本申請涉及測試技術(shù),涉及但不限于測試方法及主板。
背景技術(shù):
1、在移動終端產(chǎn)線生產(chǎn)過程中需要對主板進(jìn)行產(chǎn)線校準(zhǔn)以及射頻性能測試,在校準(zhǔn)過程中需要對射頻收發(fā)器(transceiver)的不同功率等級的無限增益指數(shù)(radio?gainindex,rgi)進(jìn)行掃描從而得到rgi與射頻收發(fā)器輸出功率的對應(yīng)關(guān)系,射頻收發(fā)器的輸出功率即射頻放大器(power?amplifier,pa)的輸入功率。在射頻性能測試時(shí)需要對校準(zhǔn)后的板級各射頻通路的性能進(jìn)行測試。在對主板進(jìn)行校準(zhǔn)和綜測的過程中,需要根據(jù)基于測量儀器測試得到的射頻放大器的輸出功率增大射頻放大器的輸入功率,以使射頻放大器的輸出功率達(dá)到目標(biāo)功率。然而,該過程可能會導(dǎo)致射頻放大器被燒毀。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、有鑒于此,本申請?zhí)峁┑臏y試方法及主板,能夠避免射頻放大器的輸入功率超過射頻放大器所能承受的輸入功率,從而避免射頻放大器被燒毀。
2、根據(jù)本申請實(shí)施例的一個(gè)方面,提供一種測試方法,所述方法應(yīng)用于待測試的主板,所述主板至少包括第一連接部和射頻放大器,在測試所述主板時(shí)所述第一連接部與測試儀器的第二連接部相連接;所述方法包括:基于所述測試儀器發(fā)送的至少經(jīng)過所述第二連接部和所述第一連接部的第一信號和第二信號,確定所述第一信號的功率和所述第二信號的功率;其中,所述第一信號的功率和所述第二信號的功率不同;根據(jù)所述第一信號的功率和所述第二信號的功率,對所述第一連接部與所述第二連接部的連接進(jìn)行異常檢測,得到檢測結(jié)果;在所述檢測結(jié)果表征所述連接異常的情況下,停止增大所述射頻放大器的輸入功率。
3、根據(jù)本申請實(shí)施例的一個(gè)方面,提供一種主板,包括:第一連接部和射頻放大器,所述主板在測試時(shí)所述第一連接部與測試儀器的第二連接部相連接;所述主板至少還包括:功率測量模塊,配置成基于所述測試儀器發(fā)送的至少經(jīng)過所述第二連接部和所述第一連接部的第一信號和第二信號,確定所述第一信號的功率和所述第二信號的功率;異常檢測模塊,配置成根據(jù)所述第一信號的功率和所述第二信號的功率,對所述第一連接部與所述第二連接部的連接進(jìn)行異常檢測,得到檢測結(jié)果;控制模塊,配置成在所述檢測結(jié)果表征所述連接異常的情況下,停止增大所述射頻放大器的輸入功率。
4、根據(jù)本申請實(shí)施例的一個(gè)方面,提供一種電子設(shè)備,所述電子設(shè)備至少包括電源模塊和主板,其中,所述電源模塊用于為所述主板供電;所述主板用于實(shí)現(xiàn)本申請實(shí)施例提供的所述的方法。
5、根據(jù)本申請實(shí)施例的一個(gè)方面,提供一種計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì),其上存儲有計(jì)算機(jī)程序,該計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)本申請實(shí)施例提供的所述的方法。
6、在本申請實(shí)施例中,主板的第一連接部和測試儀器的第二連接部連接,主板根據(jù)測試儀器發(fā)送的至少經(jīng)過第二連接部和第一連接部的第一信號和第二信號的功率,對第一連接部和第二連接部的連接進(jìn)行異常檢測,若該連接異常,則停止增大射頻放大器的輸入功率;如此,
7、在增大射頻放大器的輸入功率之前,對第一連接部和第二連接部的連接進(jìn)行了異常檢測,若該連接異常,則表征基于測試儀器測量得到射頻放大器的輸出功率小于射頻放大器的實(shí)際輸出功率。在這種情況下,即使射頻放大器的實(shí)際輸出功率達(dá)到目標(biāo)功率,還將繼續(xù)增大射頻放大器的輸入功率,若射頻放大器的輸入功率增大至超過射頻放大器所能承受的輸入功率,將會導(dǎo)致射頻放大器被燒毀。在本申請實(shí)施例中,在第一連接部和第二連接部連接異常的情況下,無論射頻放大器的輸出功率是否達(dá)到目標(biāo)功率,均停止增大射頻放大器的輸入功率,這樣能夠避免射頻放大器的輸入功率超過射頻放大器所能承受的輸入功率,從而避免射頻放大器被燒毀。
8、應(yīng)當(dāng)理解的是,以上的一般描述和后文的細(xì)節(jié)描述僅是示例性和解釋性的,并不能限制本申請。
1.一種測試方法,其特征在于,所述方法應(yīng)用于待測試的主板,所述主板至少包括第一連接部和射頻放大器,在測試所述主板時(shí)所述第一連接部與測試儀器的第二連接部相連接;所述方法包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)所述第一信號的功率和所述第二信號的功率,對所述第一連接部與所述第二連接部的連接進(jìn)行異常檢測,得到檢測結(jié)果,包括:
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述駐波比,對所述連接進(jìn)行異常檢測,得到所述檢測結(jié)果,包括:
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,所述第一信號的頻率、所述第二信號的頻率和所述第三信號的頻率相同。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,在確定所述第一信號的功率和所述第二信號的功率之前,和/或,在確定每次接收的第一信號與第二信號的駐波比之前,所述方法還包括:對功率測量模塊進(jìn)行校準(zhǔn);其中,所述功率測量模塊用于確定所述第一信號的功率和所述第二信號的功率。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,所述對所述功率測量模塊進(jìn)行校準(zhǔn),包括:
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法,其特征在于,所述第一信號的頻率、所述第二信號的頻率和所述第四信號的頻率相同。
9.一種主板,其特征在于,包括第一連接部和射頻放大器,所述主板在測試時(shí)所述第一連接部與測試儀器的第二連接部相連接;所述主板至少還包括:
10.一種電子設(shè)備,其中,所述電子設(shè)備至少包括電源模塊和主板,其中,所述電源模塊用于為所述主板供電;所述主板用于實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至8任一項(xiàng)所述的方法。
11.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì),其上存儲有計(jì)算機(jī)程序,其特征在于,該計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至8任一項(xiàng)所述的方法。