1.一種應(yīng)用于高分子材料的形變量檢驗(yàn)裝置，其特征在于，
包括支架、固定板、指示針、掛碼和標(biāo)尺；
所述固定板豎直設(shè)置，其頂部固定在所述支架的上部；所述標(biāo)尺豎直設(shè)置，其底部固定在所述支架的下部；
所述固定板靠近所述標(biāo)尺的第一側(cè)面的下部的正中間位置設(shè)有第一通孔，所述第一通孔的軸線與所述第一側(cè)面相互垂直；
所述固定板上還設(shè)有若干第二通孔，所述第二通孔沿所述第一通孔的邊緣分布；所述第二通孔的軸線垂直于所述第一側(cè)面；
所述標(biāo)尺上設(shè)有與所述第一側(cè)面相互垂直的刻度盤(pán)；
所述指示針設(shè)置于所述固定板和標(biāo)尺之間，其包括插接部和指示部，所述插接部的一端設(shè)有套插孔，另一端與所述指示部的一端連接，所述指示部的自由端延伸至所述刻度盤(pán)處；
所述第二通孔和所述套插孔在平行于所述第一側(cè)面方向上的截面形狀相同；
所述掛碼位于所述插接部的下方，與所述插接部的中部可拆卸連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于高分子材料的形變量檢驗(yàn)裝置，其特征在于，
所述支架包括水平設(shè)置的底板和連接板，所述連接板位于所述底板的上方，所述連接板的一端和所述底板的一端通過(guò)立柱連接，
所述連接板遠(yuǎn)離所述立柱的一端與所述固定板連接，所述固定板位于所述連接板的下方；
所述底板遠(yuǎn)離所述立柱的一端與所述標(biāo)尺的底部連接，所述標(biāo)尺位于所述底板的上方。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的應(yīng)用于高分子材料的形變量檢驗(yàn)裝置，其特征在于，
還包括位于所述連接板上方的連接螺栓；
所述固定板靠近所述連接板的側(cè)面的中部設(shè)有第一螺紋孔；
所述連接螺栓貫穿所述連接板與所述第一螺紋孔螺紋連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于高分子材料的形變量檢驗(yàn)裝置，其特征在于，
所述第二通孔在所述第一側(cè)面上的截面形狀為“十”型。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于高分子材料的形變量檢驗(yàn)裝置，其特征在于，
固定板上與所述第一側(cè)面垂直的第二側(cè)面設(shè)有第二螺紋孔；所述第二側(cè)面豎直設(shè)置；
還包括鎖定螺栓，所述鎖定螺栓貫穿所述第二螺紋孔伸入所述第二通孔中。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的應(yīng)用于高分子材料的形變量檢驗(yàn)裝置，其特征在于，
所述鎖定螺栓的數(shù)量與所述第二通孔的數(shù)量相同。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于高分子材料的形變量檢驗(yàn)裝置，其特征在于，
所述掛碼包括掛鉤與砝碼；
所述掛鉤掛在所述插接部的中部，所述掛鉤的下端與所述砝碼的頂部連接。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的應(yīng)用于高分子材料的形變量檢驗(yàn)裝置，其特征在于，
所述掛鉤與所述砝碼通過(guò)螺紋連接。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于高分子材料的形變量檢驗(yàn)裝置，其特征在于，
所述刻度盤(pán)遠(yuǎn)離所述指示針的一側(cè)設(shè)有豎直設(shè)置的轉(zhuǎn)動(dòng)螺桿，所述轉(zhuǎn)動(dòng)螺桿與所述刻度盤(pán)通過(guò)螺旋傳動(dòng)實(shí)現(xiàn)豎直方向的相對(duì)位移。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的應(yīng)用于高分子材料的形變量檢驗(yàn)裝置，其特征在于，
所述標(biāo)尺靠近所述刻度盤(pán)的一側(cè)設(shè)有豎直設(shè)置的凹槽；
所述轉(zhuǎn)動(dòng)螺桿的上部位于所述標(biāo)尺的上方，下部位于所述凹槽中。