本發(fā)明屬于光纖缺陷檢測分析,具體涉及一種摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法。
背景技術(shù):
1、光纖激光器已經(jīng)在工業(yè)制造、醫(yī)療、軍事國防等領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。光纖激光器在向更大功率方向發(fā)展,配置千瓦至數(shù)萬瓦級的大功率光纖激光器的工業(yè)裝備將會成為高端制造業(yè)的主流設(shè)備。摻鐿光纖作為光纖激光器的核心器件,可以現(xiàn)大功率激光輸出,輸出功率達(dá)到萬瓦級。隨著激光輸出功率增大,對涂層質(zhì)量要求有明顯提升,由于摻鐿光纖通常使用低折射率涂料實(shí)現(xiàn)雙包層結(jié)構(gòu),與一般光纖相比,摻鐿光纖內(nèi)涂層也進(jìn)行光路傳輸。但是如果摻鐿光纖內(nèi)部存在缺陷,極易導(dǎo)致?lián)借O光纖在激光器工作中,出現(xiàn)從缺陷位置處漏光、熔斷等問題,因此對摻鐿光纖涂層缺陷進(jìn)行檢測分析室解決涂層缺陷問題的首要步驟。
2、現(xiàn)有技術(shù)中,對于摻鐿光纖的檢測分析工作,通常采用普通的光纖檢測方式,即通過檢測信號光耦合進(jìn)入待測光纖,配合光檢測探頭和光功率計(jì)檢測漏出的光信號,在此過程中光纖兩端分別纏繞在復(fù)繞機(jī)或者卷繞機(jī)上,隨著兩個復(fù)繞機(jī)的同步轉(zhuǎn)動使光纖傳遞,實(shí)現(xiàn)缺陷檢測。但是涉及到摻鐿光纖的檢測會涉及到芯層、包層、內(nèi)涂層及外涂層的位置,而上述檢測方式僅能夠判斷涂層缺陷,無法確定涂層的具體缺陷位置,因此該種傳遞的方式無法適用。另外涉及到匹配液的使用,采用光纖傳遞的方式時(shí)匹配液會出現(xiàn)嚴(yán)重的泄露,檢測過程中不便于清潔,且浪費(fèi)嚴(yán)重。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本發(fā)明實(shí)施例提供一種摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法,旨在能夠解決現(xiàn)有的光纖涂層檢測方式無法適用于摻鐿光纖的檢測的問題。
2、為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:提供一種摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法,包括如下步驟:
3、原料及工具準(zhǔn)備,準(zhǔn)備具有透光孔及導(dǎo)入孔的光纖固定模,使所述透光孔和所述導(dǎo)入孔互相垂直且互相連通設(shè)置,在所述透光孔的一端設(shè)置透光板;同時(shí)準(zhǔn)備待測摻鐿光纖、顯微鏡、匹配液、拍攝設(shè)備;
4、光纖固定安裝,將待測摻鐿光纖的一端穿過所述導(dǎo)入孔,且與導(dǎo)入孔密封連接;隨后將所述光纖固定模放置在所述顯微鏡的載物臺上,且使具有所述透光板的一端對應(yīng)所述顯微鏡的載物臺下的透光區(qū);
5、光纖旋轉(zhuǎn)式檢測,向所述透光孔中加入所述匹配液,待匹配液穩(wěn)定后通過顯微鏡對摻鐿光纖進(jìn)行觀測,并在觀測過程中旋轉(zhuǎn)摻鐿光纖,分別對芯層、包層、內(nèi)涂層及外涂層進(jìn)行觀測;
6、缺陷記錄及分析,通過所述拍攝設(shè)備對缺陷處進(jìn)行拍攝記錄,并分析原因。
7、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法還包括步驟工具表面清潔,在原料及工具準(zhǔn)備步驟之后,對所述透光板的表面以及顯微鏡載物臺的表面進(jìn)行清潔。
8、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述工具表面清潔步驟中采用吹塵槍。
9、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述光纖固定模包括:
10、固定筒,具有筒腔,所述筒腔為所述透光孔;所述透光孔的一端設(shè)有供所述透光板嵌裝的凹槽;所述固定筒的側(cè)壁上設(shè)有與所述筒腔垂直且與所述筒腔連通的貫通孔,所述貫通孔在所述固定筒的側(cè)壁上形成兩個分孔;
11、旋轉(zhuǎn)筒,設(shè)有兩個,兩個所述旋轉(zhuǎn)筒分別轉(zhuǎn)動設(shè)置在兩個所述分孔中,每個所述旋轉(zhuǎn)筒的一端均伸出所述固定筒,且在所述旋轉(zhuǎn)筒的伸出端設(shè)有第一螺母部;每個所述旋轉(zhuǎn)筒靠近所述筒腔的一端設(shè)有第一開孔,所述第一螺母部所在的一端設(shè)有第二開孔,所述第二開孔的孔徑大于所述第一開孔的孔徑,在所述第二開孔與所述第一開孔之間形成內(nèi)環(huán)形面;
12、鎖緊件,設(shè)有兩個,兩個所述鎖緊件分別與兩個所述旋轉(zhuǎn)筒一一對應(yīng);每個所述鎖緊件均與對應(yīng)的所述第二開孔中的設(shè)置的內(nèi)螺紋螺紋連接,所述鎖緊件上設(shè)有貫通的穿孔;所述鎖緊件具有與對應(yīng)的所述內(nèi)環(huán)形面適配的外環(huán)形面;每個所述鎖緊件伸出所述第二開孔的一端均設(shè)有第二螺母部;
