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摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法與流程

文檔序號:40468190發(fā)布日期:2024-12-27 09:33閱讀:7來源:國知局
摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法與流程

本發(fā)明屬于光纖缺陷檢測分析,具體涉及一種摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法。


背景技術(shù):

1、光纖激光器已經(jīng)在工業(yè)制造、醫(yī)療、軍事國防等領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。光纖激光器在向更大功率方向發(fā)展,配置千瓦至數(shù)萬瓦級的大功率光纖激光器的工業(yè)裝備將會成為高端制造業(yè)的主流設(shè)備。摻鐿光纖作為光纖激光器的核心器件,可以現(xiàn)大功率激光輸出,輸出功率達(dá)到萬瓦級。隨著激光輸出功率增大,對涂層質(zhì)量要求有明顯提升,由于摻鐿光纖通常使用低折射率涂料實(shí)現(xiàn)雙包層結(jié)構(gòu),與一般光纖相比,摻鐿光纖內(nèi)涂層也進(jìn)行光路傳輸。但是如果摻鐿光纖內(nèi)部存在缺陷,極易導(dǎo)致?lián)借O光纖在激光器工作中,出現(xiàn)從缺陷位置處漏光、熔斷等問題,因此對摻鐿光纖涂層缺陷進(jìn)行檢測分析室解決涂層缺陷問題的首要步驟。

2、現(xiàn)有技術(shù)中,對于摻鐿光纖的檢測分析工作,通常采用普通的光纖檢測方式,即通過檢測信號光耦合進(jìn)入待測光纖,配合光檢測探頭和光功率計(jì)檢測漏出的光信號,在此過程中光纖兩端分別纏繞在復(fù)繞機(jī)或者卷繞機(jī)上,隨著兩個復(fù)繞機(jī)的同步轉(zhuǎn)動使光纖傳遞,實(shí)現(xiàn)缺陷檢測。但是涉及到摻鐿光纖的檢測會涉及到芯層、包層、內(nèi)涂層及外涂層的位置,而上述檢測方式僅能夠判斷涂層缺陷,無法確定涂層的具體缺陷位置,因此該種傳遞的方式無法適用。另外涉及到匹配液的使用,采用光纖傳遞的方式時(shí)匹配液會出現(xiàn)嚴(yán)重的泄露,檢測過程中不便于清潔,且浪費(fèi)嚴(yán)重。


技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明實(shí)施例提供一種摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法,旨在能夠解決現(xiàn)有的光纖涂層檢測方式無法適用于摻鐿光纖的檢測的問題。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:提供一種摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法,包括如下步驟:

3、原料及工具準(zhǔn)備,準(zhǔn)備具有透光孔及導(dǎo)入孔的光纖固定模,使所述透光孔和所述導(dǎo)入孔互相垂直且互相連通設(shè)置,在所述透光孔的一端設(shè)置透光板;同時(shí)準(zhǔn)備待測摻鐿光纖、顯微鏡、匹配液、拍攝設(shè)備;

4、光纖固定安裝,將待測摻鐿光纖的一端穿過所述導(dǎo)入孔,且與導(dǎo)入孔密封連接;隨后將所述光纖固定模放置在所述顯微鏡的載物臺上,且使具有所述透光板的一端對應(yīng)所述顯微鏡的載物臺下的透光區(qū);

5、光纖旋轉(zhuǎn)式檢測,向所述透光孔中加入所述匹配液,待匹配液穩(wěn)定后通過顯微鏡對摻鐿光纖進(jìn)行觀測,并在觀測過程中旋轉(zhuǎn)摻鐿光纖,分別對芯層、包層、內(nèi)涂層及外涂層進(jìn)行觀測;

6、缺陷記錄及分析,通過所述拍攝設(shè)備對缺陷處進(jìn)行拍攝記錄,并分析原因。

7、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法還包括步驟工具表面清潔,在原料及工具準(zhǔn)備步驟之后,對所述透光板的表面以及顯微鏡載物臺的表面進(jìn)行清潔。

8、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述工具表面清潔步驟中采用吹塵槍。

9、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述光纖固定模包括:

10、固定筒,具有筒腔,所述筒腔為所述透光孔;所述透光孔的一端設(shè)有供所述透光板嵌裝的凹槽;所述固定筒的側(cè)壁上設(shè)有與所述筒腔垂直且與所述筒腔連通的貫通孔,所述貫通孔在所述固定筒的側(cè)壁上形成兩個分孔;

11、旋轉(zhuǎn)筒,設(shè)有兩個,兩個所述旋轉(zhuǎn)筒分別轉(zhuǎn)動設(shè)置在兩個所述分孔中,每個所述旋轉(zhuǎn)筒的一端均伸出所述固定筒,且在所述旋轉(zhuǎn)筒的伸出端設(shè)有第一螺母部;每個所述旋轉(zhuǎn)筒靠近所述筒腔的一端設(shè)有第一開孔,所述第一螺母部所在的一端設(shè)有第二開孔,所述第二開孔的孔徑大于所述第一開孔的孔徑,在所述第二開孔與所述第一開孔之間形成內(nèi)環(huán)形面;

12、鎖緊件,設(shè)有兩個,兩個所述鎖緊件分別與兩個所述旋轉(zhuǎn)筒一一對應(yīng);每個所述鎖緊件均與對應(yīng)的所述第二開孔中的設(shè)置的內(nèi)螺紋螺紋連接,所述鎖緊件上設(shè)有貫通的穿孔;所述鎖緊件具有與對應(yīng)的所述內(nèi)環(huán)形面適配的外環(huán)形面;每個所述鎖緊件伸出所述第二開孔的一端均設(shè)有第二螺母部;

