,所以散熱裝置54所散去的熱量仍會(huì)留滯于電源供應(yīng)器周圍,如此便會(huì)導(dǎo)致電源供應(yīng)器溫度的升高,然而因于電源供應(yīng)器內(nèi)大都會(huì)設(shè)置有溫度過載控制裝置,當(dāng)電源供應(yīng)器溫度超過缺省值時(shí)(一般約為45℃左右),該電源供應(yīng)器便會(huì)即刻斷電,所以利用傳統(tǒng)的測(cè)試架50在進(jìn)行測(cè)試時(shí),其電源供應(yīng)器很容易會(huì)因周圍溫度升高,在未達(dá)測(cè)試時(shí)間前便自行斷電,而無法完成即定的測(cè)試時(shí)間及達(dá)到預(yù)定的測(cè)試效果。
因此,本創(chuàng)作人有鑒于傳統(tǒng)電源供應(yīng)器測(cè)試裝置結(jié)構(gòu)及使用上的缺點(diǎn),特經(jīng)過不斷的試驗(yàn)與研究,終于開發(fā)出一種能改進(jìn)傳統(tǒng)缺點(diǎn)的本實(shí)用新型。
本實(shí)用新型的主要目的,在于提供一種電源供應(yīng)器烘烤測(cè)試裝置,其主要包含一測(cè)試室及一測(cè)試架,其中測(cè)試室以隔板區(qū)分為測(cè)試區(qū)及散熱區(qū),而測(cè)試架則以隔離架桿區(qū)分為測(cè)試層架及散熱層架,并于測(cè)試層架與散熱層架上分別設(shè)置有以電線連接的測(cè)試板及散熱裝置,如此在將待測(cè)物放置于測(cè)試層架上的各層板,并與相對(duì)的測(cè)試板連接后,將測(cè)試架推入測(cè)試室中,而使測(cè)試層架及散熱層架分別應(yīng)于測(cè)試區(qū)及散熱區(qū)中,藉此可隔離待測(cè)物與由散熱裝置所散去的熱量,使待測(cè)物周圍的溫度能控制保持于一定的范圍內(nèi),以便讓待測(cè)物能切實(shí)完成預(yù)定的測(cè)試作業(yè)。
本實(shí)用新型的另一目的,在于提供一種電源供應(yīng)器烘烤測(cè)試裝置,其主要是于測(cè)試室的隔板底面與測(cè)試架測(cè)試層架最上層層板的頂面相對(duì)設(shè)置有集電刷及導(dǎo)電器,藉此可藉集電刷與導(dǎo)電器的相接觸,來提供待測(cè)物及測(cè)試板運(yùn)作測(cè)試時(shí)所需的電源,以簡(jiǎn)化測(cè)試架與測(cè)試室間電氣連結(jié)線路的復(fù)雜度,達(dá)到提高測(cè)試環(huán)境質(zhì)量的目的。
本實(shí)用新型的技術(shù)方案在于提供一種電源供應(yīng)器烘烤測(cè)試裝置,該裝置設(shè)有一測(cè)試室,于測(cè)試室內(nèi)區(qū)分為至少一個(gè),即一個(gè)或多個(gè)具有通道口的區(qū)域,于測(cè)試室上相對(duì)于每區(qū)域設(shè)置有可封閉該區(qū)域通道口的大門,又于每個(gè)區(qū)域內(nèi)靠近頂部的位置處設(shè)置有隔板,而將各區(qū)域區(qū)分為測(cè)試區(qū)及散熱區(qū),同時(shí)于隔板中央形成有通道,另于隔板底緣設(shè)置有與電源相連通的集電刷,于測(cè)試室上則設(shè)置有一通風(fēng)裝置。
如以上所述的電源供應(yīng)器烘烤測(cè)試裝置,其中,于各區(qū)域的測(cè)試區(qū)間可設(shè)有風(fēng)扇;如以上所述的電源供應(yīng)器烘烤測(cè)試裝置,其中,于通道底緣可設(shè)置有隔熱片;如以上所述的電源供應(yīng)器烘烤測(cè)試裝置,其中,通風(fēng)裝置可設(shè)置有一與測(cè)試區(qū)連通的通風(fēng)管,于通風(fēng)管上設(shè)置有一電動(dòng)機(jī),并于通風(fēng)管上設(shè)置一加熱器,另設(shè)置有一同時(shí)與測(cè)試室散熱區(qū)及通風(fēng)管相連通的入風(fēng)管,而于測(cè)試室上再設(shè)置一與散熱區(qū)連通的出風(fēng)管,并于出風(fēng)管上設(shè)置有一抽風(fēng)電動(dòng)機(jī);如以上所述的電源供應(yīng)器烘烤測(cè)試裝置,其中,該裝置設(shè)有一可置入測(cè)試室中的測(cè)試架,于測(cè)試架近頂端處設(shè)置有一隔離架桿,而將測(cè)試架區(qū)分為下層的測(cè)試層架及上層的散熱層架,又測(cè)試層架設(shè)置有數(shù)層層板,并于每一層板上設(shè)置有一可與待測(cè)物相連接的測(cè)試板,并于測(cè)試層架最上層層板的頂面設(shè)置有數(shù)個(gè)導(dǎo)電器,另于散熱層架上設(shè)置有多數(shù)個(gè)與測(cè)試層架上各測(cè)試板以電線相連接的散熱裝置;如以上所述的電源供應(yīng)器烘烤測(cè)試裝置,其中,散熱裝置可設(shè)有基板,于基板上可設(shè)有數(shù)個(gè)散熱器;如以上所述的電源供應(yīng)器烘烤測(cè)試裝置,其中,所述導(dǎo)電器主要設(shè)置有一頂面呈開口且內(nèi)部中空的基座,于基座的開口設(shè)置設(shè)置有一受彈簧所頂持的托架,并于托架上設(shè)置有一連接至各測(cè)試板的導(dǎo)電板。
本實(shí)用新型與已有技術(shù)相比優(yōu)點(diǎn)和積極效果非常明顯。由以上的技術(shù)方案可知,本實(shí)用新型由測(cè)試室10及測(cè)試架30所共同組成的測(cè)試裝置,在測(cè)試室10內(nèi)以隔板13區(qū)分成測(cè)試區(qū)11及散熱區(qū)12,而測(cè)試架30則以隔離架桿36區(qū)分成測(cè)試層架32及散熱層架34,同時(shí)于測(cè)試層架32與散熱層架34上分別設(shè)置以電線連接的測(cè)試板33及散熱裝置35,因此可在待測(cè)物于測(cè)試層架32上進(jìn)行測(cè)試時(shí),可利用隔板13來區(qū)隔散熱裝置35所散去的熱量,避免待測(cè)物因周圍溫度升高,而在尚未完成檢驗(yàn)作業(yè)前,因自身的安全裝置而斷電,而影響到待測(cè)物的檢驗(yàn)。
又因測(cè)試室10與測(cè)試架30間的電源連接,是透過隔板13及測(cè)試架30上相對(duì)設(shè)置的集電刷14及導(dǎo)電器38的直接接觸而導(dǎo)通,不需另行設(shè)置電源插頭及插座,所以可簡(jiǎn)化測(cè)試室10與測(cè)試架30間線路連接的復(fù)雜度,改善整體的測(cè)試環(huán)境,同時(shí)因本實(shí)用新型僅需設(shè)置一組的電動(dòng)機(jī)23及抽風(fēng)電動(dòng)機(jī)28,便可同時(shí)對(duì)測(cè)試區(qū)11及散熱區(qū)12進(jìn)行溫度控制及散熱作業(yè),而能藉此達(dá)到省電及降低噪音的效果。
以下結(jié)合附圖進(jìn)一步說明本實(shí)用新型的具體結(jié)構(gòu)特征及目的。


圖1是本實(shí)用新型測(cè)試室的外觀圖。
圖2是本實(shí)用新型測(cè)試室內(nèi)部結(jié)構(gòu)的局部立體圖。
圖3是本實(shí)用新型測(cè)試架的立體外觀圖。
圖4是本實(shí)用新型測(cè)試架的局部外觀圖。
圖5是本實(shí)用新型導(dǎo)電器的剖視示意圖。
圖6是本實(shí)用新型將測(cè)試架推入測(cè)試室后的示意圖。
圖7是本實(shí)用新型集電刷與導(dǎo)電器配合的剖視示意圖。
圖8是傳統(tǒng)測(cè)試架的立體外觀圖。
圖9是傳統(tǒng)測(cè)試架的局部立體外觀圖。
