本技術(shù)屬于晶片生產(chǎn)，特別是涉及一種料條高度檢測(cè)治具。

背景技術(shù)：

1、在石英晶片的生產(chǎn)過(guò)程中，基座和晶片在完成點(diǎn)膠工序后，通常需要利用料條轉(zhuǎn)運(yùn)至隧道爐區(qū)域進(jìn)行高溫固化。隧道爐作為高溫處理設(shè)備，能夠確保膠水的穩(wěn)定性和可靠性。然而，隧道爐內(nèi)部設(shè)有高溫區(qū)域，基座和晶片在料條上被送入爐內(nèi)，經(jīng)過(guò)一定時(shí)間的加熱處理，膠水得以固化。料條需要具有一定的耐高溫性能，以確保在高溫環(huán)境下不會(huì)變形或熔化。

2、然而，由于隧道爐內(nèi)部的高溫環(huán)境，料條在反復(fù)運(yùn)送產(chǎn)品通過(guò)高溫區(qū)域時(shí)，存在料條高溫變形的風(fēng)險(xiǎn)。這種變形可能是由于材料熱膨脹系數(shù)不匹配、熱應(yīng)力累積或材料本身不耐高溫等原因造成的。一旦料條發(fā)生變形，可能會(huì)導(dǎo)致基座和晶片的位置偏移、損壞或品質(zhì)下降，進(jìn)而影響整個(gè)生產(chǎn)過(guò)程的穩(wěn)定性和產(chǎn)品良率。

3、生產(chǎn)線上通常會(huì)設(shè)置人員負(fù)責(zé)檢測(cè)料條的變形量。這通常需要人工目檢或使用測(cè)量工具，對(duì)料條進(jìn)行逐一檢查。然而，現(xiàn)有的檢測(cè)方式不僅耗時(shí)耗力，而且容易受到人為因素的影響，如檢測(cè)精度、疲勞和誤判等。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的不足，本實(shí)用新型的目的在于提供一種料條高度檢測(cè)治具，用于解決現(xiàn)有技術(shù)中檢測(cè)料條的變形量時(shí)耗時(shí)耗力的技術(shù)問(wèn)題。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的，本實(shí)用新型技術(shù)方案如下：

3、一種料條高度檢測(cè)治具，包括：

4、底座，其上設(shè)置有凸臺(tái)部，所述凸臺(tái)部上沿第一方向設(shè)置有用于容置料條的容置槽，所述容置槽與所述料條適配；

5、滑軌，沿第二方向設(shè)置于所述底座上；以及

6、滑動(dòng)板，滑動(dòng)設(shè)置于所述滑軌上，且能夠在所述底座的第一端與第二端之間往復(fù)滑動(dòng)，所述滑動(dòng)板的下表面與所述凸臺(tái)部的上表面貼合，所述滑動(dòng)板能夠移動(dòng)并覆蓋于所述容置槽上方或回退并露出所述容置槽。

7、可選地，還包括設(shè)置于所述凸臺(tái)部上的避讓槽，所述避讓槽沿第二方向相對(duì)設(shè)置于所述容置槽的兩側(cè)。

8、可選地，所述避讓槽的深度大于所述容置槽的深度，所述容置槽的深度與所述料條的高度適配。

9、可選地，所述容置槽靠近所述底座的第一端或者第二端。

10、可選地，所述滑軌設(shè)置有兩個(gè)，并沿第一方向相對(duì)設(shè)置于所述凸臺(tái)部的兩側(cè)。

11、可選地，所述滑動(dòng)板的下表面設(shè)置有滑塊，所述滑塊與所述滑軌一一對(duì)應(yīng)，且與所述滑軌滑動(dòng)配合。

12、可選地，所述滑動(dòng)板沿第一方向的長(zhǎng)度大于所述凸臺(tái)部沿第一方向的長(zhǎng)度。

13、可選地，所述滑動(dòng)板的上表面設(shè)置有把手，所述把手位于所述滑動(dòng)板的中部。

14、可選地，所述料條高度檢測(cè)治具還包括限位塊，設(shè)置于所述底座的第一端和第二端，用于對(duì)所述滑動(dòng)板沿第二方向滑動(dòng)的限位。