13、密封膠圈,設(shè)有兩個,兩個所述密封膠圈分別設(shè)置在兩個所述內(nèi)環(huán)形面處;各所述密封膠圈、各所述旋轉(zhuǎn)筒、各所述鎖緊件及所述貫通孔組合形成所述導(dǎo)入孔;所述密封膠圈用于在所述鎖緊件相對所述旋轉(zhuǎn)筒轉(zhuǎn)動且被所述內(nèi)環(huán)形面擠壓后,向內(nèi)延展,以與摻鐿光纖的外壁密封抵接。

14、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述光纖固定模還包括限位卡件,所述限位卡件具有供所述旋轉(zhuǎn)筒穿過的圓孔,且所述限位卡件具有兩個分別對應(yīng)兩個所述第一螺母部的卡爪,每個所述卡爪上均設(shè)有供所述第一螺母進(jìn)入并進(jìn)行限位的卡口。

15、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述旋轉(zhuǎn)筒與所述貫通孔之間設(shè)有密封軸承。

16、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述固定筒靠近所述透光板的端部固設(shè)有環(huán)形座,所述環(huán)形座遠(yuǎn)離所述透光板的一端設(shè)有環(huán)繞所述固定筒的環(huán)形槽。

17、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述環(huán)形座與所述旋轉(zhuǎn)筒沿著所述固定筒的軸線方向間隔設(shè)置。

18、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述密封膠圈為硅橡膠材質(zhì)。

19、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中,所述透光板為玻璃板。

20、本實(shí)現(xiàn)方式中,設(shè)置了具有透光孔和導(dǎo)入孔的光纖固定模,能夠在摻鐿光纖穿過導(dǎo)入孔后,與摻鐿光纖形成密封,避免匹配液泄露。通過對透光板及顯微鏡載物臺的清潔工作,保證觀測的準(zhǔn)確度。另外,通過對摻鐿光纖的旋轉(zhuǎn),實(shí)現(xiàn)對芯層、包層、內(nèi)涂層及外涂層的位置進(jìn)行分別觀測,可定位涂層缺陷位于摻鐿光纖結(jié)構(gòu)中的具體位置,其檢測工作更全面,適應(yīng)性強(qiáng)。



技術(shù)特征:

1.摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法,其特征在于,包括如下步驟:

2.如權(quán)利要求1所述的摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法,其特征在于,所述摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法還包括工具表面清潔步驟,所述工具表面清潔步驟在原料及工具準(zhǔn)備步驟之后,對所述透光板的表面以及顯微鏡載物臺的表面進(jìn)行清潔。

3.如權(quán)利要求2所述的摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法,其特征在于,所述工具表面清潔步驟中采用吹塵槍。

4.如權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法,其特征在于,所述光纖固定模包括:

5.如權(quán)利要求4所述的摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法,其特征在于,所述光纖固定模還包括限位卡件,所述限位卡件具有供所述旋轉(zhuǎn)筒穿過的圓孔,且所述限位卡件具有兩個分別對應(yīng)兩個所述第一螺母部的卡爪,每個所述卡爪上均設(shè)有供所述第一螺母進(jìn)入并進(jìn)行限位的卡口。

6.如權(quán)利要求4所述的摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法,其特征在于,所述旋轉(zhuǎn)筒與所述貫通孔之間設(shè)有密封軸承。

7.如權(quán)利要求4所述的摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法,其特征在于,所述固定筒靠近所述透光板的端部固設(shè)有環(huán)形座,所述環(huán)形座遠(yuǎn)離所述透光板的一端設(shè)有環(huán)繞所述固定筒的環(huán)形槽。

8.如權(quán)利要求7所述的摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法,其特征在于,所述環(huán)形座與所述旋轉(zhuǎn)筒沿著所述固定筒的軸線方向間隔設(shè)置。

9.如權(quán)利要求4所述的摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法,其特征在于,所述密封膠圈為硅橡膠材質(zhì)。

10.如權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法,其特征在于,所述透光板為玻璃板。


技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供了一種摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法,包括原料及工具準(zhǔn)備、光纖固定安裝、光纖旋轉(zhuǎn)式檢測以及缺陷記錄及分析步驟。準(zhǔn)備具有透光孔及導(dǎo)入孔的光纖固定模,同時(shí)準(zhǔn)備待測摻鐿光纖、顯微鏡、匹配液、拍攝設(shè)備。將待測摻鐿光纖的一端穿過導(dǎo)入孔。隨后將光纖固定模放置在顯微鏡的載物臺上。向透光孔中加入匹配液,通過顯微鏡對摻鐿光纖進(jìn)行觀測,并在觀測過程中旋轉(zhuǎn)摻鐿光纖,分別對芯層、包層、內(nèi)涂層及外涂層進(jìn)行觀測。通過拍攝設(shè)備對缺陷處進(jìn)行拍攝記錄,并分析原因。本發(fā)明提供的摻鐿光纖涂層缺陷檢測分析方法可定位涂層缺陷位于摻鐿光纖結(jié)構(gòu)中的具體位置,其檢測工作更全面,適應(yīng)性強(qiáng)。

技術(shù)研發(fā)人員:鄭旭龍,楊東海,沈一澤,武洋,崔立夫,潘蓉,王東波,陳立強(qiáng),衣永青
受保護(hù)的技術(shù)使用者:中國電子科技集團(tuán)公司第四十六研究所
技術(shù)研發(fā)日:
技術(shù)公布日:2024/12/26
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