請(qǐng)參看圖1、2,由圖中可看到,本實(shí)用新型主要涉及一種電源供應(yīng)器烘烤測(cè)試裝置,該測(cè)試裝置主要包含一測(cè)試室10,該測(cè)試室10可被區(qū)分成至少一個(gè)具有通道口的區(qū)域,于測(cè)試室10上對(duì)應(yīng)于每一區(qū)域的位置處,各設(shè)置有一可封閉該區(qū)域通道口的大門16,又于每一區(qū)域內(nèi)靠近頂部的位置處設(shè)置有隔板13,藉隔板13的設(shè)置可將各區(qū)域區(qū)分為測(cè)試區(qū)11及散熱區(qū)12,同時(shí)于隔板13中央設(shè)置有一由通道口向內(nèi)側(cè)延伸的通道132,于通道132底緣的隔板13上則可設(shè)置隔熱片134,又于隔板13底面設(shè)置有與電源相連通的集電刷14,另外于各區(qū)域的測(cè)試區(qū)11之間設(shè)置有數(shù)個(gè)風(fēng)扇18。
請(qǐng)配合參看圖1、6,.又于測(cè)試室10上設(shè)置有一通風(fēng)裝置20,其主要是設(shè)置有一與測(cè)試區(qū)11連通的通風(fēng)管22,于通風(fēng)管22上設(shè)置有一電動(dòng)機(jī)23,用以抽送通風(fēng)管22內(nèi)的空氣流動(dòng),又于通風(fēng)管22上設(shè)置一加熱器24,另設(shè)置有一同時(shí)與測(cè)試室10散熱區(qū)12及通風(fēng)管22相連通的入風(fēng)管25,而于測(cè)試室10上再設(shè)置一與散熱區(qū)12連通的出風(fēng)管26,并于出風(fēng)管26上設(shè)置有一抽風(fēng)電動(dòng)機(jī)28,以便將散熱區(qū)12內(nèi)的熱空氣經(jīng)出風(fēng)管26中抽出。
如圖4所示,本實(shí)用新型的測(cè)試裝置亦包含有一測(cè)試架30,該測(cè)試架30主要是一鏤空的架體,并且測(cè)試架30區(qū)分為下層的測(cè)試層架32及上層的散熱層架34,而測(cè)試層架32與散熱層架34間則設(shè)置有隔離架桿36,使測(cè)試層架32與散熱層架34相分離,又測(cè)試層架32設(shè)置有數(shù)層層板322,并于每一層板322上設(shè)置有數(shù)個(gè)可與待測(cè)物相連接的測(cè)試板33,于測(cè)試層架32最上層層板322的頂面則設(shè)置有數(shù)個(gè)可與測(cè)試室10隔板13底緣的集電刷14(如圖2所示)相對(duì)應(yīng)的導(dǎo)電器38,另于散熱層架34上設(shè)置有數(shù)個(gè)與測(cè)試層架32上各測(cè)試板33以電線相連接的散熱裝置35,其中該散熱裝置35主要是于基板352上設(shè)置有數(shù)個(gè)散熱器354請(qǐng)參閱圖5所示,測(cè)試架30上所設(shè)置的導(dǎo)電器38可如圖5所示,即主要是設(shè)置有一頂面呈開口而內(nèi)部中空的基座382,于基座382的開口上設(shè)置設(shè)置有一受彈簧386所頂持的托架384,并于托架384上設(shè)置有一連接至各測(cè)試板33的導(dǎo)電板388,藉此可使托架384與導(dǎo)電板388在受壓時(shí),相對(duì)縮入基座382之中。
請(qǐng)配合參看圖2、3、6所示,當(dāng)欲對(duì)電源供應(yīng)器等待測(cè)物進(jìn)行測(cè)試時(shí),將待測(cè)物放置于測(cè)試架30測(cè)試層架32的各層板322上,如圖3所示,并將待測(cè)物與層板322上相對(duì)應(yīng)的測(cè)試板33連接,然后將測(cè)試架30推入測(cè)試室10中,請(qǐng)配合參看圖2、3、6,讓測(cè)試架30的隔離架桿36沿隔板13的通道132進(jìn)入,而使測(cè)試架30的測(cè)試層架32及散熱層架34分別進(jìn)入測(cè)試室10的測(cè)試區(qū)11及散熱區(qū)12中,并透過隔板13來加以隔離,并且因于隔板13位于通道132的底面處設(shè)置有隔熱片134,故可切實(shí)達(dá)到隔離測(cè)試架30的測(cè)試層架32及散熱層架34的效果。