15、可選地，所述限位塊包括鎖固件和緩沖套，所述緩沖套套設(shè)于所述鎖固件上，所述鎖固件設(shè)置于所述底座的端面上，且所述緩沖套與所述底座的端面貼合。

16、如上所述，本實(shí)用新型的料條高度檢測(cè)治具，具有以下有益效果：

17、通過(guò)設(shè)置與料條外形尺寸仿形適配的容置槽，將料條放進(jìn)容置槽并通過(guò)推拉面板是否卡頓即可快速判斷出料條是否變形，極大的提升了檢測(cè)效率；且預(yù)留了人員手部取放料條的空間，使之便于取放，節(jié)約了工時(shí)，并避免了人員用塞尺測(cè)量間隙的誤差，降低了作業(yè)出錯(cuò)的風(fēng)險(xiǎn)。

技術(shù)特征：

1.一種料條高度檢測(cè)治具，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的料條高度檢測(cè)治具，其特征在于，還包括設(shè)置于所述凸臺(tái)部上的避讓槽，所述避讓槽沿第二方向相對(duì)設(shè)置于所述容置槽的兩側(cè)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的料條高度檢測(cè)治具，其特征在于，所述避讓槽的深度大于所述容置槽的深度，所述容置槽的深度與所述料條的高度適配。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的料條高度檢測(cè)治具，其特征在于，所述容置槽靠近所述底座的第一端或者第二端。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的料條高度檢測(cè)治具，其特征在于，所述滑軌設(shè)置有兩個(gè)，并沿第一方向相對(duì)設(shè)置于所述凸臺(tái)部的兩側(cè)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1或5所述的料條高度檢測(cè)治具，其特征在于，所述滑動(dòng)板的下表面設(shè)置有滑塊，所述滑塊與所述滑軌一一對(duì)應(yīng)，且與所述滑軌滑動(dòng)配合。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的料條高度檢測(cè)治具，其特征在于，所述滑動(dòng)板沿第一方向的長(zhǎng)度大于所述凸臺(tái)部沿第一方向的長(zhǎng)度。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的料條高度檢測(cè)治具，其特征在于，所述滑動(dòng)板的上表面設(shè)置有把手，所述把手位于所述滑動(dòng)板的中部。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的料條高度檢測(cè)治具，其特征在于，所述料條高度檢測(cè)治具還包括限位塊，設(shè)置于所述底座的第一端和第二端，用于對(duì)所述滑動(dòng)板沿第二方向滑動(dòng)的限位。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的料條高度檢測(cè)治具，其特征在于，所述限位塊包括鎖固件和緩沖套，所述緩沖套套設(shè)于所述鎖固件上，所述鎖固件設(shè)置于所述底座的端面上，且所述緩沖套與所述底座的端面貼合。

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)屬于晶片生產(chǎn)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種料條高度檢測(cè)治具，包括底座，其上設(shè)置有凸臺(tái)部，凸臺(tái)部上沿第一方向設(shè)置有用于容置料條的容置槽，容置槽與料條適配；滑軌，沿第二方向設(shè)置于底座上；以及滑動(dòng)板，滑動(dòng)設(shè)置于滑軌上，且能夠在底座的第一端與第二端之間往復(fù)滑動(dòng)，滑動(dòng)板的下表面與凸臺(tái)部的上表面貼合，滑動(dòng)板能夠移動(dòng)并覆蓋于容置槽上方或回退并露出容置槽。本技術(shù)通過(guò)將料條放進(jìn)容置槽并推拉面板看是否卡頓即可快速判斷出料條是否變形，極大的提升了檢測(cè)效率；且預(yù)留了人員手部取放料條的空間，使之便于取放，節(jié)約了工時(shí)，并避免了人員用塞尺測(cè)量間隙的誤差，降低了作業(yè)出錯(cuò)的風(fēng)險(xiǎn)。

技術(shù)研發(fā)人員：陳磊
受保護(hù)的技術(shù)使用者：惠倫晶體（重慶）科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20240301
技術(shù)公布日：2024/12/26