13、密封膠圈,設(shè)有兩個,兩個所述密封膠圈分別設(shè)置在兩個所述內(nèi)環(huán)形面處;各所述密封膠圈、各所述旋轉(zhuǎn)筒、各所述鎖緊件及所述貫通孔組合形成所述導(dǎo)入孔;所述密封膠圈用于在所述鎖緊件相對所述旋轉(zhuǎn)筒轉(zhuǎn)動且被所述內(nèi)環(huán)形面擠壓后,向內(nèi)延展,以與摻鐿光纖的外壁密封抵接。
14、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述光纖固定模還包括限位卡件,所述限位卡件具有供所述旋轉(zhuǎn)筒穿過的圓孔,且所述限位卡件具有兩個分別對應(yīng)兩個所述第一螺母部的卡爪,每個所述卡爪上均設(shè)有供所述第一螺母進(jìn)入并進(jìn)行限位的卡口。
15、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述旋轉(zhuǎn)筒與所述貫通孔之間設(shè)有密封軸承。
16、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述固定筒靠近所述透光板的端部固設(shè)有環(huán)形座,所述環(huán)形座遠(yuǎn)離所述透光板的一端設(shè)有環(huán)繞所述固定筒的環(huán)形槽。
17、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述環(huán)形座與所述旋轉(zhuǎn)筒沿著所述固定筒的軸線方向間隔設(shè)置。
18、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述密封膠圈為硅橡膠材質(zhì)。
19、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述透光板為玻璃板。
20、本實(shí)現(xiàn)方式中,設(shè)置了具有透光孔和導(dǎo)入孔的光纖固定模,能夠在摻鐿光纖穿過導(dǎo)入孔后,與摻鐿光纖形成密封,避免匹配液泄露。通過對透光板及顯微鏡載物臺的清潔工作,保證觀測的準(zhǔn)確度。另外,通過對摻鐿光纖的旋轉(zhuǎn),實(shí)現(xiàn)對芯層、包層、內(nèi)涂層及外涂層的位置進(jìn)行分別觀測,可定位涂層缺陷位于摻鐿光纖結(jié)構(gòu)中的具體位置,其檢測工作更全面,適應(yīng)性強(qiáng)。
1.摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法,其特征在于,包括如下步驟:
2.如權(quán)利要求1所述的摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法,其特征在于,所述摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法還包括工具表面清潔步驟,所述工具表面清潔步驟在原料及工具準(zhǔn)備步驟之后,對所述透光板的表面以及顯微鏡載物臺的表面進(jìn)行清潔。
3.如權(quán)利要求2所述的摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法,其特征在于,所述工具表面清潔步驟中采用吹塵槍。
4.如權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法,其特征在于,所述光纖固定模包括:
5.如權(quán)利要求4所述的摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法,其特征在于,所述光纖固定模還包括限位卡件,所述限位卡件具有供所述旋轉(zhuǎn)筒穿過的圓孔,且所述限位卡件具有兩個分別對應(yīng)兩個所述第一螺母部的卡爪,每個所述卡爪上均設(shè)有供所述第一螺母進(jìn)入并進(jìn)行限位的卡口。
6.如權(quán)利要求4所述的摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法,其特征在于,所述旋轉(zhuǎn)筒與所述貫通孔之間設(shè)有密封軸承。
7.如權(quán)利要求4所述的摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法,其特征在于,所述固定筒靠近所述透光板的端部固設(shè)有環(huán)形座,所述環(huán)形座遠(yuǎn)離所述透光板的一端設(shè)有環(huán)繞所述固定筒的環(huán)形槽。
8.如權(quán)利要求7所述的摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法,其特征在于,所述環(huán)形座與所述旋轉(zhuǎn)筒沿著所述固定筒的軸線方向間隔設(shè)置。
9.如權(quán)利要求4所述的摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法,其特征在于,所述密封膠圈為硅橡膠材質(zhì)。
10.如權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法,其特征在于,所述透光板為玻璃板。