請(qǐng)配合參看圖6、7,又當(dāng)將測(cè)試架30推入測(cè)試室10中時(shí),測(cè)試架30上所設(shè)置的各導(dǎo)電器38會(huì)與測(cè)試室10隔板13底面的各集電刷14相對(duì)接觸,請(qǐng)配合參看圖6、7,此時(shí)當(dāng)導(dǎo)電器38的導(dǎo)電板388與集電刷14相接觸時(shí),導(dǎo)電板388可受集電刷14的抵壓推動(dòng)而略為向基座382內(nèi)縮回,并壓縮彈簧386,藉此便可利用彈簧386被壓縮所生成的恢復(fù)彈力,來提供導(dǎo)電板388與集電刷14間緊密接觸的力量,使導(dǎo)電板388與集電刷14能切實(shí)接觸導(dǎo)通,如此便可將測(cè)試室10的電源經(jīng)過集電刷14及導(dǎo)電板388而導(dǎo)通至各測(cè)試板33上,來提供各測(cè)試板33與待測(cè)物電源,以對(duì)待測(cè)物進(jìn)行檢測(cè)。
在待測(cè)物進(jìn)行檢測(cè)的過程中,請(qǐng)參看圖1、4、6,其測(cè)試板33運(yùn)作所生成的熱量可透過與散熱裝置35相連接的電線傳導(dǎo)至散熱裝置35上,并由散熱裝置35上的散熱器354散去,此時(shí)可啟動(dòng)設(shè)置于測(cè)試室10上的抽風(fēng)電動(dòng)機(jī)28,來抽取測(cè)試室10中散熱區(qū)12內(nèi)的熱空氣由出風(fēng)管26中排出,并讓冷空氣由入風(fēng)管25進(jìn)入散熱區(qū)12,來對(duì)散熱區(qū)12內(nèi)的各散熱裝置35生成散熱的效果,而因測(cè)試室10的散熱區(qū)12與測(cè)試區(qū)11間是以隔板13來加以隔離,故散熱區(qū)12所散去的熱量并不會(huì)傳至測(cè)試區(qū)11中,而影響到測(cè)試區(qū)11內(nèi)的溫度。
又請(qǐng)配合參看圖6、7,測(cè)試區(qū)11內(nèi)可設(shè)置感測(cè)器,來探測(cè)測(cè)試區(qū)11內(nèi)溫度的變化,而當(dāng)待測(cè)物運(yùn)作測(cè)試時(shí)所散出的熱量,使測(cè)試區(qū)11內(nèi)的溫度升高至預(yù)定值時(shí),則啟動(dòng)測(cè)試室10上的電動(dòng)機(jī)23,由入風(fēng)管25抽送冷空氣進(jìn)入測(cè)試區(qū)11中進(jìn)行冷卻,而當(dāng)測(cè)試區(qū)11內(nèi)的溫度降低至預(yù)定值時(shí),則啟動(dòng)通風(fēng)管22上的加熱器24,以便將熱風(fēng)送入測(cè)試區(qū)11,使測(cè)試區(qū)11得以升溫,而讓測(cè)試區(qū)11保持在一定的溫度范圍的中(一般設(shè)定在45±5℃),以便使待測(cè)物在該溫度范圍中進(jìn)行且完成必要的測(cè)試,而切實(shí)檢驗(yàn)出待測(cè)物設(shè)計(jì)與制造的優(yōu)缺點(diǎn),其次,于測(cè)試室10各測(cè)試區(qū)11間所設(shè)置的風(fēng)扇18,可用以協(xié)助空氣于各區(qū)域間流通,使各測(cè)試區(qū)11能達(dá)到較為均勻的溫度與測(cè)試環(huán)境。
權(quán)利要求1.一種電源供應(yīng)器烘烤測(cè)試裝置,其特征在于該裝置設(shè)有一測(cè)試室,于測(cè)試室內(nèi)區(qū)分為一個(gè)或多個(gè)具有通道口的區(qū)域,于測(cè)試室上相對(duì)于每區(qū)域設(shè)置有可封閉該區(qū)域通道口的大門、又于每個(gè)區(qū)域內(nèi)靠近頂部的位置處設(shè)置有隔板,而將各區(qū)域區(qū)分為測(cè)試區(qū)及散熱區(qū),同時(shí)于隔板中央形成有通道,另于隔板底緣設(shè)置有與電源相連通的集電刷,于測(cè)試室上則設(shè)置有一通風(fēng)裝置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電源供應(yīng)器烘烤測(cè)試裝置,其特征在于在各區(qū)域的測(cè)試區(qū)間設(shè)置有風(fēng)扇。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電源供應(yīng)器烘烤測(cè)試裝置,其特征在于于通道底緣設(shè)置有隔熱片。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電源供應(yīng)器烘烤測(cè)試裝置,其特征在于通風(fēng)裝置主要設(shè)置有一與測(cè)試區(qū)連通的通風(fēng)管,于通風(fēng)管上設(shè)置有一電動(dòng)機(jī),并于通風(fēng)管上設(shè)置一加熱器,另設(shè)置有一同時(shí)與測(cè)試室散熱區(qū)及通風(fēng)管相連通的入風(fēng)管,而于測(cè)試室上再設(shè)置一與散熱區(qū)連通的出風(fēng)管,并于出風(fēng)管上設(shè)置有一抽風(fēng)電動(dòng)機(jī)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電源供應(yīng)器烘烤測(cè)試裝置,其特征在于該裝置還設(shè)有一可置入測(cè)試室中的測(cè)試架,于測(cè)試架近頂端處設(shè)置有一隔離架桿,而將測(cè)試架區(qū)分為下層的測(cè)試層架及上層的散熱層架,又測(cè)試層架設(shè)置有數(shù)層層板,并于每一層板上設(shè)置有一可與待測(cè)物相連接的測(cè)試板,并于測(cè)試層架最上層層板的頂面設(shè)置有數(shù)個(gè)導(dǎo)電器,另于散熱層架上設(shè)置有多數(shù)個(gè)與測(cè)試層架上各測(cè)試板以電線相連接的散熱裝置。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電源供應(yīng)器烘烤測(cè)試裝置,其特征在于所述散熱裝置主要設(shè)置有基板,于基板上設(shè)置有數(shù)個(gè)散熱器。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電源供應(yīng)器烘烤測(cè)試裝置,其特征在于所述導(dǎo)電器主要設(shè)置有一頂面呈開口且內(nèi)部中空的基座,于基座的開口設(shè)置設(shè)置有一受彈簧所頂持的托架,并于托架上設(shè)置有一連接至各測(cè)試板的導(dǎo)電板。
專利摘要一種電源供應(yīng)器烘烤測(cè)試裝置,其主要是設(shè)置有一區(qū)分為測(cè)試區(qū)及散熱區(qū)的測(cè)試室,及一相對(duì)區(qū)分為測(cè)試層架及散熱層架的測(cè)試架,并于測(cè)試層架及散熱層架上分別設(shè)置測(cè)試板及散熱裝置,如此可阻隔散熱裝置所散熱的熱量,避免設(shè)置于測(cè)試層架上的待測(cè)物,因周圍溫度的升高,而中斷應(yīng)有的檢測(cè),使待測(cè)物能切實(shí)完成應(yīng)有的測(cè)試,從而提高測(cè)試裝置測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
文檔編號(hào)G01R31/00GK2371563SQ9920272
公開日2000年3月29日 申請(qǐng)日期1999年2月12日 優(yōu)先權(quán)日1999年2月12日
發(fā)明者林坤泉, 李添成, 簡(jiǎn)炳煌, 洪惇識(shí), 郭德正 申請(qǐng)人:康舒科技股份有限公司
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